JPH03185386A - Method for measuring radiation quantity using radiation detector - Google Patents

Method for measuring radiation quantity using radiation detector

Info

Publication number
JPH03185386A
JPH03185386A JP32495689A JP32495689A JPH03185386A JP H03185386 A JPH03185386 A JP H03185386A JP 32495689 A JP32495689 A JP 32495689A JP 32495689 A JP32495689 A JP 32495689A JP H03185386 A JPH03185386 A JP H03185386A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wave height
radiation
energy
level
pulse
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP32495689A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mikio Nishimura
幹男 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Aloka Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Aloka Co Ltd filed Critical Aloka Co Ltd
Priority to JP32495689A priority Critical patent/JPH03185386A/en
Publication of JPH03185386A publication Critical patent/JPH03185386A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)

Abstract

PURPOSE:To measure a dose with high accuracy by flattening the energy characteristic of radiation and stabilizing the sensitivity of a detector constant by missing the pulse signal corresponding to the specific energy level of radiation in counting. CONSTITUTION:The radiation incident to a radiation detector 12 is detected as a pulse height signal. This pulse height signal is inputted to respective height discriminators 20, 22, 24 of low, medium and high energies through amplifiers 14, 16 and height values are compared on the basis of the respective cut energies (a), (b), (c) of respectively preset different low, medium and high levels. In this case, an energy characteristic loses buildup at 100 keV or less and a flattened characteristic can be obtained. By this constitution, the sensitivity of a detector can be kept constant in an entire energy region and desired radiation quantity can be measured with high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は放射線量の測定方法、例えばSi(シリコン)
、Ge(ゲルマニウム)半導体(固体)検出器、比例計
数管、GM計数管、電離箱などを用いて放射線の入射粒
子のエネルギーを検出し、該エネルギーに応じたパルス
信号を求め、そのパルス数を計数してX線、ガンマ線な
どの放射線の線量を測定する放射線検出器を用いた放射
線量の測定方法に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a radiation dose measurement method, for example, Si (silicon)
, Ge (germanium) semiconductor (solid state) detector, proportional counter, GM counter, ionization chamber, etc. are used to detect the energy of the incident radiation particle, obtain a pulse signal corresponding to the energy, and calculate the number of pulses. The present invention relates to a radiation dose measurement method using a radiation detector that counts and measures the dose of radiation such as X-rays and gamma rays.

[従来の技術] 放射線線量のJIIJ定において、半導体検出器を用い
た測定装置が広範囲に利用されており、特に、5tSG
e半導体検出器が用いられた放射線線瓜aIIj定装置
は、エネルギー分解能が高いこと、エネルギーと波高パ
ルスの比例性が良いこと、検出部が小形であることなど
の特徴があり、また検出される電流パルスの立ち上がり
時間が非常に短いことから速い計数や粒子の入射時刻の
標定か可能という利点があり、放射線の線量測定に広範
囲に利用されている。
[Prior art] Measuring devices using semiconductor detectors are widely used in the JIIJ determination of radiation doses, and in particular, 5tSG
The radiation ray aIIj determination device that uses an e-semiconductor detector has features such as high energy resolution, good proportionality between energy and pulse height, and a small detection unit. Since the rise time of the current pulse is very short, it has the advantage of allowing rapid counting and locating the time of particle incidence, and is widely used for radiation dose measurement.

第5図には、従来におけるこのようなSi半導体検出器
を利用した放射線測定装置が示されており、また第6図
には、該Si半導体検出器の感度(レスポンス)−光子
エネルギーに関するエネルギー特性が示されている。
FIG. 5 shows a conventional radiation measurement device using such a Si semiconductor detector, and FIG. 6 shows energy characteristics related to sensitivity (response) and photon energy of the Si semiconductor detector. It is shown.

以下、第5図、第6図を用いて従来の放射線線量の測定
方法を適用した測定装置の構成及び作用を説明する。
Hereinafter, the configuration and operation of a measuring device to which a conventional radiation dose measuring method is applied will be explained using FIGS. 5 and 6.

図において(従来の測定装置は、フィルタ10とSi半
導体検出器12、増幅器14.16及び、波高弁別器1
8、計数器20から構成されている。
In the figure (the conventional measuring device includes a filter 10, a Si semiconductor detector 12, an amplifier 14, 16, and a pulse height discriminator 1).
8, a counter 20.

すなわち、前記フィルタ10により、まず照射される放
射線の低域エネルギーを減衰させ、該フィルタ10を透
過した放射線を前記Si半導体検出器12で受け、該S
i半導体検出器12は、その放射線エネルギーに対応し
た波高値レベルとなる波高値信号を出力する。もちろん
周知の如く、該波高値信号のカウント数が放射線線量に
対応することになる。
That is, the filter 10 first attenuates the low-frequency energy of the irradiated radiation, the radiation transmitted through the filter 10 is received by the Si semiconductor detector 12, and the S
The i-semiconductor detector 12 outputs a peak value signal having a peak value level corresponding to the radiation energy. Of course, as is well known, the count number of the peak value signal corresponds to the radiation dose.

このようにして、該検出器12で放射線エネルギーが検
出され、そのエネルギーレベルに応じて出力された微弱
な前記波高値信号は、前記増幅器14.16により、後
の信号処理に必要な所定レベルまで振幅増幅される。そ
して、該増幅された波高値信号は、放射線の低エネルギ
ーレベル(カットエネルギーa)に応じた波高レベルで
波高弁別を行う波高弁別器18に人力される。
In this way, radiation energy is detected by the detector 12, and the weak peak value signal output according to the energy level is raised to a predetermined level necessary for later signal processing by the amplifier 14.16. The amplitude is amplified. The amplified wave height value signal is then manually inputted to a wave height discriminator 18 which performs wave height discrimination at a wave height level corresponding to the low energy level (cut energy a) of the radiation.

この波高弁別器18には、図に示すように、例えば、コ
ンパレータが用いられ、該コンパレータの一方の非反転
入力端子(+)から前記波高値信号を入力し、他方の反
転入力端子(−)から基準電圧Vsを可変抵抗18aを
介して人力している。
As shown in the figure, for example, a comparator is used in this pulse height discriminator 18, and the pulse height value signal is inputted from one non-inverting input terminal (+) of the comparator, and the other inverting input terminal (-) The reference voltage Vs is manually applied from the variable resistor 18a through the variable resistor 18a.

そして、この可変抵抗18aの調整により、ノイズカッ
トのために波高弁別する波高レベル、すなわち、図に示
す低エネルギー領域での該カットエネルギーaの位置が
決定される。
By adjusting the variable resistor 18a, the wave height level at which the wave height is discriminated for noise cutting, that is, the position of the cut energy a in the low energy region shown in the figure is determined.

このようにして、低エネルギー用の前記波高弁別器18
では、カットエネルギーaにより、その波高レベル以上
の波高値信号に対応したパルス信号だけが出力されるこ
とになる。従って、該パルス信号は、前記波高レベル以
上のノイズカットされた低エネルギーレベルに応じて出
力されることになり、更に前記計数器20で該パルス信
号を計数し、その計数結果を出力表示することができる
In this way, the wave height discriminator 18 for low energy
Then, due to the cut energy a, only the pulse signal corresponding to the wave height signal having the wave height level or higher is outputted. Therefore, the pulse signal is output according to the noise-cut low energy level that is higher than the wave height level, and the pulse signal is further counted by the counter 20 and the counting result is output and displayed. I can do it.

次に、以下第6図を用いて具体的な動作を詳細に説明す
る。
Next, the specific operation will be explained in detail using FIG. 6 below.

前記Si半導体検出器12においては、前記フィルタ1
0を介して、所望の放射線が入射されることにより、検
出器内部で相互作用が起こり、放射線粒子エネルギーの
一部分又は全部が消費される。
In the Si semiconductor detector 12, the filter 1
By injecting the desired radiation through 0, an interaction occurs inside the detector and part or all of the radiation particle energy is dissipated.

ここで、該エネルギーは、検出器内部で電荷量に変換さ
れ、その電荷量に比例した該粒子のエネルギーに一義的
に対応する波高パルス、すなわち、前記波高値信号に変
換されることになる。この結果、放射線のエネルギーに
対応した波高値信号が線量に応じた数のパルスとして出
力されることになる。
Here, the energy is converted into an amount of charge inside the detector, and is converted into a pulse height pulse, that is, the peak value signal, which uniquely corresponds to the energy of the particle, which is proportional to the amount of charge. As a result, a peak value signal corresponding to the energy of the radiation is output as a number of pulses corresponding to the dose.

ところで、上述した前記Si半導体検出器12は、第6
図に示すような放射線の感度(レスポンス)になり、そ
のエネルギー特性には、前述した検出器内部での相互作
用として、光子エネルギー100keVを境に、該10
0keV以下では一点鎖線のカーブで示す光電効果が、
1QQkeV以上では破線のカーブで示すコンプトン効
果が現れることになる。
By the way, the above-mentioned Si semiconductor detector 12 has a sixth
The radiation sensitivity (response) is as shown in the figure, and its energy characteristics include the above-mentioned interaction inside the detector.
Below 0 keV, the photoelectric effect shown by the dashed-dotted curve is
At 1QQkeV or more, the Compton effect shown by the dashed curve appears.

従って、一般的にエネルギー特性としては、IQ Q 
lc e V以上では、図示のように比較的フラットな
感度特性が得られるが、100keV以下では一点鎖線
で示す左上がりの傾斜した特性になり感度が過剰に高く
なっている。
Therefore, in general, the energy characteristics are IQ Q
At lc e V or more, a relatively flat sensitivity characteristic is obtained as shown in the figure, but at 100 keV or less, the characteristic becomes sloped upward to the left as shown by a dashed-dotted line, and the sensitivity becomes excessively high.

このために、従来においては、第5図に示すように前記
フィルタ10によって入路1される放射線の強度を制限
したり、また前記波高弁別器18により設定されるカッ
トエネルギーレベルaを上げて調整することにより、第
6図に示す一点鎖線のカーブから実線のカーブへ感度を
落とすことが行われている。
For this purpose, in the past, as shown in FIG. 5, the intensity of the radiation entering 1 is limited by the filter 10, or the cut energy level a set by the wave height discriminator 18 is increased and adjusted. By doing this, the sensitivity is lowered from the dashed-dot line curve to the solid line curve shown in FIG.

以上のようにして、従来の放射線量の1lllJ定装置
では、第5図の回路構成で、かつ第6図に示す検出器の
(感度)エネルギー特性により、所望の線Q fill
J定が行われていた。
As described above, in the conventional radiation dose 1lllJ determination device, the desired line Q fill can be determined using the circuit configuration shown in FIG.
A J-decision was being conducted.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、このような従来の半導体検出器を利用し
た放射線線量の測定方法においては、第6図に示すよう
に放射線のエネルギー特性が10QkeV以下の低エネ
ルギー領域、特に75keV中心付近でレスポンスに山
状の盛り上りがどうしても残り、このために依然として
感度が高くなっていた。この結果、このエネルギー領域
の放射線量が実際の線量よりも多く測定されてしまい、
高精度の線量測定ができないという問題があった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in the radiation dose measurement method using such a conventional semiconductor detector, as shown in FIG. A mountain-like swell inevitably remained in the response near the center of 75 keV, and for this reason the sensitivity was still high. As a result, the radiation dose in this energy region is measured to be higher than the actual dose.
There was a problem that highly accurate dose measurement was not possible.

すなわち、この盛り上がりは、前述したように検出器内
での光電効果の影響により発生するのであるが、従来に
おいては、前記フィルタ10の厚さ及び前記波高弁別器
18で低エネルギー領域においてカットエネルギーaの
位置調整だけにより、その盛り上がりを減衰させていた
That is, as mentioned above, this swelling occurs due to the influence of the photoelectric effect within the detector, but conventionally, the thickness of the filter 10 and the cut energy a in the low energy region by the wave height discriminator 18 are The swelling was attenuated simply by adjusting the position of.

しかし、この方法だけでは、レスポンス1.0に対して
感度を落とし過ぎたり、又は第6図に示すように十分に
感度を落とすことができずに盛り上がりが残ったり、ど
うしても該エネルギー特性を平坦化させることが困難で
あった。
However, with this method alone, the sensitivity may be reduced too much for a response of 1.0, or as shown in Figure 6, the sensitivity may not be reduced sufficiently and a peak may remain, or the energy characteristic may be flattened. It was difficult to do so.

また、従来の測定装置では、以上のようにエネルギー特
性の平坦化が困難なことから、一般的には線m Ap1
定値が実際の線量よりも少なめに測定されるよりも、放
射線管理上、多めに測定されるように感度を設定する必
要があった。
In addition, with conventional measuring devices, it is difficult to flatten the energy characteristics as described above, so generally the line mAp1
For radiation management purposes, it was necessary to set the sensitivity so that the fixed value was measured to be higher than the actual dose, rather than being measured to be lower than the actual dose.

発明の目的 本発明は上記従来の課題に鑑み成されたものであり、そ
の目的は、放射線の特定エネルギー範囲において、その
特定エネルギーレベルに応じたパルス信号を数え落とす
ことで放射線のエネルギー特性を平坦化し、検出器の感
度を一定に安定化させ、これにより、高精度の線量測定
が可能な放射線検出器を用いた放射線線量の測定方法を
提供することにある。
Purpose of the Invention The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and its purpose is to flatten the energy characteristics of radiation by counting down pulse signals corresponding to the specific energy level in a specific energy range of radiation. The object of the present invention is to provide a method for measuring radiation dose using a radiation detector, which stabilizes the sensitivity of the detector to a constant value and thereby enables highly accurate dose measurement.

[課題を解決するための手段] 上記目的を達成するために本発明に係る放射線検出器を
用いた放射線量の測定方法によれば、照ηノされる放射
線のエネルギーを検出し該エネルギーレベルに応じた所
定の波高値信号を出力する放η・1線検出工程と、前記
波高値信号を放射線の低エネルギーレベルに応じた第1
波高レベルで波高弁別し該第1波高レベル以上の波高値
信号に対応しa−、+++i −y #+ ’ユに一山
−バーI−x ’h 1:ih −+”r her 血
UNI T t’l J−前記波高値信号を放射線の中
エネルギーレベルに応じた第2波高レベルで波高弁別し
該第2波高レベル以上の波高値信号に対応したパルス信
号を出力する第2波高値弁別工程と、前記波高値信号を
放射線の高エネルギーレベルに応じた第3波高レベルで
波高弁別し該第3波高レベル以上の波高値信号に対応し
たパルス信号を出力する第3波高値弁別工程と、前記第
2波高レベルと前記第3波高レベルとの間の波高値信号
に対応するパルス信号を除いて、前記第1波高レベル以
上であって前記第2波高レベル以下と第3波高レベル以
上との波高値信号に対応するパルス信号だけを選択する
パルス信号選択工程とを有することを特徴とする。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, according to a radiation dose measuring method using a radiation detector according to the present invention, the energy of the radiation emitted is detected and the energy level is determined. a first radiation detection step that outputs a predetermined peak value signal corresponding to the low energy level of the radiation;
The wave height is discriminated based on the wave height level and corresponds to the wave height value signal that is higher than the first wave height level. t'l J - A second wave height value discrimination step of performing wave height discrimination on the wave height value signal at a second wave height level corresponding to the intermediate energy level of the radiation and outputting a pulse signal corresponding to the wave height value signal that is equal to or higher than the second wave height level. a third wave height value discrimination step of discriminating the wave height of the wave height signal at a third wave height level corresponding to the high energy level of the radiation and outputting a pulse signal corresponding to the wave height value signal equal to or higher than the third wave height level; Except for pulse signals corresponding to wave height signals between the second wave height level and the third wave height level, waves that are higher than the first wave height level, lower than the second wave height level, and higher than the third wave height level The method is characterized by comprising a pulse signal selection step of selecting only pulse signals corresponding to high value signals.

[作用] 以上のような構成としたので本発明の放1.を線検出器
を用いた放射線量の測定方法によれば、検出されたパル
ス信号のうち、前記パルス信号選択工程により、放射線
の中エネルギーレベルに応じた第2波高レベルと高エネ
ルギーレベルに応じた第’) &t 1.Aa+l−L
 M nrlm−d−を話1%EL I−’r) rr
−J−71%# IIス信号を除いて、前記放射線検出
工程における放射線のエネルギー特性を平坦化すること
ができる。
[Function] With the above configuration, the features 1 of the present invention are achieved. According to the radiation dose measurement method using a radiation detector, among the detected pulse signals, the second wave height level corresponding to the medium energy level of the radiation and the second wave height level corresponding to the high energy level are determined by the pulse signal selection step. No.') &t 1. Aa+l-L
Speak M nrlm-d-1%EL I-'r) rr
-J-71%# II It is possible to flatten the energy characteristics of the radiation in the radiation detection step except for the signal.

この結果、前記パルス信号選択工程で選択されたパルス
信号を計数することにより、この計数結果に基いて放射
線線量を高精度に測定することが可能となる。
As a result, by counting the pulse signals selected in the pulse signal selection step, it is possible to measure the radiation dose with high precision based on the counting results.

[実施例] 以下、図面に基いて本発明の好適な実施例を説明する。[Example] Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described based on the drawings.

第1図は、本発明に係る放射線量の測定方法を適用した
測定装置の回路構成図である。
FIG. 1 is a circuit configuration diagram of a measuring device to which the radiation dose measuring method according to the present invention is applied.

なお、第5図、第6図との同一部材には同一符号を付し
、以下4;、S成及び作用の説明は省略する。
Note that the same members as in FIGS. 5 and 6 are designated by the same reference numerals, and descriptions of the structure and operation will be omitted below.

本発明において特徴的なことは、前記第2波高レベルと
第3波高レベルとの間の波高値信号に対応するパルス信
号を数え落として、前記第2波高レベル以下と第3波高
レベル以上との波高値信号に対応す名パルス信号だけを
計数し、放射線検出器の感度を一定とする平坦化された
エネルギー特性を得ることにある。
A characteristic feature of the present invention is that the pulse signals corresponding to the wave height signals between the second wave height level and the third wave height level are counted down, and the pulse signals corresponding to the wave height values below the second wave height level and those above the third wave height level are counted down. The purpose of this method is to obtain flattened energy characteristics that keep the sensitivity of the radiation detector constant by counting only the pulse signals corresponding to the peak value signals.

以下、第1図を用いて本実施例の回路構成を詳細に説明
する。
Hereinafter, the circuit configuration of this embodiment will be explained in detail using FIG.

図において、”本発明に係る線量測定方法を適用した測
定装置は、前述した第5図に示す従来の測定装置と比較
して、低エネルギーレベル用波高弁別器18に加え中エ
ネルギーレベル用波高弁別器22と高エネルギーレベル
用波高弁別器24とを並列接続して設け、かつ該各波高
弁別器20.22.24の出力するパルス信号を入力し
、所定の波高レベルでの波高値信号に対応するパルス信
号のみを選択するパルス信号選択回路26とから構成さ
れている。
In the figure, "a measuring device to which the dose measuring method according to the present invention is applied has a pulse height discriminator 18 for medium energy levels in addition to a pulse height discriminator 18 for low energy levels, compared to the conventional measuring device shown in FIG. 5 described above. 22 and a pulse height discriminator 24 for high energy level are connected in parallel, and the pulse signals output from each of the pulse height discriminators 20, 22, and 24 are inputted to correspond to a peak value signal at a predetermined pulse height level. The pulse signal selection circuit 26 selects only the pulse signals to be used.

すなわち、第1図において、放射線検出器12に入射さ
れた放射線は、前述したように波高値信号として検出さ
れる。
That is, in FIG. 1, the radiation incident on the radiation detector 12 is detected as a peak value signal as described above.

そして、この波高値信号は、前記増幅器14.16を介
し、低、中、高エネルギーの前記各波高弁別器20.2
2.24に入力され、それぞれ予め設定されている異な
る低中高レベルの各カットエネルギーa、b、cで波高
値の比較を行う。そして、それぞれの各エネルギーレベ
ル以上の波高値信号に対応したパルス信号ASB、Cに
変換される。
Then, this peak value signal is passed through the amplifier 14.16 to each of the low, medium, and high energy pulse height discriminators 20.2.
2.24, and the peak values are compared for each cut energy a, b, and c at different preset low, middle, and high levels. Then, it is converted into pulse signals ASB and C corresponding to the peak value signals having respective energy levels or higher.

ここで、変換されたパルス信号A、B、Cは、それぞれ
検出器内で消費されたエネルギーの大きさに対応してお
り、該パルス信号は、低中高の波高弁別レベルに応じて
出力される。
Here, the converted pulse signals A, B, and C each correspond to the amount of energy consumed within the detector, and the pulse signals are output according to the low, middle, and high wave height discrimination level. .

そして、弁別されたそれぞれのパルス信号は、前記パル
ス信号選択回路26に入力され、ここにおいて、前記高
レベルと中レベルとの間の波高値信号に対応するパルス
信号を除いて、低レベル以上であって、高レベル以上と
中レベル以下との間の波+Q+ (n信号に対応するパ
ルス信号だけを選択することか行われる。
Then, each of the discriminated pulse signals is inputted to the pulse signal selection circuit 26, where the pulse signals having a low level or higher, except for the pulse signal corresponding to a peak value signal between the high level and the medium level, are input to the pulse signal selection circuit 26. Then, only the pulse signal corresponding to the wave +Q+ (n signal) between the high level and above and the middle level and below is selected.

すなイつち、相互作用により検出器内で消費されるエネ
ルギーレベルが中レベルより大きく高レベルより小さい
場合には該パルス信号を出力せず、それ以外の場合には
例えば、1つのパルス信号に対して1つのパルス信号を
選択出力することになる。
That is, if the energy level consumed in the detector due to the interaction is greater than the medium level and less than the high level, the pulse signal is not output; otherwise, e.g. One pulse signal is selectively output for each.

これは後に、高レベルと中レベルとの間の波高値信号に
対応するパルス信号だけを計数しないことになる。
This will later result in not counting only the pulse signals corresponding to peak value signals between the high level and the medium level.

この選択回路26は、第3図に示すように2つの遅延回
路130、ll32、ワンショト回路34及びAND回
路36で構成され、図に示すように波高値信号を各カッ
トエネルギーa、b、cのレベルで弁別したパルス信号
A、BSCを入力している。
As shown in FIG. 3, this selection circuit 26 is composed of two delay circuits 130, 1132, a one-shot circuit 34, and an AND circuit 36. Pulse signals A and BSC, which are differentiated by level, are input.

ここで、信号Aは、前記遅延回路130に入力され、所
定時間遅延されて、前記ワンショト回路34から出力さ
れる信号のパルス幅内に該信号Aがくるように同期され
る。
Here, the signal A is input to the delay circuit 130, delayed for a predetermined time, and synchronized so that the signal A is within the pulse width of the signal output from the one-shot circuit 34.

一方、信号Bは、前記遅延回路1132を介し、所定時
間遅延されて前記ワンショト回路34に人力されるが、
このワンショト回路34には、リセット信号として信号
Cが入力され、ここで、該信号Bの立ち下がりを信号C
のパルス幅内にくるタイミングに同期される。
On the other hand, the signal B is manually input to the one-shot circuit 34 via the delay circuit 1132 after being delayed for a predetermined time.
A signal C is input as a reset signal to this one-shot circuit 34, and here, the falling edge of the signal B is input to the signal C.
The timing is synchronized to the timing within the pulse width of .

iW  、7   1i 8  r  M太 X nl
= 1− 1+    nせf:)  「1 ’ノ X
i  −L回路34はリセットされて動作せず(但し、
Qによりワンショト信号が出力される)、これにより、
信号Aは、AND回路36を通り出力されることになる
iW , 7 1i 8 r M thick X nl
= 1- 1+ nsef:) ``1'ノX
The i-L circuit 34 is reset and does not operate (however,
A one-shot signal is output by Q), thereby,
Signal A will pass through AND circuit 36 and be output.

また、信号Cがない時には、前記ワンショト回路34は
リセッセされず動作しく但し、Qによりワンショト信号
が出力されない) 、AND回路36に一定時間禁止が
かけられ、これにより、信号Aは、出力されないことに
なる。
Furthermore, when there is no signal C, the one-shot circuit 34 is not reset and operates; however, the one-shot signal is not output due to Q), and the AND circuit 36 is inhibited for a certain period of time, so that the signal A is not output. become.

次に、前記パルス信号選択回路26によって、前記検出
器のエネルギー特性が平担化される仕組みを第4図の特
性を用いて詳細に説明する。
Next, the mechanism by which the energy characteristics of the detector are flattened by the pulse signal selection circuit 26 will be explained in detail using the characteristics shown in FIG.

第4図(a)は、100keV以下のエネルギー特性図
、また第4図(b)は、100keV以下のエネルギー
領域での放射線エネルギースペクトル分布である。
FIG. 4(a) is an energy characteristic diagram of 100 keV or less, and FIG. 4(b) is a radiation energy spectral distribution in the energy region of 100 keV or less.

図に示すように、低中高の各波高弁別レベルに対応した
カットエネルギーレベルは、a、、b、cで表され、ス
ペクトル分布d、  e、  fは、それぞれ特定の放
射線エネルギーに対応したスペクトル波高分布である。
As shown in the figure, the cut energy levels corresponding to each low, medium and high wave height discrimination level are represented by a, b, and c, and the spectral distributions d, e, and f are the spectral wave heights corresponding to specific radiation energy, respectively. distribution.

そして、該分布d、e、fの合成された特性は、第4図
(b)の破線で示す山状のカーブに相当し、これが、第
4図(a)の実線に示す特性と同一となることが理解さ
れる。
The combined characteristics of the distributions d, e, and f correspond to the mountain-like curve shown by the broken line in FIG. 4(b), which is the same as the characteristic shown by the solid line in FIG. 4(a). It is understood that

この波高分布は、100keV以下のエネルギー領域で
は光電効果が支配的であり、本来、線スペクトルとなる
が、前記検出器や増幅器などの回路系のノイズによって
、分布幅が広がっていることが認められる。
This wave height distribution is dominated by the photoelectric effect in the energy region below 100 keV, and is originally a line spectrum, but it is recognized that the distribution width is broadened due to noise in the circuit system such as the detector and amplifier. .

つまり、本発明においては、この分布幅の広がりを利用
しており、第4図(b)に示されているカットエネルギ
ーレベルbとCとの間に対応するパルス信号を計数しな
いようにしたことによって、放射線のエネルギー分布e
に対する検出器の感度を低下させることが可能となった
のである。
In other words, in the present invention, this broadening of the distribution width is utilized, and pulse signals corresponding to the cut energy levels b and C shown in FIG. 4(b) are not counted. The energy distribution of radiation e
This made it possible to reduce the sensitivity of the detector to

すなわちこれは、第4図(a)に−点鎖線で示す平坦化
されたエネルギー特性となるわけだが、エネルギーレベ
ルbとCとの間の信号を計数しないことは、面積的に斜
線部分がカットされることを意味し、スペクトル分布e
についてはその中央部が大幅にカットされ、スペクトル
分布dについては分布幅右端のごく一部分がカットされ
、またスペクトル分布fについては分布幅及端の極一部
分がカットされることになる。
In other words, this results in a flattened energy characteristic shown by the dashed line in Figure 4(a), but not counting the signal between energy levels b and C means that the shaded area is cut in terms of area. spectral distribution e
For spectral distribution d, a small portion of the right end of the distribution width is cut, and for spectral distribution f, a very small portion of the distribution width and end is cut off.

従って、その分布d、e、fのカットされた分は、第4
図(a)の矢印d−、e−、f−1.:示す分だけ感度
が低下することに相当し、これにより、エネルギー特性
の平坦化が成されるのである(−点鎖線で示す特性)。
Therefore, the cut portions of the distributions d, e, and f are the fourth
Arrows d-, e-, f-1 in figure (a). : This corresponds to a decrease in sensitivity by the amount shown, and as a result, the energy characteristics are flattened (characteristics shown by the - dotted chain line).

なお、該感度低下の度合いは、エネルギー分布のb−c
間の幅を可変することにより可能であり、かつこの度合
いは、b−c間の幅に近い放射線のエネルギー分布eは
と著しくなり、またb−c間の幅に遠い放η・1線のエ
ネルギー分布dSfはと該スペクトルの広がりにしたが
って緩やかになる。
Note that the degree of sensitivity reduction is determined by b-c of the energy distribution.
This is possible by varying the width between b and c, and the energy distribution e of radiation close to the width between b and c becomes remarkable, and the energy distribution of radiation η・1 line far from the width between b and c The energy distribution dSf becomes gentler as the spectrum broadens.

1体的には、例えばエネルギーレベルbは70keV、
エネルギーレベルCは80keVを最適レベルとして設
定され、したがって該b−c間の幅は101ceVに設
定される。
For example, the energy level b is 70 keV,
The energy level C is set to 80 keV as the optimum level, and therefore the width between b and c is set to 101 ceV.

以上のようにして、前記パルス信号Bは選択されず、こ
れに対し、選択された該パルス信号A。
As described above, the pulse signal B is not selected, whereas the pulse signal A is selected.

Cは、計数器20に人力されて計数されることになるが
、前記パルス信号C以下とパルス信号B以上との信号の
みを計数しないために、第2図に示すようにエネルギー
特性は、100 k e V以下において盛り上がりが
なくなり、平坦化された特性が得られることになる。
C is manually counted by the counter 20, but in order not to count only the signals below the pulse signal C and above the pulse signal B, the energy characteristic is 100 as shown in FIG. Below k e V, the bulge disappears and flattened characteristics are obtained.

さらに、第4図(C)には、100keV〜300ke
V範囲のエネルギースペクトル分布が示されており、ま
た、第4図(d)には、300keV以上のエネルギー
スペクトル分布が示されている。
Furthermore, in FIG. 4(C), 100keV to 300keV
The energy spectral distribution in the V range is shown, and in FIG. 4(d) the energy spectral distribution above 300 keV is shown.

すなわち、図に示されているこの高エネルギー、領域−
では、相互作用としてコンプトン効果が主体となり、第
4図゛(b)に示すような100keV以下での光電効
果特有の光電ピークは発生せず、放射線のスペクトルが
非常に広い範囲で分布していることがわかる。このため
、第2図に示されているエネルギー特性を見てもわかる
ように、30QkeV以上では比較的フラットな特性が
得られることがわかる。
That is, this high energy, region shown in the figure −
In this case, the Compton effect is the main interaction, and the photoelectric peak characteristic of the photoelectric effect below 100 keV as shown in Figure 4 (b) does not occur, and the radiation spectrum is distributed over a very wide range. I understand that. Therefore, as can be seen from the energy characteristics shown in FIG. 2, relatively flat characteristics are obtained above 30 QkeV.

従って、この高エネルギー領域では、たとえ、前記カッ
トエネルギーレベルb−c間のパルス信号を計数しなく
ても、その依存する割合が極めて少なく、何ら影響され
ないことが理解される。
Therefore, it is understood that in this high energy region, even if the pulse signals between the cut energy levels b and c are not counted, the dependence ratio is extremely small and there is no influence at all.

以上のようにして、本発明による族14線量の測定方法
によれば、第2図の一点鎖線で示されるように、従来と
比較して、1001c e V以下でのエネルギー特性
の盛り上がりが大幅に改善され、平担化されていること
が理解される。これにより、検出器の感度を全エネルギ
ー領域において一定に維持することが可能となり、所望
の放1・1線瓜を高ネ、1度にallJ定することがで
きる。
As described above, according to the method for measuring Group 14 doses according to the present invention, as shown by the dashed line in FIG. It is understood that it has been improved and leveled out. This makes it possible to maintain the sensitivity of the detector constant in the entire energy range, and it is possible to determine all the desired radiation levels at once.

[発明の効果コ 以上のようにして、本発明に係る放射線検出器を用いた
放射線線量の測定方法によれば、従来の放射線エネルギ
ー特性よりも、平坦なエネルギー特性を全エネルギー範
囲において得ることができ、これにより、高精度な線量
の測定が可能となる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the radiation dose measurement method using the radiation detector according to the present invention, it is possible to obtain flatter energy characteristics over the entire energy range than the conventional radiation energy characteristics. This enables highly accurate dose measurement.

この結果、本発明の放射線!!j1m測定方法によれば
、その線量の測定データに基いて測定者は、適切な処置
を行うことができる。
As a result, the radiation of the present invention! ! According to the j1m measurement method, the measurer can take appropriate measures based on the dose measurement data.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明に係る放射線検出器を用いた放射線線
量の測定方法を適用した回路構成図、第2図は、本発明
に係る放11線検出器の感度−エネルギー特性を示した
特性図、 第3図は、本発明に係るパルス信号選択回路の一例の回
路構成が示された説明図、 第4図は、本発明に係る放射線検出器の感度−エネルギ
ー特性及び放射線の波高分布を示した説明図、 第5図は、従来における放射線検出器を用いた放射線線
量の測定方法を適用した回路構成図、第6図は、従来に
おける放射線検出器の感度−エネルギー特性を示した特
性図である。 12 ・・・ Si半導体検出器 18 ・・・ 波高弁別器 22 ・・・ 波高弁別器 24 ・・・ 波高弁別器 26 ・・・ パルス信号選択回路 30 ・・・ 遅延回路 32 ・・・ 遅延回路 34 ・・・ ワンショット回路 36 ・・・ AND回路 a ・・・ U(レベルカットエネルギーb ・・・ 
中レベルカットエネルギーC・・・ 高レベルカットエ
ネルギー d ・・・ 低レベル波高針−/li e ・・・ 中レベル波高分布 f ・・・ 高レベル波高針/Ii A、  B、  C・・・ パルス信号。
FIG. 1 is a circuit configuration diagram to which a radiation dose measurement method using a radiation detector according to the present invention is applied, and FIG. 2 is a characteristic showing sensitivity-energy characteristics of the radiation detector according to the present invention. 3 is an explanatory diagram showing the circuit configuration of an example of the pulse signal selection circuit according to the present invention, and FIG. 5 is a circuit configuration diagram to which a conventional radiation dose measurement method using a radiation detector is applied. FIG. 6 is a characteristic diagram showing the sensitivity-energy characteristics of a conventional radiation detector. It is. 12 ... Si semiconductor detector 18 ... Wave height discriminator 22 ... Wave height discriminator 24 ... Wave height discriminator 26 ... Pulse signal selection circuit 30 ... Delay circuit 32 ... Delay circuit 34 ... One-shot circuit 36 ... AND circuit a ... U (level cut energy b ...
Medium level cut energy C... High level cut energy d... Low level wave height needle -/li e... Medium level wave height distribution f... High level wave height needle/Ii A, B, C... Pulse signal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)検出される放射線のエネルギーに応じて所定の波
高値信号を求め、該波高値信号を放射線エネルギーの特
定レベルで波高弁別し、その弁別された信号を計数して
線量を測定する放射線検出器を用いた放射線量の測定方
法において、 照射される放射線のエネルギーを検出し、該エネルギー
レベルに応じた所定の波高値信号を出力する放射線検出
工程と、 前記波高値信号を放射線の低エネルギーレベルに応じた
第1波高レベルで波高弁別し、該第1波高レベル以上の
波高値信号に対応したパルス信号を出力する第1波高値
弁別工程と、 前記波高値信号を放射線の中エネルギーレベルに応じた
第2波高レベルで波高弁別し、該第2波高レベル以上の
波高値信号に対応したパルス信号を出力する第2波高値
弁別工程と、 前記波高値信号を放射線の高エネルギーレベルに応じた
第3波高レベルで波高弁別し、該第3波高レベル以上の
波高値信号に対応したパルス信号を出力する第3波高値
弁別工程と、 前記第2波高レベルと前記第3波高レベルとの間の波高
値信号に対応するパルス信号を除いて、前記第1波高レ
ベル以上であって前記第2波高レベル以下と第3波高レ
ベル以上との波高値信号に対応するパルス信号だけを選
択するパルス信号選択工程と、を有し、 前記パルス信号選択工程で選択されたパルス信号を計数
して高精度の線量測定を行うことを特徴とする放射線検
出器を用いた放射線量の測定方法。
(1) Radiation detection that obtains a predetermined peak value signal according to the energy of the radiation to be detected, discriminates the peak value signal based on a specific level of radiation energy, and measures the dose by counting the discriminated signals. A radiation dose measurement method using a radiation detector includes a radiation detection step of detecting the energy of irradiated radiation and outputting a predetermined peak value signal according to the energy level, and converting the peak value signal into a low energy level of the radiation. a first wave height value discrimination step of discriminating the wave height at a first wave height level corresponding to the first wave height level and outputting a pulse signal corresponding to the wave height value signal that is equal to or higher than the first wave height level; a second wave height value discrimination step of discriminating the wave height at a second wave height level and outputting a pulse signal corresponding to the wave height value signal equal to or higher than the second wave height level; a third wave height value discrimination step of discriminating wave heights at three wave height levels and outputting a pulse signal corresponding to a wave height value signal equal to or higher than the third wave height level; and a wave height value between the second wave height level and the third wave height level. A pulse signal selection step of selecting only pulse signals corresponding to peak value signals that are higher than the first wave height level, lower than the second wave height level, and higher than the third wave height level, excluding pulse signals corresponding to high value signals. A radiation dose measurement method using a radiation detector, comprising: counting the pulse signals selected in the pulse signal selection step to perform highly accurate dose measurement.
JP32495689A 1989-12-14 1989-12-14 Method for measuring radiation quantity using radiation detector Pending JPH03185386A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32495689A JPH03185386A (en) 1989-12-14 1989-12-14 Method for measuring radiation quantity using radiation detector

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32495689A JPH03185386A (en) 1989-12-14 1989-12-14 Method for measuring radiation quantity using radiation detector

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03185386A true JPH03185386A (en) 1991-08-13

Family

ID=18171506

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32495689A Pending JPH03185386A (en) 1989-12-14 1989-12-14 Method for measuring radiation quantity using radiation detector

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03185386A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001074844A (en) * 1999-09-01 2001-03-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Pocket dosimeter
JP2007248319A (en) * 2006-03-17 2007-09-27 Fuji Electric Systems Co Ltd Scintillation detector and scintillation-type low-power photon 1-cm dose equivalent meter
JP2013029361A (en) * 2011-07-27 2013-02-07 Japan Atomic Energy Agency Semiconductor radiation meter

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001074844A (en) * 1999-09-01 2001-03-23 Matsushita Electric Ind Co Ltd Pocket dosimeter
JP2007248319A (en) * 2006-03-17 2007-09-27 Fuji Electric Systems Co Ltd Scintillation detector and scintillation-type low-power photon 1-cm dose equivalent meter
JP2013029361A (en) * 2011-07-27 2013-02-07 Japan Atomic Energy Agency Semiconductor radiation meter

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7480362B2 (en) Method and apparatus for spectral computed tomography
JP2004529367A (en) Baseline correction method and apparatus in X-ray and nuclear spectroscopy system
CN111175804B (en) Pulse radiation detection circuit and device
JP2620590B2 (en) Radiation detector
JP2004108796A (en) Radiation measurement device
US3579127A (en) Apparatus for monitoring pulses
US7388210B2 (en) Enhanced processing circuit for spectrometry system and spectrometry system using same
US4973913A (en) Radiation measuring apparatus
JPH03185386A (en) Method for measuring radiation quantity using radiation detector
JPH03123881A (en) Method and apparatus for analyzing gamma ray nuclide
US4751390A (en) Radiation dose-rate meter using an energy-sensitive counter
Halbert Fluorescent response of CsI (Tl) to energetic nitrogen ions
US4468744A (en) Scintillation camera
JP2001194460A (en) Radiation monitor
JP2703383B2 (en) Pulse waveform discriminator
JPH033198B2 (en)
US3140395A (en) Directional gamma-ray detector
JP3490730B2 (en) Radiation measurement device
JPH0375833B2 (en)
JP3585356B2 (en) Radiation detector
JPH0519061A (en) Radiation detection signal discrimination circuit
JP3728220B2 (en) Γ-ray sensitivity test method for proportional counter neutron detector
JPH0299885A (en) Radiation measuring apparatus
JPS59226885A (en) Energy dispersion type x-ray measuring device
JPH03189586A (en) Radiation measuring instrument