JPH03201387A - Device for partially annealing lead frame - Google Patents

Device for partially annealing lead frame

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JPH03201387A
JPH03201387A JP34393089A JP34393089A JPH03201387A JP H03201387 A JPH03201387 A JP H03201387A JP 34393089 A JP34393089 A JP 34393089A JP 34393089 A JP34393089 A JP 34393089A JP H03201387 A JPH03201387 A JP H03201387A
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lead frame
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lead
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岡本 辰美
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樋口 正幸
Kengo Miyata
宮田 賢吾
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Abstract

PURPOSE:To maintain the initial function of the base material of each lead frame by feeding lead frames while keeping the frames from contact with a high-frequency heating element and a mask plate, and making the high-frequency heating element correspond to the portion of each lead frame including an inner lead and/or a stage. CONSTITUTION:Lead frames 50 intermittently fed from a feed roller 18 are each moved to just above a lower mask plate 8 and a high-frequency induction heating element 9 is stuck to the lower surface of each lead frame 50 and at the same time the lower mask plate 8 covers the ambient of the heating element 9 and each lead frame 50 is sandwiched between the lower mask plate 8 and an upper mask plate 12. Only a stage 51 and the end portion of an inner lead 52 or the area of each lead frame along a damper 53 are subjected to induction heating by the high-frequency heating element 9 and the other area is protected from induction heating by the lower mask plate 8. The lead frame 50 ahead of the line is sandwiched between upper and lower cooling plates 13, 10 and is gradually cooled and annealed by heating treatment and gradual cooling. The initial function of the base material of the lead frames is thereby maintained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置に用いられるリードフレームをプ
レス加工した後にステージ及びその周りのインナーリー
ドのみを部分的に焼鈍する装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an apparatus for partially annealing only a stage and inner leads around the stage after pressing a lead frame used in a semiconductor device.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

半導体装置に用いられるリードフレームに滞留する残留
応力は、−膜内に次の加工履歴を経る際に発生する。
Residual stress that remains in a lead frame used in a semiconductor device is generated when the film undergoes the next processing history.

i)金R鋼材スラブを熱間、冷間圧延及び熱処理の加工
工程を経て金属薄板の広幅帯状に圧延する過程。この過
程では、スラブの幅方向の中央部分と両端部分とで異な
る残留応力が形成される。
i) A process of rolling a gold R steel slab into a wide strip of metal sheet through the processing steps of hot rolling, cold rolling, and heat treatment. In this process, different residual stresses are formed at the center and both ends of the slab in the width direction.

il)金属薄板の広幅帯状からリードフレームの所要幅
の条材にスリットする過程。
il) The process of slitting a wide strip of metal sheet into strips of the required width of the lead frame.

iii )条材の不要部分を順次除去して、インナーリ
ードの先端部を連結保持するタイバーを残して素子搭載
ステージとインナーリード及びアウターリード等のリー
ドフレームの所要形状に形成するプレス加工過程。
iii) A press working process in which unnecessary portions of the strips are sequentially removed and the tie bars that connect and hold the tips of the inner leads are left behind to form the element mounting stage, inner leads, outer leads, etc. into the desired shape of the lead frame.

以上の過程によって形成されたリードフレームは、更に
後続のラインで半導体装置に組み立てられる。その手順
は、リードフレームのステージに素子を搭載し、この素
子のポンディングパッドと外部導出リードとを貴金属の
細線で結線して電気導通回路を形威し、これらを樹脂封
止するというものである。ところが、半導体装置に組立
てられるまでの中間過程での加熱によって、リードフレ
ームに生じていた残留応力が解放されてしまう。
The lead frame formed through the above process is further assembled into a semiconductor device in a subsequent line. The procedure is to mount the device on the stage of the lead frame, connect the bonding pad of this device and the external lead with thin precious metal wire to form an electrically conductive circuit, and then seal them with resin. be. However, residual stress generated in the lead frame is released due to heating during an intermediate process before it is assembled into a semiconductor device.

このため、インナーリード先端部にリードの浮き沈みや
寄り等の変形が発生してワイヤボンディング不良を生じ
、半導体装置の歩留り低下及び長期的な信頼性に欠ける
要因となっていた。
As a result, deformations such as floating or shifting of the leads occur at the tips of the inner leads, resulting in defective wire bonding, which is a factor in lowering the yield of semiconductor devices and lacking long-term reliability.

従来では、このような問題を防ぐために、プレス加工し
て形成した短冊状又は連続体のリードフレームの全体を
間接的又は直接的に加熱する熱処理装置を用いて、リー
ドフレームの残留応力を除去する処理を施すことが一般
に行われている。
Conventionally, in order to prevent such problems, residual stress in the lead frame is removed using a heat treatment device that indirectly or directly heats the entire strip-shaped or continuous lead frame formed by press processing. Treatment is generally performed.

前者の熱処理装置としては、リードフレームの全体を酸
化防止の加熱雰囲気中に連続供給して間接加熱する光輝
焼鈍装置や真空焼鈍装置等が一般に利用されている。ま
た、後者のものでは、電磁誘導現象を利用して金属内で
電気エネルギーを直接熱エネルギーに変える直接加熱式
の高周波焼鈍装置等がある。
As the former heat treatment apparatus, a bright annealing apparatus, a vacuum annealing apparatus, etc., which continuously supply the entire lead frame into an oxidation-preventing heating atmosphere and heat it indirectly, are generally used. Among the latter types, there is a direct heating type high frequency annealing device that uses electromagnetic induction to directly convert electrical energy into thermal energy within the metal.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、前者の装置では、加熱時間が長くまた加
熱量を確保するために装置全体が長くなるので、設備上
の障害がある。また、加熱雰囲気の調整や温度制御も複
雑であり、更に短冊状リードフレーム材の処理ではトレ
イに整列した後加熱雰囲気中に搬送するための整列の手
作業工程が必要となる。このため、作業効率の低下等に
よってコスト面での問題があるほか、装置のレイアウト
や同期化等にも制限を受けるので、自動化の障害となっ
ていた。
However, in the former device, the heating time is long and the entire device is lengthened to ensure the amount of heating, so there are problems with the equipment. In addition, adjustment of the heating atmosphere and temperature control are complicated, and furthermore, the processing of strip-shaped lead frame materials requires a manual alignment process for arranging them on a tray and then transporting them into the heating atmosphere. For this reason, there are problems in terms of cost due to reduced work efficiency, etc., and there are also restrictions on device layout, synchronization, etc., which has been an obstacle to automation.

一方、後者の装置では、リードフレームが狭い加熱コイ
ルの中を連続搬送されるので、振動によって加熱コイル
と接触してリードフレームの表面に引っ掻き疵やリード
の曲がり等の損傷を発生させる欠点があった。
On the other hand, in the latter device, the lead frame is continuously conveyed through a narrow heating coil, which has the disadvantage that it comes into contact with the heating coil due to vibrations, causing damage such as scratches on the surface of the lead frame and bending of the leads. Ta.

また、前記間接又は直接的に加熱する熱処理装置は、リ
ードフレームの全体を加熱するため、リードフレームの
外枠やアウターリード及びこれを連結保持するダムバー
が軟化する。このため、母材の機能低下及び延び、収縮
等による変形によって、外枠に設けた位置決め用のパイ
ロット孔のピッチが変化するという問題もある。
Further, since the heat treatment apparatus that heats indirectly or directly heats the entire lead frame, the outer frame of the lead frame, the outer leads, and the dam bar that connects and holds them are softened. Therefore, there is a problem in that the pitch of the pilot holes for positioning provided in the outer frame changes due to functional deterioration and deformation due to elongation, contraction, etc. of the base material.

更に、近来ては、リードフレームを用いる半導体装置の
機能の多様化や多ピン化傾向に伴い、インナーリードの
先端部が微細化されるようになった。このため、リード
幅やその間隔が一層狭くなり、インナーリードの微小な
変形も許容できない状況にあり、高精度の部分熱処理装
置の要望があった。
Furthermore, in recent years, with the diversification of functions of semiconductor devices using lead frames and the tendency to increase the number of pins, the tips of inner leads have become smaller. For this reason, the lead width and the spacing between the leads have become narrower, and even minute deformation of the inner leads cannot be tolerated, so there has been a demand for a highly accurate partial heat treatment apparatus.

本発明の目的は、加工履歴によって生じる残留応力を必
要な領域のみで除去し、リードフレーム母材の有する機
能及び位置決め基準孔と相互間のピッチ精度等の初期機
能を維持したり−ドフレームを焼鈍処理できるようにす
ることにある。
The purpose of the present invention is to remove residual stress caused by processing history only in necessary areas, maintain the functions of the lead frame base material and the initial functions such as positioning reference holes and mutual pitch accuracy, and The purpose is to enable annealing treatment.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明は、金属条材をプレス加工して、リードフレーム
の所要の形状に形成する際の打ち抜き。
The present invention relates to punching when forming a metal strip into the desired shape of a lead frame by press working.

コイニング、押圧加工等の加工履歴によって、残留応力
が内部に滞有する該リードフレームを、酸化防止雰囲気
中で熱処理を施して該残留応力を除去する焼鈍装置であ
って、リードフレームを部分的に加熱する高周波加熱体
と、該高周波加熱体の周りに設けられ加熱時にリードフ
レームの非加熱部分を覆うマスクプレートと、前記リー
ドフレームを前記高周波加熱体及びマスクプレートに非
接触状態で送りを与える間欠搬送機構とを備え、前記リ
ードフレームのインナーリード及び/又はステージを含
む部分に前記高周波加熱体を対応させたことを特徴とす
る。
An annealing device that heats a lead frame in which residual stress remains due to processing history such as coining and pressing in an anti-oxidation atmosphere to remove the residual stress, and partially heats the lead frame. a high-frequency heating body for heating, a mask plate provided around the high-frequency heating body to cover an unheated portion of the lead frame during heating, and intermittent conveyance for feeding the lead frame in a non-contact state with the high-frequency heating body and the mask plate. A mechanism is provided, and the high-frequency heating body is made to correspond to a portion of the lead frame including the inner lead and/or the stage.

〔作用〕[Effect]

本発明の部分焼鈍装置は、上記のように構成されている
ので、短冊状又は連続帯状に形成されたリードフレーム
を、開閉自在とした一対のマスクプレートの間をリフト
して所要寸法だけ搬送するので、前記リードフレームが
加熱体に接触することなく所定の位置に搬送できる。
Since the partial annealing apparatus of the present invention is configured as described above, a lead frame formed in the shape of a strip or a continuous band is lifted between a pair of mask plates that can be opened and closed and transported by a required size. Therefore, the lead frame can be transported to a predetermined position without coming into contact with the heating element.

該リードフレームの外枠やアウターリードを連結保持す
るダムバー等の非加熱領域をマスキングして加熱防止す
るので、その部分の母材の有する機能を維持し、外枠に
等配設した位置決め用の基準孔ピッチの延びや収縮等に
よる変形を防止して初期設定した基準孔のピッチを維持
する。
Since the non-heated areas such as the outer frame of the lead frame and the dam bars that connect and hold the outer leads are masked to prevent heating, the functions of the base material in those areas are maintained and the positioning The initially set pitch of the reference holes is maintained by preventing deformation due to elongation or contraction of the reference hole pitch.

更に、該リードフレームの外枠部の機械的強度が維持さ
れるので、搬送の際の引張り力による変形がなく、送り
寸法が安定する。
Furthermore, since the mechanical strength of the outer frame portion of the lead frame is maintained, there is no deformation due to tensile force during transportation, and the feed dimension is stabilized.

非加熱領域をマスキングして、インナーリード及び/又
は半導体素子搭載ステージ等に対応する領域部分に高周
波を印加してその領域部分を加熱するので、インナーリ
ード部は半導体素子搭載ステージに向かって伸縮するの
で他の領域の影響がなく、複雑な変形を起こすこともな
くリード先端の寄りもない安定した製品が得られる。
The non-heated area is masked and a high frequency is applied to the area corresponding to the inner lead and/or the semiconductor element mounting stage to heat that area, so the inner lead part expands and contracts toward the semiconductor element mounting stage. Therefore, a stable product can be obtained without being influenced by other areas, causing complicated deformation, and without shifting the lead tip.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は本発明の部分焼鈍装置の一部切欠正面図、第2
図はリードフレームのパスライン方向に見た図である。
FIG. 1 is a partially cutaway front view of the partial annealing apparatus of the present invention, and FIG.
The figure is a view of the lead frame as seen in the path line direction.

図において、焼鈍装置の全体をカバーするケーシング(
図示せず)の中に配置した基台1aにベース1が固定さ
れ、このベース1の上方に焼鈍処理するリードフレーム
のパスラインが設けられている。ベース1のコーナ部の
4箇所にはそれぞれガイドブツシュ2aを設けてこれに
ガイドピン2を鉛直方向へ移動可能に差し込んでいる。
In the figure, the casing (
A base 1 is fixed to a pedestal 1a disposed in a container (not shown), and a pass line for a lead frame to be annealed is provided above the base 1. Guide bushes 2a are provided at four corner portions of the base 1, and guide pins 2 are inserted into these so as to be movable in the vertical direction.

これらのガイドピン2の下端には補助プレート3及び上
端にはトッププレート4をそれぞれ連結している。補助
プレート3の下面には昇降シリンダ5が連接され、その
作動によって補助プレート3及びこれにガイドピン2に
よって一体化されているトッププレート4をパスライン
と直交する方向に昇降動作させる。
An auxiliary plate 3 is connected to the lower end of these guide pins 2, and a top plate 4 is connected to the upper end thereof. An elevating cylinder 5 is connected to the lower surface of the auxiliary plate 3, and its operation causes the auxiliary plate 3 and the top plate 4, which is integrated therewith by a guide pin 2, to move up and down in a direction perpendicular to the pass line.

ベース1の上面にはバックアップライナ6が固定され、
更にその上にはリードフレームの入り側にホルダプレー
ト7を着脱自在に配置している。
A backup liner 6 is fixed to the upper surface of the base 1,
Moreover, a holder plate 7 is removably arranged on the entry side of the lead frame.

このホルダプレート7は、第2図においてリードフレー
ムのパスラインと直交する方向にバックアップライナ6
に対して出し入れ可能であり、端面に設けたロック7a
によって固定される。ホルダプレート7の上面には下部
マスクプレート8が第2図のようにパスラインライン方
向に2列配置されている。そして、下部マスクプレート
8には、パスライン方向に4個の高周波誘導加熱体9が
組み込まれている。
This holder plate 7 is connected to a backup liner 6 in a direction perpendicular to the pass line of the lead frame in FIG.
Lock 7a provided on the end face
Fixed by Two rows of lower mask plates 8 are arranged on the upper surface of the holder plate 7 in the direction of the pass line as shown in FIG. Four high-frequency induction heating elements 9 are installed in the lower mask plate 8 in the pass line direction.

下部マスクプレート8は、第3図に示すように高周波誘
導加熱体9を等しいピッチで埋設固定したもので、リー
ドフレームを載せたときにステージ及びインナーリード
部分のみが高周波誘導加熱体9に臨み、その他の部分は
下部マスクプレート8に被さるように構成する。なお、
高周波誘導加熱体9は、ダストコア9a及びこれを包囲
した高周波加熱コイル9bを備えたものである。
As shown in FIG. 3, the lower mask plate 8 has high-frequency induction heating elements 9 embedded and fixed at equal pitches, and when a lead frame is placed on it, only the stage and inner lead portions face the high-frequency induction heating element 9. The other portions are configured to cover the lower mask plate 8. In addition,
The high frequency induction heating body 9 includes a dust core 9a and a high frequency heating coil 9b surrounding the dust core 9a.

更に、リードフレームの出側のホルダプレート7の上面
には、誘導加熱した後のリードフレームを徐冷するため
の下部冷却プレート10が固定されている。この下部冷
却プレー)10は、たとえばセラミック等が好適な素材
として利用できる。
Furthermore, a lower cooling plate 10 for slowly cooling the lead frame after induction heating is fixed to the upper surface of the holder plate 7 on the exit side of the lead frame. For example, ceramic or the like can be used as a suitable material for the lower cooling plate 10.

一方、トッププレート4の下面には上部ホルダ11がパ
スラインに直交する方向へ出し入れ自在に組み込まれる
。この上部ホルダ11もホルダプレート7の場合と同様
にロックllaによって固定される。そして、下部マス
クプレート8と対応する位置に上部マスクプレート12
を2列配置すると共に下部冷却プレート10の真上には
上部冷却プレート13を設けている。これらの上部マス
クプレート12及び上部冷却プレート13はそれぞれス
プリング12a、13aによって弾性支持されている。
On the other hand, an upper holder 11 is incorporated into the lower surface of the top plate 4 so as to be able to be taken in and out in a direction perpendicular to the pass line. This upper holder 11 is also fixed by a lock lla in the same way as the holder plate 7. Then, an upper mask plate 12 is placed at a position corresponding to the lower mask plate 8.
are arranged in two rows, and an upper cooling plate 13 is provided directly above the lower cooling plate 10. These upper mask plate 12 and upper cooling plate 13 are elastically supported by springs 12a and 13a, respectively.

リードフレーム50は、第6図のように4個のパターン
を懲戒した短冊状のものとしてラインに供給される。こ
のリードフレーム50の供給のため、第2図に示すよう
にパスラインを挟んだベースlの上に4個の搬送ブロッ
ク14が配置されている。
The lead frame 50 is supplied to the line in the form of a strip with four patterns as shown in FIG. In order to supply this lead frame 50, four transport blocks 14 are arranged on a base l with a pass line in between, as shown in FIG.

これらの搬送ブロック14は、ベース1に設けたレール
1bにガイドされ、パスライン方向にロッドを伸縮させ
る駆動シリンダ15によって間欠往復動作する。そして
、搬送ブロック14には鉛直方向に昇降シリンダ14a
を設けそのロッド14bに搬送フレーム16を固定して
いる。
These transport blocks 14 are guided by rails 1b provided on the base 1, and are moved intermittently back and forth by a drive cylinder 15 that extends and contracts the rods in the direction of the pass line. The conveyance block 14 is provided with an elevating cylinder 14a in the vertical direction.
is provided, and the transport frame 16 is fixed to the rod 14b.

第4図(a)は搬送機構の概略平面図、同図(b)は要
部の側面図である。
FIG. 4(a) is a schematic plan view of the transport mechanism, and FIG. 4(b) is a side view of the main parts.

図示のように、搬送フレーム16はバスラインノ幅のほ
ぼ全体を占め、パスラインを跨ぐ方向に4木のガイドロ
ッド16aを架は渡している。これらのガイドロッド1
6aには、パスライン方向に4本のグリッパホルダ16
b、16c、16d、16eが幅方向に移動可能に紐み
込まれている。グリッパホルダ16b、16cは第2図
において右側を走るリードフレーム50用であり、他方
の1組のグリッパホルダ16d、16eは左側を走るリ
ードフレーム50用となる。そして、各グリッパホルダ
16b〜16eの両端部にはラックを形成したラックユ
ニッH6fが一体化されている。また、グリッパホルダ
16b。
As shown in the figure, the transport frame 16 occupies almost the entire width of the bus line, and the frame has four guide rods 16a extending across the pass line. These guide rods 1
6a, there are four gripper holders 16 in the direction of the pass line.
b, 16c, 16d, and 16e are tied together so as to be movable in the width direction. The gripper holders 16b, 16c are for the lead frame 50 running on the right side in FIG. 2, and the other pair of gripper holders 16d, 16e are for the lead frame 50 running on the left side. A rack unit H6f forming a rack is integrated at both ends of each of the gripper holders 16b to 16e. Also, a gripper holder 16b.

ladのラックユニット16fは共通のガイドロフト1
6aに摺動自在に取り付けられ、他方のグリッパホルダ
16c、16eは他の組みのガイドロッド16aに摺動
自在に取り付けられている。更に、各ラフクユニッ)1
6fはモータ16gの出力軸に設けたピニオン16hに
それぞれ噛み合っている。そして、各グリッパホルダ1
6b〜16eにはそれぞれグリツバ17が取り付けられ
ている。
Lad's rack unit 16f has a common guide loft 1
6a, and the other gripper holders 16c, 16e are slidably attached to the other set of guide rods 16a. In addition, each Rafuku unit) 1
The pinions 6f are respectively engaged with pinions 16h provided on the output shaft of the motor 16g. And each gripper holder 1
A gripper 17 is attached to each of 6b to 16e.

このような搬送機構では、モータ16gを駆動すると、
パスラインの右側のグリッパホルダ16b。
In such a transport mechanism, when the motor 16g is driven,
Gripper holder 16b on the right side of the pass line.

16c及び左側のグリッパホルダ16d、16eは、そ
れぞれの間隔を同時に広げたり縮小したりする動作を行
う。図示の場合は、間隔が最−も小さくこのときにグリ
ッパ17がリードフレーム50の幅方向の縁を保持して
搬送可能な態勢にある。そして、間隔を広げるときは、
リードフレーム50の保持を解除すると共に、上部マス
クプレート12及び上部冷却プレート13の下降に干渉
しないように各グリッパホルダ16b〜16eは退避す
る。
16c and the left gripper holders 16d and 16e simultaneously expand and contract their respective spacings. In the illustrated case, when the interval is the smallest, the gripper 17 is in a position to hold the edge of the lead frame 50 in the width direction and transport it. And when widening the interval,
At the same time as releasing the hold on the lead frame 50, each of the gripper holders 16b to 16e retreats so as not to interfere with the lowering of the upper mask plate 12 and the upper cooling plate 13.

第5図は第2図において左側のリードフレーム50に対
するグリッパ17の挙動を説明する概略図である。グリ
ッパホルダ16b、16cは昇降シリンダ14aの作動
によって、図中の縦方向の矢印のように上下に移動する
。また、モータ16gの作動によって図中の水平方向の
矢印で示すように、ホルダブロック16b、16cはリ
ードフレーム50の左右縁に向けて開閉動作も可能であ
る。グリッパ17によってリードフレーム50を保持す
るときは、まずホルダブロック16b、16cをグリッ
パ17のレベルがリードフレーム50に合うように下降
させる。この後、ホルダブロック16b  16cをリ
ードフレーム50側に接近させて位置決めし、グリッパ
17によってこれを保持する。
FIG. 5 is a schematic diagram illustrating the behavior of the gripper 17 with respect to the lead frame 50 on the left side in FIG. The gripper holders 16b and 16c move up and down as indicated by vertical arrows in the figure by the operation of the lifting cylinder 14a. Further, by the operation of the motor 16g, the holder blocks 16b and 16c can be opened and closed toward the left and right edges of the lead frame 50, as indicated by horizontal arrows in the figure. When holding the lead frame 50 by the gripper 17, the holder blocks 16b and 16c are first lowered so that the level of the gripper 17 matches the lead frame 50. Thereafter, the holder blocks 16b and 16c are positioned close to the lead frame 50 and held by the gripper 17.

このようなグリッパ17の作動によって保持されたリー
ドフレーム50は、駆動シリンダ15によって送りを与
えられる。この送りは、第1図において下部マスクプレ
ート8の真上にあるリードフレーム50が間欠送りによ
って下部、上部冷却プレート10.13まで搬送される
ストロークとする。また、搬送アーム16は入り側から
十分に突き出る長さとし、上流側からのリードフレーム
50の搬入に備える。そして、リードフレーム50の搬
入側及び処理後の搬出側にはそれぞれ送りローラ1g、
 19が配列され、外部のラインに接続してリードフレ
ート50を間欠的に自動供給するシステムとする。
The lead frame 50 held by the operation of the gripper 17 is fed by the drive cylinder 15. This feeding is a stroke in which the lead frame 50 located directly above the lower mask plate 8 in FIG. 1 is conveyed to the lower and upper cooling plates 10.13 by intermittent feeding. Further, the transport arm 16 is made long enough to protrude from the entry side to prepare for carrying in the lead frame 50 from the upstream side. A feed roller 1g is provided on the loading side of the lead frame 50 and the unloading side after processing, respectively.
19 are arranged and connected to an external line to form a system that automatically supplies lead freight 50 intermittently.

ここで、第6図に示したように、リードフレーム50は
4個のパターンを持つものとして供給されそれぞれのパ
ターンを4個の高周波誘導加熱体9に対応させて位置決
めする。第7図はリードフレーム50にプレス加工によ
って成形した1個のパターンを示す平面図である。この
パターンは中央に半導体素子を搭載するステージ51を
設けてその周りにインナーリード52を形成し、更にダ
ムバー53を境界としてアウターリード54を設けたも
のである。そして、アウターリード54の外側の両端部
には焼鈍やメツキ処理等の位置決めとして利用される基
準ビン孔55が一定ピッチで開けられている。
Here, as shown in FIG. 6, the lead frame 50 is supplied with four patterns, and each pattern is positioned in correspondence with the four high-frequency induction heating elements 9. FIG. 7 is a plan view showing one pattern formed on the lead frame 50 by press working. In this pattern, a stage 51 on which a semiconductor element is mounted is provided at the center, inner leads 52 are formed around the stage 51, and outer leads 54 are further provided with a dam bar 53 as a boundary. In both outer ends of the outer lead 54, reference pin holes 55 are formed at a constant pitch to be used for positioning during annealing, plating, etc.

リードフレーム50に対する焼鈍の領域は、第7図の破
線で囲んだ部分である。すなわち、ステージ51及びイ
ンナーリード52の先端部又はダムバー53に沿った範
囲であり、これより外側には焼鈍を施さない。このよう
な焼鈍のため、高周波誘導加熱体9は破線で囲んだ形状
に等しく iするように設定し、下部マスクプレート8
はその周りの全体を覆うことができる形状とする。第8
図はリードフレーム50に対する焼鈍時の概略をパスラ
イン方向に見た断面図であり、同図(a)は第1図の装
置に対応させたものである。図示のように、リードフレ
ーム50の下面に下部マスクプレート8及び高周波誘導
加熱体9が密着し、上面には上部マスクプレート12が
密着している。また、同図(b)のように上部マスクプ
レート12にも高周波誘導加熱体9を組み込んで両面か
ら加熱することもできる。このような配置において、高
周波誘導加熱体9は第7図の破線で囲んだ焼鈍領域を加
熱するように、リードフレーム50との位置決めを設定
する。
The annealing area for the lead frame 50 is the area surrounded by the broken line in FIG. That is, the area is along the tip of the stage 51 and the inner lead 52 or the dam bar 53, and the area outside of this is not annealed. For such annealing, the high-frequency induction heating element 9 is set to have a shape equal to the shape surrounded by the broken line, and the lower mask plate 8 is
shall have a shape that can cover the entire area around it. 8th
The figure is a cross-sectional view schematically showing the lead frame 50 during annealing when viewed in the pass line direction, and (a) corresponds to the apparatus shown in FIG. 1. As shown in the figure, the lower mask plate 8 and the high-frequency induction heating element 9 are in close contact with the lower surface of the lead frame 50, and the upper mask plate 12 is in close contact with the upper surface. In addition, as shown in FIG. 4B, a high frequency induction heating element 9 can also be incorporated into the upper mask plate 12 to heat it from both sides. In such an arrangement, the high-frequency induction heating element 9 is positioned with respect to the lead frame 50 so as to heat the annealing region surrounded by the broken line in FIG.

以上の構成において、送りローラ18から間欠的に供給
されたリードフレーム50は、昇降シリンダ14aによ
って下降したグリッパ17によって保持された後、下部
マスクプレート8のレベルよりも少し高い位置に持ち上
げられる。この後、駆動シリンダ15によって搬送ブロ
ック14に間欠送りが与えられ、第1図のようにリード
フレーム50は下部マスクプレート8の真上に移動する
。なお、これと同時に既に加熱された先行リードフレー
ム50aはグリッパ17に保持されて下部冷却プレート
10の真上まで搬送されている。
In the above configuration, the lead frame 50 intermittently supplied from the feed roller 18 is held by the gripper 17 lowered by the lifting cylinder 14a, and then lifted to a position slightly higher than the level of the lower mask plate 8. Thereafter, the drive cylinder 15 applies intermittent feeding to the transport block 14, and the lead frame 50 moves directly above the lower mask plate 8 as shown in FIG. Note that, at the same time, the already heated preceding lead frame 50a is held by the gripper 17 and conveyed to just above the lower cooling plate 10.

搬送ブロック14が停止した後には、昇降シリンダ14
aによって搬送フレーム16を下降させ、リードフレー
ム50を下部マスクプレート8の上に及び先行リードフ
レーム50aを下部冷却プレート10の上に載せる。こ
の後、グリッパ17によるリードフレーム50.50a
の拘束を解くと共に、モータ16gによってホルダブロ
ック16b〜16eの間隔を広げて上部マスクプレート
12及び上部冷却プレート13の下降に干渉しないよう
゛に備える。次いで、昇降ンリンダ5によって第1図の
状態からトッププレート4を下降させ、上部マスクプレ
ート12を下部マスクプレート8に及び上部冷却プレー
ト13を下部冷却プレーNOにそれぞれ重ね合わせる。
After the transport block 14 has stopped, the lifting cylinder 14
The transport frame 16 is lowered by a, and the lead frame 50 is placed on the lower mask plate 8 and the preceding lead frame 50a is placed on the lower cooling plate 10. After this, the lead frame 50.50a is gripped by the gripper 17.
At the same time, the motor 16g is used to widen the intervals between the holder blocks 16b to 16e so as not to interfere with the lowering of the upper mask plate 12 and the upper cooling plate 13. Next, the top plate 4 is lowered from the state shown in FIG. 1 by the lifting cylinder 5, and the upper mask plate 12 and the upper cooling plate 13 are superposed on the lower mask plate 8 and the lower cooling plate NO, respectively.

リードフレーム50は第8図(a)で説明したように下
面に高周波誘導加熱体9が密着し同時にその周りに下部
マスクプレート8が被さり、上部マスクプレート12と
の間に挟まれる。そして、第7図の破線で囲んだ領域の
みが高周波誘導加熱体9によって誘導加熱され、その他
の領域は下部マスクプレート8によって誘導加熱が抑え
られる。したがって、リードフレーム50に対する部分
加熱が高周波誘導加熱体9によって行われる。一方、先
行リードフレーム50aは下部、上部冷却プレート10
゜13によって挟まれて徐冷され、加熱処理及び徐冷に
よる焼鈍が施される。
As explained in FIG. 8(a), the lead frame 50 has the high-frequency induction heating element 9 in close contact with the lower surface thereof, and at the same time, the lower mask plate 8 is placed around it and is sandwiched between the upper mask plate 12 and the lower mask plate 8. Then, only the region surrounded by the broken line in FIG. 7 is induction heated by the high frequency induction heating element 9, and the other regions are suppressed from induction heating by the lower mask plate 8. Therefore, partial heating of the lead frame 50 is performed by the high frequency induction heating element 9. On the other hand, the preceding lead frame 50a has lower and upper cooling plates 10
13 and then slowly cooled, and subjected to heat treatment and annealing by slow cooling.

一定時間経過した後、昇降シリンダ5によってトッププ
レート4を上昇させてリードフレーム50及び先行リー
ドフレーム50aの上面を開放する。
After a certain period of time has elapsed, the top plate 4 is raised by the lifting cylinder 5 to open the upper surfaces of the lead frame 50 and the preceding lead frame 50a.

そして、間隔を広げていたグリッパホルダ16b〜16
eを第4図(a)の状態に戻してグリッパ17によって
処理後のリードフレーム50及び先行リードフレーム5
0aを保持し、駆動シリンダ15によって再び送りを与
える。この送りによって、先行リードフレーム50aは
送りローラ19側へ排出され、リードフレーム50は下
部冷却プレート10の上に達し、更に後続リードフレー
ム50bが下部マスクプレート8の上に到達する。以降
、前記の要領によって間欠的にリードフレーム50が加
熱、徐冷の順に焼鈍処理が行われる。
Then, the gripper holders 16b to 16 whose spacing was widened
The lead frame 50 and the preceding lead frame 5 after being processed by the gripper 17 are returned to the state shown in FIG. 4(a).
0a, and feed is applied again by the drive cylinder 15. By this feeding, the preceding lead frame 50a is discharged toward the feeding roller 19 side, the lead frame 50 reaches above the lower cooling plate 10, and the succeeding lead frame 50b further reaches above the lower mask plate 8. Thereafter, the lead frame 50 is annealed in the order of heating and slow cooling intermittently according to the above-described procedure.

なお、リードフレーム50のパターンは仕様によって様
々に変化するので、第7図で示した破線域内の焼鈍領域
も変わることになる。このため、高周波誘導加熱体9の
大きさや配列ピッチ及び上下のマスクブレー)8.12
及び上下の冷却プレート10、13の形状等も変更する
必要がある。これに対して、ホルダプレート7及び上部
ホルダ11はそれぞれバックアップライナ6及びトップ
プレート4に着脱自在なので、リードフレーム50のパ
ターンに合わせたマスクプレートや冷却プレートを用意
しておけば支障なく対応できる。
Note that since the pattern of the lead frame 50 changes variously depending on specifications, the annealing area within the broken line area shown in FIG. 7 also changes. For this reason, the size and arrangement pitch of the high-frequency induction heating element 9 and the upper and lower mask brakes) 8.12
It is also necessary to change the shapes of the upper and lower cooling plates 10 and 13. On the other hand, since the holder plate 7 and the upper holder 11 can be attached to and detached from the backup liner 6 and the top plate 4, respectively, this can be handled without any problem by preparing a mask plate and a cooling plate that match the pattern of the lead frame 50.

第9図及び第10図はリードフレームを帯状材として送
り込むシステムに設置する装置の例を示すものである。
FIGS. 9 and 10 show an example of a device installed in a system for feeding lead frames as strips.

なお、前記の実施例で説明した同じ部材については共通
の符番で指示しその詳細な説明は省略する。
Note that the same members as described in the above embodiments will be designated by common reference numerals, and detailed explanation thereof will be omitted.

リードフレームの帯状材50Cは、第12図に示すよう
にパターンを連続して形成したもので、これをそのまま
加工ラインに流して順次処理される。
The strip material 50C of the lead frame has a continuous pattern formed thereon as shown in FIG. 12, and is fed to a processing line as it is to be sequentially processed.

このような帯状材50Cを搬送するため、装置のパスラ
インの出入り側にはプライドルロール20a。
In order to convey such a strip material 50C, a priddle roll 20a is provided on the entrance/exit side of the pass line of the apparatus.

20bが配置され、出側には間欠送りのための搬送ロー
ル20cが設けられる。間欠送りのストロークは、第1
2図に示すように高周波誘導加熱体9を4個配置してい
るので、4個のパターンの長さに相当するものとする。
20b is arranged, and a conveying roll 20c for intermittent feeding is provided on the exit side. The stroke of intermittent feed is
As shown in FIG. 2, four high-frequency induction heating bodies 9 are arranged, so the length corresponds to the length of four patterns.

そして、このストロークによる間欠送りに対する帯状材
50Cの位置決めのために位置検出センサ21を設ける
と共に基準ビン孔55に嵌まり込むパイロットピン22
を設置する。
A position detection sensor 21 is provided for positioning the strip material 50C for intermittent feeding by this stroke, and a pilot pin 22 that fits into the reference bottle hole 55 is provided.
Set up.

更に、帯状材50cを下部マスクプレート8等から浮か
した状態で搬送するためのガイドリフタ23がこの下部
マスクプレート8及び下部冷却プレート10にそれぞれ
一定ピッチで配列されている。第11図は下部マスクプ
レート8に設けたガイドリフタ23の詳細図であり、下
部マスクプレート8にはガイドリフタ23が出没可能な
チャンバ8aが設けられている。ガイドリフタ23の上
端には溝23aを設けてこれに帯状材50cの縁部を差
し込んで保持できるようにし、更に下端にはチャンバ8
aから抜き出ないようにフランジ23bを設けている。
Further, guide lifters 23 for conveying the strip material 50c in a floating state from the lower mask plate 8 and the like are arranged at a constant pitch on the lower mask plate 8 and the lower cooling plate 10, respectively. FIG. 11 is a detailed view of the guide lifter 23 provided on the lower mask plate 8, and the lower mask plate 8 is provided with a chamber 8a in which the guide lifter 23 can move in and out. A groove 23a is provided at the upper end of the guide lifter 23 so that the edge of the strip material 50c can be inserted and held therein, and a chamber 8 is provided at the lower end.
A flange 23b is provided to prevent it from being pulled out from a.

また、チャンバ8aの中にはガイドリフタ23を上に向
けて付勢するコイルスプリング8bを組み込んでいる。
Further, a coil spring 8b that biases the guide lifter 23 upward is installed in the chamber 8a.

一方、上部マスクプレート12の下面には、下部マスク
プレート8に被さったときに帯状材50cをきっちりと
挟むように逃げ用の凹部12bが設けられている。なお
、下部冷却プレート10や上部冷却プレート13にも同
様なチャンバが設けられ、第11図に括弧内の符番でそ
れを示す。
On the other hand, an escape recess 12b is provided on the lower surface of the upper mask plate 12 so as to tightly sandwich the strip material 50c when the upper mask plate 12 is covered with the lower mask plate 8. Note that similar chambers are provided in the lower cooling plate 10 and the upper cooling plate 13, and are shown in FIG. 11 by numbers in parentheses.

以上の構成では、搬送ロール20cに帯状材50cに間
欠送りが与えられ、この送りの間は第9図のようにガイ
ドリフタ23は上に突き出てその溝23aをガイドとし
て帯状材50cが移動する。そして、位置検出センサ2
1によって帯状材50cの移動を検出した後に搬送を停
止し、パイロットピン22を基準ビン孔55に差し込ん
で位置決めする。この後、昇降シリンダ5によってトッ
ププレート4を加工させ、上部マスクプレート12を下
部マスクプレート8の上に及び上部冷却プレート13を
下部冷却プレート10の上にそれぞれ被せる。このとき
、第11図で説明したように、ガイドリフタ23はチャ
ンバ8aの中に入り込み、帯状材50Cの上下面は上部
In the above configuration, the conveying roll 20c provides intermittent feeding to the strip material 50c, and during this feeding, the guide lifter 23 protrudes upward as shown in FIG. 9, and the strip material 50c moves using its groove 23a as a guide. . And position detection sensor 2
1, after detecting the movement of the strip material 50c, the conveyance is stopped, and the pilot pin 22 is inserted into the reference bottle hole 55 for positioning. Thereafter, the top plate 4 is processed by the lifting cylinder 5, and the upper mask plate 12 and the upper cooling plate 13 are placed on the lower mask plate 8 and the lower cooling plate 10, respectively. At this time, as explained in FIG. 11, the guide lifter 23 enters into the chamber 8a, and the upper and lower surfaces of the strip material 50C are at the upper side.

下部マスクプレート8.12によってきっちりと挟み込
まれる。
It is tightly sandwiched by the lower mask plate 8.12.

この後の高周波誘導加熱体9による加熱は前記実施例の
場合と全く同様であり、第7図で示した破線内のステー
ジ51及びインナーリード52のみが加熱される。一方
、下部、上部冷却プレート8゜13に挟まれた帯状材5
0Cの先行部分は後続部分の加熱に同期して徐冷されて
いる。加熱処理が済むと、昇降シリンダ5によってトッ
ププレート4が上昇して上部マスクプレート12及び上
部冷却プレート13がそれぞれ上昇し、これに伴ってガ
イドリフタ23が第11図(a)のように突き出し、帯
状材50cを下部マスクプレート8及び下部冷却プレー
ト10から浮き上がらせる。そして、この状態で搬送ロ
ール20cによる送りが与えられ、以降同様な加工が繰
り返される。
The subsequent heating by the high-frequency induction heating element 9 is exactly the same as in the previous embodiment, and only the stage 51 and inner leads 52 within the broken line shown in FIG. 7 are heated. On the other hand, the strip material 5 sandwiched between the lower and upper cooling plates 8°13
The leading portion at 0C is gradually cooled in synchronization with the heating of the succeeding portion. When the heat treatment is completed, the top plate 4 is raised by the lifting cylinder 5, and the upper mask plate 12 and the upper cooling plate 13 are respectively raised, and accordingly, the guide lifter 23 protrudes as shown in FIG. 11(a), The strip material 50c is lifted off the lower mask plate 8 and the lower cooling plate 10. Then, in this state, feeding is applied by the conveying roll 20c, and the same processing is repeated thereafter.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明では、高周波誘導加熱体を有する一対のマスクプ
レートを開閉自在としてその間をリードフレームを浮か
した状態で搬送するので、加熱体等にリードフレームが
接触することはなく、その表面に引っ掻き等の損傷を与
えることがない。また、焼鈍領域がインナーリードまで
であることから、リードフレームの外枠やアウターリー
ド及びダムバー等の母材の有する初期機能を維持するこ
とができ、且つ初期設定した位置決め用の基準孔ピッチ
を維持するので、半導体装置組立て工程における位置決
めを正確に行うことができ、歩留りが向上する。
In the present invention, a pair of mask plates each having a high-frequency induction heating element can be freely opened and closed, and the lead frame is transported between them in a floating state, so that the lead frame does not come into contact with the heating element, etc., and the surface is free from scratches, etc. No damage will be caused. In addition, since the annealing area extends to the inner leads, it is possible to maintain the initial functions of the base materials such as the outer frame of the lead frame, outer leads, and dam bars, and maintain the initially set reference hole pitch for positioning. Therefore, positioning in the semiconductor device assembly process can be performed accurately, and the yield can be improved.

更に、従来の装置に比べて、作業環境がよく、公害の発
生がなく、また周波数の設定によって容易に加熱条件の
コントロールができ、且つ小型化されるので容易にプレ
ス装置やメツキ装置等に連結して、1工程ラインを構成
することができる等の著しい効果があり、半導体装置の
品質及び歩留りを向上させ、長期の信頼性を維持させる
リードフレームを提供できる。
Furthermore, compared to conventional equipment, the working environment is better, there is no pollution, heating conditions can be easily controlled by setting the frequency, and since it is smaller, it can be easily connected to pressing equipment, plating equipment, etc. As a result, it is possible to provide a lead frame that has remarkable effects such as being able to configure a single process line, improves the quality and yield of semiconductor devices, and maintains long-term reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の部分焼鈍装置の要部を示す一部切欠正
面図、第2図はパスライン方向に見た側面図、第3図(
a)は高周波誘導加熱体の下部マスクプレートでの配置
を示す平面図、第3図〜)は同図(a)のI−I線矢視
断面図、第4図(a)は搬送機構の概略平面図、第4図
(ロ)は要部の側面図、第5図はグリッパの挙動による
リードフレームの保持を説明するための概略図、第6図
は短冊状のリードフレームに対する加熱部の配置を示す
概略斜視図、第7図は焼鈍領域を示すためのリードフレ
ームのパターンの平面図、第8図はリードフレームに対
する加熱部及び上、下マスクプレートの概略断面図、第
9図はリードフレームの帯状材の処理用とした場合の一
部切欠正面図、第10図はパスライン方向に見た側面図
、第11図(a)はガイドリフタによるリードフレーム
の浮上搬送を示す概略図、第11図(b)はガイドリフ
タの沈下を示す概略図、第12図はリードフレームの帯
状材と加熱部との関係を示す概略斜視図である。 1:ベース     la:基台 1b:レール 2ニガイドピン   2a:プッシュ 3:補助プレート  4ニドツブプレート5:昇降シリ
ンダ  6:バツクアツプライチ7;ホルダプレート7
a:ロック 8;下部マスクプレート 8a;チャンバ    8b:コイルスプリング9;高
周波誘導加熱体 9a:ダストコア   9b:高周波加熱コイル10;
下部冷却プレート 11;上部ホルダ   lla:ロック12;上部マス
クプレート 12aニスプリング  12b二凹部 13;上部冷却プレート 13a;スプリング  13b:凹部 14:搬送ブロック  14a:昇降シリンダ14b:
ロッド 15:駆動シリンダ 16:搬送フレーム 16a〜16eニゲリツパホルダ 15fニラツクユニツト 16g;モータ    16h;ビニオン17;グリッ
パ    18.19:送りローラ20a20bニブラ
イドルロール 20C:搬送ロール 21;位置検出センサ 22:パイロットピン23ニガ
イドリフタ  23a;溝 23b;フランジ 50;リードフレーム 50a:先行リードフレーム 50b:後続リードフレーム 50C:書状材 51:ステージ    52:インナーリード53:ダ
ムバー    54:アウターリード55:基準ビン孔
Fig. 1 is a partially cutaway front view showing the main parts of the partial annealing apparatus of the present invention, Fig. 2 is a side view as seen in the pass line direction, and Fig. 3 (
a) is a plan view showing the arrangement of the high-frequency induction heating element on the lower mask plate, FIGS. 3 to 3) are cross-sectional views taken along the line II in FIG. A schematic plan view, FIG. 4(b) is a side view of the main parts, FIG. 5 is a schematic diagram for explaining how the lead frame is held by gripper behavior, and FIG. FIG. 7 is a plan view of the lead frame pattern to show the annealing area, FIG. 8 is a schematic cross-sectional view of the heating section and upper and lower mask plates for the lead frame, and FIG. 9 is a schematic cross-sectional view of the lead frame pattern. A partially cutaway front view when the frame is used for processing strip material, FIG. 10 is a side view seen in the pass line direction, and FIG. 11(a) is a schematic diagram showing floating conveyance of the lead frame by a guide lifter. FIG. 11(b) is a schematic diagram showing the sinking of the guide lifter, and FIG. 12 is a schematic perspective view showing the relationship between the strip material of the lead frame and the heating section. 1: Base la: Base 1b: Rail 2 guide pin 2a: Push 3: Auxiliary plate 4 Ni dot plate 5: Elevating cylinder 6: Back up ply reach 7; Holder plate 7
a: lock 8; lower mask plate 8a; chamber 8b: coil spring 9; high frequency induction heating body 9a: dust core 9b: high frequency heating coil 10;
Lower cooling plate 11; upper holder lla: lock 12; upper mask plate 12a spring 12b two recesses 13; upper cooling plate 13a; spring 13b: recess 14: transport block 14a: lifting cylinder 14b:
Rod 15: Drive cylinder 16: Conveyance frame 16a to 16e Nigelipper holder 15f Niggly lifter 16g; Motor 16h; Binion 17; Gripper 18.19: Feed roller 20a 20b Nibridle roll 20C: Conveyance roll 21; Position detection sensor 22: Pilot pin 23 Nigui lifter 23a ; Groove 23b; Flange 50; Lead frame 50a: Leading lead frame 50b: Following lead frame 50C: Letter material 51: Stage 52: Inner lead 53: Dam bar 54: Outer lead 55: Reference bottle hole

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、金属条材をプレス加工して、リードフレームの所要
の形状に形成する際の打ち抜き、コイニング、押圧加工
等の加工履歴によって、残留応力が内部に滞有する該リ
ードフレームを、酸化防止雰囲気中で熱処理を施して該
残留応力を除去する焼鈍装置であって、リードフレーム
を部分的に加熱する高周波加熱体と、該高周波加熱体の
周りに設けられ加熱時にリードフレームの非加熱部分を
覆うマスクプレートと、前記リードフレームを前記高周
波加熱体及びマスクプレートに非接触状態で送りを与え
る間欠搬送機構とを備え、前記リードフレームのインナ
ーリード及び/又はステージを含む部分に前記高周波加
熱体を対応させたことを特徴とするリードフレームの部
分焼鈍装置。
1. The lead frame, in which residual stress remains internally due to the processing history such as punching, coining, and pressing when forming the metal strip into the desired shape of the lead frame, is placed in an oxidation-preventing atmosphere. An annealing device that performs heat treatment to remove the residual stress, the device comprising: a high-frequency heating element that partially heats the lead frame; and a mask that is provided around the high-frequency heating element and covers the unheated portion of the lead frame during heating. plate, and an intermittent transport mechanism that feeds the lead frame to the high frequency heating body and the mask plate in a non-contact state, the high frequency heating body being made to correspond to a portion of the lead frame including the inner lead and/or the stage. A lead frame partial annealing device characterized by:
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5747779A (en) * 1994-12-27 1998-05-05 National Semiconductor Corporation Method of fusing and programming fuse frame

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