JPH0293380A - Measurement start system of measuring apparatus - Google Patents

Measurement start system of measuring apparatus

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JPH0293380A
JPH0293380A JP24384588A JP24384588A JPH0293380A JP H0293380 A JPH0293380 A JP H0293380A JP 24384588 A JP24384588 A JP 24384588A JP 24384588 A JP24384588 A JP 24384588A JP H0293380 A JPH0293380 A JP H0293380A
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JP
Japan
Prior art keywords
probe
measurement
measured
contact
operability
Prior art date
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Pending
Application number
JP24384588A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Shirakawa
洋 白川
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPH0293380A publication Critical patent/JPH0293380A/en
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enhance operability without deteriorating probe operability by detecting the contact of the sensor part of a probe with an object to be measured to start a measured data processing means. CONSTITUTION:When the output of a probe 1 is changed on a higher side by the contact of the leading end of the probe 1 with the terminal of an object to be measured, the output of a comparator 4B comparing the output of a minute difference voltage circuit 2 with that of a reference voltage circuit 3 is reversed to L and the input of a microprocessor 7 becomes L by a time constant circuit of a resistor R7 and a condenser C. By this mechanism, the measured data processing means of a measuring unit 5 is started by the microprocessor 7. When the contact output of the probe is changed on a lower side, the same processing is performed through a comparator 4A and it is unnecessary to start the measuring unit by a button and measuring operability is enhanced without deteriorating probe operability.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明はプローブを測定対象に接触させて電圧等を測定
する測定装置の測定開始方式に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a measurement start method for a measuring device that measures voltage and the like by bringing a probe into contact with a measurement target.

(従来の技術) 従来、この種の測定装置では、測定回路を起動して測定
を開始させるためのスタート信号を発生させるスタート
スイッチが装置の筐体部等に設けられているのが通常で
ある。従って、プローブを持って測定対象に接触させた
状態で前記スタートスイッチを操作するような場合、手
を前記スタートスイッチの所まで伸ばさなくてはならず
、操作性が悪いという欠点があった。又、プローブにス
タートスイッチを備えた方式のものもあるが、この方式
ではプローブが大型となると共に、スタートスイッチ用
の接続線が別に必要となり、プローブと測定装置間を接
続する接続線数が増大するという欠点があった。
(Prior Art) Conventionally, in this type of measuring device, a start switch that generates a start signal to activate the measuring circuit and start measurement is usually provided in the housing of the device, etc. . Therefore, when operating the start switch while holding the probe and touching the object to be measured, it is necessary to extend the hand to the start switch, resulting in poor operability. Additionally, there are methods that have a start switch on the probe, but with this method the probe becomes larger and a separate connection wire for the start switch is required, increasing the number of connection wires between the probe and the measuring device. There was a drawback to that.

(発明が解決しようとする課題) 上記の如く、従来の測定装置の測定開始方式においで、
スタートスイッチを筐体部等に設けた方式では、手を前
記スタートスイッチの所まで伸ばして操作しなければな
らず、操作性が悪いという欠点があった。又、この欠点
を回避するために、プローブに前記スタートスイッチを
設ける方式では、プローブが大型化すると共に、プロー
ブと測定装置とを接続する接続線の数が多くなって、プ
ローブの操作性を悪化させる欠点があった。そこで、本
発明は上記の欠点を除去するもので、プローブの操作性
を悪化させることなく、測定開始時の操作性を向上させ
ることができる測定装置の測定開始方式を提供すること
を目的としている。
(Problems to be Solved by the Invention) As mentioned above, in the measurement start method of the conventional measuring device,
The system in which the start switch is provided in the housing or the like has the disadvantage of poor operability since the user must extend his or her hand to the start switch to operate it. In addition, in order to avoid this drawback, the method of providing the start switch on the probe increases the size of the probe and increases the number of connection wires connecting the probe and the measuring device, which deteriorates the operability of the probe. There was a drawback. SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, the present invention aims to eliminate the above-mentioned drawbacks, and provides a measurement start method for a measuring device that can improve the operability at the start of measurement without deteriorating the operability of the probe. .

[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は、プローブのセンサ部を測定対象物に接触させ
て1qられるデータを測定データ処理手段によって測定
処理する測定装置において、前記プローブのセンサ部が
測定対象物に接触したか否かを前記プローブのセンサ部
の電圧変化から検出する検出手段と、この検出手段によ
って前記センサ部の測定対象物への接触が検出されると
前記測定データ処理手段を起動する制御手段とを具備し
、且つ、前記制御手段は前記測定データ処理手段を起動
中に、前記検出手段が前記プローブのセンサ部と測定対
象物との接続が一定時間以上断たれたことを検出すると
、前記プローブから得られたデータを無効とする構成を
有している。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) The present invention provides a measuring device in which data obtained by bringing a sensor portion of a probe into contact with an object to be measured is measured and processed by a measurement data processing means. detecting means for detecting whether or not the probe has touched the object to be measured from a voltage change in the sensor section of the probe; and a control means for activating the measurement data processing means, and while the control means is activating the measurement data processing means, the detection means detects that the connection between the sensor section of the probe and the object to be measured is broken for a certain period of time or more. If this is detected, the data obtained from the probe is invalidated.

(作用) 本発明の測定装置の測定開始方式において、制御手段は
、検出手段がプローブのセンサ部の測定対象物への接触
を検出すると、前記プローブから得られるデータを処理
する測定データ処理手段を起動して、測定を開始させる
。又、前記制御手段は前記測定データ処理手段を起動中
に、前記検出手段が前記プローブのセンサ部と測定対象
物との接続が一定時間以上断たれたことを検出すると、
前記プローブから得られたデータを無効とする処理を行
って誤判断を避ける。
(Function) In the measurement start method of the measuring device of the present invention, when the detection means detects contact of the sensor section of the probe with the object to be measured, the control means causes the measurement data processing means to process the data obtained from the probe. Start it up and start measurement. Further, while the control means is activating the measurement data processing means, when the detection means detects that the connection between the sensor section of the probe and the object to be measured is broken for a certain period of time or more,
Misjudgment is avoided by invalidating the data obtained from the probe.

(実施例) 以下、本発明の一実施例を図面を参照して説明する。第
1図は本発明の測定装置の測定開始方式を適用した測定
装置の一実施例を示したブロック図である。1は被測定
対象に先端を接触させるプローブ、2は抵抗R1、R2
、R3、R4を直列接続して成る微小差電圧回路、3は
抵抗R5、R6を直列接続して成る基準電圧回路、4A
、4Bは入力電圧を基準電圧と比較するコンパレータ、
5はプローブ1から入力される信号を処理して測定デー
タを1qる測定ユニット、6は測定期間中にプローブ1
が測定対象から離れて非接触になったことを検出するフ
リップフロップ、7は測定動作を制御するマイクロプロ
セツサ(MPtJ>でおる。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a measuring device to which the measurement starting method of the measuring device of the present invention is applied. 1 is a probe whose tip touches the object to be measured, 2 is a resistor R1, R2
, R3 and R4 connected in series, 3 is a reference voltage circuit formed by connecting resistors R5 and R6 in series, 4A
, 4B is a comparator that compares the input voltage with a reference voltage,
5 is a measurement unit that processes the signal input from probe 1 and generates 1q of measurement data, and 6 is a measurement unit that processes the signal input from probe 1 and generates 1q of measurement data.
A flip-flop detects when the sensor moves away from the measurement object and becomes non-contact, and 7 is a microprocessor (MPtJ) that controls the measurement operation.

なお、抵抗R7とコンデンサCは時定数回路を形成して
いる。
Note that the resistor R7 and the capacitor C form a time constant circuit.

次に本実施例の動作について説明する。測定者はプロー
ブ1の先端を測定対象物の端子等に接触させる。これに
よって、プローブ1の出力電圧は非接触の時に比べて高
くなるか低くなるかする。
Next, the operation of this embodiment will be explained. The measurer brings the tip of the probe 1 into contact with a terminal or the like of the object to be measured. As a result, the output voltage of the probe 1 becomes higher or lower than when it is not in contact.

ここで、微小差電圧回路2では各抵抗の抵抗値をR1−
R3、R2−R4とし、且つ、R1pR2となるように
抵抗値が選ばれているものとする。
Here, in the minute difference voltage circuit 2, the resistance value of each resistor is set to R1-
It is assumed that R3 and R2-R4 are selected, and the resistance value is selected so that R1pR2.

又、基準電圧回路3ではR5−R6になるように抵抗値
が選択されているものとする。このため、プローブ1が
非接触の期間では図中、a、 b、 cの各点の電圧を
va 、yb 、VCとすルト、va〉Vb >Vcと
なる。更に、vaとVCの差は僅少となるように前記各
抵抗の値が選択されている。
Further, it is assumed that the resistance value of the reference voltage circuit 3 is selected to be R5-R6. Therefore, during the period when the probe 1 is not in contact, the voltages at points a, b, and c in the figure are va, yb, and VC, and va>Vb>Vc. Further, the values of each of the resistors are selected so that the difference between va and VC is small.

又、a点はコンパレータ4Aの非反転入力嫡子へ、0点
はコンパレータ4Bの反転入力端子へ接続されている。
Further, point a is connected to the non-inverting input terminal of comparator 4A, and point 0 is connected to the inverting input terminal of comparator 4B.

従って、プローブ1が非接触の期間中は、コンパレータ
4A、4Bの出力は両方ともハイレベルとなってd点の
電圧Vdもハイレベルとなる。この電圧VdはMPU7
によって監視されており、この電圧Vdがハイレベルの
期間はMPU7は測定ユニット5を起動しない。このよ
うな状態で、プローブ1を測定対象に接触させて、プロ
ーブ1の出力電圧が高い方に変化した場合は、Vc >
Vdとなって、コンパレータ4Bの出力はローレベルと
なる。このため電圧vdは抵抗R7、コンデンサCの時
定数回路によって定められた時間遅延してローレベルに
変化し、MPU7はこれを検出して測定ユニット5を起
動する。又、上記プローブ1を測定対象に接触させて、
プローブ1の出力電圧が低い方に変化した場合は、va
くvbとなって、コンパレータ4Aの出力はローレベル
となる。このためVdは前記時定数回路によって定めら
れた時間遅延してローレベルに変化し、これを検出した
MPLI7は測定ユニット5を起動する。MPU7は測
定ユニット5を起動すると同時にフリップフロップ6を
クリアする。測定ユニット5は起動されると、プローブ
1から入力されるデータを処理した侵、このデータを保
持する。測定ユニット5はデータの入力及び処理が終了
すると、終了信号をMPU7に出力して、MPLJ7に
測定の終了を知らせる。MPU7は前記測定の終了を知
ると、ノリツブフロップ6がセットされていないことを
確かめてから、測定ユニット5からデータを読み込み、
読み込んだデータから測定対象の良、否を判定する。し
かし、前記フリップフロップ6がセットされていた場合
は、MPtJ7はプローブ1が測定中に測定対象物から
離れたと判定し、測定ユニット5の動作を停止し、再び
、電圧dの監視に戻って、測定動作を繰返させる。
Therefore, during the period when the probe 1 is not in contact, both the outputs of the comparators 4A and 4B are at a high level, and the voltage Vd at the point d is also at a high level. This voltage Vd is MPU7
The MPU 7 does not activate the measurement unit 5 while the voltage Vd is at a high level. In this state, if the probe 1 is brought into contact with the object to be measured and the output voltage of the probe 1 changes to a higher side, Vc >
Vd, and the output of the comparator 4B becomes low level. Therefore, the voltage vd changes to a low level after a time delay determined by the time constant circuit of the resistor R7 and the capacitor C, and the MPU 7 detects this and starts the measurement unit 5. Also, by bringing the probe 1 into contact with the object to be measured,
If the output voltage of probe 1 changes to the lower side, va
As a result, the output of the comparator 4A becomes low level. Therefore, Vd changes to a low level after a time delay determined by the time constant circuit, and the MPLI 7 detecting this changes to start the measurement unit 5. The MPU 7 activates the measurement unit 5 and simultaneously clears the flip-flop 6. When activated, the measurement unit 5 processes the data input from the probe 1 and retains this data. When the measurement unit 5 completes data input and processing, it outputs a completion signal to the MPU 7 to notify the MPLJ 7 of the completion of the measurement. When the MPU 7 learns of the end of the measurement, it checks that the Noritsubu flop 6 is not set, reads the data from the measurement unit 5, and then reads the data from the measurement unit 5.
Determine whether the measurement target is good or bad from the read data. However, if the flip-flop 6 is set, the MPtJ7 determines that the probe 1 has moved away from the object to be measured during measurement, stops the operation of the measurement unit 5, and returns to monitoring the voltage d. Repeat the measurement operation.

第2図は上記MPU7の動作フローチャートである。ス
テップ201では、プローブ1が測定対象物に接触した
か否かを監視しており、接触した場合にステップ202
へ進んでフリップフロップ6をクリアした後、ステップ
203にて測定ユニット5を起動する。ステップ204
では測定ユニット5からの終了信号待ちを行ない、終了
信号を受けるとステップ205にてフリップフロップ6
がセットされたか否かによってプローブ1の接触不良を
判定し、接触不良があればステップ201へ戻り、なけ
ればステップ206へ進む。ステップ206では測定ユ
ニット5から測定データを読み取って、測定対象物の良
、否を判定して処理を終了する。
FIG. 2 is an operation flowchart of the MPU 7. In step 201, it is monitored whether or not the probe 1 has contacted the object to be measured.
After clearing the flip-flop 6 in step 203, the measurement unit 5 is activated. Step 204
Then, it waits for an end signal from the measurement unit 5, and when the end signal is received, the flip-flop 6 is turned on in step 205.
A contact failure of the probe 1 is determined based on whether or not is set. If there is a contact failure, the process returns to step 201; otherwise, the process proceeds to step 206. In step 206, the measurement data is read from the measurement unit 5, and it is determined whether the object to be measured is good or not, and the process ends.

ここで、前記フリップフロップ6は測定開始時にMPU
7によってクリアされるため、測定中にプローブ1が測
定対象物から離れない場合はクリアされたままである。
Here, the flip-flop 6 is connected to the MPU at the start of measurement.
7, so it remains cleared if the probe 1 does not move away from the object to be measured during measurement.

しかし、測定中にプローブ1が測定対象物から離れると
、コンパレータ4A。
However, if the probe 1 separates from the object to be measured during measurement, the comparator 4A.

4Bの出力が両方ともハイレベルとなり、このハイレベ
ルとなった時点からフリップフロップ6は抵抗R7、コ
ンデンサCの時定数回路によって決まる一定時間復に電
圧Vdによってセットされる。
Both outputs of 4B become high level, and from the time when they become high level, the flip-flop 6 is repeatedly set by the voltage Vd for a certain period of time determined by the time constant circuit of the resistor R7 and the capacitor C.

従って、フリップフロップ6かセラi〜された場合は測
定期間中にプローブ1が測定対象物から離れたと判定し
える。しかし、プローブ1の出力電圧の変化が上記時定
数回路によって決まる一定時間内であれば、前記ノリツ
ブフロップ6はセットされない。これによって、プロー
ブ1の出力電圧変化をプロー11の非接触を誤判断して
しまうことを防止している。
Therefore, if the flip-flop 6 is activated, it can be determined that the probe 1 has left the object to be measured during the measurement period. However, if the change in the output voltage of the probe 1 is within a certain period of time determined by the time constant circuit, the Noribu flop 6 is not set. This prevents the output voltage change of the probe 1 from erroneously determining that the probe 11 is not in contact.

本実施例によれば、MPU7はプローブ1が接触したか
否かを、微小差電圧回路2及びコンパレータ4A、4B
の簡単な回路によって検出し、プローブ1が接触すると
、測定ユニット5を起動して、プローブ1から得られる
データの測定処理を開始させるため、測定者はプローブ
1を測定対象物に当てるだけで、装置に測定を開始ざぜ
ることができ、装置の操作性を著しく向上させることが
できる。しかもプローブ1は従来通りの大きさで良く、
プローブ1の操作性を損うことがない。また、プローブ
1が測定中に非接触となった場合をフリップフロップ6
により検出して、測定中のプローブ1の接触不良による
データネ良を除去することができる。
According to this embodiment, the MPU 7 determines whether or not the probe 1 has made contact with the minute difference voltage circuit 2 and the comparators 4A and 4B.
When the probe 1 makes contact, the measurement unit 5 is activated and the measurement process of the data obtained from the probe 1 is started. The device can be prompted to start measurement, and the operability of the device can be significantly improved. Moreover, probe 1 can be the same size as before,
The operability of the probe 1 is not impaired. In addition, if the probe 1 becomes non-contact during measurement, the flip-flop 6
By detecting this, it is possible to eliminate data errors due to poor contact of the probe 1 during measurement.

[発明の効果] 以上記述した如く本発明の測定装置の測定開始方式によ
れば、プローブの操作性を損うことなく、測定開始時の
操作性を著しく向上させることができる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the measurement start method of the measuring device of the present invention, the operability at the start of measurement can be significantly improved without impairing the operability of the probe.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の測定装置の測定開始方式を適用した測
定装置の一実施例を示したブロック図、第2図は第1図
に示したマイクロプロセッサの動作フローチャートであ
る。 1・・・プローブ 2・・・微小差電圧回路 3・・・基準電圧回路 4A、4B・・・コンパレータ 5・・・測定ユニット 6・・・フリップフロップ 7・・・マイクロプロセッサ(MPU)代理人 弁理士
  則 近 憲 化 量  山下
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a measuring device to which the measurement starting method of the measuring device of the present invention is applied, and FIG. 2 is an operation flowchart of the microprocessor shown in FIG. 1. 1...Probe 2...Minute difference voltage circuit 3...Reference voltage circuit 4A, 4B...Comparator 5...Measuring unit 6...Flip-flop 7...Microprocessor (MPU) agent Patent Attorney Noriyuki Yamashita

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)プローブのセンサ部を測定対象物に接触させて得
られるデータを測定データ処理手段によつて測定処理す
る測定装置において、前記プローブのセンサ部が測定対
象物に接触したか否かを前記プローブのセンサ部の電圧
変化から検出する検出手段と、この検出手段によつて前
記センサ部の測定対象物への接触が検出されると前記測
定データ処理手段を起動する制御手段とを具備したこと
を特徴とする測定装置の測定開始方式。
(1) In a measuring device in which data obtained by bringing a sensor section of a probe into contact with an object to be measured is processed by a measurement data processing means, it is determined whether or not the sensor section of the probe has contacted the object to be measured. A detection means for detecting a voltage change in a sensor section of a probe, and a control means for activating the measurement data processing means when contact of the sensor section with an object to be measured is detected by the detection means. A measurement start method for a measuring device characterized by:
(2)制御手段は測定データ処理手段を起動中に、検出
手段がプローブのセンサ部と測定対象物との接続が一定
時間以上断たれたことを検出すると、前記プローブから
得られたデータは無効とすることを特徴とする請求項1
記載の測定装置の測定開始方式。
(2) While the control means is activating the measurement data processing means, if the detection means detects that the connection between the sensor part of the probe and the object to be measured is broken for a certain period of time or more, the data obtained from the probe is invalidated. Claim 1 characterized in that
Measurement start method of the described measuring device.
JP24384588A 1988-09-30 1988-09-30 Measurement start system of measuring apparatus Pending JPH0293380A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102608467A (en) * 2012-03-22 2012-07-25 深圳供电局有限公司 Method and system for transient power quality analysis

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