JPH03100927A - Optical pickup device - Google Patents

Optical pickup device

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JPH03100927A
JPH03100927A JP1236718A JP23671889A JPH03100927A JP H03100927 A JPH03100927 A JP H03100927A JP 1236718 A JP1236718 A JP 1236718A JP 23671889 A JP23671889 A JP 23671889A JP H03100927 A JPH03100927 A JP H03100927A
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light
grating
diffraction grating
optical
diffracted
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Hideo Maeda
英男 前田
Shigeru Ouchida
茂 大内田
Takeshi Sumi
墨 勇志
Junichi Kitabayashi
淳一 北林
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Ricoh Co Ltd
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Ricoh Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To enable signal detection only by one optical system, to reduce cost and size of an optical pickup device by arranging a dual grating, which is equipped with a polarized light separating diffraction grating and a beam splitting diffraction grating, on an optical path between a semiconductor laser and a recording medium. CONSTITUTION:Since a light beam emitted from a semiconductor laser 12 is passed through a collimator lens 13 and vertically made incident on a polarized light separating diffraction grating 14a of a dual grating 14, the incident light is made incident on a beam dividing diffraction grating 14b on an opposite side almost without being diffracted. A magneto-optical disk 16 is irradiated through an objective lens 15 with the light diffracted by the diffraction grating 14b. The reflected light from the disk 16 is passed through the objective lens 15, transmitted through the diffraction grating 14b and generates + or -1st order diffracted light. The diffracted light is made incident on the diffraction grating 14a and Bragg diffraction is executed to the light. Then, polarized separation into S and P polarized waves is executed and the light is made incident through the collimator lens 13 on 4-division photodetectors 17b and 17c and 2-division photodetectors 17a and 17d. Then, a focus error signal and a track error signal are respectively detected.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光磁気ディスク等の光情報記録媒体を用いて
、情報の記録や再生、フォーカスエラー信号、トラック
エラー信号等の検出を行う光ピックアップ装置に関する
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to an optical pickup device that records and reproduces information and detects focus error signals, track error signals, etc. using an optical information recording medium such as a magneto-optical disk. Regarding.

従来の技術 従来における光ピックアップ装置の一例を第5図に基づ
いて説明する。半導体レーザlから出射された光はコリ
メートレンズ2により平行化され、2個のビーム整形プ
リズム3によりビーム整形された後、ビームスプリッタ
4により反射され、対物レンズ5により集光されて光デ
イスク6面上に照射され、これにより情報の記録等が行
われる。
2. Description of the Related Art An example of a conventional optical pickup device will be described with reference to FIG. The light emitted from the semiconductor laser 1 is collimated by a collimating lens 2, beam-shaped by two beam shaping prisms 3, reflected by a beam splitter 4, and condensed by an objective lens 5 to be directed onto an optical disk 6. The light is irradiated onto the surface, thereby recording information and the like.

また、光ディスク6からの反射光は、前記ビームスプリ
ッタ4を透過して集光レンズ7により集光され、デュア
ルグレーティング8の回折格子8aに入射する。その入
射した光は反対側の面に形成された回折格子8bから出
射することにより、透過光Tと回折光にとに分離される
Further, the reflected light from the optical disk 6 passes through the beam splitter 4, is condensed by the condenser lens 7, and enters the diffraction grating 8a of the dual grating 8. The incident light exits from the diffraction grating 8b formed on the opposite surface and is separated into transmitted light T and diffracted light.

そして、透過光Tは4分割受光素子9aに受光されるこ
とによって非点収差法を用いてフォーカスエラー信号を
検出することができ、回折光には2分割受光素子9bに
受光させることによってブシュプル法を用いてトラック
エラー信号を検出することができる。また、回折光にと
透過光Tとの強度差を求めることによって光磁気信号を
も再生することができる。
The transmitted light T is received by the 4-split light receiving element 9a, so that a focus error signal can be detected using the astigmatism method, and the diffracted light is received by the 2-split light receiving element 9b, so that a focus error signal can be detected using the bush-pull method. Track error signals can be detected using Further, by determining the intensity difference between the diffracted light and the transmitted light T, it is also possible to reproduce the magneto-optical signal.

発明が解決しようとする課題 上述したような従来の装置においては、半導体レーザl
から出射された光が光ディスク6に照射されるまでの照
射光学系10と、光ディスク6からの反射光がビームス
プリッタ4を通過し信号検出が行われるまでの信号検出
光学系11とが別個に分離して設けられている。このた
めこれら2つの光学系が占める面積の割合が大きくなり
、装置の小型化を図ることができず、また、光磁気ヘッ
ドを搭載したものでは、そのヘッドの小型化の妨げとな
ってしまうという問題がある。
Problems to be Solved by the Invention In the conventional device as described above, the semiconductor laser l
An irradiation optical system 10 for irradiating the light emitted from the optical disk 6 onto the optical disk 6 and a signal detection optical system 11 for the signal detection after the reflected light from the optical disk 6 passes through the beam splitter 4 are separated. It is provided. For this reason, these two optical systems occupy a large proportion of the area, making it impossible to make the device more compact.In addition, in devices equipped with a magneto-optical head, this becomes an obstacle to making the head more compact. There's a problem.

課題を解決するための手段 そこで、このような問題点を解決するために、本発明は
、レーザ光源より出射された光をコリメートレンズによ
り平行化し、その平行光を対物レンズにより集光して光
情報記録媒体に照射し情報の記録を行うと共に、その光
情報記録媒体からの反射光を用いて情報の再生やフォー
カスエラー信号、トラックエラー信号の検出を行う光ピ
ックアップ装置において、前記レーザ光源から出射され
た光が前記光情報記録媒体に向かう前記コリメートレン
ズと前記対物レンズとの間の光路上に、前記レーザ光源
側に位置する面に高密度ピッチを有する偏光分離回折格
子が形成され前記光情報記録媒体側に位置する面に前記
偏光分離回折格子とは異なるピッチを有するビーム分割
回折格子の形成されたデュアルグレーティングを設け、
このデュアルグレーティングを通過し偏光分離された光
を検出する前記光検知器を前記半導体レーザ側の光路上
に配設した。
Means for Solving the Problems Therefore, in order to solve such problems, the present invention collimates the light emitted from a laser light source using a collimating lens, and condenses the parallel light using an objective lens to generate light. In an optical pickup device that records information by illuminating an information recording medium, and also reproduces information and detects a focus error signal and a track error signal using reflected light from the optical information recording medium, the laser beam emitted from the laser light source On the optical path between the collimating lens and the objective lens, the polarized light is directed towards the optical information recording medium, and a polarization splitting grating having a high density pitch is formed on the surface located on the laser light source side. A dual grating formed with a beam splitting diffraction grating having a pitch different from that of the polarization splitting diffraction grating is provided on a surface located on the recording medium side,
The photodetector for detecting the polarized light that passed through the dual grating was disposed on the optical path on the semiconductor laser side.

作用 これにより、半導体レーザから出射された光は、コリメ
ートレンズを介して、デュアルグレーティングの偏光分
離回折格子及びビーム分割回折格子を通過することによ
り回折され、対物レンズにより集光されて光情報記録媒
体に導かれることにより情報の記録等が行われると共に
、光情報記録媒体からの反射光は、再びビーム分割回折
格子を通過することにより回折光となり、さらに、その
回折光は偏光分Jlii回折格子を通過することにより
偏光分離され、これら偏光分離された光は光検知器に検
出され、これにより情報の再生やフォーカスエラー信号
、トラックエラー信号を検出することができる。
As a result, the light emitted from the semiconductor laser is diffracted by passing through the polarization splitting grating and the beam splitting grating of the dual grating via the collimating lens, and is focused by the objective lens to the optical information recording medium. At the same time, the reflected light from the optical information recording medium becomes diffracted light by passing through the beam splitting diffraction grating again, and furthermore, the diffracted light passes through the polarized Jlii diffraction grating. The polarized light is separated by passing through the light, and the polarized light is detected by a photodetector, thereby making it possible to reproduce information and detect a focus error signal and a track error signal.

実施例 本発明の一実施例を第1図ないし第4図に基づいて説明
する。レーザ光源としての半導体レーザ12から出射さ
れた光の光路上には、コリメートレンズ13を介して、
デュアルグレーティング14が配設されている。このデ
ュアルグレーティング14は、前記半導体レーザ12側
に位置する面に高密度ピッチを有する偏光分離回折格子
14aが形成され、これと反対側の面には前記偏光分離
回折格子14aとは異なるピッチを有するビーム分割回
折格子14bが形成されている。このデュアルグレーテ
ィング14の後方の光路上には、対物レンズ15を介し
て、光5情報記録媒体としての光磁気ディスク16が配
設されている。また、前記半導体レーザ12の周辺部に
は、光検知器としての受光素子17a〜17dが設けら
れている。
Embodiment An embodiment of the present invention will be explained based on FIGS. 1 to 4. On the optical path of the light emitted from the semiconductor laser 12 as a laser light source, via a collimating lens 13,
A dual grating 14 is provided. In this dual grating 14, a polarization separation grating 14a having a high density pitch is formed on the surface located on the semiconductor laser 12 side, and a polarization separation grating 14a having a pitch different from that of the polarization separation grating 14a on the opposite surface. A beam splitting diffraction grating 14b is formed. On the optical path behind this dual grating 14, a magneto-optical disk 16 as an optical 5 information recording medium is disposed via an objective lens 15. Furthermore, light receiving elements 17a to 17d as photodetectors are provided around the semiconductor laser 12.

第4図はそれらの受光素子17a−17dの配設状態を
前記半導体レーザ12の光軸A側がらみたものであり、
その半導体レーザ12の両側には4分割受光素子17 
b、  17 cが配設され、さらに、その外側には2
分割受光素子17a、17dが配設されている。従って
、本実施例では、前記半導体レーザ12と光磁気ディス
ク16との間の一直線上の光路上に、前記コリメートレ
ンズ13、デュアルグレーティング14、対物レンズ1
5が配設された形となっている。
FIG. 4 shows the arrangement of the light receiving elements 17a to 17d as viewed from the optical axis A side of the semiconductor laser 12.
On both sides of the semiconductor laser 12 are four-divided light receiving elements 17.
b, 17 c are arranged, and furthermore, 2
Divided light receiving elements 17a and 17d are provided. Therefore, in this embodiment, the collimating lens 13, the dual grating 14, the objective lens 1
5 is arranged.

このような構成において、まず、デュアルグレーティン
グ14の働きを第2図及び第3図に基づいて説明する。
In such a configuration, the function of the dual grating 14 will first be explained based on FIGS. 2 and 3.

偏光分離回折格子14aは、高密度ピッチ(ピッチが波
長と同程度若しくは波長以下)をなしている。このため
、第2図に示すように、デュアルグレーティング14の
偏光分離回折格子14aに光が略直角に入射すると、高
密度ピッチであるため回折光は生じない。今、この理由
を第3図に基づいて説明する。高密度ピッチの場合、回
折機構はブラック回折であるので、入射光伝搬ベクトル
Vaと出射光伝搬ベクトルvbと格子ベクトルVcは、
閉じた二等辺三角形を形成する。このため、入射角が小
さくなると、Z方向(格子ベクトルと平行な方向)の位
相整合条件((1)式参照)が満たされるように回折角
は大きくなる。
The polarization separation diffraction grating 14a has a high density pitch (the pitch is about the same as the wavelength or less than the wavelength). Therefore, as shown in FIG. 2, when light enters the polarization separation grating 14a of the dual grating 14 at a substantially right angle, no diffracted light is generated due to the high density pitch. The reason for this will now be explained based on FIG. In the case of high-density pitch, the diffraction mechanism is black diffraction, so the incident light propagation vector Va, the output light propagation vector vb, and the grating vector Vc are
Form a closed isosceles triangle. Therefore, as the incident angle decreases, the diffraction angle increases so that the phase matching condition (see equation (1)) in the Z direction (direction parallel to the grating vector) is satisfied.

λ sinθi+sinθo=−−・・(1)1 θi:入射角 θ0:出射角 λ:波長 Δ1:偏光分離回折格子のピッチ この場合、入射角がさらに小さくなることにより、Z方
向の位相整合は満たされなくなり、回折は起こらない。
λ sinθi+sinθo=-- (1) 1 θi: Incident angle θ0: Output angle λ: Wavelength Δ1: Polarization separation grating pitch In this case, the phase matching in the Z direction is not satisfied as the incident angle becomes further smaller. and no diffraction occurs.

従って、この場合、光Pを第2図に示すように、垂直に
入射させることにより、偏光分離回折格子14aへの入
射光はほとんど回折されず、反対側の面のビーム分割回
折格子14bに到達する。
Therefore, in this case, by making the light P incident perpendicularly as shown in FIG. 2, the incident light on the polarization splitting grating 14a is hardly diffracted and reaches the beam splitting grating 14b on the opposite surface. do.

そのビーム分割回折格子14bでは、回折が生じるよう
にピッチが形成されており、そのピッチは偏光分離回折
格子14aのピッチよりも粗に設定されている。この場
合、回折角θ、は次式のようになる。
The pitch of the beam splitting grating 14b is formed to cause diffraction, and the pitch is set coarser than the pitch of the polarization splitting grating 14a. In this case, the diffraction angle θ is expressed as follows.

λ θ、 = s i n−’ (−)  ・・・(2)A
λ θ, = sin-' (-) ... (2) A
.

Δ、:ビーム分割回折格子のピッチ ただし、θ、は略30″〜50″になるようにΔ3を設
定する(この理由は後述する)。
Δ,: Pitch of beam splitting diffraction grating. However, Δ3 is set so that θ is approximately 30″ to 50″ (the reason for this will be described later).

そして、今、ビーム分割回折格子14bを通過した光は
、光磁気ディスク16上に照射され、これにより反射さ
れた光は、再びビーム分割回折格子14b入射する。そ
のビーム分割回折格子14bにおいて、信号検出として
用いられる光の利用効率(P、)は、光磁気ディスク1
6により反射された光の回折光をすべて利用し、光磁気
ディスク16での反射率は考えないとすると、 P、=2 (1−2η、)η、   ・・・(3)と表
される。この場合、η、はビーム分割回折格子14bで
の回折効率であり、η、=0.25 の時、P、は最大
値0.25 を得る。なお、η、の値は、回折格子の深
さを適切に設定することにより得られる。
The light that has now passed through the beam splitting grating 14b is irradiated onto the magneto-optical disk 16, and the light reflected thereby enters the beam splitting grating 14b again. In the beam splitting grating 14b, the utilization efficiency (P,) of light used for signal detection is
If we use all the diffracted light of the light reflected by the magneto-optical disk 16 and do not consider the reflectance on the magneto-optical disk 16, it is expressed as P, = 2 (1-2η,)η, ...(3) . In this case, η is the diffraction efficiency at the beam splitting diffraction grating 14b, and when η,=0.25, P has a maximum value of 0.25. Note that the value of η can be obtained by appropriately setting the depth of the diffraction grating.

このようにして、光磁気ディスク16により反射され、
ビーム分割回折格子14bを通過することにより生じた
±1次回折光は、各々偏光分離回折格子14aに入射す
る。今、その偏光分離回折格子14aに入射する入射角
θ、は、θ、どの間に次のような関係がある。
In this way, it is reflected by the magneto-optical disk 16,
The ±1st order diffracted lights generated by passing through the beam splitting diffraction grating 14b are respectively incident on the polarization splitting diffraction grating 14a. Now, the following relationship exists between the incident angle θ of incidence on the polarization separation grating 14a and θ.

sinθ、xnsinθ、    ・ (4)n:基板
の屈折率 ここで、前述したθ、=30”〜50″ に設定した(
45”が最良点である)理由としては、偏光分離回折格
子14aの偏光分離性能、すなわち、入射S偏光波の光
を回折され、入射P偏光波の光を透過させる性能を高め
る角度(ただし、その角度はブラック角となるように設
定する)だからである、従って、二のようにして、ビー
ム回折格子14bから偏光分離回折格子14aに入射し
た±1次光はブラック回折され、S、Pの偏光波に偏光
分離されることになるわけである。
sin θ, xnsin θ, (4) n: refractive index of the substrate Here, θ, as described above, was set to = 30" to 50" (
45'' is the best point) The reason is that the angle (however, Therefore, as shown in 2, the ±1st-order light incident on the polarization separation grating 14a from the beam diffraction grating 14b is black-diffracted, and the S and P This means that the light is polarized into polarized waves.

次に、上述したような機能をもつデュアルグレーティン
グ14を用いて、本実施例の全体構成の流れを第1図に
基づいて説明する。まず、半導体レーザ12から出射さ
れた光は、コリメートレンズ13により平行化(ビーム
整形とコリメートは同時に行われる)された後、デュア
ルグレーティング14の偏光分離回折格子14aにほぼ
垂直な状態で入射し、ビーム分割回折格子14bを通過
することにより回折され、対物レンズ15により集光さ
れ光磁気ディスク16面上に照射され、これにより情報
の記録等が行われる。また、その光磁気ディスク16か
らの反射光は、再び、デュアルグレーティング14に導
かれることにより、そのビーム分割回折格子14bによ
り1次光と一1次光とに分離され、さらに、これら分離
された光は偏光分離回折格子14aによりS偏光、P偏
光に分離される(この時、1次P偏光a、1次S偏光す
、−1次S偏光c、−1次P偏光d)。このようにして
、4種類に分離された光は、第4図に示すような4分割
受光素子17b、17c、2分割受光素子17a、17
dにそれぞれ受光される。
Next, the flow of the overall configuration of this embodiment will be explained based on FIG. 1 using the dual grating 14 having the functions described above. First, the light emitted from the semiconductor laser 12 is collimated by the collimating lens 13 (beam shaping and collimation are performed at the same time), and then enters the polarization separation grating 14a of the dual grating 14 in a substantially perpendicular state. The light is diffracted by passing through the beam splitting grating 14b, focused by the objective lens 15, and irradiated onto the surface of the magneto-optical disk 16, thereby recording information. In addition, the reflected light from the magneto-optical disk 16 is guided to the dual grating 14 again, and is separated into the first-order light and the eleventh-order light by the beam splitting grating 14b. The light is separated into S-polarized light and P-polarized light by the polarization separation grating 14a (at this time, 1st-order P-polarized light a, 1st-order S-polarized light S, -1st-order S polarized light c, and -1st-order P polarized light d). In this way, the light separated into four types is transmitted to the four-divided light receiving elements 17b, 17c and the two-divided light receiving elements 17a, 17 as shown in FIG.
The light is received at d.

そして、半導体レーザ12の出射偏光を偏光分離回折格
子14aの格子方向に対して45°程度に傾けておくと
、S偏光とP偏光の強度比はほぼ同じになり、これらの
強度差から光磁気信号を検出することができる。なお、
l吹P偏光a、1次S偏光b、−1次S偏光C1−1次
P偏光d−のどの偏光波を用いて光磁気信号を検出する
ようにしてもよいし、すべての偏光波を用いて検出する
ようにしてもよい。また、フォーカスエラー信号は、回
折光を用いて、1次S偏光又は−1次S偏光から検出す
ることができる。この場合、非点収差法を適用できるよ
うに、回折光が非点収差を生じさせる。その方法は、偏
光分離回折格子14a、ビーム分割回折格子14b、又
は、それら両方の回折格子を変調ピッチ化することであ
る。さらに、トラックエラー信号は、上述した4つの光
のどれかにブシュプル法を適用することにより得ること
ができる。
Then, if the output polarized light of the semiconductor laser 12 is tilted at about 45 degrees with respect to the grating direction of the polarization separation grating 14a, the intensity ratio of the S-polarized light and the P-polarized light becomes almost the same, and from the difference in intensity, the magneto-optical signal can be detected. In addition,
The magneto-optical signal may be detected using any of the following polarized waves: 1st-order P polarized light a, 1st-order S polarized light b, -1st-order S polarized light C1 - 1st-order P polarized light d-, or all polarized waves Detection may also be performed using Further, the focus error signal can be detected from first-order S polarized light or -first-order S polarized light using diffracted light. In this case, the diffracted light causes astigmatism so that the astigmatism method can be applied. The method is to modulate the polarization splitting grating 14a, the beam splitting grating 14b, or both gratings with a modulation pitch. Furthermore, the track error signal can be obtained by applying the bush-pull method to any of the four lights mentioned above.

このような信号検出を行う信号検出光学系の様子筆箱4
図(a)(b)に示す、2つの回折光す、 cを4分割
受光素子17b、170に導きフォーカスエラー信号の
検出を行い、偏光分離回折格子14aの透過光a、dに
2分割受光素子17a、17dを用いてトラックエラー
信号の検出を行い。
A state of the signal detection optical system that performs such signal detection Pencil case 4
The two diffracted lights (a) and (c) shown in FIGS. (a) and (b) are guided to four-split light receiving elements 17b and 170, and a focus error signal is detected, and the transmitted light beams (a) and (d) of the polarization splitting grating 14a are split into two. Track error signals are detected using elements 17a and 17d.

それら回折光す、cと透過光a、dとの光量の差から光
磁気信号を検出するようにしたものである。
A magneto-optical signal is detected from the difference in the amount of light between the diffracted lights S and C and the transmitted lights A and D.

また、この第4図(a)(b)において、2分割受光素
子17a、17dの分割線の方向は、それぞれ2つが同
時に互いに直交する方向を向くようにしてもよい。
Further, in FIGS. 4(a) and 4(b), the directions of the dividing lines of the two-split light receiving elements 17a and 17d may be such that the two of them face directions perpendicular to each other at the same time.

なお、本実施例においては、受光素子は、4分割受光素
子17b、17cを2個、2分割受光素子17a、17
dを2個、合計4個用いているが、この他の例として1
例えば、4分割受光素子及び2分割受光素子をそれぞれ
1個ずつ用いて信号検出を行うようにしてもよい、また
、前述したブシュプル法により検出する他に、サンプル
サーボ法を用いて検出する場合、゛2分割受光素子は無
分割受光素子として構成してもよい。
In this embodiment, the light receiving elements include two four-part light receiving elements 17b and 17c and two two-part light receiving elements 17a and 17.
Two d's, a total of four, are used, but as another example, 1
For example, signal detection may be performed using one each of a 4-split photodetector and a 2-split photodetector.Also, in addition to detecting using the bush-pull method described above, when detecting using a sample servo method, The two-split light receiving element may be configured as an undivided light receiving element.

発明の効果 本発明は、偏光分離機能を有する偏光分離回折格子と回
折機能を有するビーム分割回折格子とを備えたデュアル
グレーティングを、単に半導体レーザと光情報記録媒体
との間の光路上に配設するだけで信号検出を容易に行う
ことができるため、従来のように出射光学系と信号検出
光学系との区別をなくし単に一つの光学系のみで信号検
出を行うことが可能となり、しかも、光学系の部品点数
を大幅に削減することができるため、安価で小型、軽量
な装置を得ることができるものである。
Effects of the Invention The present invention provides a method in which a dual grating comprising a polarization separation grating having a polarization separation function and a beam splitting grating having a diffraction function is simply disposed on an optical path between a semiconductor laser and an optical information recording medium. Since signal detection can be easily performed by simply using the optical Since the number of parts in the system can be significantly reduced, an inexpensive, compact, and lightweight device can be obtained.

す説明図、第5図は従来例を示す構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram showing a conventional example.

12・・・レーザ光源、13・・・コリメートレンズ、
14・・・デュアルグレーティング、14a・・・偏光
分離回折格子、14b・・・ビーム分割回折格子、15
・・・対物レンズ、16・・・光情報記録媒体、17a
〜17d・・・光検知器 出 願 人    株式会社 リ コ −
12... Laser light source, 13... Collimating lens,
14... Dual grating, 14a... Polarization splitting diffraction grating, 14b... Beam splitting diffraction grating, 15
...Objective lens, 16...Optical information recording medium, 17a
~17d...Photodetector applicant Rico Co., Ltd. -

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す構成図、第2図はデュ
アルグレーティングの構成を示す側面図、第3図は受光
素子の構成を半導体レーザの出射光軸側からみた構成図
、第4図はデュアルグレーティングにより回折される光
の進行経路の様子な示35図 6
FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a side view showing the configuration of a dual grating, FIG. Figure 4 shows the traveling path of light diffracted by the dual grating.35Figure 6

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] レーザ光源より出射された光をコリメートレンズにより
平行化し、その平行光を対物レンズにより集光して光情
報記録媒体に照射し情報の記録を行うと共に、その光情
報記録媒体からの反射光を光検知器により検出すること
によって情報の再生やフォーカスエラー信号、トラック
エラー信号の検出を行う光ピックアップ装置において、
前記レーザ光源から出射された光が前記光情報記録媒体
に向かう前記コリメートレンズと前記対物レンズとの間
の光路上に、前記レーザ光源側に位置する面に高密度ピ
ッチを有する偏光分離回折格子が形成され前記光情報記
録媒体側に位置する面に前記偏光分離回折格子とは異な
るピッチを有するビーム分割回折格子の形成されたデュ
アルグレーティングを設け、このデュアルグレーティン
グを通過し偏光分離された光を検出する前記光検知器を
前記半導体レーザ側の光路上に配設したことを特徴とす
る光ピックアップ装置。
The light emitted from the laser light source is collimated by a collimating lens, and the collimated light is focused by an objective lens and irradiated onto an optical information recording medium to record information, and the reflected light from the optical information recording medium is In an optical pickup device that reproduces information and detects focus error signals and track error signals by detecting them with a detector,
A polarization separation diffraction grating having a high density pitch on a surface located on the laser light source side is provided on an optical path between the collimating lens and the objective lens, on which light emitted from the laser light source is directed toward the optical information recording medium. A dual grating formed with a beam splitting diffraction grating having a pitch different from that of the polarization splitting diffraction grating is provided on a surface located on the optical information recording medium side, and the polarized light passing through the dual grating is detected. An optical pickup device characterized in that the photodetector is disposed on an optical path on the semiconductor laser side.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08249710A (en) * 1995-01-12 1996-09-27 Ricoh Co Ltd Optical head
KR100255308B1 (en) * 1996-10-21 2000-05-01 김덕중 Optical pick-up
US6434092B1 (en) 1998-12-24 2002-08-13 Nec Corporation Optical head for land and groove recording

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