JPH03220520A - 空間光変調器 - Google Patents
空間光変調器Info
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- JPH03220520A JPH03220520A JP2015113A JP1511390A JPH03220520A JP H03220520 A JPH03220520 A JP H03220520A JP 2015113 A JP2015113 A JP 2015113A JP 1511390 A JP1511390 A JP 1511390A JP H03220520 A JPH03220520 A JP H03220520A
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- electric field
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Landscapes
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は高解像度・高速応答性・高コントラストを有し
、入射角度依存性が少なく、光の透過率が80%以上の
空間光変調器に関するものである。
、入射角度依存性が少なく、光の透過率が80%以上の
空間光変調器に関するものである。
(従来の技術)
電気による演算速度が10 Gbit/secのレベル
で限界に達し、100〜1000 Gbit/secの
速度で演算を行うには、光による情報処理が不可欠と言
われている。そのキーデバイスとなる光スィッチ、空間
光変調器、光双安定素子などの研究が盛んとなっている
。特に2次元の光で人力した光情報を2次元で一度に処
理できる空間光変調素子はその中心的デバイスである。
で限界に達し、100〜1000 Gbit/secの
速度で演算を行うには、光による情報処理が不可欠と言
われている。そのキーデバイスとなる光スィッチ、空間
光変調器、光双安定素子などの研究が盛んとなっている
。特に2次元の光で人力した光情報を2次元で一度に処
理できる空間光変調素子はその中心的デバイスである。
空間光変調器とは、入力した光の振幅または位相を空間
的に実時間に変調する光学素子であり、図形やデータパ
ターンのような2次元情報を空間的に表示し、処理する
素子である。
的に実時間に変調する光学素子であり、図形やデータパ
ターンのような2次元情報を空間的に表示し、処理する
素子である。
空間光変調器は大きく分けると、電気入力形のものと光
入力形のものとの2種類ある。
入力形のものとの2種類ある。
まず電気人力形のものについて説明する。大きな電気光
学効果を有する結晶(PLZT、液晶)の両側にマトリ
クス透明電極を設け、行と列から入力信号電圧を印加し
て、その−故点に電圧を印加する。電気光学結晶はこの
電界によって直線偏光を楕円偏光に変換するので、両側
に互いに直行する偏光子を前後に置くと、2次元で入力
した光の強度変調した2次元の光が出射側で得られる。
学効果を有する結晶(PLZT、液晶)の両側にマトリ
クス透明電極を設け、行と列から入力信号電圧を印加し
て、その−故点に電圧を印加する。電気光学結晶はこの
電界によって直線偏光を楕円偏光に変換するので、両側
に互いに直行する偏光子を前後に置くと、2次元で入力
した光の強度変調した2次元の光が出射側で得られる。
光入力形のものの動作原理は種々あるが、共通するのは
、■2次元入カバターンに応じた電圧分布を素子上に作
る、■その電圧パターンに応じて、素子上に何等かの光
学的変化をもたらす、ことである。■の過程には材料自
体の持つ光伝導性(BSOの場合)を利用するか、光伝
導膜を付加する(液晶、サーモプラスチックの場合)。
、■2次元入カバターンに応じた電圧分布を素子上に作
る、■その電圧パターンに応じて、素子上に何等かの光
学的変化をもたらす、ことである。■の過程には材料自
体の持つ光伝導性(BSOの場合)を利用するか、光伝
導膜を付加する(液晶、サーモプラスチックの場合)。
また■の光学的変化については電気光学効果(ポッケル
ス効果等)を利用する。代表的なものにはBSO空間光
変調器、液晶とアモルファス5i(a−3i)とを組み
合わせた空間光変調器がある。その他、種々の空間光変
調器があるが、これまで開発された空間光変調器は以下
の欠点があった。
ス効果等)を利用する。代表的なものにはBSO空間光
変調器、液晶とアモルファス5i(a−3i)とを組み
合わせた空間光変調器がある。その他、種々の空間光変
調器があるが、これまで開発された空間光変調器は以下
の欠点があった。
■ ボーライザ・アナライザ(偏光子)が必要であり、
このため空間光変調器を通ると光の強度が半分以下に減
衰してしまう。
このため空間光変調器を通ると光の強度が半分以下に減
衰してしまう。
■ 応答速度が遅い。(特に液晶は数m5ec以上遅い
) ■ BSO,LNバルク単結晶を用いた空間光変調器は
印加電圧が高い。(数1000 Vの電圧が必要)■
解像度が低い。(最高で100本/mm程度)のは電気
光学効果を利用する限り、避けられない問題である。■
は液晶の材質の改善を図ることにより最近改善されつつ
ある。■は電気光学常数の画期的に大きな材料を開発し
なければ、解決できない。■は素子の膜厚に大きく依存
し、解像度はその膜厚とほぼ等しい。
) ■ BSO,LNバルク単結晶を用いた空間光変調器は
印加電圧が高い。(数1000 Vの電圧が必要)■
解像度が低い。(最高で100本/mm程度)のは電気
光学効果を利用する限り、避けられない問題である。■
は液晶の材質の改善を図ることにより最近改善されつつ
ある。■は電気光学常数の画期的に大きな材料を開発し
なければ、解決できない。■は素子の膜厚に大きく依存
し、解像度はその膜厚とほぼ等しい。
これらの問題を解決するため、電気光学効果を用いず、
電界印加による半導体の吸収係数の変化(フランツケル
デイツシュ効果)を利用した空間光変調器も研究されて
いる。BabonasらはCdTe多結晶薄膜に電界を
印加してその吸収端をシフトさせ、光の変調を行うこと
を検討した。(Sov、 J。
電界印加による半導体の吸収係数の変化(フランツケル
デイツシュ効果)を利用した空間光変調器も研究されて
いる。BabonasらはCdTe多結晶薄膜に電界を
印加してその吸収端をシフトさせ、光の変調を行うこと
を検討した。(Sov、 J。
Opt、 Technol、 37 (1970) 4
01)ガラス基板上のCdTea膜(0,5〜2.0μ
m)に二つの電極を形威し、その間に電界(I X 1
0’V/ cm)を印加し、バンド付近の光(760n
m)の変調効果を調べた結果、約20%の変調ができる
ことを報告している。また本枠はZnZeバルク多結晶
に電界(5X10’V/cm)を印加し、Arレーザの
476.5 nmの光を入射して、50%の変調ができ
ると報告している( Jpn、 J。
01)ガラス基板上のCdTea膜(0,5〜2.0μ
m)に二つの電極を形威し、その間に電界(I X 1
0’V/ cm)を印加し、バンド付近の光(760n
m)の変調効果を調べた結果、約20%の変調ができる
ことを報告している。また本枠はZnZeバルク多結晶
に電界(5X10’V/cm)を印加し、Arレーザの
476.5 nmの光を入射して、50%の変調ができ
ると報告している( Jpn、 J。
Appl、 Phys、、 16(1977) 591
)。しかしこれらの素子では高電界を印加すると絶縁破
壊が生じるので、電界を十分高く印加できず、変調率は
低いという問題があった。
)。しかしこれらの素子では高電界を印加すると絶縁破
壊が生じるので、電界を十分高く印加できず、変調率は
低いという問題があった。
(発明が解決しようとする課題)
本発明は、光の強度の減衰が少なく、かつ応答速度が速
く、解像度が高く、印加電圧が低く、変調率が100%
に近い空間光変調器を提供することにある。
く、解像度が高く、印加電圧が低く、変調率が100%
に近い空間光変調器を提供することにある。
(課題を解決するための手段)
本発明の空間光変調器は、透明電極/絶縁層/ZnS、
ZnSeに代表されるワイドギャップ多結晶層/絶縁
層/透明電極/ガラスの構造を有する。
ZnSeに代表されるワイドギャップ多結晶層/絶縁
層/透明電極/ガラスの構造を有する。
すなわち本発明は、フランツケルデインシュ効果を利用
した電気および光書き込み形空間光変調器において、Z
nS、 ZnSe多結晶薄膜をS+Oz、 TazOs
+Smz03+ A I220++ Si:lN4
等の絶縁層で挟み、これらの薄膜に垂直に電界を印加
することにより、高電界(0,2〜2.OMV/cm以
上)を絶縁破壊することなく安定にZnS、 ZnSe
層に印加し、十分な変調を得られるようにする。
した電気および光書き込み形空間光変調器において、Z
nS、 ZnSe多結晶薄膜をS+Oz、 TazOs
+Smz03+ A I220++ Si:lN4
等の絶縁層で挟み、これらの薄膜に垂直に電界を印加
することにより、高電界(0,2〜2.OMV/cm以
上)を絶縁破壊することなく安定にZnS、 ZnSe
層に印加し、十分な変調を得られるようにする。
本発明でZnS、 ZnSe、 Zn5xSe+−x多
結晶薄膜に高電界(0,2〜2.OMV/cm以上)が
安定に印加できることについて説明する。
結晶薄膜に高電界(0,2〜2.OMV/cm以上)が
安定に印加できることについて説明する。
材料の絶縁破壊電界は、その材料の持つイオン化エネル
ギーに大きく依存しており、イオン化エネルギーが大き
いほど絶縁耐圧が高い。イオン化エネルギーはその材料
の不純物がドーピングされていない限り、そのバンドギ
ャップエネルギーに依存し、バンドギャップエネルギー
が大きいほどイオン化エネルギーが大きい。すなわちバ
ンドギャップエネルギーが大きいほど絶縁耐圧が高い。
ギーに大きく依存しており、イオン化エネルギーが大き
いほど絶縁耐圧が高い。イオン化エネルギーはその材料
の不純物がドーピングされていない限り、そのバンドギ
ャップエネルギーに依存し、バンドギャップエネルギー
が大きいほどイオン化エネルギーが大きい。すなわちバ
ンドギャップエネルギーが大きいほど絶縁耐圧が高い。
その意味でワイドギャップ半導体であるZnS、 Zn
Seの絶縁耐圧は高い。しかしZnS、 ZnSe多結
晶薄膜はピンホールを持ち、直接電極を付けて高電圧を
印加すると、そこから本来の絶縁耐圧よりも小さい電界
で絶縁破壊してしまうという問題があった。
Seの絶縁耐圧は高い。しかしZnS、 ZnSe多結
晶薄膜はピンホールを持ち、直接電極を付けて高電圧を
印加すると、そこから本来の絶縁耐圧よりも小さい電界
で絶縁破壊してしまうという問題があった。
しかし本発明でZnS、 ZnSe多結晶薄膜に、5i
OzTa20s、 SmzolA l z03. Si
3Nmなどの絶縁層を、片側または両側に積層すると、
これらの電流の流れが止められ、またピンホールの問題
も解決され、安定に高電界(0,2〜2.OMV/cm
)を印加できるようになることがわかった。ただし、高
電圧を安定に印加できる絶縁膜は限られたものであり、
以下の条件が必要であることがわかった。絶縁膜に要求
される条件としては、■ZnS、 ZnSeとの密着性
がよい。■ZnS、 ZnSeに有効に電界を印加する
ため、誘電率が高い、■たとえビンポールで絶縁破壊が
起きても、微少な部分で破壊が止まり、空間光変調器全
体に破壊が広がらない、等の条件がある。特にこれは上
側の絶縁層に要求される。本願の発明者らは種々の絶縁
材料を検討した結果、表1の絶縁層または絶縁層の組合
せが高電圧印加可能であることがわかった。
OzTa20s、 SmzolA l z03. Si
3Nmなどの絶縁層を、片側または両側に積層すると、
これらの電流の流れが止められ、またピンホールの問題
も解決され、安定に高電界(0,2〜2.OMV/cm
)を印加できるようになることがわかった。ただし、高
電圧を安定に印加できる絶縁膜は限られたものであり、
以下の条件が必要であることがわかった。絶縁膜に要求
される条件としては、■ZnS、 ZnSeとの密着性
がよい。■ZnS、 ZnSeに有効に電界を印加する
ため、誘電率が高い、■たとえビンポールで絶縁破壊が
起きても、微少な部分で破壊が止まり、空間光変調器全
体に破壊が広がらない、等の条件がある。特にこれは上
側の絶縁層に要求される。本願の発明者らは種々の絶縁
材料を検討した結果、表1の絶縁層または絶縁層の組合
せが高電圧印加可能であることがわかった。
表1
高電界印加可能な絶縁層の組合せ
これらの絶縁膜を用いると、ZnSeで約I MV/c
+n、 ZnSで2MV/cmの高電界を大面積に印加
できることがわかった。また外部からの電圧をさらに高
くしても、ZnS、 ZnSeの電界がこれらの値に一
定に飽和し、絶縁膜にかかる電界が高くなるのみで、空
間光変調器は破壊しないという特異な現象を示すことが
わかった。空間光変調器の耐圧は絶縁膜の絶縁耐圧で決
り、絶縁膜に約5〜6MV/cmの電界がかかると破壊
を始めた。ガラス基板上、大面積(対角20cm以上)
の素子で、安定にZnS。
+n、 ZnSで2MV/cmの高電界を大面積に印加
できることがわかった。また外部からの電圧をさらに高
くしても、ZnS、 ZnSeの電界がこれらの値に一
定に飽和し、絶縁膜にかかる電界が高くなるのみで、空
間光変調器は破壊しないという特異な現象を示すことが
わかった。空間光変調器の耐圧は絶縁膜の絶縁耐圧で決
り、絶縁膜に約5〜6MV/cmの電界がかかると破壊
を始めた。ガラス基板上、大面積(対角20cm以上)
の素子で、安定にZnS。
ZnSe層に1〜2 MV 7cmの高電界を印加可能
であることがわかった。以上のように高電界を大面積に
印加することが可能であるので、以下のようにフランツ
ケルデイツシュ効果を用いた空間光変調器を実現できた
。
であることがわかった。以上のように高電界を大面積に
印加することが可能であるので、以下のようにフランツ
ケルデイツシュ効果を用いた空間光変調器を実現できた
。
(実施例)
以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。
。
裏嵐奥土
第1図は、本発明の電気入力型の空間光変調器の一実施
例を示し、(a)は斜視図、(b)は側面図であって、
lはガラス基板、2はInzO:+(ITO)透明電極
、3はTa、O3絶縁層、4はZn5o、os Seo
、q5多結晶薄膜層、5はSiO□絶縁層、6は直流電
源、7は入射光、8は出力光である。入射光7にはAr
レーザの476.5 nmを用いた。透明電極2、絶縁
層3はスパッタ法により作製し、Zn5o、。5Seo
、 qs多結晶薄膜層4はEB蒸着法により作製した。
例を示し、(a)は斜視図、(b)は側面図であって、
lはガラス基板、2はInzO:+(ITO)透明電極
、3はTa、O3絶縁層、4はZn5o、os Seo
、q5多結晶薄膜層、5はSiO□絶縁層、6は直流電
源、7は入射光、8は出力光である。入射光7にはAr
レーザの476.5 nmを用いた。透明電極2、絶縁
層3はスパッタ法により作製し、Zn5o、。5Seo
、 qs多結晶薄膜層4はEB蒸着法により作製した。
上下のITO透明電極2はストライプ状にパターニング
され互いに直交する。ITOi3明電極2のピッチは1
00本/mmである。ガラス基板1は2.5X2.5c
mである。有効素子面積は1.OXl、Ocmである。
され互いに直交する。ITOi3明電極2のピッチは1
00本/mmである。ガラス基板1は2.5X2.5c
mである。有効素子面積は1.OXl、Ocmである。
Ta205絶縁層3の膜厚は0.5μm 、 5iOz
絶縁N5の薄膜は0.171 m 、 Zn5o、 o
sSeo、 qs層4の薄膜は1.0μmである。
絶縁N5の薄膜は0.171 m 、 Zn5o、 o
sSeo、 qs層4の薄膜は1.0μmである。
Zn5o、 osSeo、 qs層に3X10sV/c
mの電界を印加した場合(印加電圧は約30V)の吸収
スペクトルを第2図に示す。約20 nmのシフトが観
測された。
mの電界を印加した場合(印加電圧は約30V)の吸収
スペクトルを第2図に示す。約20 nmのシフトが観
測された。
印加電界と吸収端のシフト量を第3図にプロットする。
シフト量は
ΔEo =2.76X109・E” (meV)に従う
。
。
電界は0.9 MV /cmt、こなった時にクランプ
し、外部電圧を高くしてもそれ以上電界はかからなかっ
た。
し、外部電圧を高くしてもそれ以上電界はかからなかっ
た。
Arレーザの波長476.5 nrrlの光の変調率M
(= 1.、 I。tt/ lo−)の印加電界依存
性を第4図に示す。電界を2X10’ν/ cm以上印
加することにより変調率を100%とすることができた
。
(= 1.、 I。tt/ lo−)の印加電界依存
性を第4図に示す。電界を2X10’ν/ cm以上印
加することにより変調率を100%とすることができた
。
またパルス電圧を印加した場合の出力光の対応性を第5
図に示す。出力光の立ち上がり、立ち下がり時間は約3
0 n5ecであり、非常に応答速度が速い。
図に示す。出力光の立ち上がり、立ち下がり時間は約3
0 n5ecであり、非常に応答速度が速い。
この実験では解像度が100本/mmであったが、空間
光変調器の薄厚が約2μmであるので、500本/mm
まで解像度を上げることができる。また空間光変調器に
入射する光の入射角度を±20°変化させたが、出力光
強度に変化は見られなかった。
光変調器の薄厚が約2μmであるので、500本/mm
まで解像度を上げることができる。また空間光変調器に
入射する光の入射角度を±20°変化させたが、出力光
強度に変化は見られなかった。
また本発明の空間光変調器ではアナライザ・ポーラライ
ザ等の偏光子を使用しないので、光の透過率は80%近
い。この実験では2重絶縁構造のものを用いたが、片側
絶縁構造でも効果は同じであった。
ザ等の偏光子を使用しないので、光の透過率は80%近
い。この実験では2重絶縁構造のものを用いたが、片側
絶縁構造でも効果は同じであった。
またこの実験ではZn5o、。5Seo、 qsを用い
たが、ZnS 、 ZnSeおよびZnSSe混晶でも
同様の効果が得られる。また他のCaS、 SrS等の
ワイドギャップ半導体でも効果が期待できる。多結晶薄
膜をZnSにした場合、最大2MV/cmまで印加でき
、吸収端のシフト量をさらに大きくできた。
たが、ZnS 、 ZnSeおよびZnSSe混晶でも
同様の効果が得られる。また他のCaS、 SrS等の
ワイドギャップ半導体でも効果が期待できる。多結晶薄
膜をZnSにした場合、最大2MV/cmまで印加でき
、吸収端のシフト量をさらに大きくできた。
夫施班童
第6図は、本発明の光入力形空間光変調器の他の実施例
の側面図であって、1〜8は実施例1と1〜8と同一の
ものであり、9は光伝導層アモルファスSi (a−3
i) 、10は書き込み光である。11は誘電体多層膜
ミラーであって、これは書き込み光と入射・出力光を分
離し、入射光を有効に反射させるためのものであり、E
B蒸着法によって作製した。12はハーフミラ−である
。a −5iの膜厚は371 m 、 Zn5o、 0
5se0.115の膜厚は1 pm 、絶縁層の膜厚は
全体で0.5μmである。
の側面図であって、1〜8は実施例1と1〜8と同一の
ものであり、9は光伝導層アモルファスSi (a−3
i) 、10は書き込み光である。11は誘電体多層膜
ミラーであって、これは書き込み光と入射・出力光を分
離し、入射光を有効に反射させるためのものであり、E
B蒸着法によって作製した。12はハーフミラ−である
。a −5iの膜厚は371 m 、 Zn5o、 0
5se0.115の膜厚は1 pm 、絶縁層の膜厚は
全体で0.5μmである。
素子全体に150vの電圧を印加した状態で、633n
mのHe−Neレーザでa −Siにパターンを書き込
んだ。その時の反射スペクトルを第7図に示す。
mのHe−Neレーザでa −Siにパターンを書き込
んだ。その時の反射スペクトルを第7図に示す。
150 V印加した状態でHe −Neレーザを入射さ
せないと、a−5iは高抵抗であり、約3X10’V/
cmの電界がZn5o、 osSeo、 9511にか
かる。He−Neを入射させると、a−Siが伝導性と
なり、ZnS6.。。
せないと、a−5iは高抵抗であり、約3X10’V/
cmの電界がZn5o、 osSeo、 9511にか
かる。He−Neを入射させると、a−Siが伝導性と
なり、ZnS6.。。
Seo、 lls層にI X10’V/cmの電界がか
かる。このため吸収端は約20nmシフトする。入射光
をArレーザの476.5 nmにした場合、He−N
eレーザの書き込みのオン・オフで100%に近い変調
率を得ることができた。
かる。このため吸収端は約20nmシフトする。入射光
をArレーザの476.5 nmにした場合、He−N
eレーザの書き込みのオン・オフで100%に近い変調
率を得ることができた。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明の空間光変調器は、ZnS
、 ZnSeに代表されるワイドギャップの多結晶薄膜
に絶縁層を積層することにより、1〜2 MV/ cm
の高電界を大面積に安定に印加できる。これにより大き
なフランツケルデイツシュ効果が出現し、この効果を用
いて空間光変調器を実現できた。
、 ZnSeに代表されるワイドギャップの多結晶薄膜
に絶縁層を積層することにより、1〜2 MV/ cm
の高電界を大面積に安定に印加できる。これにより大き
なフランツケルデイツシュ効果が出現し、この効果を用
いて空間光変調器を実現できた。
この本発明の空間光変調器は、■膜厚が数μmであるの
で、解像度が非常に高い(数百本/mm)、■フランツ
ケルデイツシュ効果を利用しているので、応答速度が非
常に速い、■変調率を100%近くにできる。■入射角
度によりコントラストが変化しない、■光の透過率は8
0%以上である、等の優れた特長を持つ。
で、解像度が非常に高い(数百本/mm)、■フランツ
ケルデイツシュ効果を利用しているので、応答速度が非
常に速い、■変調率を100%近くにできる。■入射角
度によりコントラストが変化しない、■光の透過率は8
0%以上である、等の優れた特長を持つ。
第1図は本発明の電気入力型の空間光変調器の一実施例
を示し、(a)は斜視図、(b)は側面図、第2図は電
圧印加による本発明の空間光変調器の吸収スペクトルの
変化を示す図、 第3図は吸収端のシフト量の印加電界依存性を示す図、 第4図は本発明の空間光変調器の変調率の電界印加依存
性を示す図、 第5図は本発明の空間光変調器の応答特性を示す図、 第6図は本発明の光入力形空間光変調器の他の実施例の
側面図、 第7図は本発明の空間光変調器の吸収スペクトルの書き
込み光依存性を示す図である。 1・・・ガラス基板 2・・・透明電極3−・
−Ta、0.絶縁層 4−ZnSo、 osse
o、 qs層5・・・SiO□ 6・・
・直流電源7・・・入射光 8・・・出力
光9・・・a −5i 10・・・書き
込み光11・・・誘電体多層膜ミラー 12・・・ハー
フミラー第1図 (a) (b) 第2図 5皮 長(pm) 第3図 03 O4 05f06 印力O電界E(V/cm) 第4図 fo q−・−丸イ云1層アモルファス5iCa−8i)グ2
− ハーフミラ− 第7図 浪 長cμm)
を示し、(a)は斜視図、(b)は側面図、第2図は電
圧印加による本発明の空間光変調器の吸収スペクトルの
変化を示す図、 第3図は吸収端のシフト量の印加電界依存性を示す図、 第4図は本発明の空間光変調器の変調率の電界印加依存
性を示す図、 第5図は本発明の空間光変調器の応答特性を示す図、 第6図は本発明の光入力形空間光変調器の他の実施例の
側面図、 第7図は本発明の空間光変調器の吸収スペクトルの書き
込み光依存性を示す図である。 1・・・ガラス基板 2・・・透明電極3−・
−Ta、0.絶縁層 4−ZnSo、 osse
o、 qs層5・・・SiO□ 6・・
・直流電源7・・・入射光 8・・・出力
光9・・・a −5i 10・・・書き
込み光11・・・誘電体多層膜ミラー 12・・・ハー
フミラー第1図 (a) (b) 第2図 5皮 長(pm) 第3図 03 O4 05f06 印力O電界E(V/cm) 第4図 fo q−・−丸イ云1層アモルファス5iCa−8i)グ2
− ハーフミラ− 第7図 浪 長cμm)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、透明電極/絶縁層/ZnS、ZnSeに代表される
ワイドギャップ多結晶層/絶縁層/透明電極/ガラスの
構造を有することを特徴とする空間光変調器。 2、透明電極と絶縁層の間に光伝導層を有することを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の空間光変調器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015113A JPH03220520A (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 空間光変調器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015113A JPH03220520A (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 空間光変調器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03220520A true JPH03220520A (ja) | 1991-09-27 |
Family
ID=11879773
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015113A Pending JPH03220520A (ja) | 1990-01-26 | 1990-01-26 | 空間光変調器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03220520A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011069946A (ja) * | 2009-09-25 | 2011-04-07 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 空間光変調器および露光装置 |
-
1990
- 1990-01-26 JP JP2015113A patent/JPH03220520A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011069946A (ja) * | 2009-09-25 | 2011-04-07 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 空間光変調器および露光装置 |
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