JPH03233817A - Inspection apparatus for mechanical switch - Google Patents

Inspection apparatus for mechanical switch

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Publication number
JPH03233817A
JPH03233817A JP2662890A JP2662890A JPH03233817A JP H03233817 A JPH03233817 A JP H03233817A JP 2662890 A JP2662890 A JP 2662890A JP 2662890 A JP2662890 A JP 2662890A JP H03233817 A JPH03233817 A JP H03233817A
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JP
Japan
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switch
inspection
signal
mechanical switch
counting
Prior art date
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Application number
JP2662890A
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Japanese (ja)
Inventor
Fumio Sanpei
三瓶 文雄
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPH03233817A publication Critical patent/JPH03233817A/en
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01HELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
    • H01H1/00Contacts
    • H01H1/0015Means for testing or for inspecting contacts, e.g. wear indicator

Abstract

PURPOSE:To improve inspection precision by counting electric signals after rectification and determining the quality from the result of the counting. CONSTITUTION:Outputs of signal rectifying means 22 during one inspection cycle are counted by a counting means 23, and the quality of a mechanical switch is determined by a determining means 25 based on the standard value of a standard value setting means 24 and the counted result. When the mechanical switch is made a dome switch SW and the standard value is set to be 1, the counted result becomes 1 if ON-state takes place only one during one inspection cycle, the counted result and standard value agree with each other and thus normality of the dome switch SW is determined. But when on times of the dome switch SW becomes 0 or over 1, the calculated result and the standard value do not agree with each other and the abnormality of the dome switch SW is determined. As a result, switches which carry out improper of/off operation are made also unsatisfactory in inspection. In this way, inspection precision can be improved.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 メカニカル接点方式のスイッチに適用して好適な検査装
置に関し、 整形後の電気信号を計数してその計数結果から良否を判
定することにより検査精度を向上することを目的とし、 所定の検査周期の間、検査対象たるメカニカルスイッチ
に対してキー操作圧力を漸増付与した後、該付与圧力を
漸減するとともに、前記検査周期の間におけるメカニカ
ルスイッチからのオン/オフ電気信号を整形し、整形後
の電気信号に基づいて、当該スイッチの良否を検査する
メカニカルスイッチの検査装置において、前記整形後の
電気信号を一検査周期の間計数する計数手段と、所定の
基準値を設定する基準値設定手段と、計数手段の計数結
果と基準値設定手段の基準値とを比較して前記スイッチ
の良否を判定する判定手段と、を備えて構成する。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding an inspection device suitable for application to mechanical contact type switches, the inspection accuracy is improved by counting electrical signals after shaping and determining pass/fail based on the counting results. For the purpose of this, during a predetermined inspection cycle, key operation pressure is gradually applied to the mechanical switch to be inspected, and then the applied pressure is gradually decreased, and the on/off electricity from the mechanical switch is turned off during the inspection cycle. A mechanical switch testing device that shapes a signal and tests the quality of the switch based on the shaped electrical signal, comprising: a counting means that counts the shaped electrical signal for one test cycle; and a predetermined reference value. and a determining means that compares the counting result of the counting means with the reference value of the reference value setting means to determine whether the switch is good or bad.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、メカニカルスイッチの検査装置に関し、詳し
くは、1回のキー操作でパルス状の信号を発生する例え
ばキーボード用スイッチの検査装置に係り、特に、メカ
ニカル接点方式のスイ・ノチに通用して好適な検査装置
に関する。
The present invention relates to an inspection device for mechanical switches, and more particularly to an inspection device for keyboard switches, for example, which generates a pulse-like signal with a single key operation. This invention relates to a suitable inspection device.

近年、コンピュータやワードプロセッサ等の普及に伴っ
てその入力装置としてのキーボードに対しては、低価格
、高信頼性、より高度な操作感が求められる傾向にある
In recent years, with the spread of computers, word processors, etc., there has been a trend for keyboards as input devices to be lower in price, more reliable, and more sophisticated in operation.

一般ニ、キーボード用のスイッチ(以下、キースイッチ
)には、光方式、ホール効果方式、電磁誘導方式、静電
容量センサ方式あるいは圧電効果方式などの無接点式キ
ースイッチや、リードスイッチ方式あるいはメカニカル
接点方式などの有接点式キースイッチがある。特に、有
接点式キースイッチについては古くから実用化されおり
、信頼性や価格の面で無接点式キースイッチよりも優れ
ている。ところで、メカニカル接点方式のキースイッチ
には、接点のチャツタリングに起因する誤動作が発生す
るといった欠点があることから、例えば、金属接点式、
薄膜接点式あるいは導電ラバー接点式などの各種改良型
が開発されている。
Generally speaking, keyboard switches (hereinafter referred to as key switches) include non-contact key switches such as optical type, Hall effect type, electromagnetic induction type, capacitance sensor type or piezoelectric effect type, reed switch type or mechanical type. There are contact type key switches such as contact type. In particular, contact key switches have been in practical use for a long time and are superior to non-contact key switches in terms of reliability and price. By the way, mechanical contact key switches have the disadvantage of malfunctions caused by contact chatter, so for example, metal contact key switches,
Various improved types have been developed, including thin film contact type and conductive rubber contact type.

第5図は従来のメカニカル接点方式キースイッチの一例
を示す図である。このキースイッチ(以下、ドームスイ
ッチSW)は、端子板10に設けた複数個(図では3個
)の固定接点11と、固定接点11を覆うように載置さ
れた導電性のドームスプリング(一部を破断して見せて
いる)12と、ドームスプリング12を変形させるため
のハネ性のアクチエータ13と、を備えて構成し、通常
は、第6図(a)に示すように固定接点11とドームス
プリング12とが離隔してオフ状態にあるが、アクチエ
ータ13の先端にキー操作力を加えると、第6図(b)
に示すように、ドームスプリング12がアクチエータ1
3に押されて変形し、ドームスプリング12と固定接点
11とが接触してオン状態になる仕組みになっている。
FIG. 5 is a diagram showing an example of a conventional mechanical contact type key switch. This key switch (hereinafter referred to as dome switch SW) consists of a plurality of (three in the figure) fixed contacts 11 provided on a terminal board 10, and a conductive dome spring (one) placed so as to cover the fixed contacts 11. 12 (shown with a broken part) and a resilient actuator 13 for deforming the dome spring 12. Normally, as shown in FIG. 6(a), the fixed contact 11 and Although the dome spring 12 is separated from the dome spring 12 and is in the OFF state, when a key operation force is applied to the tip of the actuator 13, as shown in FIG. 6(b)
As shown in FIG.
3, the dome spring 12 and fixed contact 11 come into contact and turn on.

ところで、種々の改良工夫を施した有接点式キースイッ
チにあっても、製造上のミス等を根絶することは困難で
、完成検査は必須である。
By the way, even with contact type key switches that have undergone various improvements, it is difficult to eradicate manufacturing errors and the like, and final inspection is essential.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第7図の概念構成図は、例えぽ上記ドームスイッチSW
に適用する従来のメカニカルスイッチの検査装置を現し
ている。
The conceptual configuration diagram in Figure 7 is an example of the above dome switch SW.
This figure shows a conventional mechanical switch inspection device applied to

すなわち、この検査装置は、所定の検査周期T。That is, this inspection device has a predetermined inspection cycle T.

(例えばT1=1秒程度)の間に、上記のドームスイッ
チS−に対してキー操作圧力Pを漸増付与した後、該付
与圧力Pを漸減するキー操作力付与手段14と、前記検
査周期T1の間におけるドームスイッチSWからのオン
/オフ電気信号を整形する信号整形手段15と、整形後
の電気信号に基づいて当該スイッチの良否を判定する判
定手段16と、を備えて構成する。
(for example, T1 = about 1 second), the key operation force applying means 14 gradually increases the key operation pressure P to the dome switch S-, and then gradually decreases the applied pressure P, and the test period T1 The switch includes a signal shaping means 15 for shaping the on/off electrical signal from the dome switch SW between the two, and a determining means 16 for deciding whether the switch is good or bad based on the shaped electrical signal.

ドームスイッチSWは、その動作が正常であれば、1回
の検査周期の間にオフ状態からオン状態を経て再びオフ
状態へと戻る過程をたどるから、1回の検査周期の間の
電気信号の変化を検出することにより、ドームスイッチ
S−の良否判定ができる。
If the dome switch SW is operating normally, it will go through the process of going from an OFF state to an ON state and then back to an OFF state during one test cycle. By detecting the change, it is possible to determine whether the dome switch S- is good or bad.

−検査周期の間の適当な時点で電気信号をサンプリング
し、そのレベルを点検して所定の信号レベルであれば、
検査合格とする。
- Sample the electrical signal at an appropriate point during the test cycle, check its level, and if it is at the predetermined signal level,
The inspection is passed.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、かかる従来の検査装置にあっては、サン
プリングした電気信号に基づいて良否を判定する構成と
なっていたため、検査周期の一部分の検査しかできず、
検査精度を充分に満足できないといった問題点があった
However, such conventional inspection devices are configured to determine pass/fail based on sampled electrical signals, so they can only inspect a portion of the inspection cycle.
There was a problem that the inspection accuracy could not be fully satisfied.

すなわち、ドームスイッチS−にあっては、その正常時
における動作特性を第8図に示すように、キー操作圧力
Pを増大していく過程(以下、押し下げ過程)で−度オ
ン状態(図中A)になった後、キー操作圧力Pを減少し
ていく過程(以下、戻し過程)で再びオフ状!!(図中
B)に戻る動作となるはずであるが、例えば、組立ミス
等からドームスプリング12が定位置からずれた場合に
、第9図に示すように、押し下げ過程でオン状態(図中
a〉からオフ状B(図中b)になり、戻し過程で再度オ
ン状態(図中C)からオフ状B(図中d)になることが
あった。第8図と第9図を比較すると、第9図中のCお
よびdで示す一組のオン/オフ動作が不適切であること
が判る。
In other words, as shown in Figure 8, the operating characteristics of the dome switch S- during normal operation are shown in Figure 8. After becoming A), in the process of decreasing the key operation pressure P (hereinafter referred to as the return process), it becomes OFF again! ! (B in the figure), but for example, if the dome spring 12 deviates from its normal position due to an assembly error, etc., it will be in the on state (a in the figure) during the pushing down process, as shown in Figure 9. 〉, it changed to off-state B (b in the figure), and during the return process, it changed from the on-state (C in the figure) to off-state B (d in the figure) again. Comparing Figures 8 and 9, , it can be seen that the set of on/off operations indicated by C and d in FIG. 9 is inappropriate.

従来の検査装置においては、第8図のA−8間の適当な
期間をサンプリング期間として設定し、サンプリング電
位が所定値であれば正常動作を判定している。したがっ
て、上記不適切なオン/オフ動作を伴うスイッチを誤っ
て検査合格とすることがあり、検査精度の面で不十分な
ものであった。
In the conventional inspection apparatus, an appropriate period between A-8 in FIG. 8 is set as a sampling period, and normal operation is determined if the sampling potential is a predetermined value. Therefore, a switch with the above-mentioned inappropriate on/off operation may be erroneously passed the test, resulting in insufficient test accuracy.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は、このような問題点に鑑みてなされたもので、
整形後の電気信号を計数してその計数結果から良否を判
定することにより、検査精度を向上することを目的とし
ている。
The present invention was made in view of these problems, and
The purpose is to improve inspection accuracy by counting electrical signals after shaping and determining pass/fail based on the counting results.

〔課題を解決するための手段] 本発明は、上記目的を達成するためその原理構成図を第
1図に示すように、所定の検査周期信号を発生する周期
信号発生手段20と、−検査周期の間、検査対象たるメ
カニカルスイッチ(例えば上記のドームスイッチsh)
に対してキー操作圧力Pを漸増付与した後、該付与圧力
Pを漸減するキー操作力付与手段21と、−検査周期の
間におけるメカニカルスイッチからのオン/オフ電気信
号を整形する信号整形手段22と、整形後の電気信号を
一検査周期の間計数する計数手段23と、所定の基準値
を設定する基準値設定手段24と、計数手段23の計数
結果と基準値設定手段24の基準値とを比較して前記メ
カニカルスイッチの良否を判定する判定手段25と、を
備えて構成する。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention, as shown in FIG. During this period, the mechanical switch to be inspected (for example, the above dome switch sh)
key operation force application means 21 that gradually increases and then applies key operation pressure P to and then gradually decreases the applied pressure P; and signal shaping means 22 that shapes the on/off electrical signal from the mechanical switch during the test cycle. , a counting means 23 that counts the electrical signal after shaping for one test cycle, a reference value setting means 24 that sets a predetermined reference value, and a counting result of the counting means 23 and a reference value of the reference value setting means 24. and a determining means 25 for comparing the values and determining the quality of the mechanical switch.

〔作用〕[Effect]

本発明では、−検査周期の間の信号整形手段22の出力
が計数手段23で計数され、その計数結果と基準値設定
手段24の基準値とに基づいて判定手段25でメカニカ
ルスイッチの良否が判定される。
In the present invention, the output of the signal shaping means 22 during the inspection cycle is counted by the counting means 23, and the quality of the mechanical switch is determined by the determining means 25 based on the counting result and the reference value of the reference value setting means 24. be done.

ココで、メカニカルスイッチを上記ドームスイッチS−
とするとともに、基準値を1に設定すると、−検査周期
の間で1回だけのオン状態の場合には計数結果が1とな
り、計数結果と基準値とが一致して当該ドームスイッチ
S−の正常が判定されるが、ドームスイッチS−のオン
回数が0回ないしは1回を越えた場合には計数結果と基
準値とが不一致となって当該ドームスイッチSWの不良
が判定される。
Here, connect the mechanical switch to the above dome switch S-
At the same time, if the reference value is set to 1, the counting result will be 1 if the ON state is ON only once during the inspection period, and the counting result and the reference value will match and the corresponding dome switch S- will be in the ON state. It is determined that the dome switch SW is normal, but if the number of times the dome switch S- is turned on exceeds 0 or 1, the counting result and the reference value do not match, and the dome switch SW is determined to be defective.

したがって、前記不適切なオン/オフ動作を伴うスイッ
チについても、これを検査不合格とすることができ、検
査精度の向上が図られる。
Therefore, the switch with the inappropriate on/off operation can also be judged as a failure of the test, and the test accuracy can be improved.

〔実施例〕 以下、本発明を図面に基づいて説明する。〔Example〕 Hereinafter, the present invention will be explained based on the drawings.

第2〜4図は本発明に係るメカニカルスイッチの検査装
置の一実施例を示す図であり、従来例と同様なドームス
イッチに適用した例である。
2 to 4 are diagrams showing an embodiment of the mechanical switch inspection device according to the present invention, and are examples in which the device is applied to a dome switch similar to the conventional example.

まず、構成を説明する。第2図において、30は周期信
号発生手段としての制御回路、31はキー操作力付与手
段としての動力機構、32は検査対象たるメカニカルス
イッチとしてのドームスイッチ、33は信号整形手段と
しての信号整形回路、34は計数手段としてのカウンタ
ー回路、35は基準値設定手段としてのデイツプスイッ
チ、36は判定手段としての比較回路、37は表示回路
である。
First, the configuration will be explained. In FIG. 2, 30 is a control circuit as a periodic signal generating means, 31 is a power mechanism as a key operation force applying means, 32 is a dome switch as a mechanical switch to be inspected, and 33 is a signal shaping circuit as a signal shaping means. , 34 is a counter circuit as counting means, 35 is a dip switch as reference value setting means, 36 is a comparison circuit as determining means, and 37 is a display circuit.

以下、各構成部分の詳細を説明すると、制御回路30は
、検査期間中、動力機構31およびカウンター回路34
に対して次の各信号を出力する。
The details of each component will be explained below. During the inspection period, the control circuit 30 controls the power mechanism 31 and the counter circuit 34.
Outputs the following signals for .

スタート信号T、:課題を解決するための手段に記載の
「検査周期信号」 に相当する信号で、所定の 周期TI  (例えば、Tt= 1000a+s )ごとに繰り返スハ ルス状の信号、 エンド信号’r、T’、を約半周期(T、 /2)遅ら
せた信号、 カウンタクリア信号Cc:Tsに同期した信号、 動力機構31は、T、入力に応答して正方向回転を開始
するとともに、Tt大入力応答して逆方向回転を開始す
るDCモータ31aと、DCモータ31aの正逆回転運
動を往復運動に変換する運動方向変換部31bと、運動
方向変換部31bによって駆動される移動ヘッド31c
と、を備え、DCモータ31aの正方向回転時にドーム
スイッチ32に対してキー操作圧力Pを漸増付与すると
ともに、DCモータ31aの逆方向回転時にキー操作圧
力Pを漸減する。
Start signal T: A signal corresponding to the "inspection period signal" described in the means for solving the problem, which is repeated every predetermined period TI (for example, Tt = 1000a+s), End signal 'r , T', delayed by about half a cycle (T, /2), counter clear signal Cc: a signal synchronized with Ts, the power mechanism 31 starts rotating in the forward direction in response to the input T, and at the same time Tt A DC motor 31a that starts rotating in the opposite direction in response to a large input, a motion direction converter 31b that converts the forward and reverse rotation motion of the DC motor 31a into reciprocating motion, and a moving head 31c driven by the motion direction converter 31b.
The key operation pressure P is gradually increased to the dome switch 32 when the DC motor 31a rotates in the forward direction, and the key operation pressure P is gradually decreased when the DC motor 31a rotates in the reverse direction.

ドームスイッチ32は、スイッチ接点32aの一端を低
電位(図ではグランド電位:以下、G)側の電源に接続
するとともに、他端を抵抗R1を介して高電位(以下、
+V)側の電源に接続し、移動ヘッド31cの一往復間
にスイッチ接点32aをオフ状態からオン状態を経て再
びオフ状態へと変化(但し正常動作時)させ、オフ状態
の間では電位+Vを、またオン状態の間では電位Gをス
イッチ信号S31.lとして出力する。このスイッチ信
号S5.。
The dome switch 32 has one end of the switch contact 32a connected to a power source at a low potential (ground potential in the figure, hereinafter referred to as G), and the other end connected to a high potential (hereinafter referred to as G) through a resistor R1.
+V) side power supply, and during one round trip of the moving head 31c, the switch contact 32a changes from the OFF state to the ON state and then to the OFF state again (during normal operation). During the OFF state, the potential +V is changed. , and during the on state, the potential G is switched to the switch signal S31. Output as l. This switch signal S5. .

は本発明の要旨に記載のオン/オフ電気信号に相当する
corresponds to the on/off electrical signal described in the summary of the invention.

信号整形回路33は、積分回路33a、シュミ7)トリ
ガ回路33b、J−にフリップフロップ回路33C1微
分回路33d、反転回路33e、マルチバイブレータ回
路33fを含んで構成され、抵抗R2とコンデンサCI
からなる積分回路33aによりスイッチ信号SSMのイ
ンパルス性ノイズを除去した後、シュミットトリガ回路
33bによって波形整形し、その整形後の信号の立ち下
がりエツジでJ−にフリップフロップ回路33cのQ出
力(以下、QJK)をハイレベルにセントし、抵抗R3
とコンデンサC2からなる微分回路33dによってQJ
Kの立ち上がりエツジを検出し、これを反転回路33e
を介してクロック信号CPとして出力する。また、マル
チバイブレータ33fは、C1の立ち下がりエツジ(Q
JXのセット)から所定の時間(td)後に、J−にフ
リップフロップ回路33cをリセットする信号CJXを
発生し、所定の時間tdはスイッチ信号S8,1に含ま
れるチャツタリングの継続時間よりも充分に長い例えば
10Ils程度に設定するのが好ましい。なお、tdの
設定はマルチバイフレーク回路33fに外付けした抵抗
R,、R,およびコンデンサC,、C,を調整して行う
The signal shaping circuit 33 includes an integrating circuit 33a, a trigger circuit 33b, a flip-flop circuit 33C1, a differentiation circuit 33d, an inverting circuit 33e, and a multivibrator circuit 33f, and includes a resistor R2 and a capacitor CI.
After removing the impulsive noise of the switch signal SSM by the integrating circuit 33a, the Schmitt trigger circuit 33b shapes the waveform, and at the falling edge of the shaped signal, the Q output of the flip-flop circuit 33c (hereinafter referred to as QJK) to high level and resistor R3
QJ by a differentiator circuit 33d consisting of a capacitor C2 and a capacitor C2.
Detects the rising edge of K and sends it to the inverting circuit 33e.
It is output as a clock signal CP via the clock signal CP. Furthermore, the multivibrator 33f detects the falling edge of C1 (Q
After a predetermined time (td) from the setting of JX, a signal CJX is generated to reset the flip-flop circuit 33c to J-, and the predetermined time td is sufficiently longer than the duration of the chatter included in the switch signal S8,1. It is preferable to set it to a long time, for example, about 10 Ils. Note that td is set by adjusting the resistors R, , R and capacitors C, , C, which are externally attached to the multi-bi flake circuit 33f.

カウンター回路34は、信号整形回路33からのクロッ
ク信号CPをカウント(計数)してそのカウント値Cv
を出力するが、カウンタクリアー信号Ccが入力すると
そのカウント値Cvをゼロクリアーする。
The counter circuit 34 counts the clock signal CP from the signal shaping circuit 33 and calculates the count value Cv.
However, when the counter clear signal Cc is input, the count value Cv is cleared to zero.

比較回路36は、予めデイツプスイッチ35に設定した
所定の基準値Rv(ここでは、Rv=1)と、カウンタ
ー回路34からのカウント値Cvとを比較L、−’lt
 (RV =C,)の場合にハイレベルとなる判定結果
信号J0を出力する。なお、比較のタイミングとしては
、例えばカウンター回路34がゼロクリアーされる直前
が望ましい。
The comparison circuit 36 compares a predetermined reference value Rv (here, Rv=1) set in the dip switch 35 in advance with the count value Cv from the counter circuit 34, L, -'lt.
When (RV = C,), a determination result signal J0 that becomes high level is output. Note that the timing of the comparison is preferably, for example, immediately before the counter circuit 34 is cleared to zero.

表示回路37は、反転型のバッファ回路37a、正転型
のバッファ回路37b、合格ランプ37c、不合格ラン
プ37dおよび抵抗R&、R7を備え、Joがハイレベ
ルのときに合格ランプ37cを発光(不合格ランプ37
dを消灯)させる一方、Joがローイレベルのときに不
合格ランプ37dを発光(合格ランプ37cを消灯)さ
せるようになっている。
The display circuit 37 includes an inverting buffer circuit 37a, a normal buffer circuit 37b, a pass lamp 37c, a fail lamp 37d, and resistors R& and R7, and causes the pass lamp 37c to emit light (fail) when Jo is at a high level. Pass lamp 37
d is turned off), and when Jo is at the low level, the reject lamp 37d is turned on (the pass lamp 37c is turned off).

次に、第3.4図の各波形図を参照しながら、本実施例
の回路動作を説明する。
Next, the circuit operation of this embodiment will be explained with reference to each waveform diagram in FIG. 3.4.

(I)正常時の回路動作(第3図参照)、時間t。ニス
タート信号T、が発生するとDCモータ31aが正転を
開始し、移動ヘッド31cがキー操作圧力Pを漸増させ
ながら移動を始める。
(I) Normal circuit operation (see Figure 3), time t. When the start signal T is generated, the DC motor 31a starts normal rotation, and the moving head 31c starts moving while gradually increasing the key operation pressure P.

時間tl :ドームスイッチ32のスイッチ接点32a
がオフ状態からオン状態になると、スイッチ信号Ss−
がチャックリングを伴いつつその信号電位を+■からG
へと変化させる。このスイッチ信号SSWの変化は積分
回路33aおよびシュミットトリガ回路33bによって
整形された後、J−にフリップフロップ回路33cに加
えられ、これによりQ JI[がローレベルからハイレ
ベルへと立ち上がる。Q JKの立ち上がりエツジは微
分回路33dによって検出され、反転回路33eから1
個のクロック信号C2が出力される。
Time tl: switch contact 32a of dome switch 32
changes from the off state to the on state, the switch signal Ss-
The signal potential changes from +■ to G with chuckling.
change to. This change in the switch signal SSW is shaped by the integrating circuit 33a and the Schmitt trigger circuit 33b, and then applied to the flip-flop circuit 33c at J-, thereby causing QJI[ to rise from the low level to the high level. The rising edge of QJK is detected by the differentiating circuit 33d, and the rising edge of
clock signals C2 are output.

時間1.:1.からtdを経過すると、CJKが立ち上
がりQJxがリセットされる。
Time 1. :1. After td elapses, CJK rises and QJx is reset.

時間t3 :はしめのスタート信号T、パルス発生から
およそ半周期(検査周期T1の半分)が経過するとエン
ド信号T、が発生し、DCモータ31aが逆転を開始す
る。これにより、移動ヘッド31Cがキー操作圧力Pを
漸減させながら反転移動を開始する。
Time t3: When approximately half a cycle (half of the inspection cycle T1) has elapsed since the start signal T and the pulse were generated, the end signal T is generated, and the DC motor 31a starts rotating in reverse. As a result, the moving head 31C starts reverse movement while gradually reducing the key operation pressure P.

時間L4 :ドームスイッチ32のスイッチ接点32a
がオン状態から再びオフ状態になると、スイッチ信号S
3,1がチャツタリングを伴いつつその信号電位をGか
ら+Vへと変化させる。
Time L4: Switch contact 32a of dome switch 32
When the switch turns from the on state to the off state again, the switch signal S
3,1 changes the signal potential from G to +V with chattering.

時間to’:1回の検査周B、l1丁、が経過すると、
次の周期のスタート信号T、パルスが発生し、上記り。
Time to': When one inspection cycle B, l1, passes,
The start signal T and pulse for the next cycle are generated, and the process is as above.

〜t4を繰り返す。-Repeat t4.

ここで、上記時間t0〜t 、 I の間におけるクロ
ック信号C1の発生数は、スイッチ接点32aのオン回
数に等しい数(1)であり、カウンター回路34のカウ
ント値Cvも同じく (1)である。したがって、Cv
=Rvの条件を満足するから、Joがハイレベルとなり
、合格ランプ37cだけが点灯する。
Here, the number of occurrences of the clock signal C1 during the above time t0 to t,I is a number (1) equal to the number of times the switch contact 32a is turned on, and the count value Cv of the counter circuit 34 is also (1). . Therefore, Cv
Since the condition of =Rv is satisfied, Jo becomes high level and only the pass lamp 37c lights up.

(II)不良時の回路動作、 時間t。−t 810間(−検査周期)でスイッチ信号
SSWの電位が一度も+VからGへと変化しない場合、
すなわちドームスイッチ32が一度もオン状態に変化し
ない不良動作の場合には、クロック信号C1の発生数が
ゼロ、したがって、カウント値CvもゼロとなりCv≠
Rvとなるから、J。
(II) Circuit operation during failure, time t. If the potential of the switch signal SSW never changes from +V to G during -t 810 (- test period),
That is, in the case of a malfunction in which the dome switch 32 never changes to the on state, the number of generated clock signals C1 is zero, and therefore the count value Cv is also zero, and Cv≠
Since it becomes Rv, J.

がローレベルとなって不合格ランプ37dだけが点灯す
る。
becomes low level and only the reject lamp 37d lights up.

あるいは、第4図において、−検査周期の間でドームス
イッチ32が2回以上(図ではイ、口の2回)オン状態
に変化する不良動作の場合には、クロック信号CPの発
生数がオン変化数と同数発生し、したがって、カウント
値Cvも同数(この例ではCV−2)となり、同様にし
てCv≠Rvとなるから、この場合にもJoがローレベ
ルとなって不合格ランプ37(Iだけが点灯する。
Alternatively, in FIG. 4, if there is a malfunction in which the dome switch 32 changes to the on state twice or more (twice in the figure) during the test period, the number of times the clock signal CP is generated is on. The same number of changes occur, and therefore the count value Cv is also the same (in this example, CV-2), and in the same way, Cv≠Rv, so in this case too, Jo becomes low level and the rejection lamp 37 ( Only I lights up.

このように、本実施例によれば、−検査周期におけるス
イッチ信号SAWのオン変化数と同数のクロック信号C
Pを発生し、このクロック信号CPのカウント値Cvと
基準値Rvとを比較して一致の場合のみに合格ランプ3
7cを点灯するように構成したので、−検査周期の間の
ドームスイッチ32のオン変化数がRvと同数の場合だ
けを検査合格とすることができる。したがって、オン変
化数が0回ないしは2回以上の不良動作を確実に判別で
き、ドームスイッチ32に対する検査精度を向上するこ
とができる。
As described above, according to the present embodiment, the number of clock signals C equal to the number of ON changes of the switch signal SAW in the test cycle is
P is generated, and the count value Cv of this clock signal CP is compared with the reference value Rv, and only when they match, the pass lamp 3 is output.
7c is configured to light up, it is possible to pass the test only when the number of ON changes of the dome switch 32 during the - test period is the same as Rv. Therefore, a defective operation in which the number of ON changes is 0 or 2 or more can be reliably determined, and the accuracy of testing the dome switch 32 can be improved.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、メカニカルスイッチからの電気信号を
整形し、整形後の電気信号(実施例ではクロック信号C
F、CPはオン回数を現す)を計数してその計数結果か
ら良否を判定するようにしたので、オン回数が基準値と
一致する場合だけを検査合格とすることができ、不一致
の場合をすべて不合格とすることができる。
According to the present invention, an electrical signal from a mechanical switch is shaped, and the shaped electrical signal (in the embodiment, a clock signal C
F, CP represents the number of ON times) and pass/fail is determined based on the counting result, so only when the number of ON times matches the reference value can the inspection be passed, and all cases where there is a mismatch can be passed. It is possible to fail the test.

したがって、基準値を1とすれば、オン回数が0回ない
し2回以上のスイッチを不良と判別でき、検査周期の大
部分を検査対象にして検査精度を向上することができる
Therefore, if the reference value is set to 1, a switch that has been turned on 0 to 2 or more times can be determined to be defective, and the inspection accuracy can be improved by making the majority of the inspection period the inspection target.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の原理構成図である。 第2〜4図は本発明に係るメカニカルスイッチの検査装
置の一実施例を示す図であり、第2図はそのブロック構
成図、 第3図はその正常時の動作波形図、 第4図はその不良時の動作波形図である。 第5〜9図は従来例を示す図であり、 第5図はその検査対象キースイッチの一例として示すド
ームスイッチの斜視図、 第6図(a)(b)はそのドームスイッチのオフ/オン
をそれぞれ示す状態図、 第7図はそのメカニカルスイッチの検査装置の概念構成
図、 第8図はその正常時のスイッチ動作を示す特性図、 第9図はその不良時のスイッチ動作を示す特性図である
。 S−・・・・・・ドームスイッチ (メカニカルスイッチ)、 20・・・・・・周期信号発生手段、 21・・・・・・キー操作力付与手段、22・・・・・
・信号整形手段、 23・・・・・・計数手段、 24・・・・・・基準値設定手段、 25・・・・・・判定手段、 30・・・・・・制御回路(周期信号発生手段)、31
・・・・・・動力機構(キー操作力付与手段)、32・
・・・・・ドームスイッチ (メカニカルスイッチ)、 33・・・・・・信号整形回路(信号整形手段)、34
・・・・・・カウンター回路(計数手段)、35・・・
・・・デイツプスイッチ(基準値設定手段)36・・・
・・・比較回路(判定手段)、37・・・・・・表示回
路。 本発明の原理構成回 第 工 図 1゜ 正常時の動作波形図 第3図 不良時の動作波形図 1゜ ドームスイッチの斜視図 第 図 ドームスイッチのオン/オフをそれぞれ示す状態図第 図 従来のメカニカルスイッチの検査装置の概念構成図第 図 正常時のスイッチ動作を示す特性図 第8図 不良時のスイッチ動作を示す特性図 第9図
FIG. 1 is a diagram showing the principle configuration of the present invention. 2 to 4 are diagrams showing an embodiment of the mechanical switch inspection device according to the present invention, in which FIG. 2 is a block diagram thereof, FIG. 3 is an operating waveform diagram during normal operation, and FIG. It is an operation waveform diagram at the time of the defect. Figures 5 to 9 are diagrams showing conventional examples, Figure 5 is a perspective view of a dome switch shown as an example of the key switch to be inspected, and Figures 6 (a) and (b) are OFF/ON of the dome switch. Fig. 7 is a conceptual configuration diagram of the mechanical switch inspection device, Fig. 8 is a characteristic diagram showing the switch operation during normal operation, and Fig. 9 is a characteristic diagram showing the switch operation when it is defective. It is. S-... Dome switch (mechanical switch), 20... Periodic signal generation means, 21... Key operation force applying means, 22...
- Signal shaping means, 23... Counting means, 24... Reference value setting means, 25... Judgment means, 30... Control circuit (periodic signal generation) means), 31
...Power mechanism (key operation force applying means), 32.
...Dome switch (mechanical switch), 33...Signal shaping circuit (signal shaping means), 34
...Counter circuit (counting means), 35...
...Dip switch (reference value setting means) 36...
. . . Comparison circuit (judgment means), 37 . . . Display circuit. Principle of the present invention Construction diagram 1゜Operating waveform diagram in normal operation Figure 3 Operation waveform diagram in malfunction 1゜Perspective view of the dome switch Figure 1 State diagram showing on/off of the dome switch Conceptual block diagram of mechanical switch inspection equipment Figure 8 Characteristic diagram showing switch operation when normal. Figure 9 Characteristic diagram showing switch operation when defective.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 所定の検査周期の間、検査対象たるメカニカルスイッチ
に対してキー操作圧力を漸増付与した後、該付与圧力を
漸減するとともに、 前記検査周期の間におけるメカニカルスイッチからのオ
ン/オフ電気信号を整形し、 整形後の電気信号に基づいて、当該スイッチの良否を検
査するメカニカルスイッチの検査装置において、 前記整形後の電気信号を一検査周期の間計数する計数手
段と、 所定の基準値を設定する基準値設定手段と、計数手段の
計数結果と基準値設定手段の基準値とを比較して前記ス
イッチの良否を判定する判定手段と、 を備えたことを特徴とするメカニカルスイッチの検査装
置。
[Claims] During a predetermined inspection cycle, key operation pressure is gradually applied to the mechanical switch to be inspected, and then the applied pressure is gradually decreased, and the mechanical switch is turned on/off during the inspection cycle. A mechanical switch testing device that shapes an OFF electrical signal and tests the quality of the switch based on the shaped electrical signal, comprising: a counting means that counts the shaped electrical signal for one test cycle; A mechanical switch comprising: a reference value setting means for setting a reference value; and a determining means for comparing the counting result of the counting means with the reference value of the reference value setting means to determine whether the switch is good or bad. inspection equipment.
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