JPH03118464A - Mass analyzing apparatus - Google Patents
Mass analyzing apparatusInfo
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- JPH03118464A JPH03118464A JP1255805A JP25580589A JPH03118464A JP H03118464 A JPH03118464 A JP H03118464A JP 1255805 A JP1255805 A JP 1255805A JP 25580589 A JP25580589 A JP 25580589A JP H03118464 A JPH03118464 A JP H03118464A
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Abstract
Description
本発明は、質量分析手段を直列配置した型の質量分析装
置に関する。The present invention relates to a mass spectrometer having mass spectrometry means arranged in series.
開裂イオンスペクトルを採取する質量分析装置は、２白
の質量分析計の間にイオンを開裂させる衝突チャンバー
を設け、第１の質量分析計で質量選別されたイオンを衝
突チャンバーで開裂させ、開裂させたイオンを第２の質
１分析計で質輩分析を行い、特定質量イオンの開裂イオ
ンスペクトルを入手する装置である。
通常の一段型の’ＩｔＭ分析装置では、混合物試料をＥ
Ｉ法（ＥＬＥＣＴＲＯＮ ＩＭＰＡＣＴ）ｔ”イオン
化した場合、生成されたイオンが更に開裂して多種の開
裂イオン分生じ、質量スペクトルが複雑となり、試料の
同定が困難な場合がある。
上述した２段式質量分析装置は、特定イオンに対する開
裂イオンが判定できることがら、多くの物質が混在した
混合物などの同定に対しては効果的である。第１．第２
の質量分析計を同じ質量のイオンを通過させるよう同期
して質量走査して得られる一次スベクトルに現れるピー
クには、開裂前の親イオンによるピークと親イオンが開
裂した開裂イオンによるピークとが混在しており、親イ
オンか開裂イオンかの判別が難しく、開裂イオンスペク
トルを調べる場合、第２の質量分析計で採取する開裂イ
オンスペクトルの親イオンの選定数が多くなり、測定時
間が長時間になると云う問題がある。また、−次スベク
トルに現れるピークの数が多いために、採取した一次ス
ベクトルから親イオンとそれより生じた開裂イオンとを
一目で判別できず、スペクトルデータの解析に時間がか
かると云う問題があった。
また、同一の開裂イオンを発生させる親イオンが複数存
在する場合があり、開裂イオンを発生した親イオンを確
定するため、各親イオンに対する同じ開裂イオンの発生
率を知るのが、大変面倒で手間がかかると云う問題があ
った。A mass spectrometer that collects a fragmentation ion spectrum is equipped with a collision chamber that fragments ions between two mass spectrometers, and ions that have been mass-selected by the first mass spectrometer are fragmented in the collision chamber. This device performs a quality analysis of the ions with a second quality 1 analyzer to obtain a fragmentation ion spectrum of a specific mass ion. In a typical single-stage 'ItM analyzer, a mixture sample is
When ionization is performed using the I method (ELECTRON IMPACT), the generated ions are further cleaved to produce various types of cleavage ions, making the mass spectrum complex and making it difficult to identify the sample. Since the analyzer can determine the cleavage ion for a specific ion, it is effective for identifying mixtures containing many substances. 1. 2.
The peaks that appear in the primary svector obtained by synchronizing mass scanning using a mass spectrometer to pass ions of the same mass include a peak due to the parent ion before cleavage and a peak due to the cleavage ion after the parent ion has been cleaved. It is difficult to distinguish between the parent ion and the cleavage ion, and when examining the cleavage ion spectrum, a large number of parent ions are selected for the cleavage ion spectrum collected by the second mass spectrometer, and the measurement time becomes long. There is a problem that it becomes. Another problem is that because there are many peaks that appear in the -order spectral vector, it is difficult to distinguish between the parent ion and the resulting cleavage ion from the collected primary spectral vector at a glance, and it takes time to analyze the spectral data. was there. In addition, there may be multiple parent ions that generate the same cleavage ion, and it is very troublesome and time-consuming to know the generation rate of the same cleavage ion for each parent ion in order to determine which parent ion generated the cleavage ion. There was a problem that it took a while.
本発明は、−次スベクトル上から同定したいピークの開
裂イオンスペクトルを、また開裂イオンスペクトルから
着目する開裂イオンピークの親イオンスペクトルを簡単
な操作で得られるようにすることを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to make it possible to obtain a cleavage ion spectrum of a peak to be identified from a -order vector and a parent ion spectrum of a cleavage ion peak of interest from the cleavage ion spectrum with a simple operation.
イオン軌道上に前後して配置された２つの質量分析手段
よりなる質量分析装置において、２つの質量分析手段か
ら得られるスペクトルデータを記憶する手段と、第１質
量分析手段の質量走査値と第２質量分析手段の検出出力
とを一対のデータとして記憶する手段と、第１の質量分
析手段から得られる一次スペクトルデータがら開裂イオ
ンスペクトルデータを採取したいピークを指定する手段
と、指定したピークに対応するイオンを出射させるよう
に第１の質量分析手段を設定し、第２の質量分析手段を
走査させる制御手段と、第２の質量分析手段から得られ
る開裂イオンスペクトルデーターつの開裂イオンビーク
を指定する手段と、指定したピークに対応する親イオン
スペクトルを検出するように第２の質量分析手段を設定
し、第１の質量分析手段を走査せしめる制御手段とを設
けた。In a mass spectrometer consisting of two mass spectrometers arranged one behind the other on an ion trajectory, there is a means for storing spectral data obtained from the two mass spectrometers, and a means for storing the mass scan value of the first mass spectrometer and a second mass spectrometer. means for storing the detection output of the mass spectrometry means as a pair of data; means for specifying a peak from which cleavage ion spectrum data is to be collected from the primary spectrum data obtained from the first mass spectrometry means; A control means for setting the first mass spectrometry means to eject ions and causing the second mass spectrometry means to scan; and means for specifying two cleavage ion peaks in the cleavage ion spectrum data obtained from the second mass spectrometry means. and a control means for setting the second mass spectrometer to detect the parent ion spectrum corresponding to the designated peak and causing the first mass spectrometer to scan.
本発明は、表示画面上のスペクトルのピークを指定する
だけで、分析したいピークに対応するイオンを親イオン
とする開裂イオンスペクトル或は、分析しないピークに
対応する開裂イオンを生成する親イオンスペクトルを得
ようとするものである。指定したピークに対応するイオ
ンを親イオンとする開裂イオンスペクトルを採取する時
は、第１質量分析手段を指定した質量に設定して、第２
質量分析手段を質量走査させ、第２質量分析手段の走査
質量値と検出出力によって得られる。このような開裂イ
オンスペクトルの上で指定したピークに対応する開裂イ
オンを生ずる親イオンのスペクトルを採取する時は、第
２質蓋分析手段を一つの開裂イオンビークに設定して、
第１質量分析手段を質量走査させ、第１質呈分析手段の
走査質量値と第２質量分析手段の検出出力によって親イ
オンスペクトルが得られる。By simply specifying the peak of the spectrum on the display screen, the present invention can generate a cleavage ion spectrum that uses the parent ion as an ion corresponding to the peak you want to analyze, or a parent ion spectrum that generates the cleavage ion that corresponds to the peak that you do not want to analyze. That's what you're trying to get. When collecting a cleavage ion spectrum in which the parent ion is an ion corresponding to a specified peak, set the first mass spectrometer to the specified mass, and set the second
The mass spectrometer is caused to scan the mass, and the scanned mass value and detection output of the second mass spectrometer are obtained. When collecting a spectrum of a parent ion that produces a cleavage ion corresponding to a specified peak on such a cleavage ion spectrum, set the second quality cap analysis means to one cleavage ion beak,
The first mass spectrometer is caused to perform mass scanning, and a parent ion spectrum is obtained from the scanned mass value of the first quality analysis device and the detection output of the second mass spectrometer.
第１図に本発明の一実施例を示す、第１図において、１
は第１質量分析器で、イオン化室（不図示）でイオン化
された試料分子のイオンを一次的に質量分析する。２は
衝突チャンバーで、通過イオンにＮ２ガスやアルゴンガ
ス等を衝突させて、イオンの開裂を促進させる。開裂反
応は最初のイオン化から検出器に至るまでのイオン軌道
上のどこでも起こっているから、衝突チャンバーは必ず
しも必要ではない、ＷＲ突チャンバー２から出射するイ
オンを第２質量分析器３で質量分析する０両質量分析器
を同じ質量のイオンを通過させるよう同期して質、敬走
査すると、−次質量スベクトルが得られる。ＣＰＵ６は
上記２台の質量分析器１゜３及び衝突チャンバー２を制
御して、第４図のフローチャートに示すように、最初は
、−次スペクトルデータを採取じ、−次スペクトルデー
タを記憶装置９に記憶する（ア）、採取した−次スペク
トルデータをＣＲＴＩＯに表示する（イ）、ＣＲＴｌｏ
に表示された一次スベクトル上で、開裂イオンスペクト
ルを採取したいピークを第２図に示すようにマウス７を
使用してＣＲＴ画面上でカーソルを動かして指定する（
つ）、指定したピークに対応するイオンが第１質量分析
器１を通過するように第１質量分析器１を設定する（１
）、第２質量分析器３を上記第１質量分析器１と同じ質
量の設定から出発して低質量側へ走査させ開裂イオンス
ペクトルを採取し、記憶装置９にそのスペクトルデータ
を記憶する（オ）、採取した開裂イオンスペクトルを、
親イオン単位で色別して、第２図に示すように、ＣＲＴ
ＩＯに一次スベクトルと同じ質量スケールで、−次スベ
クトルの下方に表示する（力）、ｒ＃４裂イオンスペク
トルデータを採取したいピークが残存しているかをチエ
ツクする（力）、ピークが存在すれば、動作（つ）に戻
り、再度開裂イオンスペクトルを採取したいピークを指
定する。ピークが残存しなければ、ＣＲＴに表示された
開裂イオンスペクトル上で、親イオンスペクトルを採取
したいイオンピークを、第３図に示すように、マウス７
を使用して指定する（り）、第２質量分析器３を指定し
たピークに対応する開裂イオンを検出するように調整固
定し、第１質量分析器１を走査し、第１質量分析器１の
走査質量値と第２質量分析計３の検出出力を一対のデー
タとして親イオンスペクトルデータを採取し、記憶装置
９に記憶する〈ケ）、同じ開裂イオンは親イオンの如何
にかかわりなく、同じエネルギーを持っているので、こ
のように第２質量分析器を設定して、第１質量分析器を
走査すれば、親イオンスペクトルが得られる。採取した
親イオンスペクトルを、第３図に示すように、ＣＲＴｌ
ｏ上で一次スベクトルの代わりに開裂イオンスペクトル
の上方に表示する（コ）、親イオンスペクトルを採取し
たいイオンビークが残存しているがをチエツクする（す
）、ピークが存在すれば、動作（り）に戻り、再度親イ
オンスペクトルを採取したいピークを指定する。ピーク
が残存しなければ、再度開裂イオンスペクトルデータを
採取したいピークが残存しているかをチエツクする（シ
）、ピークが存在すれば、動作（イ）に戻り、再度−次
スベクトルを表示する。ピークが残存しなければ、質量
分析を終了する。
開裂反応では、イオンと中性分子の対を生成し、生成さ
れた中性分子の質量スペクトルも分析上価値があり、上
述により得られたデータから、ニュートラルロススキャ
ンを容易に行える。この場合、キーボード８によって、
ロスする中性分子の質量数の入力が必要となる。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention.
is a first mass spectrometer that primarily performs mass spectrometry on ions of sample molecules ionized in an ionization chamber (not shown). 2 is a collision chamber in which passing ions are collided with N2 gas, argon gas, etc. to promote ion fragmentation. Since the cleavage reaction occurs anywhere on the ion trajectory from the initial ionization to the detector, a collision chamber is not necessarily necessary.The ions emitted from the WR collision chamber 2 are mass analyzed by the second mass analyzer 3. If both mass spectrometers are scanned synchronously so as to pass ions of the same mass, a -order mass vector is obtained. The CPU 6 controls the two mass spectrometers 1.3 and the collision chamber 2, and as shown in the flowchart of FIG. (a) Display the collected -order spectrum data on CRTIO (b)
On the primary spectrum displayed in Figure 2, specify the peak for which you want to collect the cleavage ion spectrum by moving the cursor on the CRT screen using the mouse 7 (
), set the first mass analyzer 1 so that ions corresponding to the specified peak pass through the first mass analyzer 1 (1
), the second mass analyzer 3 starts from the same mass setting as the first mass analyzer 1 and scans toward the lower mass side to collect a fragmentation ion spectrum, and stores the spectrum data in the storage device 9 (optional). ), the collected cleavage ion spectrum is
Color-coded by parent ion unit, as shown in Figure 2.
Display the IO below the -order svector on the same mass scale as the first-order svector (power), check whether the peak for which you want to collect r#4 fission ion spectrum data remains (power), the peak exists Then, return to the operation and specify the peak for which you want to collect the cleavage ion spectrum again. If no peak remains, select the ion peak for which you want to collect the parent ion spectrum on the cleavage ion spectrum displayed on the CRT by moving the mouse 7 as shown in Figure 3.
, the second mass analyzer 3 is adjusted and fixed to detect the cleavage ion corresponding to the specified peak, the first mass analyzer 1 is scanned, and the first mass analyzer 1 is The parent ion spectrum data is collected as a pair of data of the scanning mass value of and the detection output of the second mass spectrometer 3, and is stored in the storage device 9. Since it has energy, if the second mass analyzer is set in this way and the first mass analyzer is scanned, a parent ion spectrum can be obtained. As shown in Figure 3, the collected parent ion spectrum was
o Display above the cleavage ion spectrum instead of the primary spectral vector (c), check if the ion beak from which you want to collect the parent ion spectrum remains (su), and if the peak exists, operate ( Return to ) and specify the peak for which you want to collect the parent ion spectrum again. If no peak remains, check whether the peak for which you want to collect cleavage ion spectrum data remains (b). If a peak exists, return to operation (a) and display the -order vector again. If no peak remains, the mass spectrometry is terminated. In the cleavage reaction, pairs of ions and neutral molecules are generated, and the mass spectra of the generated neutral molecules are also valuable for analysis, and neutral loss scanning can be easily performed from the data obtained as described above. In this case, the keyboard 8
It is necessary to input the mass number of the neutral molecule that is lost.
【効 果】
本発明によれば、分析したい一次質呈スベクトル上の一
つのピークに対応するイオンを親イオンとする開裂イオ
ンスペクトル、或は、開裂イオンスペクトル上の一つの
ピークに対応する開裂イオンを生成する親イオンスペク
トルを容易に得ることができることから、試料同定作業
が容易になり、分析能率が一段と向上する。[Effect] According to the present invention, a cleavage ion spectrum whose parent ion is an ion corresponding to one peak on the primary mass vector to be analyzed, or a cleavage ion spectrum corresponding to one peak on the cleavage ion spectrum Since the parent ion spectrum that generates the ions can be easily obtained, sample identification work becomes easier and analysis efficiency is further improved.
第１図は本発明の一実施例の構成図、第２図は一次スベ
クトルと開裂イオンスペクトルをＣＲＴに同時に表示し
た状態の図、第３図は開裂イオンスペクトルと親イオン
スペクトルをＣＲＴに同時に表示した状態の図、第４図
はＣＰＵのフローチャートである。
１・・・第１質量分析器、２・・・衝突チャンバー、３
・・・第２質量分析器、４・・・検出器、６・・・ＣＰ
Ｕ、７・・・マウス、８・・・キーボード、９・・・記
憶装置、１ｏ・・・ＣＲＴ。Fig. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a diagram showing a primary spectral vector and a cleavage ion spectrum displayed simultaneously on a CRT, and Fig. 3 shows a cleavage ion spectrum and a parent ion spectrum displayed simultaneously on a CRT. The displayed state diagram, FIG. 4, is a flowchart of the CPU. 1... First mass spectrometer, 2... Collision chamber, 3
...Second mass spectrometer, 4...Detector, 6...CP
U, 7...Mouse, 8...Keyboard, 9...Storage device, 1o...CRT.
Claims (1)
よりなる質量分析装置において、２つの質量分析手段か
ら得られるスペクトルデータを記憶する手段と、第１質
量分析手段の質量走査値と第２質量分析手段の検出出力
とを一対のデータとして記憶する手段と、第１の質量分
析手段から得られる一次スペクトルデータから開裂イオ
ンスペクトルデータを採取したいピークを指定する手段
と、指定したピークに対応するイオンを出射させるよう
に第１の質量分析手段を設定し、第２の質量分析手段を
走査させる制御手段と、第２の質量分析手段から得られ
る開裂イオンスペクトルデータから一つの開裂イオンピ
ークを指定する手段と、指定したピークに対応する親イ
オンスペクトルを検出するように第２の質量分析手段を
設定し、第１の質量分析手段を走査せしめる制御手段と
を設けたことを特徴とする質量分析装置。In a mass spectrometer consisting of two mass spectrometers arranged one behind the other on an ion trajectory, there is a means for storing spectral data obtained from the two mass spectrometers, and a means for storing the mass scan value of the first mass spectrometer and a second mass spectrometer. means for storing the detection output of the mass spectrometry means as a pair of data; means for specifying a peak from which cleavage ion spectrum data is to be collected from the primary spectrum data obtained from the first mass spectrometry means; A control means for setting the first mass spectrometry means to eject ions and scanning the second mass spectrometry means, and specifying one cleavage ion peak from the cleavage ion spectrum data obtained from the second mass spectrometry means. and a control means for setting the second mass spectrometry means to detect a parent ion spectrum corresponding to a designated peak and causing the first mass spectrometer to scan. Device.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1255805A JPH03118464A (en) | 1989-09-30 | 1989-09-30 | Mass analyzing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1255805A JPH03118464A (en) | 1989-09-30 | 1989-09-30 | Mass analyzing apparatus |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03118464A true JPH03118464A (en) | 1991-05-21 |
Family
ID=17283878
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1255805A Pending JPH03118464A (en) | 1989-09-30 | 1989-09-30 | Mass analyzing apparatus |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03118464A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011516828A (en) * | 2008-03-08 | 2011-05-26 | スコット・テクノロジーズ・インク | Chemical substance detection method and system |
| JP2017534052A (en) * | 2014-10-30 | 2017-11-16 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | Method and system for selecting ions for ion fragmentation |
-
1989
- 1989-09-30 JP JP1255805A patent/JPH03118464A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011516828A (en) * | 2008-03-08 | 2011-05-26 | スコット・テクノロジーズ・インク | Chemical substance detection method and system |
| JP2017534052A (en) * | 2014-10-30 | 2017-11-16 | ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド | Method and system for selecting ions for ion fragmentation |
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