JPH03188833A - 断層撮影像作成方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 本発明はらせん走査を使用するコンピュータ断層撮影法
に関するものである。更に詳しく述べると、本発明はら
せん走査で断層撮影投影データを取得することによって
生じる像のアーチファクトを少なくするための像再構成
方法に関するものである。

ここで使用しているように、コンピュータ断層撮影法と
は「透過形イメージング」すなわちイメージング対象物
を透過した放射線の検出を行なうものと、「エミッショ
ン形イメージング」すなわちイメージング対象物から放
出される放射線たとえば放射性医薬品の同位体から放出
される放射線の検出を行なうものの両方を指す。

透過形イメージングのコンピュータ断層撮影システムで
は、Ｘ線源がコリメーションされて、規定された扇状ビ
ーム角の扇状ビームが形成される。

扇状ビームは「イメージング平面」と呼ばれるデカルト
座標系のｘ−ｙ平面内にあるように、またイメージング
対象物を、透過してイメージング平面内に配向されたＸ
線検出器列に達するように配向される。検出器列は多数
の検出素子で構成される。各検出素子はＸ線源からその
特定の検出素子に投射される射線に沿って透過した放射
線の強度を測定する。これらの検出素子はそれぞれ扇状
ビームの異なる射線に沿ったＸ線源からのＸ線を遮えぎ
るように円弧状に配列することができる。透過する放射
線の強度はイメージング対象物による射線に沿ったＸ線
ビームの減衰によってきまる。

Ｘ線源および検出器列はイメージング対象物を中心とし
てイメージング平面内でガントリ上で回転させることが
できる。これにより扇状ビームは異なる角度でイメージ
ング対象物を横切る。各角度で、各検出素子からの強度
信号で構成される「投影」が取得される。次にガントリ
を新しい角度まで回転して、過程を反復することにより
、様々の角度での多数の投射を収集して、１つの断層撮
影投影組を形成する。

取得された断層撮影投影組は通常、数値形式で記憶され
る。これをコンピュータで処理して、当業者には既知の
再構成アルゴリズムに従ってスライス像を「再構成コす
ることができる。再構成されたスライス像は従来の陰極
線管にデイスプレーしてもよいし、コンピュータ制御の
カメラによってフィルム記録に変換してもよい。

エミッション形または透過形のコンピュータ断層撮影法
では、検出器列は円弧状でなく直線状に配列してもよい
。

通常のコンピュータ断層撮影の検査ではイメージング対
象物の一連のスライスのイメージングが行なわれ、この
一連のスライスはＸ軸およびｙ軸に垂直なＺ軸に沿って
増分的に位置がずれている。

これにより第３空間次元の情報が得られる。放射線区は
２軸に沿った位置の順にスライス像を見ることによって
この第３次元を可視化できる。あるいは再構成されたス
ライスの組を構成する数値ブタをコンピュータのプログ
ラムにより編集して、イメージング対象物の三次元の陰
影付き斜視図を作成することもできる。

コンピュータ断層撮影法の分解能が増大するにつれて、
２次元で付加的なスライスが必要となる。

断層撮影検査の時間および費用は必要なスライス数がふ
えるにつれて増大する。また、走査時間が長くなると、
断層撮影像再構成の忠実度を維持するためにほぼ不動で
なければならない患者の苦痛が増大する。したがって、
一連のスライスを得るために必要な時間を減らすことに
かなり関心が集まっている。

一連のスライスに対するデータを収集するために必要な
時間は部分的に次の４つの要素によってきまる。すなわ
ち（ａ）ガントリを走査速度まで加速するために必要な
時間、（ｂ）完全な１つの断層撮影投影組を得るために
必要な時間、（ｃ）ガントリを減速するために必要な時
間、および（ｄ）次のスライスのために２軸方向に患者
を再位置ぎめするために必要な時間によってきまる。

全スライス列を得るために必要な時間の短縮はこの４つ
のステップのいずれかを完了するために必要な時間を短
縮することによって行なうことができる。

ガントリの加速および減速に必要な時間はガントリと通
信するケーブルではなくてスリップリングを使用する断
層撮影システムでは避けることができる。スリップリン
グによって、ガントリを連続的に回転することができる
。以下に説明するＣＴシステムではスリップリングまた
は同等のものをそなえることにより３６０°を超えて連
続的に回転することができるものとする。

断層撮影データ組を取得するために必要な時間は短縮す
ることが難しい。現在のＣＴスキャナでは１つのスライ
スに対する投影組を取得するのに１秒乃至２秒必要であ
る。この走査時間はガントリをより早い速度で回転させ
ることによって短縮することができる。一般に、ガント
リ速度が早くなると、取得したデータの信号対雑音比は
回転速度上昇率の平方根だけ小さくなる。これは透過形
断層撮影装置ではＸ線管の放射線出力を大きくすること
によりある程度は克服することができるが、このような
装置ではパワーに限界がある。

患者の再位置ぎめ時間の短縮はガントリの回転と同期し
てＺ軸方向に患者を並進させることによって達成するこ
とができる。ガントリの回転中にＺ軸に沿って患者を一
定速度で並進させながら投射データを取得する方式は「
らせん走査ｊ方式と呼ばれ、これはイメージング対象物
上の基準点に対するガントリ上の一点の見かけの径路を
指している。ここで使用されているように、「らせん走
査」は一般に断層撮影イメージング・データの取得中に
患者またはイメージング対象物の連続的な並進を使用す
ることを指す。また「一定２軸走査」は取得期間中に患
者またはイメージング対象物を並進させないで断層撮影
データ組を取得することを指す。

走査中にイメージング対象物を連続的に並進させると、
走査相互の合間に患者を再位置ぎめするために通常必要
とされる時間がなくなり、与えられた数のスライスの取
得に必要とされる総走査時間が短縮される。しかし、ら
せん走査では取得された断層撮影投影組のデータについ
てエラーが生じる。断層撮影再構成の数学では一部２軸
スライス平面に沿って断層撮影投影組が取得されると仮
定している。らせん走査径路は明らかにこの条件からず
れており、このずれの結果、ｚ軸方向に対象物に著しい
変化がある場合には再構成されたスライス像にアーチフ
ァクトが生じる。像のアーチファクトのひどさは一般に
、走査データのテーブル位置と所望のスライス平面の２
軸値との差の絶対値として測定された投射データの「ら
せんオフセット」によってきまる。らせん走査によって
生じるエラーはまとめて［スキュー（ｓｋｅｗ）　Ｊエ
ラーと呼ばれる。

らせん走査のスキューエラーを減らずために幾つかの方
法が使用されてきた。米国特許第４，６３０．２０２号
に開示されている第１の手法はらせん走査のピッチを小
さくし、相次ぐ３６０°断層撮影投射組の投射データを
平均する。その効果はｚ軸に沿った幅が一層大きい検出
器列を使用して、この検出器列をガントリの回転中に２
方向に少ししか動かないようにすること、すなわち走査
ピッチをより小さくしたことと等価である。この方法を
使えばスキューエラーは小さくなるが、走査ピッチが小
さいので走査時間が余計にかかる。

したがって、この方法ではらせん走査で得られる筈の利
点がある程度減殺される。

この手法に関連して、他の相次ぐ３６０°断層撮影投影
組と「平均」するとき３６０°断層撮影投影組の最後お
よび最初の投影の重みを変えてスライス平面に最も近い
３６０°投影のデータに最も大きい重みを与えることに
より、断層撮影投影組の端のスキューエラーを減らすこ
とができる。

米国特許第４．７８９，９２９号に開示されている第２
の手法でも組み合わされた相次ぐ３６０°断層撮影投影
組の投影に重みを加えるが、重みは３６０°投影組相互
の間の補間のため各投影の２軸位置の関数である。７２
０°にわたって補間するこの手法によって一般に、部分
的な容積アーチファクトが増大する。部分的な容積アー
チファクトはイメージング対象物のある容積要素が投影
組のいくつかの投影にだけ寄与するときに生ずる像のア
ーチファクトである。

１９８９年６月２６日出願の米国特許出願箱３７１．３
３２号［らせん投影走査におけるスキュアーチファクト
の低減方法］に述べられている第３の手法では、−様で
ないテーブルの動きを使用することにより、患者に対す
る加速力を制限しつつ、らせん状に取得した投影をスラ
イス平面の近くに集中させている。

発明の要約 本発明はスライス平面から最も遠い投影に与える重みを
小さくし、スライス平面に近い投影に与える重みを大き
くするような重み関数をらせん状１ に取得した投影組に印加することによりスキュアーチフ
ァクトを小さくする。したがって、らせんオフセットが
最大であるデータが弱められて、像のアーチファクトが
小さくなる。

したがって本発明の１つの目的はらせんオフセットに応
じて各投影に重み付けすることによりスキューアーチフ
ァクトを減らすことである。

−態様では、投影組のデータの取得をテーブルの動きと
調和させることにより、投影組のビュ（ｖｉｅｗ）を２
軸に対してスライス平面に中心合わせするようにする。

したがって本発明のもう１つの目的はスライス平面から
最も遠いところで取得された投影データの重みを小さく
するのに加えて投影組をスライス平面に中心合わせする
ことによりスキューアーチファクトを減らすことである
。投影組をスライス平面に中心合わせすることにより、
どの投影の最大らせんオフセットも小さくなる。また、
投影組をスライス平面に中心合わせした状態で重み付け
することにより、投影組の各端のデータが弱めら２ れて、その結果、従来の不足走査技術において生じる動
きに起因するアーチファクトが少なくなる。

本発明の上記および他の目的ならびに利点は以下の説明
から明らかとなる。説明に際して、付図を参照するが、
これは本発明の一部を構成するものであり、本発明の一
実施例を図示したものである。しかし、このような実施
例は必らずしも本発明の全範囲を表わすものではない。

したがって、発明の範囲の解釈にあたっては請求の範囲
を参酌すべきである。

実施例の詳細な説明 第１図に示すように、「第三世代」のＣＴスキャナを表
わすＣＴガントリ１６には、イメージング対象物１２を
通して検出器列１８に扇状Ｘ線ビーム２４を投影するよ
うに配向されたＸ線源１０が含まれている。扇状ビーム
２４はデカルト座標系のｘ−ｙ平面すなわち「イメージ
ング平面」に沿った方向を向いており、イメージング平
面に沿って測ったとき２φ　　の１扇状角度」を形成す
ａｘ る。検出器列１８は多数の検出素子２６で構成される。

多数の検出素子２６はイメージング対象物を通るＸ線の
透過によって生じる投影像の大きさ、またはエミッショ
ン形断層撮影法の場合にはイメーング対象物１２の中の
放射性医薬品の同位体から放射される放射線によって生
じる投影像の大きさに比例した値を検出する。扇状ビー
ム２４の真ん中の射線２０から測った角度φは扇状ビー
ム２４の各射線２１およびそれに対応する検出器２６を
表わし、扇状ビーム角と呼ばれる。

イメージング対象物１２に対するガントリ１６の角度位
置θは扇状ビームの真ん中の射線２０が垂直で下向きに
なっているとき任意に零とみなされる。ガントリ１６は
後で述べるようにスリップリング５０を介して第３図に
示される制御モジュル４８に結合されているので、３６
０°より大きい角度にわたって自由に連続的に回転して
投影データを取得することができる。

イメージング対象物１２はテーブル２２の上にのってい
る。イメージング過程に対する妨害を最小限にするよう
にテーブル２２は放射線に対して半透明になっている。

扇状ビーム２４によって掃引されるイメージング平面を
横切ってイメージング対象１２に対して規定されたスラ
イス平面１４を動かすことによって、テーブル２２の上
表面がイメージング平面（ｘ−ｙ平面）に垂直なＺ軸に
沿って並進するようにテーブル２２を制御することがで
きる。簡単のため以後、テーブル２２は一定速度で動き
、したがってテーブル２２の２軸位置はガントリ１６の
角度位置θに比例するものと仮定する。したがって、取
得される断層撮影投影は２またはθによって規定するこ
とができる。

第２ａ図および第２ｂ図にはガントリの角度位置および
イメージング対象物に対するイメージング平面の２軸位
置がそれぞれ一定２軸走査およびらせん走査の場合につ
いて投影の射線２０で示されている。第２ａ図に示され
る一定２軸走査では、各断層撮影投影組は一部２軸位置
で取得され、イメージング対象物はこのような取得の合
間に２軸に沿って次のスライス平面に動かされる。

これは第２ｂ図のらせん走査とは異なっている。

５ 第２ｂ図の場合には、イメージング平面に対するイメー
ジング対象物の２軸位置は各断層撮影投影組の取得中に
絶えず変化する。したがって矢印２０はＺ軸に沿ってイ
メージング対象物の中でらせんを描く。らせんのピッチ
を走査ピッチと呼ぶ。

次に第３図に示すように、本発明に使うのに適したＣＴ
イメージング装置の制御システムはガントリに付設され
た制御モジュール４８をそなえている。制御モジュール
４８には電力信号およびタイミング信号をＸ線源１０に
供給するＸ線制御器５４、ガントリ１６の回転速度およ
び位置を制御し、情報をコンピュータ６０に供給するガ
ントリ電動機制御器５６、ガントリ位置に関するデータ
取得システム６２、およびデータ取得システム６２を介
して検出器列１８からサンプルおよびディジタル化され
た信号を受けて当業者に知られている方法に従って高速
像再構成を行なう像再構成器６８が含まれている。上記
の各々はスリップリング５０を介してガントリ１６上の
その関連する素子に接続することができ、コンピュータ
６０の種６ 々のガントリ機能に対するインタフェースの役目を果す
。

Ｚ軸に沿ったテーブル２２の速度および位置はテーブル
電動機制御器５２を介してコンピュータ６０に伝えられ
、コンピュータ６０によって制御される。コンピュータ
６０は操作卓６４を介して指令および走査パラメータを
受ける。操作卓は一般にＣＲＴデイスプレーおよびキー
ボードであり、これにより操作者は走査用のパラメータ
を入力したり、コンピュータ６０からの再構成像等の情
報を表示することができる。大容量記憶装置６６はＣＴ
イメージング装置のためのオペレーティング・プログラ
ムおよび操作者が将来参照するための像データを記憶す
る手段を提供する。

再び第１図を参照して説明すると、投影を収集するため
にガントリを３６０°回転させながら、イメージング対
象物に対して規定されたスライス平面１４がイメージン
グ平面を通過するようにテーブル２２を動かすことによ
ってらせん投影組が取得される。この３６０°にわたる
投影データの中に、１８０°隔った角度で取得された射
線に沿ったイメージング対象物１２による減衰が等しい
ことから二重のデータがある。

３６０°　（２πラジアン）の扇状ビーム投影データの
中の二重データの発生源はグラフ的に表現することがで
きる。第４図に示すように、第１のガントリ位置θ＝０
に於ける扇状ビーム２４には角度−φ　　の射線Ａが含
まれている。射線Ａはｍａｗ 検出素子２６（図示しない）によって受けられ、検出素
子２６はイメージング対象物１２による射線Ａに沿った
Ｘ線の吸収の線積分に比例した信号Ｐ（θ１−φ　　）
（但しθ１＝０）を発生する。

ｍａｗ 第２のガントリ位置θ２＝π−２φ　　に於けるｍａｗ 第２の扇状ビーム２４では、第１のガントリ位置で射線
Ａに沿って測定したのと同じ線積分吸収が第２のガント
リ位置の射線Ａ′に沿っても測定されることがわかる。

但し射線Ａ′は扇状ビーム２４の中の角度子φ　　にあ
る。射線へ′に沿ったｍａｗ Ｘ線を受ける検出素子２６（図示しない）は信号Ｐ（θ
２．φ　　）を発生する。射線Ａおよびｍａｗ Ａ′に沿った測定値の恒等式は次のように一般化するこ
とができる。

Ｐ（θ、φ）＝Ｐ（θ＋π＋２φ、−φ）（１）但し、
θおよびφはそれぞれ任意のガントリ角度および任意の
扇状ビーム角である。

ここで注意すべきことは、らせん走査の場合にはガント
リが回転するときにテーブル２２とイメージング対象物
１２が動いているため二重データ対が同じ値を持たない
ことがあるということである。らせん走査の結果として
異なる値を持つ二重データは「冗長」データと呼ばれる
。

第５ａ図に示すように、らせん投影組を含むブタに対す
る引数θおよびφを図式的に表わすことができる。水平
線は一部ガントリ位置θで取得された投影を表わし、−
φ　　〈φ〈＋φ　　でｍａｘ　　　　　　　　　　　
　　ｍａｗある角度φからの検出器信号を含んでいる。

線ＡＢに沿った投影のガントリ角度θは任意に０に割り
当てられ、らせん投影組の第１の投影を表わす。

上記のらせん走査技術によってテーブル２２を２９ 軸に沿って進めている間にθ−πラジアンまでの増大し
ていくガントリ角度θで相次いで投影が取得される。

走査過程中にテーブルが動くので、各ガントリ角度θに
関連する投影データは一義的にテーブル位置２に対応す
る。定義によりθ＝θ　でイメｐ ジング対象物１２のスライス平面１４がイメージング平
面とそろい、らせんオフセットが零となる。

ガントリ角度がθ　より大きいかまたは小さい場ｐ 合、イメージング平面がスライス平面１４からずれ、投
影データのらせんオフセットが増大する。

らせんオフセットが最大になるのは投影がθ　かｐ ら最も離れたガントリ角度で取得された場合である。

らせんオフセットがかなり大きいデータによって作られ
る像のアーチファクトはこのオフセット・データに重み
係数を印加して、それの最終イメージに対する寄与を小
さくすることにより減らすことができる。さらに、この
新しい重み付けによって誘起される像のアーチファクト
を避けるため、０ このデータに対して冗長なデータに第２の重み係数を印
加しなければならない。

たとえば第５ａ図に示すように、スライス平面１４がθ
＝π＋２φ　　のときのイメージング平１ＨＸ 面とそろっている場合には、０くθ〈θ　（但し、υ θ　はπ−２φ　　より小さくなるように選定さｕ　　
　　　　　　　　　　ｍａす れた所定の値である）に対する領域８０のデータは大き
ならせんオフセットの領域を包含する。この実施例では
θ　として４５°が選定されている。

しかし、θ　を大きくしたときアーチファクトの減少が
大きくなるがそれに対応して像ノイズが大きくなるので
、これらが釣り合うような他の値を選択してもよい。重
みＷｌが領域８２のデータに印加される。上記の式（１
）による領域８０に対する冗長データはπ−２φ〈θ〈
π＋２φ＋θ。

となる領域８２に含まれている。補償重みＷ３がこの領
域に印加される。領域８１および領域８３と表わされ、
領域８０に対して「非冗長な」データを含む残りの領域
には重みＷ２が与えられる。

一般に、任意の重み関数Ｗ　（Ｐ）により発生される重
みは次の条件を満たす限り選択することができる。すな
わち、任意の２つの冗長点Ｐ１およびＰ３ならびに非冗
長点Ｐ２に対して Ｗ　（Ｐ＋　）＋Ｗ　（Ｐ３）＝２Ｗ　（Ｐ２　）　　
　（２）Ｗ　（ＰＨ）＜ｗ　（Ｐ３　）　　　　　　　
　　　（３）でなければならない。ここでＰｌはＰ３の
投影よりらせんオフセットが大きい投影からのものであ
る。

ここで、冗長性の定義は相対的なものであること、そし
て２π投影組の半分未満をカバーする任意の第１領域に
対して第２の冗長な領域を確認できるということを認識
されたい。したがって、ブタを取得した後、スライス平
面１４を選択することができ、らせんオフセットが最も
大きい投影組の領域に基いて適当な重みを決定すること
ができる。したがって第２の実施例では、スライス平面
はデータ取得の前に選択して、オプションにより投影組
内に中心合わせすることができる。

第５ｂ図を参照して説明すると、データの取得はテーブ
ルの動きと調和して行なわれるので、θπのときスライ
ス平面１４がイメージング平面を横切り、θは走査開始
時に任意に０に定められる。最大らせんオフセットの領
域はスライス平面１４を中心として対称であり、領域８
６および８４として示されている。領域８６の場合ｏく
θ〈θ　′であり、領域８４の場合２π−θ　′〈θｌ
ｕ 〈２πである。ここでθ　′およびθ　′は任意Ｉｕ の数の投影θ　“〈π−θ　′およびθ　′　〉πＵ　
　　　　　　　　　　　Ｕ　　　　　　　　　　　　Ｕ
＋２φｍａｘ＋θｉである。これらの領域には小さくし
た重み関数が与えられる。上記の式（１）による冗長領
域８８および９０には大きくした重み関数が与えられる
。この場合もθ　およびθ。′はアーチファクトの減少
と像ノイズの裕度の関数が釣り合うように選定される。

スライス平面１４の中心合わせにより、いくつかの利点
が得られる。第１に、最大らせんオフセットが小さくな
る。また、像のアーチファクトがらせんオフセットに対
して線形の関係でなくなる程度まで、像のアーチファク
トが前の実施例より更に少なくなる。第２に、呼吸運動
のような他の３ 運動アーチファクトによって生じる不連続が、このよう
な不連続が投影組の端に集中するような傾向となる程度
まで小さくなる。

第６図に示すように、第５ｂ図に示された投影組に対す
るいくつかの重み関数が上記の式（２）および（３）の
条件を満足するように与えられている。たとえば、重み
関数は曲線９６によって示されるように線形関数であっ
てもよいし、曲線９２によって示されるようにθの三次
関数であってもよい。式３Ｘ２−２Ｘ３に基く後者の三
次重み関数が最も有効である。これは、その−次導関数
が該重みの印加される領域の境界で零になるからである
。曲線９４によって示される部分的に一定の重み関数は
冗長領域の簡単な平均を行なって、信号対雑音比の劣化
を最小にする。重み関数９６および９２では信号対雑音
比は若干小さくなる。

当業者には知られているように投影組に対する重み付は
方法は一般的に、米国特許箱４．　５８０゜２１９号「
投影測定の不一致による像のアーチファクトの低減方法
」に記載されている。この特許４ はイメージング対象物の動きによって生じるアーチファ
クトを少なくするように投影組の端の投影の相対的重み
を小さくする方法を開示している。

本発明はらせんオフセットの最も大きい投影に小さくし
た重みを印加する点が異なっている。これまで説明した
ように、このオフセットの大きい投影は端の投影であっ
てもなくてもよい。

本発明の趣旨と範囲の中に入る実施例の多数の変形およ
び変更を当業者は考え付くことができよう。たとえば、
像のアーチファクトを更に減らすためにらせんオフセッ
トの程度に応じて「非冗長」データに重み付けを加える
こともできる。また、重み付は領域の中を適当に変更し
て、スライス平面１４を投影組の中の任意の場所に配置
してもよい。

【図面の簡単な説明】

第１図はガントリ、テーブルおよびイメージング グ対象物を含むＣＴ装置を簡略に示す斜視ｆあり、相対
角度とそれに関連する軸も示しである。第２ａ図および
第２ｂ図は第１図のイメージング対象物を示す斜視図で
あり、それぞれ一定２軸走査とらせん走査の場合のイメ
ージング対象物に対するガントリとイメージング平面の
相対配向を表わし、らせん走査のピッチはわかりやすく
するため誇張して示しである。第３図は本発明の実施に
有用な、第１図のＣＴ装置に使用し得るＣＴ制御システ
ムのブロック図である。第４図はＺ軸に沿って見て２つ
のガントリ角θにガントリを配置した場合における第１
図のＣＴ装置により発生されたＸ線扇状ビームの幾何学
的配置を示す平面図である。第５ａ図はデータをスライ
ス平面に中心合わせしていない場合の２πラジアンの投
影データに関連する引数θおよびφを表わすグラフであ
り、そのブタの重みを示している。第５ｂ図はデータを
スライス平面に中心合わせした場合の第５ａ図と同様な
グラフであり、そのデータの重みを示している。第６図
は第５ｂ図の投影データに印加し得る、θ＝０に沿って
見た３つの重み関数を表わすグラフである。 ［主な符号の説明］ １２・・・イメージング対象物、 １６・・・ガントリ、 θ・・・ガントリ角度。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、らせん走査で取得された投影データからイメージン
   グ対象物の断層撮影像を作成する方法であって、該デー
   タがｚ軸を中心とした複数のガントリ角度θにおける、
   ｚ軸に沿ってらせんオフセットを持つ一連の扇状ビーム
   投影から得られ、該扇状ビーム投影が２φ＿ｍ＿ａ＿ｘ
   の広がり角を有している断層撮影像作成方法に於いて、 （ａ）３６０゜のガントリ回転にわたって 投影データを取得するステップ、 （ｂ）所定の値より大きいらせんオフセッ トを持つ投影組の中の第１組のデータの相対的寄与分を
   小さくするステップ、 （ｃ）上記第１組のデータに対して冗長な 上記投影組の中の第２組のデータの相対的寄与分を大き
   くするステップ、および （ｄ）上記第１および第２のデータ組なら びに上記投影組の残りのデータから像を構成するステッ
   プ を含むことを特徴とする断層撮影像作成方法。 ２、上記ステップ（ｂ）が投影データに重み係数を割り
   当てることを含み、該重み係数がらせんオフセットの関
   数として単調に減少する請求項１記載の断層撮影像作成
   方法。 ３、上記ステップ（ｂ）が投影データに重み係数を割り
   当てることを含み、該重み係数がらせんオフセットの三
   次関数である請求項１記載の断層撮影像作成方法。 ４、上記ステップ（ｂ）が投影データに重み係数を割り
   当てることを含み、該重み係数がらせんオフセットの部
   分毎の連続的な関数である請求項１記載の断層撮影像作
   成方法。 ５、らせん走査で取得した投影データからイメージング
   対象物の断層撮影像を作成する方法であって、該データ
   がｚ軸を中心とした複数のガントリ角度θにおける、ｚ
   軸に沿ってらせんオフセットを持つ一連の扇状ビーム投
   影から得られ、該扇状ビーム投影が２φ＿ｍ＿ａ＿ｘの
   広がり角を有している断層撮影像作成方法に於いて、 （ａ）イメージング対象物に対して、イメ ージング平面と平行なスライス平面Ｚ＿ｓ＿ｐを定める
   ステップ、 （ｂ）イメージング平面がガントリ角度π でスライス平面を横切るようにｚ軸に沿ってイメージン
   グ対象物を動かし且つガントリを回転させて、３６０°
   のガントリ回転にわたって投影データを取得するステッ
   プ、 （ｃ）所定値よりらせんオフセットが大き い投影組の中の第１組のデータの相対的寄与分を小さく
   するステップ、 （ｄ）上記第１組のデータに対して冗長な 上記投影組の中の第２組のデータの相対的寄与分を大き
   くするステップ、および （ｅ）上記第１および第２のデータ組なら びに上記投影組の残りのデータから像を構成するステッ
   プ を含むことを特徴とする断層撮影像作成方法。 ６、上記第１組のデータが２つの別個の領域を含み、そ
   の一方の領域には投影組の最初の投影が含まれ、他方の
   領域には投影組の最後の投影が含まれている請求項５記
   載の断層撮影像作成方法。 ７、上記２つの別個の領域のデータがスライス平面に対
   して対称に配置されている請求項６記載の断層撮影像作
   成方法。