JPH0372214A - 光干渉角速度計 - Google Patents
光干渉角速度計Info
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- JPH0372214A JPH0372214A JP1208860A JP20886089A JPH0372214A JP H0372214 A JPH0372214 A JP H0372214A JP 1208860 A JP1208860 A JP 1208860A JP 20886089 A JP20886089 A JP 20886089A JP H0372214 A JPH0372214 A JP H0372214A
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Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Gyroscopes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野」
この発明は、リニア位相ランプ方式による零位法セロダ
イン変調方式の光干渉角速度計に関する。
イン変調方式の光干渉角速度計に関する。
「従来の技術」
広ダイナミツクレンジおよび低ドリフトの光干渉角速度
計として、光ファイバコイルの一端側および他端側に、
それぞれ先導波路に対して一対の電極が形成されて構成
されたバイアシング位相変調器およびランプ位相変調器
を設け、そのバイアシング位相変調器およびランプ位相
変調器に位相変調用のバイアシング電圧および鋸歯状波
電圧を印加して、それぞれ光ファイバコイルを伝搬する
二つの光の間に位相差を与えるとともに、光検出器の出
力から光ファイバコイルを伝搬して干渉する二つの光の
間の位相差を検出し、その検出出力によって、その位相
差が所定値になるように上記の鋸歯状波電圧の極性と周
波数を制御nするものが考えられている。
計として、光ファイバコイルの一端側および他端側に、
それぞれ先導波路に対して一対の電極が形成されて構成
されたバイアシング位相変調器およびランプ位相変調器
を設け、そのバイアシング位相変調器およびランプ位相
変調器に位相変調用のバイアシング電圧および鋸歯状波
電圧を印加して、それぞれ光ファイバコイルを伝搬する
二つの光の間に位相差を与えるとともに、光検出器の出
力から光ファイバコイルを伝搬して干渉する二つの光の
間の位相差を検出し、その検出出力によって、その位相
差が所定値になるように上記の鋸歯状波電圧の極性と周
波数を制御nするものが考えられている。
第2図は、従来の、このようなリニア位相ランプ方式に
よる零位法セロゲイン変調方式の光干渉角速度計の一例
である。
よる零位法セロゲイン変調方式の光干渉角速度計の一例
である。
光allからの光1が光結合器13および偏光子14を
通して光分岐結合器15に供給されて二つの光5a、5
bに分岐され、その二つの光5a。
通して光分岐結合器15に供給されて二つの光5a、5
bに分岐され、その二つの光5a。
5bが、一方の光5aは光ファイバコイル17の一端1
7aから、他方の光5bは光ファイバコイル17の他端
17bから、それぞれ光ファイバコイル17に供給され
て、一方の光5aは右回り光として、他方の光5bは左
回り光として、それぞれ光ファイバコイル17を伝搬し
、この光ファイバコイル17を伝搬した二つの光7a、
7bが、一方の光7aは光ファイバコイル17の他端1
7bから、他方の光7bは光ファイバコイル17の一端
17aから、それぞれ光分岐結合器15に供給されて互
いに干渉し、その得られた干渉光9が偏光子14および
光結合器13を通して光検出器19に供給されて電気信
号に変換される点は、般の光干渉角速度計と同じである
。
7aから、他方の光5bは光ファイバコイル17の他端
17bから、それぞれ光ファイバコイル17に供給され
て、一方の光5aは右回り光として、他方の光5bは左
回り光として、それぞれ光ファイバコイル17を伝搬し
、この光ファイバコイル17を伝搬した二つの光7a、
7bが、一方の光7aは光ファイバコイル17の他端1
7bから、他方の光7bは光ファイバコイル17の一端
17aから、それぞれ光分岐結合器15に供給されて互
いに干渉し、その得られた干渉光9が偏光子14および
光結合器13を通して光検出器19に供給されて電気信
号に変換される点は、般の光干渉角速度計と同じである
。
そして、光分岐結合器15と光ファイバコイル17の一
端17aとの間にバイアシング位相変調器21が配され
るとともに、光分岐結合器15と光ファイバコイル17
の他端17bとの間にランプ位相変調器22が配され、
発振器31からバイアシング位相変調器21にバイアシ
ング電圧Biが印加されてバイアシング位相変調121
において光ファイバコイル17の一端17aから光ファ
イバコイル17に供給される光5aおよび光ファイバコ
イル17の他#A17 bから光ファイバコイル17を
伝搬して光ファイバコイル17の一端17aから光分岐
結合器15に供給される光7bの位相が偏移されるとと
もに、鋸歯状波電圧発生部40からランプ位相変調器2
2に鋸歯状波電圧Raが印加されてランプ位相変調器2
2において光ファイバコイル17の他端17bから光フ
ァイバコイル17に供給される光5bおよび光ファイバ
コイル17の−′6A17 aから光ファイバコイル1
7を伝搬して光ファイバコイル17の他@17bから光
分岐結合器15に供給される光7aの位相が偏移され、
光検出器19の出力Vaが後述するような構成の位相差
検出制御部50に供給されて後述するように位相差検出
制御部50において光分岐結合器15において干渉する
二つの光7a7bの間の位相差が検出され、位相差検出
制御部50の出力Veが鋸歯状波電圧発生部40に供給
されて、上記の位相差が所定値になるように、すなわち
、上記の位相差からバイアシング位相変調器21にバイ
アシング電圧Biが印加されることによって生じる位相
差を除いた、光ファイバコイル17に入力角速度Ωが加
えられることによって生じるサニャンク位相差ΔφSと
ランプ位相変調器22に鋸歯状波電圧Raが印加される
ことによって生しる位相差Δφrの和の位相差Δφがゼ
ロまたは2πラジアンの整数倍になるように、一般には
ゼロになるように、鋸歯状波電圧Raの極性と周波数が
制御される。
端17aとの間にバイアシング位相変調器21が配され
るとともに、光分岐結合器15と光ファイバコイル17
の他端17bとの間にランプ位相変調器22が配され、
発振器31からバイアシング位相変調器21にバイアシ
ング電圧Biが印加されてバイアシング位相変調121
において光ファイバコイル17の一端17aから光ファ
イバコイル17に供給される光5aおよび光ファイバコ
イル17の他#A17 bから光ファイバコイル17を
伝搬して光ファイバコイル17の一端17aから光分岐
結合器15に供給される光7bの位相が偏移されるとと
もに、鋸歯状波電圧発生部40からランプ位相変調器2
2に鋸歯状波電圧Raが印加されてランプ位相変調器2
2において光ファイバコイル17の他端17bから光フ
ァイバコイル17に供給される光5bおよび光ファイバ
コイル17の−′6A17 aから光ファイバコイル1
7を伝搬して光ファイバコイル17の他@17bから光
分岐結合器15に供給される光7aの位相が偏移され、
光検出器19の出力Vaが後述するような構成の位相差
検出制御部50に供給されて後述するように位相差検出
制御部50において光分岐結合器15において干渉する
二つの光7a7bの間の位相差が検出され、位相差検出
制御部50の出力Veが鋸歯状波電圧発生部40に供給
されて、上記の位相差が所定値になるように、すなわち
、上記の位相差からバイアシング位相変調器21にバイ
アシング電圧Biが印加されることによって生じる位相
差を除いた、光ファイバコイル17に入力角速度Ωが加
えられることによって生じるサニャンク位相差ΔφSと
ランプ位相変調器22に鋸歯状波電圧Raが印加される
ことによって生しる位相差Δφrの和の位相差Δφがゼ
ロまたは2πラジアンの整数倍になるように、一般には
ゼロになるように、鋸歯状波電圧Raの極性と周波数が
制御される。
バイアシング電圧Biは、光5a、5bが光ファイバコ
イル17を伝搬するのに要する時間τを半周期とする第
3図に示すような正弦波電圧で、これによるバイアシン
グ位相変調器21における位相変調は、光ファイバコイ
ル17を伝搬して干渉する二つの光7a、7bの間にπ
/2ラジアンの位相差を与えて光干渉角速度計の動作点
を設定するものである。
イル17を伝搬するのに要する時間τを半周期とする第
3図に示すような正弦波電圧で、これによるバイアシン
グ位相変調器21における位相変調は、光ファイバコイ
ル17を伝搬して干渉する二つの光7a、7bの間にπ
/2ラジアンの位相差を与えて光干渉角速度計の動作点
を設定するものである。
鋸歯状波電圧Raは、第4図の左側または右側に示すよ
うに正または負になるもので、これによるランプ位相変
調器22における位相変調は、光ファイバコイル17を
伝搬して干渉する二つの光7a、7bの間に最大で2に
πラジアン(k−±1、±2・・・)になる、−Cには
±2πラジアンになる位相差Δφrを与えて上記のよう
にサニャノク位相差ΔφSを打ち消すものである。
うに正または負になるもので、これによるランプ位相変
調器22における位相変調は、光ファイバコイル17を
伝搬して干渉する二つの光7a、7bの間に最大で2に
πラジアン(k−±1、±2・・・)になる、−Cには
±2πラジアンになる位相差Δφrを与えて上記のよう
にサニャノク位相差ΔφSを打ち消すものである。
すなわち、光分岐結合器15において干渉する二つの光
7a、7bの間の位相差からバイアシング位相変調器2
Iにバイアシング電圧Btが印加されることによって生
じるものを除いたものは、上述したように Δφ=ΔφS+Δφr ・・・・・・ (
1)で表されるが、そのサニヤック位相差ΔφSは、周
知のように で表される。ただし、Rは光ファイバコイル17の半径
、Lは光ファイバコイル17における光ファイバ長、λ
は光ファイバコイル17を伝搬する光5a、5bの波長
、Cは真空中における光速である。
7a、7bの間の位相差からバイアシング位相変調器2
Iにバイアシング電圧Btが印加されることによって生
じるものを除いたものは、上述したように Δφ=ΔφS+Δφr ・・・・・・ (
1)で表されるが、そのサニヤック位相差ΔφSは、周
知のように で表される。ただし、Rは光ファイバコイル17の半径
、Lは光ファイバコイル17における光ファイバ長、λ
は光ファイバコイル17を伝搬する光5a、5bの波長
、Cは真空中における光速である。
そして、ランプ位相変調器22においては、光ファイバ
コイル17の他端17 bから光ファイバコイル17に
供給される光5bが、その時の鋸歯状波電圧Raの値に
応した位相偏移φbを受け、さらに時間τを経て、光フ
ァイバコイル17の一端17aから光ファイバコイル1
7を伝搬して光ファイバコイル17の他端17bから光
分岐結合器15に供給される光7aが、その時の鋸歯状
波電圧RaO値に応した位相偏移φaを受けるが、入力
角速度Ωが右回り方向に加えられてサニヤック位相差Δ
φSが負になるときには、位相差検出制御部50の出力
Veによって鋸歯状波電圧Raが第4図の左側に示すよ
うに正にされ、上記の位相偏移φaおよびφbが第5図
の左側に示すような関係になって、ランプ位相変調器2
2に鋸歯状波電圧Raが印加されることによって生しる
位相差Δφrが正になり、入力角速度Ωが左回り方向に
加えられてサニヤック位相差ΔφSが正になるときには
、位相差検出制御部50の出力Veによって鋸歯状波電
圧Raが第4図の右側に示すように負にされ、上記の位
相偏移φaおよびφbが第5図の右側に示すような関係
になって、上記の位相差Δφrが負になる。
コイル17の他端17 bから光ファイバコイル17に
供給される光5bが、その時の鋸歯状波電圧Raの値に
応した位相偏移φbを受け、さらに時間τを経て、光フ
ァイバコイル17の一端17aから光ファイバコイル1
7を伝搬して光ファイバコイル17の他端17bから光
分岐結合器15に供給される光7aが、その時の鋸歯状
波電圧RaO値に応した位相偏移φaを受けるが、入力
角速度Ωが右回り方向に加えられてサニヤック位相差Δ
φSが負になるときには、位相差検出制御部50の出力
Veによって鋸歯状波電圧Raが第4図の左側に示すよ
うに正にされ、上記の位相偏移φaおよびφbが第5図
の左側に示すような関係になって、ランプ位相変調器2
2に鋸歯状波電圧Raが印加されることによって生しる
位相差Δφrが正になり、入力角速度Ωが左回り方向に
加えられてサニヤック位相差ΔφSが正になるときには
、位相差検出制御部50の出力Veによって鋸歯状波電
圧Raが第4図の右側に示すように負にされ、上記の位
相偏移φaおよびφbが第5図の右側に示すような関係
になって、上記の位相差Δφrが負になる。
したがって、鋸歯状波電圧Raの周期をT、周波数をf
Rとすると、第5図から明らかなようにΔφr=2kg
−=2kx−rf* −(3)となり、光ファイバ
コイル17における光の屈折率をnとすると、 の関係があるので、 となる、したがって、(1)式で表される位相差Δφが
ゼロになるように、すなわち Δφr−−ΔφS ・・・・・・ (
6)となるように鋸歯状波電圧Raの極性と周波数ft
が制御されることによって、 2にπ ・ nL 2にπ ・ nL λC kn λ となり、 R で表される。ただし、入力角速度Ωが負方向である右回
り方向に加えられて鋸歯状波電圧Raが正になるときに
はkが+1になり、入力角速度Ωが正方向である左回り
方向に加えられて鋸歯状波電圧Raが負になるときには
kが−1になる。
Rとすると、第5図から明らかなようにΔφr=2kg
−=2kx−rf* −(3)となり、光ファイバ
コイル17における光の屈折率をnとすると、 の関係があるので、 となる、したがって、(1)式で表される位相差Δφが
ゼロになるように、すなわち Δφr−−ΔφS ・・・・・・ (
6)となるように鋸歯状波電圧Raの極性と周波数ft
が制御されることによって、 2にπ ・ nL 2にπ ・ nL λC kn λ となり、 R で表される。ただし、入力角速度Ωが負方向である右回
り方向に加えられて鋸歯状波電圧Raが正になるときに
はkが+1になり、入力角速度Ωが正方向である左回り
方向に加えられて鋸歯状波電圧Raが負になるときには
kが−1になる。
したがって、鋸歯状波電圧Raの極性と周波数flから
入力角速度Ωの方向と大きさを計測することができる。
入力角速度Ωの方向と大きさを計測することができる。
光検出器19の出力Vaは、バイアシング電圧Biの周
波数をfm、角周波数をωmとすると、公知のように Va冨Vdc ・・・・・・ (9) で表される。ただし、Vdcは直流分、ka、kbは定
数、J2+1(X)、 、Lz+t++(x)は第1
種ベッセル係数で、(9)式の第1項は直流分、第2項
はバイアシング電圧Biの周波数fmの偶数倍の周波数
の成分、第3項はfmの奇数倍の周波数の成分である。
波数をfm、角周波数をωmとすると、公知のように Va冨Vdc ・・・・・・ (9) で表される。ただし、Vdcは直流分、ka、kbは定
数、J2+1(X)、 、Lz+t++(x)は第1
種ベッセル係数で、(9)式の第1項は直流分、第2項
はバイアシング電圧Biの周波数fmの偶数倍の周波数
の成分、第3項はfmの奇数倍の周波数の成分である。
そして、位相差検出制御部50においては、この光検出
器19の出力Vaから(9)式の第3項の成分のうちの
n=oにおける周波数がfmの成分のみが取り出され、
このfmの周波数の成分が回し周波数の基準信号によっ
て同期検波されて、光分岐結合器15において干渉する
二つの光7a、7bの間の位相差の検出出力として、 Vd =Kc −、L (x) sin Δ
φ ・・・・・・ 0口)で表
される検波出力が得られるようにされる。ただし、Kc
は定数である。
器19の出力Vaから(9)式の第3項の成分のうちの
n=oにおける周波数がfmの成分のみが取り出され、
このfmの周波数の成分が回し周波数の基準信号によっ
て同期検波されて、光分岐結合器15において干渉する
二つの光7a、7bの間の位相差の検出出力として、 Vd =Kc −、L (x) sin Δ
φ ・・・・・・ 0口)で表
される検波出力が得られるようにされる。ただし、Kc
は定数である。
しかし、上述したように位相差Δφがゼロになるように
鋸歯状波電圧Raの極性と周波数f、が制御されるので
、第6図に示すように、(9)式の第3項に含まれる上
記のrmの周波数の成分Vmは微小なレベルになるのに
対して、(9)式の第2項に含まれる特に周波数が2f
mの成分Vsがかなり大きなレベルになり、しかも、上
述したように一般にバイアシング電圧Biは光5a、5
bが光ファイバコイル17を伝搬するのに要する時間τ
を半周期とし、 fm−1/2τ ・・・・・・
(1υにされるので、これに(4)式を代入すると、f
m=C/2nL −02)となり、
具体的に光ファイバコイル17における光の屈折率nを
1.47とし、光ファイバコイル17における光ファイ
バ長りを300メートルとすると、fmが約340kH
zになるように、fmはかなり高くされる。そのため、
光検出器19の出力Vaを直接、中心周波数がfmの帯
域通過フィルタに供給する場合には、その帯域通過フィ
ルタの通過帯域幅が広くなるために、出力Vaから2f
mの周波数の成分Vsを確実に除去してfmの周波数の
酸分Vmのみを十分なレベルで取り出すことができない
。
鋸歯状波電圧Raの極性と周波数f、が制御されるので
、第6図に示すように、(9)式の第3項に含まれる上
記のrmの周波数の成分Vmは微小なレベルになるのに
対して、(9)式の第2項に含まれる特に周波数が2f
mの成分Vsがかなり大きなレベルになり、しかも、上
述したように一般にバイアシング電圧Biは光5a、5
bが光ファイバコイル17を伝搬するのに要する時間τ
を半周期とし、 fm−1/2τ ・・・・・・
(1υにされるので、これに(4)式を代入すると、f
m=C/2nL −02)となり、
具体的に光ファイバコイル17における光の屈折率nを
1.47とし、光ファイバコイル17における光ファイ
バ長りを300メートルとすると、fmが約340kH
zになるように、fmはかなり高くされる。そのため、
光検出器19の出力Vaを直接、中心周波数がfmの帯
域通過フィルタに供給する場合には、その帯域通過フィ
ルタの通過帯域幅が広くなるために、出力Vaから2f
mの周波数の成分Vsを確実に除去してfmの周波数の
酸分Vmのみを十分なレベルで取り出すことができない
。
そこで、位相差検出制御部50においては、光検出器1
9の出力Vaがfmに対して幾分ずれた周波数の信号と
混合されることによってrmの周波数の成分Vmがfm
より十分低い周波数に変換され、その混合出力が、その
fmより十分低い周波数を中心周波数とする帯域通過フ
ィルタに供給されることによって、そのrmより十分低
い周波数に変換された成分のみが取り出され、これが同
じ周波数の基準信号によって同期検波されることによっ
てGo)式で表される検波出力Vdが得られる。
9の出力Vaがfmに対して幾分ずれた周波数の信号と
混合されることによってrmの周波数の成分Vmがfm
より十分低い周波数に変換され、その混合出力が、その
fmより十分低い周波数を中心周波数とする帯域通過フ
ィルタに供給されることによって、そのrmより十分低
い周波数に変換された成分のみが取り出され、これが同
じ周波数の基準信号によって同期検波されることによっ
てGo)式で表される検波出力Vdが得られる。
すなわち、具体的には、第2図に示すように、光検出器
19の出力Vaが前置増幅回路51に供給されて、その
直流分Vdcが除去されるとともに、その交流骨が増幅
されたのら、その交流骨が周波数混合回路52に供給さ
れて、発振器32から得られる第6図に示すようにfm
に対してfmより十分低い周波数「rだけ高い周波数f
caの信号Scaと混合されて、周波数混合回路52の
出力Vcとして、第7図に示すように、上述したfmの
周波数の成分Vmがrrの周波数に変換された成分Vr
、、rmの周波数の成分Vmがfh=2fm+frの周
波数に変換された成分vh、2fmの周波数の成分Vs
がCmに対してfrだけ低い周波数Febに変換された
成分■2などを含むものが得られ、この周波数混合回路
52の出力Vcがfrを中心周波数とする帯域通過フィ
ルタ53に供給される。frは例えば10kHzにされ
る。このように帯域通過フィルタ53の中心周波数とな
るrrがfmに比べて著しく低くされて帯域通過フィル
タ53の通過帯域幅を十分狭くすることができるととも
に、周波数ポ合回路52の出力Vcの成分のうちfrの
周波数の成分Vr以外のものはfeb(=fm−fr)
以上の周波数になるので、帯域通過フィルタ53からは
、frの周波数の成分Vrのみが、すなわち光検出器1
9の出力Va中の1mの周波数の成分Vmが「rの周波
数に変換されたもののみが取り出される。
19の出力Vaが前置増幅回路51に供給されて、その
直流分Vdcが除去されるとともに、その交流骨が増幅
されたのら、その交流骨が周波数混合回路52に供給さ
れて、発振器32から得られる第6図に示すようにfm
に対してfmより十分低い周波数「rだけ高い周波数f
caの信号Scaと混合されて、周波数混合回路52の
出力Vcとして、第7図に示すように、上述したfmの
周波数の成分Vmがrrの周波数に変換された成分Vr
、、rmの周波数の成分Vmがfh=2fm+frの周
波数に変換された成分vh、2fmの周波数の成分Vs
がCmに対してfrだけ低い周波数Febに変換された
成分■2などを含むものが得られ、この周波数混合回路
52の出力Vcがfrを中心周波数とする帯域通過フィ
ルタ53に供給される。frは例えば10kHzにされ
る。このように帯域通過フィルタ53の中心周波数とな
るrrがfmに比べて著しく低くされて帯域通過フィル
タ53の通過帯域幅を十分狭くすることができるととも
に、周波数ポ合回路52の出力Vcの成分のうちfrの
周波数の成分Vr以外のものはfeb(=fm−fr)
以上の周波数になるので、帯域通過フィルタ53からは
、frの周波数の成分Vrのみが、すなわち光検出器1
9の出力Va中の1mの周波数の成分Vmが「rの周波
数に変換されたもののみが取り出される。
この帯域通過フィルタ53から取り出されたrrの周波
数の成分Vrは、交流増幅回路54に供給されて十分な
レベルに増幅されたのち、同期検波回路55に供給され
てfrの周波数の基準信号Srによって同期検波され、
同期検波回路55から、光分岐結合器15において干渉
する二つの光7a 7bの間の位相差の検出出力とし
て、00式で表される検波出力Vdが得られる。そして
、この同期検波回路55の出力VdがP■Dフィルタ(
比例積分微分フィルタ)56に供給され、PIDフィル
タ56の出力Veが位相差検出制御部50の出力として
鋸歯状波電圧発生部40に供給されて、上述したように
位相差Δφがゼロになるように鋸歯状波電圧Raの極性
と周波数fllが制御される。
数の成分Vrは、交流増幅回路54に供給されて十分な
レベルに増幅されたのち、同期検波回路55に供給され
てfrの周波数の基準信号Srによって同期検波され、
同期検波回路55から、光分岐結合器15において干渉
する二つの光7a 7bの間の位相差の検出出力とし
て、00式で表される検波出力Vdが得られる。そして
、この同期検波回路55の出力VdがP■Dフィルタ(
比例積分微分フィルタ)56に供給され、PIDフィル
タ56の出力Veが位相差検出制御部50の出力として
鋸歯状波電圧発生部40に供給されて、上述したように
位相差Δφがゼロになるように鋸歯状波電圧Raの極性
と周波数fllが制御される。
周波数屯合回路52においてfca=fm+frの周波
数の信号5caO代わりにfeb=fm−frの周波数
の信号Scbが、前置増幅回路51において直流分Vd
cが除去された光検出器19の出力Vaと混合されても
、同様である。
数の信号5caO代わりにfeb=fm−frの周波数
の信号Scbが、前置増幅回路51において直流分Vd
cが除去された光検出器19の出力Vaと混合されても
、同様である。
なお、同期検波のためのfrの周波数の基準信号Srは
、発振器31の出力の周波数がfmのバイアシング電圧
Biと発振器32の出力の周波数がfca=fm+fr
またはfcb=fm−frの信号SeaまたはScbが
周波数混合回路33において混合されて、周波数混合回
路33からfrの周波数の信号および2fm+frの周
波数の信号またはfrの周波数の信号および2fm−f
rの周波数の信号が得られ、周波数混合回路33の出力
がrrを中心周波数とする帯域通過フィルタ34に供給
されて、帯域通過フィルタ34から「rの周波数の信号
のみが取り出され、これが波形整形回路35に供給され
て、波形整形回路35から「rの周波数の矩形波信号と
して得られる。
、発振器31の出力の周波数がfmのバイアシング電圧
Biと発振器32の出力の周波数がfca=fm+fr
またはfcb=fm−frの信号SeaまたはScbが
周波数混合回路33において混合されて、周波数混合回
路33からfrの周波数の信号および2fm+frの周
波数の信号またはfrの周波数の信号および2fm−f
rの周波数の信号が得られ、周波数混合回路33の出力
がrrを中心周波数とする帯域通過フィルタ34に供給
されて、帯域通過フィルタ34から「rの周波数の信号
のみが取り出され、これが波形整形回路35に供給され
て、波形整形回路35から「rの周波数の矩形波信号と
して得られる。
「発明が解決しようとする課題」
ランプ位相変調器22に印加される鋸歯状波電圧Raは
、第4図ではフライバック時間がゼロの理想的な鋸歯状
波電圧として示しているが、実際には、このように鋸歯
状波電圧Raのフライバンク時間をゼロにすることは不
可能で、鋸歯状波電圧Raには数10ナノ秒以上のフラ
イバック時間が存在する。また、鋸歯状波電圧発生部4
0やランプ位相変調器22の特性上の問題などから、上
記の位相差Δφrの最大値を正確に±2πラジアンにす
ることも、実際上不可能である。
、第4図ではフライバック時間がゼロの理想的な鋸歯状
波電圧として示しているが、実際には、このように鋸歯
状波電圧Raのフライバンク時間をゼロにすることは不
可能で、鋸歯状波電圧Raには数10ナノ秒以上のフラ
イバック時間が存在する。また、鋸歯状波電圧発生部4
0やランプ位相変調器22の特性上の問題などから、上
記の位相差Δφrの最大値を正確に±2πラジアンにす
ることも、実際上不可能である。
そして、このように鋸歯状波電圧Raにフライバック時
間が存在し、また位相差Δφrの最大値が正確に±2π
ラジアンにならないために、光ファイバコイル17を伝
搬して干渉する二つの光7a、7bの間の位相差には、
鋸歯状波電圧Raの周波数fIlの基本波成分およびそ
の整数倍の周波数の高調波成分からなる誤差分を生し、
この誤差分が光検出器19の出力Va中に、第8図に示
すように上述したfmの周波数の成分Vmの上側帯波成
分Ul、U2・・・および下側帯波成分Ll、L2・・
・として現れ、しかも、鋸歯状波電圧Raの周波数r、
が人力角速度Ωに応して変化するので、その上側帯波成
分Ul、U2・・・および下側帯波成分Ll、L2・・
・の周波数も入力角速度Ωに応じて変化する。
間が存在し、また位相差Δφrの最大値が正確に±2π
ラジアンにならないために、光ファイバコイル17を伝
搬して干渉する二つの光7a、7bの間の位相差には、
鋸歯状波電圧Raの周波数fIlの基本波成分およびそ
の整数倍の周波数の高調波成分からなる誤差分を生し、
この誤差分が光検出器19の出力Va中に、第8図に示
すように上述したfmの周波数の成分Vmの上側帯波成
分Ul、U2・・・および下側帯波成分Ll、L2・・
・として現れ、しかも、鋸歯状波電圧Raの周波数r、
が人力角速度Ωに応して変化するので、その上側帯波成
分Ul、U2・・・および下側帯波成分Ll、L2・・
・の周波数も入力角速度Ωに応じて変化する。
そのため、fRが位相差検出制御部50における上述し
た同期検波のための基準信号Srの周波数rrの2倍に
等しくなるときは第9図に示すように上側帯波成分Ul
または下側帯波成分Llがそれぞれfia=fm+2f
rまたはf ib= f m2frの周波数に一致し、
「、の3倍がrrの2倍に等しくなるときは第10図に
示すように上側帯波成分U3または下側帯波成分L3が
それぞれfiaまたはribの周波数に一致するという
ように、一般にf、=2 f r/n (n=1.2.
3−)になる特定の入力角速度のもとでは、上側帯波成
分Ul、U2・・・のいずれか、または下側帯波成分L
1、L2・・・のいずれかが、上述したように位相差検
出制御部50の周波数混合回路52において光検出器1
9の出力Vaと混合される信号ScaまたはScbの周
波数fcaまたはfebに対してrmのイメージ周波数
となるfiaまたはribの周波数に一致して、周波数
混合回路52において信号ScaまたはScbと混合さ
れることにより上述したrmの周波数の成分Vmととも
にrrの周波数に変換され、そのfrの周波数に変換さ
れた側帯波成分が帯域通過フィルタ53を通し、交流増
幅回路54で増幅されて同期検波回路55に供給される
ことによって、光干渉角速度計の出力にスケールファク
タエラーを生じる。
た同期検波のための基準信号Srの周波数rrの2倍に
等しくなるときは第9図に示すように上側帯波成分Ul
または下側帯波成分Llがそれぞれfia=fm+2f
rまたはf ib= f m2frの周波数に一致し、
「、の3倍がrrの2倍に等しくなるときは第10図に
示すように上側帯波成分U3または下側帯波成分L3が
それぞれfiaまたはribの周波数に一致するという
ように、一般にf、=2 f r/n (n=1.2.
3−)になる特定の入力角速度のもとでは、上側帯波成
分Ul、U2・・・のいずれか、または下側帯波成分L
1、L2・・・のいずれかが、上述したように位相差検
出制御部50の周波数混合回路52において光検出器1
9の出力Vaと混合される信号ScaまたはScbの周
波数fcaまたはfebに対してrmのイメージ周波数
となるfiaまたはribの周波数に一致して、周波数
混合回路52において信号ScaまたはScbと混合さ
れることにより上述したrmの周波数の成分Vmととも
にrrの周波数に変換され、そのfrの周波数に変換さ
れた側帯波成分が帯域通過フィルタ53を通し、交流増
幅回路54で増幅されて同期検波回路55に供給される
ことによって、光干渉角速度計の出力にスケールファク
タエラーを生じる。
ただし、そのスケールファクタエラーは、第9図に示す
ように鋸歯状波電圧Raの周波数「、の基本波成分に対
応する上側帯波成分U1または下側帯波成分Llがそれ
ぞれfiaまたはribの周波数に一致するときに最も
大きく現れ、第10図に一例を示すように高調波成分に
対応する上側帯波成分または下側帯波成分がそれぞれf
iaまたはfjbの周波数6ご一致するときには概して
小さくなる。
ように鋸歯状波電圧Raの周波数「、の基本波成分に対
応する上側帯波成分U1または下側帯波成分Llがそれ
ぞれfiaまたはribの周波数に一致するときに最も
大きく現れ、第10図に一例を示すように高調波成分に
対応する上側帯波成分または下側帯波成分がそれぞれf
iaまたはfjbの周波数6ご一致するときには概して
小さくなる。
また、ランプ位相変調器22は、一般に、ニオブ酸リチ
ウムなどからなる電気光学結晶にチタンの拡散などによ
ってシングルモードの先導波路が形成され、その光導波
路に対して一対の電極が形成されて構成され、その一対
の電極間に鋸歯状波電圧Raが印加されることによって
光導波路の屈折率が変化して光導波路を通る光の位相が
偏移されるが、その際、光導波路を通る光の一部が印加
電圧値に応じて先導波路から漏れて結果的に光導波路を
通る光の強度が鋸歯状波電圧Raによって変調され、そ
の強度の変化分が光検出器19の出力Va中に、第11
図に示すように鋸歯状波電圧Raの周波数fRの基本波
成分R1およびその整数倍の周波数の高調波成分R2・
・・Rn・・・として生しる。
ウムなどからなる電気光学結晶にチタンの拡散などによ
ってシングルモードの先導波路が形成され、その光導波
路に対して一対の電極が形成されて構成され、その一対
の電極間に鋸歯状波電圧Raが印加されることによって
光導波路の屈折率が変化して光導波路を通る光の位相が
偏移されるが、その際、光導波路を通る光の一部が印加
電圧値に応じて先導波路から漏れて結果的に光導波路を
通る光の強度が鋸歯状波電圧Raによって変調され、そ
の強度の変化分が光検出器19の出力Va中に、第11
図に示すように鋸歯状波電圧Raの周波数fRの基本波
成分R1およびその整数倍の周波数の高調波成分R2・
・・Rn・・・として生しる。
そのため、特定の入力角速度のもとで、その基本波成分
R1または高調波成分R2・・・Rn・・・が上述した
fiaまたはfibの周波数に一致するときには、その
基本波成分R8または高調波成分R2・・Rn・・・が
位相差検出制御部50の周波数混合回路52において上
述した信号ScaまたはScbと混合されることにより
上述したrmの周波数の成分Vmとともにfrの周波数
に変換され、そのfrの周波数に変換された基本波成分
または高調波成分が帯域通過フィルタ53を通し、交流
増幅回路54で増幅されて同期検波回路55に供給され
ることによって、光干渉角速度計の出力にスケールファ
クタエラーを生しる。
R1または高調波成分R2・・・Rn・・・が上述した
fiaまたはfibの周波数に一致するときには、その
基本波成分R8または高調波成分R2・・Rn・・・が
位相差検出制御部50の周波数混合回路52において上
述した信号ScaまたはScbと混合されることにより
上述したrmの周波数の成分Vmとともにfrの周波数
に変換され、そのfrの周波数に変換された基本波成分
または高調波成分が帯域通過フィルタ53を通し、交流
増幅回路54で増幅されて同期検波回路55に供給され
ることによって、光干渉角速度計の出力にスケールファ
クタエラーを生しる。
第12図は上述したスケールファクタエラーを示し、f
rが10kHzにされた場合である。鋸歯状波電圧Ra
の周波数f、に相当する光干渉角速度計の出力パルス数
は人力角速度Ωに応して変化するが、光干渉角速度計の
出力のスケールファクタ、すなわち光干渉角速度計の1
回転当たりの出力パルス数は入力角速度Ωにかかわらず
一定であるべきものである。しかしながら、上述したよ
うに鋸歯状波電圧Raにフライバック時間が存在するた
めに、もしくは鋸歯状波電圧発生部40やランプ位相変
調器22の特性上の問題などから位相差Δφ「の最大値
が正確に±2πラジアンにならないために、またはラン
プ位相変調器22において先導波路を通る光の強度が鋸
歯状波電圧Raによって変調されるために、同図に示す
ように、特定の入力角速度のもとて光干渉角速度計の1
回転当たりの出力パルス数が所定数からずれ、光干渉角
速度計の出力にスケールファクタエラーを生しる。同図
において34°/秒の人力角速度のもとて特に大きなス
ケールファクタエラーが生しているのは、第9図におい
て説明したように鋸歯状波電圧Raの周波数rllの基
本波成分に対応する上側帯波成分Ulまたは下側帯波成
分L1がそれぞれfiaまたはffbの周波数に一致す
るからである。
rが10kHzにされた場合である。鋸歯状波電圧Ra
の周波数f、に相当する光干渉角速度計の出力パルス数
は人力角速度Ωに応して変化するが、光干渉角速度計の
出力のスケールファクタ、すなわち光干渉角速度計の1
回転当たりの出力パルス数は入力角速度Ωにかかわらず
一定であるべきものである。しかしながら、上述したよ
うに鋸歯状波電圧Raにフライバック時間が存在するた
めに、もしくは鋸歯状波電圧発生部40やランプ位相変
調器22の特性上の問題などから位相差Δφ「の最大値
が正確に±2πラジアンにならないために、またはラン
プ位相変調器22において先導波路を通る光の強度が鋸
歯状波電圧Raによって変調されるために、同図に示す
ように、特定の入力角速度のもとて光干渉角速度計の1
回転当たりの出力パルス数が所定数からずれ、光干渉角
速度計の出力にスケールファクタエラーを生しる。同図
において34°/秒の人力角速度のもとて特に大きなス
ケールファクタエラーが生しているのは、第9図におい
て説明したように鋸歯状波電圧Raの周波数rllの基
本波成分に対応する上側帯波成分Ulまたは下側帯波成
分L1がそれぞれfiaまたはffbの周波数に一致す
るからである。
そこで、この発明は、リニア位相ランプ方式による零位
法七ロダイン変調方弐の光干渉角速度計において、上述
したようにランプ位相変調器に印加される位相変調用の
鋸歯状波電圧にフライバック時間が存在するなどの各種
の原因によって特定の入力角速度のもとて光干渉角速度
計の出力に生しるスケールファクタエラーを大幅に軽減
することができ、光干渉角速度計の入出力特性の直線性
を著しく改善することができるようにしたものである。
法七ロダイン変調方弐の光干渉角速度計において、上述
したようにランプ位相変調器に印加される位相変調用の
鋸歯状波電圧にフライバック時間が存在するなどの各種
の原因によって特定の入力角速度のもとて光干渉角速度
計の出力に生しるスケールファクタエラーを大幅に軽減
することができ、光干渉角速度計の入出力特性の直線性
を著しく改善することができるようにしたものである。
「課題を解決するための手段」
この発明においては、外部信号を位相差検出制御部の出
力に加算して鋸歯状波電圧発生部に供給することによっ
て鋸歯状波電圧の周波数を振動させる。
力に加算して鋸歯状波電圧発生部に供給することによっ
て鋸歯状波電圧の周波数を振動させる。
外部信号としては、鋸歯状波電圧の周波数を振動させる
ものであれば複数の周波数の正弦波信号が台底されたも
のや単一の周波数の正弦波信号などでもよいが、ランダ
ムノイズが最も望ましい。
ものであれば複数の周波数の正弦波信号が台底されたも
のや単一の周波数の正弦波信号などでもよいが、ランダ
ムノイズが最も望ましい。
「作 用J
上記のように構成された、この発明の光干渉角速度計に
おいては、特定の人力角速度のもとでも外部信号によっ
て鋸歯状波電圧の周波数が振動するので、すなわち鋸歯
状波電圧の周波数が増加方向と減少方向の双方に変えら
れるので、鋸歯状波電圧にフライバンク時間が存在する
などのために光ファイバコイルを伝搬して干渉する二つ
の光の間の位相差に鋸歯状波電圧の周波数の基本波成分
およびその整数倍の周波数の高調波成分からなる誤差分
を生じ、この誤差分が光検出器の出力中にバイアシング
電圧の周波数の成分の上側帯波成分および下側帯波成分
として現れても、あるいはランプ位相変調器において光
導波路を通る光の強度が鋸歯状波電圧によって変調され
、その強度の変化分が光検出器の出力中に鋸歯状波電圧
の周波数の基本波成分およびその整数倍の周波数の高調
波成分として現れても、特定の入力角速度のもとで、そ
の光検出器の出力中に現れる上側帯波成分または下側帯
波成分あるいは基本波成分または高調波成分が位相差検
出制御部において光検出器の出力と混合される信号の周
波数に対してバイアシング電圧の周波数のイメージ周波
数どなる特定の周波数に一致することによってバイアシ
ング電圧の周波数の成分とともに所定の周波数に変換さ
れて帯域通過フィルタを通じて同期検波回路に供給され
る確率が著しく低下する。しかも、鋸歯状波電圧の周波
数が増加方向と減少方向の双方に変えられることによっ
て、正方向のスケールファクタエラーと負方向のスケー
ルファクタエラーが互いに打ち消し合う。したがって、
特定の入力角速度のもとて光干渉角速度計の出力に生し
るスケールファクタエラーが大幅に軽減され、光干渉角
速度計の人出力特性の直線性が著しく改善される。
おいては、特定の人力角速度のもとでも外部信号によっ
て鋸歯状波電圧の周波数が振動するので、すなわち鋸歯
状波電圧の周波数が増加方向と減少方向の双方に変えら
れるので、鋸歯状波電圧にフライバンク時間が存在する
などのために光ファイバコイルを伝搬して干渉する二つ
の光の間の位相差に鋸歯状波電圧の周波数の基本波成分
およびその整数倍の周波数の高調波成分からなる誤差分
を生じ、この誤差分が光検出器の出力中にバイアシング
電圧の周波数の成分の上側帯波成分および下側帯波成分
として現れても、あるいはランプ位相変調器において光
導波路を通る光の強度が鋸歯状波電圧によって変調され
、その強度の変化分が光検出器の出力中に鋸歯状波電圧
の周波数の基本波成分およびその整数倍の周波数の高調
波成分として現れても、特定の入力角速度のもとで、そ
の光検出器の出力中に現れる上側帯波成分または下側帯
波成分あるいは基本波成分または高調波成分が位相差検
出制御部において光検出器の出力と混合される信号の周
波数に対してバイアシング電圧の周波数のイメージ周波
数どなる特定の周波数に一致することによってバイアシ
ング電圧の周波数の成分とともに所定の周波数に変換さ
れて帯域通過フィルタを通じて同期検波回路に供給され
る確率が著しく低下する。しかも、鋸歯状波電圧の周波
数が増加方向と減少方向の双方に変えられることによっ
て、正方向のスケールファクタエラーと負方向のスケー
ルファクタエラーが互いに打ち消し合う。したがって、
特定の入力角速度のもとて光干渉角速度計の出力に生し
るスケールファクタエラーが大幅に軽減され、光干渉角
速度計の人出力特性の直線性が著しく改善される。
「実施例」
第1図は、この発明の光干渉角速度計の一例である。
光all、光結合器13、偏光子14、光分岐結合器1
5、光ファイバコイル17、光検出器19、バイアシン
グ位相変調器21、ランプ位相変調器22、バイアシン
グ電圧発生部を構成する発振器31、鋸歯状波電圧発生
部40および位相差検出制御部50からなる系が設けら
れることと、位相差検出制御部50が、具体的に、前置
増幅回路51、周波数混合回路52、帯域通過フィルタ
53、交流増幅回路54、同期検波回路55およびPI
Dフィルタ56からなる構成にされることは、第2図に
示した従来の光干渉角速度計と同じであり、その動作も
、後述するように外部信号■nによって鋸歯状波電圧R
aの周波数fRが振動させられる点を除いては、第2図
に示した従来の光干渉角速度計と同じである。
5、光ファイバコイル17、光検出器19、バイアシン
グ位相変調器21、ランプ位相変調器22、バイアシン
グ電圧発生部を構成する発振器31、鋸歯状波電圧発生
部40および位相差検出制御部50からなる系が設けら
れることと、位相差検出制御部50が、具体的に、前置
増幅回路51、周波数混合回路52、帯域通過フィルタ
53、交流増幅回路54、同期検波回路55およびPI
Dフィルタ56からなる構成にされることは、第2図に
示した従来の光干渉角速度計と同じであり、その動作も
、後述するように外部信号■nによって鋸歯状波電圧R
aの周波数fRが振動させられる点を除いては、第2図
に示した従来の光干渉角速度計と同じである。
ただし、鋸歯状波電圧発生部40は、この例においては
、コンデンサ41と、鋸歯状波電圧発生部40の入力電
圧である後述する外部信号発生加算部60の出力電圧V
fを電流に変換してコンデンサ41に供給する電圧電流
変換回路42と、コンデンサ41の放電用のスイッチ4
3と、コンデンサ41の充電電圧を正の基準電圧+Vp
rと比較する電圧比較回路45と、コンデンサ41の充
電電圧を負の基準電圧−Vmrと比較する電圧比較回路
46と、電圧比較回路45および46の出力の論理和を
得るオアゲート47と、オアゲート47の出力によって
トリガーされてスイッチ43をオンにする単安定マルチ
パイプレーク4日とによって構成されて、位相差検出制
御部50の出力電圧Veが正になり、外部信号発生加算
部60の出力電圧Vfが正になるときには、コンデンサ
41が正に充電され、その充電電圧が基準電圧+Vpr
に達すると、電圧比較回路45の出力、したがってオア
ゲート47の出力が低レベルから高レベルに立ち上がっ
て単安定マルチバイブレーク48がトリガーされ、スイ
ッチ43がオンにされてコンデンサ41が放電される動
作が繰り返されることによって、コンデンサ41の両端
間に鋸歯状波電圧Raとして最大値が基準電圧+Vpr
に等しい正の鋸歯状波電圧が得られ、位相差検出制御部
50の出力電圧Veが負になり、外部信号発生加算部6
0の出力電圧Vfが負になるときには、コンデンサ41
が負に充電され、その充電電圧が基11!電圧Vmrに
達すると、電圧比較回路46の出力、したがってオアゲ
ート47の出力が低しヘルから高レベルに立ち上がって
単安定マルチバイブレーク48がトリガーされ、スイッ
チ43がオンにされてコンデンサ41が放電される動作
が繰り返されることによって、コンデンサ41の両端間
に鋸歯状波電圧Raとして最小値が基準電圧−Vmrに
等しい負の鋸歯状波電圧が得られる。
、コンデンサ41と、鋸歯状波電圧発生部40の入力電
圧である後述する外部信号発生加算部60の出力電圧V
fを電流に変換してコンデンサ41に供給する電圧電流
変換回路42と、コンデンサ41の放電用のスイッチ4
3と、コンデンサ41の充電電圧を正の基準電圧+Vp
rと比較する電圧比較回路45と、コンデンサ41の充
電電圧を負の基準電圧−Vmrと比較する電圧比較回路
46と、電圧比較回路45および46の出力の論理和を
得るオアゲート47と、オアゲート47の出力によって
トリガーされてスイッチ43をオンにする単安定マルチ
パイプレーク4日とによって構成されて、位相差検出制
御部50の出力電圧Veが正になり、外部信号発生加算
部60の出力電圧Vfが正になるときには、コンデンサ
41が正に充電され、その充電電圧が基準電圧+Vpr
に達すると、電圧比較回路45の出力、したがってオア
ゲート47の出力が低レベルから高レベルに立ち上がっ
て単安定マルチバイブレーク48がトリガーされ、スイ
ッチ43がオンにされてコンデンサ41が放電される動
作が繰り返されることによって、コンデンサ41の両端
間に鋸歯状波電圧Raとして最大値が基準電圧+Vpr
に等しい正の鋸歯状波電圧が得られ、位相差検出制御部
50の出力電圧Veが負になり、外部信号発生加算部6
0の出力電圧Vfが負になるときには、コンデンサ41
が負に充電され、その充電電圧が基11!電圧Vmrに
達すると、電圧比較回路46の出力、したがってオアゲ
ート47の出力が低しヘルから高レベルに立ち上がって
単安定マルチバイブレーク48がトリガーされ、スイッ
チ43がオンにされてコンデンサ41が放電される動作
が繰り返されることによって、コンデンサ41の両端間
に鋸歯状波電圧Raとして最小値が基準電圧−Vmrに
等しい負の鋸歯状波電圧が得られる。
この場合、スイッチ43としては電界効果トランジスタ
などのようにオフ状態のときのリーク電流およびオン状
態のときの抵抗が十分小さいスイ・2チング素子が用い
られるとともに、スイッチ43がオンにされる時間、す
なわち鋸歯状波電圧Raのフライバッグ時間が十分短く
なるように単安定マルチバイプレークイ8の時定数が設
定される。
などのようにオフ状態のときのリーク電流およびオン状
態のときの抵抗が十分小さいスイ・2チング素子が用い
られるとともに、スイッチ43がオンにされる時間、す
なわち鋸歯状波電圧Raのフライバッグ時間が十分短く
なるように単安定マルチバイプレークイ8の時定数が設
定される。
そして、この発明においては、位相差検出制御部50と
鋸歯状波電圧発生部40との間に外部信号発生加算部6
0が設けられる。外部信号発生加算部60は、外部信号
発生回路61と、これから得られる外部信号Vnを位相
差検出制御部50の出力電圧Veに加算し、その加算さ
れた電圧Vfを外部信号発生加算部60の出力電圧とし
て鋸歯状波電圧発生部40に供給する加算回路62とに
よって構成される。外部信号Vnとしては、具体的には
ランダムノイズが用いられ、これによって鋸歯状波電圧
発生部40から得られる鋸歯状波電圧Raの周波数fえ
が振動させられるようにされる。
鋸歯状波電圧発生部40との間に外部信号発生加算部6
0が設けられる。外部信号発生加算部60は、外部信号
発生回路61と、これから得られる外部信号Vnを位相
差検出制御部50の出力電圧Veに加算し、その加算さ
れた電圧Vfを外部信号発生加算部60の出力電圧とし
て鋸歯状波電圧発生部40に供給する加算回路62とに
よって構成される。外部信号Vnとしては、具体的には
ランダムノイズが用いられ、これによって鋸歯状波電圧
発生部40から得られる鋸歯状波電圧Raの周波数fえ
が振動させられるようにされる。
このように特定の入力角速度のもとでも外部信号Vnに
よって鋸歯状波電圧Raの周波数f8が振動するので、
すなわち鋸歯状波電圧Raの周波数f、が増加方向と減
少方向の双方に変えられるので、鋸歯状波電圧Raにフ
ライバッグ時間が存在するために、または鋸歯状波電圧
発生部40やランプ位相変調器22の特性上の問題など
からランプ位相変調器22に鋸歯状波電圧Raが印加さ
れることによって光ファイバコイル17を伝搬して干渉
する二つの光7a、7bの間に生しる位相差Δφrの最
大値が正確に±2πラジアンにならないために、光ファ
イバコイル17を伝搬して干渉する二つの光7a、7b
の間の位相差に鋸歯状波電圧Raの周波数f、の基本波
成分およびその整数倍の周波数の高調波成分からなる誤
差分を生し、この誤差分が光検出器19の出力Va中に
、第8図に示すようにバイアシング電圧Biの周波数f
mの成分Vmの上側帯波成分Ul、U2・・・および下
側帯波成分Ll、L2・・・として現れても、あるいは
ランプ位相変m器22において先導波路を通る光の強度
が鋸歯状波電圧Raによって変調され、その強度の変化
分が光検出!S19の出力Va中に、第11図に示すよ
うに鋸歯状波電圧Raの周波数「真の基本波成分R1お
よびその整数倍の周波数の高調波成分R2・・・Rn・
・・として生しても、特定の入力角速度のもとで、その
光検出器19の出力Va中に現れる上側帯波成分01,
02・・・または下側帯波成分Ll、L2・・・あるい
は基本波成分R1または高調波成分R2・・・Rn・・
・が位相差検出制御部50の周波数混合回路52におい
て光検出器19の出力Vaと混合される信号Scaまた
はScbの周波数fcaまたはfcbに対してfmのイ
メージ周波数となる周波数fiaまたはfibに一致す
ることによってfmの周波数の成分Vmとともにrrの
周波数に変換されて帯域通過フィルタ53および交流増
幅回路54を通じて同期検波回路55に供給される確率
が著しく低下する。しかも、鋸歯状波電圧Raの周波数
が増加方向と減少方向の双方に変えられることによって
、正方向のスケールファクタエラーと負方向のスケール
ファフタエラーが互いに打ち消し合う。したがって、特
定の入力角速度のもとて光干渉角速度計の出力に生しる
スケールファクタエラーが大幅に軽減され、光干渉角速
度計の入出力特性の直線性が著しく改善される。
よって鋸歯状波電圧Raの周波数f8が振動するので、
すなわち鋸歯状波電圧Raの周波数f、が増加方向と減
少方向の双方に変えられるので、鋸歯状波電圧Raにフ
ライバッグ時間が存在するために、または鋸歯状波電圧
発生部40やランプ位相変調器22の特性上の問題など
からランプ位相変調器22に鋸歯状波電圧Raが印加さ
れることによって光ファイバコイル17を伝搬して干渉
する二つの光7a、7bの間に生しる位相差Δφrの最
大値が正確に±2πラジアンにならないために、光ファ
イバコイル17を伝搬して干渉する二つの光7a、7b
の間の位相差に鋸歯状波電圧Raの周波数f、の基本波
成分およびその整数倍の周波数の高調波成分からなる誤
差分を生し、この誤差分が光検出器19の出力Va中に
、第8図に示すようにバイアシング電圧Biの周波数f
mの成分Vmの上側帯波成分Ul、U2・・・および下
側帯波成分Ll、L2・・・として現れても、あるいは
ランプ位相変m器22において先導波路を通る光の強度
が鋸歯状波電圧Raによって変調され、その強度の変化
分が光検出!S19の出力Va中に、第11図に示すよ
うに鋸歯状波電圧Raの周波数「真の基本波成分R1お
よびその整数倍の周波数の高調波成分R2・・・Rn・
・・として生しても、特定の入力角速度のもとで、その
光検出器19の出力Va中に現れる上側帯波成分01,
02・・・または下側帯波成分Ll、L2・・・あるい
は基本波成分R1または高調波成分R2・・・Rn・・
・が位相差検出制御部50の周波数混合回路52におい
て光検出器19の出力Vaと混合される信号Scaまた
はScbの周波数fcaまたはfcbに対してfmのイ
メージ周波数となる周波数fiaまたはfibに一致す
ることによってfmの周波数の成分Vmとともにrrの
周波数に変換されて帯域通過フィルタ53および交流増
幅回路54を通じて同期検波回路55に供給される確率
が著しく低下する。しかも、鋸歯状波電圧Raの周波数
が増加方向と減少方向の双方に変えられることによって
、正方向のスケールファクタエラーと負方向のスケール
ファフタエラーが互いに打ち消し合う。したがって、特
定の入力角速度のもとて光干渉角速度計の出力に生しる
スケールファクタエラーが大幅に軽減され、光干渉角速
度計の入出力特性の直線性が著しく改善される。
具体的に、外部信号Vnとしてランダムノイズが用いら
れる場合には、スケールファクタエラーが従来の115
程度に減少する。
れる場合には、スケールファクタエラーが従来の115
程度に減少する。
なお、位相差検出制御部50のPIDフィルタ56の代
わりに同様の機能を有するフィルタが用いられてもよい
。
わりに同様の機能を有するフィルタが用いられてもよい
。
「発明の効果」
上述したように、この発明によれば、外部信号を位相差
検出制御部の出力に加算して鋸歯状波電圧発生部に供給
することによって鋸歯状波電圧の周波数を振動させるの
で、ランプ位相変調器に印加される位相変調用の鋸歯状
波電圧にフライバック時間が存在するなどの各種の原因
によって特定の入力角速度のもとて光干渉角速度計の出
力に生じるスケールファクタエラーを大幅に軽減するこ
とができ、光干渉角速度計の入出力特性の直線性を著し
く改善することができる。
検出制御部の出力に加算して鋸歯状波電圧発生部に供給
することによって鋸歯状波電圧の周波数を振動させるの
で、ランプ位相変調器に印加される位相変調用の鋸歯状
波電圧にフライバック時間が存在するなどの各種の原因
によって特定の入力角速度のもとて光干渉角速度計の出
力に生じるスケールファクタエラーを大幅に軽減するこ
とができ、光干渉角速度計の入出力特性の直線性を著し
く改善することができる。
第1図は、この発明の光干渉角速度計の一例を示す系統
図、第2図は、従来の光干渉角速度計の一例を示す系統
図、第3図、第4図および第5図は、それぞれにおける
バイアシング電圧、鋸歯状波電圧およびランプ位相変調
器における光の位相偏移の態様を示す図、第6図、第7
図、第8図、第9図、第10図および第11図は、それ
ぞれの光検出器の出力中に含まれる成分およびそれと7
R合される信号などの周波数関係を示す図、第12図は
、第2図に示す従来の光干渉角速度計において出力に生
しるスケールファクタエラーの例を示す図である。
図、第2図は、従来の光干渉角速度計の一例を示す系統
図、第3図、第4図および第5図は、それぞれにおける
バイアシング電圧、鋸歯状波電圧およびランプ位相変調
器における光の位相偏移の態様を示す図、第6図、第7
図、第8図、第9図、第10図および第11図は、それ
ぞれの光検出器の出力中に含まれる成分およびそれと7
R合される信号などの周波数関係を示す図、第12図は
、第2図に示す従来の光干渉角速度計において出力に生
しるスケールファクタエラーの例を示す図である。
Claims (2)
- (1)光源と、 光ファイバコイルと、 上記光源からの光を二つに分岐して上記光ファイバコイ
ルの一端および他端から上記光ファイバコイルに供給す
るとともに、上記光ファイバコイルを伝搬した二つの光
を干渉させる光分岐結合器と、 この光分岐結合器から得られる干渉光を検出する光検出
器と、 上記光分岐結合器と上記光ファイバコイルの一端との間
に配されたバイアシング位相変調器と、 このバイアシング位相変調器に印加される位相変調用の
バイアシング電圧を発生するバイアシング電圧発生部と
、 上記光分岐結合器と上記光ファイバコイルの他端との間
に配されたランプ位相変調器と、このランプ位相変調器
に印加される位相変調用の鋸歯状波電圧を発生する鋸歯
状波電圧発生部と、 上記光検出器の出力から上記光分岐結合器において干渉
する二つの光の間の位相差を検出し、その検出出力によ
って、その位相差が所定値になるように上記鋸歯状波電
圧発生部を制御する位相差検出制御部と、 を備える光干渉角速度計において、 外部信号を発生し、その外部信号を上記位相差検出制御
部の出力に加算して上記鋸歯状波電圧発生部に供給する
ことによって上記鋸歯状波電圧の周波数を振動させる外
部信号発生加算部が設けられた、 光干渉角速度計。 - (2)上記外部信号がランダムノイズである、請求項1
に記載の光干渉角速度計。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1208860A JPH06103188B2 (ja) | 1989-08-11 | 1989-08-11 | 光干渉角速度計 |
US07/562,605 US5009480A (en) | 1989-08-11 | 1990-08-03 | Fiber optic gyro |
CA002022771A CA2022771C (en) | 1989-08-11 | 1990-08-07 | Fiber optic gyro |
DE69010810T DE69010810T2 (de) | 1989-08-11 | 1990-08-09 | Optischer Faserkreisel. |
EP90115328A EP0418539B1 (en) | 1989-08-11 | 1990-08-09 | Fiber optic gyro |
EP93119056A EP0587202B1 (en) | 1989-08-11 | 1990-08-09 | Fiber optic gyro |
DE69025078T DE69025078T2 (de) | 1989-08-11 | 1990-08-09 | Optischer Faserkreisel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1208860A JPH06103188B2 (ja) | 1989-08-11 | 1989-08-11 | 光干渉角速度計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0372214A true JPH0372214A (ja) | 1991-03-27 |
JPH06103188B2 JPH06103188B2 (ja) | 1994-12-14 |
Family
ID=16563319
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1208860A Expired - Lifetime JPH06103188B2 (ja) | 1989-08-11 | 1989-08-11 | 光干渉角速度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06103188B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0510772A (ja) * | 1991-07-05 | 1993-01-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光回転検出装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02262006A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-24 | British Aerospace Plc <Baf> | 光フアイバジヤイロスコープ |
-
1989
- 1989-08-11 JP JP1208860A patent/JPH06103188B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02262006A (ja) * | 1989-03-20 | 1990-10-24 | British Aerospace Plc <Baf> | 光フアイバジヤイロスコープ |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0510772A (ja) * | 1991-07-05 | 1993-01-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光回転検出装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06103188B2 (ja) | 1994-12-14 |
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