JPH03205512A - コンポーネントのネットワーク特に電子回路を試験する装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は構成要素（以下においてコンポーネントと称す
る）のネットワーク、そして限定はされないが、特に電
子回路の試験に関する。

本発明は、電子回路の誤動作の発生箇所を確認する診断
装置としてとりわけ有用であるが、本明細書において「
試験」という用語は、障害を修理するという概念に限定
的に関係づけられるのではなく、特に、正しく機能する
と想定″されるネットワークにおいて実行されるいかな
る制御操作をも３． 包含するものである。

〔従来の技術〕

誤動作の発生箇所を診断すること、つまり不正に機能す
る電子回路において一個あるいは複数個の欠陥コンポー
ネントの位置を確認することは、一般的に困難な作業で
あり、通常資格ある作業者を必要とする。

各種の電子回路に直面する保守スタッフは、回路の機能
の目的やモードが常に分かるわけではないし、この仕事
を行なうために保守マニュアルを携帯することがあると
しても、通常は電子回路図だけしか持ち合わせないこと
が多い。

その場合、この作業者は、「手作業で」測定と演算を実
行し、診断を確定するため、あるコンポーネントの正し
いまたは誤った動作に関して自分で仮説を立てることが
できる。しかしながら、この作業全体は、一般的に退屈
で、慎重な扱いとかなりの時間を要し、しかも産業的に
受け入れられないほどの誤りを犯すリスクを伴うもので
ある。

これに代わるものの一つは、「エキスパートシステム」
で用いられるタイプのソフトウェアプログラムを使用す
ることである。しかしながら、この方法は調査される誤
動作が予想し得るものか、既に認められたものであり、
事前に索引に載せられたものであることが前提とされて
いる。しかし、これは必ずしもすべての誤動作に当ては
まる訳ではない。更に、このソフトウェアプログラムの
中には、回路の正動作の外見について事前の記述を必要
とするものがあり、ある場合にはその記述は強制的なも
のになっている。更に、当該ソフトウェアプログラムは
すべてのタイプの回路に対して必ずしも用意されておら
ず、そして一般的にその設定や使用が難しい。　用いら
れる方法のいかんに拘らず、一般的に、保守作業員が常
に直面する主要な問題は、解釈、分析、および実行可能
な測定と観察の適切な利用。ドウベ他（ＤＢＶＢＳ　ｅ
ｔ　ａｌ）によるｒＤＥＤＡＬＥ：アナログ回路の故障
発見のためのエキスパートシステム」国際試験会ｓＩＩ
１９８７、ＩＥＥＥカタ０グＮｏ．８７ＣＨ２４３７−
２．５８６−５９４頁の記事は、電子回路の試験が可能
なエキスパートシステムについて説明している。しかし
ながら、このシステムは、本発明によって解決される問
題には対処できない。

即ち、工業魁品として妥当な価格で、操作が簡単な、し
かも、できるだけ迅速、的確に予想された誤動作の位置
を確認する仕事に携わる保守作業員のための効果的な助
けとなる試験装置を提供することはできないのである。

　本発明はこの問題に対する解決を与える。

すなわち本発明は、保守作業員による誤動作の調査を援
助するため、仮説の計算や取扱いを自動化する装置を提
供することを目的とする。

本発明の１つの目的は、必ずしも試験対象のネットワー
クの完全な記述を必要としないで、またこのネットワー
クの機能の外見の記述をも必要としないで使用できる装
置を提供することである。

この発明の別の目的は、修理されるネットワークの機能
のモードについて、また誤動作の兆候に関して特別な知
識を必要としないで使用できる装置を提供することであ
る。　この発明のもう１つの目的は、スタテックモード
またはダイナミックモードで作動するコンポーネントの
ネットワークのアナログ誤動作の診断ができるようにす
ることである。　この発明の更にもう１つの目的は、誤
動作の位置を見つけるための特別な所定手続をふまなく
ても診断に対する高度な信頼性を提供することである。

　この発明はまた、市場で人手し得る部品をかなりの割
合で使用した装置を提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の一般的な特徴によれば、コンポーネントのネッ
トワークを試験する電子装置は、　選択された時間間隔
でサンプリング時点を定義する手段、ネットワークのコ
ンポーネントを少なくとも１つ確認する手段、該コンポ
ーネントの動作状態に関する、例えば電位差などの、物
理量を得るためのプローブ、および前記選択された時間
間隔内で前記物理量の一連のサンプルを提供するためプ
ローブと協働する手段、を有するインタフェース手段；
　少なくとも１つの特定種類のコンポーネントに関する
物理量に関する要素式からなる機能モデル記憶装置： 前記ネットワークの異なるコンポーネントに関する、し
かし同じ時間間隔に対応した、物理量の複数の連続サン
プルを記憶できる数値記憶装置：そして、　前記モデル
に含まれる前記式と獲得サンプルを考慮して、上記時間
間隔にわたる物理量、例えば電流の強さの値、の推定、
および該物理量の前記数値記憶装置への格納、および該
数値記憶装置に含まれた数値の試験からなる処理手続を
実行することができる、前記記憶装置および前記インタ
フェースに接続された処理手段、 を組み合せて有している。

この試験装置が、対象ネットワーク内で検出された各種
物理量の詳細、および特にコンポーネントの機能特性に
関する不確実性を扱えることは、特に有利な点である。

　それで、本発明の１実施例においては、下記のものを
提供できる。　物理量間の一般的関係を表す法則式を更
に含む機能モデル、　プレシジョン・ブラケット　（ｐ
ｒｅｃｓｉｏｎ　ｂｒａＣｋｅｔ，　　仏語ｆｏｕｒｃ
ｈｅｔｔｅ　ｄｅ　ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ）とともに記憶
装置に格納される、検出サンプルの少なくとも一部、　
アンサーティンティ・ブラケット（ｕｎｃｅｒｔａｉｎ
ｔｙ　ｂｒａｃｋｅｔ，　　仏語ｆｏｕｒｃｈｅｔｔｅ
　ｄ’　ｉｎｃｅｒｔ　ｉｔｕｄｅ　）の少なくとも一
部しか提供しない機能モデル、 前記アンサーティンティ・ブラケットと前記プレシジョ
ン・ブラケットの少なくとも一部から導かれる、推定ア
ンサーティンティ・ブラケットの記憶装置に格納される
推定値、　前記記憶装置が少なくとも幾つかのサンプリ
ング時点以上を含む場合、同一物理量に対しコンポーネ
ントの初期集合の寄与に基づいて確定された、出処の異
なる第一および第二ブラケット、この初期集合のコンポ
ーネントの機能に関する第一情報を演鐸するため、この
２つのブラケットを比較することができる。

詳細は後述するが、本発明による試験の原則は、上記第
一および第二ブラケットが前記時間間隔の少なくとも有
意の部分において共通元を持たテ名い場合には、該第一
情報がこの２つのブラケットの確定に寄与したコンポー
ネントの前記初期集合の少なくとも１つのコンポーネン
トの誤動作を表しているという事実に基づいている。

比較対照される２つのブラケットの組み合わせとしては
、プレシジョン・ブラケットと推定アンサーティンティ
・ブラケット、又は２つの推定アンサーティンティ・ブ
ラケット、又はプレシジョン・ブラケットとコンポーネ
ントモデルから取られた参照ブラケット、又は推定アン
サーティンティ・ブラケットと参照ブラケットが考えら
れる。

本発明のもう１つの目的は、最少回数のデータ獲得で１
あるいは複数の故障したコンポーネントを診断するため
、物理量を得る有効な方法、またその他の物理量を推定
する有効な方法を装置の利用者に提示できる処理手段を
有する電子試験装置を提供することである。　このよう
にして、故障コンポーネントを高速に識別できるように
するため、その処理過程は、ネットワーク構造に結び付
いた意思決定メカニズムのオペレーションからなるよう
にすれば有利であり、次のものからなる各種物理量を得
るコンポーネントの選択、順番決定に関する第一メカニ
ズム；そして、　物理量の推定に関する第二のメカニズ
ム。

他の実施例においては、コンポーネントのネットワーク
は電子回路であり、プローブは回路の選択された２つの
ターミナル間の電位差を得ることができ、指定手段によ
り、前記ターミナル間に接続された少なくとも１つのコ
ンポーネントを指定することができる。数値記憶装置は
、第一の共通ターミナルとそれに隣接した他の複数のタ
ーミナル間の、同じ時間間隔に対する、多くの電位差を
格納できる。各電位差に関するデータ処理は対象コンポ
ーネントの機能モデルから得られた電流式の前記時間間
隔にわたる推定からなる。次いで、処理手段は、前記時
間間隔内の各サンプリング時点における電流式のセット
について条件を試験することができる。その条件は、上
記第一の共通ターミナルにおける合計電流はＯと想定さ
れることを考慮したものであり、この試験に・より前記
第一の共通ターミナルに接続されたコンポーネントの機
能に関する第一の指標を提供される。　発明のその他の
利点と特性は、下記の詳細な説明と添付図面から明らか
になるであろう。

〔実施例〕

第１図に示された装置は、一方で修理を要するコンポー
ネントのネットワークＣＩ，他方では利用者と連絡する
ため、記憶装置ＭＭとインタフェース手段ＭＩＮに接続
した処理手段ＭＴから構成されている。

利用者へのインタフェースは、キーボード手段ＣＬと表
示手段例えばスクリーンＭＡＦによって構成されている
。特に、もしネットワークの構造がまだ記憶されていな
いならば、キーボードを用いてネットワークの少なくと
も１つのコンポーネントを指定し、また選択された時間
間隔内のサンプリング時点を決定することができる。

特にスクリーンは試験中に装置により判明した１つある
いは複数の故障コンポーネントを表示することができる
。

コンポーネントの機能状態に関して必要なタイプの物理
量を検出できるプローブ手段（以下、より簡単にプロー
ブと称する）、および選択された時間間隔内にこの物理
量の一連のサンプルを供給するため該プローブと協働す
る手段ＡＭＳＭＮＣによって、コンポーネントのネット
ワークとのインタフェースが取られる。検出される物理
量が電位差である時、このプローブは一般に、更に個別
プローブＡＯとＡ１から構成され、これら個別プローブ
はアナログ増幅器ＡＭを経由して、測定値をディジタル
化する実行可能手段ＭＮＣに接続されている。　装置の
記憶装置は機能的に次のものに分類できる。　少なくと
も１つの特定コンポーネントに関する物理量に適用され
るコンポーネント式、及び物理量の一般的関係を表わす
法則式からなる機能モデル記憶装置ＭＭ２。　同一時間
間隔におけるネットワークの異なるコンポーネントに関
する多くの連続サンプルを格納できる数値記憶装置ＭＭ
Ｉ。

必要ならば、コンポーネントのネットワークの構造を格
納できる記憶装置。　特に装置の作業アルゴリズム、及
び装置の使用に関係する各種データ又は命令を格納して
いる記憶装置ＭＭ３。

ハードウェアについては、これらの機能的記憶装置セッ
トを単一の記憶装置にまとめるか、個別の記憶装置に少
なくともその一部を割り当てることができる。　実際、
第２図に説明するように、約１００の電子コンポーネン
トを予定した電子装置の場合、その装置の処理手段は、
キーボードと英数字スクリーンに接続された従来のマイ
クロコンピュータＵＣに収められている。このマイクロ
コンピュータに、特に装置の作業アルゴリズムと各種モ
デルを含む工．４４メガオクテートの容量の領域と約４
メガオクテートの作業用中央記憶領域を有する大容量記
憶装置、例えばディスク装置ＤＩＳを備えることは有利
である。　別個に設けられた数値オシロスコープ○ＳＣ
は、ネットワークの２つのターミナル間の電位差を検出
するために用いられるプローブを備えることができる。

このオシロスコープを用いて、選択された時間間隔とサ
ンプリング時点を定義することができ、装置の中央ユニ
ットに、検出された物理量の一連のサンプルを、例えば
デジタルバスＬｌを通して、供給するために使用するこ
とができる。

この構成において、修理対象回路ＣＩは試験スタンドＢ
ＡＮに接続される。この試験スタンドは回路の誤動作が
明らかになる特別な状況で回路を作動させるように、一
次人力を起動できる。しかしながら、本発明の装置によ
り直接にその回路を起動するようにすることもできる。

　一殻的に、当該記憶装置とインタフェース手段に接続
された処理手段は処理作業を実行できる。次のものから
なる。

モデルの記憶装置に含まれた式と検出サンプルを考慮す
る所定時間間隔の物理量の判断機能。

数値記憶装置への格納、およびこの数値記憶装置に含ま
れた数値の試験。　上述の実際例では、中央作動記憶装
置はこの数値記憶装置を組み込んでいる。　本発明によ
る一実施例では、装置は、各種コンポーネントの特性に
関する不確実性と同様に、プローブの確実性が考慮に入
れられている。

このようにして、検出サンプルの一部が、実際は全部が
プレシジョン・ブラケットとともに記憶装置に格納され
る。この情報は利用者により装置に人力されるか、プロ
ーブ特性を考慮して直接に自動的に組み込まれる。具体
的には、もし所定時間間隔がＯから４０マイクロセカン
ドの範囲であるならば、０．１マイクロセカンドほど空
間を占めた４００サンプリング時点ほどサンプリングさ
れる。そしてもし０から０．２マイクロセカンドならば
、プローブは４ボルトの電位差Ｖを検知する。この電位
差に関する最初の２つの検出サンプルには、プレシジョ
ン・ブラケット　（Ｖｍ；ＶＭ）＝　（３．９９　；４
．０１）が割り当てられる。

同様に、少なくとも機能モデルの一部にはアンサーティ
ンティ・ブラケットが割り当てられる。

次に第３図ないし第６図は４つの特定コンポーネントに
関するモデルが説明されている。このモデルは、特定コ
ンポーネントと対応するコンポーネントに関するという
よりはむしろこのコンポーネントの正動作に関する物理
量に適用するコンポーネント式を含んでいる。　抵抗（
レジスタ）（第３図）については、モデルＭＯＤＲ　１
　０がこの抵抗の数値Ｒに関するアンサーティンティ・
ブラケット（Ｒｍ；ＲＭ）を考慮する。更にこのモデル
は、この抵抗のターミナルａに入力する電流Ｉ　　（Ｒ
，ａ）との間に存在する関係をも定義する（オームの法
則）。機能モデルは、逆関係も定義でき、ターミナルａ
とｂ間に検知された電位差に基づいてターミナルａで電
流を得ることができる。

電位差が検出された物理量である範囲において、電流Ｉ
の測定値がこの抵抗のモデルに基づいて見積もられた物
理量としてここに表示される。もちろん、ターミナルａ
において直接電流の収集を規定できたが、そうすると、
推定電位差Ｖにたどりついたであろう。　電位差Ｖがプ
レシジョン・ブラケットで記憶装置に格納され、抵抗値
にアンサーティンティ・ブラケット　（Ｒｍ　：　ＲＭ
）が割り当てられるならば、それから、電流Ｉ用推定ア
ンサーティンティ・ブラケット　　（ｌｍ；　ＩＭ）が
導かれる。

一般的に、いかなる推定値に対しても、対応する推定ア
ンサーティンティ・ブラケットが最悪の場合のために決
められている。言い換える、推定値を決定する公式化の
過程で使用される物理量に関連したブラケットから最も
不確実と推定されるブラケットを得るためにこの試みが
なされるのである。

具体的には、この場合、数値ｌｍがＶｍ／ＲＭ比により
得られ、数値ＩＮがＶＭ／Ｒｍ値により得られる。

しかし、一般的に、複数の相違する物理量に基づく公式
から得られる推定物理量の推定アンサーティンティ・ブ
ラケットが過度に拡張するのを避けるため、上記公式は
相違する各物理量を１回だけ含むように定式されている
。

コンデンサＣのモデルＭＯＤＣ１０（第４図〉に開して
は、後者の値にアンサーティンテイ・ブラケット（Ｃｍ
　；　ＣＭ）が割り当てられて、夕一ミナルａの電流エ
は、数値Ｃとターミナルａとｂ間で検出された電位差の
時間導関数に基づいて見積もられる。　コンポーネント
モデルの中にはこのコンポーネントに関する特定物理量
に適用する参照ブラケットを含んでいるものもあるかも
しれない。このことは例えばダイオードとトランジスタ
に適用される。

トランジスタＱ（第５図）に開しては、異なる複雑性を
持つ機能モデルを提供することができる。

このようにして、ランク１と名付けられた第一の簡単な
モデルＭＯＤＱ１０は、放出電流がマイナスである時に
プラスであるクレクタ電流のために、この図の符号コン
ベンションを供給する。それは、この図で１つがＮＰＮ
型トランジスタを扱っているという注釈に従うことが条
件である。この電流のプラス状態は、インタバル［−　
１　０−４Ａ，＋の［シンボル＋のは十無限大を示し、
一方マイナス電流に関する参照ブラケットは］　一．ｏ
ｏ，プラス１０−４Ａ］によって定義された各参照ブラ
ケットの属性に反映される。

各インタバル［　−　１　０−４Ａ，　＋　Ｏｏ［およ
び］一■　＋１０−４Ａ］のサブインタバル［−１　０
−４Ａ，０］および［０．１０−４Ａ］は、更に複雑な
機能モデルの必要性なしに、トランジスタの偶然のキャ
バシタンスを考慮に入れる機能を有する。

もう一つの簡単なモデルは、トランジスタのベースエミ
ッタ電流Ｖ　（Ｔ，ｂ，ｅ）が所定限界値例えば３ボル
ト未満になるように備えておくことができる。当該モデ
ルは、下記において更に詳細に説明するが、もし必要と
あらば、トランジスタに関する情報を直接に推論するた
め、このアンサーティンティ・ブラケットを検出された
電位差Ｖ（Ｔ，ｂ，ｅ）のプレシジョン・ブラケットと
比較できるので、特に有利なものとなる。

ランク２と名付けられた更に複雑性を有するモデルＭＯ
ＤＱ２　０を備えることもできる。当該モデルは例えば
次のように説明できる。即ち、トランジスタは、「伝導
している時は、わかっているベータ利得を持つ電流増幅
器にすぎない」。このことは、電流利得の数値ＢＥＴＡ
に関するアンサーティンティ・ブラケット　（ＢＥＴＡ
ｍ，ＢＥＴＡＭ）において第５図に定義された数学的条
件により影響を受ける。

ダイオードＤに関しては（第６図）、簡単な機能モデル
ＭＯＤＤ１０は、ダイオードの陽極ａと陰極ｋの間の電
位差が０．６ボルト以上である時、陽極の電流工は参照
ブラケット［−１０−４Ａ；＋■［内で構成されるべき
であることも示しており、この電流はプラスでなければ
いけないことを再び伝える。

コンポーネント式は別として、モデル記憶装置は、物理
量間の一般的関係を表している法則式も含んでいる。

このようにして、電子装置の場合について第７図に説明
されているように、この式により電子回路の節点Ｎでの
合計電流のＯ値を考慮に入れる法則を使用することによ
り、この節点に接続されたコンポーネントＣＰＩのター
ミナルａにおける電流の強さの数値Ｉ　　（ＣＰＩ，ａ
＞を見積もることができるが、これは、この節点に接続
された他のコンポーネントＣＰ２とＣＰ３の他のターミ
ナルａにおける電流の強さの分かっている数値Ｉ　　（
ＣＰ２，ａ）とＩ　　（ＣＰ３，ａ）Ｉ：基ツ＜モノテ
アる。

同様に、別の法則式は次の事実を反映する法則を使用す
る。つまり、コンポーネントＣＰ４のターミナルａとｂ
間の電位差Ｖ　（ＣＰ４，ａ，ｂ）は、この同じコンポ
ーネントのターミナルｂとａ間の逆の電位差Ｖ　（ＣＰ
４，ｂ＋，ａ）に等しいのである。　最後に、グリッド
Ｍの永い電位差の送話はゼロになることを述べている法
則により、この同じグリッドの他のコンポーネントＣＰ
６とＣＰ７のターミナルにおける他の電位差Ｖ　（ＣＰ
６，ａ，ｂ）とＶ　（ＣＰ？，ａ，ｂ）を得ることによ
り、このグリッドのコンポーネントＣＰ５のターミナル
における電位差Ｖ　（ＣＰ５，ａ，ｂ）を見積もること
ができる。　説明のこの段階で、発明の重要な概念が詳
細に述べられねばならない。それは、各種物理量、即ち
電位差の検出のために選択した時間間隔ＩＴの定義のう
ちにある。　各種物理量の検出は、回路の誤動作が発見
される同じ時間間隔に行なわれる必要がある。　この時
間間隔ＩＴの定義には、特に検出開始時間およびこの検
出継続時間の定義も含まれている。

スタティック同さモードを有する回路については、例え
ば電位差は時間に関しては安定している。

それゆえ、各種検出値はいっでも得られ、検出継続時間
の概念は、検出開始日〈時）のそれよりも重要である。

この同じことが、周波数領域で調査されるダイナミック
動作モードを有する回路にも適用される。

実際、各種信号の振幅と位相は特定周波数発生時間に関
しては安定している。電位差の各種検出値はいっても得
られるのである。

他方、時間的領域で調査されるダイナミック動作モード
を有する回路については、コンポーネントのターミナル
における電位差の波形が時間に関して再生可能であるこ
とが必要で９ある。例えば、もしコンポーネントの１つ
が非常駐期間を有する時に得られなければならない。こ
のようにして、この特別な場合、修理対象回路は各検出
の間作動しない。時間間隔の開始時間は電圧が加わって
いる時に開始時間となる。それゆえ、この場合、開始時
間の概念は期間の概念と同じベースで重要なものとなる
ことを専門家は言及している。

正確なその時間だけでなく所定時間にわたる検出により
、電子回路のアナログ誤動作がスタティックとダイナミ
ック両動作モードにおいて検知可能となる。その検出は
全所定時間間隔内での操作数と信号と信号形態の多様性
のため利用者により「手揉作で」実行されるわけにはい
かない、ということも認識されるべきである。

特に電子回路の場合、指定可能ターミナルの概念も定義
する必要がある。当該ターミナルは、それに接続される
全コンポーネントは物理量、例えば電位差の検出のため
にアクセスできるものトシて提供される。例えば、単層
プリンと回路の場合、その回路の全ターミナルは指定可
能である。他方、多層回路の場合、内層接続により物理
的にプローブは指定できない。それゆえ、この考察から
次Ｄ結果が導かれる。現在の説明の意味では、コンポー
ネントの概念は例えば抵抗に通常帰属するものに限定さ
れないが、節点又はプローブにアクセスできない回路接
続を指定することもできる。　下記に述べるように、利
用者は物理量が得られるコンポーネントレベルを決定す
ることができる点で、本発明に従った装置を手損作で使
用することになるけれども、発明は故障したコンポーネ
ントの位置にできるだけ迅速にたどりつくために各種の
物理量の検出方法に関して利用者の補助機能を提供する
ものである。この補助機能は、各種物理量を検出するコ
ンポーネントに関して、その選択と順番の決定を照会す
る第一のメカニズム１１、および推定物理量を照会する
第二のメカニズム１２から構成される自動意思決定メカ
ニズム１を作動させる形式を取る（第８図および第９図
）。ネットワーク構造に接続されたこの自動意思決定メ
カニズムの作動には、後者の構成知識が機器構成記憶装
置内に記憶させておくことが必要である。

殻的に、自動化システムの第一のメカニズム１２により
、指定コンポーネント例えばスクリーン１に関する物理
量の検出後、推定メカニズム１３により、物理量が推定
される。その物理量は次のものである。

対応するコンポーネント上で既に検出されたものと異な
る種類の物理量、　又は、例えば他のコンポーネント上
で検出された他の物理量および／又は他の推定物理量か
ら、このコンポーネン１・上で既に検出された物理量。

　このように推定するために、処理手段は、数４Ｉｉ記
憶装置に含まれたデータを使用する。このように、検出
値と異なる種類の推定値は、検出サンプルと機能モデル
に基づくか、既に数値記憶装置に現れている他の推定数
値に関する推定アンサーティンティ・ブラケッ１・を手
段として、決定される。既に付随的に検出された物理量
の推定は、他の検出物理量の出所で生じた他の推定物理
量の組合せからも得ることができる。

さらに詳説すると、コンポーネントのネットヮークが例
えば電子回路内で複数のグリッドから構成されている時
、推定メカニズムは次のものから構成されている。　＊
推定種類、例えば電位差の物理量を検出するグリッドの
コンポーネントに開しては、指定種類、例えば上記コン
ポーネントの機能モデルおよび上記検出物理量のサンプ
ルから得た電流の強さの値と異なった種類の物理量の少
なくとも１つを推定する機能。　＊および、推定種類の
物理量を検出せず、上記グリッドに属しているか直接上
記グリッドのコンポーネントに接続されたコンポーネン
トに開しては、推定種類と同じ種類、例えば電位差、又
は異なる種類、例えば数値記憶装置に既に格納された数
値に基づいて得られ、上記グリッドの少なくとも１つの
コンポーネントに関係した電流の強さの値の物理量の少
なくとも１つを推定する機能。　具体的には、電子回路
の場合、推定処理過程は次のものから構成される。　＊
回路のコンポーネントの一部に開しては、コンポーネン
トの一部に開しては、コンポーネントの１つの第一と第
二のターミナルに基づいて、２つのターミナルの各々で
電流の強さを推定する機能、および更にはぐもし必要と
されるならば）このコンポーネントの第二と第一のター
ミナル間の電位差を推定する機能。

＊グリッドの他のコンポーネントのターミナルでの電位
差がわかっていて、そのコンポーネントはそのターミナ
ルでの電位差を検出しないようなグリッドに属するコン
ポーネントに開しては、他のコンポーネントに関する他
の電位差に基づいてこの電位差を推定する機能。　＊タ
ーミナルでの各電流の強さがわかっている他のコンポー
ネントの各ターミナルを接続した回路節点にコンポーネ
ントの１つのターミナルを接続したコンポーネントに開
しては、上記コンポーネントのターミナルでの電流の強
さを推定する機能。　それゆえ、自動意思決定メカニズ
ム１が作動した後、検出値および／又は推定値を形威し
た物理量にはプレシジョン・ブラケットおよび／又は推
定アンサーティンティ・ブラケットが割り当てられるこ
とを専門家は認識する。このように、本発明による装置
の−１的原則により、何回かサンプリングする間に数値
記憶装置に同一物理量に対して異なる出所の第一と第二
のブラケットが含まれた時、この２つのブラケットは、
その形或に寄与したコンポーネントの集合の機能に関す
る第一の情報を推論するための比較される。このコンポ
ーネントの集合は、「初期集合」ＥＰＲｉの指定に従い
下記に引用される。

第一のブラケットは、例えば下記手段により得られたア
ンサーティンティ・ブラケットとなりうる。

第一のコンポーネントに関連した検出物理量に関するプ
レシジョン・ブラケットの手段による。

この第一のコンポーネントの機能モデルによる。

第二のコンポーネントに関する推定物理量に関連する推
定アンサーティンティ・ブラケットによる， この第一と第二のコンポーネントはこの第一のブラケッ
トを形戊するのに寄与した第一のグループを構成する。

第二のブラケットも、第一のブラケットに関する物理量
と同じ物理量に対して推定アンサーティンティ・ブラケ
ットとなりうるが、コンポーネントの第二グループから
異なる方法で得られる。

この２つのブラケットの形或に寄与した第一集合のコン
ポーネントは、第一と第二のコンポーネントグループの
組み合せにより構成される。

その他のケースも考えられる。

こうして、異なる出所の２つのブラケットは、プレシジ
ョン・ブラケットと推定アンサーティンティ・ブラケッ
ト、又は推定アンサーティンティ・ブラケットとコンポ
ーネントの機能モデルに含まれた参照ブラケット、又は
プレシジョン・ブラケットと参照ブラケット。　この第
一と第二のブラケットが時間間隔のほんの短時間でも共
通元を持たない時は、第一初期集合のコンポーネントに
少なくとも１つの誤動作コンポーネントが含まれている
という間隔で疑いをかけられる。それは、「コンフリク
ト」に当てはまる。　単一コンポーネント、その後、故
障コンポーネントＣＤに縮小された疑いのある初期集合
のコンポーネントを直ちに検出することはまれである。

そのため、共通元のない、つまり互いに素である、２つ
のブラケットの検出に至る他の異なる疑いのある初期集
合を少なくとも１つ得られるようにその処理過程を繰り
返す必要がある。この互いに素な他の２つのブラケット
が先行の互いに素な２つのブラケットと同じ物理量に関
係するか、又は関係しないのではないかという結果が得
られる。次に、誤動作の疑いのある１つ又は複数のコン
ポーネントは２つの初期集合の論値積に属する。　それ
ゆえ、論理積が単一のコンポーネントで形戊されている
少なくとも２つの初期集合が得られるまでその処理過程
が実行される。単一の誤動作を仮定できるこの段階で停
止する。　この動作アルゴリズムは第１０図にかなり詳
細に概説されており、コンポーネントの疑わしい初期集
合の追加分析段階１４を表している。それは、初期コン
ポーネントのこの集合が所定条件を遂行する時には、こ
の初期集合の一部コンポーネントに関する物理量の選択
的検出機能を含んでいる。この分析は、後で詳論する。

上に述べたように、２つのブラケッ１・が時間間隔のほ
んの短時間でも共通元を持たない時、その２つのブラケ
ットの比較から推論される情報が初期集合の少なくとも
１つのコンポーネント・の誤動作を表している。それが
所定の数の連続するサンプリング時点、例えば、２以上
の数からなっている時は、間隔は極小である。特に、推
定アンサーティンティ・ブラケットが時間導関数演算の
結果である時、当該予防は法則外のコンフリクトの診ｌ
祈を妨げることを目的とする。実際、取り出す関数は前
もって分からないので（このことは、熟慮した上でのコ
ンポーネントのネットワークが誤動作するのであるから
なおさら分からないのである）、導関数の数値は誤って
推定されたり法則外のコンフリクトを生じる危険がある
と１７）うことを認めるべきである。他方、実際のコン
フリクトは一般的にいくつかの一連のサンプリング時点
に明らかとなるだけである。もちろん、もし例えば時間
間隔の最初の定義において、極小部分が単一のサンプリ
ング時点に縮小されるならば、時間間隔の定義手段は制
御できるので、利用者は、いくつかの連続サンプリング
時屯にそのコンフリクトを示すことができるように、間
隔の時間定義を互いに接近するサンプリング時点に修正
することができ、その結果本当の極小部分を明らかにす
る。

異なる出所の第一と第二のブラケットが同一の物理量に
対して空でない論理積ブラケツ１・を提供するならば、
この論理積ブラケットは優先ベースで上記物理量に割り
当てられる。言い換えると、共通元のある、すなわち互
いに素でない、２つのブラケットを得ることにより、疑
わしい初期集合のコンポーネントが明らかにされ、この
２つのブラケットの設定につながる仮定が一貫している
ことを高々肯定することができる。論理積ブラケツ｝・
を物理量に割り当てることにより、処理手段は、引き続
いてこの論理積ブラケットと、別のコンフリクトを明ら
かにするためこの物理量に対して別のグループのコンポ
ーネントから得た異なる出所の別のブラケットを比較す
ることができる。さらに、必要であるならば、判断機能
メカニズムはこの論理積ブラケットに基づいて続けらる
。　第１１図は、物理量が検出されるコンポーネント・
の選択と順番のメカニズムが更に詳細に説明されている
。コンポーネントのネットワークは複数のグリッドから
構成されると仮定されている。　この第一のメカニズム
はまずグリッドの選択に関する意思決定基準から成立し
ており、それは選択した種類の物理量の少なくとも１つ
が検出される。この第一の基準は、物理量、例えば各グ
リッド内で既に分かっている（すなわち、検出されたか
推定された）電位差の数の分析に関連する第一の下位基
準１１０を含んでいる。

第一の下位基準に従って可能性を判断する少なくとも２
つのグリッドのセ１／クタ１１１の場合、各選択可能グ
リッド１１２のコンポーネント数に関する第二の下位基
準１１３に提供される。この第二の下位基準に従って処
理手段は３、４、２の順番で割当られたそのコンポーネ
ント数に従って優先的にグリッドを選択する。

第二の下位基準に従って可能性を判断する少なくとも２
つのグリッドの場合（ステップ１１４〉、この選択可能
グリンド１１５のコンポーネントの種類に関する第三の
下位基準に提供される。　こうして、電子回路の場合、
第三の下位基準に従って遺択されたグリッドは最大数の
受動コンポーネント（抵抗、コンデンサ、誘導子、およ
び他の受動多重極）を有するものである。　もしいくつ
かのグリッドがなお第三の下位基準（１１７、１１８）
によって選択できるならば、グリッドの１つの任意選択
がグリッドセレクタＭＳＥを得るために（ステップ１１
９−１＞で進められる。

選択グリッドＭＳＥが得られると、第一のメカニズムが
このグリッドのコンポーネントの種類に関する第二の意
思決定基準１１９−２を形戊する。

こうして、電機回路の場合、電位差の検出が優先的に受
動コンポーネントのターミナルで行なわれ、更に優先的
に二重極のターミナルで行なわれる。

この意思決定メカニズムにより、スクリーン上に選択コ
ンポーネントＣＰＳを表示することができ、それに関し
て利用者は物理量の検出処理に１２を実行しなければな
らない（第ｌ２図）。　この点より、処理手段は、第１
２図に説明されたように、装置の記憶装置ＭＭに、更に
詳しくは数値記憶装置およびモデル記憶装置にあるモデ
ル、法則、およびたの物理量に基づいて上に述べた各種
の物理量のセレクタ１３に進む。

この第二の判断機能メカニズムは、ネットワーク構造と
数値記憶装置に含まれたデータに基づいて可能な全物理
量を推定する。この選択処理中、処理手段は、共通元を
もたない２つのブラケットＦＤを得ることにより疑わし
い初期集合ＥＰＲ　ｉを推論できる。もし他の物理量が
なお推定されるならば、疑わしい初期集合を得ても必ず
しも判断処理機能を妨害することはないことを認めるべ
きである。

こうして、共通元を有する（互いに素でない）２つのブ
ラケットの論理積ブラケットに基づいて新たな判断機能
に進むことができたと同じように、別のコンフリクトに
出会うおそれがあるため、互いに素な２つのブラケット
の少なくとも１つに基づいて判断処理機能を求めること
ができる。　当該疑わしい初期集合の存在において、上
に述べたように後者の分析に進む（第１３図）。処理手
段は、まずコンポーネントの初期集合が「ミニマム」と
名付けた集合の所定条件に適合するかどうかを決定する
（ステップ１４０）。具体的には、コンポーネントのミ
ニマム集合は、すべて同じ共通ターミナルに接続される
コンポーネントによって特徴づけられている。もしこの
条件に適合するならば、何の不足処理もこの集合上では
行なわれない。　逆の場合には、疑わしい初期集合ＥＰ
Ｒ１のコンポーネントのターミナルで電位差の検出に進
む。この点ではこの検出はまだ行なわれていない（ステ
ップ１４１−１４２）。この可能な検出に基づいて、新
判断機能が別の疑わしい初期集合のコンポーネントに導
くことができるように続けられる（ステップ１４３）。

本発明に従った装置の正確な使用例を、特に第１４図な
いし第１７図を用いて、電子回路の特別な場合で説明す
る。

第１４図に説明された修理対象電子回路ＣＩは、複数の
コンポーネントから構成されているが、その特性は付記
ｌに定義されている。抵抗とコンデンサに開しては、こ
のコンポーネントの数値が与えられる。ダイオードとト
ランジスタに開しては、そのコンポーネントが型格を付
けた会社により市場に出された参照型格と共に会社名が
提供される。

回路ＣＩで検出された電位差に関する所定時間間隔はＯ
ないし４０マイクロセカンドであり、０．１マイクロセ
カンド毎にサンプリングされる。故障コンポーネントは
コンデンサＣ１である。　この回路を起動させる試験ス
タンドＢＡＮは５０オーム抵抗Ｒｌに接続されたパルス
発生器ＥＰからなり、その時間間隔長方形の波形を供給
する。

簡略化のため、ここで作動アルゴリズムの処理仮定を主
に説明し、各種プレシジョン・ブラケット、アンサーテ
ィンティ・ブラケットおよび推定アンサーティンティ・
ブラケット用数値についてだけ述べる。

もちろん、電流の強さを検出することができるプローブ
を準備できるという条件で、検出物理量よ電位差となる
。それゆえ、推定数値は電流の強さであるとともに電位
差でもある　試験を開始する時には、いかなる電位差も
検出されていないので電位差は分からない。それゆえ、
選択グリッドＭＳＥの選択は、３つの受動コンポーネン
トＲ２、Ｃ１およびＲ３からなるグリッドの選択機能に
進むため、第二と第三の下位基準に従って行なわれる。

　選択コンポーネントＣＰＳは抵抗Ｒ２であり、そのタ
ーミナルａとｂ間で、電位差Ｖ（Ｒ２ａ，ｂ）が検出さ
れる（ステップ１２）。

この検出電位差、抵抗のモデル、およびモデル記憶装置
に含まれた一般的法則に基づいて、電流Ｉ　　（Ｒ２，
ａ）とＩ　　（Ｒ２．ｂ）は、抵抗の２つのターミナル
で推定され、電位差Ｖ　（Ｒ２，　　ｂａ）はこの同一
抵抗のターミナルｂとａｌｖｌで推定される。　処理仮
定のこの段階では、数値記憶装置に格納されたデータに
よって物理量を推定することはできないので、電位差の
検出には別のグリッドを選択する必要がある。グリッド
Ｍ１は既に分かっている電位差の最大数を有するものな
のでそれが再び選択される。　次に選択コンポーネント
ＣＰＳは、コンデンサＣ１であり、そのターミナルｂと
ａとの間で、電位差が検出される。ここで、この電位差
の検出は以前検出するために用意されたものと同じ回路
動作条件で行なわれる。すなわち、回路を始動させた瞬
間（０マイクロセカンド）から４０マイクロセカンド後
の間に行なわれることが思い出される。　この電位差に
基づいて、引き続いて次のものが推定される。　ターミ
ナルａとｂ間の電位差Ｖ　（Ｃｌ，ａ，ｂ）　　夕一ミ
ナルａの電流Ｉ　　（ＣＩ，ａ） ターミナルｂの電流１　　（Ｃｌ，ｂ）抵抗Ｒ２のター
ミナルｂでの推定電流およびコンデンサＣ１のターミナ
ルａでの推定電流に基づいて、節点Ｎ２における合計ゼ
ロ電流をトランジスタＱ１のベース電流１　　（Ｑｌ，
ｂ）に重ねることにより、 ２つの事前に検出した電位差に基づいて抵抗Ｒ３のター
ミナルａとｂ間の電位差Ｖ（Ｒ３，ａｂ）の１０．２１
３と推定されるアンサーティンティ・ブラケットが約（
４．８４８；４．９６９）に達する。

抵抗Ｒ３のターミナルａでの電流Ｉ（Ｒ３ａ）　抵抗Ｒ
３のターミナルｂでの電流Ｉ（Ｒ３ｂ）　回路の節点Ｎ
ｒにおいて０電流であると仮定した時のトランジスタＱ
２のコレクタの電流Ｉ（Ｑ２．Ｃ）。

判断機能のこの段階では、次の４つの連続サンプリング
時点（１６、４；１６．５アｓ；１６．アＳ ６｝１ｓ；１６．７アＳ）上にトランジスタＱ２　　（
参照ＦＤＩ）のコレクタの電流に対して互いに素な２つ
のブラケットが現れる。

この共通元のないブラケットの第一のものは推定アンサ
ーティンティ・ブラケットであり、その設定に寄与した
コンポーネントグループは、トランジスタＱ２、抵抗Ｒ
３、抵抗Ｒ２およびコンデンサＣ１から構成されている
。

例として、１６．４ＵＳと推定されたアンサーティンテ
ィ・ブラケットは約（−０．０３Ａ；−０．００６Ａ）
の値を有する。

このブラケットの第二のものは、トランジスタＱ２のモ
デルに含まれた参照ブラケットであり、このコレクタ電
流はプラス、即ちブラケット口−１　０−４Ａ，−ｏｏ
［でなければならないと述べている。もちろん、この参
照ブラケットのオリジネータであり、この参照ブラケッ
トの設立に寄与しているコンポーネントの第二グループ
を多少なりとも構成しているのはトランジスタＱ２だけ
である。

それゆえ、上記コンポーネントの第二グループの組み合
せから導かれた疑いのある初期集合のコンポーネントＥ
ＰＲ　１はトランジスタＱ２、抵抗Ｒ３、抵抗Ｒ２およ
びコンデンサＣ１からなっている。

ここで処理手段はこの初期集合のコンポーネントＥＰＲ
Ｉを分析しなければならないけれども（ステップ１４）
、判断機能メカニズムは抵抗Ｒ３のターミナルｂとａ間
の電位差Ｖ　（Ｒ３，ｂ，ａ）の判断機能１３も許して
いる。

この初期集合のコンポーネントＥＰＲＩの分析は、この
集合の４つのコンポーネントがすべて同じターミナルに
接続されていないので、ここではミニマムコンフリクト
には関係がないことを明らかにする。それゆえ、電位差
がまた検出されていないこの集合のコンポーネントのタ
ーミナルで調査する必要がある。関係するコンポーネン
トはコンポーネントＲ３とＱ２である。抵抗Ｒ３は受動
コンポーネントであるので、電位差は、ターミナルｂと
ａ間のステップ１４２で行なわれるターミナルで優先的
に検出される。

この点からして、引き続き次のことが推定される。　抵
抗Ｒ３のターミナルａとｂ間の電位差Ｖ（Ｒ３，ａ，ｂ
）、　後者のモデルを使用する抵抗のターミナルａでの
電流Ｉ　　（Ｒ３，ａ）、　ターミナルｂでの電流Ｉ　
　（Ｒ３，ｂ）、最後に、コンデンサＣ１のターミナル
ｂでの電流を再び使用するトランジスタＱ２．のコレク
タ電流Ｔ　　（Ｑ２，Ｃ）　、抵抗Ｒ３のターミナルｂ
での電流、および電流は節点Ｎ４でゼロであるという事
実。

抵抗Ｒ３のターミナルでの電位差Ｖ　（Ｒ３，　　ａｂ
）に関して、１０．２ｕｓ後に約（４．８７０；４、９
６２）に達する第二の推定アンサーティンティ・ブラケ
ットが得られると専門家は言う。事実、この数値は、コ
ンデンサＣ１のターミナルでの電位差の検出に基づいて
既に以前に推定されている。しかしながら、この２つは
共通元がないわけではないので、処理手段はコンポーネ
ントの疑わしい初期集合が存在することを結論付けない
。

次にこの２つのブラケット間の１ｏ．２ｕｓ後の論理積
ブラケット　（４．８７０；４．９６２）は、継続比較
の可能な間、この物理量に優先的に割り当てられて、他
の判断機能のための判断機能メカニズムにより使用する
ため数値記憶装置に格納される。

他方、トランジスタＱ２のコレクタ電流に関する限り、
別の推定アンサーティンティ・ブラケットを得て（参照
ＦＤ２）　、２つのサンプリング時点に空の論理積を明
らかにするためモデルの参照ブラケットと再び比較する
。

それゆえ、トランジスタＱ２、コンデンサＣ１および抵
抗Ｒ３から構成される第二の初期集合のコンポーネント
ＥＰＲ　２が存在すると処理手段は結論づける。　２つ
の初期集合ＥＰＲ　ｌとＥＰＲ２の論理積は初期集合Ｅ
ＰＲ２に縮小する。それゆえ、この段階では３つのコン
ポーネントＱ２、Ｃ１、Ｒ３のどれが誤動作しているか
見分けることができないので、処理は続けられなければ
ならない。

３つのコンポーネントはすべて節点Ｎ４に接続されてい
るので、初期集合ＥＰＲ２を分析するステップ１４が行
なわれてこの初期集合がミニマムコンフリクトを反映し
ていることを示す。それゆえ、追加の電位差がこの初期
集合では検出されない。　グリッドＭ１は別として、関
係グリッドは既に判明している電位差の最大数を有して
いるので、第一のメカニズムに従って選択された次のグ
リッドはコンポーネントＲ１、Ｑ１およびＱ２により構
成されているグリッドＭ２である。

選択コンポーネントＣＰＳは、電位差の検出作用１２が
行なわれるターミナルｂとａの間の抵抗Ｒ１である。

この検出された物理量に基づいて継続して推定される。

　ターミナルｂとａ間のこの抵抗のターミナルでの電圧
Ｖ　（Ｒｌ，ｂ，ａ）ターミナルａでの電流１　　（Ｒ
ｌ，ａ）および抵抗モデルを使用するターミナルｂでの
電流Ｉ　　（Ｒｌ，ｂ）回路の節点Ｎ３ではゼロ電流と
なる法則を使用するこの電源ＡＬＩＭのプラスのターミ
ナルでの電源電流１　　（ＡＬ　ＩＭ＋）　、および抵
抗Ｒｌ，Ｒ２およびＲ３のターミナルａでの推定電流１
　　（Ｒ１，ａ〉、Ｉ　　（Ｒ２，ａ）　、Ｉ　　（Ｒ
３，ａ）。

電源のマイナスターミナルでの電流１（ＡＬＩＭ−）　
　抵抗Ｒ１とＲ２のターミナルで検出された電位差が分
かっているトランジスタＱ１のベース／コレクタ電圧Ｖ
　（Ｑｌ，ｂ，ｃ）　、およびグリッドＭ２上の電位差
の和がゼロ値となる法則。

その他の判断は不可能なので、電位差が検出されたター
ミナルを有する別のコンポーネントを選択する必要があ
る。

つまり選択グリッドは、トランジスタＱ１、抵抗Ｒ４、
トランジスタＱ２およびコンデンサＣ１から構成される
グリッドＭ３である。

選択コンポーネントは、電位差が検出されたターミナル
ａとｂ間の抵抗Ｒ４てある（ステップ１２）。

これから判断して、引き続いて次のことが推定される。

　この抵抗のターミナルｂとａ間の電位差Ｖ　（Ｒ．４
，ｂ，ａ）、　この抵抗の２つのターミナルでの電流、 抵抗Ｒ４とＲ１のターミナルａとｂでの電流を使用する
ことによって得られるトランジスタＱ１のコレクタ電流
Ｉ　　（Ｑｌ，Ｃ）および節点Ｎ１でのゼロ電流法則。

　　トランジスタＱ１のコレクタ電流、このトランジス
タのベース電流およびこのトランジスタの３つのターミ
ナルの接合点のレベルでのゼロ電流を特定する法則に，
基づいたトランジスタＱ１のエミッタ電流１　　（Ｑｌ
，ｅ）。但し、トランジスタＱ１のベース電流は、抵抗
Ｒ２のターミナルｂでの電流、コンデンサｃ１のターミ
ナルａでの電流および節点Ｎ２でのゼロ電流を特定する
法則に基づいて推定されるという所見に従うことを条件
とする。　次に、トランジスタＱ１のエミッタ電流に開
しては、第一の推定アンサーティンティ・ブラケットが
得られる。それは、この電流がマイナスであると特定す
るモデルの参照ブラケットと比べると、空の論理積、従
ってトランジスタＱｌ、抵抗Ｒ１、抵抗Ｒ４、抵抗Ｒ２
およびコンデンサＣｌから構成された第三の疑いのある
初期集合のコンポーネントＥＰＲ３を示Ｌてぃる。　参
考として、コンフリクトがｌＱｕｓと１０ｌｕｓ後に現
れ、第一の推定アンサーティンティ・ブラケットはこの
最後の瞬間にはおよそ（０．０２Ａ；Ｃｌ．（１５Ａ）
に達する。　検出した３つの初期集合を比較すると（ス
テップ２）、単一のコンポーネント即ち、唯一の誤動作
しかないという仮定に基づいて診断プログラムを終了し
た故障コンポーネント　（ここではコンデンサＣＩであ
る）に縮小した論理積であることが分かる。　　こうし
て、電位差の２つの検出作用を行ないさえすれば、第一
の疑いのある初期集合のコンポーネントを得ることがで
き、コンデンサＣＩが故障コンポーネントであることを
示すように診断を設定するためには全部で５つの電位差
を検出する必要があることを専門家は述べている。　自
動意思決定メカニズム作用を使用することは特に利点を
有するけれども、ここに述べられた試験装置によると利
用者は自分て物理量を検出するコンポーネントを選択す
ることが可能である。例えば、容易な場合、又は調査対
象の誤動作に関して既に予想見解を有している場合であ
る。その場合、処理を継続しても、上の説明に類似した
ものとなるか、特に判断機能メカニズムおよびブラケッ
トの比較に関するようなものとなる。

利用者は特別な基準、例えば試験対象コンポーネントの
ネットワークに特に関連する基準を加えることにより、
又はグリッドの任意選択作用を取り換えるため自動意思
決定メカニズムを修正することもできる。

２つのブラケットの比較を行なうことができる物理量の
１つがダイオードのような半導体接合点を通過する電流
の強さであるか、又は更に抵抗のようなターミナルでの
電位差であることに注意しなければならない。

更に、例えばコンポーネントの正動作に関するモデルに
基づいて得られた診断機能をを確認し改良するため使用
されるコンポーネントの誤動作（故障モデル）に関して
、装置はコンポーネント式を使用することと互換性が無
いわけではない。

装置によって推定された電流式のセット、および電子回
路の共通ターミナルでの合計電流の推定ゼロ値を考慮に
入れた条件の設定に関連する試験に基づく作業アルゴリ
ズムを使用する本発明による装置の別の実施例を次に説
明する。

確実正ブラケット、推定アンサーティンティ・ブラケッ
トおよび参照ブラケットの使用は、この条件を試験する
ことと互換性がないわけではないけれども、ここではこ
のブラケットを使用しない簡略な手続き説明するにとど
める。こうして、下記のように、モデルのコンポーネン
ト式が単純化される。

この実施例においては、約１００のコンポーネントの装
置としては、１．４４メガオクテートの容量と約１メガ
オクテートの中央作動記憶装置のある大容量記憶装置で
十分である。　本装置のオペレーションは、特に第１８
図と第１９図を用いて一船的に説明されている。共通の
実測節点に接続された１セットのコンポーネントの各コ
ンポーネントのターミナル間で検出された電位差、およ
び下記のようにモデルは誤動作又は適性動作を表してい
るという解説に従って各動作を説朗する機能モデルに基
づいて、現在の式を決めるところにこの実施例で使用さ
れる基本的原則の１つがあるステップ３０では、利用者
は１セットのコンポーネントの共通ターミナルＢＣを選
択する。このターミナルの選択は利用者の意向に従う。

もし利用者が修理対象回路に熟知している−か、又は作
動モードを知っているならば、疑わしいと考えられるコ
ンポーネントが接続されている第一の共通ターミナルを
賢明な方法で選択することができる。

しかしながら、もし誤動作の出所に関して予備知識がな
いか、回路の作動モードを知らないならば、第一の共通
ターミナルを任意に選んで、必要ならば装置により誘導
されながら診断を確立するため着実に進める。　第一の
プローブＡＯは共通ターミナルＢＣの出所におかれる（
ステップ３１〉。

一方、第二のプローブＡ１はこの共通ターミナルの隣り
のターミナルＢＣＶ　ｉにおかれる（ステップ３２）。

　ステップ３３では、利用者は、例えば時間ベースと測
定値の大きさを定義するため検出パラメータを設定する
。言い換えると、ターミナルＢＣとターミナルＢＣＶ　
ｉ間の電位差の検出のため、時間間隔ＩＴを定義する。

この各種パラメータは数値オシロスコープのように検出
要素に関して直接設定されるか、又はプローブ手段とデ
ィジタル化手段が例えば装置に内蔵されるならば、キー
ボードによってシステムに入力できる。

次のステップ３４では、利用者は、キーボードによって
ターミナルＢＣとターミナルＢＣＶ　ｉ間に接続された
コンポーネントを指定する。利用者はこの目的のための
キーボードを用い、例えば抵抗はＲ，｝ランジスタはＱ
のように表示された専用キーを使用して指定することが
できる。また、電子回路図におけるコンポーネントの参
照番号を数値キーを用いて指定することもできる。　次
にステップ３５で、利用者は電位差の適切な検出を開始
し、これが処理手段によって実行される一連のオペレー
ションの開始となる。

既に説明した実施例と類似の方法により、電位差に応じ
たアナログデータが実行可能ディジタル化手段ＭＮＣに
よりディジタル化され処理手段に渡される。後者は、記
憶装置ＭＭＩにこの情報を記憶することができ、回路の
概略的説明を考慮に入れて、その後の処理過程のために
それに特性を与えることができる。この目的のため、例
えば時間的ウィンドウ、時間的ライジングフロント、周
波数およびマークを定義することができる。それにより
、これらの特性を、電子回路図に印を付けてあるコンポ
ーネントのような、回路の対応するコンポーネントに帰
属させることができる。　処理手段は当該検出のバリデ
ィティを設定することができれば有利である。　この目
的のために、特に指定コンポーネントの機能モデル３７
を使用する。こうして、電流式を確立するためには電位
差の時間導関数を考慮に入れることが必要であり、同時
に検出のため選択されたサンプリング時点間ではこの導
関数を十分な精度では得られないということをコンポー
ネントのモデルは示している。

処理手段が正確な電流式を推論できないので、その検出
は無効と判断する。この場合、命令が利用者の注意を喚
起するための装置のスクリーンＭＡＦ上に表示されるの
で、ディジタル化手段ＭＮＣは制御可能なことからして
サンプリング率を修正すべきである。　ここからは、検
出値は処理手段により有効と判断されていると仮定する
。　処理手段は、上記時間間隔ＩＴに関連コンポーネン
トの機能モデルから検出された電位差に応じた電流式を
ステップ３６で決定する。一般的に、このモデル［まコ
ンポーネントの正動作または誤動作を表すことができる
。そのモデルが記憶装置に格納されている範囲内で、い
ずれかのモデルをしようすることは利用者の評価に委ね
られている。　ダイオードタイプコンポーネントに関す
る限りで（例えば抵抗、コンデンサ）、正動作モデルは
、電流電圧パラメータの構成を支配する物理の法則の転
用である。　その他のコンポーネントタイプについては
、モデルはむしろ強制的に対処する設定値に一致する。

機能モデルの詳細な例を次に述べる。しかしながら、複
雑性を変化させる複数の機能モデルを与えられた電子コ
ンポーネントに割り当てることができるということが直
ちに示される。装置は例え２まず簡単な機能モデルを使
用できるし、次にもし診断が明白に予期されない結果を
導くか、又はいかなる結果をも導かないならば、より複
雉なモデルを使用することができる。　電流式が処理手
段により推定されたならば、診断目的のため記憶装置に
格納される。　次のステップ３８において、利用者は共
通ターミナルＢＣに接続された別の隣接するターミナル
に引き続いてプローブＡ１を置き、その装置は引き続き
ステップ３４と３６を再，実行する。　処理手段は、調
査対象回路内の共通ターミナルを記憶し、それに接続し
たコンポーネントを指定することができることに利点が
あることを認識しなければならない。こうして手続きの
過程で増加ベースで回路の構成図を作ることができる。

更に、これにより利用者は、既に指定されているコンポ
ーネント又はターミナルに関する限りは１つのセッショ
ンから他のセッションに同じデータを再入力する必要が
なくなる。

すべての隣接するターミナルが処理された時、装置は診
断ステップ３９に進む。その一級的原則よ、共通ターミ
ナルでの合計電流がゼロ値であるという仮定を前提とす
るという条件で、電流式のセットに対し処理手段により
実行され、時間間隔ＩＴの各瞬間に実行される試験にあ
る。これにより共通ターミナルに接続されたコンポーネ
ントの機能について第一の指標を得ることができる。

一般的に上記条件の試験は算術値と参照値とを比較する
ことである。更に正確には、少なくとも電流式の一部が
算術電流値と呼ばれる時は、電流式のセットの試験は、
参照値とその時比較されるこの電流ちの算術的和を含む
。例えば、この算術的和がプラスかマイナスかを試験で
きる。　全電流式が算術値と呼ばれる場合は、全電流値
の算術的和が誤差許容範囲内で０に等しいか異なるかに
ついて試験がなされる。

幾つかの場合が生じる。

もし共通ターミナルに接続された各コンポーネントに関
する各電流式が、コンポーネントの正動作を表している
機能モデルから得られるならば、そしてもし共通ターミ
ナルでの合計電流がゼロ値と仮定されることを考慮にい
れた条件に適合するならば（例えば、全電流値の算術的
和がゼロである場合）、第一の指標は共通ターミナルに
接続した複数のコンポーネントの個別の誤動作を表示す
ることができ、この共通ターミナルに接続された全コン
ポーネントのそのセ７　１−は、総体的に正動作モード
を有する。

もし、他方、合計電流がゼロ値であると仮定されている
ことを考慮した条件の試験の結果が否定的（ｎｅｇａｔ
　ｉｖｅ　）であるならば（全電流値の算術的和が例え
ばＯでない場合）、上記第一の指標は共通ターミナルに
接続された少なくとも１つのコンポーネントの誤動作を
表しており、このコンポーネントのセットも総体的に誤
動作モードを有する。

それにもかかわらず、コンポーネントが誤動作している
ことを表している機能モデルは使用できることが理解さ
れている。この場合、単一の電流式が共通ターミナルに
接続されたコンポーネントの誤動作を表示している機能
モデルから得られた時、他方別のコンポーネントに関す
るその他の電流式が正動作を表す機能モデルから各々に
得られる。そして共通ターミナルでの合計電流がゼロ値
となると仮定した条件に適合する時は、誤動作モデルが
使用されたコンポーネント・は実際不良であったことを
上記第一の指標は意味している。

他方、もし上記条件の試験の結果が否定的であるならば
（ゼロ値条件に適合しない場合）、誤動作モデルが使用
されているコンポーネントは（この共通ターミナルに接
続された他のコンポーネントが良品であると仮定するこ
とを条件として）、この誤動作は「無罪宣告」される。

この調査は、その他のコンポーネントの誤動作モデルを
１つずつ引き続き呼び出すことによって続けられる。

ここで、「コンフリクト」、「アリバイ」および「キャ
ンディデート」の概念を再定義し、取り込む価値が生じ
る。これらの概念を定義するために、共通ターミナルに
接続された全コンポーネントに対して適切な機能を持つ
モデルを使用するという仮説を取ることとする。　共通
ターミナルにおいて仮定された、合計電流がゼロ値であ
るとの条件が、選択された共通ターミナルでは満たされ
ていない場合、この共通ターミナルにおいて検出値と正
動作の仮説との間にコンフリクトが存在する。

言い換えると、使用されたモデルのうち少なくとも１つ
はその正当性が立証されないことになる。

この条件に関する試験結果が否定的である場合、全コン
ポーネントは良品であるか、その内の少なくとも２つが
補償誤動作モードであることを意味していると理解され
る。言い換えると、選択された共通ターミナルに関し、
あるコンポーネントは、もし他のすべてのコンポーネン
トからなるグループが良品と仮定され（又は実証され）
るならば、「無罪宣告」されることになる。同様に、あ
るコンポーネントについて、もし共通ターミナルに接続
された他のコンポーネントの複数のグループのうち少な
くとも１つのグループが故障していると考えられるなら
ば、そのコンポーネントは故障していると考えられる。

こうして前記のコンポーネントグループは、考慮の対象
となっているコンポーネントに対して「アリバイ」を形
或する、と容易に理解される。　言い換えると、「コン
フリクト」がここで少なくともコンポーネントの１つに
誤動作モードを有する１セットのコンポーネントによっ
て再び構成される。　　「キャンディデート」とは全コ
ンフリクトの論理積であるセットを言う。もしアリバイ
の要素の少なくとも１つが含まれているならば、アリバ
イを有するコンポーネントはキャンディデートセットに
属するだけなので、アリバイは可能なキャンディデート
を制限できることになる。　こうして、合計電流がゼロ
値であると仮定した条件の試験が行なわれると（ステッ
プ３９１）、処理手段はコンフリクトとアリバイを処理
して（ステップ３９２）、キャンディデートを決定する
（ステップ３９３）。

全ターミナルが（上記に定義されたように）指定し得る
場合、コンフリクトの最大値が検出され、可能なキャン
ディデート数が最少となる。

逆の場合、可能なキャンディデート数が増加して、診断
範囲が修理対象回路の一部だけに減少する。

診断作業が実行された時は、利用者はそれを表示するか
表示しないかを要求することができる（ステップ４０）
。例えば、もし、共通のアースターミナルにプローブＡ
Ｏを接続してあるので、診断表示は役に立たないと利用
者が考えるならば、表示を要求する立場にはないことに
なる。他方、この第一の連続した検出作業中に記憶され
たデータは調査を続けると装置に役立つこととなる。利
用者はそこで別の共通ターミナルを選択し（ステップ４
２〉、連続した作業が上記のように続く。

もし診断結果の表示が要求されて利用者がそれに満足す
ると（ステップ４１）、それは例えば単一キャンディデ
ートコンポーネントの有効な表示に一致させることがで
きるので、調査は終了する。

表示された診断からキャンディデートの集合が明らかに
される場合、利用者は別の共通ターミナルを選択して（
ステップ４２）、キャンディデート数が減少するまで連
続した作業を繰り返す。第一の共通ターミナルに隣接す
るターミナルからこの別の共通ターミナルを選択した方
が都合が良い。

この第二の検出の集合により第二の共通ターミナルに接
続されたコンポーネントのセットに関して第二の指標が
与えられる。第一と第二の指標を組み合わせると、例え
ば第一と第二の共通ターミナル間に接続されたコンポー
ネントの機能に関する指標を提供することによって、診
断を表示することができる。

もしその回路が明らかに誤動作しており、診断結果の表
示がいかなるキャンディデートをも明らかにしていない
ならば、その結果は不満足なものとも考えられる。つま
り、例えば、使用モデルが十分正確なものではなかった
ことを意味することになる。利用者はより複雑なモデル
で可能なものを使用することを主張して新たな調査を命
じることができる。　もしその結果にまだ不満足である
ならば、利用者は回路設計に疑問を持つか、又はモデル
化されておらず、専門家の特権である純粋に電気的なも
の以外の面（例えば熱タイプ、接続不良）をも考えるこ
とになる。

本発明による装置は利用者にこの関係の別の可能性を提
供する。実際、装置の診断手段により利用者はコンポー
ネントの正動作と誤動作のモデルを形或するモデルライ
ブラリを増加することができる。

こうして専門家はその装置が使用上かなりの汎用性があ
ることも指摘している。修理対象回路の事前説明を必要
としないし、利用者はその詳細を知らなくてもよいし、
その誤動作の兆候を知らなくとも良い。更に、被検出コ
ンフリクトは議論せずとも良い。即ちコンフリクトのあ
るコンポーネントの少なくとも１つは故障していること
が確かなのである。　その装置の正確な使用例が、特に
第２０図ないし第４３図を用いてとくべつな場合につい
て説明される。

第２０図の回路ＣＩは第１４図のそれに類似する。簡略
化のため第１４図の回路から取り除かれたダイオードＤ
２は、ダイオードＤ１の陽極と１・ランジスタＱ２のコ
レクタの間に挿入されている。

この陽極Ｄ２はダイオードＤ１と同じものである。

なお電源ＡＬ　ＩＭは表示されていない。　回路はすべ
て認識できる７つのターミナルＮ１ないしＮ７から構成
されている。選択時間間隔はＯないし２０マイクロセカ
ンドになるように構成されている。試験バンクＢＡＮに
より生じた鋸歯状形体の波型ＤＰＥＩは第２１図に説明
されている。故障コンポーネントはこの場合も切断され
たコンデンサＣ１である。

回路ＣＩの２つのコンデンサＱｌとＱ２は、ベースから
見た（第２２図）入電流１ｂ，コレクタから見た入電流
Ｉｃおよびエミッタから見た出電流Ｉｅを備えているＮ
ＰＮ　｝ランジスタである。

ベースとエミッタ間の電圧Ｖｂｅ＝Ｖｂ−Ｖｅが０．６
ボルト以上である時、コレクタ電流１ｃはプラスであり
、βが電流利得を指定しているベース電流Ｉｂにβ回等
しくなる。電圧Ｖｂｅが０．６ボルト未満である時、ト
ランジスタは遮断されてベース電流１ｂはゼロとなる。

それゆえ、「ランク１モデルＪＭＯＤＱＩと指定され、
関係式工ｂ＞Ｑ　Ｈ　Ｉｃ＞Ｑにより定義されている第
一の単純モデルを定義することができる。

もしランク１モデルが満足されないならば「ランク２モ
デル」と指定されたより複雉なモデルＭＯＤＱ２を使用
することができる。このランク２モデルは、トランジス
タが異なる状態にある時に各種β値を定義する。この説
明の意味において、「電流式」という用語は電流の利得
をも含んでいると言わなければならない。

その回路のダイオードＤＩとＤ２のランク１モデルＭＯ
ＤＱ１は、適合すべき制約を有するモデルでもある。要
するに、もし、ダイオードの陽極Ａｎと陰極Ｋ間の電位
差ＶＡｎｋが０．６ボルト以上であるならば、このダイ
オードを通過する電流１ｄは絶対プラスである。逆の場
合、この電流まゼロである。

回路のキヤバンクと抵抗Ｒそれぞれに対応するランク１
モデルＭＯＤＣ　ＩＭＯＤＲ　１は電流一電圧パラメー
タの構成を支配する物理法則を単に再転用しただけであ
る。　利用者が引き受ける誤動作の調査の各種ステップ
を説明するために、特に第２６図Ａないし第２６図Ｅが
用いられる。夕一ミナル１とターミナルＪ間の各種電位
差ＤＰｉｊは第２７図ないし第４３図に説明されている
が、それには電流式の各種決定が処理手段によって実行
されている。　ステップ６１で１′！、利用者はターミ
ナルＮ１を第一の共通ターミナルとして選択して、プロ
ーブＡＯをこのターミナルにあてる。

プローブＡ１はターミナルＮ２にあてられて、キーボー
ドによってトランジスタＱ２を指定する。

こうして、電位差ＤＰＩ２が検出される（ステップ６２
、第２７図）。そのコンポーネントはトランジスタなの
で、装置の処理手段により処理が進むにつれて必然的に
このトランジスタのコレクタとエミッタ間の電位差が分
かる。それゆえ、利用者にプローブＡ１をＮ２にあてる
ように（ステップ６４）との命令が装置のスクリーン上
に表示される（ステップ６３）。

ステップ６５では、Ｑ２、ＤＰ１３のコレクタとエミッ
タ間の電位差が検出され（第２８図）、要求されるモデ
ルＭＯＤＱ２を考慮に入れることによりＱ２に関する電
流式を決定することができる。ここでこの電流式は効果
的に制約に対応していることが思い出される。　利用者
はプローブＡ１を共通ターミナルＮ１に隣接する別のタ
ーミナルに、例えばＮ４にあてることによ”り作業を継
続しくステップ６７〉、トランジスタＱ１を指定する。

電位差ＤＰ１４がステップ６８で検出されるが、それは
第２９図で説明されている。やはりトランジスタが関係
しているので、先の命令と同じような利用者への命令が
ステップ６９で再び出されることになる。この命令に応
えて、利用者はターミナルＮ５にプローブＡ１をあて（
ステップ７０〉、電位差ＤＰ１５を検出しくステップ７
１、第３０図）、処理手段はモデルＭＯＤＱ２を考慮す
ることによりＱ２に関係する電流式を決定する（ステッ
プ７２）。

共通ターミナルＮ１に関する結果の調節がなされる。し
かしながら、利用者は、関連ターミナルがアースターミ
ナルなので診断表示を要求することはしない。しかしな
がら、この各種検出手段により得られたデータは装置に
記憶される。

ステップ７３では、利用者は第一共通ターミナルＮ１に
隣接するターミナルのセットから第２の共通ターミナル
Ｎ４を選択する。利用者は第二のプローブＡ１をターミ
ナルＮ６にあて、抵抗Ｒ２を指定する。電位差ＤＰ４６
がステップ７４で検出され（第３１図）、抵抗Ｒ２を通
過する電流はステップ７５においてモデルＭＯＤＲＩの
手段によって決定される。これは第３２図に説明される
，次に、プローブＡＩがターミナルＮ３にあてられ（ス
テップ７６）、コンデンサＣＩが指定される。電位差Ｄ
Ｐ４３Ｍがステップ７７で検出されて、第３３図で説明
される。しかしながら、コ゛ンデンサモデルは導関数の
演算を示している。第３３図のカーブＤＰ４３は、約１
０ｙｓでの明白な落下を示している。検出の度合は、処
理に必要とされる精度を得るには不十分であると処理手
段は推定している。こうして、約１０ｕｓで検出を拡張
する命令がステップ７２で利用者に与えられる。それゆ
え、利用者は、ターミナルＮ３からプローブＡ１を離し
（ステップ７９）、サンプリングの度合を減少して電位
差ＤＰ４３を再検出する（ステップ８０、第３４図）。

こうして、処理手段は、モデルＭＯＤＣＩの手段により
コンデンサＣ１を通過する電流を決定することができる
（ステップ８１、第３５図および第３６図）。

第二の共通ターミナルＮ４に関する測定値の調節が行な
われた時、利用者はステップ８２で診断表示を要求する
。これは処理手段により行なわれ（ステップ８３〉、付
記２に、より詳細に説明されている。

この付記では、ランク２モデルを使用することにより得
られたもので、将来使用する可能性があるので装置に記
憶されたトランジスタＱ１とＱ２の電流式が思い出され
る（（Ｉ）および（ＩＩ））。共通ターミナルＮ４での
診断（Ｉ　Ｉ　Ｉ）は、このターミナルに入って終るか
、又はここから出てくる電流のゼロ算術的和（ＩＩＩ．
１）によって影響を受ける。　事実、トランジスタに使
用差つる正動作モデルは式（ＩＩＩ．２）によって影響
を受けるランク１モデルである。この式では、トランジ
スタＱ１のベース電流は、この電流の方向はターミナル
Ｎ４から見たものでトランジスタＱ１から見たものでは
ないので、マイナスかゼロとなることが認識される。そ
の時、式（Ｉ　Ｉ　Ｉ．１）は不等式（ＩＩＩ．３）に
帰する。　処理手段は、ベース電流１ｂＱ１　　（ＩＩ
Ｉ．４）に関する一連の数値を決定する。これから次に
トランジスタＱ１のベース電流がｌＱｕｓと１０．０２
ＵＳ間で絶対にプラスとなる（ＩＩ１．５）。それゆえ
、コンポーネントＱｌ、Ｒ．２およびＣｌ間でコンフリ
クトが発生し、これはステップ８４で装置によって表示
される。

もしランク２モデルがトランジスタＱ１のために使われ
たならば、次式によってこのトランジスタのコレクタ電
流ＩｃＱ１を決める必要がある。

ＩｃＱ１＝ＩＲ１＋ＩＲ４ また、次式により電流利得を使用することによってベー
ス電流１ｂＱ１を決める必要があろう。

ＩｂＱ１＝ＩｃＱ／β 利用者は、第二の共通ターミナルＮ４に隣接するターミ
ナルの１つである第三の共通ターミナルとしてターミナ
ルＮ３を選択することによって誤動作の調査を続ける。

ステップ８５ないし９６では、この第三の共通ターミナ
ルに隣接するターミナルのセットを調査する。各種電位
差ＤＰ３ｊおよびそれに対応する電流式は第３７図ない
し第４３図で説明される。ダイオードＤ２に関連する電
流式は関係式（ＩＶ）として付記２に示されている。　
次に、利用者はステップ９３でこの共通ターミナルＮ３
に関連する診断表示を要求する。この診断においては（
ステップ９８および関係式（Ｖ）、付記３）、ターミナ
ルＮ３での合計電流がゼロ値となると仮定される条件の
試験が、このターミナルに人いる電流とターミナルから
出る電流の算術的和がゼロとなる場合に、反映される。

しかし、トランジスタＱ２のコレクタ電流はターミナル
Ｎ３から見てマイナスとなるに違いないので、これは式
（Ｖ．３）にまとめられる。時間間隔０　；　２　０ｕ
ｓの関係式（Ｖ．４）のセッ１・から、次にトランジス
タＱ２のコレクタ電流は１４ｕｓと１４．３ｕｓ間で絶
対にプラスとなる（Ｖ．５）。

それゆえ、コンポーネントＱ２、Ｒ３、ｃ１およびＤ２
間にコンフリクトが生じ、これはステップ９９でスクリ
ーン上に表示される。２つのコンフリクト８４および９
９と交わることにより、故障キャンディデートはステッ
プ１００で表示されるコンデンサであることを処理手段
は上記のことから推論する。　この装置によれば、利用
者が回路の機能モードを知らなくても、誤動作の位置を
汎用性のあるすばやい方法で確認することができる。

本発明のこの装置の利点は、既に述べたものは別として
次の通りである。　回路の診断は引き続き観察できる誤
動作に限定されることなく、例えば調整できる時間間隔
にわたって診断装置を使用することによって誤動作が現
われるのを示すことができる。　コンポーネントのネッ
トワークの各目的作用を説明する必要はないし、機能の
モードを説明する必要もないし、誤動作の兆候さえも必
要でない。　そのネットワークの起こりそうな誤動作に
ついての説明を事前に用意しておく必要もない。　ディ
ジタルモデル化への信頼性により検出可能誤動作の焦点
を合わせる範囲がせばまり、誤動作にはそのネットワー
クの作用に著しい変化を必然的に伴わなければならない
という前提を取り除いた。

構造の変化、例えば回路の短絡、に起因する誤動作と製
造上の欠陥、例えばコンポーネントの不良は、別の誤動
作として扱われる。

もちろん、装置は、複合の誤動作を識別することができ
る。　一投的法則式と同様にコンポーネントモデルは測
定不可能な推定値を引用することができる。　一般的に
は、電子回路においては、アクセスできるのは電位差測
定だけである。今まではこの制約により、観察した現象
の分析の困難さ、および誤動作の位置確認又はこの目的
のための調査を継続することができるという合理的な仮
説を統合することの困難さを強調してきた。どころが、
驚くべきことに、適切な準備をして電位差を測定するだ
けで困難な問題が解決されることが観察された。

最後に指摘したい点は、本明細書に説明された本発明の
装置は電子工学の分野に適用するのは有利であるが、そ
の他の分野にも適用できることである。　本発明は上記
実施例に限定されず、請求項に記載された趣旨の範囲内
で多くの変更が可能である。

実施例では電流値が推定されたが、例えば電流利得のよ
うな電流式を推定することもできる。あるいは、別の適
切なモデルと法則式を用いて他の物理量を推定すること
もできる。もちろん、上記に記載された手段であっても
、本発明が適用される他の例において必要とされないな
らば、その手段を用いる必要はない。

付記１ 抵抗Ｒ１＋ 抵抗Ｒ２： 抵抗Ｒ３： 抵抗Ｒ４： 抵抗Ｒ５； コンデンサＣ１： ダイオードＤ１： サス・インスツルメ 参照型格２Ｎ２　２　２ １キロオーム １０キロオーム １キロオーム １０キロオーム １０キロオーム ２ナノファラッド 参照型格ＩＮ４１４８　　テキ ント社製トラン“ジスタＱ１： ２Ａ　テキサス・インスツル メント社製トランジスタＱ２：参照型格２Ｎ２２２２Ａ
　　テキサス・インスツルメント社製付記２ ｕＳ：マイクロセカンド、ｕＡ　：マイクロアンペア、
Ａ；アンペア（Ｉ）　Ｑ２　の電流式 ｌｂ　＝　０　　　　　　　　０　ないし１０μＳ間３
０＜　β＜’３００　　　　１０ないし１４　Ｐｓ間Ｉ
ｂ　＝　０　　　　　　　　１４ないし２０／ＩＳ間（
ＩＩ）　Ｑｌ　の電流式 ０く　βく３０　　　　０ないし２Ｏ　Ｐｓ間（ＩＩＩ
）　Ｎ４での診断 （１１１．１）　　：　　ＩｂＱ１　＋　ＩＲ２　＋　
ＩＣＩ　＝　０（１１１．２）　　　：　　　ＩｂＱｌ
　　＝（　　０（１１１．３）　　　：　　〜ＩＲ２　
　−ＩＣｉ　　＝＜　　０（１１１．４）　　：　１ｂ
Ｑ１　＝　−（４３４．４５　ＰＡ　＋　０）ロないし
１０　，ＩＪｓ　　　　　　ｌｂＱ１　＝−（４３４．
４３ア＾−１．２＾）１０　ないし１０．０２　ｙｓＩ
ｂΩ１　　＝　　−（４３４．４３　　ア八　十　〇）
　　　　　　　　　　　１０．０２　　ないし（１４−
　ε）　／ＪＳ　　　　　　　ＩｂＱ１−−（４３４．
３０ｕＡ　＋　１５０００　ｕＡ）　　（１４　＋　　
Ｅ）　／ＩｓまでｌｂＱ１　＝　−（４３４．２４　ｕ
Ａ　＋　２７０００　，ＩＪＡ）　　１４．０３　，ｐ
ｓまで　　　　　ｌｂＱ１　＝　−（４３４、４３　７
ｌ４＾＋０）１５　ｕｓないし２０　，ＬＩＳ （１１１．５）　　：　　ＩｂＱ１＞０　　１０　μｓ
ないし１０．　０２μｓ 付記３ （ｒＶ）　Ｄ２の電流式 ＋０２　＝　０ １０２　＞　０ ＋０２　＝　０ ０ないし１０）′ｓ ｌＯないし１４　ｙｓ １４　ないし２０／Ｓ ｍ　　Ｎ３ （Ｖ．１）： （Ｖ．２）： （Ｖ．３）： （Ｖ．４）： での診断 ＩｃＱ２　　＋　ＩＲ３　　＋　ＩＣＩ　　＋　　１０
２ＩｃＱ２　＜　０ −ＩＲ３　−　ｒｃ１　−　１０１　＝＜　０［ｃＱ２
　＝　−（０　＋　０　＋　０）０ ０ないし（１０−ε）　ｙＳｌｃＱ２　一（４．　５　
ｍＡ　十〇　＋　１０２）　　かつ１０２　＞　０　　
　１０　ｙｓ　まで　　　　ｌｃＱ２　＝　−（４．５
　ｍＡ　＋　１．２　＋　１０２）　　かつ１０２　＞
　Ｏ　　ＩＱ．０２　ｙｓ　まで　　　　ＩｃＱ２−−
（４．５ｍＡ　＋　Ｏ　＋　１０２）　　かつ１０２　
＞　０　　　１０．０３　ｙＳ　ないし１４　ｙｓ　　
　　　ＩｃＱ２　＝−（０　−　２７　ｍＡ　＋　０）
１４．３　ｙｓ　まで　　　　Ｉｃ口２＝（０　　＋　
０　　＋　　０）．　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　１４、　５　　，）ＩｓナイＬ
．．　２０　，ＭＳ（Ｖ・５）　：　ＩＣＱ２　＞　０
　　　１４　，）ＪＳ　と１４．３ｙｓ間

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の装置のブロック図、第２図は、本発
明の装置の特別な一実施例の概略的図、　第３図ないし
第７図は、異なった機能モデルの説明図、　第８図は、
本発明の装置の概略的フローチャート図、　第９図は、
第８図のフローチャート図の一部の概略的作業用フロー
チャート図、　第１０図は、第８図のフローチャート図
を更に詳細に説明した図、　第１１図ないし第エ３図は
、第１０図のフローチャート図の部分を更に詳細に説明
した図、　第１４図は、試験対象電子回路の一例を説明
する図、　第１５図ないし第ｌ７図は、第１４図の回路
の特別な場合を示した装置の作業用フローチャート図、 第１８図は、本発明の他の実施例の一般的作業用フロー
チャート図、　第１９図は、第１８図のフローチャート
図の一部を詳細に示した図、　第２０図は、第１８図の
フローチャート図に従って修理される電子回路の一例を
説明する図、　第２１図は、第２０図の回路の動作に関
する曲線を示す図、　第２２図ないし第２５図は、第２
０図の回路のコンポーネントの機能モデルを説明する図
、第２６図Ａないし第２６図Ｅは、第２０図の回路の特
別な場合を示した装置の使用方法を説明した図、 第２７図ないし第４３図は、第２０図の回路試験に関す
る曲線を表す図、である。 ＣＩ　・・・コンポーネントのネットワーク、ＭＭ・・
・記憶装置、　　Ｍ　Ｉ　Ｎ・・・インタフェース手段
、 ＭＴ・・・処理手段、 ＣＬ・・・キーボード、 ＭＡＦ・・・スクリーン、 ＡＯ、Ａ１・・・プローブ、 ＭＭＩ・・・数値記憶装置、 ＭＭ２・・・モデル記憶装置、 ＭＭ３・・・デーク／命令記憶装置、 ＵＣ・・・・マイクロコンビュータ、 ＤＩＳ・・・ディスク装置、 ＯＳＣ・・・オシロスコープ、 Ｌｌ　・・・ディジタルバス、 Ｃ・・・コンデンサ、 Ｑ・・・トランジスタ、 Ｄ・　・　・ダイオード、 Ｒ・・・抵抗、 Ｎ・　・　・節点（ノード）。 ＦＩＧ．７ Ｆｌ（３．１１ ＦＩ６．２２ １口 ＦＩ６．２３ １ ＦＩＧ．２４ ■ ＦＩＧ．２５ ＤＰＩ２（　Ｖ　） 号 （マイクロセカノド） ＦＩＧ２７ ＦＩＧ．２８ （マイクロセヵ／ド） ｏ，ｃｅｏ○１ トＩＧ．Ｅ○ （マイクロセヵノト ＦＩ　ＣＦ３１ （マイクロセヵ／ド） ＦＩＧ３２ （マイクロセカント） ＤＰＩ４３　’ ・１ （Ｖ） ：１ Ｆｉ　６３３ （マイクロセカノド） ＦＩＧ３ （マイクロ七カ／ト）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、コンポーネントのネットワークを試験するための電
   子装置であって、選択された時間間隔でサンプリング時
   点を定義する手段、該ネットワークの該コンポーネント
   の少なくとも１つを指定する手段、該コンポーネントの
   機能状態に関する物理量を検出するプローブ、そして選
   択時間間隔内で該物理量の一連のサンプルを与えるため
   に該プローブと協働する手段、を有するインタフェース
   手段； 少なくとも１つの特定の種類のコンポーネントに開する
   物理量に開するコンポーネント式からなる機能モデルの
   記憶装置； 同一時間間隔に対応しているがネットワークの異なるコ
   ンポーネントに関連したいくつかのサンプルシリーズの
   物理量を格納できる数値記憶装置；および、前記モデル
   に含まれた式、検出サンプル、数値記憶装置での記憶お
   よび数値記憶装置に含まれた数値の試験を考慮して、該
   記憶装置および前記時間間隔にわたり物理量の推定機能
   からなる処理手続きを実行できるインタフェース手段に
   接続した処理手段、を組み合わせて有する、コンポーネ
   ントのネットワークを試験するための電子装置。 ２、前記機能モデル記憶装置が、更に前記物理量間の一
   般的関係を表す法則式を含み；前記検出サンプルの少な
   くとも一部がプレシジョン・ブラケットとともに前記記
   憶装置に格納され；前記機能モデル（ＭＯＤＲ１０、Ｍ
   ＯＤＣ１０、ＭＯＤＱ１０）は、少なくとも一部はアン
   サーティンティ・ブラケットを含み； いかなる推定値も前記アンサーティンティ・ブラケット
   と前記プレシジョン・ブラケットの少なくとも一部から
   導かれる推定アンサーティンティブラケットとともに記
   憶装置に格納され；そして、 該記憶装置が、少なくとも一部の前記サンプリング時点
   について、前記コンポーネントの初期集合（ＥＰＲｉ）
   を基礎に得られた、同一物理量に対する出所の異なる第
   一および第二のブラケットを含む時は、この２つのブラ
   ケットを比較して、この初期集合のコンポーネントの機
   能に関する第一情報をそれから演鐸する、 ことを特徴とする、請求項１記載の装置。 ３、前記第一および第二のブラケットが推定プレシジョ
   ン・ブラケットと推定アンサーティンティ・ブラケット
   からなるブラケットのグループに属することを特徴とす
   る、請求項２記載の装置 ４、前記コンポーネントモデル（ＭＯＤＱ１０）の少な
   くとも一部がこれらのコンポーネントに関連する特定の
   物理量を対象とする少なくとも１つの参照ブラケットを
   含み、また更にブラケットの前記グループが１つあるい
   は複数の参照ブラケットを含むことを特徴とする、請求
   項３記載の装置。 ５、サンプリング時点を定義する手段が制御可能である
   ことを特徴とする、請求項１ないし４のいずれか１項に
   記載の装置。 ６、モデル記憶装置に含まれたコンポーネント式が、コ
   ンポーネントの正動作を示すことを特徴とする、請求項
   １ないし５のいずれか１項に記載の装置。 ７、前記第一および第二のブラケット（ＦＤｉ）が時間
   間隔の少なくとも有意な記憶にわたり互いに素である時
   、前記第一情報がコンポーネントの前記初期集合に属す
   る少なくとも１つのコンポーネントの誤動作を表してい
   ることを特徴とする、請求項２ないし６のいずれか１項
   に記載の装置。 ８、２つの互いに素であるブラケットの取得を導きしか
   も所定条件を満足させるコンポーネントの初期集合が存
   在するとき、処理が該初期集合の所定コンポーネントに
   関する物理量を選択的に検出すること（１４）を含むこ
   とを特徴とする、請求項７記載の装置。 ９、２つの互いに素なブラケットの取得につながる２つ
   の異なる前記初期集合が存在とき、誤動作の疑いのある
   １つあるいは複数のコンポーネント（ＣＤ）が前記２つ
   の初期集合の論理積に属することを特徴とする、請求項
   ７および８のいずれか１項に記載の装置。 １０、論理積が単一のコンポーネント（ＣＤ）からなる
   ２つの前記初期集合が得られるまで処理が続けられるこ
   とを特徴とする、請求項９記載の装置。 １１、時間間隔の前記有意部分が所定数の連続するサン
   プリング時点からなることを特徴とする、請求項７ない
   し１０のいずれか１項に記載の装置。 １２、前記所定数が２以上であることを特徴とする、請
   求項１１記載の装置。 １３、前記第一と第二のブラケットが空でない論理積ブ
   ラケットを有する時、この論理積ブラケットが優先順に
   より前記物理量に割り当てられることを特徴とする、請
   求項２ないし６のいずれか１項に記載の装置。 １４、処理手段が、コンポーネントの少なくとも一部に
   対し、該コンポーネントに対して既に個別に検出された
   ものと異なる種類の物理量および該コンポーネントに対
   して既に個別に検出された物理量からなるグループに属
   する少なくとも１つの物理量を推定することができ、更
   に、この推定値が数値記憶装置の少なくとも１つの数値
   に基づいて得られることを特徴とする、請求項１ないし
   １３のいずれか１項に記載の装置。 １５、複数の異なる物理量を介在させて公式化したこと
   に基づいて推定物理量を取得する目的で、前記公式が異
   なる各物理量を一回だけ含むように用意されることを特
   徴とする、請求項１ないし１４のいずれか１項に記載の
   装置。 １６、更に装置がネットワーク構造を記憶することがで
   きる記憶装置からなることを特徴とする、請求項１ない
   し１６のいずれか１項に記載の装置。 １７、処理がネットワークの構造に接続された意思決定
   メカニズム（１）のオペレーションからなることを特徴
   とし、各種物理量が検出されるコンポーネントの選択と
   順番の決定を示す第一メカニズム（１１）、および物理
   量の推定値を示す第二メカニズム（１３）から構成され
   ている、請求項１６記載の装置。 １８、前記コンポーネントのネットワークが複数のグリ
   ッドを有し、前記第二のメカニズムが、選択された種類
   の物理量を検出したグリッドのコンポーネントに関して
   、前記コンポーネントの機能モデルおよび前記検出物理
   量のサンプルから抜き取った選択種類と異なる種類の物
   理量の少なくとも１つの推定； 選択された種類の物理量を検出せず、前記グリッドに属
   するか、又は直接前記グリッドのコンポーネントに接続
   したコンポーネントに関して、数値記憶装置に既に記憶
   した数値に基づいて取得し、前記グリッドの少なくとも
   １つのコンポーネントに接続したもので、選択した種類
   と同じ種類、又は異なる種類の物理量の少なくとも１つ
   の推定；を含むことを特徴とする、請求項１７記載の装
   置。 １９、第二のメカニズムは物理量の他の推定機能のため
   の前記論理積ブラケットを使用できることを特徴とする
   、請求項１２と請求項１７又は１８との組み合わせに記
   載の装置。 ２０、コンポーネントのネットワークが複数のグリッド
   からなるとともに、少なくとも１つの物理量を検出する
   グリッドの選択に関連している第一の意思決定基準（１
   １０）からなっていることを特徴とする、請求項１７な
   いし１９のいずれか１項に記載の装置。 ２１、第一の基準が各グリッド内で既に分かっている物
   理量の数に関連する第一の下位基準から構成されている
   ことを特徴とする、請求項２０記載の装置。 ２２、第一の下位基準（１１３）に従って少なくとも２
   つのグリッド（１１２）の選択が可能な場合、第一の基
   準はこのグリッド（１１２）のコンポーネント数に関連
   した第二の下位基準を構成することを特徴とする、請求
   項２１記載の装置。 ２３、第二の下位基準は、３、４、２の順番で取られた
   コンポーネント数に従ってグリッドを優先的に選択する
   機能からなっていることを特徴とする、請求項２０記載
   の装置。 ２４、第二の下位基準に従って少なくとも２つのグリッ
   ド（１１５）の選択が可能な場合、第一の基準は該グリ
   ッド（１１５）のコンポーネントの種類に関連する第三
   の下位基準（１１６）からなることを特徴とする、請求
   項２２および２３のいずれか１項に記載の装置。 ２５、選択グリッド（ＭＳＥ）内では、第一のメカニズ
   ムは、このグリッド（ＭＳＥ）のコンポーネントの種類
   に関連する第二の意思決定基準（１１９−２）からなる
   ことを特徴とする、請求項１８ないし２４のいずれか１
   項に記載の装置。 ２６、前記コンポーネントのネットワークが電子回路（
   ＣＩ）であることを特徴とする、請求項１ないし２５の
   いずれか１項に記載の装置。 ２７、前記検出物理量が電流式と電位差からなるグルー
   プに属することを特徴とする、請求項２６記載の装置。 ２８、前記推定物理量が電流式と電位差からなるグルー
   プに属することを特徴とする、請求項２７記載の装置。 ２９、第三の下位基準にしたがって選択されたグリッド
   が最大数の受動コンポーネントを有するものであること
   を特徴とする、請求項２４と請求項２６または２７の組
   み合わせに記載された装置。 ３０、第二の意思決定基準が受動コンポーネントのター
   ミナルで電位差の優先的検出機能からなることを特徴と
   する、請求項２５と請求項２６または２７の組み合わせ
   に記載の装置。 ３１、多数の受動コンポーネントがある場合は、電位差
   が二重極のターミナルで優先的に検出されることを特徴
   とする、請求項３０記載の装置。 ３２、初期集合（１４０）が共通ターミナルに接続され
   たコンポーネントだけから構成されていない時、電位差
   の検出（１４２）は、まだ行なわれていない初期集合の
   コンポーネントのターミナルで行なわれることを特徴と
   する、請求項７と請求項２６または２７の組み合わせに
   記載の装置。 ３３、処理が、 回路のコンポーネントの少なくとも一部に関しては、こ
   のコンポーネントの１つの第一と第二のターミナル間の
   電位差の検出に基づいて、第二と第一のターミナル間の
   電位差の推定を行なう機能、およびこの２つのターミナ
   ルの各々における電流の推定；別のコンポーネントのタ
   ーミナルでの各電流が分かっているそのコンポーネント
   の各ターミナルを接続したネットワークの節点に更に接
   続した１つのターミナルを有するコンポーネントに開し
   ては、前記コンポーネントのターミナルでの電流の推定
   、を含むことを特徴とする、請求項２６ないし３２のい
   ずれか１項に記載の装置。 ３４、前記法則式が、 回路の節点における電流の合計がゼロ値であること；お
   よび、１つのグリッド上の電位差の和がゼロ値であるこ
   と、に基づく少なくとも１つの法則を考慮に入れている
   ことを特徴とする、請求項２６ないし３３のいずれか１
   項に記載の装置。 ３５、２つのブラケットの比較に適している物理量の１
   つが、トランジスタのエミッタ電流、ベース電流および
   コレクタ電流、そして３つのターミナル内の２つの間の
   電位差から構成されているグループに属していることを
   特徴とする、請求項２６ないし３４のいずれか１項に記
   載の装置。 ３６、２つのブラケットの比較に適する物理量の１つは
   、半導体接合点、特にダイオードを通過する電流の強さ
   であることを特徴とする、請求項２６ないし３５のいず
   れか１項に記載の装置。 ３７、２つのブラケットの比較に適している物理量の１
   つが受動コンポーネント、特に抵抗、のターミナルでの
   電位差であることを特徴とする、請求項２６ないし３６
   のいずれか１項に記載の装置。 ３８、プローブは回路の２つの選択ターミナル間の電位
   差を検出することができるので、前記指定手段は前記タ
   ーミナル間に接続されたコンポーネントのうち、少なく
   とも１つを指定し；第一の共通ターミナルと後者に隣接
   した各種ターミナル間で検出された、同じ時間間隔に対
   応している数多くの電位差を数値記憶装置が格納するこ
   とができ；処理過程は、各電位差に対して前記時間間隔
   にわたり関連コンポーネントの機能モデルから取り出し
   た電流式を推定する機能を有し；そして、 処理手段は、前記時間間隔の各瞬間の電流式を設定する
   時に、前記第一共通ターミナルにおける電流の合計がゼ
   ロ値であると仮定されていることを考慮に入れる条件を
   試験することができて、この試験により前記第一の共通
   ターミナルに接続したコンポーネントの機能に関する第
   一の指標を与えるものである、 ことを特徴とする、請求項１ないし５のいずれか１項と
   請求項２６との組み合わせに記載の装置。 ３９、電流式の少なくとも一部が電流値であり、電流式
   のセットの試験がこの電流値の算術的和からなりたって
   いることを特徴とする、請求項３８記載の装置。 ４０、前記第一の指標は、前記第一の共通ターミナルに
   接続された少なくとも１つのコンポーネントの誤動作を
   表しているので、これらのコンポーネントの集合には総
   体的に誤動作モードが含まれていることを特徴とする、
   請求項３８および３９のいずれか１項に記載の装置。 ４１、前記第一の指標は、前記第一の共通ターミナルに
   接続した複数のコンポーネントの個別の誤動作を表して
   いるので、この共通ターミナルに接続したコンポーネン
   トの集合には総体的に正動作モードが含まれていること
   を特徴とする、請求項３８および３９のいずれか１項に
   記載の装置。 ４２、機能モデル記憶装置（ＭＭ２）は、前記第一の共
   通ターミナルに接続したコンポーネントの少なくとも一
   部が正動作していることを表す機能モデルを含んでいる
   ことを特徴とする、請求項３８ないし４１のいずれか１
   項に記載の装置。 ４３、機能モデル記憶装置は、前記第一の共通ターミナ
   ルに接続したコンポーネントの少なくとも一部が誤動作
   していることを表す機能モデルを含んでいることを特徴
   とする、請求項３８ないし４２のいずれか１項に記載の
   装置。 ４４、前記第一の共通ターミナルに接続した各コンポー
   ネントに関連する各電流式は正動作を表している機能モ
   デルから取り出されており、前記第一の共通ターミナル
   における電流の合計がゼロ値となると仮定されているこ
   とを考慮している条件が満たされることを特徴とする、
   請求項４１と４２の組み合わせに記載の装置。 ４５、単一の電流式が前記共通ターミナルに接続した対
   応するコンポーネントが誤動作することを表している機
   能モデルから取り出され、他方、別のコンポーネントに
   関連する別の電気式は正動作モードを表している機能モ
   デルから個別に取り出されており、更に前記第一の共通
   ターミナルにおいて電流の合計が仮定的にゼロ値である
   ことが満たされていることを特徴とする、請求項４０と
   ４２と４３のすべての組み合わせに記載の装置。 ４６、前記第一の共通ターミナルに接続した各コンポー
   ネントに関連した各電流式が正動作モードを表している
   機能モデルから取り出されており、電流の合計がゼロ値
   であると仮定していることを考慮に入れた条件の試験結
   果が否定的であることを特徴とする、請求項４０と４２
   の組み合わせに記載の装置。 ４７、処理手段（ＭＴ）は、第一の共通ターミナルに隣
   接するターミナルの中から選択された第二の共通ターミ
   ナルにおいて電流の合計がゼロ値であることが仮定され
   ていることを考慮に入れた第二の条件を試験することが
   できるので、この試験により前記共通ターミナルに接続
   されたコンポーネントの機能に関する第二の指標が与え
   られ、第一と第二の指標を組み合わせることにより第一
   と第二の共通ターミナル間に接続されたコンポーネント
   の機能に関する第三の指標を与えることができることを
   特徴とする、請求項４６に記載の装置。 ４８、機能モデル記憶装置（ＭＭ２）は異なった複雑性
   のコンポーネント式（ＭＯＤＱ１、ＭＯＤＱ２）を含ん
   でいることを特徴とする、請求項３８ないし請求項４７
   のいずれか１項に記載の装置。 ４９、前記共通ターミナルにおける電流の合計がゼロ値
   であることが仮定されていることを考慮した前記条件の
   試験は、算術的数値と参照数値とを比較することから成
   立していることを特徴とする、請求項３８ないし４９の
   いずれか１項に記載の装置。 ５０、プローブ手段は、回路の２つのターミナルに別々
   にあてることができる２つの分離したプローブ（Ａ０、
   Ａ１）から構成されていることを特徴とする、請求項３
   ８ないし４９のいずれか１項に記載の装置。 ５１、処理手段は、前記検出用に使用された共通ターミ
   ナルの特性およびそれに接続したコンポーネントの特性
   を記憶することができ、これにより、回路を増分ベース
   で提示することができることを特徴とする、請求項３８
   ないし請求項５０のいずれか１項に記載の装置。 ５２、インタフェース手段は潜在的利用者と対話する手
   段（ＣＬ、ＭＡＦ）から構成されていることを特徴とす
   る、請求項１ないし５１のいずれか１項に記載の装置。 ５３、処理手段は使用目的の命令を詳しく述べて、対話
   手段によって命令を伝達することができることを特徴と
   する、請求項５２に記載の装置。 ５４、機能モデル記憶装置（ＭＭ２）は、対話手段によ
   り処理手段に伝達することができる特別機能モデルを受
   け入れることができることを特徴とする、請求項５２お
   よび５３のいずれか１項に記載の装置。 ５５、ディジタルリンク（ＬＩ）により処理手段に接続
   することができるプローブ手段を組み込んでいる個別の
   検出装置（ＯＳＣ）から構成されていることを特徴とす
   る、請求項１ないし５４のいずれか１項に記載の装置。