JPH03201287A - Delay quantity controllable semiconductor integrated circuit - Google Patents

Delay quantity controllable semiconductor integrated circuit

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JPH03201287A
JPH03201287A JP1340108A JP34010889A JPH03201287A JP H03201287 A JPH03201287 A JP H03201287A JP 1340108 A JP1340108 A JP 1340108A JP 34010889 A JP34010889 A JP 34010889A JP H03201287 A JPH03201287 A JP H03201287A
Authority
JP
Japan
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data
rom
delay
variable delay
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP1340108A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenichi Motohashi
本橋 憲一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH03201287A publication Critical patent/JPH03201287A/en
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Abstract

PURPOSE:To prohibit the increase of the number of ROM control input terminal by providing a variable delay circuit and a ROM, setting the delay quantity control of the variable delay circuit with the ROM output data. CONSTITUTION:At each address of the ROM, the control data which correspond to the delay quantity of the variable delay circuits L0, L1 are housed. And the data specifying ROM address are inputted from the ROM address input terminals PO-PT to the ROM R, the delay quantity control input data c1-cn, n1-un from the ROM output terminals O1-On, (N+1)-2n are respectively outputted to the variable delay circuits L0, L1 and the delay quantity is controlled. In such a manner, the data controlling plural data delay quantity transmitted in parallel are housed in the ROM R. In such a manner, the number of control input terminals to input the signal designating data address, is not increase despite increasing the number of variable delay circuit.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体集積回路に関し、特に遅延量制御可能
な半導体集積回路に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and particularly to a semiconductor integrated circuit in which delay amount can be controlled.

(従来の技術) 従来、この種の遅延量制御可能な半導体集積回路は、第
4図に示すような構成となっていた。第4図において、
I−0,11は可変遅延回路であり、上o、L1はそれ
ぞれ可変遅延回路しOl[10入カデータ、mO,ml
 はそれぞれ可変遅延回路LO,Llの出力データであ
る。また01〜Cnu1〜Inは遅延量制御入力データ
である。そして遅延量を制御するためには、制御入力端
子AO〜AJ、BO−BJから任意の値が入力され、デ
コーダso、siによりデコードされ可変遅延回路し0
.Llの遅延I Ill m入力データC1〜Cn。
(Prior Art) Conventionally, this type of semiconductor integrated circuit capable of controlling the amount of delay has a configuration as shown in FIG. In Figure 4,
I-0 and 11 are variable delay circuits, and upper o and L1 are variable delay circuits respectively.Ol [10 input data, mO, ml
are the output data of variable delay circuits LO and Ll, respectively. Further, 01 to Cnu1 to In are delay amount control input data. In order to control the amount of delay, arbitrary values are input from the control input terminals AO to AJ and BO to BJ, decoded by decoders so and si, and output to the variable delay circuit.
.. Ll delay I Ill m input data C1-Cn.

u1〜Unとして出力され、遅延量が制御されていた。The signals were output as u1 to Un, and the amount of delay was controlled.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来の遅延量制御可能な半導体集積回路は、可
変遅延回路の数が多くなると、デコーダの制御入力端子
の数が増加するという欠点がある。
The above-described conventional semiconductor integrated circuit capable of controlling the amount of delay has a drawback in that as the number of variable delay circuits increases, the number of control input terminals of the decoder increases.

そこで本発明は上記の欠点を解消して、可変遅延回路の
数が、多くなっても可変遅延回路の遅延量を制mするた
めの制御入力端子の数は多くなることの無い、遅延量制
御可能な半導体集積回路を提供することを目的とする。
Therefore, the present invention solves the above-mentioned drawbacks, and provides delay amount control that does not require an increase in the number of control input terminals for controlling the delay amount of the variable delay circuit even if the number of variable delay circuits increases. The purpose is to provide a semiconductor integrated circuit that is possible.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の遅延量制御可能な半導体集積回路は、遅延量制
御入力によって遅延量制御が可能な可変遅延回路を有し
、並列データを伝送する半導体集積回路において、 前記可変遅延回路の遅延量制御用データを格納し、指定
されたアドレスに対応する遅延量制御用データを可変遅
延回路に出力するROMを有している。
A semiconductor integrated circuit capable of controlling delay amount of the present invention has a variable delay circuit capable of controlling delay amount by a delay amount control input, and transmits parallel data, wherein: It has a ROM that stores data and outputs delay amount control data corresponding to a designated address to the variable delay circuit.

(作用) このように、複数個の可変遅延回路により、並列に伝送
される複数個のデータの遅延量を制御するデータはRO
Mに格納されているので、このデータのアドレスを指示
する信号を入力するための制御入力端子の数は、可変遅
延回路の数が、多くなっても増加することはない。
(Function) In this way, data that controls the amount of delay of multiple pieces of data transmitted in parallel by multiple variable delay circuits is RO
Since the data is stored in M, the number of control input terminals for inputting signals indicating the address of this data does not increase even if the number of variable delay circuits increases.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の遅延量制御可能な半導体集積回路の一
実施例のブロック図、第2図(a)は第1図の本実施例
にお(プる可変遅延回路の一例を示す回路図、第2図(
b)は第2図(a)の可変遅延回路に入力する入力デー
タioの波形および遅延量制御入力データ01〜Cnの
値の組合せに対する出力データmQの波形を示す波形図
である。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of a semiconductor integrated circuit capable of controlling the amount of delay according to the present invention, and FIG. Figure, Figure 2 (
2b) is a waveform diagram showing the waveform of input data io input to the variable delay circuit of FIG. 2(a) and the waveform of output data mQ for combinations of values of delay amount control input data 01 to Cn.

第1図の半導体集積回路は、二つの可変遅延回路LO,
L1およびROMRを有し、可変遅延回路1.0.11
には、それぞれデータ入力端子DO2D1から入力デー
タig、41が入力される。また、ROMRはアドレス
を入力するためのROMアドレス入力端子PO−PTに
接続され、読み出されたデータを可変遅延回路LO,L
1に出力するためのROM出力端子01〜On、0千1
〜2nを備えている。そして、可変遅延回路[0とLl
は、それぞれ入力データ上o、遅延制御入力データ01
〜Cnと入力データi1.遅延吊制御入力データu1〜
Unを受けて出力データm□とmlをデータ出力端子K
Oとに1にそれぞれ出力する。
The semiconductor integrated circuit in FIG. 1 includes two variable delay circuits LO,
Has L1 and ROMR, variable delay circuit 1.0.11
Input data ig and 41 are input from data input terminals DO2D1, respectively. Further, the ROMR is connected to ROM address input terminals PO-PT for inputting an address, and the read data is transferred to variable delay circuits LO and L.
ROM output terminal 01 to On, 011 to output to 1
~2n. Then, the variable delay circuit [0 and Ll
are input data 0 and delay control input data 01, respectively.
~Cn and input data i1. Delayed suspension control input data u1~
Upon receiving Un, the output data m□ and ml are sent to the data output terminal K.
Output to O and 1 respectively.

次に本実施例の動作を説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.

ROMRの各アドレスには可変遅延回路LO。A variable delay circuit LO is provided at each address of the ROMR.

Llの遅延量に対応する制御データが格納されており、
ROMRにROMアドレス入力端子PO〜PTからRO
Mアドレスを指定するデータが入力され、ROM出力端
子1〜n、n+1〜2nから遅延量制御入力データC1
〜Cn 、u1〜unがそれぞれ可変遅延回路LO,L
lに出力されてその遅延量が制御される。
Control data corresponding to the amount of delay of Ll is stored,
ROM address input terminals PO to PT to ROMR
Data specifying M address is input, and delay amount control input data C1 is input from ROM output terminals 1 to n, n+1 to 2n.
~Cn and u1~un are variable delay circuits LO and L, respectively.
The amount of delay is controlled.

更に、可変遅延回路の一例と、その動作を説明する波形
図がそれぞれ第2図(a)および(b)に示されている
。第2図(a)において、a□ 、 ai・・・anは
それぞれ第1図の可変遅延回路+−0またはLlの内部
における部分的なデータ出力である。
Further, an example of the variable delay circuit and waveform diagrams illustrating its operation are shown in FIGS. 2(a) and 2(b), respectively. In FIG. 2(a), a□, ai...an are partial data outputs inside the variable delay circuit +-0 or Ll in FIG. 1, respectively.

これがオア素子ORにより合成されて出力データm□ま
たはmlとして出力される。
These are combined by the OR element OR and output as output data m□ or ml.

半導体によるアンド素子No 、N+ 、・・・Nnは
それぞれ、1個当りNS(ナノセコンド)程度の微少な
遅延特性を有しており、このアンド素子の複数個が縦続
に接続された縦続接続回路が更に複数組縦続に接続され
、各複数個の縦続接続回路の出力端はそれぞれアンド素
子ANo 、ANl、・・・ANmに接続される。この
アンド素子はそれぞれ遅延量制御入力データ01〜Cn
により制御される。
Each of the semiconductor AND elements No, N+,...Nn has a minute delay characteristic of approximately NS (nano second), and a cascade connection circuit in which a plurality of these AND elements are connected in cascade is formed. A plurality of sets of cascade-connected circuits are further connected in series, and the output ends of each of the plurality of cascade-connected circuits are connected to AND elements ANo, ANl, . . . ANm, respectively. These AND elements each have delay amount control input data 01 to Cn.
controlled by

第2図(b)は、パルス波形の入力データ上0に対し、
遅延量制御入力データCI 、 C2、・・・Cnの値
が図示のように三種類に変えられた場合、オア素子OR
から出力される出力データm□の波形を示す波形図であ
って、遅延量制御入力データc、、c2 、・・・Cn
により隋意に遅延回路の遅延量が変えられることを示し
ている。すなわち第2図(a)においてアンド素子No
 、N1.・・・Nn(7)縦続接続回路は遅延時間が
固定である遅延回路であるが、これに遅延量制御入力デ
ータCI 、 c2 。
FIG. 2(b) shows that for the input data of the pulse waveform which is 0,
When the values of the delay amount control input data CI, C2, . . . Cn are changed into three types as shown in the figure, the OR element OR
It is a waveform diagram showing the waveform of the output data m□ output from the delay amount control input data c,,c2,...Cn.
This shows that the delay amount of the delay circuit can be changed at will. That is, in FIG. 2(a), AND element No.
, N1. ...Nn (7) The cascade connection circuit is a delay circuit with a fixed delay time, and is provided with delay amount control input data CI, c2.

・・・Cnがそれぞれ入力されるアンド素子ANo 。. . . AND element ANo to which Cn is respectively input.

ANl ・・・ANmとオア素子ORとを組合わせると
、入力データioと出力データm□との間において可変
遅延回路になる。
ANl...ANm and the OR element OR are combined to form a variable delay circuit between input data io and output data m□.

次に、本実施例の応用例として、入力データioから拡
大された出力データm□が得られることを第3図を参照
して説明する。
Next, as an application example of this embodiment, it will be explained with reference to FIG. 3 that enlarged output data m□ is obtained from input data io.

第3図は本実施例の一応用例を説明するための波形図で
あって、入力データio、アンド素子Njの出力のそれ
ぞれの波形が図示の通りで、遅延量制御入力データ01
〜Cn=1であるとき、アンド素子ANoの出力aOは
図示のようになる。
FIG. 3 is a waveform diagram for explaining one application example of this embodiment, and the waveforms of input data io and the output of AND element Nj are as shown in the diagram, and delay amount control input data 01
When ~Cn=1, the output aO of the AND element ANo is as shown in the figure.

同様にアンド素子AN1の出力a1およびアンド素子A
Nmの出力amは図示のようになり、オア素子ORの出
力データm□は図示のように拡大されて出力される。
Similarly, the output a1 of AND element AN1 and the AND element A
The output am of Nm is as shown in the figure, and the output data m□ of the OR element OR is enlarged and output as shown.

さて、第1図においては可変遅延回路LO。Now, in FIG. 1, the variable delay circuit LO.

Llの数は二つだけであるが、この数が多くなると必然
的に遅延量制御入力データc1〜Cn。
Although the number of Ll is only two, if this number increases, the delay amount control input data c1 to Cn will inevitably be generated.

U1〜unの数が多くなると共に、ROMRの出力端子
1〜n、n+1〜2nの端子の数も増大する。しかしR
OMRに対してはROMアドレス、入力端子PO〜PT
から指示するROMアドレスの数が増大するだけで、R
OM III tl用入力端子PO−PTの数は現状の
ままで少しも差支えはない。
As the number of U1-un increases, the number of output terminals 1-n and n+1-2n of the ROMR also increases. But R
For OMR, ROM address, input terminals PO~PT
By simply increasing the number of ROM addresses instructed by R
There is no problem in the slightest if the number of OM III tl input terminals PO-PT remains as it is.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、複数個のデータを並列に
伝送する可変遅延回路と、格納しているデータをこの可
変遅延回路の遅延量制御入力データとして出力するRO
Mとを有し、可変遅延回路の遅延量制御をROMの出力
データにより設定することにより、ROM制御入力端子
の数が増加されることがないという効果があり、また書
換え可能なEPOMを使用すると、任意のデータが格納
されるので、システム対応に種々な設定ができる効果が
ある。
As explained above, the present invention includes a variable delay circuit that transmits a plurality of pieces of data in parallel, and an RO that outputs the stored data as delay amount control input data of the variable delay circuit.
By setting the delay amount control of the variable delay circuit using the output data of the ROM, there is an effect that the number of ROM control input terminals is not increased, and if a rewritable EPOM is used, Since arbitrary data can be stored, various settings can be made to suit the system.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の遅延量制御可能な半導体集積回路の一
実施例のブロック図、第2図(a)は本実施例の可変遅
延回路の一例を示す回路図、第2図(1))はこの可変
遅延回路に入力する遅延量制御入力データ01〜Onの
値に対し、入力データi。 と出力データm□の波形の関係を示す波形図、第3図は
、本実施例の一応用例を説明するための波形図、第4図
は従来例の遅延量制御可能な半導体集積回路のブロック
図である。 LO,Ll・・・可変遅延回路、 Do、Dl・・・データ入力端子、 KO,に1・・・データ出力端子、 R・・・ROM。 30.31・・・デコーダ、 PO〜PT・・・ROMアドレス入力端子、AO,AJ
、BO,BJ・・・制御入力端子、ANo 、AN1〜
ANm、No 、N+ 〜Nn −・・アンド素子、 OR・・・オア素子 01〜On、n+1−2n・ROM出力端子、io、 
上1・・・入力データ、 mQ、ml・・・出力データ、 aO〜am・・・アンド素子ANo”ANmの出力デー
タ、 C1〜Cn 、U+〜un・・・遅延積制御入力データ
。 第1図 代fili人 7.11jIF内原 (a)
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of a semiconductor integrated circuit capable of controlling the amount of delay of the present invention, FIG. 2(a) is a circuit diagram showing an example of a variable delay circuit of the present embodiment, and FIG. 2(1) ) is the input data i for the values of the delay amount control input data 01 to On input to this variable delay circuit. FIG. 3 is a waveform diagram showing the relationship between the waveform of output data m It is a diagram. LO, Ll...variable delay circuit, Do, Dl...data input terminal, KO, 1...data output terminal, R...ROM. 30.31...Decoder, PO~PT...ROM address input terminal, AO, AJ
, BO, BJ...control input terminal, ANo, AN1~
ANm, No, N+ ~Nn -...AND element, OR...OR element 01~On, n+1-2n・ROM output terminal, io,
Top 1...Input data, mQ, ml...Output data, aO~am...Output data of AND element ANo"ANm, C1~Cn, U+~un...Delay product control input data. 1st 7.11j IF Uchihara (a)

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、遅延量制御入力によって遅延量制御が可能な可変遅
延回路を有し、並列データを伝送する半導体集積回路に
おいて、 前記可変遅延回路の遅延量制御用データを格納し、指定
されたアドレスに対応する遅延量制御用データを可変遅
延回路に出力するROMを有することを特徴とする遅延
量制御可能な半導体集積回路。
[Scope of Claims] 1. In a semiconductor integrated circuit that has a variable delay circuit that can control the amount of delay by a delay amount control input and transmits parallel data, storing data for controlling the amount of delay of the variable delay circuit; A semiconductor integrated circuit capable of controlling a delay amount, comprising a ROM that outputs delay amount control data corresponding to a designated address to a variable delay circuit.
JP1340108A 1989-12-27 1989-12-27 Delay quantity controllable semiconductor integrated circuit Pending JPH03201287A (en)

Priority Applications (1)

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JP1340108A JPH03201287A (en) 1989-12-27 1989-12-27 Delay quantity controllable semiconductor integrated circuit

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JP (1) JPH03201287A (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100383262B1 (en) * 2001-03-19 2003-05-09 삼성전자주식회사 Semiconductor memory device and data output method thereof
KR100443506B1 (en) * 2001-10-23 2004-08-09 주식회사 하이닉스반도체 An output circuit for reducing skew
JP2005071569A (en) * 2003-08-21 2005-03-17 Hynix Semiconductor Inc Phase delay compensation device in semiconductor element and method therefor
KR100605512B1 (en) * 2005-02-14 2006-07-28 삼성전자주식회사 Semiconductor memory device and memory system comprising the same

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KR100383262B1 (en) * 2001-03-19 2003-05-09 삼성전자주식회사 Semiconductor memory device and data output method thereof
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