JPH0316052U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0316052U JPH0316052U JP7679089U JP7679089U JPH0316052U JP H0316052 U JPH0316052 U JP H0316052U JP 7679089 U JP7679089 U JP 7679089U JP 7679089 U JP7679089 U JP 7679089U JP H0316052 U JPH0316052 U JP H0316052U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- blocks
- block
- attached
- slit
- measuring device
- Prior art date
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- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000000235 small-angle X-ray scattering Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Description
第１図ａ，ｂは本考案の実施例に係るＸ線小角
散乱測定装置のスリツト機構を示す平面図で同図
ａはスリツト幅調整前の状態、同図ｂはスリツト
幅調整後の状態をそれぞれ示している。また、第
２図は第１図ａの−線に沿う断面図である。
第３図はＸ線小角散乱測定装置の測定原理を示す
説明図、第４図は従来のスリツト機構の平面図で
ある。 １……Ｘ線小角散乱測定装置のスリツト機構、
２ａ，２ｂ……ブロツク、８ａ，８ｂ、１０ａ，
１０ｂ，１２ａ，１２ｂ……第１〜第３スリツト
刃、１４……板ばね、１６……引つ張りばね、１
８……マイクロメータヘツド。
散乱測定装置のスリツト機構を示す平面図で同図
ａはスリツト幅調整前の状態、同図ｂはスリツト
幅調整後の状態をそれぞれ示している。また、第
２図は第１図ａの−線に沿う断面図である。
第３図はＸ線小角散乱測定装置の測定原理を示す
説明図、第４図は従来のスリツト機構の平面図で
ある。 １……Ｘ線小角散乱測定装置のスリツト機構、
２ａ，２ｂ……ブロツク、８ａ，８ｂ、１０ａ，
１０ｂ，１２ａ，１２ｂ……第１〜第３スリツト
刃、１４……板ばね、１６……引つ張りばね、１
８……マイクロメータヘツド。
Claims (1)
- Ｘ線の入射方向に沿つて長尺の一対のブロツク
を備え、各ブロツクの長手方向の両端部と中央部
の３箇所にはそれぞれスリツト刃が両ブロツクの
対向面を挟んで対向配置され、かつ、両ブロツク
の一端部には板ばねが取り付けられて両者が一体
的に結合されるとともに、両ブロツク間には引つ
張りばねが懸架され、さらに、一方のブロツクに
は他方のブロツクの対向面を押圧するマイクロメ
ータヘツドが取り付けられていることを特徴とす
るＸ線小角散乱測定装置におけるスリツト機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7679089U JPH0616398Y2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | Ｘ線小角散乱測定装置におけるスリット機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7679089U JPH0616398Y2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | Ｘ線小角散乱測定装置におけるスリット機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0316052U true JPH0316052U (ja) | 1991-02-18 |
| JPH0616398Y2 JPH0616398Y2 (ja) | 1994-04-27 |
Family
ID=31618576
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7679089U Expired - Lifetime JPH0616398Y2 (ja) | 1989-06-29 | 1989-06-29 | Ｘ線小角散乱測定装置におけるスリット機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0616398Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017026517A (ja) * | 2015-07-24 | 2017-02-02 | 株式会社リガク | ピンホール・スリット体の製造方法、及びｘ線小角散乱測定装置 |
-
1989
- 1989-06-29 JP JP7679089U patent/JPH0616398Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017026517A (ja) * | 2015-07-24 | 2017-02-02 | 株式会社リガク | ピンホール・スリット体の製造方法、及びｘ線小角散乱測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0616398Y2 (ja) | 1994-04-27 |
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