JPH03296643A - Apparatus for detecting astigmatism of optical disk head - Google Patents

Apparatus for detecting astigmatism of optical disk head

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Publication number
JPH03296643A
JPH03296643A JP10060090A JP10060090A JPH03296643A JP H03296643 A JPH03296643 A JP H03296643A JP 10060090 A JP10060090 A JP 10060090A JP 10060090 A JP10060090 A JP 10060090A JP H03296643 A JPH03296643 A JP H03296643A
Authority
JP
Japan
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current
output
circuit
section
semiconductor laser
Prior art date
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Pending
Application number
JP10060090A
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Japanese (ja)
Inventor
Tamayasu Yoshikawa
吉川 玉容
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To enhance measuring accuracy without receiving the effect of the fluctuation of the output of the beam from semiconductor laser by normalizing the output of the transmitted beam cut by a knife edge on the basis of the monitor current of the semiconductor laser being the monitor of the quantity of the emitted beam from the semiconductor laser. CONSTITUTION:The laser beam emitted from an optical disk head part 30 being an object to be measured is vertically cut by a knife edge part 3 to be incident to a photodetector 5 which in turn outputs the current proportional to the quantity of the incident beam. This current is normalized on the basis of the monitor current of semiconductor laser being the monitor of the output of the beam from the semiconductor laser contained in the head part by a divider circuit 6. Since the output of the beam from the laser changes with the elapse of time by the temp. rise of the laser main body, the time differentiated waveform of the output current of the photodetector 5 also changes with the elapse of time but this change is negated and only the change of a shape duct to the cutting of the laser beam by the edge part 3 is fetched. The output current of the divider circuit 6 is subjected to time differentiation by a differentiation circuit 7 and only the signal of a necessary part is fetched by a sample holding circuit 8.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光ディスクヘッド部の非点収差検出装置に関
し、特に、光ディスクヘッド部の組立時、調整時に光デ
ィスクヘッド部の非点収差を自動的に検出する光ディス
クヘッド部非点収差検出装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to an astigmatism detection device for an optical disc head, and in particular, a device for automatically detecting astigmatism in an optical disc head when assembling or adjusting the optical disc head. The present invention relates to a device for detecting astigmatism in an optical disk head.

〔従来の技術) まず、一般の光ディスクヘッドについて図面を参照して
説明する。
[Prior Art] First, a general optical disk head will be described with reference to the drawings.

第7図は光ディスクヘッド部の構成図である。FIG. 7 is a configuration diagram of the optical disk head section.

第7図において、光ディスクヘッド部は光源である半導
体レーザ16と、コリメータレンズ17と、フォーカス
サーボ用アクチュエータ18と、収束レンズ部19から
構成されている。
In FIG. 7, the optical disk head section is composed of a semiconductor laser 16 as a light source, a collimator lens 17, a focus servo actuator 18, and a converging lens section 19.

半導体レーザ16の中には、出射光量をモニターするフ
ォトディテクタが組み込まれている(図示せず)。
A photodetector for monitoring the amount of emitted light is incorporated in the semiconductor laser 16 (not shown).

光ディスクヘッド部は光源に半導体レーザを使用してい
るために出射するレーザ光の非点収差がある。そのレー
ザ光をコリメータレンズで平行光に近づけた後、収束レ
ンズ部1つで収束させても、収束部において非点収差が
存在するので、その非点収差を測定し修正する必要があ
る。
Since the optical disk head uses a semiconductor laser as a light source, there is astigmatism in the emitted laser light. Even if the laser beam is made into parallel light using a collimator lens and then converged using a single converging lens section, astigmatism still exists in the converging section, so it is necessary to measure and correct the astigmatism.

次に、従来の光ディスクヘッド部非点収差修正装置につ
いて図面を参照して説明する。
Next, a conventional optical disk head astigmatism correcting device will be described with reference to the drawings.

第8図は従来の光ディスクヘッド部非点収差検出装置の
一例を示す図、第9図はナイフェツジ部の構成図、第1
0図はナイフェツジ部とレーザビームとの位置関係を説
明する図、第11図はフォトディテクタの出力波形の図
、第12図は第8図に示す微分回路の出力電流波形の図
、第13図は第8図に示すサンプルホールド回路の出力
波形の図である。
Fig. 8 is a diagram showing an example of a conventional optical disk head astigmatism detection device, Fig. 9 is a configuration diagram of the knife section, and Fig. 1
Figure 0 is a diagram explaining the positional relationship between the knife section and the laser beam, Figure 11 is a diagram of the output waveform of the photodetector, Figure 12 is a diagram of the output current waveform of the differentiating circuit shown in Figure 8, and Figure 13 is a diagram of the output current waveform of the differential circuit shown in Figure 8. 9 is a diagram of an output waveform of the sample and hold circuit shown in FIG. 8. FIG.

第8図において、光ディスクヘッド部非点収差検出装置
は、被測定物である光ディスクヘッド部に含まれる半導
体レーザを駆動する電源部21と、光ディスクヘッド部
のフォーカスサーボ用アクチュエータを駆動するコント
ローラ部22と、光ディスクヘッド部で収束されたレー
ザ光のビームウェスト付近を光軸方向に垂直に振動する
9゜度の角度を持つナイフェツジ部23と、ナイフェツ
ジ部23を振動させる発振器24と、ナイフェツジ部2
3を通過したレーザ光を受光しその受光量に比例した電
流を出力するフォトディテクタ25と、そのフォトディ
テクタ25から出力した電流を時間で微分する微分回路
26と、微分回路26で微分された電流信号のうち必要
な部分の信号のみを取り出すサンプルホールド回路27
と、サンプルホールド回路27で取り出された信号から
正側のみの信号波形と負側のみの信号波形とをそれぞれ
取り出す2つの整流回路■−28,■−29と、2つに
分けられた信号波形の正側負側それぞれのピーク値を求
めるための2つのコンパレータ■−30,■−31と、
ピーク値をとるときの収束レンズ部の位置をコントロー
ラから求めて記憶する2つのメモリー回路■−32,■
−33と、正側負側2つのメモリー回路■−32゜■−
33の収束レンズ部の位置の値から被測定物の非点収差
を求めるコンパレータ■−34とから構成されている。
In FIG. 8, the optical disc head astigmatism detection device includes a power supply unit 21 that drives a semiconductor laser included in an optical disc head that is an object to be measured, and a controller unit 22 that drives a focus servo actuator of the optical disc head. , a knife section 23 having an angle of 9 degrees that vibrates near the beam waist of the laser beam converged by the optical disk head section perpendicular to the optical axis direction; an oscillator 24 that vibrates the knife section 23;
a photodetector 25 that receives the laser beam that has passed through the laser beam and outputs a current proportional to the amount of received light; a differentiating circuit 26 that differentiates the current output from the photodetector 25 with respect to time; Sample and hold circuit 27 that extracts only the necessary part of the signal
and two rectifier circuits ■-28 and ■-29 that respectively extract a positive side only signal waveform and a negative side only signal waveform from the signal taken out by the sample hold circuit 27, and a signal waveform divided into two. Two comparators ■-30 and ■-31 for determining the peak values of the positive and negative sides of
Two memory circuits that determine and store the position of the convergent lens section when taking the peak value from the controller■-32,■
-33 and two memory circuits on the positive and negative sides■-32゜■-
and a comparator (34) for determining the astigmatism of the object to be measured from the value of the position of the convergent lens section (33).

次に、第8図に示す光ディスクヘッド部非点収差検出装
置で光ディスクヘッド部の非点収差の検出する手順につ
いて第7図を参照して説明する。
Next, a procedure for detecting astigmatism of an optical disk head using the optical disk head astigmatism detection device shown in FIG. 8 will be described with reference to FIG.

まず、光ディスクヘッド部の半導体レーザ16を光ディ
スクヘッド部用電源部21で発光させ、そのレーザ光を
コリメートレンズ17で平行光に近づける。そして、そ
のレーザ光を収束レンズ部19で収束させる。収束した
レーザ光はナイフェツジ部23で光軸方向に垂直に切断
される。
First, the semiconductor laser 16 of the optical disk head section is caused to emit light by the optical disk head section power supply section 21, and the laser beam is brought into parallel light by the collimating lens 17. Then, the laser beam is converged by a converging lens section 19. The converged laser beam is cut by the knife section 23 perpendicularly to the optical axis direction.

第9図に示すように、ナイフェツジ部23はガラス板4
5と、90度の角を持つナイフェツジパターン部46か
ら構成される。
As shown in FIG. 9, the knife portion 23 is connected to the glass plate 4.
5 and a knife pattern portion 46 having a 90 degree angle.

レーザビームの短軸方向、長軸方向をそれぞれY軸、Y
軸としたとき、ナイフェツジパターンの4辺をX@Y軸
と一致させ、ナイフェツジパターンをI−1’の矢印の
方向に45度の角度で振動させ、ナイフェツジパターン
の左上の角がレーザビームを切断するようにナイフェツ
ジ部23に位置を調整する。そのときナイフェツジパタ
ーン部46は1ストロークの間にレーザビームを短軸方
向、長軸方向の2方向から次々に切断する。その時、ナ
イフェツジ部23を通過したレーザ光をフォトディテク
タ24で受光する。そのフォトディテクタ24が出力す
る電流の波形は第11図のようになる。
The short axis direction and long axis direction of the laser beam are the Y axis and Y axis, respectively.
When used as an axis, align the four sides of the knife pattern with the X@Y axis, vibrate the knife pattern at an angle of 45 degrees in the direction of the arrow I-1', and Adjust the position of the knife part 23 so that the corner cuts the laser beam. At this time, the knife pattern section 46 sequentially cuts the laser beam from two directions, the short axis direction and the long axis direction, during one stroke. At this time, the laser beam that has passed through the knife section 23 is received by the photodetector 24. The waveform of the current output from the photodetector 24 is as shown in FIG.

そして、その電流は微分回路26で時間微分され、その
ときの波形は第12図のようになる。
Then, the current is differentiated with respect to time by the differentiating circuit 26, and the waveform at that time becomes as shown in FIG.

第12図において、E、F、G、Hの波形のうちEとF
、GとHの電流波形はそれぞれ同一であり符号が逆転し
ている。微分回路によって微分された信号はサンプルホ
ールド回路27により必要な部分の信号のみ(第12図
の波形ではFとGの波形)が取り出され、取り出された
信号波形は整流回路■−28と整流回路■−29の両方
に入力される。入力された信号波形のうち整流回路■−
28は正側の信号波形のみを出力し、整流回路■−29
は逆に負側の信号波形のみを出力する。
In Fig. 12, E and F of the E, F, G, and H waveforms are shown.
, G and H current waveforms are the same and have opposite signs. From the signal differentiated by the differentiating circuit, only the necessary part of the signal (in the waveform of FIG. 12, the F and G waveforms) is extracted by the sample and hold circuit 27, and the extracted signal waveform is sent to the rectifier circuit -28 and the rectifier circuit. ■Input to both -29. Among the input signal waveforms, the rectifier circuit ■−
28 outputs only the positive side signal waveform, and the rectifier circuit ■-29
Conversely, outputs only the negative side signal waveform.

整流回路■−28から出力された信号波形はコンパレー
タ■−30に入力され、その時点までの最大値と比較さ
れ、最大値より大きいとその値はコンパレータ■−30
の比較基準電圧レベルになり、その時のフォーカスサー
ボ用アクチュエータ18の位置はコントローラ2からも
とめられてメモリー回路■−32に記憶させる。
The signal waveform output from the rectifier circuit ■-28 is input to the comparator ■-30 and compared with the maximum value up to that point, and if it is larger than the maximum value, the signal waveform is input to the comparator ■-30.
The comparison reference voltage level is reached, and the position of the focus servo actuator 18 at that time is obtained from the controller 2 and stored in the memory circuit 1-32.

同様に、整流回路■−29から出力された信号波形はコ
ンパレータ■−31に入力され、その時点までの最小値
と比較され、最小値より小さいと、その値はコンパレー
タ■−31の比較基準電圧レベルになる、その時のフォ
ーカスサーボ用アクチュエータ18の位置はコントロー
ラ2から求められてメモリー回路■−33に記憶される
Similarly, the signal waveform output from the rectifier circuit ■-29 is input to the comparator ■-31 and compared with the minimum value up to that point. The position of the focus servo actuator 18 at that time is determined from the controller 2 and stored in the memory circuit 1-33.

そして、コントローラ2により光ディスクヘッド部のフ
ォーカスサーボ用アクチュエータ18を光軸方向に一定
距離移動し、以上の手順を繰り返し、最終的にフォーカ
スサーボ用アクチュエータ18の移動が終了した時のメ
モリー■−32と、メモリー■−33に記憶されている
フォーカスサーボ用アクチュエータ18の位置の差が被
測定物の非点収差になる。
Then, the controller 2 moves the focus servo actuator 18 of the optical disk head section a certain distance in the optical axis direction, repeats the above steps, and finally the memory ■-32 , the difference in the position of the focus servo actuator 18 stored in the memory 1-33 becomes astigmatism of the object to be measured.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来の光ディスクヘッド部非点収差検出装置は
以下のように半導体レーザの光出力変動の影響を受けて
しまい、検出精度が悪く、検出時間が長くかかるという
欠点がある。
The above-described conventional optical disk head astigmatism detection device is affected by fluctuations in the optical output of the semiconductor laser as described below, and has the drawbacks of poor detection accuracy and long detection time.

非点収差の測定はフォトディテクタの出力電流の微分波
形の最−大値を測定して求めているが、被測定物である
光ディスクヘッド部に含まれる半導体レーザの光出力は
半導体レーザ自体の温度上昇等により変動し、それによ
ってフォトディテクタの出力電流も変動してしまう。
Astigmatism is measured by measuring the maximum value of the differential waveform of the output current of the photodetector, but the optical output of the semiconductor laser included in the optical disk head, which is the object to be measured, is determined by the temperature rise of the semiconductor laser itself. etc., and the output current of the photodetector also varies accordingly.

従って、フォトディテクタの出力電流はナイフェツジが
半導体レーザのビームを切断することによる形状の変化
のみではなく、半導体レーザの出力変動の影響も受けて
しい、さらに、フォトディテクタの出力電流の微分波形
から求める被点収差の値も半導体レーザの光出力変動の
影響を受けてしまう。
Therefore, the output current of the photodetector is likely to be affected not only by changes in shape due to the knife cutting the semiconductor laser beam, but also by fluctuations in the output of the semiconductor laser. The aberration value is also affected by fluctuations in the optical output of the semiconductor laser.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の光ディスクヘッド部非点収差検出装置は、非測
定物である光ディスクヘッド部に含まれれる半導体レー
ザを駆動する電源部と、光ディスクヘッド部のフォーカ
スサーボ用アクチュエータを駆動するコントローラ部と
、光ディスクヘッド部で収束されたレーザ光のビームウ
ェスト付近を光軸方向に垂直に振動する90度の角を持
つナイフェツジ部と、ナイフェツジ部を振動させる発振
器と、ナイフェツジ部を通過しなレーザ光を受光しその
受光量に比例した電流を出方するフォトディテクタと、
そのフォトディテクタがら出力した電流を半導体レーザ
のモニター電流で正規化する割り算回路と、その割り算
回路の8カ電流を時間で微分する微分回路と、微分回路
で微分された電流信号のうち所定の部分の信号のみを取
り出すサンプルホールド回路と、サンプルホールド回路
で取り出された信号がら正側のみの信号と負側のみの信
号とをそれぞれ取り出す2つの整流回路と、2つに分け
られた信号の正側負側それぞれのピーク値を求めるため
の2つのコンパレータと、ピーク値をとるときの収束レ
ンズ部の位置を求めて記憶する2つのメモリーと、正側
負側2つのメモリ−の収束レンズ部の位置の値から被測
定物の非点収差を求めるコンパレータとを有している。
The optical disk head astigmatism detection device of the present invention includes a power supply unit that drives a semiconductor laser included in an optical disk head that is a non-measurable object, a controller unit that drives a focus servo actuator of the optical disk head, and an optical disk head. There is a knife part with a 90 degree angle that vibrates near the beam waist of the laser beam focused in the head part perpendicular to the optical axis direction, an oscillator that vibrates the knife part, and a knife part that receives the laser light that does not pass through the knife part. A photodetector that outputs a current proportional to the amount of light it receives;
There is a division circuit that normalizes the current output from the photodetector with the monitor current of the semiconductor laser, a differentiation circuit that differentiates the eight currents of the division circuit with respect to time, and a differentiation circuit that differentiates the current signal of the current signal differentiated by the differentiation circuit. A sample hold circuit takes out only the signal, two rectifier circuits take out only the positive side signal and only the negative side signal from the signal taken out by the sample hold circuit, and the positive side and negative side of the signal divided into two. Two comparators for determining the peak value for each side, two memories for determining and storing the position of the converging lens section when taking the peak value, and two memories for positive and negative sides for determining the position of the converging lens section. and a comparator that determines the astigmatism of the object to be measured from the value.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は第1
図に示すフォトディテクタの出力波形の図、第3図は第
1図の示す微分回路の出力波形をの図、第4図は第1図
に示すサンプルホールド回路の出力波形の図、第5図は
正側の整流回路の出力波形の図、第6図は負側の整流回
路の出力波形の図である。
FIG. 1 is a configuration diagram showing one embodiment of the present invention, and FIG.
Figure 3 is a diagram of the output waveform of the photodetector shown in Figure 1, Figure 3 is a diagram of the output waveform of the differentiating circuit shown in Figure 1, Figure 4 is a diagram of the output waveform of the sample hold circuit shown in Figure 1, and Figure 5 is a diagram of the output waveform of the sample and hold circuit shown in Figure 1. FIG. 6 is a diagram of the output waveform of the rectifier circuit on the positive side, and FIG. 6 is a diagram of the output waveform of the rectifier circuit on the negative side.

第1図において、本実施例の光ディスクヘッド部非点収
差測定装置は被測定物である光ディスクヘッド部と、被
測定物である光ディスクヘッド部に含まれる半導体レー
ザを駆動する電源部1と、光ディスクヘッド部のフォー
カスサーボ用アクチュエータを駆動するコントローラ部
2と、光ディスクヘッド部で収束されたレーザ光のビー
ムウェスト付近を光軸方向に垂直に振動する90度の角
を持つナイフェツジ部3と、ナイフエ・ソジ部3を振動
させる発振器4と、ナイフェツジ部3を通過したレーザ
光を受光し、その受光量に比例した電流を出力するフォ
トディテクタ5と、そのフォトディテクタ5から出力し
た電流を被測定物である光ディスクヘッド部に含まれる
半導体レーザのモニター電流で正規化する割り算回路6
と、その割り算回路6の出力電流を時間で微分する微分
回路7と、微分回路7で微分された信号のうち必要な部
分の信号のみを取り出すサンプルホールド回路8と、サ
ンプルホールド回路8でサンプルされた電流信号から正
側のみの電流信号と負側のみの電流信号とをそれぞれ取
り出す2つの整流回路、整流回路■−9,■−10と、
2つに分けられた電流信号の正側負側それぞれのピーク
値を求めるための2つのコンパレータ、コンパレータ■
−11,■−12と、ピーク値をとるときの収束レンズ
部の位置をコントローラ2から求めて記憶する2つのメ
モリー回路、メモリー回路■13、■−14と、正側負
側2つのメモリーの収束レンズ部の位置の値から被測定
物の被点収差を求めるコンパレータ■−15とより構成
される。
In FIG. 1, the optical disk head astigmatism measuring device of this embodiment includes an optical disk head as an object to be measured, a power supply section 1 for driving a semiconductor laser included in the optical disk head as an object to be measured, and an optical disk. A controller section 2 that drives the focus servo actuator of the head section, a knife section 3 having a 90 degree angle that vibrates near the beam waist of the laser beam focused in the optical disk head section perpendicular to the optical axis direction, An oscillator 4 that vibrates the laser section 3, a photodetector 5 that receives the laser light that has passed through the knife section 3 and outputs a current proportional to the amount of received light, and an object to be measured that outputs the current output from the photodetector 5. A divider circuit 6 that normalizes with the monitor current of the semiconductor laser included in the optical disk head.
, a differentiation circuit 7 that differentiates the output current of the division circuit 6 with respect to time, a sample hold circuit 8 that extracts only the necessary part of the signal differentiated by the differentiation circuit 7, and two rectifier circuits, rectifier circuits ■-9 and ■-10, which extract a current signal only on the positive side and a current signal only on the negative side, respectively, from the current signal obtained by
Two comparators to find the peak values of the positive and negative sides of the two divided current signals, comparator■
-11, ■-12, two memory circuits that obtain and store the position of the convergent lens section when taking the peak value from the controller 2, memory circuits ■13, ■-14, and two memories on the positive and negative sides. It is comprised of a comparator (1)-15 for determining the to-be-targeted aberration of the object to be measured from the value of the position of the converging lens section.

被測定物である光ディスクヘッド部に含まれる半導体レ
ーザ16は、電源部1により駆動される。半導体レーザ
16より発光したレーザ光はコリメータレンズ17で平
行光にされ、収束レンズ19で収束され、光ディスクヘ
ッド部から出射する。
A semiconductor laser 16 included in an optical disk head section, which is an object to be measured, is driven by a power supply section 1. Laser light emitted from the semiconductor laser 16 is made into parallel light by a collimator lens 17, converged by a converging lens 19, and emitted from the optical disk head section.

光ディスクヘッド部から出射したレーザ光はナイフェツ
ジ部3により光軸方向に垂直に切断される。ナイフェツ
ジ部3を通過したレーザ光はフォトディテクタ5に入射
する。フォトディテクタらは入射したレーザ光の光量に
比例した電流を出力する。
The laser beam emitted from the optical disk head section is cut by the knife section 3 perpendicularly to the optical axis direction. The laser beam that has passed through the knife section 3 enters a photodetector 5. The photodetectors output a current proportional to the amount of incident laser light.

第2図において、フォトディテクタ5から出力する電流
は割り算回路6により被測定物である光ディスクヘッド
部に含まれる半導体レーザ16のモニター電流で正規化
される。半導体レーザ16の光出力は半導体レーザ16
本体の温度上昇等により時間と共に変動するので、その
出力をそのまま受けたフォトディテクタ5の出力電流の
時間微分波形は時間と共に変動する。そこで、フォトデ
ィテクタ5の出力電流を半導体レーザ16の光出力のモ
ニターである半導体レーザ16のモニター電流を正規化
することでその変動を打ち消し、ナイフェツジが半導体
レーザビームを切断することによる形状の変化のみを取
り出す。
In FIG. 2, the current output from the photodetector 5 is normalized by the dividing circuit 6 with the monitor current of the semiconductor laser 16 included in the optical disk head section which is the object to be measured. The optical output of the semiconductor laser 16 is
Since the current changes over time due to a rise in the temperature of the main body, etc., the time differential waveform of the output current of the photodetector 5, which receives the output as it is, changes over time. Therefore, by normalizing the output current of the photodetector 5 to the monitor current of the semiconductor laser 16, which monitors the optical output of the semiconductor laser 16, the fluctuations are canceled out, and only the change in shape due to the cutting of the semiconductor laser beam by the knife is eliminated. Take it out.

割り算回路6の出力電流は微分回路7により時間微分さ
れ、そのときの波形は第3図のようになる。
The output current of the divider circuit 6 is time-differentiated by the differentiating circuit 7, and the waveform at that time becomes as shown in FIG.

第3図において、A、B、C,Dの波形のうちAとB、
CとDの電流信号波形はそれぞれ同一であり、符号が逆
転している。微分回路によって微分された信号はサンプ
ルホールド回路8により必要な部分の信号のみ(第3図
の波形ではBとCの波形)が取り出され、その時の信号
波形は第4図のようになる。
In Fig. 3, among the waveforms A, B, C, and D, A and B,
The current signal waveforms of C and D are the same and have opposite signs. From the signal differentiated by the differentiating circuit, only the necessary portion of the signal (waveforms B and C in the waveform of FIG. 3) is extracted by the sample-and-hold circuit 8, and the signal waveform at that time becomes as shown in FIG. 4.

サンプルホールド回路8によって取り出された信号波形
は整流回路■−9と整流回路■−10の両方に入力され
る。入力された信号波形のうち整流口路■−9は正側の
信号波形のみを出力し、整流波形■−10は逆に負側の
信号波形のみを出力する。整流回路■−9と整流回路■
−10からそれぞれ出力する信号波形は第5図、第6図
のようになる。
The signal waveform taken out by the sample and hold circuit 8 is input to both rectifier circuits -9 and -10. Of the input signal waveforms, the rectifier path (1)-9 outputs only the positive side signal waveform, and the rectified waveform (2)-10 conversely outputs only the negative side signal waveform. Rectifier circuit ■-9 and rectifier circuit ■
The signal waveforms output from -10 are shown in FIGS. 5 and 6, respectively.

整流回路■−9から出力された信号波形はコンパレータ
■−11に入力され、その時点までの最大値と比較され
る。最大値より大きいとその値はコンパレータ■−11
の比較基準電圧レベルになり、その時のフォーカスサー
ボ用アクチュエータ18の位置はコトローラからもとめ
られてメモリー回路■−13に記憶される。
The signal waveform output from the rectifier circuit (2)-9 is input to the comparator (2)-11 and compared with the maximum value up to that point. If it is larger than the maximum value, the value is the comparator -11
The comparison reference voltage level is reached, and the position of the focus servo actuator 18 at that time is obtained from the controller and stored in the memory circuit 1-13.

同様に、整流回路■−10から出力された信号波形はコ
ンパレータ■−12に入力され、その時点までの最小値
と比較される。最小値より小さいとその値はコンパレー
タ■−12の比較基準電圧レベルになる、その時のフォ
ーカスサーボ用アクチュエータの位置はコントローラか
ら求められてメモリー回路■−14に記憶される。
Similarly, the signal waveform output from the rectifier circuit 1-10 is input to the comparator 2-12 and compared with the minimum value up to that point. If it is smaller than the minimum value, the value becomes the comparison reference voltage level of the comparator (1)-12, and the position of the focus servo actuator at that time is determined from the controller and stored in the memory circuit (2)-14.

そして、コントローラ2により光ディスクヘッド部のフ
ォーカスサーボ用アクチュエータ18を光軸方向に一定
距離移動し、以上の手順を繰り返す。
Then, the controller 2 moves the focus servo actuator 18 of the optical disk head part a certain distance in the optical axis direction, and the above procedure is repeated.

最終的に、フォーカスサーボ用アクチュエータ18の移
動が終了した時のメモリー回路■−13と、メモリー回
路■−14に記憶されているフォーカスサーボ用アクチ
ュエータ18の位置の差が被測定物の非点収差になる。
Finally, the difference between the positions of the focus servo actuator 18 stored in the memory circuit ■-13 and the memory circuit ■-14 when the movement of the focus servo actuator 18 is completed is the astigmatism of the object to be measured. become.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明によれば、ナイフェツジで切
断した透過光出力を半導体レーザの出射光量のモニター
である半導体レーザのモニター電流で正規化することに
より、被測定物である光ディスクヘッド部に含まれる半
導体レーザの光出力の変動の影響を受けず、非点収差の
測定精度を向上できるという効果がある。
As explained above, according to the present invention, by normalizing the transmitted light output cut by the knife with the monitor current of the semiconductor laser, which monitors the amount of light emitted from the semiconductor laser, This has the effect of improving the accuracy of astigmatism measurement without being affected by fluctuations in the optical output of the semiconductor laser.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図は第1
図に示すフォトディテクタの出力波形の図、第3図は第
1図の示す微分回路の出力波形をの図、第4図は第1図
に示すサンプルホールド回路の出力波形の図、第5図は
正側の整流回路の出力波形の図、第6図は負側の整流回
路の出力波形の図、第7図は光ディスクヘッド部の構成
図、第8図は従来の一例を示す図、第9図はナイフェツ
ジ部の構成図、第10図はナイフェツジ部とレーザビー
ムとの位置関係を説明する図、第11図はフォトディテ
クタの出力波形の図、第12図は第8図に示す微分回路
の出力電流波形の図、第13図は第8図に示すサンプル
ホールド回路の出力波形の図である。 1・・・電源部、2・・・コントローラ部、3・・・ナ
イフェツジ部、4・・・発振器、5・・・フォトディテ
クタ、6・・・割り算回路、7・・・微分回路、8・・
・サンプルホールド回路、9・・・整流回路■、10・
・・整流回路■、11・・・コンパレータ■、12・・
・コンパレータ■、13・・・メモリー回路■、14・
・・メモリー回路■、15・・・コンパレータ■、16
・・・半導体レーザ、17・・・コリメータレンズ、1
8・・・フォーカスサーボ用アクチュエータ、19・・
・収束レンズ、21・・・電源部、22・・・コントロ
ーラ、23・・・ナイフェツジ部、24・・・発振器、
25・・・フォトディテクタ、26・・・微分回路、2
7・・・サンプルホールド回路、28・・・整流回路■
、29・・・整流回路■、30・・・コンパレータ■、
31・・・コンパレータ■、32・・・メモリー回路■
、33・・・メモリー回路■、34・・・コンパレータ
■、35・・・ガラス板、36・・・ナイフェツジパタ
ーン、40・・・光ディスクヘッド部。
FIG. 1 is a configuration diagram showing one embodiment of the present invention, and FIG.
Figure 3 is a diagram of the output waveform of the photodetector shown in Figure 1, Figure 3 is a diagram of the output waveform of the differentiating circuit shown in Figure 1, Figure 4 is a diagram of the output waveform of the sample hold circuit shown in Figure 1, and Figure 5 is a diagram of the output waveform of the sample and hold circuit shown in Figure 1. Figure 6 is a diagram of the output waveform of the rectifier circuit on the positive side, Figure 7 is a diagram of the configuration of the optical disk head, Figure 8 is a diagram showing an example of the conventional system, Figure 9 is a diagram of the output waveform of the rectifier circuit on the negative side, The figure shows the configuration of the knife part, Figure 10 shows the positional relationship between the knife part and the laser beam, Figure 11 shows the output waveform of the photodetector, and Figure 12 shows the output of the differentiator circuit shown in Figure 8. A current waveform diagram, FIG. 13, is a diagram of an output waveform of the sample and hold circuit shown in FIG. 8. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Power supply part, 2... Controller part, 3... Knifetsu part, 4... Oscillator, 5... Photodetector, 6... Division circuit, 7... Differentiation circuit, 8...
・Sample hold circuit, 9... Rectifier circuit■, 10・
... Rectifier circuit ■, 11... Comparator ■, 12...
・Comparator ■, 13...Memory circuit ■, 14・
...Memory circuit ■, 15...Comparator ■, 16
... Semiconductor laser, 17 ... Collimator lens, 1
8...Focus servo actuator, 19...
- Converging lens, 21... Power supply section, 22... Controller, 23... Knifetsu section, 24... Oscillator,
25... Photodetector, 26... Differential circuit, 2
7... Sample hold circuit, 28... Rectifier circuit■
, 29... Rectifier circuit ■, 30... Comparator ■,
31... Comparator ■, 32... Memory circuit ■
, 33...Memory circuit ■, 34...Comparator ■, 35...Glass plate, 36...Knifetsu pattern, 40...Optical disk head section.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 非測定物である光ディスクヘッド部に含まれる半導体レ
ーザを駆動する電源部と、 前記光ディスクヘッド部のフォーカスサーボ用アクチュ
エータを駆動するコントローラ部と、前記光ディスクヘ
ッド部で収束されたレーザ光のビームウェスト付近を光
軸方向に垂直に振動する90度の角を持つナイフエッジ
部と、 前記ナイフエッジ部を振動させる発振器と、前記ナイフ
エッジ部を通過したレーザ光を受光しその受光量に比例
した電流を出力するフォトディテクタと、 前記フォトディテクタから出力した電流を前記半導体レ
ーザのモニター電流で正規化する割り算回路と、 前記割り算回路の出力電流を時間で微分する微分回路と
、 前記微分回路で微分された電流信号のうち所定の部分の
信号のみを取り出すサンプルホールド回路と、 前記サンプルホールド回路で取り出された信号から正側
のみの信号と負側のみの信号とをそれぞれ取り出す2つ
の整流回路と、 前記2つに分けられた信号の正側負側それぞれのピーク
値を求めるための2つのコンパレータと、 前記ピーク値をとるときの収束レンズ部の位置を求めて
記憶する2つのメモリーと、 前記正側負側2つのメモリーの収束レンズ部の位置の値
から被測定物の非点収差を求めるコンパレータとを有し
、光ディスクヘッド部の非点収差を検出することを特徴
とする光ディスクヘッド部非点収差検出装置。
[Scope of Claims] A power supply section that drives a semiconductor laser included in an optical disk head section, which is a non-measurement object; a controller section that drives a focus servo actuator of the optical disk head section; a knife edge section having a 90 degree angle that vibrates near the beam waist of the laser beam perpendicular to the optical axis direction; an oscillator that vibrates the knife edge section; and a receiver that receives the laser beam that has passed through the knife edge section. a photodetector that outputs a current proportional to the amount of current; a division circuit that normalizes the current output from the photodetector with a monitor current of the semiconductor laser; a differentiation circuit that differentiates the output current of the division circuit with respect to time; and the differentiation circuit. a sample-and-hold circuit that extracts only a predetermined portion of the current signal differentiated by the current signal; and two rectifier circuits that extract only the positive side signal and only the negative side signal from the signal extracted by the sample-and-hold circuit. , two comparators for determining the peak values of the positive and negative sides of the two divided signals, and two memories for determining and storing the position of the converging lens section when taking the peak value, and a comparator for determining astigmatism of the object to be measured from the position values of the converging lens sections of the two positive and negative memories, and detects astigmatism of the optical disk head. Astigmatism detection device.
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