JPH03232286A - Semiconductor laser drive circuit - Google Patents

Semiconductor laser drive circuit

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JPH03232286A
JPH03232286A JP2029101A JP2910190A JPH03232286A JP H03232286 A JPH03232286 A JP H03232286A JP 2029101 A JP2029101 A JP 2029101A JP 2910190 A JP2910190 A JP 2910190A JP H03232286 A JPH03232286 A JP H03232286A
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幸雄 吉川
Tatsuo Sasaki
笹木 達雄
Takeshi Ishii
石井 彪
Shinichi Sato
伸一 佐藤
Tomoyuki Kashiwazaki
柏崎 朋之
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Fujitsu Ltd
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Abstract

PURPOSE:To improve a semiconductor laser in safety by a method where an abnormality detection circuit and a check circuit which previously checks if the abnormality detection circuit works normally are provided. CONSTITUTION:A setting circuit 104 is connected to an abnormality detection circuit 105, and the abnormality detection circuit 105 detects the abnormality of an automatic light quantity control mechanism by comparing an upper limit signal with a monitored signal and outputs an abnormality signal LDOVER. The abnormality detection circuit 105 is connected to a check circuit 106, and when a laser diode 1a operates normally through the action of the automatic light quantity control mechanism, the upper limit signal is made to decrease to a certain value smaller than a reference signal responding to a check signal LDCHK to enable the detection circuit 105 to falsely output the abnormality signal LDOVER, whereby the function of the abnormality detection circuit 105 is periodically ascertained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体レーザの駆動回路に関し、特にその異常
検出技術に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor laser drive circuit, and particularly to an abnormality detection technique thereof.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年、高性能の半導体レーザが安価に供給できる様にな
ってきており、様々な情報機器の部品として利用されて
いる。例えば、コンパクトディスクプレーヤの情報読取
り用ヘッド、光デイスクメモリの情報読取り書込み用ヘ
ッド、PO8端末に用いられるバーコードリーダの読取
りヘッド、レーザビームポインタ、あるいはレーザビー
ムプリンタの印字ヘッド等においてレーザビーム光源と
して広く用いられている。これら種々の情報機器におい
て、半導体レーザの駆動回路は一般的にレーザビーム光
量自動制御回路を具備しており、レーザビーム光量を一
定に保つ様にしている。
In recent years, high-performance semiconductor lasers have become available at low cost and are used as components for various information devices. For example, it can be used as a laser beam light source in the information reading head of a compact disc player, the information reading/writing head of an optical disc memory, the reading head of a barcode reader used in a PO8 terminal, a laser beam pointer, or a print head of a laser beam printer. Widely used. In these various information devices, the semiconductor laser drive circuit generally includes a laser beam light amount automatic control circuit to keep the laser beam light amount constant.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら、かかる自動光量制御回路は複数の回路部
品から構成されており、必ずしも故障が皆無であるとは
いえない。かかる場合、自動光量制御が働かなくなり、
半導体レーザが過大発光する虞れがある。過大発光が人
間の目に直接入射すると失明を起こす虞れがあるという
問題点があった。又、光デイスクメモリやレーザビーム
プリンタにおいて、過大発光が生じると情報の破壊が起
こる危険性があるという問題点があった。
However, such an automatic light amount control circuit is composed of a plurality of circuit components, and cannot necessarily be said to be completely free of failures. In such a case, automatic light control will not work,
There is a risk that the semiconductor laser will emit excessive light. There is a problem in that if the excessive light emitted directly enters the human eye, it may cause blindness. Furthermore, in optical disk memories and laser beam printers, there is a problem in that there is a risk of information being destroyed if excessive light emission occurs.

〔問題点を解決する為の手段〕[Means for solving problems]

上述した従来の技術の問題点に鑑み、本発明は半導体レ
ーザ駆動回路の安全性を高める事を目的とする。この目
的を達成する為に、本発明においては自動制御回路の異
常を検出する為の異常検出回路が具備されている。そし
て、この異常検出回路が自動光量制御回路の異常時にお
いて正しく動作できるかどうかを事前に確認する為のチ
ェック回路をも具備している。かかる二重の対策を講す
る事により、半導体レーザ駆動回路の安全性が従来に比
し著しく向上する。一般に、自動光量制御回路が故障を
起こす確率は低く、異常検出回路は稀にしか動作しない
。その為に、定期的に異常検出回路が正しく動作するか
どうかを確認する事は極めて重要である。
In view of the above-mentioned problems of the conventional technology, an object of the present invention is to improve the safety of a semiconductor laser drive circuit. In order to achieve this objective, the present invention includes an abnormality detection circuit for detecting abnormalities in the automatic control circuit. A check circuit is also provided to check in advance whether this abnormality detection circuit can operate correctly when the automatic light amount control circuit is abnormal. By taking such double measures, the safety of the semiconductor laser drive circuit is significantly improved compared to the conventional one. Generally, the probability that an automatic light amount control circuit will fail is low, and an abnormality detection circuit will only operate infrequently. Therefore, it is extremely important to periodically check whether the abnormality detection circuit is operating correctly.

第1図に本発明にかかる半導体レーザ駆動回路の基本構
成を示す。図示する様に、半導体レーザ駆動回路はレー
ザパッケージ1を有する。このレーザパッケージ1には
、駆動電力に応じてレーザビームを放射する半導体レー
ザ例えばレーザダイオード1aと、レーザビームを光電
変換し対応する電気信号を出力する受光素子例えばPI
Nフォトダイオード1bを内蔵している。フォトダイオ
ード1bにはモニタ回路101が接続されており、該電
気信号をモニタしレーザビーム光量の変動に応じたモニ
タ信号を出力する。モニタ回路101には制御回路10
2が接続されており、モニタ信号と所定の基準信号を比
較しその差分に応じた制御信号を出力する。制御回路1
02には電力回路103が接続されており、制御信号に
従ってモニタ信号と基準信号の差分を打消す様に駆動電
力をレーザダイオード1aに供給する。これらレーザパ
ッケージ1、モニタ回路101 、制御回路102及び
電力回路103はサーボループからなる自動光量制御機
構を構成し、定常状態においてレーザダイオード1aの
レーザビーム光量が一定となる様に制御している。
FIG. 1 shows the basic configuration of a semiconductor laser drive circuit according to the present invention. As shown in the figure, the semiconductor laser drive circuit has a laser package 1. This laser package 1 includes a semiconductor laser such as a laser diode 1a that emits a laser beam according to driving power, and a light receiving element such as a PI that photoelectrically converts the laser beam and outputs a corresponding electric signal.
It has a built-in N photodiode 1b. A monitor circuit 101 is connected to the photodiode 1b, which monitors the electrical signal and outputs a monitor signal according to fluctuations in the amount of laser beam light. The monitor circuit 101 has a control circuit 10
2 is connected, and compares the monitor signal with a predetermined reference signal and outputs a control signal according to the difference. Control circuit 1
A power circuit 103 is connected to 02, and supplies drive power to the laser diode 1a in accordance with a control signal so as to cancel out the difference between the monitor signal and the reference signal. These laser package 1, monitor circuit 101, control circuit 102, and power circuit 103 constitute an automatic light amount control mechanism consisting of a servo loop, and control the laser beam light amount of the laser diode 1a to be constant in a steady state.

半導体レーザ駆動回路はさらに、設定回路104を含む
。設定回路104は基準信号より大きく且つ正常時にモ
ニタ信号が越える事のない大きさを有する上限信号を設
定する。合わせて基準信号をも設定している。設定回路
104には異常検出回路105が接続されており、上限
信号とモニタ信号とを比較する事により自動光量制御機
構の異常を検出し異常信号LDOVERを出力する。異
常検出回路105にはチェック回路10Bが接続されて
おり、レーザダイオード1aが自動光量制御機構の作用
により正常に点灯している時、チェック信号LDCHK
に応答して上限信号の大きさを基準信号の大きさ以下に
下げ、疑似的に異常信号LDOVERを出力させる事に
より異常検出回路105の動作を定期的に確認している
The semiconductor laser drive circuit further includes a setting circuit 104. The setting circuit 104 sets an upper limit signal that is larger than the reference signal and has a magnitude that the monitor signal does not exceed under normal conditions. A reference signal is also set accordingly. An abnormality detection circuit 105 is connected to the setting circuit 104, and detects an abnormality in the automatic light amount control mechanism by comparing the upper limit signal and a monitor signal, and outputs an abnormality signal LDOVER. A check circuit 10B is connected to the abnormality detection circuit 105, and when the laser diode 1a is lit normally due to the action of the automatic light amount control mechanism, a check signal LDCHK is output.
In response to this, the operation of the abnormality detection circuit 105 is periodically checked by lowering the magnitude of the upper limit signal to below the reference signal and outputting a pseudo abnormality signal LDOVER.

この異常検出回路は、上限信号に対してモニタ信号が上
回った時反転信号を出力する比較回路と、反転信号を記
憶し異常信号を持続的に出力する為のラッチ回路とを有
している。加えて、該チェック回路は、チェック信号L
DCHKに応じて上限信号の大きさを基準信号の大きさ
以下に切り換える切換回路と、チェック信号LDCHK
の解除に応じてラッチ回路をリセットし疑似的に出力さ
れた異常信号LDOVERを解除する為のリセット回路
とを含んでいる。最後に、好ましくは半導体レーザ駆動
回路は、異常信号LDOVERに応答してレーザダイオ
ード1aを強制的に消灯する為の強制消灯回路を有して
いる。
This abnormality detection circuit includes a comparison circuit that outputs an inverted signal when the monitor signal exceeds the upper limit signal, and a latch circuit that stores the inverted signal and continuously outputs the abnormal signal. In addition, the check circuit outputs a check signal L
A switching circuit that switches the magnitude of the upper limit signal to the magnitude of the reference signal or less according to DCHK, and a check signal LDCHK.
and a reset circuit for resetting the latch circuit in response to the release of the error signal LDOVER and canceling the pseudo-output abnormality signal LDOVER. Finally, preferably, the semiconductor laser drive circuit includes a forced extinguishing circuit for forcibly extinguishing the laser diode 1a in response to the abnormal signal LDOVER.

〔作  用〕[For production]

本発明によれば、異常検出回路は常時、上限信号に対し
てモニタ信号を監視しておりモニタ信号が上限信号を上
回った時異常信号を出力しレーザダイオード1aの過大
発光を防止する様にしている。さらに、チェック回路は
定期的に異常検出回路105をチェックしており、自動
光量制御機構の異常が発生した場合に異常検出回路が正
しく異常検出を行なう事ができる様にしている。
According to the present invention, the abnormality detection circuit always monitors the monitor signal with respect to the upper limit signal, and when the monitor signal exceeds the upper limit signal, outputs an abnormal signal to prevent the laser diode 1a from emitting excessive light. There is. Further, the check circuit periodically checks the abnormality detection circuit 105 so that the abnormality detection circuit can correctly detect an abnormality when an abnormality occurs in the automatic light amount control mechanism.

〔実 施 例〕〔Example〕

以下図面を参照して、本発明の好適な実施例を詳細に説
明する。第2図は本発明にかかる半導体レーザ駆動回路
の詳細回路図である。図示する様に、半導体レーザ駆動
回路はレーザパッケージ1を有する。レーザパッケージ
1にはレーザダイオード1aとフォトダイオード1bが
互いに接近して内蔵されている。レーザダイオード1a
のアノード端子及びフォトダイオード1bのカソード端
子は共に電源ラインV に接続されている。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 2 is a detailed circuit diagram of a semiconductor laser drive circuit according to the present invention. As shown in the figure, the semiconductor laser drive circuit has a laser package 1. A laser diode 1a and a photodiode 1b are built into the laser package 1 in close proximity to each other. Laser diode 1a
The anode terminal of the photodiode 1b and the cathode terminal of the photodiode 1b are both connected to the power supply line V.

C レーザダイオード1aは駆動電流に応じてレーザビーム
を放射しフォトダイオード1bは放射されたレーザビー
ムを受光し且っ光電変換して対応する電流信号を出力す
る。
C. The laser diode 1a emits a laser beam according to the drive current, and the photodiode 1b receives the emitted laser beam, photoelectrically converts it, and outputs a corresponding current signal.

半導体レーザ駆動回路はレーザパッケージ1に加えて、
モニタ回路、制御回路及び電力回路を有しており合わせ
て自動光量制御機構を構成している。モニタ回路は、電
流電圧変換抵抗2と差動増幅器3とからなる。抵抗2は
フォトダイオード1bのアノード端子と接地ラインの間
に接続されている。又差動増幅器3の正入力端子には電
流電圧変換抵抗2の一端が接続されており、負入力端子
と出力端子は直接結線されている。このモニタ回路によ
り、フォトダイオード1bから出力された電流信号は対
応するモニタ信号に変換され、このモニタ信号はレーザ
ダイオード1aの出力光量の変動に応じて変化する。
In addition to the laser package 1, the semiconductor laser drive circuit includes:
It has a monitor circuit, a control circuit, and a power circuit, and together constitutes an automatic light amount control mechanism. The monitor circuit consists of a current-voltage conversion resistor 2 and a differential amplifier 3. A resistor 2 is connected between the anode terminal of the photodiode 1b and the ground line. Further, one end of a current-voltage conversion resistor 2 is connected to the positive input terminal of the differential amplifier 3, and the negative input terminal and output terminal are directly connected. This monitor circuit converts the current signal output from the photodiode 1b into a corresponding monitor signal, and this monitor signal changes in accordance with fluctuations in the amount of light output from the laser diode 1a.

制御回路は積分抵抗4と、差動増幅器5と、積分コンデ
ンサ6と、アナログスイッチ7とから構成されている。
The control circuit includes an integrating resistor 4, a differential amplifier 5, an integrating capacitor 6, and an analog switch 7.

積分抵抗4は差動増幅器3の出力端子と差動増幅器5の
負入力端子の間に接続されている。差動増幅器5の正入
力端子には所定の基準電圧Vrerを有する基準信号が
印加されている。
Integrating resistor 4 is connected between the output terminal of differential amplifier 3 and the negative input terminal of differential amplifier 5. A reference signal having a predetermined reference voltage Vrer is applied to the positive input terminal of the differential amplifier 5.

積分コンデンサ6は差動増幅器5の負入力端子と出力端
子の間に接続されている。又アナログスイッチ7は積分
コンデンサ6と並列に接続されており点灯信号LDON
によりその開閉が制御される。かかる構成を有する制御
回路はモニタ信号と基準信号の差分に応じた出力電圧を
有する制御信号を出力する。
Integrating capacitor 6 is connected between the negative input terminal and output terminal of differential amplifier 5. Moreover, the analog switch 7 is connected in parallel with the integrating capacitor 6, and the lighting signal LDON is connected in parallel with the integrating capacitor 6.
Its opening and closing is controlled by. A control circuit having such a configuration outputs a control signal having an output voltage according to the difference between the monitor signal and the reference signal.

電力回路は、直列に接続された一対の分圧抵抗8及び9
、駆動トランジスタ10及び電圧電流変換抵抗11とか
ら構成されている。一方の分圧抵抗8は差動増幅器5の
出力端子と駆動トランジスタ10のベース端子との間に
接続されており、他方の分圧抵抗9は駆動トランジスタ
IOのベース端子と接地ラインの間に接続されている。
The power circuit includes a pair of voltage dividing resistors 8 and 9 connected in series.
, a drive transistor 10, and a voltage-current conversion resistor 11. One voltage dividing resistor 8 is connected between the output terminal of the differential amplifier 5 and the base terminal of the drive transistor 10, and the other voltage dividing resistor 9 is connected between the base terminal of the driving transistor IO and the ground line. has been done.

駆動トランジスタ10のコレクタ端子はレーザダイオー
ド1aのカソード端子に接続されており、エミッタ端子
は電圧電流変換抵抗11を介して接地されている。かか
る構成を有する電力回路は制御信号に応じてモニタ信号
と基準信号の差分を打消す様に駆動電流をレーザダイオ
ード1aに供給する。
The collector terminal of the drive transistor 10 is connected to the cathode terminal of the laser diode 1a, and the emitter terminal is grounded via the voltage-current conversion resistor 11. The power circuit having such a configuration supplies a driving current to the laser diode 1a in accordance with the control signal so as to cancel out the difference between the monitor signal and the reference signal.

半導体レーザ駆動回路はさらに設定回路と、異常検出回
路と、チェック回路とを有する。設定回路は3個の直列
に接続された分圧抵抗26.27及び28から構成され
ている。これら分圧抵抗は電源ラインと接地ラインの間
に直列に接続され電源電圧vo0を各々の抵抗比に従っ
て分圧している。中央の分圧抵抗27の下端部は基準電
圧Vre’rを設定しており、基準信号として差動増幅
器5の正入力端子に送っている。又中央の抵抗27の上
端部は上限電圧を設定し、上限信号を出力している。こ
の上限電圧は基準電圧より大きく且つ正常時においてモ
ニタ信号の電圧が越える事のない大きさを有し、例えば
基準電圧に対して5ないし10%高めに設定されている
The semiconductor laser drive circuit further includes a setting circuit, an abnormality detection circuit, and a check circuit. The setting circuit consists of three voltage dividing resistors 26, 27 and 28 connected in series. These voltage dividing resistors are connected in series between the power supply line and the ground line, and divide the power supply voltage vo0 according to their respective resistance ratios. A reference voltage Vre'r is set at the lower end of the central voltage dividing resistor 27, and is sent to the positive input terminal of the differential amplifier 5 as a reference signal. The upper end of the central resistor 27 sets an upper limit voltage and outputs an upper limit signal. This upper limit voltage is larger than the reference voltage and has a magnitude that the voltage of the monitor signal does not exceed under normal conditions, and is set, for example, 5 to 10% higher than the reference voltage.

異常検出回路は比較回路を構成するコンパレータ33と
ラッチ回路を構成するRSフリップフロップ34とから
なっている。コンパレータ33の正入力端子にはモニタ
信号が入力され、負入力端子には抵抗35を介して上限
信号が入力されている。コンパレータ33は上限信号に
対してモニタ信号が上回った時反転信号LDOVERI
を出力する。
The abnormality detection circuit consists of a comparator 33 forming a comparison circuit and an RS flip-flop 34 forming a latch circuit. A monitor signal is input to the positive input terminal of the comparator 33, and an upper limit signal is input to the negative input terminal via the resistor 35. The comparator 33 outputs an inverted signal LDOVERI when the monitor signal exceeds the upper limit signal.
Output.

RSフリップフロップ34のセット端子はコンパレータ
33の出力端子に接続されている。フリップフロップ3
4は反転信号を記憶し異常信号LDOVER2を持続的
に出力端子Qに出力する。
A set terminal of the RS flip-flop 34 is connected to an output terminal of the comparator 33. flip flop 3
4 stores the inverted signal and continuously outputs the abnormal signal LDOVER2 to the output terminal Q.

最後にチェック回路は切換回路とリセット回路とから構
成されている。切換回路はチェック信号LDCHKに応
じて上限信号の大きさを基準信号の大きさ以下に切換保
持し、疑似的に異常信号LDOVER2を出力させる事
により異常検出回路の動作を確認する。又リセット回路
はチェック信号LDCHKの解除に応じてフリップフロ
ップ34をリセットし疑似的に出力された異常信号LD
OVER2を解除する。切換回路は、切換トランジスタ
37と抵抗38.38及び39とから構成されている。
Finally, the check circuit consists of a switching circuit and a reset circuit. The switching circuit switches and maintains the magnitude of the upper limit signal below the magnitude of the reference signal in response to the check signal LDCHK, and confirms the operation of the abnormality detection circuit by outputting a pseudo abnormality signal LDOVER2. In addition, the reset circuit resets the flip-flop 34 in response to the release of the check signal LDCHK, and outputs a pseudo error signal LD.
Cancel OVER2. The switching circuit consists of a switching transistor 37 and resistors 38, 38 and 39.

切換トランジスタ37のベース端子にはバイアス抵抗3
8を介してチェック信号LDCHKが入力される様にな
っており、コレクタ端子は分圧抵抗36を介してコンパ
レータ33の負入力端子に接続されており、エミッタ端
子は接地されている。
A bias resistor 3 is connected to the base terminal of the switching transistor 37.
A check signal LDCHK is inputted through the comparator 8, the collector terminal is connected to the negative input terminal of the comparator 33 through the voltage dividing resistor 36, and the emitter terminal is grounded.

リセット回路はチェック信号LDCHKの立下りに応答
してパルスを形成する為の微分回路及び形成されたパル
スを反転させてリセットパルス信号を出力するインバー
タとから構成されている。微分回路はコンデンサ40及
び直列に接続された抵抗41、42及び43とから構成
されている。インバータはトランジスタ44と抵抗45
とから構成されている。
The reset circuit includes a differentiating circuit for forming a pulse in response to the fall of the check signal LDCHK, and an inverter for inverting the formed pulse and outputting a reset pulse signal. The differential circuit is composed of a capacitor 40 and resistors 41, 42 and 43 connected in series. The inverter is a transistor 44 and a resistor 45
It is composed of.

トランジスタ44のベース端子は微分回路の出力端子に
接続されており、コレクタ端子はフリップフロップ34
のリセット端子Rに接続されており、エミッタ端子は接
地されている。
The base terminal of the transistor 44 is connected to the output terminal of the differentiating circuit, and the collector terminal is connected to the flip-flop 34.
It is connected to the reset terminal R of , and its emitter terminal is grounded.

最後に強制消灯回路は二人カアンドゲート24から構成
されている。一方の反転入力端子には点灯信号LDON
が入力される様になっており、他方の反転入力端子には
異常信号LDOVER2が入力される様になっており、
反転出力端子はアナログスイッチ7に接続されている。
Finally, the forced light-off circuit is composed of a two-man gate 24. One inverting input terminal has a lighting signal LDON.
is input, and the abnormal signal LDOVER2 is input to the other inverting input terminal.
The inverted output terminal is connected to an analog switch 7.

次に第2図に示す半導体レーザ駆動回路の動作を詳細に
説明する。まず、第3図Aを参照して自動光量制御機構
の動作を説明する。点灯信号LDONが高レベル(以下
Hレベルと表記する)から低レベル(以下Lレベルと表
記する)に変化すると、アンドゲート24の出力端子が
Lレベルとなりアナログスイッチ7が非導通状態となる
。この結果、制御回路及び電力回路が動作を始めレーザ
ダイオード1aが発光し始める。レーザビーム光量に比
例した電流信号がフォトダイオード1bに発生する。こ
の電流信号は電流電圧変換抵抗2により電圧に変換され
、さらに差動増幅器3でインピーダンスを変換された後
モニタ信号とじて出力される。レーザダイオード1aの
点灯とともに電流信号は増大し始めるのでモニタ信号も
立上がる。積分抵抗4、差動増幅器5及び積分コンデン
サ6により積分器が形成されているので、差動増幅器5
の正入力端子に印加されている基準電圧vrefとモニ
タ信号の電圧の差により積分コンデンサ6が充放電され
、差動増幅器5の出力電圧がこの差分に応じて決まる。
Next, the operation of the semiconductor laser drive circuit shown in FIG. 2 will be explained in detail. First, the operation of the automatic light amount control mechanism will be explained with reference to FIG. 3A. When the lighting signal LDON changes from a high level (hereinafter referred to as H level) to a low level (hereinafter referred to as L level), the output terminal of the AND gate 24 becomes L level and the analog switch 7 becomes non-conductive. As a result, the control circuit and the power circuit start operating and the laser diode 1a starts emitting light. A current signal proportional to the amount of laser beam is generated in the photodiode 1b. This current signal is converted into a voltage by a current-voltage conversion resistor 2, and further has its impedance converted by a differential amplifier 3, and then output as a monitor signal. Since the current signal starts to increase as the laser diode 1a turns on, the monitor signal also rises. Since an integrator is formed by the integrating resistor 4, the differential amplifier 5, and the integrating capacitor 6, the differential amplifier 5
The integration capacitor 6 is charged and discharged by the difference between the reference voltage vref applied to the positive input terminal of the monitor signal and the voltage of the monitor signal, and the output voltage of the differential amplifier 5 is determined according to this difference.

差動増幅器5の出力電圧を分圧抵抗8及び9で分圧し、
トランジスタIO及び抵抗11により電流変換し駆動電
流をレーザダイオード1aに供給して駆動している。こ
の駆動電流は基準電圧vr8rとモニタ信号の電圧との
間の差分を打消す様に供給されるので、定常状態におい
てはモニタ信号の電圧レベルは図示する様に基準電圧レ
ベルと等しくなり周囲温度あるいはレーザダイオード1
aの多少の劣化に係わらず一定のレーザビーム光量を得
る事ができる。次に、点灯信号LDONをLレベルから
Hレベルに切換えレーザダイオードの消灯を指示すると
、アンドゲート24の反転出力端子はHレベルとなりア
ナログスイッチ7は導通状態になる。この結集積分コン
デンサ6に蓄積されていた電荷は放電され差動増幅器5
の出力電圧は基準電圧と等しくなる。
The output voltage of the differential amplifier 5 is divided by voltage dividing resistors 8 and 9,
A current is converted by a transistor IO and a resistor 11, and a drive current is supplied to the laser diode 1a to drive it. This drive current is supplied so as to cancel the difference between the reference voltage vr8r and the voltage of the monitor signal, so in a steady state, the voltage level of the monitor signal is equal to the reference voltage level as shown in the figure, and the voltage level of the monitor signal is equal to the reference voltage level as shown in the figure. Laser diode 1
A constant amount of laser beam light can be obtained regardless of some deterioration of a. Next, when the lighting signal LDON is switched from the L level to the H level to instruct the laser diode to turn off, the inverted output terminal of the AND gate 24 goes to the H level and the analog switch 7 becomes conductive. The charge accumulated in this integrated integration capacitor 6 is discharged and the differential amplifier 5
The output voltage of will be equal to the reference voltage.

この出力電圧を分圧抵抗8及び9で分圧すると駆動トラ
ンジスタ10が導通しない状態になる様に分圧抵抗8及
び9の抵抗値が設定されている為、レーザダイオード1
aは消灯される。
Since the resistance values of the voltage dividing resistors 8 and 9 are set so that when this output voltage is divided by the voltage dividing resistors 8 and 9, the drive transistor 10 is not conductive, the laser diode 1
a is turned off.

次に同じく第3図Aを参照して異常検出回路の動作を説
明する。前述した様に、定常状態において自動光量制御
機構が正常に動作している時にはモニタ信号の電圧レベ
ルは基準電圧レベルに保持されている。コンパレータ3
3の正入力端子には定常状態において基準電圧レベルに
保持されたモニタ信号が供給されており、コンパレータ
33の負入力端子には上限信号が供給されている。図示
する様に、この上限信号の有する上限電圧レベルは基準
電圧レベルに対して高く設定されており、正常時におい
てモニタ信号が越える事のないレベルに設定されている
。今、仮に自動光量制御機構の異常によりレーザダイオ
ード1aの過大発光が生じた場合、又は光量モニタ用フ
ォトダイオード1bの短絡異常が生じた場合、モニタ信
号の電圧レベルが上昇する。モニタ信号の電圧レベルが
上限電圧レベルを越える事により、コンパレータ33の
出力端子に現われる反転信号LDOVER1はLレベル
からHレベルに反転する。−瞬でもHレベルになるとフ
リップフロップ34が反転し、フリップフロップ34の
出力端子Qに現われる異常信号LDOVER2はLレベ
ルからHレベルになり異常状態の発生を周辺の上位機器
や下位機器あるいはオペレータに警告する。同時に、異
常信号LDOVER2がHレベルになるとアンドゲート
24が遮断され点灯信号LDONの状態に係わらずアナ
ログスイッチ7は導通状態に置かれ自動光量制御機構の
動作は停止しレーザダイオード1aは強制的に消灯され
る。
Next, the operation of the abnormality detection circuit will be explained with reference to FIG. 3A. As described above, when the automatic light amount control mechanism is operating normally in a steady state, the voltage level of the monitor signal is maintained at the reference voltage level. Comparator 3
A monitor signal maintained at a reference voltage level in a steady state is supplied to the positive input terminal of the comparator 33, and an upper limit signal is supplied to the negative input terminal of the comparator 33. As shown in the figure, the upper limit voltage level of this upper limit signal is set higher than the reference voltage level, and is set at a level that the monitor signal does not exceed under normal conditions. Now, if the laser diode 1a emits excessive light due to an abnormality in the automatic light amount control mechanism, or if a short-circuit abnormality occurs in the light amount monitoring photodiode 1b, the voltage level of the monitor signal increases. When the voltage level of the monitor signal exceeds the upper limit voltage level, the inverted signal LDOVER1 appearing at the output terminal of the comparator 33 is inverted from L level to H level. - When the level goes high even momentarily, the flip-flop 34 is inverted, and the abnormal signal LDOVER2 appearing at the output terminal Q of the flip-flop 34 changes from the low level to the high level, warning nearby higher-level equipment, lower-level equipment, or the operator that an abnormal state has occurred. do. At the same time, when the abnormality signal LDOVER2 becomes H level, the AND gate 24 is cut off, the analog switch 7 is placed in a conductive state regardless of the state of the lighting signal LDON, the operation of the automatic light amount control mechanism is stopped, and the laser diode 1a is forcibly turned off. be done.

最後に第3図Bを参照してチェック回路の動作を説明す
る。チェック信号LDCHKはチェック期間中において
LレベルからHレベルに切換えられる。異常検出回路の
チェック動作は自動光量制御機構が正常に動作している
状態即ちモニタ信号が基準電圧レベルに保持されている
状態で行なわれ、レーザダイオードの点灯後行なっても
よく、あるいはプログラミングにより定期的に行なって
もよい。チェック信号LDCHKが立上がると、切換ト
ランジスタ37が導通し、設定回路中の直列抵抗26.
27及び28を流れていた電流は抵抗26.35及び3
6を流れる様になる。この時、抵抗35及び36の合成
抵抗値は抵抗27及び28の合成抵抗値よりも小さく設
定されている為、上限電圧レベルは基準電圧レベルを下
回って切換えられる事になる。この結果、基準電圧レベ
ルに保持されていたモニタ信号の電圧レベルは切換えら
れた上限電圧レベルを上回る事となり疑似的に異常状態
が出現する。
Finally, the operation of the check circuit will be explained with reference to FIG. 3B. Check signal LDCHK is switched from L level to H level during the check period. The abnormality detection circuit check operation is performed when the automatic light intensity control mechanism is operating normally, that is, when the monitor signal is maintained at the reference voltage level, and may be performed after the laser diode is turned on, or periodically by programming. It may be done intentionally. When the check signal LDCHK rises, the switching transistor 37 becomes conductive, and the series resistor 26.
The current flowing through 27 and 28 is connected to resistors 26.35 and 3.
It becomes like flowing through 6. At this time, since the combined resistance value of the resistors 35 and 36 is set smaller than the combined resistance value of the resistors 27 and 28, the upper limit voltage level is switched to be lower than the reference voltage level. As a result, the voltage level of the monitor signal held at the reference voltage level exceeds the switched upper limit voltage level, and a pseudo abnormal state appears.

この結果、コンパレータ33の出力レベルは反転し、反
転信号LDOVERIはLレベルからHレベルに変化す
る。この変化に応じてフリップフロップ34が反転する
為異常信号LDOVER2もLレベルからHレベルに反
転する。この異常信号LDOVER2の反転を確認する
事により、異常検出回路が正常に動作する事が分かる。
As a result, the output level of the comparator 33 is inverted, and the inverted signal LDOVERI changes from L level to H level. Since the flip-flop 34 is inverted in response to this change, the abnormal signal LDOVER2 is also inverted from L level to H level. By confirming the inversion of this abnormality signal LDOVER2, it can be seen that the abnormality detection circuit operates normally.

前述した様に、異常信号LDOVER2がHレベルにな
るとレーザダイオード1aの強制消灯が行なわれる。
As described above, when the abnormality signal LDOVER2 becomes H level, the laser diode 1a is forcibly turned off.

この結果、モニタ信号の電圧レベルは直ちに0レベルに
降下する。この為、モニタ信号の電圧レベルは一次的に
切換えられた上限電圧レベルを下回る事となり、コンパ
レータ33の出力端子に現われる反転信号LDOVER
IはLレベルに復帰する。
As a result, the voltage level of the monitor signal immediately drops to 0 level. Therefore, the voltage level of the monitor signal falls below the temporarily switched upper limit voltage level, and the inverted signal LDOVER appearing at the output terminal of the comparator 33
I returns to L level.

しかしながら、フリップフロップ34の作用により、異
常信号LDOVER2は引続きHレベルに記憶されてい
る。チェック期間が終了し、チェック信号LDCHKが
HレベルからLレベルに復帰すると、リセット回路が動
作しフリップフロップ34をリセットする。この結果、
異常信号LDOVER2もLレベルに復帰し通常の動作
状態に移行する。
However, due to the action of the flip-flop 34, the abnormal signal LDOVER2 is still stored at the H level. When the check period ends and the check signal LDCHK returns from the H level to the L level, the reset circuit operates and resets the flip-flop 34. As a result,
The abnormality signal LDOVER2 also returns to the L level and shifts to the normal operating state.

最後にチェック回路を利用した異常検出回路の不良解析
プログラムを第4図を参照して説明する。
Finally, a failure analysis program for an abnormality detection circuit using a check circuit will be explained with reference to FIG.

チェック動作をスタートさせると、まず点灯信号LDO
NがLレベルとなリレーザダイオード(以下LDと表記
する)が点灯する。LDの発光が定常状態に至るまで遅
延させた後、チェック信号LDCHKをHレベルに切換
え、フリップフロップ34をセットする。この時、異常
信号LDOVER2の電圧レベルをチェックする。Lレ
ベルに止まっている時にはさらに反転信号LDOVER
Iの電圧レベルをチェックする。その結果、反転信号L
DOVERIがHレベルにある時はフリップフロップ3
4が不良であると判断される。逆にLレベルにある時は
コンパレータ33が不良であるか、あるいはLDが発光
していないと判断される。他方、異常信号LDOVER
2がHレベルにある時はLDが強制消灯される。所定の
遅延時間を経過した後、反転信号LDOVERIの電圧
レベルをチェックする。Hレベルにある時は強制消灯が
実行されておらずアンドゲート24が不良であると判断
される。一方反転信号LDOVERIがLレベルに復帰
している時は、引続いてチェック信号LDCHKをLレ
ベルに復帰させる。この結果、フリップフロップ34は
リセットされる。続いて、異常信号LDOVER2の電
圧レベルをチェックする。Hレベルに止まっている時は
フリップフロップ34が不良であるか又はリセット回路
が不良であると判断される。一方、Lレベルに復帰した
時は強制消灯が解除されLDは再び点灯する。最後に、
点灯信号LDONをHレベルとしLDを通常の動作によ
り消灯させチェック動作を終了する。
When starting the check operation, first the lighting signal LDO
A relay laser diode (hereinafter referred to as LD) with N at L level lights up. After delaying the light emission of the LD until it reaches a steady state, the check signal LDCHK is switched to H level and the flip-flop 34 is set. At this time, the voltage level of the abnormal signal LDOVER2 is checked. When it remains at L level, the inverted signal LDOVER
Check the voltage level of I. As a result, the inverted signal L
When DOVERI is at H level, flip-flop 3
4 is determined to be defective. Conversely, when it is at L level, it is determined that the comparator 33 is defective or that the LD is not emitting light. On the other hand, the abnormal signal LDOVER
When 2 is at H level, the LD is forcibly turned off. After a predetermined delay time has elapsed, the voltage level of the inverted signal LDOVERI is checked. When it is at H level, forced light-off is not executed and it is determined that the AND gate 24 is defective. On the other hand, when the inverted signal LDOVERI has returned to the L level, the check signal LDCHK is subsequently returned to the L level. As a result, flip-flop 34 is reset. Subsequently, the voltage level of the abnormal signal LDOVER2 is checked. When it remains at H level, it is determined that either the flip-flop 34 is defective or the reset circuit is defective. On the other hand, when the level returns to L, the forced extinguishing is canceled and the LD is turned on again. lastly,
The lighting signal LDON is set to H level, and the LD is turned off by normal operation to complete the check operation.

第5図は第2図に示す半導体レーザ駆動回路を内蔵する
レーザ光源を利用したバーコードリーダの模式的断面図
である。バーコードリーダはケーシング51を有する。
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of a barcode reader using a laser light source incorporating the semiconductor laser drive circuit shown in FIG. 2. The barcode reader has a casing 51.

ケーシング51にはレーザ光源52が内蔵されている。A laser light source 52 is built into the casing 51.

点灯信号の投入により自動光量制御機構が正常に動作す
ると、一定光量のレーザビームが放射される。このレー
ザビームはスキャンモータ53により回転されているポ
リゴンミラー54により走査的に反射され反射ミラー5
5を介して物品の表面に付されたバーコード56を横切
る様に照射する。バーコード56から逆進された光は反
射ミラー55及びポリゴンミラー54を介して集光レン
ズ57により集光され、さらに別の反射ミラー58を介
して受光センサ59により受光される。
When the automatic light amount control mechanism operates normally by inputting the lighting signal, a laser beam of a constant amount of light is emitted. This laser beam is scanned and reflected by a polygon mirror 54 rotated by a scan motor 53, and is reflected by a reflection mirror 54.
5, the barcode 56 attached to the surface of the article is irradiated across the barcode 56. The light traveling backward from the barcode 56 is condensed by a condensing lens 57 via a reflecting mirror 55 and a polygon mirror 54, and then received by a light receiving sensor 59 via another reflecting mirror 58.

受光光量の強度分布を解析する事によりバーフード5B
を読取る事ができる。かかるバーコードリーダにおいて
、レーザ光源52に内蔵されている自動光量制御機構に
異常が発生したりモニタ用フォトダイオードに短絡異常
が発生した場合には、直ちに異常検出回路が動作し、レ
ーザダイオードを強制的に消灯し過大発光による事故を
未然に防止している。又、この異常検出回路はチェック
回路によって定期的にその動作確認が行なわれている為
、半導体レーザ駆動回路に異常が発生した場合には、常
に間違いなく異常検出動作を行なう事ができる。
By analyzing the intensity distribution of the amount of light received, bar food 5B
can be read. In such a barcode reader, if an abnormality occurs in the automatic light amount control mechanism built in the laser light source 52 or a short-circuit abnormality occurs in the monitor photodiode, the abnormality detection circuit immediately operates and forces the laser diode. This prevents accidents caused by excessive light emission. Further, since the operation of this abnormality detection circuit is periodically checked by a check circuit, if an abnormality occurs in the semiconductor laser drive circuit, the abnormality detection operation can always be carried out without fail.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明した様に、本発明によれば、半導体レーザ駆動
回路において自動光量制御機構あるいはモニタ用フォト
ダイオードに異常が発生した時は直ちに異常検出動作が
行なわれ半導体レーザの過大発光が未然に防止できると
いう効果がある。
As explained above, according to the present invention, when an abnormality occurs in the automatic light amount control mechanism or the monitoring photodiode in the semiconductor laser drive circuit, the abnormality detection operation is performed immediately, and excessive light emission of the semiconductor laser can be prevented. There is an effect.

さらに、半導体レーザを過大発光させる事なく安全に疑
似的異常状態を作り出し、異常検出回路の動作確認を定
期的に行なう事ができる為、半導体レーザ駆動回路の異
常状態を確実に検出する事ができ安全性が著しく向上す
るという効果がある。
Furthermore, it is possible to safely create a pseudo abnormal state without causing the semiconductor laser to emit excessive light, and to periodically check the operation of the abnormality detection circuit, making it possible to reliably detect abnormal states in the semiconductor laser drive circuit. This has the effect of significantly improving safety.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は半導体レーザ駆動回路の構成図、第2図は半導
体レーザ駆動回路の詳細回路図、第3図Aは半導体レー
ザ駆動回路の動作タイミングチャート、第3図Bは半導
体レーザ駆動回路のチェックタイミングチャート、第4
図は半導体レーザ駆動回路のチェックフローチャート、
及び第5図は半導体レーザ駆動回路を利用したバーコー
ドリーダの模式的断面図である。 1・・・レーザパッケージ 1a・・・レーザダイオード lb・・・フォトダイオード 2・・・電流電圧変換抵抗  3・・・差動増幅器4・
・・積分抵抗      5・・・差動増幅器6・・・
積分コンデンサ 7・・・アナログスイッチ 10・・・駆動トランジスタ  24・・・アンドゲー
ト2B、 27及び28・・・分圧抵抗 33・・・コ
ンパレータ34・・・RSフリップフロップ 35、3Ei・・・分圧抵抗 37・・・切換えトランジスタ 101・・・モニタ回
路102・・・制御回路     103・・・電力回
路104・・・設定回路     105・・・異常検
出回路10B・・・チェック回路
Figure 1 is a configuration diagram of the semiconductor laser drive circuit, Figure 2 is a detailed circuit diagram of the semiconductor laser drive circuit, Figure 3A is an operation timing chart of the semiconductor laser drive circuit, and Figure 3B is a check of the semiconductor laser drive circuit. Timing chart, 4th
The figure is a check flowchart of the semiconductor laser drive circuit.
and FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of a barcode reader using a semiconductor laser drive circuit. 1...Laser package 1a...Laser diode lb...Photodiode 2...Current-voltage conversion resistor 3...Differential amplifier 4...
... Integrating resistor 5... Differential amplifier 6...
Integrating capacitor 7... Analog switch 10... Drive transistor 24... AND gate 2B, 27 and 28... Voltage dividing resistor 33... Comparator 34... RS flip-flop 35, 3Ei... Min. Piezoresistor 37...Switching transistor 101...Monitor circuit 102...Control circuit 103...Power circuit 104...Setting circuit 105...Abnormality detection circuit 10B...Check circuit

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、駆動電力に応じてレーザビームを放射する半導体レ
ーザと、レーザビームを光電変換し対応する電気信号を
出力する受光素子と、電気信号をモニタしレーザビーム
光量の変動に応じたモニタ信号を出力するモニタ回路と
、モニタ信号と所定の基準信号を比較しその差分に応じ
た制御信号を出力する制御回路と、制御信号に従って差
分を打消す様に駆動電力を半導体レーザに供給する電力
回路と、基準信号より大きく且つ正常時にモニタ信号が
超える事のない大きさを有する上限信号を設定する設定
回路と、上限信号とモニタ信号とを比較する事により異
常を検出し異常信号を出力する異常検出回路と、半導体
レーザが正常に点灯している時上限信号の大きさを基準
信号の大きさ以下に下げ疑似的に異常信号を出力させる
事により異常検出回路の動作を確認する為のチェック回
路とからなる半導体レーザ駆動回路。 2、異常信号に応答して半導体レーザを強制的に消灯す
る為の強制消灯回路を含む請求項1に記載の半導体レー
ザ駆動回路。 3、該異常検出回路は、上限信号に対してモニタ信号が
上回った時反転信号を出力する比較回路と、反転信号を
記憶し異常信号を持続的に出力するラッチ回路とを有す
る請求項1に記載の半導体レーザ駆動回路。 4、該チェック回路は、チェック信号に応じて上限信号
の大きさを基準信号の大きさ以下に切り換える切換回路
と、チェック信号の解除に応じてラッチ回路をリセット
し疑似的に出力された異常信号を解除する為のリセット
回路とを含む請求項3に記載の半導体レーザ駆動回路。
[Claims] 1. A semiconductor laser that emits a laser beam in accordance with driving power, a light receiving element that photoelectrically converts the laser beam and outputs a corresponding electric signal, and a light receiving element that monitors the electric signal and responds to fluctuations in the amount of laser beam light. a monitor circuit that outputs a corresponding monitor signal; a control circuit that compares the monitor signal with a predetermined reference signal and outputs a control signal according to the difference; and a control circuit that outputs a control signal according to the difference between the monitor signal and a predetermined reference signal; A power circuit that supplies power, a setting circuit that sets an upper limit signal that is larger than a reference signal and has a magnitude that the monitor signal does not exceed during normal operation, and detects an abnormality by comparing the upper limit signal and the monitor signal and generates an abnormal signal. The operation of the abnormality detection circuit is confirmed by lowering the magnitude of the upper limit signal below the reference signal magnitude and outputting a pseudo abnormality signal when the semiconductor laser is normally lit. A semiconductor laser drive circuit consisting of a check circuit for 2. The semiconductor laser drive circuit according to claim 1, further comprising a forced extinguishing circuit for forcibly extinguishing the semiconductor laser in response to an abnormal signal. 3. The abnormality detection circuit according to claim 1, comprising a comparison circuit that outputs an inverted signal when the monitor signal exceeds the upper limit signal, and a latch circuit that stores the inverted signal and continuously outputs the abnormal signal. The semiconductor laser drive circuit described. 4. The check circuit includes a switching circuit that switches the magnitude of the upper limit signal to be equal to or less than the magnitude of the reference signal in response to the check signal, and a pseudo abnormal signal that resets the latch circuit in response to cancellation of the check signal. 4. The semiconductor laser drive circuit according to claim 3, further comprising a reset circuit for canceling.
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