JPH03276509A - 透明導電膜パターン形成用ペースト及び透明導電膜パターン形成方法 - Google Patents
透明導電膜パターン形成用ペースト及び透明導電膜パターン形成方法Info
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- JPH03276509A JPH03276509A JP7553690A JP7553690A JPH03276509A JP H03276509 A JPH03276509 A JP H03276509A JP 7553690 A JP7553690 A JP 7553690A JP 7553690 A JP7553690 A JP 7553690A JP H03276509 A JPH03276509 A JP H03276509A
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Landscapes
- Conductive Materials (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
- Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は透明導電膜パターン形成用ペーストに関するも
のである。
のである。
[従来の技術]
従来透明導電膜上にパターンを形成させる方法としては
、太き(分けて2通りある。即ち(A);透明導電膜を
形成した後除膜したい部分以外をマスク材で覆った後還
元又はプラズマエツチングにより透明導電膜を取り除く
方法、及び(B):第1図に示すごと(基板に遮蔽物に
よるパターンを形成させた後透明導電膜を形成し、しか
る後に遮蔽物上の透明導電膜を遮蔽物ともども物理的又
は化学的手段により取り除く方法、である。(A)の例
としては特開昭62−136579 、特開昭62−2
90900 、特開昭62−206708 、が挙げら
れるが、これらの製法は何れも複雑な工程を有し、又酸
や有害物を使用する為設備費が高くなるなどの欠点を有
している。(B)の遮蔽物の例として、特公昭35−1
380では硫酸塩又は塩化物を用いるものが提案されて
いるが、微粒子を得ることが困難な為、均一な遮蔽パタ
ーンを得ることがむずかしく、又微細なパターンに対し
ては寸法精度も低いものしか得られないという欠点があ
った。また、特公昭47−24446では顔料と低融点
ガラス粉末との混合物を用いるものが提案されているが
、透明導電膜を形成する際に基板と融着し易すく、特に
透明導電膜の形成に高温を要する場合には不適当である
。特開昭49−113573では酸化マグネシウム、酸
化チタン、酸化アルミニウム等の粉末を、また、特公昭
61−43806では炭酸カルシウム単独又は炭酸カル
シウムと黒鉛との混合物を用いることが提案されている
が、これらの酸化物や炭化物は透明導電膜形成温度下に
おいて強い酸化雰囲気にさらされることによりわずかに
基板ガラスと反応し、膜形成後遮蔽物を除去して得られ
る基板ガラスの表面には曇りが生じきれいな外観を要求
される用途には使用できない、さらに遮蔽物を除去して
残った透明導電膜の端が第2図に示したごとく持ち上が
るいわゆるスパイク現象が起り易い為、透明導電膜上に
各種の膜を形成する場合好ましくない。
、太き(分けて2通りある。即ち(A);透明導電膜を
形成した後除膜したい部分以外をマスク材で覆った後還
元又はプラズマエツチングにより透明導電膜を取り除く
方法、及び(B):第1図に示すごと(基板に遮蔽物に
よるパターンを形成させた後透明導電膜を形成し、しか
る後に遮蔽物上の透明導電膜を遮蔽物ともども物理的又
は化学的手段により取り除く方法、である。(A)の例
としては特開昭62−136579 、特開昭62−2
90900 、特開昭62−206708 、が挙げら
れるが、これらの製法は何れも複雑な工程を有し、又酸
や有害物を使用する為設備費が高くなるなどの欠点を有
している。(B)の遮蔽物の例として、特公昭35−1
380では硫酸塩又は塩化物を用いるものが提案されて
いるが、微粒子を得ることが困難な為、均一な遮蔽パタ
ーンを得ることがむずかしく、又微細なパターンに対し
ては寸法精度も低いものしか得られないという欠点があ
った。また、特公昭47−24446では顔料と低融点
ガラス粉末との混合物を用いるものが提案されているが
、透明導電膜を形成する際に基板と融着し易すく、特に
透明導電膜の形成に高温を要する場合には不適当である
。特開昭49−113573では酸化マグネシウム、酸
化チタン、酸化アルミニウム等の粉末を、また、特公昭
61−43806では炭酸カルシウム単独又は炭酸カル
シウムと黒鉛との混合物を用いることが提案されている
が、これらの酸化物や炭化物は透明導電膜形成温度下に
おいて強い酸化雰囲気にさらされることによりわずかに
基板ガラスと反応し、膜形成後遮蔽物を除去して得られ
る基板ガラスの表面には曇りが生じきれいな外観を要求
される用途には使用できない、さらに遮蔽物を除去して
残った透明導電膜の端が第2図に示したごとく持ち上が
るいわゆるスパイク現象が起り易い為、透明導電膜上に
各種の膜を形成する場合好ましくない。
以上のごとく、微細な透明導電膜のパターンを形成する
為の満足すべき方法はこれまで開発されていなかった。
為の満足すべき方法はこれまで開発されていなかった。
[発明の解決しようとする問題点]
本発明の目的は、従来技術が有していた前述の欠点を解
消しようとするものである。
消しようとするものである。
[問題点を解決するための手段]
本発明は前述の問題点を解決すべ(なされたものであり
、メンフェーズカーボン小球体を、粘結剤、溶剤と共に
混合分散させたことを特徴とする透明導電膜パターン形
成用ペーストな提供するものである。
、メンフェーズカーボン小球体を、粘結剤、溶剤と共に
混合分散させたことを特徴とする透明導電膜パターン形
成用ペーストな提供するものである。
本発明に用いられるメソフェーズカーボン小球体の原料
には特に制限はないが、灰分量としては基板との反応性
を極力低くする目的で0.1%以下のものが好ましい、
また粒度分布としてはペースト化が容易なことと、パタ
ーンの精度を良好なものにする目的で、最大粒径20μ
量以下で、平均粒径(D、。二粒径と積算体積の関係を
示す積算粒径分布曲線における積算体積50%に相当す
る粒径)が10μ■以下のものが好ましい。
には特に制限はないが、灰分量としては基板との反応性
を極力低くする目的で0.1%以下のものが好ましい、
また粒度分布としてはペースト化が容易なことと、パタ
ーンの精度を良好なものにする目的で、最大粒径20μ
量以下で、平均粒径(D、。二粒径と積算体積の関係を
示す積算粒径分布曲線における積算体積50%に相当す
る粒径)が10μ■以下のものが好ましい。
粘結剤としては特に制限はないが、エチルセルロース、
メチルセルロース等のセルロース誘導体、デンプン、樹
脂類及びこれらの混合物が用いられる。溶剤としては採
用する製造工程により適当なものを選ぶことができるが
、スクリーン印刷でパターンを形成する場合には、有害
性の小さいこと、適度の粘性、蒸発速度、沸点を有する
などの理由でベンジルアルコール、グリコール、アセチ
ルグリコール酸エチル、乳酸ブチル、酢酸ベンジル、ト
リメチルペンタジオールモノイソブチレート、水及びこ
れらの混合物が用いられる。
メチルセルロース等のセルロース誘導体、デンプン、樹
脂類及びこれらの混合物が用いられる。溶剤としては採
用する製造工程により適当なものを選ぶことができるが
、スクリーン印刷でパターンを形成する場合には、有害
性の小さいこと、適度の粘性、蒸発速度、沸点を有する
などの理由でベンジルアルコール、グリコール、アセチ
ルグリコール酸エチル、乳酸ブチル、酢酸ベンジル、ト
リメチルペンタジオールモノイソブチレート、水及びこ
れらの混合物が用いられる。
メソフェーズカーボン小球体、粘結剤及び溶剤の配合は
採用する製造工程により適当な比率が選べるが、粘結剤
としてエチルセルロースを、また溶剤としてベンジルア
ルコールを選び、スクリーン印刷によりパターンを形成
する場合、メソフェーズカーボン小球体はペースト中の
40%から70%(重量%)、またエチルセルロースと
溶剤の割合は1:99から20 : 80 (重量比)
までのものを使用することが作業性、印刷性の点から好
ましい。
採用する製造工程により適当な比率が選べるが、粘結剤
としてエチルセルロースを、また溶剤としてベンジルア
ルコールを選び、スクリーン印刷によりパターンを形成
する場合、メソフェーズカーボン小球体はペースト中の
40%から70%(重量%)、またエチルセルロースと
溶剤の割合は1:99から20 : 80 (重量比)
までのものを使用することが作業性、印刷性の点から好
ましい。
本発明のペーストを用いてバターニングされつる透明導
電膜としてはSnow、F又はSbをドープしたSnO
,、ZnO,^1やF等をドープしたZnO1Snをド
ープしたIn5On等が挙げられるがこれらに限定され
ない。
電膜としてはSnow、F又はSbをドープしたSnO
,、ZnO,^1やF等をドープしたZnO1Snをド
ープしたIn5On等が挙げられるがこれらに限定され
ない。
又、本発明ペーストを用いてバターニングされた透明導
電膜を形成する基板としては、特に限定されず、各種ガ
ラス板、プラスチック板等が使用できるが、本発明のペ
ーストは特にガラス板に好適に使用できる。
電膜を形成する基板としては、特に限定されず、各種ガ
ラス板、プラスチック板等が使用できるが、本発明のペ
ーストは特にガラス板に好適に使用できる。
[作用〕
本発明において、メソフェーズカーボン小球体を用いた
ペーストの遮蔽性能が優れている理由は明らかではない
が、概ね500℃以下の温度でメソフェーズカーボン小
球体は融合してち密な層を形成することにより透明導電
膜を形成する為の反応性ガスを通過させない効果を生ず
るものと考えられる。
ペーストの遮蔽性能が優れている理由は明らかではない
が、概ね500℃以下の温度でメソフェーズカーボン小
球体は融合してち密な層を形成することにより透明導電
膜を形成する為の反応性ガスを通過させない効果を生ず
るものと考えられる。
また、メソフェーズカーボン小球体を用いたベースI・
を使用した場合、前記スパイクの生成が実質上なくなり
、また導電膜形成後、遮蔽物を除去して得られる基板面
に曇りが生じず美しい外観を示す理由は必ずしも明らか
ではないが、メンフェーズカーボン小球体により形成さ
れる遮蔽物が、ガラス等の基板及び導電膜とのヌレ性が
小さく、また反応性にとぼしい為、導電膜形成の為の高
温処理においても安定なことによるものと考えられる。
を使用した場合、前記スパイクの生成が実質上なくなり
、また導電膜形成後、遮蔽物を除去して得られる基板面
に曇りが生じず美しい外観を示す理由は必ずしも明らか
ではないが、メンフェーズカーボン小球体により形成さ
れる遮蔽物が、ガラス等の基板及び導電膜とのヌレ性が
小さく、また反応性にとぼしい為、導電膜形成の為の高
温処理においても安定なことによるものと考えられる。
[実施例]
実施例1
エチルセルロース3部とベンジルアルコール52部とを
よく混ぜ合わせ、この液にメソフェーズカーボン小球体
(平均粒径(OS。)で6μm)45部を加えよく混練
して得たペーストを使用して、ガラス基板上にスクリー
ン印刷で乾燥後の厚みで約15μmのパターンを形成し
た。
よく混ぜ合わせ、この液にメソフェーズカーボン小球体
(平均粒径(OS。)で6μm)45部を加えよく混練
して得たペーストを使用して、ガラス基板上にスクリー
ン印刷で乾燥後の厚みで約15μmのパターンを形成し
た。
これを110℃で10分間乾燥した後550℃の温度下
で5LH4とO,ガスとを吹き付け5ins膜(膜厚的
0.05μm)を形成し、引き続き560℃の温度下で
ガス状の5nC1nとH2Oとを吹き付けて酸化錫膜(
膜厚的0.15μm)を形成させた。このようにして得
た基板を水洗するだけで遮蔽物は流れ落ち、流れ落ちた
跡は膜形成前と同様無色透明であった。また幅1m@の
パターン両側の電気抵抗を測定した所2MΩ以上であり
、さらに触針式膜厚計で測定した所、スパイクは全く見
られなかった。
で5LH4とO,ガスとを吹き付け5ins膜(膜厚的
0.05μm)を形成し、引き続き560℃の温度下で
ガス状の5nC1nとH2Oとを吹き付けて酸化錫膜(
膜厚的0.15μm)を形成させた。このようにして得
た基板を水洗するだけで遮蔽物は流れ落ち、流れ落ちた
跡は膜形成前と同様無色透明であった。また幅1m@の
パターン両側の電気抵抗を測定した所2MΩ以上であり
、さらに触針式膜厚計で測定した所、スパイクは全く見
られなかった。
実施例2
エチルセルロース2部とベンジルアルコール33部とを
よく混ぜ合わせ、この液にメンフェーズカーボン小球体
(平均粒径(D、。)で6μm)65部を加えよく混練
して得たペーストを使用して、ガラス基板上にスクリー
ン印刷で乾燥後の厚みで約151.Lmのパターンを形
成した。
よく混ぜ合わせ、この液にメンフェーズカーボン小球体
(平均粒径(D、。)で6μm)65部を加えよく混練
して得たペーストを使用して、ガラス基板上にスクリー
ン印刷で乾燥後の厚みで約151.Lmのパターンを形
成した。
これを110℃で10分間乾燥した後550℃でSiH
+とOIIガスとを吹き付けSiOヨ膜(膜厚的0.0
5μm)・を形成し引き続き450℃で酢酸亜鉛をイソ
プロピルアルコールと水とで希釈した溶液をスプレーし
酸化亜鉛膜(膜厚的0.2μm)を形成させた。このよ
うにして得た基板を水洗すると遮蔽物は流れ落ち、流れ
落ちた跡は膜形成前と同様無色透明であった。また幅1
msのパターン両側の電気抵抗を測定した所2MΩ以上
であった。さらに触針式膜厚計で測定した所、スパイク
は全く見られなかった。
+とOIIガスとを吹き付けSiOヨ膜(膜厚的0.0
5μm)・を形成し引き続き450℃で酢酸亜鉛をイソ
プロピルアルコールと水とで希釈した溶液をスプレーし
酸化亜鉛膜(膜厚的0.2μm)を形成させた。このよ
うにして得た基板を水洗すると遮蔽物は流れ落ち、流れ
落ちた跡は膜形成前と同様無色透明であった。また幅1
msのパターン両側の電気抵抗を測定した所2MΩ以上
であった。さらに触針式膜厚計で測定した所、スパイク
は全く見られなかった。
比較例1
実施例1のメソフェーズカーボン小球体の代わりに平均
粒径(D so)で0.5μmの炭酸カルシウムを使用
したペーストを用いガラス基板上にスクリーン印刷で乾
燥後の厚みで約15μmのパターンを形成した。この基
板を110℃で10分間乾燥した後実施例1と同様にし
て550℃の温度下でSiH+と03ガスを吹き付け5
ins膜を形成し、引き続き560℃の温度下でガス状
の5nC1nとH,0とを吹き付けて酸化錫膜を形成さ
せた。
粒径(D so)で0.5μmの炭酸カルシウムを使用
したペーストを用いガラス基板上にスクリーン印刷で乾
燥後の厚みで約15μmのパターンを形成した。この基
板を110℃で10分間乾燥した後実施例1と同様にし
て550℃の温度下でSiH+と03ガスを吹き付け5
ins膜を形成し、引き続き560℃の温度下でガス状
の5nC1nとH,0とを吹き付けて酸化錫膜を形成さ
せた。
このようにして得た基板上の遮蔽物は水洗によっては落
ちず、塩酸中に浸漬することによって始めて分散消滅し
たが、遮蔽物が存在していた場所には曇りが残った。ま
た、幅1+u++のパターン両側の電気抵抗は2MΩ以
上であったが、高さ約0.4μ層のスパイクが観察され
た。
ちず、塩酸中に浸漬することによって始めて分散消滅し
たが、遮蔽物が存在していた場所には曇りが残った。ま
た、幅1+u++のパターン両側の電気抵抗は2MΩ以
上であったが、高さ約0.4μ層のスパイクが観察され
た。
比較例2
実施例2のメンフェーズカーボン小球体の代わりに粉砕
により平均粒径(D、。)を6μ園に調製したグラフデ
ィトを使用したペーストを用いガラス基板上にスクリー
ン印刷で乾燥後の厚みで約15μmのパターンを形成し
た。この基板を110℃で10分間乾燥した後実施例1
と同様にして550℃の温度下でSiH<とO8とを吹
き付け5ins膜を形成し、引き続き560℃の温度下
でガス状の5nC14とH,0とを吹き付は酸化錫膜を
形成させた。このようにして得た基板上の遮蔽物は水洗
によって落とすことができるが、落ちた跡には量りが認
められた。また暢[■のパターン両側の電気抵抗を測定
すると膜上の同距離間の電気抵抗の約2倍しかなかった
。さらにスパイクの高さは約0.1μ■であった。
により平均粒径(D、。)を6μ園に調製したグラフデ
ィトを使用したペーストを用いガラス基板上にスクリー
ン印刷で乾燥後の厚みで約15μmのパターンを形成し
た。この基板を110℃で10分間乾燥した後実施例1
と同様にして550℃の温度下でSiH<とO8とを吹
き付け5ins膜を形成し、引き続き560℃の温度下
でガス状の5nC14とH,0とを吹き付は酸化錫膜を
形成させた。このようにして得た基板上の遮蔽物は水洗
によって落とすことができるが、落ちた跡には量りが認
められた。また暢[■のパターン両側の電気抵抗を測定
すると膜上の同距離間の電気抵抗の約2倍しかなかった
。さらにスパイクの高さは約0.1μ■であった。
以上実施例と比較例を表−1にまとめて示した。
[発明の効果]
本発明は、透明導電膜にバターニングする為のりフトオ
フ用ペーストに、ガラス基板との反応性がなく、酸化消
耗速度の小さなメンフェーズカーボン小球体を用いてい
る為、透明導電膜上に微細かつ高精度なパターンが形成
できる、酸化錫、酸化亜鉛等膜の形成に高温を要する透
明導電膜に対してはその形成条件が制限されない、透明
導電膜形成後の遮蔽物の洗い落としが簡単である、スク
リーン印刷が使用できる為生産性に優れる、スパイクが
ない、という優れた効果を有している。
フ用ペーストに、ガラス基板との反応性がなく、酸化消
耗速度の小さなメンフェーズカーボン小球体を用いてい
る為、透明導電膜上に微細かつ高精度なパターンが形成
できる、酸化錫、酸化亜鉛等膜の形成に高温を要する透
明導電膜に対してはその形成条件が制限されない、透明
導電膜形成後の遮蔽物の洗い落としが簡単である、スク
リーン印刷が使用できる為生産性に優れる、スパイクが
ない、という優れた効果を有している。
第1図は、本発明のペーストを用いた透明導電膜パター
ン形成の一例のフローチャートを簡単に示したものであ
り、1はパターン形成用ペースト、2は基板、3は透明
導電膜を示している。A−Dは製造の各段階を表わし、
Aはパターン形成用ペーストを印刷した状態、Bは溶剤
を乾燥した状態、Cは透明導電膜を形成させた状態、D
は水洗除膜後の状態を示している。 第2図はスパイク現象の説明のための一部断面図であり
、4は透明導電膜、5は従来のパターン形成用遮蔽物、
6は基板、7はスパイクを表わしている。
ン形成の一例のフローチャートを簡単に示したものであ
り、1はパターン形成用ペースト、2は基板、3は透明
導電膜を示している。A−Dは製造の各段階を表わし、
Aはパターン形成用ペーストを印刷した状態、Bは溶剤
を乾燥した状態、Cは透明導電膜を形成させた状態、D
は水洗除膜後の状態を示している。 第2図はスパイク現象の説明のための一部断面図であり
、4は透明導電膜、5は従来のパターン形成用遮蔽物、
6は基板、7はスパイクを表わしている。
Claims (5)
- 1.メソフェーズカーボン小球体を、粘結剤、溶剤と共
に混合分散させたことを特徴とする透明導電膜パターン
形成用ペースト。 - 2.透明導電膜を形成する基板がガラスであることを特
徴とする請求項1記載の透明導電膜パターン形成用ペー
スト。 - 3.粘結剤がエチルセルロースであることを特徴とする
請求項1又は2記載の透明導電膜パターン形成用ペース
ト。 - 4.溶剤がベンジルアルコールであることを特徴とする
請求項1〜3いずれか1項記載の透明導電膜パターン形
成用ペースト。 - 5.メソフェーズカーボン小球体を、粘結剤、溶剤と共
に混合分散させた透明導電膜パターン形成用ペーストを
ガラス基板上に所望のパターンをもって塗布し、次いで
該パターンを覆って透明導電膜を形成し、次いで上記の
ペーストを除去することによって透明導電膜パターンを
形成することを特徴とする透明導電膜パターン形成方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7553690A JPH03276509A (ja) | 1990-03-27 | 1990-03-27 | 透明導電膜パターン形成用ペースト及び透明導電膜パターン形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7553690A JPH03276509A (ja) | 1990-03-27 | 1990-03-27 | 透明導電膜パターン形成用ペースト及び透明導電膜パターン形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03276509A true JPH03276509A (ja) | 1991-12-06 |
Family
ID=13579034
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7553690A Pending JPH03276509A (ja) | 1990-03-27 | 1990-03-27 | 透明導電膜パターン形成用ペースト及び透明導電膜パターン形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03276509A (ja) |
-
1990
- 1990-03-27 JP JP7553690A patent/JPH03276509A/ja active Pending
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