JPH03161264A - Working method for video head by wire saw and wire saw working device - Google Patents

Working method for video head by wire saw and wire saw working device

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Publication number
JPH03161264A
JPH03161264A JP14146790A JP14146790A JPH03161264A JP H03161264 A JPH03161264 A JP H03161264A JP 14146790 A JP14146790 A JP 14146790A JP 14146790 A JP14146790 A JP 14146790A JP H03161264 A JPH03161264 A JP H03161264A
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JP
Japan
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wire
workpiece
wire saw
saw processing
detecting
Prior art date
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Pending
Application number
JP14146790A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Motoya Taniguchi
素也 谷口
Minoru Yoshida
実 吉田
Ryuichi Funatsu
隆一 船津
Kaoru Miyoshi
薫 三好
Shigeki Yamamura
茂樹 山村
Masaichi Baba
馬場 政一
Toshio Tamura
利夫 田村
Shin Hashizume
橋爪 伸
Masayasu Fujisawa
藤沢 政泰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to JP14146790A priority Critical patent/JPH03161264A/en
Publication of JPH03161264A publication Critical patent/JPH03161264A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28DWORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D5/00Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
    • B28D5/04Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by tools other than rotary type, e.g. reciprocating tools
    • B28D5/045Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor by tools other than rotary type, e.g. reciprocating tools by cutting with wires or closed-loop blades

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)

Abstract

PURPOSE:To drastically increase the dimensional accuracy of the head height and to omit or drastically curtail the adjusting work of the head position at the assembly stage thereafter, by performing the relative alignment of the track tip part of a video head and a working wire with <=+ or -1mum accuracy. CONSTITUTION:The relative position of a traveling wire 1 and the track tip part of a video head 3 is detected by a detection means 5. The relative alignment of the track tip part of the video head 3 and the working wire 1 is performed with the accuracy in <=+ or -1mum by a positioning means 10 based on this detection value. The accuracy of head height dimension can thus be improved.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、VTR等の磁気記録装置の磁気ヘッドの加工
に供するワイヤソー加工方法及び装置に閲する. 〔従来の技術〕 従来のワイヤソー加工では、まず、ダミーの試料を試し
加工し、それを機外に取りだした後、実際の加工位置と
目標とする加工位置との差を測定し、その差をキャンセ
ルする位置に被加工物(ボンデイングブロック)を装置
(・ワイヤソー)にセットして加工するのが一般的であ
った。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a wire saw processing method and apparatus for processing magnetic heads of magnetic recording devices such as VTRs. [Conventional technology] In conventional wire saw machining, first, a dummy sample is trial-machined, and after it is taken out of the machine, the difference between the actual machining position and the target machining position is measured, and the difference is calculated. It was common practice to set the workpiece (bonding block) on a device (wire saw) at the position to be cancelled.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記従来技術は、被加工物の品種が変わるたびに試し加
工と加工位置の測定作業が必要であり、生産性が低く、
また同一品種であっても、被加工物の装置へのセッティ
ング誤差が生ずると加工位置が変化するため、加工位置
精度が低下するという問題があった。
The above conventional technology requires trial machining and measurement of the machining position every time the type of workpiece changes, resulting in low productivity.
Furthermore, even if the products are of the same type, if there is an error in setting the workpiece to the device, the machining position changes, resulting in a problem in that the machining position accuracy decreases.

本発明の目的は、ワイヤに対する被加工物(ボンデイン
グブロック:数チップのビデオヘッドからなるブロック
状の部品)の位置合わせを行った後、ワイヤソーで加工
することにより、加工寸法精度と生産性とを向上する方
法およびその装置を提供することにある。
The purpose of the present invention is to improve processing dimensional accuracy and productivity by aligning the workpiece (bonding block: a block-shaped component consisting of several video heads of several chips) with the wire and then processing it with a wire saw. An object of the present invention is to provide an improved method and apparatus.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記目的を達戊するために、走行するワイヤと被加工物
との相対位置を検出する手段と、その検出値に基づき被
加工物の位置を調整する位置決め手段を設け、位am整
後に被加工物を走行するワイヤに押しつけて加工するこ
とにした。即ち、本発明は、ビデオヘッドのトラック先
端部と加工用ワイヤとの相対位置合わせを±μm以下の
精度で行い、ヘッド高さ寸法を向上させることを特徴と
するワイヤソーによるビデオヘッド加工方法である。
In order to achieve the above purpose, a means for detecting the relative position of the running wire and the workpiece, and a positioning means for adjusting the position of the workpiece based on the detected value are provided. I decided to process objects by pressing them against a moving wire. That is, the present invention is a video head processing method using a wire saw, which is characterized in that the relative positioning of the track tip of the video head and the processing wire is performed with an accuracy of ±μm or less, and the head height dimension is improved. .

また本発明は、走行するワイヤに部品を押しつけて部品
を切断あるいは溝加工するワイヤソー加工装置において
,ワイヤと被加工物の相対位置を検出する手段と、この
検出値に基づいて被加工物の位置を調整する位置決め手
段とを設け、ワイヤに対する被加工物の位置を合わせた
後加工することを特徴とするワイヤソー加工装置である
The present invention also provides means for detecting the relative position of the wire and the workpiece in a wire saw processing device that cuts or grooves the part by pressing the part against a traveling wire, and a means for detecting the relative position of the wire and the workpiece, and a position of the workpiece based on the detected value. This wire saw processing apparatus is characterized in that it is provided with a positioning means for adjusting the position of the workpiece, and processes the workpiece after aligning the position of the workpiece with respect to the wire.

また本発明は、走行するワイヤの上下に対向して設置し
た部品をワイヤに押しつけて部品を同時に切断あるいは
溝加工するワイヤソー加工装置において,ワイヤとその
上下の被加工物との相対位置を検出する手段と、被加工
物の位置を独立に調整する位置決め手段とを設け、この
検出値に基づいてワイヤに対する被加工物の位置を合わ
せた後、加工することを特徴とするワイヤソー加工装置
である。
The present invention also provides a method for detecting the relative position of the wire and the workpieces above and below the wire in a wire saw processing device that simultaneously cuts or grooves parts placed above and below a traveling wire by pressing the parts against the wire. This wire saw processing apparatus is characterized in that it is provided with a means for adjusting the position of the workpiece and a positioning means for independently adjusting the position of the workpiece, and processes the workpiece after aligning the position of the workpiece with respect to the wire based on the detected value.

〔作用〕[Effect]

ワイヤソー加工装置は、一般には、走行するワイヤに対
して被加工物を下方から上方へ押しつけることにより加
工する。まず、被加工物をワイヤの下方で,接触しない
程度の位置に近づける。次に、ワイヤの上方に、ワイヤ
と被加工物との位置を検出する小形の検出ユニット(た
とえば、光学式R微鏡)をセットし、両者相対位置を検
出する。
A wire saw processing device generally processes a workpiece by pressing a workpiece against a traveling wire from below to above. First, the workpiece is brought under the wire to a position where it does not come into contact with the workpiece. Next, a small detection unit (for example, an optical R microscope) for detecting the positions of the wire and the workpiece is set above the wire, and the relative positions of the two are detected.

被加工物は、これをワイヤに押しつけるリフト機構上に
設けた移動台(たとえば、平面内でのX.Y方向と回転
方向への位置Jl整用ステージ)にセットされている。
The workpiece is set on a moving stage (for example, a position adjustment stage in the X, Y directions and rotational direction within a plane) provided on a lift mechanism that presses the workpiece against the wire.

上記検出ユニットは、走行するワイヤと被加工物との両
方を同時に画像として観察できるものであり、まず、ワ
イヤ走行時の平均的な中心位置を求めることで、ワイヤ
の振動周期を考慮してワイヤの中心位置を求め.次に,
その中心位置からの所定の位置をモニタ画面上にカーソ
ル等で表示する。そこで、上記の位置調整用ステージを
移動してカーソル位置に被加工物の特定の基準位置を合
わせた後、被加工物をワイヤに押しつけて加工すること
にした。
The above-mentioned detection unit can simultaneously observe both the running wire and the workpiece as images. First, by determining the average center position of the wire as it runs, Find the center position of. next,
A predetermined position from the center position is displayed on the monitor screen with a cursor or the like. Therefore, it was decided to move the position adjustment stage described above to align a specific reference position of the workpiece with the cursor position, and then press the workpiece against the wire for processing.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明を図に示す実施例に基づいて具体的に説明
する。第1図は本発明に係るワイヤソー加工装置の概略
構或を示した図である。ワイヤソー加工装置は、ワイヤ
エをワイヤボビン2を介して被加工物3(以下,ボンデ
ィングブロックと称す)に対して水平に往復走行させ、
ボンディングブロック3を走行するワイヤ1にZlli
動機構4を用いて押しつけることにより、切断あるいは
、溝加工を行うものである。本実施例は、ワイヤ1とボ
ンディングブロック3との相対位置を検出する光学式顕
微鏡5(撮像用TVカメラ6を含む)をワイヤ1の上部
に設け、光学式顕微鏡5での画像をTVカメラ6で検出
し,この画像からワイヤ1の中心とボンディングブロッ
ク3の加工位置を求める画像処理装置9、TVカメラ6
から得られる画像とカーソル等を表示する画像モニタ7
、更にボンディングブロック3の位置をX,Yおよび回
転方向に修正するためのステージ8とステージ制御装置
IO、更にワイヤボビン2、Z卵動機構4等を制御する
ワイヤソー制御装置11がら構成されている。
Hereinafter, the present invention will be specifically explained based on embodiments shown in the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a schematic structure of a wire saw processing apparatus according to the present invention. The wire saw processing device causes a wire to reciprocate horizontally with respect to a workpiece 3 (hereinafter referred to as a bonding block) via a wire bobbin 2,
Zlli on wire 1 running through bonding block 3
By pressing using the moving mechanism 4, cutting or grooving is performed. In this embodiment, an optical microscope 5 (including an imaging TV camera 6) for detecting the relative position between the wire 1 and the bonding block 3 is provided above the wire 1, and the image taken by the optical microscope 5 is captured by the TV camera 6. An image processing device 9 and a TV camera 6 detect the center of the wire 1 and the processing position of the bonding block 3 from this image.
An image monitor 7 that displays images obtained from the cursor, etc.
, a stage 8 and a stage control device IO for correcting the position of the bonding block 3 in the X, Y and rotational directions, and a wire saw control device 11 for controlling the wire bobbin 2, the Z moving mechanism 4, and the like.

一般にワイヤソー加工装置におけるワイヤ1の走行は,
順方向(第1図のa方向)に走行した後停止し、さらに
逆方向(第1図のb方向)に走行した後停止する動作を
繰り返して往復走行を行なっている。
Generally, the running of wire 1 in wire saw processing equipment is as follows:
The vehicle travels back and forth by repeatedly traveling in the forward direction (direction a in FIG. 1) and stopping, then traveling in the opposite direction (direction b in FIG. 1) and then stopping.

第8図は,光学式顕微鏡5の一実施例の概略構成を示し
た図である。光学式顕微鏡5は、ワイヤ1とボンディン
グブロック3を光ファイバーケーブル37と集光レンズ
51を介して導入した白色光で落射照明し、ワイヤ1の
明視野像を対物レンズ38およびリレーレンズ39で拡
大し、TV.カメラ6上に結像するものである。
FIG. 8 is a diagram showing a schematic configuration of an embodiment of the optical microscope 5. As shown in FIG. The optical microscope 5 epi-illuminates the wire 1 and the bonding block 3 with white light introduced through the optical fiber cable 37 and the condenser lens 51, and magnifies the bright field image of the wire 1 with the objective lens 38 and the relay lens 39. , TV. An image is formed on the camera 6.

第2図乃至第4図は、上記ワイヤソー加工装置により複
数のビデオへッドチップに切断、分離する加工を説明す
るための図である。即ちボンディングブロック3は、二
種のヘッド部品3a,3bを絶縁層l9を介して結合さ
れたブロック状の部品である。このボンディングブロッ
ク3は、ワイヤソーで複数のビデオヘッドのチップに切
断、分離される。
FIGS. 2 to 4 are diagrams for explaining the process of cutting and separating a plurality of video head chips using the wire saw processing apparatus. That is, the bonding block 3 is a block-shaped component in which two types of head components 3a and 3b are bonded together via an insulating layer 19. This bonding block 3 is cut and separated into a plurality of video head chips using a wire saw.

光学式顕微鏡5は、ワイヤ1とボンディングブロック3
が拡大されてa察され、第2図に示すようにモニタ画像
としてモニタ7に表示される。画像処理装置9は、光学
式顕微鏡5で第2図(a)に示すように検出される検出
画像12内で決定したワイヤ1の検出範囲13で取り込
んだ信号波形(ワイヤlと直角方向の位置とその信号レ
ベル) 14(第3図に示す)より、ワイヤ1の中心位
置を求める。(第4図(a)に示す)この信号波形は,
ワイヤ1を落射照明することにより,ワイヤ中心の信号
レベルが高く単純な形状のものであり、しきい値法等に
より、容易に波形の中心位置Xを算出できる。なお、ワ
イヤ走行前(静止時)と走行中でワイヤ位置は、ワイヤ
ボビン2でのワイヤ交換時の位置オフセットあるいはワ
イヤ自身の振動等により変化する。走行しているワイヤ
1のモニタ画面の一例を第9図(.)に示す。ワイヤエ
は走行、停止の繰返し、さらに走行方向の正逆転を行な
うため、画面上下方向に移′#J(1,la,1b〉す
る。この状態での信号波形は第9図(b)に示す(14
. 14a , 14b )ようになり、ワイヤの中心
位置はそれぞれXO,Xa,Xbとなる。このときのワ
イヤ1の中心位+IXの変化を第10図に示す。TVカ
メラ6で画像を取り込んで画像処理を行なう時間をしと
すると、ワイヤ中心位置は54のように周期Wで規則的
に変動し、量大変化量eは10μm程度生じる。ビデオ
へッドチップでは,第2図(Q)に示すようにボンディ
ングブロノク3の端面とトラック20の端面までの寸法
(ヘッドハイト:h′と呼ぶ)を高精度に,たとえば、
±5μm以下にコントロールする必要があるため、第1
0図に示したよう中心位置が検出毎に変化すると目標を
達成することが不可能になる。そこで、TVカメラ6で
画像を取り込んで画像処理を行なう時間tが、ワイヤ1
の振動周期Wよりも長い時間となるようして、中心位置
の平均値を求めるようにした。第11図に示すように、
TVカメラ6で画像を取り込んで画像処理を行なう時間
tで検出した波形14. 14a , 14bはワイヤ
1の振動周期Wよりも長く検出することでそれぞれの検
出波形が合威されて波形55となる。この時のワイヤ1
の中心位置Xの変化を第12図に示す。周期Wよりも長
い時間Tで検出すると55のようになり、最大変化me
は2μm程度となり目標を達或することが可能となる。
The optical microscope 5 has a wire 1 and a bonding block 3.
is enlarged and displayed on the monitor 7 as a monitor image as shown in FIG. The image processing device 9 processes a signal waveform captured in a detection range 13 of the wire 1 (a position perpendicular to the wire 1) determined within a detection image 12 detected by the optical microscope 5 as shown in FIG. and its signal level) 14 (shown in FIG. 3), find the center position of the wire 1. This signal waveform (shown in Figure 4(a)) is
By epi-illuminating the wire 1, the signal level at the center of the wire is high and the wire has a simple shape, and the center position X of the waveform can be easily calculated using a threshold method or the like. Note that the wire position before the wire is running (when stationary) and while the wire is running changes due to a position offset when the wire is replaced in the wire bobbin 2, vibration of the wire itself, or the like. An example of a monitor screen of the running wire 1 is shown in FIG. 9(.). The wire moves in the vertical direction of the screen '#J (1, la, 1b) to repeat running and stopping, and also to reverse and reverse the running direction.The signal waveform in this state is shown in Figure 9 (b). (14
.. 14a, 14b), and the center positions of the wires are XO, Xa, and Xb, respectively. FIG. 10 shows the change in the center position +IX of the wire 1 at this time. Assuming the time it takes for the TV camera 6 to take in an image and perform image processing, the wire center position changes regularly with a period W as shown in 54, and a large amount of change e occurs by about 10 μm. In the video head chip, as shown in FIG. 2 (Q), the dimension between the end surface of the bonding block 3 and the end surface of the track 20 (referred to as head height: h') is set with high precision, for example,
Since it is necessary to control it to within ±5μm,
As shown in Figure 0, if the center position changes with each detection, it becomes impossible to achieve the target. Therefore, the time t for capturing an image with the TV camera 6 and performing image processing is
The average value of the center position is determined so that the time is longer than the vibration period W of . As shown in Figure 11,
Waveform 14 detected at time t when an image is captured by the TV camera 6 and image processing is performed. 14a and 14b are detected for a period longer than the vibration period W of the wire 1, and the respective detected waveforms are combined to form a waveform 55. Wire 1 at this time
FIG. 12 shows changes in the center position X. When detected with a time T longer than the period W, the result is 55, and the maximum change me
is approximately 2 μm, making it possible to achieve the target.

そこで、ワイヤの中心位lxの検出は、上記の方法でワ
イヤソー加工と同様なワイヤエの走行時に行なうことに
した。
Therefore, it was decided to detect the center position lx of the wire using the method described above while the wire was running, similar to wire saw processing.

ボンディングブロック3の端面とトラック20の端面ま
での合わせ方法は、第2図(b)に示すようにワイヤ1
の中心位置X(カーソル21で示す。)に対して、ボン
ディングブロック3のトラック20先端部の位置を示す
カーソル(ハイトカーソル)22をモニタ7上に表示す
る。(第4図(b)に示す)両カーソル間の距離hは、
ワイヤ1の直径をdとするとd/2+h’で求められる
。なお、ハイトカーソル22の位置は、ボンディングブ
ロック3の品種によりh′が変化するたびに変わるため
、品種に対するトラックハイトh′は、画像処理装置9
に予め登録しておく。つぎに、第1図に示したステージ
8およびその制御装置10を用いてボンディングブロッ
ク3を、X,Yおよび回転方向に移動し、第2図(c)
に示すように、トラック20の先端部をカーソル22に
合わせる。(第4図(Q)に示す)この操作は、モニタ
7の画面をi察しながら、マニュアルで行う以外に、ト
ラック20の先端部を画像処理装置9による画像処理(
例えば、特公昭59 − 23467号に記載された画
像処理)により検出し、ボンディングブロック3を自動
位置合せする方式もある。
The method of aligning the end face of the bonding block 3 and the end face of the track 20 is as shown in FIG. 2(b).
A cursor (height cursor) 22 indicating the position of the tip of the track 20 of the bonding block 3 is displayed on the monitor 7 with respect to the center position X (indicated by a cursor 21). The distance h between both cursors (shown in Figure 4(b)) is
If the diameter of the wire 1 is d, it is determined by d/2+h'. Note that the position of the height cursor 22 changes every time h' changes depending on the type of bonding block 3, so the track height h' for the type is determined by the image processing device 9.
Register in advance. Next, the bonding block 3 is moved in the X, Y and rotational directions using the stage 8 and its control device 10 shown in FIG. 1, and as shown in FIG.
As shown, align the leading end of the track 20 with the cursor 22. This operation (shown in FIG. 4 (Q)) can be performed manually while observing the screen of the monitor 7. Alternatively, the leading end of the track 20 may be
For example, there is a method in which the bonding block 3 is automatically aligned by detecting it by image processing (as described in Japanese Patent Publication No. 59-23467).

以上の位置合せの後、ワイヤソー制御装置l1からの指
令に基づいてボンディングブロック3を走行するワイヤ
1に押しつけて加工する。(第4図(d)に示す) 第5図に、本発明の他の実施例を示す。第l図で示した
実施例は、ボンディングブロック3が1つの場合を示し
たものであるが、本実施例は、複数のボンディングブロ
ック3を同時にワイヤソーで加工する場合を示したもの
である。まず、それぞれのボンディングブロック3は、
予め、一定の配列角度θで、かつ第2図に示したトラッ
ク位置がそれぞれ同一線上となるように第5図に示す整
列用治具23に配列し、接着岸1等で固定しておく。
After the above alignment, the bonding block 3 is pressed against the traveling wire 1 and processed based on a command from the wire saw control device l1. (Showed in FIG. 4(d)) FIG. 5 shows another embodiment of the present invention. The embodiment shown in FIG. 1 shows a case where there is only one bonding block 3, but this embodiment shows a case where a plurality of bonding blocks 3 are processed simultaneously with a wire saw. First, each bonding block 3 is
In advance, they are arranged on the alignment jig 23 shown in FIG. 5 at a constant arrangement angle θ and so that the track positions shown in FIG. 2 are on the same line, and fixed with adhesive banks 1 or the like.

なお、本発明では、この整列方法については,特定しな
い。
Note that the present invention does not specify this alignment method.

第5図A−A’矢視図に示すよ,うに、配列された複数
のボンデイングブロック3を複数のワイヤ1で高精度に
同時加工するためには、本装置において両端のボンデイ
ングブロック3のほぼ中心位置にあるヘッド部とワイヤ
1との相対位置を、2眼の光学式顕微1i[24(1眼
の顕微鏡2個でも同様)を用いて測定する,すなわち、
左右のTVカメラ25. 26で撮像した画像に基づき
、第2図、第8図乃至第l2図で説明した方法を用いて
ワイヤ1とトラック20端面との位置合せを行った後、
ワイヤソーで加工することにした。本方法では、予め、
整列された複数のボンディングブロック3の相互の配列
誤差が加工精度に影響するため、単一のボンディングブ
ロック3に較べてより精密な位置合せが重要である。た
とえば、ヘッド高さの寸法精度を±5μm以下を実現す
るには、ワイヤ1とボンディングブロック3のトラック
端面どの位置合せ誤差は±1μm以下にする必要がある
。なお、本方式において、光学式顕微鏡24と画像処理
装置9を用いることにより0.5μm程度の画像検出分
解能を得ることは比較的容易であり、さらにボンディン
グブロック3を0.5μm以下の踵動分解能で位置調整
することも機構上、制御上の特に問題は無い。
In order to simultaneously process a plurality of arranged bonding blocks 3 with high precision using a plurality of wires 1 as shown in the arrow view of FIG. The relative position between the head section at the center position and the wire 1 is measured using a twin-lens optical microscope 1i [24 (the same applies to two single-lens microscopes), that is,
Left and right TV cameras 25. After aligning the wire 1 and the end surface of the track 20 using the method explained in FIGS. 2 and 8 to 12 based on the image taken in step 26,
I decided to machine it with a wire saw. In this method, in advance,
Since mutual alignment errors between the plurality of aligned bonding blocks 3 affect processing accuracy, more precise alignment is important than with a single bonding block 3. For example, in order to achieve the dimensional accuracy of the head height of ±5 μm or less, the alignment error between the track end surfaces of the wire 1 and the bonding block 3 must be ±1 μm or less. In addition, in this method, it is relatively easy to obtain an image detection resolution of about 0.5 μm by using the optical microscope 24 and the image processing device 9, and furthermore, it is relatively easy to obtain an image detection resolution of about 0.5 μm by using the optical microscope 24 and the image processing device 9. There is no particular problem in terms of mechanism or control when adjusting the position with .

第6図に本発明の他の実施例を示す。第6図(a)は上
ボンディングブロック30をセットする前の下ボンディ
ングブロック31とワイヤ1との位置合わせ状態を示す
図である。第6図(b)は下ボンディングブロック31
を下方へ以降させ、上ボンデイングブロック30とワイ
ヤ1との位置合わせ状態を示す図である。第6図(c)
は検出ユニットを逃し、上下のボンデイングブロック3
0. 31を同時にワイヤー加工する状態を示した図で
ある。
FIG. 6 shows another embodiment of the invention. FIG. 6(a) is a diagram showing a state in which the lower bonding block 31 and the wire 1 are aligned before the upper bonding block 30 is set. FIG. 6(b) shows the lower bonding block 31.
FIG. 3 is a diagram showing a state in which the upper bonding block 30 and the wire 1 are aligned with each other when the upper bonding block 30 and the wire 1 are moved downward. Figure 6(c)
misses the detection unit, and the upper and lower bonding blocks 3
0. 31 is a diagram showing a state in which wire processing is performed on wires 31 at the same time.

即ち、第1図及び第5図では、ワイヤ1の下方からボン
ディングブロック3をワイヤエに押しつけて加工するワ
イヤソーを用いたものであったのに対して,本実施例で
は、ワイヤ1の上下方向(両側)に設けたボンディング
ブロック3をワイヤ1に対向させるように押しつけて加
工するワイヤソー装置(特公昭61−7901号公報に
具体的に記載)を基本としている。
That is, in FIGS. 1 and 5, a wire saw was used to process the wire 1 by pressing the bonding block 3 against the wire from below, whereas in this embodiment, the wire 1 was processed in the vertical direction ( It is based on a wire saw device (specifically described in Japanese Patent Publication No. 7901/1983) which presses bonding blocks 3 provided on both sides of the wire 1 so as to face the wire 1 for processing.

本実施例では、ワイヤ1の上下に、上ボンデイングブロ
ック30と下ボンデイングブロック3lとX,Y,およ
び回転方向への位置決め用上ステージ32,下ステージ
33が、それぞれ上2機構34と下2機構35の上に設
けられている。また,ワイヤ1とボンディングブロック
3との位置検出用の光学顕微鏡36がワイヤソー加工時
に退避可能に設置されている。
In this embodiment, an upper bonding block 30, a lower bonding block 3l, an upper stage 32 and a lower stage 33 for positioning in the X, Y, and rotational directions are arranged above and below the wire 1, respectively. It is provided on top of 35. Further, an optical microscope 36 for detecting the position of the wire 1 and the bonding block 3 is installed so as to be retractable during wire saw processing.

第7図は、この顕微鏡(検出ユニット)36の一実施例
の構成を示したものである。これは、ワイヤ上とボンデ
ィングブロック3を光ファイバーケーブル37および照
明レンズ51を介して導入した白色光で落射照明し,対
物レンズ38およびリレーレンズ39で拡大した像をT
Vカメラ25. 26上に結像する顕微鏡である。この
光学系は、第6図に示したように、上ステージ32とワ
イヤ1との隙間にセッ1・する必要があるため、対物レ
ンズ38を横置きにし、その先端に検出光軸を下方に曲
げるミラー40を配置すること′により、光学系全体を
薄形化している。また、このミラー40の隣に、検出光
軸を上方に曲げるミラー41を配置し,両者を左右方向
にスライドし、検出光軸を上下に切替ることにより、顕
微鏡36を反転することなく上下両方向の検出を可能に
した。
FIG. 7 shows the configuration of one embodiment of this microscope (detection unit) 36. This involves epi-illuminating the wire and the bonding block 3 with white light introduced through the optical fiber cable 37 and the illumination lens 51, and transmitting the magnified image using the objective lens 38 and the relay lens 39.
V camera 25. This is a microscope that focuses an image on 26. As shown in FIG. 6, this optical system needs to be installed in the gap between the upper stage 32 and the wire 1. Therefore, the objective lens 38 is placed horizontally, and the detection optical axis is directed downward at the tip of the objective lens 38. By arranging the bending mirror 40', the entire optical system is made thinner. In addition, a mirror 41 that bends the detection optical axis upward is placed next to this mirror 40, and by sliding both of them in the left and right directions and switching the detection optical axis up and down, the microscope 36 can be moved both upward and downward without reversing. This made it possible to detect

以下に、この上下同時加工方式でワイヤ1とボンディン
グブロック3との位置合せ加工の方法を説明する。
Below, a method of aligning the wire 1 and the bonding block 3 using this simultaneous upper and lower processing method will be explained.

まず、上Z關動機構34を上方端に移動し、光学式顕微
鏡36をワイヤ1の上部ヘセットし、既に、第2図で説
明した方法により、ワイヤ1と下ボンディングブロック
31との位置合せを下ステージ33を用いて行う.ただ
し、ワイヤソー加工は、この時点では行わない。次に、
顕微鏡36を一旦、退避するとともに,下Z機構35を
下端に移動し,かつ、上ボンディングブロック30をワ
イヤ1に接近させる。つぎに、顕微鏡36をワイヤlの
下部に設置するとともに、第7図に示したように、ミラ
ー40,41をスライドして検出光軸を切替へ、ワイヤ
1と上ボンディングブロック30との位置合せを上ステ
ージ32にて行う。以上のように,ワイヤエに対する上
、下のボンディングブロック30. 31の位置合せを
完了したあと、顕微鏡36を退避させ,上、下のZIH
動機構34. 35によりワイヤソー加工を実呪する。
First, move the upper Z movement mechanism 34 to the upper end, set the optical microscope 36 above the wire 1, and align the wire 1 and the lower bonding block 31 by the method described in FIG. This is done using the lower stage 33. However, wire sawing is not performed at this point. next,
The microscope 36 is temporarily retracted, the lower Z mechanism 35 is moved to the lower end, and the upper bonding block 30 is brought closer to the wire 1. Next, the microscope 36 is installed below the wire 1, and as shown in FIG. is performed on the upper stage 32. As described above, the upper and lower bonding blocks 30. After completing the alignment of ZIH 31, the microscope 36 is evacuated and the upper and lower ZIH
Movement mechanism 34. Wire saw processing is performed using 35.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明により、VTRヘッドチップ等のヘッド高さ(ハ
イト)の寸法制度を従来に比べて大幅に向上(たとえば
、従来±10μm→士数μm以下)することができるた
め、その後の組立工程時でのヘッド位置調整作業が省略
あるいは大幅な削減が可能なる。また、本発明は、複数
のヘッドを上記精度で同時に加工できるため、上記の効
果と共に、歩留まりと生産性の向上が期待できる。
According to the present invention, the dimensional accuracy of the head height (height) of a VTR head chip, etc. can be significantly improved compared to the conventional one (for example, from conventional ±10 μm to less than a few μm). The head position adjustment work can be omitted or significantly reduced. Further, since the present invention can simultaneously process a plurality of heads with the above-mentioned accuracy, it is expected that in addition to the above-mentioned effects, yield and productivity will be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示すワイヤソー装置の構成
図,第2図は本発明におけるワイヤとボンディングブロ
ックとの位置合わせ方法を説明するモニタ画像を示す図
、第3図はワイヤの検出信号波形を示す図、第4図はワ
イヤとボンディングブロックとの位置合わせ工程を示す
フロー図、第5図は本発明の他の実施例を示すワイヤソ
ー装置の構成図,第6図は本発明の他の実施例であるワ
イヤソー加工方法を示す説明図、第7図は本発明におけ
る検出ユニットの一実施例を示す構或斜視図、第8図は
本発明における検出ユニットの一実施例を示す構成図、
第9図は振動するワイヤのモ二夕像とその時の検出信号
波形を示す図、第10図は第9図で検出した時のワイヤ
中心位置の変化を示す図,第11図はワイヤの振動を考
慮したときのワイヤのモニタ像とその時の検出信号波形
を示す図,第l2図は第1l図で検出した時のワイヤ中
心位置の変化を示す図である。 1・・・ワイヤ、      2・・・ワイヤボビン、
3・・・Z踵動機構、 4・・・被加工物(ボンディングブロック)、5・・・
光学式顕微鏡、  6・・・TVカメラ、7・・・モニ
タ5      8・・・ステージ、9・・・画像処理
装置,10・・・ステージ制御装置、11・・・ワイヤ
ソー制御装置。 第 1 図 1・− ワイヤ 2−−ワイ穴ボ゛ビン 3−Z.%るa,t;晩構 +−−−ネA乙l口工.物 (ボ′〉テ冫ニグブO,,,ク) 5・・一光学民頷4蚊遣 J−TV力メラ 7−・−モニタ 8−・ステーシ゛′ 第 2 図 第 5 図 第 b 回 弟 7 図 26 慕 6 図 第 10 初
Fig. 1 is a configuration diagram of a wire saw device showing an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a view showing a monitor image illustrating a method of aligning a wire and a bonding block in the present invention, and Fig. 3 is a diagram showing wire detection. FIG. 4 is a flowchart showing the process of aligning the wire and bonding block; FIG. 5 is a configuration diagram of a wire saw device showing another embodiment of the present invention; FIG. An explanatory diagram showing another embodiment of the wire saw processing method, FIG. 7 is a perspective view of the structure of an embodiment of the detection unit of the present invention, and FIG. 8 is a structure of one embodiment of the detection unit of the present invention. figure,
Figure 9 shows the monitor image of the vibrating wire and the detected signal waveform at that time, Figure 10 shows the change in the wire center position when detected in Figure 9, and Figure 11 shows the vibration of the wire. FIG. 12 is a diagram showing a monitor image of the wire and the detected signal waveform at that time when considering the following. FIG. 12 is a diagram showing a change in the wire center position when detected in FIG. 1...Wire, 2...Wire bobbin,
3... Z heel movement mechanism, 4... Workpiece (bonding block), 5...
Optical microscope, 6... TV camera, 7... Monitor 5, 8... Stage, 9... Image processing device, 10... Stage control device, 11... Wire saw control device. 1st Figure 1 - Wire 2 - Wire hole bobbin 3 - Z. %rua,t; night shift+---ne Aotl mouthwork. Object (Bo'〉TeknigbuO,,,ku) 5... Ikkou Civil Nod 4 Mosquito Fighter J-TV Force Mela 7--Monitor 8-Stacy' 2 Figure 5 Figure b 7th Brother 7 26 Mu 6 Figure 10 First

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、ビデオヘッドのトラック先端部と加工用ワイヤとの
相対位置合せを±1μm以下の精度で行ない、ヘッド高
さの寸法精度を向上させることを特徴とするワイヤソー
によるビデオヘッド加工方法。 2、走行するワイヤに部品を押しつけて部品を切断ある
いは溝加工するワイヤソー加工装置において、ワイヤと
被加工物の相対位置を検出する手段と、この検出値に基
づいて被加工物の位置を調整する位置決め手段を設け、
ワイヤに対する被加工物の位置を合わせた後加工するこ
とを特徴とするワイヤソー加工装置。 3、走行するワイヤの上下に対向して設置した部品をワ
イヤに押しつけて部品を同時に切断あるいは溝加工する
ワイヤソー加工装置において、ワイヤとその上下の被加
工物との相対位置を検出する手段と、被加工物の位置を
独立に調整する位置決め手段を設け、この検出値に基づ
いてワイヤに対する被加工物の位置を合わせた後、加工
することを特徴とするワイヤソー加工装置。 4、ワイヤの中心位置を求め、次にその位置から所定の
距離だけ離れた位置に被加工物の特定個所を位置決めす
ることを特徴とする請求項2又は3記載のワイヤソー加
工装置。 5、上記ワイヤと被加工物の相対位置を検出する手段が
、撮像装置を用いた光学式顕微鏡と、その画像を処理す
る装置を具備したことを特徴とする請求項2又は3記載
のワイヤソー加工装置。 6、上記ワイヤの画像を処理する手段が、ワイヤの振動
周期よりも長い時間で検出して中心位置の平均値を求め
ることを特徴とする請求項5記載のワイヤソー加工装置
。 7、上記ワイヤと被加工物の相対位置を検出する手段が
、検出光軸を切り替えることにより、上下両方向を検出
できる光学式顕微鏡を有することを特徴とする請求項3
記載のワイヤソー加工装置。 8、上記位置検出の手段をワイヤの支持ローラの内側に
設けることにより、静止あるいは走行中のワイヤの上方
からワイヤと被加工物の両者の位置を同時に検出できる
ことを特徴とする請求項2記載のワイヤソー加工装置。 9、上記位置検出の手段をワイヤの支持ローラの内側お
よび外側に設けることにより、静止あるいは走行中のワ
イヤの上方および下方からワイヤと被加工物の両者の位
置を同時に検出できることを特徴とする請求項3記載の
ワイヤソー加工装置。
[Claims] 1. A video head using a wire saw, characterized in that the relative positioning of the track tip of the video head and the processing wire is performed with an accuracy of ±1 μm or less to improve the dimensional accuracy of the head height. Processing method. 2. In a wire saw processing device that presses a part against a traveling wire to cut or groove the part, a means for detecting the relative position of the wire and the workpiece, and adjusting the position of the workpiece based on this detected value. Provide positioning means,
A wire saw processing device that processes the workpiece after aligning the position of the workpiece with respect to the wire. 3. In a wire saw processing device that simultaneously cuts or grooves parts placed above and below a traveling wire by pressing them against the wire, means for detecting the relative position of the wire and the workpieces above and below the wire; A wire saw processing apparatus characterized in that a positioning means for independently adjusting the position of a workpiece is provided, and the workpiece is machined after aligning the position of the workpiece with respect to the wire based on the detected value. 4. The wire saw processing apparatus according to claim 2 or 3, wherein the wire saw processing apparatus determines the center position of the wire, and then positions a specific part of the workpiece at a predetermined distance from the center position. 5. The wire saw processing according to claim 2 or 3, wherein the means for detecting the relative position of the wire and the workpiece comprises an optical microscope using an imaging device and a device for processing the image. Device. 6. The wire saw processing apparatus according to claim 5, wherein the means for processing the image of the wire detects the image over a period of time longer than the vibration period of the wire and calculates the average value of the center position. 7. Claim 3, wherein the means for detecting the relative position of the wire and the workpiece includes an optical microscope capable of detecting both the upper and lower directions by switching the detection optical axis.
The wire saw processing device described. 8. The position of the wire and the workpiece can be simultaneously detected from above the stationary or running wire by providing the position detection means inside the wire support roller. Wire saw processing equipment. 9. A claim characterized in that by providing the position detection means inside and outside of the wire support roller, the positions of both the wire and the workpiece can be simultaneously detected from above and below the stationary or running wire. The wire saw processing device according to item 3.
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