JPH03116971A - Mask programmable rom - Google Patents

Mask programmable rom

Info

Publication number
JPH03116971A
JPH03116971A JP1254667A JP25466789A JPH03116971A JP H03116971 A JPH03116971 A JP H03116971A JP 1254667 A JP1254667 A JP 1254667A JP 25466789 A JP25466789 A JP 25466789A JP H03116971 A JPH03116971 A JP H03116971A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
type
mask
transistor
memory cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP1254667A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2723309B2 (en
Inventor
Hiroshi Iwahashi
岩橋 弘
Makoto Takizawa
誠 滝沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Microelectronics Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP25466789A priority Critical patent/JP2723309B2/en
Publication of JPH03116971A publication Critical patent/JPH03116971A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2723309B2 publication Critical patent/JP2723309B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable a glass mask to be decreased in manufacturing cost and shortened in turnaround time by a method wherein binary data to be set on an unused region are made correspondent to data not patterned on the glass mask out of the data programmed on the glass mask if there is the unused region in a memory cell. CONSTITUTION:A mask programmable ROM is composed of MOS transistors Tr1 and Tr2, a NAND gate NA1, an inverter IN, and NOR gates NOR1 and NOR2. When an E-type transistor forming a memory cell is made correspondent to '0', the transistor Tr1 is made to be of a D type, and when the E-type transistor forming a memory cell is made correspondent to '1', the transistor Tr2 is made to be of a D type. As mentioned above, it is determined that data outputted from a sense amplifier are transmitted to an output circuit as they are or inverted. Therefore, data on a glass mask correspondent to the unused region of a memory cell become unneeded. By this setup, a glass mask can be decreased in manufacturing cost and shortened in turnaround time.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は記憶セルにMOS)ランジスタを用いたナンド
型のマスクプログラムROM(ReadOnly Me
mory )に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Objective of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention is a NAND-type mask program ROM (Read Only Me) using a MOS transistor as a memory cell.
mory).

(従来の技術) マスクプログラムROMは、ウェハ製造工程の途中でマ
スクを用いて情報が書き込まれるものであり、メモリセ
ルアレイの回路構成によってノア型とナンド型とに分類
される。上記ノア型は高速動作に適しているが、チップ
サイズが大きくなってしまうという短所がある。一方、
ナンド型はチップサイズが比較的小さくて済むという長
所があリ、メモリ容量がメガビット級になるにつれて歩
留り、コストの関係上、チップサイズを小さくする必要
性が高まることから上記ナンド型の採用が多くなる。
(Prior Art) A mask program ROM is one in which information is written using a mask during the wafer manufacturing process, and is classified into a NOR type and a NAND type depending on the circuit configuration of the memory cell array. The Noah type described above is suitable for high-speed operation, but has the disadvantage that the chip size becomes large. on the other hand,
The NAND type has the advantage of requiring a relatively small chip size, and as the memory capacity increases to the megabit level, the need to reduce the chip size increases due to yield and cost considerations, so the NAND type is often used. Become.

この種の従来のナンド型ROMのメモリセルアレイの一
部について、チップ上の平面パターンおよび回路を第3
図(a)および(b)に示す。第3図(a)および(b
)において、2列のトランジスタ列の間に共通に1本の
ビット線BLを設け、各トランジスタ列のナンド束(ト
ランジスタT1〜T )選択用トランジスタとして、1
個のエンハンスメント型(E型)トランジスタT と1
個のデイプレッション型(D型)のトランジスタT ′
とを直列接続し、各ナンド束に2本の選択用ワード線W
L  、WL  ’を接続している。こS      
 S の場合、ビット線BLの両側のトランジスタ列における
各ナンド束の選択用トランジスタは、互いに対応するト
ランジスタの種類(上記E型とD型)が異なるように設
けられている。従って、ある記憶セルを選択してそのデ
ータを読み出す場合、この記憶セルが属するナンド束に
おける2個のナンド選択用トランジスタのうち、D型ト
ランジスタT ′に対応するワード線WL  ’を接地
電位、S                     
      SE型トランジスタ T に対応するワー
ド線WL8を電源電位V (例えば5V)にし、メモリ
セC ルトランジスタT1〜Tnのうちの非選択なものに各対
応するワード線WL・・・を電源電位■ にし、C 選択されるメモリセルトランジスタのゲート電極のワー
ド線WLを接地電位にする。すると、上記選択されたナ
ンド束の選択されたセルトランジスタ(例えばT1)の
オンまたはオフ状態に応じたデータがビット線BLに現
われる。
For part of the memory cell array of this type of conventional NAND-type ROM, the planar pattern and circuit on the chip are
Shown in Figures (a) and (b). Figures 3(a) and (b)
), one bit line BL is provided in common between two transistor columns, and one bit line BL is provided as a transistor for selecting the NAND bundle (transistors T1 to T) of each transistor column.
enhancement-type (E-type) transistors T and 1
depletion type (D type) transistors T′
are connected in series, and two selection word lines W are connected to each NAND bundle.
L and WL' are connected. This S
In the case of S, the selection transistors of each NAND bundle in the transistor rows on both sides of the bit line BL are provided so that the corresponding transistor types (E type and D type) are different from each other. Therefore, when selecting a certain memory cell and reading its data, the word line WL' corresponding to the D-type transistor T' of the two NAND selection transistors in the NAND bundle to which this memory cell belongs is connected to the ground potential, S
The word line WL8 corresponding to the SE type transistor T is set to a power supply potential V (for example, 5V), and the word line WL . C. Set the word line WL of the gate electrode of the selected memory cell transistor to the ground potential. Then, data corresponding to the on or off state of the selected cell transistor (for example, T1) of the selected NAND bundle appears on the bit line BL.

メモリセルトランジスタは、記憶情報が“0“または“
1°に対応してD型またはE型のトランジスタで作られ
ているため、ゲートに電源電位V が付加される非選択
のセルトランジスタはすC べてオンするが、ゲートに接地電位が付加される選択さ
れたセルトランジスタがE型であればオフし、D型なら
ばオンする。このようなオン、オフでデータを読みだす
The memory cell transistor stores stored information as “0” or “
Since they are made of D-type or E-type transistors corresponding to 1°, all unselected cell transistors to which the power supply potential V is applied to their gates are turned on, but when the ground potential is applied to their gates, If the selected cell transistor is E type, it is turned off, and if it is D type, it is turned on. Data is read out in this on/off state.

上記選択されたナンド束に対応する隣りのトランジスタ
列のナンド束は、2個のナンド選択用トランジスタ列の
うちのE型トランジスタがオフになるので、このナンド
束から上記ビット線BLにデータが読み出されることは
ない。
For the NAND bundle of the adjacent transistor row corresponding to the selected NAND bundle, the E-type transistor of the two NAND selection transistor rows is turned off, so data is read from this NAND bundle to the bit line BL. It won't happen.

なお、第3図(a)に示すパターンにおいて、32はビ
ットgBLとナンド束トランジスタ列の一端とのコンタ
クト部であり、斜線部分はD型トランジスタT ′のゲ
ート、チャネル領域を示している。
In the pattern shown in FIG. 3(a), 32 is a contact portion between the bit gBL and one end of the NAND bundle transistor array, and the shaded area represents the gate and channel region of the D-type transistor T'.

上記第3図(a)、(b)の構成においては、2列のト
ランジスタ列に対して1本のビット線を設けるので、ビ
ット線の本数が少なくなり、ビット線配線幅方向のチッ
プサイズが縮小する。このため現在数も普及している。
In the configurations shown in FIGS. 3(a) and 3(b) above, one bit line is provided for two transistor columns, so the number of bit lines is reduced and the chip size in the bit line wiring width direction is reduced. to shrink. For this reason, the number is now widespread.

このようなマスクプログラムROMを製造する場合は、
まずすべてのメモリセルをE型につくりておく。そして
、D型にするトランジスタのチップ上の場所の座標値を
電子計算機に入力して変換処理する。その後、この変換
処理されたデータに基づいて、D型にするトランジスタ
へのイオン注入情報をガラスマスクに書き込む。そして
このガラスマスクを用いて選択的にD型トランジスタを
つくり、バイナリデータを書き込んでいる。
When manufacturing such a mask program ROM,
First, all memory cells are made into E type. Then, the coordinate values of the location on the chip of the transistor to be made into a D type are input into an electronic computer for conversion processing. Thereafter, based on the converted data, ion implantation information for the transistor to be made into a D type is written on the glass mask. This glass mask is then used to selectively create D-type transistors and write binary data.

(発明が解決しようとする課題) このため、記憶容量の増大とともに、電子計算機へ入力
するD型トランジスタのチップ上の座標値データも増大
し、電子計算機の処理時間が長くなるとともに、電子計
算機を使用する費用も大きくなり、1つのガラスマスク
を作るための、全体のコストにおける電子計算機の使用
料が大きな割合を占めるようになってきている。従って
、メモリ容量の増大に伴って、ユーザの負担するガラス
マスクの製作費用が大きくなるばかりでなく、電子計算
機の処理時間が増加することによりユーザが発注してか
らマスクROMを受取るまでの時間も長くなることにな
る。
(Problems to be Solved by the Invention) For this reason, as the storage capacity increases, the coordinate value data on the D-type transistor chip that is input to the computer also increases, which increases the processing time of the computer and increases the The cost of use has also increased, and the cost of using a computer has come to account for a large proportion of the total cost for making one glass mask. Therefore, as memory capacity increases, not only does the manufacturing cost of the glass mask borne by the user increase, but also the processing time of the computer increases, which reduces the time it takes from the user placing an order to receiving the mask ROM. It's going to be long.

一方、マスクROMにおいては、記憶容量のすべてにデ
ータを書き込む場合もあるが、データの書き込みを行な
わない未使用なメモリ領域が存在するものもあり、記憶
容量の大容量化に伴い、使用しないメモリ領域が増大す
る傾向にある。例えば、16MビットのマスクROMに
おいて、15Mビット領域を使用し、IMビット分は未
使用で残すような場合である。
On the other hand, in mask ROMs, although data may be written to all of the memory capacity, there are also cases where there is unused memory area where no data is written, and as the memory capacity increases, unused memory The area tends to increase. For example, in a 16 Mbit mask ROM, a 15 Mbit area is used and the IM bit is left unused.

このような未使用な領域のメモリセルのデータは、すべ
て1”か、あるいはすべて0mに設定されるが、“1#
にするか“0“にするかはユーザが決定していた。この
ためユーザによっては未使用領域をすべてD型トランジ
スタにする必要があり、この場合ガラスマスクの製造コ
ストと、製造時間が最もかかることになる。
The data of memory cells in such an unused area are set to all 1'' or all 0m, but the data is set to ``1#''.
It was up to the user to decide whether to set it to "0" or "0". Therefore, depending on the user, it is necessary to make all unused areas into D-type transistors, and in this case, the manufacturing cost of the glass mask and the manufacturing time are the greatest.

また、マスクROMの製造メーカは、製品検査時に使用
領域ばかりでなく、未使用領域をも検査し、この未使用
領域のデータがすべて“1°なのか“0″なのかを検査
し、1ビツトでも違ったデータがあれば不良品として捨
てていた。このため未使用領域であるにもかかわらず、
製品の歩留り低下の原因の1つになっていた。
In addition, mask ROM manufacturers inspect not only the used area but also the unused area during product inspection, and check whether the data in this unused area is all "1 degree" or "0", and However, if there was incorrect data, it would be discarded as a defective product.For this reason, even though it was an unused area,
This was one of the causes of decreased product yield.

本発明は上記事情を考慮してなされたものであって、ガ
ラスマスクの製造コストを低下させるとともにターンア
ラウドタイム(プログラムデータを指定してから製品納
入までの時間)を短くすることのできるマスクプログラ
ムROMを提供することを目的とする。また、本発明は
、製品の歩留りを向上させるとともに、安価なマスクプ
ログラムROMを提供することを目的とする。
The present invention has been made in consideration of the above circumstances, and is a mask that can reduce the manufacturing cost of glass masks and shorten the turnaround time (the time from specifying program data to product delivery). The purpose is to provide a program ROM. Another object of the present invention is to improve the yield of products and provide an inexpensive mask program ROM.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

(課題を解決するための手段) 第1の発明は、ガラスマスクにパターン化することによ
りプログラムされたデータに基づいて製造段階でバイナ
リデータを記憶するメモリセルを有するマスクプログラ
ムROMにおいて、メモリセルに未使用領域が有る場合
、ガラスマスクにプログラムされたデータのうちガラス
マスクのパターン化されないデータに、未使用領域に設
定されるバイナリデータの′0″あるいは“1”を対応
させる手段を備えたことを特徴とする。
(Means for Solving the Problems) A first invention provides a mask program ROM having memory cells that stores binary data at the manufacturing stage based on data programmed by patterning a glass mask. If there is an unused area, a means is provided for making the unpatterned data of the glass mask correspond to the binary data '0' or '1' set in the unused area, among the data programmed in the glass mask. It is characterized by

第2の発明は直列に接続された複数のメモリセルを複数
組有し、この直列に接続された複数のメモリセルを選択
手段によって選択するマスクプログラムROMにおいて
、前記複数組のメモリセルのうち一組の巾の前記複数の
メモリセルのデータがすべて同一であって、選択された
時非導通状態となる組に関しては前記選択手段による選
択動作を行なわないようにしたことを特徴とする。
A second aspect of the present invention is a mask program ROM having a plurality of sets of a plurality of memory cells connected in series, in which a selection means selects the plurality of memory cells connected in series, in which one of the plurality of sets of memory cells is selected. The present invention is characterized in that the data of the plurality of memory cells of the width of a set are all the same, and the selection operation by the selection means is not performed for a set that becomes non-conductive when selected.

(作 用) このように構成されたmlの発明のマスクプログラムR
OMによれば、メモリセルに未使用領域が有る場合、ガ
ラスマスクにプログラムされたデータのうちガラスマス
ク上のパターン化されないデータに、未使用領域に設定
されるバイナリデータを対応させる。これ虻より、未使
用領域に対応するガラスマスク上のデータが不要となり
、計算機の処理時間が短くなってガラスマスクの製造コ
ストを低下させることができるとともにターンアラウン
ドタイムを短くすることができる。
(Function) The mask program R of the ml invention configured as described above
According to OM, when a memory cell has an unused area, binary data set in the unused area is made to correspond to unpatterned data on the glass mask among the data programmed in the glass mask. This eliminates the need for data on the glass mask corresponding to unused areas, shortens computer processing time, reduces manufacturing cost of the glass mask, and shortens turnaround time.

また、上述のように構成された第2の発明のマスクプロ
グラムROMによれば、メモリセルは選択された時に非
導通状態となり、かつ複数のメモリセルのデータがすべ
て同一となる組に関しては選択手段による選択動作が行
なわれない。これにより製品の歩留りを向上させること
ができるとともに、製品コストを安価にすることができ
る。
Further, according to the mask program ROM of the second invention configured as described above, the memory cell becomes non-conductive when selected, and for a group in which the data of a plurality of memory cells are all the same, the selection means The selection operation is not performed. As a result, the yield of the product can be improved and the product cost can be reduced.

(実施例) 第1図を参照して第1の発明によるマスクプログラムR
OMの一実施例を説明する。
(Example) Mask program R according to the first invention with reference to FIG.
An example of OM will be described.

この実施例のマスクプログラムROMは従来のマスクプ
ログラムROMにおいて、未使用領域のメモリセルのデ
ータの設定値に応じて、未使用領域のメモリセルを構成
するE型トランジスタにバイナリデータの′0°あるい
は“1”を対応させるものである。すなわち未使用領域
の、E型のトランジスタから構成されるすべてのメモリ
セルをユーザの要求によって“0°に設定する場合は、
メモリセルを構成するE型のトランジスタに“0゛を対
応させる。逆に未使用領域の、E型のトランジスタから
構成されるすべてのメモリセルをユーザの要求によって
“1mに設定する場合は、メモリセルを構成するE型の
トランジスタに′1”対応させる。そして、このように
メモリセルを構成するE型のトランジスタを“1”また
は“0”に対応すさせるには、例えば第1図に示す回路
をセンスアンプと出力回路との間に設けることによって
行なうことができる。この第1図に示す回路はMOS)
ランジスタTrl’ Tr2、ナントゲートNAI、イ
ンバータIN、ノアゲートN0R1゜N0R2からなっ
ており、メモリセルを構成するE型のトランジスタに“
0“を対応させる場合はトランジスタTrlをD型にし
、メそリセルを構成するE型のトランジスタに“1“を
対応させる場合はトランジスタTr2をD型にする。こ
うすることによりセンスアンプからのデータがそのまま
出力回路へ伝達されるか、又は反転されて伝達されるか
が決まることになる。従って、センスアンプが読み出し
たメモリセルを構成するE型のトランジスタのデータが
常に′1“であったとしても、第1図に示す回路のトラ
ンジスタTr1がD型、トランジスタ”r2がE型であ
ればトランジスタ”rlとTr2の中間ノードN1の電
位レベルは“1°となる。そしてこの電位レベルはナン
トゲートNAI、インバータIN、ノアゲートN0R2
を経て“0”レベルとなって出力回路に伝達される。
The mask program ROM of this embodiment differs from the conventional mask program ROM in that binary data '0° or This corresponds to “1”. In other words, if all memory cells composed of E-type transistors in the unused area are set to "0°" according to the user's request,
"0" corresponds to the E-type transistors that make up the memory cell.On the other hand, if all the memory cells that are made up of E-type transistors in the unused area are set to "1m" according to the user's request, the memory To make the E-type transistor that makes up the cell correspond to '1'. Then, in order to make the E-type transistor that makes up the memory cell correspond to '1' or '0', for example, as shown in FIG. This can be done by providing a circuit between the sense amplifier and the output circuit.The circuit shown in Figure 1 is a MOS).
It consists of a transistor Trl' Tr2, a Nant gate NAI, an inverter IN, and a NOR gate N0R1°N0R2.
To make the transistor Trl correspond to 0", make the transistor Trl a D type; to make the E type transistor that constitutes the mesori cell correspond to a 1, make the transistor Tr2 a D type. By doing this, the data from the sense amplifier It is determined whether the data is transmitted to the output circuit as is or is inverted and transmitted.Therefore, the data read by the sense amplifier in the E-type transistor constituting the memory cell is always '1'. However, if the transistor Tr1 in the circuit shown in FIG. 1 is of the D type and the transistor "r2 is of the E type, the potential level of the intermediate node N1 between the transistors "rl and Tr2 will be "1°." Gate NAI, inverter IN, NOR gate N0R2
After that, it becomes a "0" level and is transmitted to the output circuit.

なお、トランジスタTrlをE型、トランジスタTr2
をD型にすれば、センスアンプが読み出したE型のトラ
ンジスタのデータが“1′であれば1mが出力回路に伝
達されることになる。
Note that the transistor Trl is of E type, and the transistor Tr2 is of E type.
If it is made into a D type, if the data of the E type transistor read by the sense amplifier is "1", 1m will be transmitted to the output circuit.

このようにセンスアンプが検出するメモリセルのデータ
が同じであっても、メモリセルへデータをプログラムす
るガラスマスクに第1図に示す回路のトランジスタTr
l、Tr2のいずれかをD’42とすることをプログラ
ムするだけで、メモリセルを構成するE型およびD型の
トランジスタにそれぞれ対応するバイナリデータを反転
させたり、又はそのままとすることが可能となる。これ
により、本実施例のマスクプログラムROMにおいては
、未使用領域に対応するガラスマスク上のデータが不要
となるため、電子計算機の処理時間が短くなり、ガラス
マスクの製造コストを低下させることができるとともに
、ターンアラウンドタイムを短縮することができる。
In this way, even if the data of the memory cells detected by the sense amplifier is the same, the transistor Tr of the circuit shown in FIG.
By simply programming either Tr1 or Tr2 to be D'42, it is possible to invert the binary data corresponding to the E-type and D-type transistors that make up the memory cell, or leave them as they are. Become. As a result, in the mask program ROM of this embodiment, the data on the glass mask corresponding to the unused area is unnecessary, so the processing time of the computer is shortened, and the manufacturing cost of the glass mask can be reduced. At the same time, turnaround time can be shortened.

次に第2の発明によるマスクプログラムROMの一実施
例を第2図を参照して説明する。
Next, an embodiment of the mask program ROM according to the second invention will be described with reference to FIG.

一般にマスクプログラムROMにおいては、未使用な領
域のメモリセルはすべて同一のデータであるので、特に
ワード線WLにより選択してデータを読み出さなくとも
よい。メモリセルトランジスタTl−TnがすべてE型
であるならば、T1〜T を通しての電流経路は存在し
ない。よって、選択ワード線WL、WL’によって選択
しなS いのと等価な状態になる。このためこの実施例では、未
使用な領域の選択ワード線WL  。
In general, in a mask program ROM, since all memory cells in unused areas have the same data, it is not necessary to select them using the word line WL and read out the data. If memory cell transistors Tl-Tn are all E-type, there is no current path through T1-T. Therefore, the state is equivalent to not selecting S by the selected word lines WL and WL'. Therefore, in this embodiment, the selected word line WL is in an unused area.

WL  ’に接続されたトランジスタT、TS    
                        S
     SをすべてE型とし、トランジスタT  、
T  ’にS     S よる選択動作を行なわせないようにしている。従って、
メモリセルトランジスタTt〜Tnのいずれかに不良が
あり、例えば基板とのリーク電流により、トランジスタ
T1〜Tnに電流経路が存在したとしても、選択用のト
ランジスタT 。
Transistors T, TS connected to WL'
S
S is all E type, transistor T,
T' is prevented from performing a selection operation based on S S . Therefore,
Even if one of the memory cell transistors Tt to Tn is defective and a current path exists in the transistors T1 to Tn due to leakage current with the substrate, the selection transistor T.

T ′がオフするため、不良とはならない。Since T' is turned off, it is not defective.

以上述べたように本実施例によれば、製品の歩留りを向
上させることができるとともに製品コストを安価にする
ことができる。
As described above, according to this embodiment, it is possible to improve the yield of the product and to reduce the product cost.

なお、上記実施例では選択トランジスタT 。Note that in the above embodiment, the selection transistor T is used.

T ′をE型として選択動作をしないようにしたが、こ
れは例えばコンタクト32を省くようにしてもよい。
Although T' is made of E type so as not to perform the selection operation, the contact 32 may be omitted, for example.

しかし、トランジスタT  、T  ’をE型に換S 
    S えるのはメモリセルへデータを書き込むのと同一のガラ
スマスクで行なえるため、未使用領域の増減によるトラ
ンジスタT  、T  ’をE型にするS ものの変更が最も効率がよい。
However, if the transistors T and T' are changed to E type, S
Since writing data into the memory cell can be done using the same glass mask, it is most efficient to change the transistors T and T' to E-type by increasing or decreasing the unused area.

さらに、未使用領域に第2の発明を適用するばかりでな
く、データを書き込む使用領域でも、トランジスタT、
−T、がすべでE型であるものならば、第2の発明を適
用することにより更に歩留りは向上する。
Furthermore, in addition to applying the second invention to an unused area, the transistor T,
-T, are all E-type, the yield can be further improved by applying the second invention.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

第1の発明によれば、未使用領域に対応するガラスマス
ク上のデータが不要となるため、電子λ1算機の処理時
間が短くなり、ガラスマスクの製造コストを低下させる
ことができるとともに、ターンアラウンドタイムを短縮
することができる。
According to the first invention, data on the glass mask corresponding to unused areas is not required, so the processing time of the electronic λ1 calculator is shortened, and the manufacturing cost of the glass mask can be reduced. Around time can be shortened.

また、第2の発明によれば、製品の歩留りを向上させる
ことができるとともに製品コストを安価にすることがで
きる。
Moreover, according to the second invention, the yield of the product can be improved and the product cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は第1の発明によるマスクプログラムROMの一
実施例の作用を説明する回路図、第2図(a)および(
b)は第2の発明によるマスクプログラムROMの一実
施例を説明する、メモリセルアレイに関するチップ上の
平面パターンおよび回路図、第3図(a)および(b)
は従来のナンド型ROMのメモリセルアレイに関するチ
ップ上の平面パターンおよび回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram explaining the operation of one embodiment of the mask program ROM according to the first invention, and FIGS. 2(a) and (
b) is a plane pattern on a chip and a circuit diagram related to a memory cell array, illustrating an embodiment of a mask program ROM according to the second invention; FIGS. 3(a) and (b);
1 is a planar pattern on a chip and a circuit diagram of a memory cell array of a conventional NAND-type ROM.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、ガラスマスクにパターン化することによりプログラ
ムされたデータに基づいて製造段階でバイナリデータを
記憶するメモリセルを有するマスクプログラムROMに
おいて、 前記メモリセルに未使用領域が有る場合、前記ガラスマ
スクにプログラムされたデータのうち前記未使用領域に
設定されるバイナリデータの“0”あるいは“1”を前
記ガラスマスクのパターン化されないデータに対応させ
る手段を備えたことを特徴とするマスクプログラムRO
M。 2、直列に接続された複数のメモリセルを複数組有し、
この直列に接続された複数のメモリセルを選択手段によ
って選択するマスクプログラムROMにおいて、 前記複数組のメモリセルのうち一組の巾の前記複数のメ
モリセルのデータがすべて同一であって、選択された時
非導通状態となる組に関しては前記選択手段による選択
動作を行なわないようにしたことを特徴とするマスクプ
ログラムROM。
[Claims] 1. In a mask program ROM having memory cells that store binary data at the manufacturing stage based on data programmed by patterning a glass mask, if the memory cells have an unused area. , characterized by comprising means for making binary data "0" or "1" set in the unused area among the data programmed in the glass mask correspond to unpatterned data of the glass mask. Mask program RO
M. 2. It has multiple sets of multiple memory cells connected in series,
In the mask program ROM in which a plurality of memory cells connected in series are selected by a selection means, data of the plurality of memory cells having a width of one set among the plurality of sets of memory cells are all the same, and the selected memory cells are selected. 2. A mask program ROM, characterized in that said selection means does not perform a selection operation for a group which becomes non-conductive when
JP25466789A 1989-09-29 1989-09-29 Mask program ROM Expired - Fee Related JP2723309B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25466789A JP2723309B2 (en) 1989-09-29 1989-09-29 Mask program ROM

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25466789A JP2723309B2 (en) 1989-09-29 1989-09-29 Mask program ROM

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03116971A true JPH03116971A (en) 1991-05-17
JP2723309B2 JP2723309B2 (en) 1998-03-09

Family

ID=17268192

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25466789A Expired - Fee Related JP2723309B2 (en) 1989-09-29 1989-09-29 Mask program ROM

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2723309B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5449225A (en) * 1990-10-17 1995-09-12 Alfred Teves Gmbh Master cylinder with two internal valves

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5449225A (en) * 1990-10-17 1995-09-12 Alfred Teves Gmbh Master cylinder with two internal valves

Also Published As

Publication number Publication date
JP2723309B2 (en) 1998-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60035736T2 (en) EEPROM with redundancy
JP2545490B2 (en) Semiconductor memory device having redundant configuration
EP0805454A1 (en) Sensing circuit for reading and verifying the content of a memory cell
US5450360A (en) Flash EEPROM having memory cell arrays supplied respectively with erasing voltage via transfer gates different in current capability from each other
JPH10228778A (en) Cmos sram device
CN100593824C (en) SRAM memory cell array and IC structure
US20020131301A1 (en) Global/local memory decode with independent program and read paths and shared local decode
JPH06325580A (en) Nonvolatile semiconductor memory with cell structure of nand type
JP2000022113A (en) Semiconductor storage device
US20220122660A1 (en) Configuration and method of operation of a one-transistor two-resistors (1t2r) resistive memory (reram) cell and an array thereof
JPH07182875A (en) Semiconductor storage device
EP0652565A2 (en) A semiconductor memory device having word line driver requiring single word line drive signal
EP1297529A2 (en) Block-level read while write method and apparatus
US20180315481A1 (en) Non-volatile memory device and operation method of the same
US5297088A (en) Random access memory device with redundant row decoder for controlling a plurality of redundant word lines
US5917743A (en) Content-addressable memory (CAM) for a FLASH memory array
JP2005203742A (en) Bit cell array for preventing coupling phenomenon in read-only memory
CN101002278B (en) Nonvolatile semiconductor memory
JPH03116971A (en) Mask programmable rom
US8811078B2 (en) Semiconductor memory device
JPH03288399A (en) Semiconductor storage device
JP2812202B2 (en) Semiconductor storage device
JP2595266B2 (en) ROM circuit
US20060193167A1 (en) Compact non-volatile memory array with reduced disturb
JP3134762B2 (en) Semiconductor storage device and method of reading data from the device

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071128

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081128

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees