JPH0298218A - Data compression circuit - Google Patents

Data compression circuit

Info

Publication number
JPH0298218A
JPH0298218A JP25106288A JP25106288A JPH0298218A JP H0298218 A JPH0298218 A JP H0298218A JP 25106288 A JP25106288 A JP 25106288A JP 25106288 A JP25106288 A JP 25106288A JP H0298218 A JPH0298218 A JP H0298218A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
shift registers
data compression
circuit
compression circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25106288A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshinobu Ono
年信 尾野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP25106288A priority Critical patent/JPH0298218A/en
Publication of JPH0298218A publication Critical patent/JPH0298218A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve the reliability by forming the circuit with two sets of shift registers and a feedback loop not including a NOT element reaching an input line of the shift registers, and receiving an output of the registers, an external data input signal and its NOT signal. CONSTITUTION:The circuit consists of two sets of shift registers 1, 2 and a feedback loop 3 receiving a data input signal DI from an output line of registers 11-15, 21-25 forming the shift registers 1, 2 and an external wire and receiving its NOT signal, inverse of D1 and a feedback loop 3 not including a NOT element reaching the input line of the shift registers 1, 2. Even if a single direction multiple fault takes place in the inside of the data compression circuit, since no NOT element is included, bits of corresponding shift registers due to a fault are not both inverted, and at least one bit is not effected with a fault. Accordingly, there is no case where the data being compressed is incorrect and the data cannot be detected, the system with high reliability is built up.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、データ圧縮回路、特に1ビツトの直列データ
系列を圧縮する回路に関し、より詳細には、その回路内
に単方向性多重故障が発生しても、誤ったデータを出力
しないデータ圧縮回路に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a data compression circuit, particularly a circuit that compresses a 1-bit serial data series, and more specifically, to a circuit that compresses a 1-bit serial data series, and more specifically, to a circuit that compresses a unidirectional multiple fault in the circuit. This invention relates to a data compression circuit that does not output erroneous data even if it occurs.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

LSIチップあるいは基盤上に故障検出のための回路を
載せる組み込み自己検査においては、被検査回路に検査
入力系列を加えたときの出力系列を圧縮した後、基準と
なる値と比較し被検査回路中の故障の有無を判断するこ
とがよく行われる。
In built-in self-testing in which a fault detection circuit is mounted on an LSI chip or board, the output sequence when a test input sequence is added to the circuit under test is compressed, and then compared with a reference value. It is often done to determine the presence or absence of a failure.

この場合のデータ圧縮回路としては、与えられた生成多
項式に従ってフィードバックの構造を決定するLFSR
(線形フィードバック・シフトレジスタ)が用いられる
ことが多い。例えば、第4図ハ生成多項式がXs+XS
+X3+X+1の場合のLFSRの構成である。第4図
において、シフトレジスタは8個のレジスタ101〜1
08で、またフィードバックループは4個の排他的論理
和ゲート31〜34で構成されている。入力されたデー
タ入力信号DIは、上記構成のシフトレジスタとフィー
ドバックループによりデータ圧縮が行われ、LFSRか
らは圧縮されたデータとしてデータ出力信号Doを取り
出すことができる。
In this case, the data compression circuit is an LFSR that determines the feedback structure according to the given generator polynomial.
(linear feedback shift register) is often used. For example, in Fig. 4, the generating polynomial is Xs+XS
This is the configuration of the LFSR in the case of +X3+X+1. In FIG. 4, the shift register consists of eight registers 101 to 1.
08, the feedback loop is also composed of four exclusive OR gates 31-34. The input data input signal DI is compressed by the shift register and feedback loop having the above configuration, and the data output signal Do can be taken out from the LFSR as compressed data.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかし、従来のLFSRでは、LFSR内部に故障が発
生した場合には圧縮された結果のデータの正しさは保証
されず、被検査回路に故障が存在するにもかかわらず圧
縮後のデータは故障が存在しない場合と一致してしまう
ことが起こり得た。
However, with conventional LFSRs, if a failure occurs inside the LFSR, the correctness of the compressed data is not guaranteed, and even if there is a failure in the circuit under test, the compressed data will not fail. It could happen that it would match the case where it does not exist.

つまり、LFSR中の故障によって被検査回路中の故障
が検出できない場合があった。
In other words, there were cases in which a failure in the circuit under test could not be detected due to a failure in the LFSR.

そこで、全く同一のLFSRを2個並べて結果を比較す
ることにより、LFSR中の故障を検出しようとする方
法も考えられているが、この方法においても、データ圧
縮回路内部に単方向性多重故障が存在する場合には、圧
縮後のデータの正しさは保証できなかった。
Therefore, a method has been considered in which failures in the LFSR are detected by lining up two identical LFSRs and comparing the results, but even with this method, unidirectional multiple failures occur inside the data compression circuit. If it exists, the correctness of the compressed data cannot be guaranteed.

従って、上記方法によるものであっても、単方向性多重
故障の場合にはこれによる影響を受け、既述したような
被検査回路中の故障の有無の判断のためのデータ圧縮に
用いるときは、かかる単方向性多重故障が原因で被検査
回路中の故障の存在を見逃す場合もあり、やはり信頼性
に欠ける面がある。
Therefore, even if the above method is used, it will be affected by unidirectional multiple faults, and when used for data compression for determining the presence or absence of faults in the circuit under test as described above. However, due to such unidirectional multiple faults, the existence of faults in the circuit under test may be overlooked, which also results in a lack of reliability.

本発明の目的は、データ圧縮回路中にたとえ単方向性多
重故障が存在する場合においても、これによる影響を排
除することが可能で、信頼性の向上を図ることができる
データ圧縮回路を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a data compression circuit that can eliminate the influence of unidirectional multiple faults even if they exist in the data compression circuit and improve reliability. There is a particular thing.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明のデータ圧縮回路は、 2組のシフトレジスタと、 これらシフトレジスタを構成するレジスタの出力及び外
部からのデータ入力信号とその否定信号とを入力とし、
シフトレジスタの入力線に至る否定素子を含まないフィ
ードバックループとから構成されることを特徴としてい
る。
The data compression circuit of the present invention has two sets of shift registers, the outputs of the registers constituting these shift registers, an external data input signal, and its negation signal as input,
It is characterized by consisting of a feedback loop that does not include a negative element and reaches the input line of the shift register.

〔作用〕[Effect]

本発明では、シフトレジスタを2組設けると共に、否定
素子を用いることなくデータ圧縮回路を構成しており、
このように否定素子を使用せずに構成した場合は、デー
タ圧縮回路内部にたとえ単方向性多重故障が発生したと
しても、否定素子を含まないため故障で両方のシフトレ
ジスタの対応するピントの値がともに反転してしまうこ
とはなく、少なくともいずれか一方のビットの値は故障
の影響を受けない、従って、本発明では、データ圧縮回
路内部に故障が存在する場合においても、圧縮後のデー
タが2組のシフトレジスタで反転値の関係を保ちながら
誤ってしまうことがないことを保証することが可能であ
る。
In the present invention, two sets of shift registers are provided, and a data compression circuit is configured without using a negative element.
If the configuration is configured without using a negation element, even if a unidirectional multiple fault occurs inside the data compression circuit, the corresponding pinto values of both shift registers will be lost due to the failure because no negation element is included. are never inverted, and the value of at least one of the bits is not affected by a fault. Therefore, in the present invention, even if there is a fault inside the data compression circuit, the compressed data remains unchanged. With two sets of shift registers, it is possible to maintain the relationship of inverted values while ensuring that no errors occur.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明のデータ圧縮回路の一実施例を示すブロ
ック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the data compression circuit of the present invention.

第1図に示すように、データ圧縮回路は、2組のシフト
レジスタ1.2と、否定素子を含まないフィードバック
ループ3を備えている。
As shown in FIG. 1, the data compression circuit includes two sets of shift registers 1.2 and a feedback loop 3 that does not include a negative element.

シフトレジスタ1.2はフィードバックループ3の2本
の出力をそれぞれ入力とし、フィードバックループ3は
シフトレジスタ1.2を構成するレジスタ11〜15.
21〜25の出力線及び外部からのデータ入力信号DI
とその否定信号DIとを入力とする。また、データ圧縮
回路の出力としては、2本のデータ出力線から圧縮され
たデータとしてのデータ出力信号Doとその否定値であ
る否定信号DOが送出されるようになっている。
The shift register 1.2 receives the two outputs of the feedback loop 3 as inputs, and the feedback loop 3 receives the registers 11 to 15 .
21 to 25 output lines and external data input signal DI
and its negation signal DI are input. Further, as outputs of the data compression circuit, a data output signal Do as compressed data and a negation signal DO as its negation value are sent out from two data output lines.

このように、上記データ圧縮回路は、2組のシフトレジ
スタ1,2と、シフトレジスタ1,2を構成するレジス
タ11〜15.21〜25の出力線及び外部からのデー
タ入力信号DIとその否定信号DIとを入力とし、シフ
トレジスタ1.2の入力線に至る否定素子を含まないフ
ィードバックループ3とから構成されている。
In this way, the data compression circuit has two sets of shift registers 1 and 2, the output lines of the registers 11 to 15, 21 to 25 constituting the shift registers 1 and 2, and the external data input signal DI and its negation. The feedback loop 3 receives the signal DI and does not include a negation element and extends to the input line of the shift register 1.2.

かかる構成のデータ圧縮回路によれば、たとえ回路内部
で単方向性多重故障が発生したような場合であっても、
従来のもののように圧縮後のデータの正しさを保証でき
ないという難点を解消することができる。
According to the data compression circuit with such a configuration, even if a unidirectional multiple fault occurs inside the circuit,
It is possible to solve the problem of not being able to guarantee the correctness of compressed data as in conventional methods.

これは、次のような点に着目したものである。This focuses on the following points.

データ圧縮回路のフィードバックループにおいては排他
的論理和関数を実現する必要があるが、シフトレジスタ
を2組設け、一方のシフトレジスタには常に他方のシフ
トレジスタの内容の反転値が設定されているようにする
ことにより、否定素子を使用せずに排他的論理和関数を
実現することが可能である。すなわち、成る信号線の否
定値が必要となった場合、否定素子を用いる代わりに他
方のシフトレジスタの対応する信号線の値を使用するこ
とにより、否定素子の使用をすることなしに否定値を得
ることができる。
In the feedback loop of the data compression circuit, it is necessary to realize an exclusive OR function, but two sets of shift registers are provided, and one shift register is always set to the inverted value of the contents of the other shift register. By doing so, it is possible to realize an exclusive OR function without using a negation element. In other words, when a negative value of a signal line consisting of Obtainable.

このように否定素子を全く使用せずに構成したデータ圧
縮回路内部に単方向性多重故障、つまり複数の信号線の
0縮退故障または複数の信号線の1縮退故障が発生した
場合を考える。0縮退故障の場合、シフトレジスタ内部
の値は、正常時に“1”であるべき値が故障の影響で“
0”になってしまう可能性はあるが、否定素子を含まな
いため故障で“0”が“1”になってしまうことはない
、すなわち、両方のシフトレジスタの対応するビットの
値がともに反転してしまうことはなく、少なくともいず
れか一方のビットの値は故障の影響を受けない。1縮退
故障の場合も同様であり、両方のシフトレジスタの対応
するビットの値が故障でともに変化してしまうことは有
り得ない。
Consider the case where a unidirectional multiple fault, that is, a stuck-at-0 fault in a plurality of signal lines or a stuck-at-1 fault in a plurality of signal lines occurs inside a data compression circuit configured without using any negation elements. In the case of a stuck-at-0 fault, the value inside the shift register, which should be "1" under normal conditions, becomes "1" due to the fault.
There is a possibility that the value becomes 0, but since it does not include a negation element, a malfunction will not cause a 0 to become a 1. In other words, the values of the corresponding bits in both shift registers are both inverted. The value of at least one of the bits is not affected by the fault.The same is true for a stuck-at-1 fault, where the values of the corresponding bits of both shift registers change due to the fault. It is impossible to put it away.

本発明に従うデータ圧縮回路はこのことを利用し、デー
タ圧縮回路内部に故障が存在する場合においても、圧縮
後のデータが2組のシフトレジスタで反転値の関係を保
ちながら誤ってしまうことがないことを保証することが
できる。
The data compression circuit according to the present invention utilizes this fact, and even if there is a failure inside the data compression circuit, the compressed data maintains the relationship of inverted values in the two sets of shift registers and does not become erroneous. I can guarantee that.

すなわち、データ圧縮回路中に単方向性多重故障が発生
したとき、このような場合には、従来ではたとえ同一の
LFSRを2個並べて結果を比較してLFSR中の故障
を検出せんとする構成を採ったとしても圧縮後のデータ
の正しさは保証できないのに対し、本データ圧縮回路の
場合は、上述のような原理に基づき、圧縮後の2個のシ
フトレジスタ1.2内のデータがともに誤って成る不正
な値とその否定値になることもなく、2個のデータの不
一致によりデータに誤りがあることが検出でき、従って
、単方向性多重故障に対しても高度の信幀性を得ること
ができ、被検査回路中の故障判断の場合にも、データ圧
縮回路中の単方向性多重故障が原因で被検査回路中の故
障の存在を見逃すことのないデータ圧縮回路を提供する
ことができる。
In other words, when a unidirectional multiple fault occurs in a data compression circuit, conventionally, even if two identical LFSRs are arranged and the results are compared, the fault in the LFSR is detected. However, in the case of this data compression circuit, based on the principle described above, the data in the two shift registers 1 and 2 after compression are both It is possible to detect errors in data due to discrepancies between two pieces of data, without causing incorrect values and their negative values. Therefore, it has a high degree of reliability even in the case of unidirectional multiple faults. To provide a data compression circuit in which the presence of a fault in a circuit under test is not overlooked due to unidirectional multiple faults in the data compression circuit even when determining a fault in the circuit under test. Can be done.

第2図はデータ圧縮のための生成多項式がX8+X’+
X3十X+1である場合の本発明に従うデータ圧縮回路
の一具体例であり、それぞれ8個のレジスタ101〜1
08及び201〜208より構成される長さ8のシフト
レジスタ2個と、4個の否定素子を含まない排他的論理
和回路301〜304からなるフィードバックループと
、データ入力信号DI用の入力線とその否定信号DI用
の入力線、及びデータ出力信号Do用の出力線とその否
定信号DO用の出力線から構成される。
Figure 2 shows that the generator polynomial for data compression is X8+X'+
This is a specific example of a data compression circuit according to the present invention in the case where 8 registers 101 to 1 are
08 and 201 to 208, a feedback loop consisting of four exclusive OR circuits 301 to 304 that do not include negation elements, and an input line for the data input signal DI. It is composed of an input line for the negation signal DI, an output line for the data output signal Do, and an output line for the negation signal DO.

第2図の構成の場合は、入力された任意の長さのデータ
系列はシフトレジスタとフィードバックループにより8
ピントの長さのデータに圧縮され、その後、2本のデー
タ出力線から圧縮されたデータとその否定値を読み出す
ことができる。
In the case of the configuration shown in Figure 2, the input data sequence of arbitrary length is processed by a shift register and a feedback loop.
The data is compressed to the length of the focus, and then the compressed data and its negative value can be read out from the two data output lines.

否定素子を含まないフィードバックループ、本例では排
他的論理和回路301〜304からなるフィードバック
ループは、具体的には次のような構成によって実現する
ことができる。
A feedback loop that does not include a negation element, in this example a feedback loop that consists of exclusive OR circuits 301 to 304, can be specifically realized by the following configuration.

すなわち、第3図は、否定素子を含まない排他的論理和
回路の内部構成の一例を示している。第3図に示す如く
、2個の論理和ゲー)41.42と、4個の論理積ゲー
ト51〜54とが用いられており、2種類の信号値If
、12とその否定値11.12を入力とし、信号値11
、■2の排他的論理和0とその否定値0を出力する関数
を、論理和ゲート41.42と論理積ゲート51〜54
のみにより否定素子を使用せずに実現している。
That is, FIG. 3 shows an example of the internal configuration of an exclusive OR circuit that does not include a negation element. As shown in FIG.
, 12 and its negative value 11.12 are input, and the signal value 11
, ■ A function that outputs the exclusive OR of 2 and its negation value of 0 is created by OR gates 41 and 42 and AND gates 51 to 54.
This is achieved without using any negation elements.

このように、データ圧縮回路として否定素子を全く使用
せずに構成したこのデータ圧縮回路においては、回路内
部で単方向性多重故障が発生した場合においても、圧縮
後の2個のシフトレジスタ内のデータがともに誤って成
る不正な値とその否定値になることはなく、2個のデー
タの不一致によりデータに誤りがあることが検出可能で
ある。
In this way, in this data compression circuit configured without using any negative elements, even if a unidirectional multiple fault occurs inside the circuit, the data in the two shift registers after compression is The data will not both be an incorrect value and its negative value, and it is possible to detect an error in the data based on a mismatch between the two pieces of data.

なお、上記では生成多項式がXII+XS+X3十X+
1である場合について述べたが、他の生成多項式が与え
られた場合においても、生成多項式の次数に等しい長さ
のシフトレジスタを2個用い、生成多項式に第1次の項
が存在するならばシフトレジスタの入力側から数えてn
番目のレジスタの出力がフィードバック線との排他的論
理和をとりながらシフトレジスタの入力へフィードバッ
クするように構成することによって、任意の生成多項式
に対する回路構成のものを得ることができる。
In addition, in the above, the generating polynomial is XII+XS+X30X+
1, but even if other generator polynomials are given, if two shift registers of length equal to the degree of the generator polynomial are used, and there is a first-order term in the generator polynomial, then n counting from the input side of the shift register
By configuring the output of the th register to be fed back to the input of the shift register while performing exclusive OR with the feedback line, a circuit configuration for any generator polynomial can be obtained.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、データ圧縮回路
中に単方向多重故障が存在する場合においても、圧縮後
のデータが不正でしかもそれを検出できないようなこと
がないため、高信鯨性システムを構築する場合には有用
である。
As explained above, according to the present invention, even if there is a unidirectional multiple fault in the data compression circuit, there is no possibility that the compressed data is incorrect and cannot be detected. This is useful when constructing a sexual system.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明のデータ圧縮回路の一実施例のブロック
図、 第2図はその具体例の構成を示す図、 第3図は否定素子を含まない排他的論理和回路の一例を
示す図、 第4図は従来方式によるものの説明図である。 1.2・・・シフトレジスタ 3・・・・・フィードバックループ 11〜15.21〜25.101〜108.201〜2
08・・・・・レジスタ
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the data compression circuit of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing the configuration of a specific example thereof, and FIG. 3 is a diagram showing an example of an exclusive OR circuit that does not include a negation element. , FIG. 4 is an explanatory diagram of the conventional method. 1.2...Shift register 3...Feedback loop 11~15.21~25.101~108.201~2
08...Register

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)2組のシフトレジスタと、 これらシフトレジスタを構成するレジスタの出力及び外
部からのデータ入力信号とその否定信号とを入力とし、
シフトレジスタの入力線に至る否定素子を含まないフィ
ードバックループとから構成されることを特徴とするデ
ータ圧縮回路。
(1) Two sets of shift registers, inputting the outputs of the registers constituting these shift registers, an external data input signal, and its negation signal,
A data compression circuit comprising a feedback loop that does not include a negation element and reaches an input line of a shift register.
JP25106288A 1988-10-05 1988-10-05 Data compression circuit Pending JPH0298218A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25106288A JPH0298218A (en) 1988-10-05 1988-10-05 Data compression circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25106288A JPH0298218A (en) 1988-10-05 1988-10-05 Data compression circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0298218A true JPH0298218A (en) 1990-04-10

Family

ID=17217060

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25106288A Pending JPH0298218A (en) 1988-10-05 1988-10-05 Data compression circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0298218A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5515383A (en) Built-in self-test system and method for self test of an integrated circuit
US4320509A (en) LSI Circuit logic structure including data compression circuitry
Saposhnikov et al. A new design method for self-checking unidirectional combinational circuits
US4942576A (en) Badbit counter for memory testing
US5745500A (en) Built-in self testing for the identification of faulty integrated circuit chips in a multichip module
Sridhar et al. Analysis and simulation of parallel signature analyzers
Matrosova et al. A fault-tolerant sequential circuit design for SAFs and PDFs soft errors
US20030229836A1 (en) Integrated circuit
JPH0298218A (en) Data compression circuit
JPS62293441A (en) Data outputting system
Stroud et al. A parameterized VHDL library for on-line testing
Gossel et al. A new totally error propagating compactor for arbitrary cores with digital interfaces
KR100219041B1 (en) A method for testing rom
Jeswani et al. Using algebraic signatures to compress built-in self test on a chip
JP2555336B2 (en) Device and method for detecting and correcting error in IC chip with automatic self-diagnosis of chip operation
Malan et al. Designing elementary-tree space compressors using AND/NAND and XOR/XNOR combinations
JPH0331233B2 (en)
Stroud Merging BIST and Concurrent Fault Detection
JPS5851360A (en) Error check system
JPH0390873A (en) Timing generating device
JPH03259618A (en) Test system for counter
JPH0552909A (en) Detection of strobe timing setting error
JPH02218975A (en) Circuit for facilitating test
JPS61115143A (en) Detection circuit of malfunction of scan bus
JPH09127203A (en) Logical integrated circuit and failure test method therefor