JPH03107128A - Active matrix display and production thereof - Google Patents

Active matrix display and production thereof

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JPH03107128A
JPH03107128A JP1245892A JP24589289A JPH03107128A JP H03107128 A JPH03107128 A JP H03107128A JP 1245892 A JP1245892 A JP 1245892A JP 24589289 A JP24589289 A JP 24589289A JP H03107128 A JPH03107128 A JP H03107128A
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JP
Japan
Prior art keywords
substrate
resist
picture element
stripes
glass substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP1245892A
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Japanese (ja)
Inventor
Koji Taniguchi
幸治 谷口
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Abstract

PURPOSE:To prevent the disconnection of the drain electrodes, etc., of TFT elements formed on a glass surface formed with black stripes by forming the substrate to have a flat surface having no steps. CONSTITUTION:A resist 2 having the reversal patterns of the black stripes 3 is formed on the glass substrate 1. The surface of the glass substrate 1 which is not coated with the resist 2 is then etched by using the buffer hydrofluoric acid of a hydrofluoric acid etchant and is thereby formed with etching grooves 25 having grating patterns. The depth of the grooves 25 is equaled to the layer thickness of the stripes 3. A Cr film is deposited by evaporation as a metallic film 26 to form the stripes 3 over the entire surface on the substrate 1. The resist 2 on the substrate 1 is dissolved by an org. solvent and the resist 2 and the metallic film 26 on the resist are removed. The remaining metallic film 26 is patterned to form the stripes 3. The stripes 3 are thereby embedded into the etching grooves 25 formed on the surface of the glass substrate 1, by which the flat surface of the substrate 1 having no steps is obtd. The disconnection of the picture element electrodes 9 and drain electrodes 10b is thus prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はアクティブマトリクス表示装置及びその製造方
法に関し、特に、絵素電極間を遮光するブラックストラ
イプにより表示のコントラストが向上し、かつ、該ブラ
ックストライプのためにスイッチング素子等の電極が断
線してしまうことのない、アクティブマトリクス表示装
置及びその製造方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to an active matrix display device and a method for manufacturing the same, and in particular, the present invention relates to an active matrix display device and a method for manufacturing the same, and in particular, the display contrast is improved by black stripes that shield light between picture element electrodes, and the black The present invention relates to an active matrix display device and a method for manufacturing the same, in which electrodes such as switching elements are not disconnected due to stripes.

(従来の技術) 第4図は、従来のアクティブマトリクス表示装置の表示
パネル部分を概略的に示す断面図である。
(Prior Art) FIG. 4 is a sectional view schematically showing a display panel portion of a conventional active matrix display device.

該表示パネルは、スイッチング素子としてTFT(Th
in Film Transistor)素子35が形
成されているTFT側基板45と、カラーフィルタ側基
板46とを備えており、それら基板間に液晶層41を有
している。TFT側基板45は、ガラス基板32の液晶
層41側の表面に、TPT素子35に接続されマトリク
ス状に配された絵素電極36と、TFT素子35に接続
されたソースパスライン(不図示)及びゲートパスライ
ン(不図示)ト、それら全てを覆うようにして基板上全
面に形成された配向膜37と、を有している。一方、カ
ラーフィルタ側基板46は、ガラス基板34の液晶層4
1側の表面に、カラーフィルタ40、透明電極39、配
向膜38を、ガラス基板34側からこの順序で有してい
る。また、TFT側基板45とカラーフィルタ側基板4
6のそれぞれは、液晶層41側の表面に対向している表
面に偏光板42を有している。
The display panel uses TFT (Th) as a switching element.
The device includes a TFT-side substrate 45 on which an in-film transistor (in-film transistor) element 35 is formed, and a color filter-side substrate 46, with a liquid crystal layer 41 between these substrates. The TFT side substrate 45 has picture element electrodes 36 connected to the TPT element 35 and arranged in a matrix on the surface of the glass substrate 32 on the liquid crystal layer 41 side, and a source pass line (not shown) connected to the TFT element 35. and a gate pass line (not shown), and an alignment film 37 formed on the entire surface of the substrate so as to cover all of them. On the other hand, the color filter side substrate 46 includes the liquid crystal layer 4 of the glass substrate 34.
A color filter 40, a transparent electrode 39, and an alignment film 38 are provided on the surface of the first side in this order from the glass substrate 34 side. In addition, the TFT side substrate 45 and the color filter side substrate 4
6 has a polarizing plate 42 on the surface facing the surface on the liquid crystal layer 41 side.

TPT側基板45の液晶層41側とは異なる側には、バ
ックライト光源31が配されている。バックライト光源
31から液晶表示パネルに向けて放射されたバックライ
ト光は、TFT側基板45、液晶層41.  カラーフ
ィルタ側基板46等を透過した後、表示パターンとして
視認される。表示パターンは、TPT素子35のスイッ
チングによりソースパスラインから絵素電極36に信号
を送り、絵素電極36と透明電極39との間の液晶層4
1に電圧を印加し、その液晶層41の光学的特性を変調
することによって形成される。カラーフィルタ40を透
過したバックライト光は、各々のカラーフィルタの色を
有しており、表示パターンはカラー画像として視認され
る。
A backlight source 31 is disposed on a side of the TPT side substrate 45 that is different from the liquid crystal layer 41 side. Backlight light emitted from the backlight light source 31 toward the liquid crystal display panel is transmitted to the TFT side substrate 45, the liquid crystal layer 41. After passing through the color filter side substrate 46 and the like, it is visually recognized as a display pattern. The display pattern is created by sending a signal from the source pass line to the picture element electrode 36 by switching the TPT element 35, and transmitting a signal to the liquid crystal layer 4 between the picture element electrode 36 and the transparent electrode 39.
The liquid crystal layer 41 is formed by applying a voltage to the liquid crystal layer 41 and modulating the optical characteristics of the liquid crystal layer 41. The backlight light transmitted through the color filters 40 has the color of each color filter, and the display pattern is visually recognized as a color image.

第5図は、カラーフィルタ側基板46の液晶層41側の
面を模式的に示す平面図である。カラーフィルタ側基板
46上には、カラー表示パターンを作るための絵素とし
て、赤(R)、緑(G)、青(B)のカラーフィルタ4
0がマトリクス状に配されている。各カラーフィルタ4
0の間には、バックライト光の透過を防ぐためのブラッ
クストライプ33が形成されている。ブラックストライ
プ33は、Cr(クロム)等の遮光性のある金属膜から
成り、絵素間をバックライト光が透過することによって
起こる表示コントラストの低下を防止するために設けら
れている。
FIG. 5 is a plan view schematically showing the surface of the color filter side substrate 46 on the liquid crystal layer 41 side. On the color filter side substrate 46, there are red (R), green (G), and blue (B) color filters 4 as picture elements for creating a color display pattern.
0's are arranged in a matrix. Each color filter 4
A black stripe 33 is formed between 0 and 0 to prevent transmission of backlight light. The black stripe 33 is made of a light-shielding metal film such as Cr (chromium), and is provided to prevent a decrease in display contrast caused by backlight light passing between picture elements.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上述の従来技術においては、以下に述べ
る問題点があった。
(Problems to be Solved by the Invention) However, the above-mentioned conventional technology has the following problems.

TFT側基板45とカラーフィルタ側基板46を貼り合
わせる際、TFT側基板45上の絵素電極36の位置と
カラーフィルタ側基板46上のカラーフィルタ40及び
ブラックストライプ33の位置とを精度よく整合させな
ければならない。このとき、多少の位置ずれが起こって
も絵素電極40の間を確実に遮光するためには、カラー
フィルタ側基板46に形成されたブラックストライプ3
3の幅を、TFT側基板45上の絵素電極36の間隔よ
り、位置合わせ精度に応じた長さだけ広く形成する必要
がある。現在、この位置合わせの精度は10μ園程度で
あるため、ブラックストライプ330幅は、絵素電極3
6の間隔よりも少なくとも20μ両程度広くしなければ
ならない。こうして、ブラックストライプ330幅が広
くなった分、バックライト光が透過する絵素の面積は縮
小し、表示パターンの輝度が低下してしまう。
When bonding the TFT side substrate 45 and the color filter side substrate 46, the position of the picture element electrode 36 on the TFT side substrate 45 and the position of the color filter 40 and black stripe 33 on the color filter side substrate 46 are precisely aligned. There must be. At this time, in order to reliably shield light between the picture element electrodes 40 even if some positional deviation occurs, it is necessary to form black stripes 3 on the color filter side substrate 46.
3 needs to be made wider than the interval between the picture element electrodes 36 on the TFT side substrate 45 by a length corresponding to alignment accuracy. Currently, the accuracy of this alignment is about 10 μm, so the width of the black stripe 330 is
The spacing must be at least 20μ wider than the spacing of 6. In this way, as the width of the black stripe 330 becomes wider, the area of the picture element through which the backlight light passes is reduced, and the brightness of the display pattern is reduced.

上記の従来技術を改良したものを以下に説明する。第6
図は、その改良されたアクティブマトリクス表示装置を
示す断面図である。本装置では、スイッチング素子とし
てアモルファスシリコン(a−Sl)TPT素子69が
用いられている。 この表示装置は、TFT側基板70
とカラーフィルタ側基板71を備え、TFT側基板70
とカラーフィルタ側基板71の間に液晶層64を有して
いる。カラーフィルタ側基板71に於ては、ガラス基板
65の液晶層64側の表面に、カラーフィルタ66、透
明電極67、配向膜68が、ガラス基板65側からこの
順序で形成されている。一方、TFT側基板70に於て
は、後述する方法によりブラックストライプ53が形成
されたガラス基板51上に、エツチングストッパ用絶縁
膜54が形成され、ブラックストライプ53によりバッ
クライト光が遮光される領域の絶縁膜54上に、TPT
素子69のゲート電極55、及びゲート電極55に接続
されたゲートパスライン(不図示)が形成されている。
An improved version of the above conventional technique will be described below. 6th
The figure is a sectional view showing the improved active matrix display device. In this device, an amorphous silicon (a-Sl) TPT element 69 is used as a switching element. This display device has a TFT side substrate 70
and a color filter side substrate 71, and a TFT side substrate 70.
A liquid crystal layer 64 is provided between the color filter side substrate 71 and the color filter side substrate 71. In the color filter side substrate 71, a color filter 66, a transparent electrode 67, and an alignment film 68 are formed in this order from the glass substrate 65 side on the surface of the glass substrate 65 on the liquid crystal layer 64 side. On the other hand, in the TFT side substrate 70, an etching stopper insulating film 54 is formed on a glass substrate 51 on which black stripes 53 are formed by a method described later, and an area where backlight light is blocked by the black stripes 53 is formed. On the insulating film 54 of
A gate electrode 55 of the element 69 and a gate pass line (not shown) connected to the gate electrode 55 are formed.

ゲート電極55及びゲートパスラインを覆うようにして
ガラス基板51上全面にゲート絶縁膜56が形成されて
いる。ゲート絶縁膜56を介してゲート電極55上にT
FT素子69のチャネル部となるノンドープa−SL半
導体層57が形成されている。ノンドープミー8l半導
体層57上には、チャネル部をエツチングから保護する
エツチングストッパ層61、ソース側及びドレイン側の
各々に分離されたコンタクト層58が、この順序で形成
されている。ソース側のコンタクト層58上にはソース
電極60aが形成され、ドレイン側のコンタクト層58
上にはドレイン電極60bが形成されている。ソース電
極Boaはゲート絶縁膜56上に形成されたソースパス
ライン(不図示)に、ドレイン電極Bobは該絶縁膜5
6上に形成された絵素電極59に接続されている。これ
ら全てを覆うようにして、ガラス基板51上の全面に保
護絶縁膜62及び配向膜63が形成されている。
A gate insulating film 56 is formed over the entire surface of the glass substrate 51 so as to cover the gate electrode 55 and the gate pass line. T is applied on the gate electrode 55 via the gate insulating film 56.
A non-doped a-SL semiconductor layer 57 that becomes a channel portion of the FT element 69 is formed. On the non-doped 8l semiconductor layer 57, an etching stopper layer 61 for protecting the channel portion from etching and a contact layer 58 separated into the source side and the drain side are formed in this order. A source electrode 60a is formed on the contact layer 58 on the source side, and a source electrode 60a is formed on the contact layer 58 on the drain side.
A drain electrode 60b is formed on top. The source electrode Boa is connected to a source pass line (not shown) formed on the gate insulating film 56, and the drain electrode Bob is connected to the insulating film 56.
The pixel electrode 59 is connected to the pixel electrode 59 formed on the pixel electrode 6 . A protective insulating film 62 and an alignment film 63 are formed on the entire surface of the glass substrate 51 so as to cover all of them.

本装置では、ブラックストライプ53がガラス基板51
上に設けられている。このため、TFT側基板70とカ
ラーフィルタ側基板71との貼り合わせの際、両者の位
置がずれても、ブラックストライプ53は絵素電極59
の間を確実に遮光する。従って、貼り合わせ精度に応じ
てブラックストライプ53の幅を広くする必要がない。
In this device, the black stripe 53 is located on the glass substrate 51.
is placed above. Therefore, even if the positions of the TFT-side substrate 70 and the color filter-side substrate 71 are misaligned when they are bonded together, the black stripe 53 will remain on the pixel electrode 59.
Make sure to block light between the areas. Therefore, there is no need to increase the width of the black stripe 53 depending on the bonding accuracy.

こうして、ブラックストライプ53によって、絵素の面
積を縮小させることなく、絵素電極59の間を確実に遮
光することができ、輝度及びフントラストの高い表示パ
ターンを得ることができる。
In this way, the black stripes 53 can reliably block light between the picture element electrodes 59 without reducing the area of the picture elements, and a display pattern with high brightness and high contrast can be obtained.

しかし、第6図に示すように、ガラス基板51の表面上
には、ブラックストライプ53のために段差が形成され
ている。このため、第6図にAで示す部分に於て、絵素
電極59やドレイン電極6obの断線が発生しやすいと
いう問題がある。電極の断線は表示欠陥を招き、装置の
製造歩留りを低下させる。また、製造途中で断線が発生
しなくとも、断差部では電極の薄膜化が生じる。このた
め、薄膜化した部分の抵抗値が増加し、また、装置使用
中に断線が起こりやすく、装置の信頼性が著しく低下し
てしまう。
However, as shown in FIG. 6, a step is formed on the surface of the glass substrate 51 because of the black stripe 53. For this reason, there is a problem in that the picture element electrode 59 and the drain electrode 6ob are likely to be disconnected at the portion indicated by A in FIG. Disconnection of the electrodes causes display defects and lowers the manufacturing yield of the device. Further, even if no wire breakage occurs during manufacturing, the electrode becomes thinner at the gap portion. Therefore, the resistance value of the thinned portion increases, and wire breakage is likely to occur during use of the device, resulting in a significant decrease in the reliability of the device.

次に、ブラックストライプ53の形成方法について、第
7図を参照しながら説明する。
Next, a method for forming the black stripes 53 will be explained with reference to FIG.

まず、第7図(a)に示すように、ガラス基板51上の
全面にブラックストライプ53となるCr等の金属膜(
膜厚2000A)76を蒸着する。
First, as shown in FIG. 7(a), a metal film (such as Cr) that becomes a black stripe 53 on the entire surface of the glass substrate 51 (
A film thickness of 2000A) 76 is deposited.

このあと、ガラス基板51上にブラックストライプ53
のパターンを有するレジスト52を形成する(第7m 
(b)”)。レジスト52に覆われていない金属膜76
をエツチングすることにより、金属膜76を所定形状に
パターニングし、ブラックストライプ53を形成する(
第7図(C))。このあと、レジスト52を除去すれば
、ブラックストライプ53の形成工程が終了する(第7
図(d))。このようにしてブラックストライプ53が
形成されたガラス基板51の表面には、ブラックストラ
イプ53のために、2000人の段差が形成される。
After this, a black stripe 53 is placed on the glass substrate 51.
A resist 52 having a pattern of (7th m) is formed.
(b)").Metal film 76 not covered by resist 52
The metal film 76 is patterned into a predetermined shape by etching to form black stripes 53 (
Figure 7(C)). After that, if the resist 52 is removed, the process of forming the black stripes 53 is completed (seventh
Figure (d)). On the surface of the glass substrate 51 on which the black stripes 53 are formed in this way, a step difference of 2000 people is formed because of the black stripes 53.

また、金属膜76をエツチングした際に、ガラス基板5
1の表面に於て金属膜76がエツチングされた領域は、
エツチングによる損傷を受け、白濁してしまう。バック
ライト光の透過するべき部分が白濁するため、その部分
の光の透過率は減少し、表示の輝度が低下してしまう。
Also, when etching the metal film 76, the glass substrate 5
The area where the metal film 76 is etched on the surface of
It is damaged by etching and becomes cloudy. Since the part through which the backlight light should pass becomes cloudy, the transmittance of light in that part decreases, resulting in a decrease in display brightness.

本発明は、上記課題を解決するためになされたものであ
り、その目的とするところは、ブラックストライプによ
って電極が断線してしまうことがなく、かつ、表示の輝
度が高いアクティブマトリクス表示装置及びその製造方
法を提供することにある。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and its purpose is to provide an active matrix display device that prevents electrodes from being disconnected due to black stripes and has high display brightness, and the like. The purpose is to provide a manufacturing method.

(課題を解決するための手段) 本発明のアクティブマトリクス表示装置は、透光性を有
する一対の基板と、該基板間に挿入され印加電圧に応答
して光学特性が変調される表示媒体と、該一対の基板の
うちの一方の基板の内面に、マトリクス状に形成された
絵素電極及び該絵素電極に接続されたスイッチング素子
とを備え、該スイッチング素子が形成された基板内面の
該絵素電極が形成されていない領域に対応した領域に溝
が形成されており、該溝は遮光性を有する層によって埋
め込まれており、そのことにより上記目的が達成される
(Means for Solving the Problems) An active matrix display device of the present invention includes: a pair of transparent substrates; a display medium inserted between the substrates and whose optical characteristics are modulated in response to an applied voltage; A picture element electrode formed in a matrix and a switching element connected to the picture element electrode are provided on the inner surface of one of the pair of substrates, and the picture element electrode is provided on the inner surface of the substrate on which the switching element is formed. A groove is formed in an area corresponding to an area where no elementary electrode is formed, and the groove is filled with a layer having a light-shielding property, thereby achieving the above object.

本発明のアクティブマトリクス表示装置の製造方法は、
透光性を有する一対の基板と、該基板間に挿入され印加
電圧に応答して光学特性が変調される表示媒体と、該一
対の基板のうちの一方の基板の内面に、マトリクス状に
形成された絵素電極及び該絵素電極に接続されたスイッ
チング素子とを備えたアクティブマトリクス表示装置の
製造方法であって、該スイッチング素子が形成される基
板内面の該絵素電極が形成される領域に対応した領域に
レジストを形成する工程と、該基板内面の該レジストが
形成されていない領域をエツチングし、該基板内面に溝
を形成する工程と、遮光性を有する層を該基板内面の全
面に形成する工程と、該レジストと該レジスト上に形成
された該層とを除去する工程と、を包含しており、その
ことにより上記目的が達成される。
The method for manufacturing an active matrix display device of the present invention includes:
A pair of transparent substrates, a display medium inserted between the substrates and whose optical characteristics are modulated in response to an applied voltage, and formed in a matrix on the inner surface of one of the pair of substrates. A method for manufacturing an active matrix display device comprising a picture element electrode and a switching element connected to the picture element electrode, the area comprising: a region on an inner surface of a substrate on which the switching element is formed; a step of forming a resist in a region corresponding to the surface of the substrate, a step of etching the region on the inner surface of the substrate where the resist is not formed to form a groove on the inner surface of the substrate, and a step of forming a layer having a light shielding property on the entire surface of the inner surface of the substrate. and a step of removing the resist and the layer formed on the resist, thereby achieving the above object.

(実施例) 以下に本発明を実施例について説明する。(Example) The present invention will be described below with reference to Examples.

本実施例の表示装置は、第1図に示すように、スイッチ
ング素子としてTPT素子19等が形成された透光性を
有するTFT側基板20と、カラーフィルタ等が形成さ
れた透光性を有するカラーフィルタ側基板21とを備え
、TFT側基板20とカラーフィルタ側基板21との間
に液晶層14を有している。
As shown in FIG. 1, the display device of this embodiment includes a TFT-side substrate 20 having a light-transmitting property on which a TPT element 19 etc. are formed as a switching element, and a light-transmitting TFT-side substrate 20 having a light-transmitting property on which a color filter etc. are formed. A color filter side substrate 21 is provided, and a liquid crystal layer 14 is provided between the TFT side substrate 20 and the color filter side substrate 21.

カラーフィルタ側基板21に於ては、ガラス基板15の
液晶層14側の表面上に、カラーフィルタ16、透明電
極17、配同膜18が、ガラス基板21側からこの順序
で形成されている。
In the color filter side substrate 21, a color filter 16, a transparent electrode 17, and a distribution film 18 are formed in this order from the glass substrate 21 side on the surface of the glass substrate 15 on the liquid crystal layer 14 side.

ブラックストライプ(層厚2000人)3はTFT側基
板20のガラス基板lの表面にCrを材料として形成さ
れている。第2図に示すように、ブラックストライプ3
は格子状に形成されており、図中Bで示すその幅は36
μmである。マトリクス状に配された絵素電極9の間隔
(第2図中Cで示す)は30μmである。ブラックスト
ライプ3がTFT側基板20に設けられているために、
TFT側基板20とカラーフィルタ側基板21との貼り
合わせ精度は、絵素電極9の位置とブラックストライプ
3の位置との合わせずれに影響を与えない。
A black stripe (layer thickness: 2000 layers) 3 is formed on the surface of the glass substrate l of the TFT side substrate 20 using Cr as a material. As shown in Figure 2, black stripe 3
is formed in a lattice shape, and its width, indicated by B in the figure, is 36 mm.
It is μm. The interval between the picture element electrodes 9 arranged in a matrix (indicated by C in FIG. 2) is 30 μm. Since the black stripe 3 is provided on the TFT side substrate 20,
The bonding accuracy between the TFT side substrate 20 and the color filter side substrate 21 does not affect the misalignment between the position of the picture element electrode 9 and the position of the black stripe 3.

従って、絵素電極間を完全に遮光するために必要なブラ
ックストライプ3の幅は、絵素電極9のパターニングを
行うときの絵素電極9とブラックストライプ3との位置
合わせの精度を考慮すれば足りる。その位置合わせの精
度は、±3μm程度である。このため、ブラックストラ
イプ3の幅を従来のように絵素電極9の間隔よりも20
μ譜程度以上も広くする必要はない。
Therefore, the width of the black stripe 3 required to completely shield light between the picture element electrodes is determined by considering the accuracy of alignment between the picture element electrode 9 and the black stripe 3 when patterning the picture element electrode 9. Enough. The accuracy of the alignment is about ±3 μm. For this reason, the width of the black stripe 3 is made 20 mm wider than the interval between the picture element electrodes 9 as in the conventional case.
There is no need to make it wider than μ notation.

ブラックストライプ3の材料としては、Cr等の金属以
外に、a−S!半導体又は光吸収係数の大きな樹脂等を
用いても良い。ブラックストライプ3として充分な遮光
性を得るために必要な層厚は材料によって異なる。材料
が金属の場合、その層厚が0.01〜1.0μm程度以
上であれば、光を99%以上吸収することができるので
、優れた遮光性が得られる。これと同様の遮光性を得る
には、材料がa−S!半導体の場合、0. 2〜1゜0
μm程度以上の層厚が必要である。材料が樹脂である場
合は、0.05〜2.0μm程度以上の層厚が必要であ
る。
In addition to metals such as Cr, materials for the black stripe 3 include a-S! A semiconductor or a resin with a large light absorption coefficient may also be used. The layer thickness required to obtain sufficient light-shielding properties as the black stripe 3 varies depending on the material. When the material is metal, if the layer thickness is approximately 0.01 to 1.0 μm or more, 99% or more of light can be absorbed, and excellent light-shielding properties can be obtained. To obtain similar light blocking properties, the material should be a-S! In the case of semiconductors, 0. 2~1゜0
A layer thickness of approximately μm or more is required. When the material is resin, a layer thickness of approximately 0.05 to 2.0 μm or more is required.

ブラックストライプ3は、第1図に示すように、ガラス
基板1の内面に形成された溝(幅36μm。
As shown in FIG. 1, the black stripe 3 is a groove (width: 36 μm) formed on the inner surface of the glass substrate 1.

深さ2000人)25内に埋め込まれており、ガラス基
板lの表面は平坦化されている。ブラックストライプ3
を覆うようにしてガラス基板l上の全面にエツチングス
トッパ用絶縁膜4が形成され、ブラックストライプ3が
形成されている領域の絶縁膜4上に、TPT素子19が
設けられている。
The surface of the glass substrate l is flattened. black stripe 3
An etching stopper insulating film 4 is formed on the entire surface of the glass substrate l so as to cover the glass substrate l, and a TPT element 19 is provided on the insulating film 4 in the area where the black stripe 3 is formed.

TPT素子19と同様に、TPT素子19に接続された
ソースパスライン22及びゲートパスライン23もブラ
ックストライプ3が形成されている領域上に形成されて
いる(第2図参照)。TPT素子19のゲート電極5は
Ta(タンタル)を用いて絶縁膜4上に形成されており
、ゲート絶縁膜6はゲート電極5を覆うようにしてガラ
ス基板1上全面に形成されている。TPT素子19のチ
ャネル部となるノンドープミー3i半導体層7は、ゲー
ト絶縁膜6を介してゲート電極5上に形成されている。
Similar to the TPT element 19, the source pass line 22 and gate pass line 23 connected to the TPT element 19 are also formed on the region where the black stripe 3 is formed (see FIG. 2). The gate electrode 5 of the TPT element 19 is formed on the insulating film 4 using Ta (tantalum), and the gate insulating film 6 is formed on the entire surface of the glass substrate 1 so as to cover the gate electrode 5. The non-doped Mi3i semiconductor layer 7 which becomes the channel portion of the TPT element 19 is formed on the gate electrode 5 with the gate insulating film 6 interposed therebetween.

ノンドープa−・SI半導体層7上には、チャネル部を
エツチングから保護するエツチングストッパ層11、ソ
ース側及びドレイン側の各々に分離されたコンタクト層
(リンドープミー31層)8が、この順序で形成されて
いる。ソース電極10aはソース側のコンタクト層8上
に形成されており、ゲート絶縁膜6上のソースパスライ
ン22(第2図参照)に接続されている。一方、ドレイ
ン電極10bはドレイン側のコンタクト層8上に形成さ
れており、ゲート絶縁膜θ上に形成されたITO等の透
明導電膜からなる絵素電極9に接続されている。これら
の全てを覆うようにして、ガラス基板1上の全面に5I
Nxからなる保護絶縁膜12、及び配向膜13が形成さ
れている。
On the non-doped a--SI semiconductor layer 7, an etching stopper layer 11 for protecting the channel portion from etching, and a contact layer (phosphorous doped 31 layer) 8 separated on the source side and the drain side are formed in this order. ing. The source electrode 10a is formed on the source side contact layer 8, and is connected to the source pass line 22 (see FIG. 2) on the gate insulating film 6. On the other hand, the drain electrode 10b is formed on the contact layer 8 on the drain side, and is connected to a picture element electrode 9 made of a transparent conductive film such as ITO formed on the gate insulating film θ. 5I is applied to the entire surface of the glass substrate 1 so as to cover all of these.
A protective insulating film 12 made of Nx and an alignment film 13 are formed.

本実施例では、ブラックストライプ3が形成されたガラ
ス基板1の表面が実質的に段差の無い平坦なものである
ために、その上に形成されたTPT素子19のドレイン
電極10bや絵素電極9等が断線してしまうことがない
。このため、表示装置の良品歩留り及び信頼性が向上し
た。
In this embodiment, since the surface of the glass substrate 1 on which the black stripe 3 is formed is substantially flat with no steps, the drain electrode 10b of the TPT element 19 and the pixel electrode 9 formed thereon are etc. will not be disconnected. Therefore, the yield of non-defective products and the reliability of display devices have improved.

また、絵素の面積がブラックストライプ3によって著し
く縮小することなく、しかも絵素電極9の間を確実に遮
光することができるため、輝度及びコントラストの高い
表示パターンを得ることができた。
In addition, the area of the picture element was not significantly reduced by the black stripes 3, and the space between the picture element electrodes 9 could be reliably shielded from light, making it possible to obtain a display pattern with high brightness and contrast.

次に、ブラックストライプ3の形成方法について、第3
図を参照しながら説明する。
Next, we will explain the method for forming the black stripes 3 in the third section.
This will be explained with reference to the figures.

まず、第3図(a)に示すように、ガラス製基板1上に
ブラックストライプ3の反転パターンを有するレジスト
2を形成した。次に、レジスト2に覆われていないガラ
ス基板1の表面をフッ酸系エッチャントの緩衝フッ酸又
はフッ硝酸等を用いてエツチングすることにより、格子
状パターンを有するエツチング溝(深さ2000人、幅
36μm)25を形成した(第3図(b))。このとき
のエツチング溝25の深さは、後の工程で形成するブラ
ックストライプ3の所望の層厚に等しい値とした。次に
、ガラス基板1上の全面にブラックストライプ3となる
金属膜26としてCr膜(膜厚2000人)を蒸着した
(第3図(C))。このあと、ガラス基板1上のレジス
ト2を有機溶剤等によって溶解し、レジスト2と共にレ
ジスト2上の金属膜26を除去した。こうして、ガラス
基板1上に於てレジスト2が形成されていない領域にの
み金属膜26を残すことによって、金属膜26のパター
ニングを行い、ブラックストライプ3を形成したく第3
図(d))。ブラックストライプ3はガラス基板1の表
面に形成されたエツチング溝25に埋め込まれた。
First, as shown in FIG. 3(a), a resist 2 having an inverted pattern of black stripes 3 was formed on a glass substrate 1. Next, by etching the surface of the glass substrate 1 that is not covered with the resist 2 using a hydrofluoric acid etchant such as buffered hydrofluoric acid or hydrofluoric nitric acid, etching grooves having a grid pattern (depth 2000 mm, width 36 μm) 25 was formed (FIG. 3(b)). The depth of the etching groove 25 at this time was set to a value equal to the desired layer thickness of the black stripe 3 to be formed in a later step. Next, a Cr film (thickness: 2,000 yen) was deposited on the entire surface of the glass substrate 1 as a metal film 26 to form the black stripe 3 (FIG. 3(C)). Thereafter, the resist 2 on the glass substrate 1 was dissolved with an organic solvent or the like, and the metal film 26 on the resist 2 was removed together with the resist 2. In this way, by leaving the metal film 26 only in the area where the resist 2 is not formed on the glass substrate 1, the metal film 26 is patterned to form the black stripe 3.
Figure (d)). The black stripe 3 was embedded in an etching groove 25 formed on the surface of the glass substrate 1.

本実施例の方法によれば、ブラックストライプ3を形成
したガラス基板1の表面を段差の無い平坦なものとする
ことができた。このため、後工程で形成する絵素電極9
やドレイン電極10bが断線してしまうことがなくなっ
た。また、ガラス基板1のエツチングされた部分はバッ
クライト光を遮断するべき領域内にあり、バックライト
光が透過するべき部分はエツチングによる損傷を受けな
い。このため、本実施例で形成した表示装置に於ける表
示パターンの輝度は、第7図に示した従来の方法で形成
した表示装置に於ける表示パターンの輝度よりも高かっ
た。
According to the method of this example, the surface of the glass substrate 1 on which the black stripe 3 was formed could be made flat without any steps. For this reason, the picture element electrode 9 formed in a later process
This also eliminates the possibility of disconnection of the drain electrode 10b. Further, the etched portion of the glass substrate 1 is within the area where the backlight light should be blocked, and the portion where the backlight light should be transmitted is not damaged by etching. Therefore, the brightness of the display pattern in the display device formed in this example was higher than the brightness of the display pattern in the display device formed by the conventional method shown in FIG.

なお、実施例ではカラー表示を行うものについて説明し
たが、本発明は、カラーフィルタを設けない白黒表示装
置にも適用できる。
In addition, although the embodiment has been described with respect to a device that performs color display, the present invention can also be applied to a monochrome display device that does not include a color filter.

また、スイッチング素子が形成される側の基板内面にブ
ラックストライプを直接形成するかわりに、該基板内面
に窒化シリコン膜等の透明でエツチング加工しやすい膜
を形成し、該膜上に上記実施例と同様のブラックストラ
イプを形成しても良また、スイッチング素子として、a
−SiTFT素子以外のスイッチング素子、例えば、M
IM素子、ダイオード、バリスタ等を用いても良い。
Furthermore, instead of directly forming a black stripe on the inner surface of the substrate on the side where the switching elements are formed, a transparent film such as a silicon nitride film that can be easily etched is formed on the inner surface of the substrate, and the above-mentioned embodiment Similar black stripes may be formed, and a
- Switching elements other than SiTFT elements, such as M
An IM element, diode, varistor, etc. may also be used.

(発明の効果) このように、本発明の装置では、スイッチング素子が設
けられる側の透光性を有する基板の内面に形成された溝
が、遮光性を有する層(ブラックストライプ)によって
埋め込まれており、該溝が形成されていない領域の該基
板表面と該層の表面とによって形成される面が実質的に
段差の無い平坦なものであるために、その上に形成され
たスイッチング素子の電極や絵素電極の断線が発生しな
い。このため、装置の良品歩留りと信頼性とが向上する
(Effects of the Invention) As described above, in the device of the present invention, the groove formed on the inner surface of the light-transmitting substrate on the side where the switching element is provided is filled with the light-shielding layer (black stripe). In addition, since the surface formed by the surface of the substrate and the surface of the layer in the region where the groove is not formed is substantially flat with no step, the electrode of the switching element formed thereon is flat. There will be no disconnection of the pixel electrodes. Therefore, the yield of good products and reliability of the device are improved.

また、ブラックストライプがスイッチング素子及び絵素
電極が設けられる側の基板に形成されているために、該
基板と該基板に対向するもう一方の基板との貼り合わせ
精度に応じて、ブラックストライプの幅を絵素電極の間
隔よりも広くする必要がない。このため、ブラックスト
ライプによって、絵素の面積を縮小させることなく絵素
電極間を確実に遮光でき、輝度及びコントラストの高い
表示パターンを得ることができる。
In addition, since the black stripe is formed on the substrate on the side where the switching elements and picture element electrodes are provided, the width of the black stripe varies depending on the bonding accuracy of this substrate and the other substrate facing the substrate. There is no need to make the spacing wider than the spacing between the picture element electrodes. Therefore, the black stripes can reliably block light between the picture element electrodes without reducing the area of the picture element, and a display pattern with high brightness and contrast can be obtained.

従って、本発明のアクティブマトリクス表示装置によれ
ば、高輝度及び高品質の表示が得られ、しかも、その製
造歩留りは良い。
Therefore, according to the active matrix display device of the present invention, high brightness and high quality display can be obtained, and the manufacturing yield thereof is also good.

本発明の方法によれば、基板の内面に形成した遮光性を
有する層の表面と、該層を形成しない領域の該基板の表
面と、によって形成される面を実質的に段差の無い平坦
なものとすることができる。
According to the method of the present invention, the surface formed by the surface of the layer having a light-shielding property formed on the inner surface of the substrate and the surface of the substrate in the area where the layer is not formed is flattened with substantially no steps. can be taken as a thing.

このため、該基板上に形成したスイッチング素子等の電
極が断線することが無い。
Therefore, the electrodes of switching elements and the like formed on the substrate will not be disconnected.

また、バックライト光が透過するべき部分に損傷を与え
ることなく該基板をエツチングすることができるため、
該基板を透過したバックライト光の輝度は低下しない。
In addition, the substrate can be etched without damaging the parts through which the backlight light should pass.
The brightness of the backlight light transmitted through the substrate does not decrease.

従って、本発明の製造方法によれば、表示の輝度が高い
高品質のアクティブマトリクス表示装置を歩留り良く製
造することができる。
Therefore, according to the manufacturing method of the present invention, a high-quality active matrix display device with high display brightness can be manufactured with a high yield.

4、   の  なセロ 第1図は本発明の実施例を示す断面図、第2図はそのT
PT素子等が形成されている側の基板を示す平面図、第
3図(a)〜(d)は実施例のブラックストライプを形
成する方法を示す断面図、第4図は従来のアクティブマ
トリクス表示装置の概略を示す断面図、第5図はそのカ
ラーフィルタ側基板を示す平面図、第6図は改良された
アクティブマトリクス表示装置を示す断面図、第7図(
a)〜(d)はそのブラックストライプを形成する方法
を示す断面図である。
4. Figure 1 is a sectional view showing an embodiment of the present invention, and Figure 2 is a cross-sectional view of the embodiment of the present invention.
A plan view showing the substrate on which PT elements etc. are formed, FIGS. 3(a) to 3(d) are cross-sectional views showing the method of forming black stripes in the example, and FIG. 4 is a conventional active matrix display. 5 is a plan view showing the color filter side substrate of the device, FIG. 6 is a sectional view showing an improved active matrix display device, and FIG.
a) to (d) are cross-sectional views showing a method of forming the black stripes.

1.15・・・ガラス基板、2・・・レジスト、3・・
・ブラックストライプ、4・・・エツチングストッパ用
絶縁膜、5・・・ゲート電極、6・・・ゲート絶縁膜、
7・・・ノンドープa−st半導体層、11・・・エツ
チングストッパ層、8・・・フンタクト層(リンドープ
ミー8I層)、9・・・絵素電極、loa・・・ソース
電極、10b・・・ドレイン電極、12・・・保護絶縁
膜、13・・・配向膜、14・・・液晶層、16・・・
カラーフィルタ、17・・・透明電極、18・・・配向
膜、19・・・TFT素子、20・・・TPT側基板、
21・・・カラーフィルタ側基板、22・・・ソースパ
スライン、23・・・ゲートパスライン。
1.15...Glass substrate, 2...Resist, 3...
・Black stripe, 4... Insulating film for etching stopper, 5... Gate electrode, 6... Gate insulating film,
7... Non-doped a-st semiconductor layer, 11... Etching stopper layer, 8... Funtact layer (phosphorous doped 8I layer), 9... Picture element electrode, loa... Source electrode, 10b... Drain electrode, 12... Protective insulating film, 13... Alignment film, 14... Liquid crystal layer, 16...
Color filter, 17... Transparent electrode, 18... Alignment film, 19... TFT element, 20... TPT side substrate,
21... Color filter side substrate, 22... Source pass line, 23... Gate pass line.

以上that's all

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、透光性を有する一対の基板と、 該基板間に挿入され印加電圧に応答して光学特性が変調
される表示媒体と、 該一対の基板のうちの一方の基板の内面に、マトリクス
状に形成された絵素電極及び該絵素電極に接続されたス
イッチング素子とを備え、 該スイッチング素子が形成された基板内面の該絵素電極
が形成されていない領域に対応した領域に溝が形成され
ており、 該溝は遮光性を有する層によって埋め込まれている、 アクティブマトリクス表示装置。 2、透光性を有する一対の基板と、該基板間に挿入され
印加電圧に応答して光学特性が変調される表示媒体と、
該一対の基板のうちの一方の基板内面にマトリクス状に
形成された絵素電極及び該絵素電極に接続されたスイッ
チング素子と、を備えたアクティブマトリクス表示装置
の製造方法であって、 該スイッチング素子が形成される基板の内面の該絵素電
極が形成される領域に対応した領域にレジストを形成す
る工程と、 該基板内面の該レジストが形成されていない領域をエッ
チングし、該基板内面に溝を形成する工程と、 遮光性を有する層を該基板内面の全面に形成する工程と
、 該レジストと該レジスト上に形成された該層とを除去す
る工程と、 を包含するアクティブマトリクス表示装置の製造方法。
[Claims] 1. A pair of transparent substrates; a display medium inserted between the substrates and whose optical characteristics are modulated in response to an applied voltage; and one of the pair of substrates. The inner surface of the substrate includes picture element electrodes formed in a matrix and switching elements connected to the picture element electrodes, and corresponds to the area where the picture element electrodes are not formed on the inner surface of the substrate where the switching elements are formed. An active matrix display device, wherein a groove is formed in the area where the light is formed, and the groove is filled with a layer having a light-shielding property. 2. a pair of transparent substrates; a display medium inserted between the substrates and whose optical characteristics are modulated in response to applied voltage;
A method for manufacturing an active matrix display device, comprising: a picture element electrode formed in a matrix on the inner surface of one of the pair of substrates, and a switching element connected to the picture element electrode, the switching element comprising: forming a resist on the inner surface of the substrate on which the element is formed, in a region corresponding to the region where the picture element electrode is formed; and etching the region on the inner surface of the substrate where the resist is not formed, and etching the inner surface of the substrate. An active matrix display device comprising: forming a groove; forming a layer having light-shielding properties over the entire inner surface of the substrate; and removing the resist and the layer formed on the resist. manufacturing method.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0693463A1 (en) * 1994-07-19 1996-01-24 Corning Incorporated Adhering a metal coating to a glass substrate
US5851366A (en) * 1994-07-19 1998-12-22 Corning Incorporated Adhering metal to glass
US6815720B2 (en) 2001-08-24 2004-11-09 Sharp Kabushiki Kaisha Substrate having buried structure, display device including the substrate, method of making the substrate and method for fabricating the display device
JP2011527165A (en) * 2008-07-02 2011-10-20 クゥアルコム・インコーポレイテッド Method and system for priority-based service requests that allow for service admission and network congestion control
US8456604B2 (en) 2005-11-16 2013-06-04 Seiko Epson Corporation Liquid crystal device and projector

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0693463A1 (en) * 1994-07-19 1996-01-24 Corning Incorporated Adhering a metal coating to a glass substrate
US5792327A (en) * 1994-07-19 1998-08-11 Corning Incorporated Adhering metal to glass
US5851366A (en) * 1994-07-19 1998-12-22 Corning Incorporated Adhering metal to glass
US6815720B2 (en) 2001-08-24 2004-11-09 Sharp Kabushiki Kaisha Substrate having buried structure, display device including the substrate, method of making the substrate and method for fabricating the display device
US6992008B2 (en) 2001-08-24 2006-01-31 Sharp Kabushiki Kaisha Method of making a substrate having buried structure and method for fabricating a display device including the substrate
US8456604B2 (en) 2005-11-16 2013-06-04 Seiko Epson Corporation Liquid crystal device and projector
JP2011527165A (en) * 2008-07-02 2011-10-20 クゥアルコム・インコーポレイテッド Method and system for priority-based service requests that allow for service admission and network congestion control

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