JPH033417B2 - - Google Patents

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JPH033417B2
JPH033417B2 JP59224554A JP22455484A JPH033417B2 JP H033417 B2 JPH033417 B2 JP H033417B2 JP 59224554 A JP59224554 A JP 59224554A JP 22455484 A JP22455484 A JP 22455484A JP H033417 B2 JPH033417 B2 JP H033417B2
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JP
Japan
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circuit
level setting
logarithmic amplifier
voltage
output
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JP59224554A
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JPS61102817A (en
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Aritaka Yorifuji
Juji Takada
Hitoshi Myashita
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Panasonic Electric Works Co Ltd
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Matsushita Electric Works Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K17/00Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
    • H03K17/51Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used
    • H03K17/78Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the components used using opto-electronic devices, i.e. light-emitting and photoelectric devices electrically- or optically-coupled

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  • Electronic Switches (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [技術分野] 本発明は被検知物体からの反射光を利用した光
電スイツチに関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field] The present invention relates to a photoelectric switch that utilizes reflected light from an object to be detected.

[背景技術] この種の光電スイツチとしては、第3図aに示
すように反射光の有無によつて物体の存在を検知
する拡散反射型と、第4図aおよびbに示すよう
に反射光の受光部への入射角によつて物体までの
距離を検知する距離検知型とがある。
[Background Art] This type of photoelectric switch includes a diffuse reflection type that detects the presence of an object based on the presence or absence of reflected light, as shown in Figure 3a, and a diffuse reflection type that detects the presence of an object based on the presence or absence of reflected light, as shown in Figure 4a and b. There is a distance detection type that detects the distance to an object based on the angle of incidence on the light receiving section.

まず拡散反射型は第3図aに示すように、物体
表面からの拡散反射光を受光素子2で受光し、受
光回路3で電圧信号に変換したのち、対数増幅回
路4で対数変換し、その出力Vinを物体検知用比
較回路5に入力して、感度を調整するための検知
レベル設定電圧Vaと比較し、Vinの方が大きい
ときには検知信号を出力する。信号処理回路9で
は発振回路14からの同期信号により、ドライブ
回路13で投光素子11から光ビームPを発生さ
せているタイミングで比較回路5の出力をサンプ
リングして外光ノイズを除去しており、この信号
処理回路9の出力をリレーなどよりなる出力回路
15と検知表示部16とに加えている。また余裕
表示部17は受光信号レベルと動作限界レベルと
の間に余裕があるかどうか、換言すればレンズの
清掃などを必要としているかどうかを表示するた
めのものであり、余裕レベル設定回路7から上述
の検知レベル設定電圧Vaよりも若干余裕のある
余裕表示設定電圧Vbが出力され、余裕表示用比
較回路8によつて受光信号電圧をこの余裕表示設
定電圧Vbと比較し、比較回路8の出力によつて
余裕表示部17を点灯制御している。
First, in the diffuse reflection type, as shown in Figure 3a, the light receiving element 2 receives the diffuse reflection light from the object surface, converts it into a voltage signal in the light receiving circuit 3, logarithmically transforms it in the logarithmic amplifier circuit 4, and converts the light into a voltage signal. The output Vin is input to the object detection comparison circuit 5 and compared with the detection level setting voltage Va for adjusting sensitivity, and when Vin is larger, a detection signal is output. The signal processing circuit 9 uses the synchronization signal from the oscillation circuit 14 to sample the output of the comparator circuit 5 at the timing when the drive circuit 13 is generating the light beam P from the light projecting element 11 to remove external light noise. The output of this signal processing circuit 9 is applied to an output circuit 15 consisting of a relay or the like and a detection display section 16. Further, the margin display section 17 is for displaying whether there is a margin between the received light signal level and the operating limit level, in other words, whether or not cleaning of the lens is required. A margin display set voltage Vb with a little margin than the above-mentioned detection level set voltage Va is output, and the margin display comparison circuit 8 compares the received light signal voltage with this margin display set voltage Vb, and the output of the comparison circuit 8 is The lighting of the margin display section 17 is controlled by.

同図bは対数増幅回路4の構成を示したもの
で、オペアンプG0とフイードバツクダイオード
D0を用いて受光信号出力を対数変換することに
より、物体までの距離と検出信号レベルとを比例
させてダイナミツクレンジを拡大し、精度の高い
検出を可能にするものである。
Figure b shows the configuration of the logarithmic amplifier circuit 4, which includes an operational amplifier G0 and a feedback diode.
By logarithmically converting the received light signal output using D 0 , the distance to the object and the detection signal level are made proportional, expanding the dynamic range and enabling highly accurate detection.

しかしながら上記の従来構成には次のような問
題点があつた。すなわち検知レベル設定回路6と
余裕レベル設定回路7を個々に設けているのは、
検知レベル設定電圧Vaと余裕表示設定電圧Vbと
を互いに独立に設定するためであるが、両設定回
路6および7はいずれも上記の対数増幅回路4の
温度補償を行なうために、同図cに示すように、
定電流源J1あるいはJ2で発生した信号をオペアン
プG1,G2およびシリコンダイオードD1,D2より
なる対数増幅器で対数変換しており、その出力電
圧VaおよびVbをそれぞれの比較回路5および8
に入力している。すなわち対数増幅回路4はリコ
ンダイオードの対数特性を利用しており、その温
度特性はPN接合の温度変化に伴なうキヤリア濃
度の変化などに依存しているために、この出力信
号と比較するための基準レベル設定回路をサーミ
スタなどを用いた安価な温度補償回路で構成して
も対数増幅回路4と同等の温度特性を持たせるこ
とは不可能であり、両レベル設定回路6および7
に対数増幅回路4と同一の回路を使用しない限り
適切な温度補償方法がないからである。しかしこ
のようにして各レベル設定回路毎に対数増幅器を
用いることは、それぞれに高精度のオペアンプを
必要とするのできわめて不経済であるという問題
があつた。
However, the above conventional configuration has the following problems. In other words, the reason why the detection level setting circuit 6 and the margin level setting circuit 7 are provided individually is as follows.
This is to set the detection level setting voltage Va and margin display setting voltage Vb independently of each other, and both setting circuits 6 and 7 are configured as shown in FIG. As shown,
The signal generated by constant current source J 1 or J 2 is logarithmically converted by a logarithmic amplifier consisting of operational amplifiers G 1 , G 2 and silicon diodes D 1 , D 2 , and the output voltages Va and Vb are sent to respective comparison circuits 5 and 8
is being entered. In other words, the logarithmic amplifier circuit 4 uses the logarithmic characteristics of a recon diode, and its temperature characteristics depend on changes in carrier concentration due to changes in the temperature of the PN junction. Even if the reference level setting circuit of 6 and 7 is configured with an inexpensive temperature compensation circuit using a thermistor, it is impossible to provide the same temperature characteristics as the logarithmic amplifier circuit 4, and both level setting circuits 6 and 7
This is because there is no appropriate temperature compensation method unless the same circuit as the logarithmic amplifier circuit 4 is used. However, using a logarithmic amplifier for each level setting circuit in this way requires a high-precision operational amplifier for each, which is extremely uneconomical.

次に距離検知型は第4図aに示すように、投受
光器を側方に互いに所定間隔を隔てて併置し、投
光素子11から投光光学系12を経て照射される
光ビームPが被検知物体Xの表面で拡散反射さ
れ、その反射光Rが受光光学系1で集光される際
に、集光点Sが被検知物体Xまでの距離Lに応じ
て側方へ変位することを利用して、被検知物体X
が検知エリアに存在するかどうかを検出するもの
であり、その回路構成は同図bに示すように、集
光面内に併置された2個の受光素子2a,2bあ
るいは半導体位置検出素子(PSD)の出力電流
をそれぞれ受光回路3a,3bで信号電圧に変換
し、さらに対数増幅回路4a,4bで対数変換し
たのち差動増幅回路18に入力し、その差出力を
距離検知用比較回路19の信号入力Vdとして、
検知距離設定回路20から供給される基準電圧
Vcと比較するものである。この場合にも2つの
対数変換回路出力のうちの一方Vinを余裕表示用
比較回路8へ入力して受光信号レベルと動作限界
レベルとの間に充分な余裕があるかどうかを表示
し、さらに余裕表示ランプが消えたのちは、受光
信号レベルが動作限界レベル以上あるかどうかを
検出することにより、誤動作せずに動作可能であ
るかどうかを表示する必要があり、そのための動
作表示用比較回路21と動作表示部22が必要で
ある。
Next, in the distance detection type, as shown in FIG. When the reflected light R is diffusely reflected on the surface of the detected object Detected object X
As shown in Figure b, the circuit configuration consists of two light-receiving elements 2a and 2b or a semiconductor position detection element (PSD ) are converted into signal voltages by the light receiving circuits 3a and 3b, and further logarithmically converted by the logarithmic amplifier circuits 4a and 4b, and then inputted to the differential amplifier circuit 18, and the difference output is sent to the distance detection comparison circuit 19. As signal input Vd,
Reference voltage supplied from detection distance setting circuit 20
It is compared with Vc. In this case as well, one of the two logarithmic conversion circuit outputs, Vin, is input to the margin display comparison circuit 8 to display whether there is sufficient margin between the received light signal level and the operating limit level. After the indicator lamp goes out, it is necessary to display whether or not operation is possible without malfunction by detecting whether the received light signal level is higher than the operating limit level, and for this purpose, the operation display comparison circuit 21 and an operation display section 22 are required.

上記の構成において、距離検知用比較回路19
の入力信号Vdは両対数増幅回路4a,4bの出
力の差をとることによつて、その温度誤差は互い
に相殺されており、したがつて検知距離設定回路
20には対数増幅器を必要としないが、動作表示
用比較回路21および余裕表示用比較回路8にそ
れぞれ基準電圧を供給するための動作レベル設定
回路23および余裕レベル設定回路7には、対数
変換出力Vinの温度誤差を補償するための対数増
幅器を必要とし、やはり第3図の拡散反射型の場
合と同様、各設定回路毎に高価な対数増幅器を必
要とするという問題があつた。
In the above configuration, the distance detection comparison circuit 19
By taking the difference between the outputs of the logarithmic amplifier circuits 4a and 4b, the input signal Vd of the input signal Vd is canceled out by each other, and therefore the detection distance setting circuit 20 does not require a logarithmic amplifier. , an operation level setting circuit 23 and a margin level setting circuit 7 for supplying reference voltages to the operation display comparison circuit 21 and the margin display comparison circuit 8, respectively, have a logarithm for compensating for the temperature error of the logarithm conversion output Vin. This requires an amplifier, and as in the case of the diffuse reflection type shown in FIG. 3, there is a problem in that an expensive logarithmic amplifier is required for each setting circuit.

[発明の目的] 本発明は上記の問題点に鑑み為されたものであ
り、その目的とするところは、対数増幅回路に対
して適正な温度補償を行なうことができる上に、
複数の比較回路に供給するための互いに独立な基
準レベルを単一の対数増幅器によつて発生し得る
レベル設定部の回路構成を提供するにある。
[Object of the Invention] The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and its purpose is to be able to perform appropriate temperature compensation for a logarithmic amplifier circuit, and to
It is an object of the present invention to provide a circuit configuration of a level setting section that can generate mutually independent reference levels to be supplied to a plurality of comparison circuits using a single logarithmic amplifier.

[発明の開示] しかして本発明は、被検知物体からの反射光の
受光信号を対数増幅回路で対数変換し、該対数変
換出力を第1の比較回路で第1の基準レベル設定
電圧と比較すると共に上記対数変換出力を第2の
比較回路で第2の基準レベル設定電圧と比較する
ようにした光電スイツチにおいて、基準電圧を対
数変換する対数増幅器の出力端をそれぞれレベル
設定用抵抗を介して上記両比較回路の基準入力端
に接続すると共に、各抵抗にそれぞれ定電流源か
ら電流を供給するようにした点に特徴を有するも
のであり、レベル設定部の対数増幅器の出力端の
電圧が各レベル設定用抵抗の値やその抵抗に定電
流源から供給される電流の値に影響されないよう
にして、単一の対数増幅器による複数の基準レベ
ルの設定を可能にしたものである。
[Disclosure of the Invention] Accordingly, the present invention logarithmically converts the light reception signal of reflected light from a detected object using a logarithmic amplifier circuit, and compares the logarithmically converted output with a first reference level setting voltage using a first comparison circuit. At the same time, in the photoelectric switch in which the logarithmically converted output is compared with a second reference level setting voltage in a second comparator circuit, the output ends of the logarithmic amplifiers that logarithmically convert the reference voltage are connected through level setting resistors. It is characterized in that it is connected to the reference input terminal of both of the comparison circuits mentioned above, and that a current is supplied to each resistor from a constant current source, so that the voltage at the output terminal of the logarithmic amplifier in the level setting section is This makes it possible to set a plurality of reference levels using a single logarithmic amplifier without being affected by the value of the level setting resistor or the value of the current supplied to the resistor from a constant current source.

第1図は本発明光電スイツチの一実施例を示し
たものである。同図aにおいて、受光素子2の出
力電流を受光回路3にて電圧信号に変換し、さら
に対数増幅回路4を用いて対数変換して、その出
力信号Vinを第1の比較回路5に入力し、第1の
基準レベル設定電圧Vaと比較すると共に、第2
の比較回路8において受光信号電圧Vinと第2の
基準レベル設定電圧Vbとを比較する。これらの
第1および第2の比較回路5および8は、第3図
aの拡散反射型の実施例にあつては、それぞれ物
体検知用比較回路5および余裕表示用表示用比較
回路8に相当し、第4図bの距離検知型実施例に
あつては、それぞれ動作表示用比較回路21およ
び余裕表示用比較回路8に相当しており、本発明
はこれらの比較回路に印加する2種類の基準レベ
ル設定電圧VaおよびVbを単一のレベル設定部1
0から供給するようにしたものである。
FIG. 1 shows an embodiment of the photoelectric switch of the present invention. In the figure a, the output current of the light receiving element 2 is converted into a voltage signal by the light receiving circuit 3, further logarithmically converted using the logarithmic amplifier circuit 4, and the output signal Vin is inputted to the first comparison circuit 5. , the first reference level setting voltage Va, and the second reference level setting voltage Va.
The comparison circuit 8 compares the light reception signal voltage Vin and the second reference level setting voltage Vb. These first and second comparison circuits 5 and 8 correspond to the object detection comparison circuit 5 and the margin display display comparison circuit 8, respectively, in the diffuse reflection type embodiment shown in FIG. 3a. , correspond to the comparison circuit 21 for operation display and the comparison circuit 8 for margin display, respectively, in the distance detection type embodiment shown in FIG. Level setting voltages Va and Vb are set in a single level setting section 1
It is designed to be supplied from 0.

第1図bはレベル設定部10の回路構成を示し
たもので、オペアンプG1およびシリコンダイオ
ードD1よりなる対数増幅器Aによつて定電流源
J0で発生した基準電流I0を対数変換し、その出力
端を抵抗R1を介して第1の比較回路5に接続す
ると共に、抵抗R2を介して第2の比較回路8に
接続し、各抵抗R1およびR2の出力側にそれぞれ
定電流源J1およびJ2を接続している。このように
構成すれば、各基準レベル設定電圧VaおよびVb
は、 Va=V0+I1×R1 Vb=V0+I2×R2 となつて、対数変換された基準電圧V0をそれぞ
れ任意の値だけレベルシフトして得ることができ
る。また抵抗値R1,R2あるいは電流値I1,I2を可
変にすれば、それぞれ他の設定レベルに影響を与
えることなく調整することが可能である。
Figure 1b shows the circuit configuration of the level setting section 10, in which a constant current source is generated by a logarithmic amplifier A consisting of an operational amplifier G1 and a silicon diode D1 .
The reference current I0 generated at J0 is logarithmically converted, and its output terminal is connected to the first comparator circuit 5 via a resistor R1 , and also to the second comparator circuit 8 via a resistor R2. , constant current sources J 1 and J 2 are connected to the output side of each resistor R 1 and R 2 , respectively. With this configuration, each reference level setting voltage Va and Vb
Va=V 0 +I 1 ×R 1 Vb=V 0 +I 2 ×R 2 and can be obtained by level-shifting the logarithmically converted reference voltage V 0 by an arbitrary value. Furthermore, by making the resistance values R 1 and R 2 or the current values I 1 and I 2 variable, each can be adjusted without affecting the other set levels.

また上記の実施例は単一の対数増幅器を用いて
2種の基準レベルを供給するものであるが、例え
ば拡散反射型において、検知レベルと余裕レベル
の他の動作可能かどうかを表示するための動作限
界レベルを必要とする場合がある。第2図aの実
施例は、比較回路が3個以上に増加した場合を示
したものであり、この場合にも定電流源J1乃至J5
の電流値または各抵抗値R1乃至R5を可変にして
それぞれの設定レベルを互いに影響なく調整する
ことができる。同図bは物体検知時の受光信号
Vinと各設定電圧V1乃至V5との関係を示したも
のである。
Furthermore, the above embodiment uses a single logarithmic amplifier to supply two types of reference levels; Operating limit levels may be required. The embodiment shown in FIG. 2a shows a case where the number of comparison circuits is increased to three or more, and in this case also constant current sources J 1 to J 5
By making the current value or each resistance value R 1 to R 5 variable, the respective setting levels can be adjusted without affecting each other. Figure b shows the light reception signal when detecting an object.
It shows the relationship between Vin and each set voltage V1 to V5 .

[発明の効果] 本発明は上述のように、被検知物体からの反射
光レベルを複数の基準レベルと比較するための複
数の比較回路を備えた光電スイツチにおいて、単
一の対数増幅器から複数の基準レベルを互いに独
立に供給することができるので、受光信号のダイ
ナミツクレンジを拡大するために設けた対数増幅
回路の温度補償を各比較回路毎に行なう必要がな
く、個々の対数増幅器を設けていた従来例に比し
高価なオペアンプの使用個数を節減し得るという
利点がある。
[Effects of the Invention] As described above, the present invention provides a photoelectric switch equipped with a plurality of comparison circuits for comparing the level of reflected light from a detected object with a plurality of reference levels. Since the reference levels can be supplied independently from each other, there is no need to perform temperature compensation for the logarithmic amplifier circuit provided for each comparison circuit to expand the dynamic range of the received light signal, and an individual logarithmic amplifier can be provided. This has the advantage that the number of expensive operational amplifiers used can be reduced compared to the conventional example.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図aは本発明光電スイツチの一実施例のブ
ロツク図、bは同上の要部回路図、第2図aは本
発明光電スイツチの他の実施例を示す要部回路
図、bは同上の動作説明図、第3図aは従来の光
電スイツチのブロツク回路図、bおよびcは同上
の要部回路図、第4図aは他の従来例の原理説明
図、bは同上のブロツク図である。 1は受光光学系、2は受光素子、3は受光回
路、4は対数増幅回路、5は第1の比較回路また
は物体検知用比較回路、6は検知レベル設定回
路、7は余裕レベル設定回路、8は第2の比較回
路または余裕表示用比較回路、9は信号処理回
路、10はレベル設定部、11は投光素子、12
は投光光学系、13はドライブ回路、14は発振
回路、15は出力回路、16は検知表示部、17
は余裕表示部、18は差動増幅回路、19は距離
検知用比較回路、20は検知距離設定回路、21
は第1の比較回路または動作表示用比較回路、2
2は動作表示部、23は動作レベル設定回路、A
は対数増幅器、G0,G1,G2はオペアンプ、D0
D1,D2はシリコンダイオード、J1〜J5は定電流
源、R1〜R5は抵抗、Vinは対数変換出力、Vaは
第1の基準レベル設定電圧、Vbは第2の基準レ
ベル設定電圧。
Figure 1a is a block diagram of one embodiment of the photoelectric switch of the present invention, b is a circuit diagram of the same essential parts as above, Figure 2a is a circuit diagram of the essential parts showing another embodiment of the photoelectric switch of the present invention, Fig. 3a is a block circuit diagram of a conventional photoelectric switch, b and c are circuit diagrams of the same main parts, Fig. 4a is a diagram explaining the principle of another conventional example, and b is a block diagram of the same as above. It is. 1 is a light receiving optical system, 2 is a light receiving element, 3 is a light receiving circuit, 4 is a logarithmic amplifier circuit, 5 is a first comparison circuit or a comparison circuit for object detection, 6 is a detection level setting circuit, 7 is a margin level setting circuit, 8 is a second comparison circuit or a margin display comparison circuit, 9 is a signal processing circuit, 10 is a level setting section, 11 is a light projecting element, 12
13 is a light projection optical system, 13 is a drive circuit, 14 is an oscillation circuit, 15 is an output circuit, 16 is a detection display section, 17
18 is a differential amplifier circuit, 19 is a comparison circuit for distance detection, 20 is a detection distance setting circuit, 21
is the first comparison circuit or the operation display comparison circuit;
2 is an operation display section, 23 is an operation level setting circuit, A
is a logarithmic amplifier, G 0 , G 1 , G 2 are operational amplifiers, D 0 ,
D 1 and D 2 are silicon diodes, J 1 to J 5 are constant current sources, R 1 to R 5 are resistors, Vin is logarithmic conversion output, Va is the first reference level setting voltage, and Vb is the second reference level. Setting voltage.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 被検知物体からの反射光の受光信号を対数増
幅回路で対数変換し、該対数変換出力を第1の比
較回路で第1の基準レベル設定電圧と比較すると
共に、上記対数変換出力を第2の比較回路で第2
の基準レベル設定電圧と比較するようにした光電
スイツチにおいて、基準電圧を対数変換する対数
増幅器の出力端をそれぞれレベル設定用抵抗を介
して上記両比較回路の基準入力端に接続すると共
に、各抵抗にそれぞれ定電流源から電流を供給す
るようにして成ることを特徴とする光電スイツ
チ。
1 Logarithmically converts the light reception signal of the reflected light from the detected object in a logarithmic amplifier circuit, compares the logarithmically converted output with a first reference level setting voltage in a first comparator circuit, and converts the logarithmically converted output into a second The second comparison circuit
In a photoelectric switch designed to compare the reference level setting voltage of A photoelectric switch characterized in that a current is supplied from a constant current source to each of the switches.
JP59224554A 1984-10-25 1984-10-25 Photoelectric switch Granted JPS61102817A (en)

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