JPH0342030A - Fluid supply equipment - Google Patents

Fluid supply equipment

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JPH0342030A
JPH0342030A JP17519289A JP17519289A JPH0342030A JP H0342030 A JPH0342030 A JP H0342030A JP 17519289 A JP17519289 A JP 17519289A JP 17519289 A JP17519289 A JP 17519289A JP H0342030 A JPH0342030 A JP H0342030A
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JP
Japan
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fluid
heat exchanger
tank
pipe
tube
Prior art date
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Pending
Application number
JP17519289A
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Japanese (ja)
Inventor
Koji Hashizume
幸司 橋詰
Yasutaka Ogawa
小川 康孝
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Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu VLSI Ltd
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)

Abstract

PURPOSE:To make the temp. difference between the temp. of supplied fluid in a supply member and the set temp. of a heat exchanger to be minimum by providing a preliminary heating means to heat the fluid in a tank in the preceding stage of a heat exchanger. CONSTITUTION:The fluid stored in a tank 1 is introduced into a heat exchanger 2 to be heated in a specified temp. and is discharged. The supply member 4 connected with the heat exchanger 2 through a conduct 3 supplies the heated fluid discharged from the heat exchanger 2. In this case, the fluid in the tank 1 is heated in the preceding stage of the heat exchanger 2 by a preliminary heating means 7. As a result, the temp. difference between the supplied temp. of the fluid in the supply member and the set temp. in the heat exchanger is made to be minimum, and the temp. of the fluid in the supply member is stabilized.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

[概要] 例えば、半導体装置を製造する際のウェハのエツチング
に使用されるエツチング液等の流体を供給する流体供給
装置に係り、詳しくは流体の温度管理に関し、 供給部材における流体の供給温度と熱交換器の設定温度
との温度差を最小限にすることができる流体供給装置を
提供することを目的とし、流体を貯留するタンクと、前
記タンクから流体を導き、所望の温度に加熱して吐出す
る熱交換器と、前記熱交換器に導出管を介して接続され
、かつ熱交換器より吐出される加熱された流体を供給す
るための供給部材とを備えた流体供給装置において、熱
交換器の前段においてタンク内の流体を加熱する予備加
熱手段を設けて構成した。 [産業上の利用分野1 本発明は、例えば、半導体装置を製造する際のウェハの
エツチングに使用されるエツチング液等の流体を供給す
る流体供給装置に係り、詳しくは流体の温度管理に関す
るものである。 例えば、半導体装置のウェハ工程における配線・素子パ
ターン等の段差形状の加工には製品に与えるダメージが
皆無であること等から、エツチング液を使用したウェッ
トエツチングが行われている。 このウェットエツチングは加工装置の近代化・プロセス
ニーズに伴い、その処理方法がマニュアル作業による目
視検査から多量のエツチング液に複数のウェハを浸漬(
デイツプ)するエツチングへと移行し、さらに、このデ
ィンブ式によるエツチングではエツチング液の液質が変
化するため、ウェハを回転させながらノズルスプレーに
よりエツチング液を供給する枚葉式のエツチングへと変
遷している。 このウェットエツチングでは、エツチング液の温度によ
って一定時間内に処理できる膜厚が変化、即ち、エツチ
ングレートが変化するため、熱交換器等を使用してエツ
チング液を所望する一定温度に管理する必要がある。
[Summary] For example, it relates to a fluid supply device that supplies a fluid such as an etching solution used for etching wafers in the manufacture of semiconductor devices, and in detail, it relates to temperature management of the fluid, and the supply temperature and heat of the fluid in the supply member. The purpose is to provide a fluid supply device that can minimize the temperature difference from the set temperature of the exchanger, and includes a tank for storing fluid, the fluid is guided from the tank, heated to a desired temperature, and discharged. and a supply member connected to the heat exchanger via a lead-out pipe and for supplying heated fluid discharged from the heat exchanger. A preheating means for heating the fluid in the tank is provided at the front stage of the tank. [Industrial Field of Application 1] The present invention relates to a fluid supply device for supplying a fluid such as an etching solution used for etching a wafer in manufacturing a semiconductor device, and specifically relates to temperature control of the fluid. be. For example, wet etching using an etching liquid is used to process stepped shapes such as wiring and element patterns in the wafer process of semiconductor devices because it causes no damage to the product. With the modernization of processing equipment and process needs, wet etching has changed from manual visual inspection to immersing multiple wafers in a large amount of etching solution (
Furthermore, because the liquid quality of the etching solution changes in dimple-type etching, the process has shifted to single-wafer etching, in which the etching solution is supplied by a nozzle spray while rotating the wafer. There is. In this wet etching, the film thickness that can be processed within a certain period of time changes depending on the temperature of the etching liquid, that is, the etching rate changes, so it is necessary to control the etching liquid to a desired constant temperature using a heat exchanger etc. be.

【従来の技術】[Conventional technology]

従来、例えば、半導体装置のウニハエ程においてウェッ
トエツチングに使用される薬液供給装置は、第5図に示
すように調合されたエツチング液を貯留するタンクlと
、タンク1内のエツチング液を導いて所望の温度に加熱
して吐出する熱交換器2と、前記熱交換器2に導出管3
を介して接続され、かつ熱交換器2より吐出される加熱
されたエツチング液を間欠的に供給するためのノズル4
とから構成されている。導出管3は第6図(al、 (
b)に示すようにエツチング液を流過させる内管3aと
、内管3aを収容しかつ恒温水を流過させる外管3bと
から構成されるとともに、導出管3の外周には断熱材5
等を巻付けて保温するようにしている。又、導出管3に
は熱交換器2の出口近傍にエツチング液の温度を検出す
るための熱電対6が設けられ、この熱電対6の検出結果
をフィードバックし、熱交換器2から吐出されるエツチ
ング液の温度を設定温度に近づけるようになっている。 [発明が解決しようとする課題] ところが、上記薬液供給装置において、ノズル4から供
給されるエツチング液は一定時間一定量が供給され続け
るのではなく、間欠的に供給される。又、エツチング液
を供給する供給インターバルは熱交換器2の容量により
影響を受ける。しかも、熱電対6が熱交換器2の出口近
傍に設けられている場合、ノズル4先端におけるエツチ
ング液の供給温度と熱交換器2の設定温度とに温度差が
生じるという問題点がある。 本発明は上記のような問題点を解決するためになされた
ものであって、その目的は供給部材における流体の供給
温度と熱交換器の設定温度との温度差を最小限にするこ
とができる流体供給装置を提供することにある。 [課題を解決するための手段] 第1図は本発明の原理説明図である。 タンク1は流体を貯留するものであり、予備加熱手段7
は熱交換器2の前段において予めタンク1内の流体を加
熱する。熱交換器2はタンクlから導いた流体を所望の
温度に加熱して吐出する。 供給部材4は熱交換器2に導出管3を介して接続されて
おり、熱交換器2より吐出される加熱された流体を供給
する。 [作用] 隔板式の熱交換器における熱伝達の理論式として、以下
の式■で表わされるものがある。 Δt−Δt1.8−DKF Δt;熱交換器の人口から距離Fにおける流体と恒温水
との温度差 ΔtIi熱交換器の入口での流体と恒温水との温度差 D;定数であり、(17G^・Cp^)±(1/G a
 −CPB )K;熱通過率 F;熱交換器の入口からの距離 G:毎時の質量速度(流速) CP;定圧比熱 本発明では熱交換器の前段において予めタンク内の流体
を予備加熱手段により加熱し、これを熱交換器に導いて
所望の温度に加熱して吐出するようにしているので、式
■におけるΔt1を小さくすることができる。このこと
より、熱交換器の導出管の温度差(Δt)を0℃に近づ
けることができ供給部材における流体の温度を安定させ
ることができる。 [実施例1 以下、本発明を具体化した一実施例を第2〜4図に従っ
て説明する。 第2図は本発明をエツチング用の薬液供給装置に具体化
した一実施例を示す概略構成図、第3図は導出管の直径
方向における断面図、第4図は導出管の軸方向における
断面図であり、第5図と同様の構成については同一の符
号を付して説明する。 第2図に示すようにエツチング液を貯留するタンク1を
収容するように予備加熱手段としての加熱筒7が配設さ
れ、同加熱筒7には熱交換器2から恒温水が導かれて循
環されている。これにより、タンクl内のエツチング液
が予め加熱される。 熱交換器2は恒温水に配置された螺旋状の加熱管2aを
備え、同加熱管2aは導入管8を介してタンク1から導
かれたエツチング液を設定温度に加熱して吐出する。熱
交換器2により加熱されて吐出されるエツチング液は導
出管3を介して供給部材としてのノズル4に導かれる。 導出管3は第3.4図に示すように内管3 c + 中
央管3d及び外管3eの三重構造となっており、内管3
c及び中央管3d間にエツチング液を流過させ、内管3
c内と、中央管3d及び外管38間とに熱交換器2から
導いた恒温水を流過させるようにしている。各管間には
スペーサ3fが設けられている。 中央管3dには熱通過率の高いテフロン材が使用されて
おり、内管3c内、中央管3d及び外管38間を流過す
る恒温水により内管3c及び中央管3d間を流過するエ
ツチング液を温めて保温するようにしている。 第4図に示すように、外管3eの端部にはキャップ9が
固着され、このキャップ9には恒温水を熱交換器2に戻
す排出管10が接続されるとともに、中央管3dが貫通
されている。中央管3dの端部にはキャップ11が固着
され、このキャンプ11には薬液供給管12が接続され
ている。又、キャップ11には内管3cが貫通され熱交
換器2に接続されており、熱交換器2に恒温水を戻すよ
うになっている。 そして、薬液供給管12には第2図に示すように切替弁
13を介してノズル4が接続されている。 又、切替弁13にはエツチング液をタンク側に戻す戻し
管14が設けられている。同切替弁13はノズル4より
エツチング液が供給されないとき、戻し管14側に切替
えられ熱交換器2により所定温度に加熱されたエツチン
グ液をタンク1に戻すようになっている。 このように、本実施例ではタンク1を収容する加熱筒7
を設け、同加熱筒7内に恒温水を循環させ、タンク1内
のエツチング液を予め加熱するようにしたので、熱交換
器2における設定温度からの温度変化を最小限とするこ
とができる。即ち、熱交換器2の能力を実質的に向上す
ることができ、熱交換器2から吐出されるエツチング液
の量が増加した場合においても、エツチング液の温度を
確実に設定温度とすることができる。 又、本実施例ではノズル4よりエツチング液を供給して
いない場合には、切替弁13を戻し管14側に切替え、
エツチング液をタンク1内に戻して循環させるようにし
ているので、切替弁13に至る導出管3内のエツチング
液の温度を熱交換器2の設定温度とすることができ、よ
ってノズル4より供給されるエツチング液の温度低下を
ほとんどなくすことができる。 さらに、本実施例では導出管3を内管3c、中央管3d
及び外管3eの三重構造とし、内管3c及び中央管3d
間にエツチング液を流過させ、内管3c内と、中央管3
d及び外管30間とに恒温水を流過させるようにしたの
で、熱交換器2から吐出され内管3c及び中央管3d間
を流過するエツチング液を、内管3c内、中央管3d及
び外管30間を流過する恒温水により温めることができ
、温度低下を確実に防止することができる。 なお、本実施例では3つの構成、即ち、■ 加熱筒7を
設けてタンクl内のエツチング液を予め加熱すること ■ 導出管3を内管3c、中央管3d及び外管3eの三
重構造とし、内管3c及び中央管3d間を流過するエツ
チング液を、内管3c内、中央管3d及び外管36間を
流過する恒温水により温めるようにすること ■ ノズル4よりエツチング液が供給されないとき、切
替弁13を戻し管14側に切替えて熱交換器2から吐出
されるエツチング液をタンク1に戻すこと を採用したが、上記■〜■の内、いずれか1つ、又は2
つを採用してもよい。 又、導入管8を導出管3と同様に三重構造としてもよい
。 又、熱交換器2から吐出されたエツチング液の温度低下
をさらに防止するためには、導出管3を短く、即ち、熱
交換器2とノズル4との距離を短くすればよいし、導出
管3の外周に断熱材等を巻付けてもよい。 さらに、本実施例では戻し管14をタンク1内に戻した
が、第2図に二点鎖線で示すように導入管8に接続して
もよい。 又、本実施例ではエツチング用の薬液供給装置に具体化
したが、供給温度を調節する必要のある加工用の原料液
体やその他の液体、又はガス等の流体の供給装置に実施
してもよい。。 [発明の効果] 以上詳述したように本発明によれば、供給部材における
流体の供給温度と熱交換器の設定温度との温度差を最小
限にすることができる優れた効果がある。
Conventionally, for example, a chemical supply device used for wet etching in the processing of semiconductor devices has a tank 1 for storing a prepared etching solution as shown in FIG. 5, and a tank 1 for guiding the etching solution to a desired level. a heat exchanger 2 that heats the temperature to a temperature of
A nozzle 4 for intermittently supplying the heated etching liquid discharged from the heat exchanger 2.
It is composed of. The outlet pipe 3 is shown in Fig. 6 (al, (
As shown in b), it is composed of an inner tube 3a through which the etching solution flows, and an outer tube 3b which accommodates the inner tube 3a and allows constant temperature water to flow through.
I wrap it around it to keep it warm. Further, a thermocouple 6 for detecting the temperature of the etching liquid is provided in the outlet pipe 3 near the outlet of the heat exchanger 2, and the detection result of the thermocouple 6 is fed back and the etching liquid is discharged from the heat exchanger 2. The temperature of the etching solution is brought closer to the set temperature. [Problems to be Solved by the Invention] However, in the chemical solution supply device described above, the etching solution supplied from the nozzle 4 is not continuously supplied in a fixed amount for a fixed period of time, but is supplied intermittently. Also, the supply interval for supplying the etching solution is influenced by the capacity of the heat exchanger 2. Moreover, when the thermocouple 6 is provided near the outlet of the heat exchanger 2, there is a problem that a temperature difference occurs between the supply temperature of the etching liquid at the tip of the nozzle 4 and the set temperature of the heat exchanger 2. The present invention has been made to solve the above problems, and its purpose is to minimize the temperature difference between the supply temperature of the fluid in the supply member and the set temperature of the heat exchanger. An object of the present invention is to provide a fluid supply device. [Means for Solving the Problems] FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention. The tank 1 is for storing fluid, and the preheating means 7
The fluid in the tank 1 is heated in advance before the heat exchanger 2. The heat exchanger 2 heats the fluid led from the tank 1 to a desired temperature and discharges the fluid. The supply member 4 is connected to the heat exchanger 2 via the outlet pipe 3, and supplies heated fluid discharged from the heat exchanger 2. [Operation] A theoretical equation for heat transfer in a diaphragm heat exchanger is expressed by the following equation (2). Δt-Δt1.8-DKF Δt; Temperature difference between the fluid and constant-temperature water at distance F from the population of the heat exchanger ΔtIi Temperature difference D between the fluid and constant-temperature water at the inlet of the heat exchanger; constant, (17G ^・Cp^)±(1/G a
-CPB )K; Heat transfer rate F; Distance from the inlet of the heat exchanger G: Mass velocity per hour (flow rate) CP; Specific heat at constant pressure In the present invention, the fluid in the tank is heated in advance by preheating means at the front stage of the heat exchanger. Since this is heated, guided to a heat exchanger, heated to a desired temperature, and discharged, Δt1 in equation (2) can be reduced. As a result, the temperature difference (Δt) between the outlet pipes of the heat exchanger can be brought close to 0° C., and the temperature of the fluid in the supply member can be stabilized. [Example 1] Hereinafter, an example embodying the present invention will be described with reference to FIGS. 2 to 4. Fig. 2 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of the present invention in a chemical supply device for etching, Fig. 3 is a cross-sectional view in the diametrical direction of the lead-out pipe, and Fig. 4 is a cross-sectional view in the axial direction of the lead-out pipe. 5, the same components as in FIG. 5 will be described with the same reference numerals. As shown in Fig. 2, a heating cylinder 7 as a preheating means is arranged to accommodate a tank 1 storing an etching solution, and constant temperature water is introduced into the heating cylinder 7 from a heat exchanger 2 and circulated. has been done. As a result, the etching liquid in the tank 1 is heated in advance. The heat exchanger 2 includes a spiral heating tube 2a placed in constant-temperature water, and the heating tube 2a heats the etching liquid introduced from the tank 1 via the introduction tube 8 to a set temperature and discharges it. The etching liquid heated by the heat exchanger 2 and discharged is guided through the outlet pipe 3 to a nozzle 4 serving as a supply member. As shown in Fig. 3.4, the outlet pipe 3 has a triple structure consisting of an inner pipe 3c + a central pipe 3d and an outer pipe 3e.
The etching solution is passed between the inner tube 3d and the inner tube 3d.
Constant-temperature water led from the heat exchanger 2 is made to flow between the center tube 3d and the outer tube 38. A spacer 3f is provided between each tube. Teflon material with a high heat transmission rate is used for the central pipe 3d, and the constant temperature water that flows between the inner pipe 3c, the central pipe 3d, and the outer pipe 38 flows between the inner pipe 3c and the central pipe 3d. The etching solution is heated to keep it warm. As shown in FIG. 4, a cap 9 is fixed to the end of the outer tube 3e, and a discharge tube 10 for returning constant temperature water to the heat exchanger 2 is connected to the cap 9, and a central tube 3d passes through the cap 9. has been done. A cap 11 is fixed to the end of the central tube 3d, and a chemical solution supply tube 12 is connected to the cap 11. Further, an inner tube 3c passes through the cap 11 and is connected to the heat exchanger 2, so that constant temperature water is returned to the heat exchanger 2. A nozzle 4 is connected to the chemical liquid supply pipe 12 via a switching valve 13, as shown in FIG. Further, the switching valve 13 is provided with a return pipe 14 for returning the etching liquid to the tank side. When the etching liquid is not supplied from the nozzle 4, the switching valve 13 is switched to the return pipe 14 side so that the etching liquid heated to a predetermined temperature by the heat exchanger 2 is returned to the tank 1. In this way, in this embodiment, the heating cylinder 7 that houses the tank 1
Since the etching liquid in the tank 1 is heated in advance by circulating constant temperature water in the heating cylinder 7, the temperature change from the set temperature in the heat exchanger 2 can be minimized. That is, the capacity of the heat exchanger 2 can be substantially improved, and even when the amount of etching liquid discharged from the heat exchanger 2 increases, the temperature of the etching liquid can be reliably maintained at the set temperature. can. Further, in this embodiment, when the etching liquid is not being supplied from the nozzle 4, the switching valve 13 is switched to the return pipe 14 side,
Since the etching liquid is returned to the tank 1 and circulated, the temperature of the etching liquid in the outlet pipe 3 leading to the switching valve 13 can be set to the set temperature of the heat exchanger 2, so that the etching liquid is supplied from the nozzle 4. It is possible to almost eliminate the temperature drop of the etching solution. Furthermore, in this embodiment, the outlet pipe 3 is an inner pipe 3c, a central pipe 3d,
and an outer pipe 3e, an inner pipe 3c and a central pipe 3d.
An etching solution is passed between the inner tube 3c and the central tube 3.
Since the constant temperature water is made to flow between the inner tube 3c and the outer tube 30, the etching liquid discharged from the heat exchanger 2 and flowing between the inner tube 3c and the central tube 3d is passed between the inner tube 3c and the central tube 3d. It can be heated by the constant temperature water flowing between the outer tube 30 and the outer tube 30, and a drop in temperature can be reliably prevented. In this embodiment, three configurations are used: (1) A heating tube 7 is provided to preheat the etching liquid in the tank (1); (2) The outlet tube 3 has a triple structure consisting of an inner tube 3c, a central tube 3d, and an outer tube 3e. , the etching liquid flowing between the inner tube 3c and the central tube 3d is warmed by the constant temperature water flowing between the inner tube 3c, the central tube 3d and the outer tube 36.■ The etching liquid is supplied from the nozzle 4. When the etching liquid is not supplied to the tank 1, the switching valve 13 is switched to the return pipe 14 side to return the etching liquid discharged from the heat exchanger 2 to the tank 1.
One may be adopted. Further, the inlet pipe 8 may have a triple structure like the outlet pipe 3. In addition, in order to further prevent the temperature of the etching liquid discharged from the heat exchanger 2 from decreasing, the outlet tube 3 may be shortened, that is, the distance between the heat exchanger 2 and the nozzle 4 may be shortened, and the outlet tube 3 may be shortened. A heat insulating material or the like may be wrapped around the outer periphery of 3. Furthermore, although the return pipe 14 is returned to the tank 1 in this embodiment, it may be connected to the introduction pipe 8 as shown by the two-dot chain line in FIG. Further, in this embodiment, the present invention is applied to an etching chemical supply device, but it may also be applied to a supply device for raw material liquid for processing, other liquids, or fluids such as gas, whose supply temperature needs to be adjusted. . . [Effects of the Invention] As detailed above, according to the present invention, there is an excellent effect that the temperature difference between the supply temperature of the fluid in the supply member and the set temperature of the heat exchanger can be minimized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の原理説明図、 第2図は本発明をエツチング用の薬液供給装置に具体化
した一実施例を示す概略構成図、第3図は導出管の直径
方向における断面図、第4図は導出管の軸方向における
断面図、第5図は従来の薬液供給装置を示す概略構成図
、第6図+alは従来の導出管の直径方向における断面
図、 第6図(blは従来の導出管の軸方向における断面図で
ある。 図において、 lはタンク、 2は熱交換器、 2は導出管、 3Gは内管、 3dは中央管、 3eは外管、 4は供給部材としてのノズル、 7は予備加熱手段としての加熱筒、 14は戻し管である。
FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention, FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing an embodiment of the present invention in an etching chemical supply device, and FIG. 3 is a sectional view in the diameter direction of the outlet pipe. FIG. 4 is a cross-sectional view of the outlet tube in the axial direction, FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing a conventional chemical liquid supply device, FIG. It is a sectional view in the axial direction of a conventional outlet pipe. In the figure, l is a tank, 2 is a heat exchanger, 2 is an outlet pipe, 3G is an inner pipe, 3d is a central pipe, 3e is an outer pipe, and 4 is a supply member. 7 is a heating tube as a preheating means, and 14 is a return pipe.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 流体を貯留するタンク(1)と、 前記タンク(1)から流体を導き、所望の温度に加熱し
て吐出する熱交換器(2)と、 前記熱交換器(2)に導出管(3)を介して接続され、
かつ熱交換器(2)より吐出される加熱された流体を供
給するための供給部材(4)とを備えた流体供給装置に
おいて、 熱交換器(2)の前段においてタンク(1)内の流体を
加熱する予備加熱手段(7)を設けたことを特徴とする
流体供給装置。 2 流体を貯留するタンク(1)と、 前記タンク(1)から流体を導き、所望の温度に加熱し
て吐出する熱交換器(2)と、 前記熱交換器(2)に導出管(3)を介して接続され、
かつ熱交換器(2)より吐出される加熱された流体を供
給するための供給部材(4)とを備えた流体供給装置に
おいて、 熱交換器(2)によって加熱されて導出された流体を、
少なくとも供給部材(4)による供給が行われていない
とき、タンク(1)側に戻す戻し管(14)を設けたこ
とを特徴とする流体供給装置。 3 流体を貯留するタンク(1)と、 前記タンク(1)から流体を導き、所望の温度に加熱し
て吐出する熱交換器(2)と、 前記熱交換器(2)に導出管(3)を介して接続され、
かつ熱交換器(2)より吐出される加熱された流体を供
給するための供給部材(4)とを備えた流体供給装置に
おいて、 前記導出管(3)を、内管(3c)、中央管(3d)及
び外管(3e)の三重構造とし、内管(3c)及び中央
管(3d)間に流体を流過させ、内管(3c)内と、中
央管(3d)及び外管(3e)間に恒温水を流過させる
ようにしたことを特徴とする流体供給装置。
[Scope of Claims] 1. A tank (1) that stores a fluid; a heat exchanger (2) that leads the fluid from the tank (1), heats it to a desired temperature, and discharges it; and the heat exchanger (2). ) via the outlet pipe (3),
and a supply member (4) for supplying heated fluid discharged from the heat exchanger (2), the fluid in the tank (1) at a stage upstream of the heat exchanger (2). A fluid supply device characterized in that it is provided with preheating means (7) for heating the fluid. 2. A tank (1) for storing fluid; a heat exchanger (2) for guiding the fluid from the tank (1), heating it to a desired temperature and discharging it; and a lead-out pipe (3) to the heat exchanger (2). ),
and a supply member (4) for supplying the heated fluid discharged from the heat exchanger (2), wherein the fluid heated and led out by the heat exchanger (2) is
A fluid supply device characterized by being provided with a return pipe (14) that returns to the tank (1) at least when the supply member (4) is not supplying. 3. A tank (1) for storing fluid; a heat exchanger (2) for guiding the fluid from the tank (1), heating it to a desired temperature and discharging it; and a lead-out pipe (3) to the heat exchanger (2). ),
and a supply member (4) for supplying heated fluid discharged from the heat exchanger (2), wherein the outlet pipe (3) is connected to an inner pipe (3c), a central pipe (3d) and an outer tube (3e), the fluid flows between the inner tube (3c) and the central tube (3d), and the fluid flows between the inner tube (3c), the central tube (3d), and the outer tube (3d). 3e) A fluid supply device characterized in that constant temperature water is allowed to flow between the fluid supply devices.
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