JPH03233353A - 超音波探傷装置 - Google Patents

超音波探傷装置

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JPH03233353A
JPH03233353A JP2028160A JP2816090A JPH03233353A JP H03233353 A JPH03233353 A JP H03233353A JP 2028160 A JP2028160 A JP 2028160A JP 2816090 A JP2816090 A JP 2816090A JP H03233353 A JPH03233353 A JP H03233353A
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JP
Japan
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ultrasonic
flaw detection
waveform
noise
waveforms
Prior art date
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Pending
Application number
JP2028160A
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English (en)
Inventor
Ichiro Furumura
古村 一朗
Satoshi Nagai
敏 長井
Taiji Hirasawa
泰治 平澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/044Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、粗大結晶粒からなる金属材料やオーステナイ
ト系耐熱材料などの探傷に最適な超音波探傷装置に関す
るものである。
(従来の技術) 金属材料などの被検体の内部に素材製造時から存在する
割れ、巣および非金属介在物などの欠陥、あるいは機器
、製造物として使用された後に、様々な外的要因のため
に発生する亀裂などの欠陥を検査する方法として、X線
検査法とともに、超音波探傷法が多く用いられている。
超音波探傷法は、結晶粒径が大きい材料やオーステナイ
ト系材料などのように、材料組成に依存したノイズエコ
ーの振幅値が高く、欠陥エコーのノイズエコーに対する
比率(S/N比)が一般的な鋼材などのものと比較して
悪いものに関しては、ノイズエコーレベルよりも振幅値
が十分に高くないことを理由に、ノイズであるか欠陥で
あるか識別するのが困難になり、この結果、検出可能な
欠陥寸法が大きなものに限られ、欠陥検出能が著しく劣
化してしまうことがあった。
このような電気的な信号・波形の計測におけるノイズ除
去を目的とする手法として、加算平均法が知られている
。ところが、この方法は、電気ノイズのように全くラン
ダムに混入してくるノイズに対しては効果があるが、上
述した材料組織に依存したノイズエコーのように、個々
のノイズは材料組織と全く同しくランダムであるものの
、それらが微視組織という超音波反射源から生じること
から時間的にランダムでなく、超音波の送受信にともな
って同じ位置に発生する場合には効果がない。
また、超音波の進行方向、すなわちビーム路程方向に沿
ってはランダムであるが、時間的にはランダムでない材
料ノイズからの欠陥エコーを抽出するための信号処理の
一つに、探触子の位置を僅かずつ変えながら複数個収録
した探傷波形を加算し、平均化することにより一つの探
傷波形を得るという方法がある。ところが、この方法は
、探触子の位置を一定間隔で移動させる必要があること
から、探触子駆動機構を有する自動探傷装置では採用さ
れることがあるが、検査員が探傷波形を見なから探触子
を動かして探傷を行う手探傷では採用することができな
い。
一方、探触子駆動機構による自動走行装置を用いること
なく、材料ノイズからの欠陥エコーを抽出する方法とし
ては、アレイ型探触子を用いた電子走査型探傷法があり
、−例として、特公昭63−56946号公報に開示さ
れたものが知られている。この方法は、第7図に示すよ
うに多数の振動子281.282、・・・ 28nを有
するアレイ探触子2つを用い、このアレイ探触子29の
各振動子281.282 、・・・ 28nから出力さ
れる超音波ビームを所定の超音波入射角前後のある範囲
内で微小に振ってやり、入射角が僅かに異なる複数の超
音波ビーム301.302 、=−30nより複数個の
探傷波形を得、これら探傷波形を前述の自動探傷の場合
と同様に加算し、平均化することにより一つの探傷波形
を得るという方法である。この方法によれば、探触子の
位置を一定間隔で移動させるための探触子駆動機構を有
する自動探傷装置を必要としないが、図示するような超
音波送信器群31、超音波受信器群32、高速アナログ
・デジタル変換器群33、デジタル加算器34、遅延時
間制御器35、コンピュータ36、記録表示器37など
、アレイ振動子のチャンネル数に応じた膨大な電子回路
を必要とし、高価であるとともに、可搬性を必要とする
装置には採用することができなかった。
(発明が解決しようとする課8) 以上述べたように探触子駆動機構を有する自動探傷装置
や、複雑な電子回路を多数必要とする電子走査型探傷装
置を用いると、これらにより得られた複数の探傷波形を
加算することにより材料ノイズより欠陥エコーを抽出す
ることが可能にはなるが、火際の機器の探傷に多く用い
られ、検査員がノイズエコーであるが欠陥エコーである
か判別するに苦労する手作業を基本とする超音波探傷装
置においては、上述の探触子駆動機構を有する自動探傷
装置や電子走査型探傷装置のように材料ノイズの信号レ
ベルを低減させ、欠陥エコーを明瞭に抽出できるものは
見当たらなかった。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、粗大結晶
粒からなる金属材料やオーステナイト系耐熱材料などの
探傷において、超音波反射源からの材料組織に依存した
ノイズエコーの振幅値を低減させることにより信号とノ
イズのS/N比を改善し、欠陥検出の能力を高めること
を手作業を基本とする探傷装置と同様な装置で可能にす
る超音波探傷装置を提供することを目的とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明の超音波探傷装置は、探触子内部に設けられ且つ
超音波受信位置を移動可能にした超音波送受信手段と、
各超音波受信位置での超音波の送受信により得られる複
数の探傷波形をデジタル化し複数のサンプル点により構
成される波形データに変換するデジタル化手段と、上記
デジタル化された複数の波形データの同一サンプル点で
のデータを比較するとともにその中で最小の値をそのサ
ンプル点でのデータとする処理を複数のサンプル点につ
いて繰り返すことにより一つの探傷波形を得る信号処理
手段とからなることを特徴とするものである。
(作用) 本発明の超音波探傷装置は、超音波送受信位置の異なる
位置での探傷により得られる、探傷位置がずれているこ
とで若干ずつ異なるノイズ波形と、探傷位置の微小なず
れではほとんど変化しない欠陥波形を含んた複数の探傷
波形を、リアルタイムの信号処理により一つの探傷波形
にまとめることにより、粗大結晶粒材料やオーステナイ
ト系材料のように材料組織に依存したノイズエコーレベ
ルの高い材料においても、欠陥エコーの振幅はそのまま
で、変化材料組織に依存したノイズエコーの振幅値のみ
を低減させるようにでき、欠陥エコー検出のためのS/
N比の改善が61能となり、欠陥検出能の高い、微小な
欠陥まで検出可能な探傷を、自動走査装置を必要とする
ことなく手作業による探傷においても実現できる。
(実施例) 以下、本発明の一実施例を図面にしたがい説明する。
第1図は、同実施例の超音波探傷装置に用いられる探触
子の例として垂直探触子の縦断面を示し、第2図は、同
垂直探触子の横断面を示すものである。図において、1
は非検査体で、この非検査体1表面に超音波探触子2を
載置するようになる。
この超音波探触子2は、内部の中心位置する送信用超音
波振動子3を配置し、この送信用超音波振動子3を取り
囲んで複数の受信用超音波振動子41.42、・・・、
4nを配置し、また、これらとともに超音波波形特性を
整えるためのバッキング材5および振動子と非検査体1
の音響インピーダンスを整えマツチングプレート6を設
けている。
そして、送信用超音波振動子3と受信用超音波振動子4
1 42、・・・、4nには、それぞれ独立に信号線7
および81.82、・・・ 8nが接続されている。
第3図は、同実施例の超音波探傷装置の回路構成を示す
ものである。この場合、超音波探触子2の中心部に位置
する送信用超音波振動子3には、超音波送信器9より超
音波を励振するための高圧パルス電圧が繰り返し印加さ
れる。また、この送信用超音波振動子3を取り囲んで配
置される複数個の受信用超音波振動子41 、42 、
・・・ 4nには、振動子切換器10が接続され、これ
ら受信用超音波振動子41 、42 、・・・、4nに
より受信され電気信号に変換された超音波信号は、送信
用超音波振動子3に繰り返し印加される励振用高圧ノく
ルス1同ごとに振動子切換器10により選択的に切換え
られ、超音波受信器11に与えられるようにしている。
超音波受信器11に与える超音波信号は増幅され、A/
Dコンバータ12に送られる。このA/Dコンバータ1
2は、アナログ信号をデジタルデータに変換するための
ものである。そして、このA/Dコンバータ12により
変換されたデジタルデータは、振動子切換器10と同期
して切換えられる波形メモリ切換器13を介して波形メ
モリ141.142、・・・ 14nに与えられ、各別
に記憶される。つまり、これら波形メモリ141.14
2、・・・ 14nには、受信用超音波振動子41.4
2、・・・ 4nの個数nに等しい回数の超音波送受信
で得られた超音波伝播経路の僅かずつ異なる複数個の探
傷波形が記憶されることになる。
一方、波形メモリ141.142、− 14nに記録さ
れた複数個の探傷波形は、最小値化信号処理回路15に
送られる。この最小値化信号処理回路15は、波形メモ
リ141.142 、・・・14nに記録された超音波
伝播経路の僅かずつ異なる複数個の探傷波形纏め、材料
ノイズを低減させた一つの探傷波形を得るためのもので
ある。そして、この最小値化信号処理回路15で処理さ
れ得られた探傷波形は、D/Aコンバータ16に送られ
、ここでアナログ波形に戻され、探傷波形表示用CRT
17に送られる。この探傷波形表示用CRT 17は、
通常の探傷器と同様のAスコープ探傷波形を描くように
なっている。
なお、18は、上述した各構成要素の一連の動作を制御
するための探傷制御回路である。
次に、本発明による探傷波形から最小化信号を得るまで
の処理の手順および材料ノイズ低減に対する効果につい
て第4図および第5図を用いて説明する。
いま、第4図において、送信用超音波振動子3から超音
波が枚射されると、この超音波は、送信用超音波振動子
3周囲に配置された受信用超音波振動子41 、42 
、・・・ 4nとの相対的位置関係に応じた超音波伝播
経路11.、II2、・・・Ioを通過し、受信用超音
波振動子41 、42 、・・・ 4nにより受信され
る。この場合、本発明で対象としている粗大結晶粒材料
やオーステナイト系材料のように材料組織に依存するノ
イズエコーレベルの高い材料においては、第5図に示す
ように材料ノイズを含んだ探傷波形W1、2、・・・W
。が得られるが、これら探傷波形は、それぞれの波形ご
とに超音波伝播経路が僅かずつ異なるため、探傷波形中
に含まれる材料ノイズはビーム路程方向に対してはラン
ダムであり、探傷波形ごとに僅かずつ異なっている。
一方、材料ノイズの原因となる結晶粒界よりも大きな欠
陥1つに対しては、欠陥寸法に対する超音波伝播経路の
違いが相対的に小さいので、全ての受信用超音波振動子
41.42、・・・ 4nて、はぼ同等な欠陥エコーが
検出される。
次に、最小値化信号処理回路15では、以下の処理が実
行される。すなわち、i番目の受信用超音波振動子4i
により検出された探傷波形は、デジタル化によりm個の
サンプル点により構成される波形データからなり、w(
1,2、・・・j・・m)+で現される。そして、この
ような波形データのj番目のサンプル点に注目して各探
傷波形w(j)1、w(j)2、・・・w(j)  の
中から絶対値が最小の振幅値を呈するminfw (j
 ) 1− + −n  l を、探傷波形ビーム路程
上のj番目のサンプル点の代表値として採用する。この
操作を探傷波形の1番目のサンプル点から最後のm番目
のサンプル点まで繰り返し行うことにより受信用超音波
振動子4142 ・・・ 4nで検出された複数個の探
傷波形を1つに集約した探傷波形W−[iin  (w
 (J ) 、−r−) コ 、−1□を得られること
になる。
この結果、結晶粒界などの材料組織に起因するノイズは
、結^晶粒界などの構成、配列そのものがランダムな特
性を存し、それらを反射源として受信される超音波波形
もランダムな特性を有することになるので、材料ノイズ
に関して僅かずっ異なる複数個の探傷波形の同一ビーム
路程の振幅値の最小値を採用することにより、小さな値
で代表させることができる。
一方、欠陥エコーについては、超音波伝播経路の僅かな
違いによる複数個の探傷波形の同一ビーム路程の振幅値
に対する影響が小さく、それらの中の最小値を採用して
も、あるビーム路程上の代表値データが著しく小さくな
ることはない。このことから、m個のサンプル点により
構成されている複数の波形データwl  w2、・・・
W、の全てのサンプル点に対して、それぞれ最小値を求
める操作を繰り返せば、材料ノイズの振幅値レベルは小
さくなるが、欠陥エコーの振幅値は変化しない。
このことは、粗大結晶粒材料やオーステナイト系材料の
探傷において観察される材料組織に依存したノイズエコ
ーの振幅値を低減させることができるのに対し、通常の
探傷ではノイズエコーに埋もれて存在を確認することが
困難な欠陥エコーの振幅は変化しないことになるので、
欠陥エコー検出のためのS/N比の改善を、自動走査装
置を必要とすることなく手作業による探傷において実現
できることになる。
なお、第1図および第2図に示す送(g用超音波振動子
3および複数個の受信用超音波振動子4142、・・・
 4nは、円盤型をなしているが、要するに超音波の伝
播経路を僅かに変化させた複数個の探傷波形を得るとと
もに、最小値化信号処理を行うための目的に合致してい
ればよいので、必ずしも円盤型である必要はない。また
、第3図の例では、振動子切換子10を用いて受信用超
音波振動子41 、42 、・・・ 4nの個数に等し
いn回の超音波送受信で最小値化信号処理に必要な全て
の探傷波形を得るようにしているが、超音波受信器11
およびA/Dコンバータ12の個数を受信用超音波振動
子41 42、・・・ 4nの個数と等しくすれば一同
の超音波送信で短時間の内に探傷波形を記録することも
可能である。
次に、超音波探触子2内部における超音波の送受信位置
を微小に変化させて、超音波伝播経路を僅かずつ変化さ
せるようにした他の実施例について第6図にしたかい説
明する。
第6図は、機械的に超音波受信位置を微小に変化させる
ことかできる御飯動子型探触子の断面図を示している。
この場合、超音波探触子2の内部には、送受信用転勤子
20およびバッキング材5を内在する振動子ブロック2
1を、2枚の平行な振動子ブロック保持具22a、22
bにより送受信用振動子20の振動面とマツチングプレ
ート6の間に極僅かなギャップを保つように支持してい
る。また、振動子ブロック21の両側には超音波探触子
2内部での振動子ブロック21の位置を変化させるため
の圧電材料、磁歪材料あるいは音響スピーカのボイスコ
イルと類似の機構からなる超音波送受信位置移動機構2
3a、23bが取り付けられており、この超音波送受信
位置移動機構23a、23bを制御するための信号線2
4a、24bおよび超音波送受信用信号線25がコネク
タ26に接続されている。
このようにしても、上述した実施例と同様な効果を期待
することができる。
なお、超音波探触子2の内部は、振動子ブロック21と
振動子ブロック保持具22の摺動面がスムーズに動くた
めの潤滑油を兼ねた超音波伝播媒体27で病たされてお
り、超音波入射点を微小に変化させるための振動子ブロ
ック21の位置変化に対して、いわゆるギャップ法によ
る安定な探傷ができるように構成されている。
なお、第6図に示す超音波送受信位置移動機構23a、
23bは、超音波探触子2内部での振動子ブロック21
の位置を左右に移動させるもののみ示しているが、同様
の機構を振動子ブロック21の周囲全周に設けたり、他
の機構により超音波探触子2の中心から偏心した位置に
中心を有する振動子ブロック21を超音波探触子2の中
心を軸として回転させるなど構成してもよいなど、要は
、材料ノイズと欠陥信号のS/N比を向上させるために
一つの探触子内部で超音波送受信位置の異なる複数個の
探傷波形データを計測し得る機構を設けるようにすれば
よい。
[発明の効果コ 本発明によれば、超音波送受信位置の異なる位置での探
傷により得られる、探傷位置がずれていることで若干ず
つ異なるノイズ波形と、探傷位置の微小なずれではほと
んど変化しない欠陥波形を含んた複数の探傷波形を、リ
アルタイムの信号処理により一つの探傷波形にまとめる
ようにすることによって、粗大結晶粒材料やオーステナ
イト系材料のように材料組織に依存したノイズエコーレ
ベルの高い材料においても、欠陥エコーの振幅はそのま
まで、変化材料組織に依存したノイズエコーの振幅値の
みを低減させるようにできることから、欠陥エコー検出
のためのS/N比の改善が可能になるとともに、欠陥検
出能の高い、微小な欠陥まで検出可能な探傷を、探触子
駆動機構などの自動探傷装置や超音波制御のための膨大
な電子回路などを必要とすることなく、通常、最も多く
行われ、口■微性、機動性が要求される手探傷において
も実現することができることになる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は、本発明の超音波探傷装置の一実
施例に用いられる超音波探触子を示す縦断面図および横
断面図、第3図は、同実施例の回路構成を示すブロック
図、第4図および第5図は、同実施例の動作を説明する
ための図、第6図は、本発明の他の実施例に用いられる
超音波探触子を示す縦断面図、第7図は、従来の超音波
探傷装置の一例の回路構成を示すブロック図である。 1・・・被検査体、2・・・超音波探触子、3・・・送
信用超音波振動子、41〜4n・・・受信用超音波振動
子、9・・・超音波送信器、10・・・振動子切換器、
11・・・超音波受信器、12・・・A/Dコンバータ
、13・・・波形メモリ切換器、141〜14n・・・
波形メモリ、15・・・最小値化信号処理回路、16・
・・D/Aコンバータ、17・・・波形表示用CRT、
19・・・欠陥、2 0・・・送受信用振動子、 1・・・振動子ブロック、 3・・・超音波送受信位置移動機構、 7・・・超音 波伝播媒体。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 探触子内部に設けられ且つ超音波受信位置を移動可能に
    した超音波送受信手段と、各超音波受信位置での超音波
    の送受信により得られる複数の探傷波形をデジタル化し
    複数のサンプル点により構成される波形データに変換す
    るデジタル化手段と、上記デジタル化された複数の波形
    データの同一サンプル点でのデータを比較するとともに
    その中で最小の値をそのサンプル点でのデータとする処
    理を複数のサンプル点について繰り返すことにより一つ
    の探傷波形を得る信号処理手段とを具備したことを特徴
    とする超音波探傷装置。
JP2028160A 1990-02-09 1990-02-09 超音波探傷装置 Pending JPH03233353A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004325246A (ja) * 2003-04-24 2004-11-18 Toshiba Corp 欠陥検査装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004325246A (ja) * 2003-04-24 2004-11-18 Toshiba Corp 欠陥検査装置

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