JPH03270313A - Noise eliminating circuit - Google Patents

Noise eliminating circuit

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Publication number
JPH03270313A
JPH03270313A JP2069235A JP6923590A JPH03270313A JP H03270313 A JPH03270313 A JP H03270313A JP 2069235 A JP2069235 A JP 2069235A JP 6923590 A JP6923590 A JP 6923590A JP H03270313 A JPH03270313 A JP H03270313A
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JP
Japan
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signal
coincidence
circuit
input signal
delay
Prior art date
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Pending
Application number
JP2069235A
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Japanese (ja)
Inventor
Masakazu Kimura
木村 雅一
Koji Shishido
宍戸 浩司
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

PURPOSE:To eliminate a noise component included in an input signal and to prevent the malfunction of an internal circuit by providing a coincidence detection means and a holding means outputting a held input signal only when the result of detection of the coincidence detection means shows discordance and outputting a delay signal when the result of detection of the coincidence detection means shows the coincidence on this noise eliminating circuit. CONSTITUTION:The noise eliminating circuit is provided with a coincidence detection means and a holding means outputting a held input signal only when the result of detection of the coincidence detection means shows discordance and outputting a delay signal when the result of detection of the coincidence detecting means shows the coincidence. That is, when the result of detection of the coincidence detecting means shows discordance, the held input signal before delay is outputted and when the result of detection of the coincidence detecting means shows the coincidence, the delay signal is outputted. Thus, when since the result of detection shows discordance and the held input signal before the delay is outputted, only noise components are eliminated. Thus, the malfunction of the internal circuit at a post-stage is prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 〔目次〕 概要 産業上の利用分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段 作用 実施例 (1)第1の発明の一実施例の説明 (2)第1の発明の他の実施例の説明 (3)第2の発明の一実施例の説明 発明の効果 〔概要〕 各回路相互間の信号入力部に設けられ、入力信号に含ま
れる雑音を除去する雑音除去回路に関し、入力信号中に
含まれる雑音成分を除去することができる雑音除去回路
を提供することを目的し、入力信号の信号成分のパルス
幅に相当する時間より短く、且つ上記入力信号中の雑音
成分のパルス幅に相当する時間より長い遅延時間だけ上
記入力信号を遅延させて遅延信号を出力する信号遅延手
段と、上記入力信号の信号状態を遅延信号の信号状態と
比較し、各信号状態の一致・不一致を検出する一致検出
手段と、上記信号遅延手段の遅延時間に相当する間遅延
前の入力信号を保持し、上記一致検出手段の検出結果が
不一致の場合にのみ保持した入力信号を出力し、上記一
致検出手段の検出結果が一致の場合に上記遅延信号を出
力する保持手段とを備えるものである。
[Detailed description of the invention] [Table of contents] Overview Industrial field of application Conventional technology Problems to be solved by the invention Means for solving the problem Example (1) Description of an example of the first invention ( 2) Description of other embodiments of the first invention (3) Description of one embodiment of the second invention Effects of the invention [Summary] Noise contained in the input signal provided at the signal input section between each circuit The purpose of the present invention is to provide a noise removal circuit that can remove noise components included in an input signal, and to provide a noise removal circuit that is shorter than the pulse width of the signal component of the input signal, and signal delay means for outputting a delayed signal by delaying the input signal by a delay time longer than the pulse width of the noise component in the input signal; and comparing the signal state of the input signal with the signal state of the delayed signal. , a coincidence detection means for detecting coincidence or mismatch of each signal state, and holding the input signal before delay for a period corresponding to the delay time of the signal delay means, and holding it only when the detection result of the coincidence detection means does not match. and holding means for outputting the delayed signal when the detection result of the coincidence detection means is a coincidence.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、各回路相互間の信号入力部に設けられ、入力
信号に含まれる雑音を除去する雑音除去回路に関する。
The present invention relates to a noise removal circuit that is provided at a signal input section between circuits and removes noise contained in an input signal.

近年、マイクロコンピュータ、メモリ等のディジタル回
路においては、基準信号となる基準パルス信号に基づい
て各回路における同期タイミングをとることにより各々
が動作するように構成されている。
BACKGROUND ART In recent years, digital circuits such as microcomputers and memories are configured to operate by synchronizing timing in each circuit based on a reference pulse signal serving as a reference signal.

このような基準パルス信号にスパイクノイズが重畳され
て各種ディジタル回路に入力された場合には、スパイク
ノイズが基準信号として作用して誤動作を生じることと
なる。上記各種回路に入力される基準パルス信号に含ま
れるスパイクノイズを入力前に除去する必要があり、こ
のための雑音除去回路が必要となる。
If spike noise is superimposed on such a reference pulse signal and input to various digital circuits, the spike noise will act as a reference signal and cause malfunctions. It is necessary to remove spike noise contained in the reference pulse signal input to the various circuits described above before inputting it, and a noise removal circuit for this purpose is required.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この種の雑音除去回路が用いられるアドレス検出
回路(ATD回路: Add+ess Ttr++5i
jionDetcc+or)は第9図に示すものがあっ
た。同図においてATD回路は外部信号A  、A  
が入力さ1 れ、該入力された外部信号A  SA  を保持するロ
ー アドレスバッファ1.2と、該保持した外部信号A O
SA Iに基づきATD信号を発生するパルス発生回路
3とを備え、上記ATD信号を後段の内部回路10の出
力する構成である。
Conventionally, this type of noise removal circuit is used in an address detection circuit (ATD circuit: Add+ess Ttr++5i).
jionDetcc+or) was shown in FIG. In the same figure, the ATD circuit has external signals A, A
1 is input, and the row address buffer 1.2 holds the input external signal A SA and the held external signal A O
This configuration includes a pulse generation circuit 3 that generates an ATD signal based on SA I, and outputs the ATD signal to an internal circuit 10 at a subsequent stage.

上記構成に基づ〈従来のATD回路の動作を第10図に
基づいて説明する。この第10図に従来回路の動作タイ
ミングチャートを示し、同図(A)に正常な場合の入力
信号波形、同図(B)にスパイクノイズを含む場合の入
力信号波形を示す。
Based on the above configuration, the operation of the conventional ATD circuit will be explained with reference to FIG. FIG. 10 shows an operation timing chart of the conventional circuit. FIG. 10 (A) shows the input signal waveform in a normal case, and FIG. 10 (B) shows the input signal waveform in the case where spike noise is included.

上記第10図(A)に記載の入力信号が入力された場合
には、これに対応する信号がパルス発生回路3内でAT
D信号として生成され内部回路10に出力されることと
なる。
When the input signal shown in FIG.
It will be generated as a D signal and output to the internal circuit 10.

また、上記第10図(B)に記載の人力信号が入力され
た場合には、時間t  ””’t1o及びt12〜t2
Gにおける入力信号に対応する信号がパルス発生回路3
内でATD信号として生成され出力される。時間t11
において入力信号にスパイクノイズが含まれているため
に、このスパイクノイズを除去するために所定の閾値に
基づいて除去される。
In addition, when the human input signal shown in FIG.
A signal corresponding to the input signal at G is sent to the pulse generation circuit 3.
The signal is generated as an ATD signal and output. time t11
Since the input signal contains spike noise, the spike noise is removed based on a predetermined threshold.

ただ、この閾値レベルを越えるレベルのスパイクノイズ
である場合に、パルス発生回路3は信号として取扱い、
上記スパイクノイズに対応するATD信号を内部回路に
出力することとなる。
However, if the spike noise exceeds this threshold level, the pulse generation circuit 3 treats it as a signal,
An ATD signal corresponding to the spike noise is output to the internal circuit.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

従来のATD回路は以上のように構成されていたことか
ら、入力信号の信号成分に近いレベル(即ち、閾値レベ
ル以上の信号強度)の雑音成分が含まれている場合には
、正規の信号成分と同じ入力信号としてスパイクノイズ
を後段の内部回路へ出力することとなり、内部回路を誤
動作させるという課題を有していた。
Since the conventional ATD circuit is configured as described above, if a noise component is included at a level close to the signal component of the input signal (that is, signal strength equal to or higher than the threshold level), the normal signal component is detected. The problem is that spike noise is output to the subsequent internal circuit as the same input signal as the input signal, causing the internal circuit to malfunction.

本発明は上記課題を解決するためになされたもので、入
力信号中に含まれる雑音成分を除去することができる雑
音除去回路を提案することを目的とする。
The present invention was made to solve the above problems, and an object of the present invention is to propose a noise removal circuit that can remove noise components contained in an input signal.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

第1図は第1の本発明の原理説明図を示す。 FIG. 1 shows a diagram explaining the principle of the first invention.

同図において第1の本発明に係る雑音除去回路は、入力
信号の信号成分のパルス幅に相当する時間より短く、且
つ上記入力信号中の雑音成分のパルス幅に相当する時間
より長い遅延時間だけ上記入力信号を遅延させて遅延信
号を出力する信号遅延手段と、上記入力信号の信号状態
を遅延信号の信号状態と比較し、各信号状態の一致・不
一致を検出する一致検出手段と、上記信号遅延手段の遅
延時間に相当する間遅延前の入力信号を保持し、上記一
致検出手段の検出結果が不一致の場合にのみ保持した入
力信号を出力し、上記一致検出手段の検出結果が一致の
場合に上記遅延信号を出力する保持手段とを備えるもの
である。
In the figure, the noise removal circuit according to the first aspect of the present invention has a delay time that is shorter than the time corresponding to the pulse width of the signal component of the input signal and longer than the time corresponding to the pulse width of the noise component in the input signal. signal delay means for delaying the input signal and outputting a delayed signal; coincidence detection means for comparing the signal state of the input signal with the signal state of the delayed signal and detecting whether each signal state matches or mismatches; The input signal before the delay is held for a period corresponding to the delay time of the delay means, and the held input signal is output only when the detection result of the coincidence detection means is a mismatch, and when the detection result of the coincidence detection means is a match, the input signal is outputted. and a holding means for outputting the delayed signal.

また、第2図は第2の発明の原理図を示す。Moreover, FIG. 2 shows a principle diagram of the second invention.

同図において第2の発明に係る雑音除去回路は、入力信
号の信号成分における立上がり・立下がりの信号端部を
検出する信号端部検出手段と、上記入力信号の信号成分
のパルス幅に相当する間より短く、且つ上記入力信号中
の雑音成分のパルス幅に相当する時間より長い遅延時間
だけ信号を遅延させて遅延信号を出力する信号遅延手段
と、上記入力信号の立上がり前における信号遅延手段の
遅延時間に相当する間、及び入力信号の立下がり後にお
ける信号遅延手段の遅延時間に相当する間の入力信号を
無効として上記信号遅延手段に出力する端部隣接部無効
手段と、上記端部隣接部が無効とされた入力信号を上記
信号遅延手段から出力される遅延信号と比較し、一致・
不一致を検出する一致検出手段と、上記信号遅延手段の
遅延時間に相当する間遅延前の端部隣接部が無効とされ
た入力信号を保持し、該保持した遅延前の入力信号を一
致検出手段の検出結果が不一致の場合に出力し、上記遅
延信号を一致検出手段の検出結果が一致の場合に出力す
る保持手段とを備えるものである。
In the figure, the noise removal circuit according to the second aspect of the invention includes a signal edge detection means for detecting rising and falling signal edges of the signal components of the input signal, and a signal edge detection means for detecting the rising and falling signal edges of the signal components of the input signal, and a signal delay means for outputting a delayed signal by delaying the signal by a delay time shorter than the pulse width of the noise component in the input signal and longer than the time corresponding to the pulse width of the noise component in the input signal; and a signal delay means for delaying the signal before the rise of the input signal. an end adjacent portion invalidating means for invalidating and outputting the input signal to the signal delaying means during a period corresponding to the delay time and a period corresponding to the delay time of the signal delaying means after the fall of the input signal; compares the invalidated input signal with the delayed signal output from the signal delaying means and determines whether they match or not.
a coincidence detecting means for detecting a mismatch, and a coincidence detecting means for holding the input signal whose end adjacent portion before the delay is invalidated for a period corresponding to the delay time of the signal delaying means, and detecting the held input signal before the delay. and a holding means for outputting the delayed signal when the detection result of the coincidence detection means is a coincidence, and a holding means for outputting the delayed signal when the detection result of the coincidence detection means is a coincidence.

と入力信号との一致を検出し、該検出結果に基づいて遅
延前の入力信号を遅延時間の間保持する。
and the input signal, and based on the detection result, the input signal before delay is held for the delay time.

上記検出結果が不一致の場合には保持された遅延前の入
力信号を出力すると共に、一致の場合には遅延信号を出
力する。従って、入力信号に雑音が含まれている場合に
は、検出結果が不一致となり保持された遅延前の入力信
号が出力されることから、雑音成分のみが除去されるこ
ととなり、後段側の内部回路の誤動作を防止する。
If the detection results do not match, the held input signal before delay is output, and if they match, the delayed signal is output. Therefore, if the input signal contains noise, the detection results do not match and the retained input signal before the delay is output, so only the noise component is removed, and the internal circuit of the subsequent stage prevent malfunction.

第2の発明においては、入力信号の立上がり・立下がり
端部を検出してこの各端部から信号遅延手段の遅延時間
に相当する開穴力信号を無効とし、端部隣接部が無効と
された入力信号を上記第1の発明と同様に雑音を除去す
ることにより、入力信号中における“L” レベルの立
下がり部分の総ての領域に含まれる雑音を除去できる。
In the second invention, the rising and falling edges of the input signal are detected, and the punching force signal corresponding to the delay time of the signal delaying means is invalidated from each edge, and the portion adjacent to the edge is invalidated. By removing noise from the input signal in the same manner as in the first invention, it is possible to remove noise contained in all areas of the falling portion of the "L" level in the input signal.

〔作用〕[Effect]

第1の発明においては、入力信号を信号遅延手段にて所
定の遅延時間だけ遅延させ、該遅延信号〔実施例〕 (1)第1の発明の一実施例の説明 以下、第1の本発明の一実施例を第3図、第4図に基づ
いて説明する。この第3図に本実施例回路が接続された
ATD回路の全体概略構成図、第4図に本実施例ロジッ
ク回路図を示す。
In the first invention, the input signal is delayed by a predetermined delay time by the signal delay means, and the delayed signal [Embodiment] (1) Description of an embodiment of the first invention The first invention An example of this will be explained based on FIGS. 3 and 4. FIG. 3 shows a schematic overall configuration of an ATD circuit to which the circuit of this embodiment is connected, and FIG. 4 shows a logic circuit diagram of this embodiment.

上記各図において本実施例に係る雑音除去回路は、前記
ATD回路のパルス発生回路3のから出力されるATD
信号S1を遅延時間tだけ遅延させる遅延回路4と、上
記ATD信号S1を遅延回路4の遅延ATD信号S2と
比較して一致を検出する一致回路7と、上記遅延回路4
の遅延ATD信号S2を調整して一致回路7の検出信号
S5との同期をとるタイミング調節回路8と、該タイミ
ング調整回路8から出力される調整ATD信号S3を一
致回路7の一致・不一致検出信号S SS に基づいて
保持し、保持した調整5 ATD信号S3を出力するラッチ回路9とを備える構成
である。
In each of the above figures, the noise removal circuit according to this embodiment is based on the ATD output from the pulse generation circuit 3 of the ATD circuit.
a delay circuit 4 that delays the signal S1 by a delay time t; a coincidence circuit 7 that compares the ATD signal S1 with the delayed ATD signal S2 of the delay circuit 4 to detect a match; and the delay circuit 4.
A timing adjustment circuit 8 adjusts the delayed ATD signal S2 to synchronize it with the detection signal S5 of the coincidence circuit 7, and adjusts the adjusted ATD signal S3 output from the timing adjustment circuit 8 to the coincidence/mismatch detection signal of the coincidence circuit 7. This configuration includes a latch circuit 9 that holds the adjusted 5 ATD signal S3 based on S SS and outputs the held adjustment 5 ATD signal S3.

上記本実施例回路の各構成要素を第4図に基づいてさら
に詳細に説明する。
Each component of the circuit of this embodiment will be explained in more detail with reference to FIG.

同図において上記遅延回路4は、偶数個のN07回路を
直列接続して形成され、各N07回路による遅延の総和
を遅延時間tとする構成である。
In the figure, the delay circuit 4 is formed by connecting an even number of N07 circuits in series, and has a configuration in which the sum of delays caused by each N07 circuit is the delay time t.

上記−数回路7は、ATD信号S1及び遅延ATD信号
S2の排他的否定論理和を求めるEX−NOR回路71
と、該EX−NOR回路71の出力を反転させるNOT
回路72を備え、上記EX−NOR回路71及びNOT
回路72から−致・不一致の検出信号S 1S を出力
する構成5 である。
The minus number circuit 7 is an EX-NOR circuit 71 that calculates the exclusive NOR of the ATD signal S1 and the delayed ATD signal S2.
and NOT which inverts the output of the EX-NOR circuit 71.
A circuit 72 is provided, and the EX-NOR circuit 71 and NOT
This is a configuration 5 in which a match/mismatch detection signal S 1S is output from the circuit 72.

上記タイミング調整回路8は、N07回路にて形成され
、上記−数回路7のNOT回路72による信号遅れ時間
に相当する時間(以下、調整時間1、)を調整して同期
をとる構成である。
The timing adjustment circuit 8 is formed of an N07 circuit and is configured to synchronize by adjusting a time (hereinafter referred to as adjustment time 1) corresponding to the signal delay time by the NOT circuit 72 of the minus number circuit 7.

上記ラッチ回路9は、−数回路7から出力される一致検
出信号S5に基づきタイミング調整回路8の調整ATD
信号S3の入出力を制御するNMOS 91と、上記不
一致検出信号S4に基づきNMOS 91のドレイン側
に保持される調整ATD信号S3の入出力を制御するN
MOS 92とを備える構成である。
The latch circuit 9 adjusts the timing adjustment circuit 8 based on the coincidence detection signal S5 output from the minus number circuit 7.
NMOS 91 that controls the input/output of the signal S3, and NMOS 91 that controls the input/output of the adjusted ATD signal S3 held on the drain side of the NMOS 91 based on the mismatch detection signal S4.
The configuration includes a MOS 92.

次に、上記構成に基づき本実施例の動作を第5図を参照
して説明する。この第5図に本実施例回路の動作タイミ
ングチャートを示す。同図において、パルス発生回路か
らATD信号S1が遅延回路4及び−数回路7に各々入
力される。上記遅延回路4においてATD信号S1を遅
延時間1(1=1  =・・・t17)だけ遅延させて
遅延ATD信号S2として一致回路7に出力する。
Next, the operation of this embodiment based on the above configuration will be explained with reference to FIG. FIG. 5 shows an operation timing chart of the circuit of this embodiment. In the figure, an ATD signal S1 is inputted from a pulse generation circuit to a delay circuit 4 and a minus number circuit 7, respectively. The delay circuit 4 delays the ATD signal S1 by delay time 1 (1=1=...t17) and outputs the delayed ATD signal S2 to the matching circuit 7.

上記−数回路7においてATD信号S1と遅延ATD信
号S2とを比較して排他的否定論理和条件を求め、不一
致の場合に不一致検出信号S4を出力すると共に、一致
の場合に一致検出信号S5を出力する。この−数回路7
は、時間t  ””t3、t8、t の区間においてA
TD信号S1と遅延6 ATD信号S2とが共に“L”レベルで一致していると
判断し、一致検出信号S5を“H”として出力し、不一
致検出信号S4を“L”として出力する。また、時間1
  Sl  S11  の区間5613ゝ 14 においては、ATD信号Slと遅延ATD信号S2が共
に“H”レベルで一致し、上記の場合と同様に一致検出
信号S5を“H”とし、不一致検出信号S4を“L”と
して出力する。さらに、4712、t15の区間におい
ては、 時間1.1.1 ATD信号S 1遅延ATD信号S2との信号しベルが
異なることから、一致検出信号S5を“L”とし、不一
致検出信号S4を“H”として出力する。
The ATD signal S1 and the delayed ATD signal S2 are compared in the above-mentioned number circuit 7 to obtain an exclusive NOR condition, and when they do not match, a mismatch detection signal S4 is output, and when they match, a match detection signal S5 is output. Output. This - number circuit 7
is A in the interval of time t3, t8, t.
It is determined that the TD signal S1 and the delayed 6 ATD signal S2 are both at "L" level and match, and the coincidence detection signal S5 is outputted as "H", and the mismatch detection signal S4 is outputted as "L". Also, time 1
In the section 5613ゝ14 of Sl S11, both the ATD signal Sl and the delayed ATD signal S2 match at the "H" level, and as in the above case, the coincidence detection signal S5 is set to "H" and the mismatch detection signal S4 is set to "H". Output as "L". Furthermore, in the interval between 4712 and t15, since the signal level of the time 1.1.1 ATD signal S is different from that of the 1-delayed ATD signal S2, the coincidence detection signal S5 is set to "L", and the mismatch detection signal S4 is set to "L". Output as "H".

上記各不一致、一致の検出信号S SS 及び5 調整ATD信号S3がラッチ回路9に入力される。Each of the above mismatch and match detection signals S SS and 5 Adjustment ATD signal S3 is input to latch circuit 9.

このラッチ回路9は、時間t −t3の区間において、
“L″レベル不一致検出信号S4によりNMOS 92
がOFF状態となると共に、“H”レベルの一致検出信
号S5によりNMOS 91がON状態となり、“L”
レベルの調整ATD信号S3を“L”レベルの出力信号
として出力する。
This latch circuit 9, in the interval of time t-t3,
NMOS 92 by “L” level mismatch detection signal S4
turns off, and NMOS 91 turns on due to the "H" level match detection signal S5, and goes "L".
The level adjustment ATD signal S3 is output as an "L" level output signal.

この状態でNOT回路93の出力は“H″レベル、この
信号をPMO394のゲート端子に出力することから、
該PMOS 94がOFF状態となり、接続点Pには上
記調整ATD信号S3の信号レベルである′L″レベル
が保持されることとなる。
In this state, the output of the NOT circuit 93 is at the "H" level, and this signal is output to the gate terminal of the PMO 394.
The PMOS 94 is turned off, and the connection point P is held at the 'L' level, which is the signal level of the adjusted ATD signal S3.

また、時間1.1.1 5613、t14の区間にお いて、上記と同様にNMOS 91がON状態となり、
NMOS 92がOFF状態となり、“H”レベルの調
整ATD信号S3を“H”レベルの出力信号として出力
する。この状態で接続点Pには“H”レベルの信号が保
持されることとなる。
Also, in the section of time 1.1.1 5613, t14, NMOS 91 is in the ON state in the same way as above,
The NMOS 92 is turned off and outputs the "H" level adjusted ATD signal S3 as an "H" level output signal. In this state, an "H" level signal is held at the connection point P.

さらに、上記時間1.1.1 3  6  11゛t14から 各々遅延時間tだけ経過した時間1,17、t12、t
15の区間に移行した場合において、“L”レベルの一
致信号S5によりNMOS 91がOFF状態となり、
“H”レベルの不一致信号S4によりNMOS 92が
ON状態となり、遅延時間tの前の上記接続点Pに保持
された信号レベル信号が出力されることとなる。即ち、
時間t4から時間t5へ及び時間t11から時間t12
へ移行した場合には、接続点Pに保持されている“L”
レベルの信号が出力信号S6として出力される。
Furthermore, times 1, 17, t12, t, each of which has elapsed by delay time t from the above time 1.1.1 3 6 11゛t14,
15, the NMOS 91 is turned off by the “L” level match signal S5,
The NMOS 92 is turned on by the "H" level mismatch signal S4, and the signal level signal held at the connection point P before the delay time t is output. That is,
From time t4 to time t5 and from time t11 to time t12
, the “L” held at the connection point P
A level signal is output as an output signal S6.

また、時間t6から時間t7へ及び時間t14から時間
t15へ移行した場合には、接続点Pに保持されている
“H”レベルの信号が出力信号S6として出力される。
Further, when the transition is from time t6 to time t7 and from time t14 to time t15, the "H" level signal held at the connection point P is output as the output signal S6.

次に、第5図に示すように時間t9においてATD信号
信号中にスパイクノイズN1が含まれている場合には、
このスパイクノイズN1を以下の通り除去する。このス
パイクノイズN1は遅延ATD信号S においても時間
t10にスパイクノイズN2として表われ、各スパイク
ノイズを含むATD信号信号中遅延ATD信号S2とが
一致回路7で比較され一致・不一致が検出される。
Next, as shown in FIG. 5, if the ATD signal includes spike noise N1 at time t9,
This spike noise N1 is removed as follows. This spike noise N1 also appears in the delayed ATD signal S as a spike noise N2 at time t10, and the matched circuit 7 compares the ATD signal including each spike noise with the delayed ATD signal S2 to detect coincidence or mismatch.

この一致回路7は、時間1.1  において“Hl10 レベルのスパイクノイズN  SN  が含まれる不1
42 一致検出信号S4を出力すると共に、時間t10’t 
において″L@レベルのスパイクノイズN51、1 N5□が含まれる一致検出信号S5を出力する。
This matching circuit 7 detects that at time 1.1, there is no signal that contains spike noise N SN of the level Hl10.
42 Outputs the coincidence detection signal S4 and at the same time at time t10't
At this point, a coincidence detection signal S5 containing spike noise N51, 1 N5□ of "L@ level" is output.

上記時間t9においては、不一致検出信号S14中にス
パイクノイズN41が“H”レベルとして存在し、一致
検出信号S5が“H”レベルを維持していることから、
各NMO891,92が共にON状態となるが、調整A
TD信号S3がL”レベルであることから“L”レベル
の出力信号S6が出力される。
At the time t9, the spike noise N41 exists at the "H" level in the mismatch detection signal S14, and the match detection signal S5 maintains the "H" level.
Both NMOs 891 and 92 are in the ON state, but adjustment A
Since the TD signal S3 is at the "L" level, the output signal S6 at the "L" level is output.

また、上記時間t1oにおける一致検出信号S5中に含
まれる“L”レベルのスパイクノイズN51が入力され
る時点では不一致検出信号S4が“L”レベルを維持し
ていることから、各NMO391゜92が共にOFF状
態となり“L”レベルの出力信号S が出力される。上
記時間tloにおける不一致検出信号S4中に含まれる
“H”レベルのスパイクノイズN42が入力される時点
では一致検出信号S5が“H”レベルを維持しているこ
とから、各NMOS 91.92が共にON状態となる
が、調整ATD信号S3が“L” レベルであることか
ら“L”レベルの出力信号が出力される。
Furthermore, since the mismatch detection signal S4 maintains the "L" level at the time when the "L" level spike noise N51 included in the coincidence detection signal S5 at the time t1o is input, each NMO 391°92 Both are in the OFF state, and an "L" level output signal S is output. Since the coincidence detection signal S5 maintains the "H" level at the time when the "H" level spike noise N42 included in the mismatch detection signal S4 at the time tlo is input, each NMOS 91.92 is Although it is in the ON state, since the adjusted ATD signal S3 is at the "L" level, an output signal at the "L" level is output.

次に、時間t における一致検出信号S5中に1 含まれる°L”レベルのスパイクノイズN52が入力さ
れる時点では、不一致検出信号S4が“L”レベルを維
持していることから、各NMOS 91゜92が共にO
FF状態となり、調整ATD信号S3に含まれる″H″
レベルのスパイクノイズN は出力されない。従って、
出力信号S6は“L”レベルとして出力され、この時点
で調整ATD信号S に含まれるスパイクノイズN3が
除去されることとなる。
Next, since the mismatch detection signal S4 maintains the "L" level at the time when the spike noise N52 of the °L" level included in the coincidence detection signal S5 at time t is input, each NMOS 91゜92 are both O
It becomes FF state and "H" included in the adjusted ATD signal S3
Level spike noise N is not output. Therefore,
The output signal S6 is output as an "L" level, and at this point, the spike noise N3 included in the adjusted ATD signal S is removed.

(2)第1の発明の他の実施例の説明 第6図は第4図記載の実施例回路を0MO3で回路構成
した場合の構成図を示す。同図においても、本実施例回
路は上記第4図記載の場合と同様に動作し、調整ATD
信号に含まれるスパイクノイズN3を除去する。
(2) Description of another embodiment of the first invention FIG. 6 shows a configuration diagram when the embodiment circuit shown in FIG. 4 is configured as a 0MO3 circuit. In the same figure, the circuit of this embodiment operates in the same manner as in the case described in FIG. 4, and the adjustment ATD
Remove spike noise N3 included in the signal.

なお、上記各実施例においては遅延回路4をEX−NO
R回路71とNOT回路72とを備える構成としたが、
AND回路とこの回路の出力を反転させるN07回路と
を備える構成とすることもできる。この場合において、
AND回路の出力が一致検出信号S5となり、N07回
路の出力が不一致検出信号S4となり、各々がラッチ回
路に出力される。
Note that in each of the above embodiments, the delay circuit 4 is
Although the configuration includes an R circuit 71 and a NOT circuit 72,
It is also possible to adopt a configuration including an AND circuit and an N07 circuit that inverts the output of this circuit. In this case,
The output of the AND circuit becomes the coincidence detection signal S5, and the output of the N07 circuit becomes the mismatch detection signal S4, each of which is output to the latch circuit.

また、上記各実施例においてはタイミング調整回路8を
備える構成としたが、ラッチ回路において各信号の同期
がとられた状態であればタイミング調整回路を設けるこ
となく構成することもできる。
Further, in each of the above embodiments, the timing adjustment circuit 8 is provided, but the timing adjustment circuit may be omitted as long as each signal is synchronized in the latch circuit.

また、上記各実施例においてはATD回路に適用される
場合について説明したが、他の入力部、センスアンプ等
に適用することもできる。
Further, although the above embodiments have been described with reference to the case where the present invention is applied to an ATD circuit, the present invention can also be applied to other input sections, sense amplifiers, etc.

(3)第2の発明の一実施例の説明 以下、第2の発明の一実施例を第7図に基づいて説明す
る。
(3) Description of one embodiment of the second invention Hereinafter, one embodiment of the second invention will be described based on FIG. 7.

この第7図に本実施例回路が接続されたATD回路の全
体概略構成図を示す。
FIG. 7 shows an overall schematic configuration diagram of an ATD circuit to which the circuit of this embodiment is connected.

同図において本実施例に係る雑音除去回路は、第3図記
載の前記第1の発明の一実施例と同様にATD回路のパ
ルス発生回路3から出力されるATD信号S1が入力さ
れ、遅延回路4、−数回路7、タイミング調整回路8及
びラッチ回路9を備え、上記構成に加え、上記遅延回路
4の入力側に接続される信号端部検出回路5及び端部隣
接部無効回路6を備える構成である。
In the figure, the noise removal circuit according to the present embodiment receives the ATD signal S1 outputted from the pulse generation circuit 3 of the ATD circuit as in the embodiment of the first invention described in FIG. 4. It includes a number circuit 7, a timing adjustment circuit 8, and a latch circuit 9, and in addition to the above configuration, it also includes a signal edge detection circuit 5 and an edge adjacent invalidation circuit 6 connected to the input side of the delay circuit 4. It is the composition.

上記信号端部検出回路5は、パルス発生回路3のATD
信号信号S台ける立上がり端部及び立下がり端部を検出
し、端部検出信号511ASS1.8を出力する構成で
ある。
The signal edge detection circuit 5 is an ATD of the pulse generation circuit 3.
The configuration is such that the rising edge and falling edge of the signal S are detected and an edge detection signal 511ASS1.8 is output.

上記端部隣接部無効回路6は、端部検出信号$11AS
S11Bが入力され、ATD信号S1の立上がり前にお
ける上記遅延回路4の遅延時間tに相当する間(第8図
のハツチング部分)及びATD信号S1の立下がり後に
おける上記遅延時間tに相当する間(第8図のハツチン
グ部分)における各ATD信号S1を上記入力された端
部検出信号S11い、5118に基づき無効とし、上記
ATD信号Slの人力後の時間tIl後にATD信号S
13を遅延回路4及び−数回路7に出力する構成である
。上記ATD信号Slの入力からATD信号S13の出
力までの時間tnは端部隣接部無効回路6の演算動作に
要する時間である。
The edge adjacent portion invalidating circuit 6 receives the edge detection signal $11AS.
S11B is input, a period corresponding to the delay time t of the delay circuit 4 before the rise of the ATD signal S1 (hatched portion in FIG. 8), and a period corresponding to the delay time t after the fall of the ATD signal S1 ( Each ATD signal S1 in the hatched part in FIG.
13 is output to the delay circuit 4 and the minus number circuit 7. The time tn from the input of the ATD signal Sl to the output of the ATD signal S13 is the time required for the arithmetic operation of the end adjacent portion invalidation circuit 6.

次に、上記構成に基づく本実施例の動作を第8図を参照
して説明する。この第8図に本実施例回路の動作タイミ
ングチャートを示す。
Next, the operation of this embodiment based on the above configuration will be explained with reference to FIG. FIG. 8 shows an operation timing chart of the circuit of this embodiment.

同図において、正規の信号成分のみを有するATD信号
S1が入力された場合及びATD信号信号S部端部遅延
時間を以外の個所にスパイクノイズN、を有するATD
信号が入力された場合には前記第1の発明の一実施例と
同様に動作し、スパイクノイズN1が除去される。
In the same figure, when an ATD signal S1 having only normal signal components is input, and when an ATD signal S1 having spike noise N at a portion other than the end delay time of the ATD signal signal S portion is input,
When a signal is input, the device operates in the same manner as the embodiment of the first invention, and the spike noise N1 is removed.

さらに、ATD信号S1の信号成分における信号端部か
ら遅延時間を内にスパイクノイズNll、N12が存在
するATD信号S1が入力される場合には、ATD信号
S1の正規の信号成分における立上がり部分を表わす端
部検出信号S  及び立1A 下がり部分を表わす端部検出信号S  が信号端1B 部検出回路5で検出される。この信号端部検出回路5は
信号立上り継続の時間を予め設定された時間と比較し、
この比較結果に基づいて正規の信号成分の信号端部かス
パイクノイズの信号端部かの識別を行なう。
Furthermore, when the ATD signal S1 in which spike noises N11 and N12 are present within a delay time from the signal end of the signal component of the ATD signal S1 is input, it represents the rising part of the normal signal component of the ATD signal S1. The edge detection signal S 1 and the edge detection signal S 2 representing the falling portion of the rising edge 1A are detected by the signal edge detection circuit 5 . This signal edge detection circuit 5 compares the duration of the signal rising with a preset time,
Based on this comparison result, it is determined whether the signal end is a normal signal component or a spike noise signal end.

この正規の信号成分の信号端部を表わす端部検出信号”
11い、5118が端部隣接部無効回路6に入力され、
端部検出信号S  を基準として立上IA がり前の遅延時間、に相当する間(第8図のハツチング
部分)のATD信号S1を無効とする。この時点でAT
D信号信号S台まれるスパイクノイズN  、N  が
除去されることとなる。
"edge detection signal representing the signal edge of this regular signal component"
11, 5118 is input to the end adjacent portion invalidating circuit 6,
The ATD signal S1 is invalidated during a period corresponding to the delay time before the rising edge of the edge detection signal S (hatched portion in FIG. 8) with reference to the edge detection signal S. AT at this point
The spike noises N and N included in the D signal S are removed.

II   12 なお、上記実施例においてはATD回路内に接続する構
成としたが、他の入力部、センスアンプ等のディジタル
回路又は同期信号を必要とするアナログ回路に接続する
構成とすることもできる。
II 12 In the above embodiment, the configuration is such that it is connected within the ATD circuit, but it may also be configured to be connected to another input section, a digital circuit such as a sense amplifier, or an analog circuit that requires a synchronizing signal.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、第1の発明においては、入力信号
を信号遅延手段にて所定の遅延時間だけ遅延させ、該遅
延信号と入力信号との一致を検出し、該検出結果が不一
致の場合には保持された遅延前の入力信号を出力すると
共に、一致の場合には遅延信号を出力する構成を採った
ことから、雑音成分のみが除去されることとなり、後段
側の内部回路の誤動作を防止する効果を有する。
As explained above, in the first invention, the input signal is delayed by a predetermined delay time by the signal delay means, the coincidence of the delayed signal and the input signal is detected, and when the detection result is a mismatch, outputs the input signal held before the delay, and also outputs the delayed signal if there is a match, so only the noise component is removed, preventing malfunction of the internal circuit in the subsequent stage. It has the effect of

第2の発明においては、入力信号の立上がり・立下がり
の端部を検出してこの各端部部から信号遅延手段の遅延
時間に相当する量大力信号を無効とし、端部隣接部が無
効とされた入力信号を上記第1の発明と同様に雑音を除
去することにより、入力信号中における“L”レベルの
立下がり部分の総ての領域に含まれる雑音を除去できる
という効果を有する。
In the second invention, the rising and falling edges of the input signal are detected, and a high-power signal corresponding to the delay time of the signal delaying means is invalidated from each edge, and the portion adjacent to the edge is invalidated. By removing noise from the input signal in the same way as in the first invention, it is possible to remove noise contained in all regions of the falling portion of the "L" level in the input signal.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は第1の発明の原理説明図、 第2図は第2の発明の原理説明図、 第3図は第1の発明の一実施例回路を接続したATD回
路の全体概略構成図、 第4図は第1の発明の一実施例ロシック構成図、第5図
は第4図記載実施例回路の動作タイミングチャート、 第6図は第4図記載実施例回路のMO3回路構成図、 第7図は第2の発明の一実施例回路を接続したATD回
路の全体概略構成図、 第8図は第7図記載実施例回路の動作タイミングチャー
ト、 第9図は従来ATD回路の全体概略構成図、第10図は
第9図記載回路の動作タイミングチャートを示す。 1.2・・・アドレスバッファ 3・・・パルス発生回路 4・・・遅延回路 5・・・信号端部検出回路 6・・・端部隣接部無効回路 7・・・−数回路 8・・・タイミング調整回路 9・・・ラッチ回路 10・・・内部回路
FIG. 1 is an explanatory diagram of the principle of the first invention, FIG. 2 is an explanatory diagram of the principle of the second invention, and FIG. 3 is an overall schematic configuration diagram of an ATD circuit to which an embodiment of the circuit of the first invention is connected. 4 is a block diagram of an embodiment of the first invention, FIG. 5 is an operation timing chart of the embodiment circuit shown in FIG. 4, FIG. 6 is a MO3 circuit block diagram of the embodiment circuit shown in FIG. 4, FIG. 7 is an overall schematic configuration diagram of an ATD circuit to which an embodiment circuit of the second invention is connected. FIG. 8 is an operation timing chart of the embodiment circuit shown in FIG. 7. FIG. 9 is an overall schematic configuration diagram of a conventional ATD circuit. 10 shows an operation timing chart of the circuit shown in FIG. 9. 1.2...Address buffer 3...Pulse generation circuit 4...Delay circuit 5...Signal end detection circuit 6...End adjacent portion invalidating circuit 7...-Number circuit 8...・Timing adjustment circuit 9...Latch circuit 10...Internal circuit

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、入力信号の信号成分のパルス幅に相当する時間より
短く、且つ上記入力信号中の雑音成分のパルス幅に相当
する時間より長い遅延時間だけ上記入力信号を遅延させ
て遅延信号を出力する信号遅延手段と、 上記入力信号の信号状態を遅延信号の信号状態と比較し
、各信号状態の一致・不一致を検出する一致検出手段と
、 上記信号遅延手段の遅延時間に相当する間遅延前の入力
信号を保持し、上記一致検出手段の検出結果が不一致の
場合にのみ保持した入力信号を出力し、上記一致検出手
段の検出結果が一致の場合に上記遅延信号を出力する保
持手段とを備えることを 特徴とする雑音除去回路。 2、入力信号の信号成分における立上がり・立下がりの
信号端部を検出する信号端部検出手段と、 上記入力信号の信号成分のパルス幅に相当する間より短
く、且つ上記入力信号中の雑音成分のパルス幅に相当す
る時間より長い遅延時間だけ信号を遅延させて遅延信号
を出力する信号遅延手段と、上記入力信号の立上がり前
における信号遅延手段の遅延時間に相当する間、及び入
力信号の立下がり後における信号遅延手段の遅延時間に
相当する間の入力信号を無効として上記信号遅延手段に
出力する端部隣接部無効手段と、 上記端部隣接部が無効とされた入力信号を上記信号遅延
手段から出力される遅延信号と比較し、一致・不一致を
検出する一致検出手段と、 上記信号遅延手段の遅延時間に相当する間遅延前の端部
隣接部が無効とされた入力信号を保持し、上記一致検出
手段の検出結果が不一致の場合にのみ上記保持した遅延
前の入力信号を出力し、上記一致検出手段の検出結果が
一致の場合に上記遅延信号を出力する保持手段とを備え
ることを 特徴とする雑音除去回路。
[Claims] 1. The input signal is delayed by a delay time shorter than the time equivalent to the pulse width of the signal component of the input signal and longer than the time equivalent to the pulse width of the noise component in the input signal. a signal delay means for outputting a delayed signal; a coincidence detection means for comparing the signal state of the input signal with the signal state of the delayed signal and detecting coincidence or mismatch of each signal state; and a signal delay means corresponding to the delay time of the signal delay means. The input signal before the delay is held while the input signal is delayed, the held input signal is output only when the detection result of the coincidence detection means is a mismatch, and the delayed signal is outputted when the detection result of the coincidence detection means is a coincidence. A noise removal circuit comprising: a holding means. 2. Signal edge detection means for detecting rising and falling signal edges in the signal component of the input signal; and a signal edge detection means that is shorter than the pulse width of the signal component of the input signal and that is a noise component in the input signal. signal delay means for outputting a delayed signal by delaying the signal by a delay time longer than the time corresponding to the pulse width of the input signal; edge-adjacent section invalidating means for invalidating the input signal for a period corresponding to the delay time of the signal delaying means after the signal has fallen and outputting it to the signal delaying means; a coincidence detection means for comparing the delayed signal outputted from the means and detecting coincidence or mismatch; and a coincidence detecting means for detecting coincidence or mismatch by comparing with the delayed signal output from the means, and holding the input signal whose end adjacent portion before delay is invalidated for a period corresponding to the delay time of the signal delaying means. and holding means for outputting the held undelayed input signal only when the detection result of the coincidence detection means is a mismatch, and outputting the delayed signal when the detection result of the coincidence detection means is a coincidence. A noise removal circuit featuring:
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013197976A (en) * 2012-03-21 2013-09-30 Lapis Semiconductor Co Ltd Noise rejection circuit, semiconductor integrated device, and noise rejection method

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5425148A (en) * 1977-07-28 1979-02-24 Iwatsu Electric Co Ltd Pulse filter circuit

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