JPH02673Y2 - - Google Patents

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JPH02673Y2
JPH02673Y2 JP18289183U JP18289183U JPH02673Y2 JP H02673 Y2 JPH02673 Y2 JP H02673Y2 JP 18289183 U JP18289183 U JP 18289183U JP 18289183 U JP18289183 U JP 18289183U JP H02673 Y2 JPH02673 Y2 JP H02673Y2
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JP
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vacuum chamber
test object
leak
holder
chamber
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Description

【考案の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 電磁弁、ダイヤフラム部などの被試験体の溶接
部の洩れテストなどに用いられるリークテスト装
置に関する。
[Detailed description of the invention] (a) Industrial application field This invention relates to a leak test device used for leak testing of welded parts of test objects such as solenoid valves and diaphragm parts.

(ロ) 従来技術 従来のリークテスト装置は、真空チヤンバ内に
設けられた被試験体接続用ホルダに被試験体を接
続し、前記ホルダから被試験体にヘリウムガスを
導入する。そして、被試験体の検査個所である溶
接部からのヘリウムのリーク量をリークデテクタ
によつて検出する。
(B) Prior Art In a conventional leak test apparatus, a test object is connected to a test object connection holder provided in a vacuum chamber, and helium gas is introduced from the holder into the test object. Then, a leak detector detects the amount of helium leaking from the welded portion, which is the inspection location of the test object.

しかしながら、前記被試験体とホルダとの接合
部からヘリウムガスがチヤンバ内に漏洩しやすい
ため、リーク量の測定を高精度にすることができ
ないという欠点がある。
However, since helium gas tends to leak into the chamber from the joint between the test object and the holder, there is a drawback that the amount of leakage cannot be measured with high accuracy.

(ハ) 目的 この考案は、被試験体とホルダとの接合部から
漏洩するヘリウムガスに起因するリーク量の測定
精度の低下を防止し得るリークテスト装置を提供
することを目的としている。
(c) Purpose The purpose of this invention is to provide a leak test device that can prevent a decrease in the accuracy of measuring the amount of leakage caused by helium gas leaking from the joint between the test object and the holder.

(ニ) 構成 この考案は、被試験体にプローブガスを導入し
て、そのリーク量を検出するリークテスト装置で
あつて、内部チヤンバによつて形成される内部真
空室と、内部チヤンバと外部チヤンバによつて形
成される外部真空室とを備え、 前記内部真空室は被試験体とホルダとの接合部
のリークパスに連通し、真空排気手段に接続され
るものであり、 外部真空室は少なくとも被試験体の検査部分を
収納し、真空排気手段とリークデテクタに接続さ
れるものであることを特徴としている。
(D) Structure This device is a leak test device that introduces a probe gas into a test object and detects the amount of leakage. and an external vacuum chamber formed by the test object and the holder, the internal vacuum chamber communicates with a leak path at the joint between the test object and the holder, and is connected to evacuation means, and the external vacuum chamber at least It is characterized by housing the inspection part of the test specimen and being connected to a vacuum evacuation means and a leak detector.

(ホ) 実施例 第1図はこの考案に係るリークテスト装置の一
実施例の構成を略示した説明図である。
(e) Embodiment FIG. 1 is an explanatory diagram schematically showing the structure of an embodiment of a leak test device according to the invention.

同図において、1は内部チヤンバであつて、こ
の内部チヤンバ1内は内部真空室を形成する。2
は外部チヤンバであつて、前記内部チヤンバ1と
外部チヤンバ2との空間は外部真空室を形成す
る。3は前記内部チヤンバ1および外部チヤンバ
2が載置されるベースプレートである。また41
〜45は各構成部品の接合部に設けられるシール
材としてのゴムガスケツトである。
In the figure, 1 is an internal chamber, and the inside of this internal chamber 1 forms an internal vacuum chamber. 2
is an external chamber, and the space between the internal chamber 1 and the external chamber 2 forms an external vacuum chamber. 3 is a base plate on which the inner chamber 1 and outer chamber 2 are placed. Also 41
45 are rubber gaskets as sealing materials provided at the joints of each component.

10は、例えば溶接部11のシール状態を検査
される被試験体(例えば、電磁弁)である。被試
験体10は内部チヤンバ1の上部に設けられた孔
から外部真空室に開口しているホルダ20の接合
部21に螺着される。しかして、すくなくとも検
査個所である溶接部11は外部真空室に設けられ
る。
Reference numeral 10 denotes a test object (for example, a solenoid valve) whose sealing state of the welded portion 11 is inspected. The test object 10 is screwed onto a joint 21 of a holder 20 that opens into an external vacuum chamber through a hole provided at the top of the internal chamber 1 . Thus, at least the welded portion 11, which is the inspection point, is provided in the external vacuum chamber.

ホルダ20にはその底部と前記接合部21に開
口するヘリウムガス導通孔22が設けられる。し
かして、ゴムガスケツト44から前記接合部21
の螺合面にそつて存在する若干の間隙は、導通孔
22から導入されるヘリウムガスが漏洩する通路
であるリークパスとなり得る。このリークパスと
内部真空室とを連通する小孔23がホルダ20の
側壁に設けられる。
The holder 20 is provided with a helium gas communication hole 22 that opens to the bottom of the holder 20 and the joint portion 21 . Therefore, from the rubber gasket 44 to the joint portion 21
A slight gap existing along the screwing surface of the through hole 22 may become a leak path through which the helium gas introduced from the through hole 22 leaks. A small hole 23 is provided in the side wall of the holder 20 to communicate this leak path with the internal vacuum chamber.

30はベースプレート3の中央部に設けられ、
ホルダ20を固定する手段であるチヤツクであ
る。このチヤツク30は、ホルダ20の下部が挿
入される円筒状の支持部31と、ホルダ20に貫
挿されて支持部31と螺合する螺合蓋32を含
む。この螺合蓋32は押圧リング33を介してゴ
ムガスケツト45を押圧することにより、ホルダ
20と支持部31との間をシーールする。また、
支持部31にはホルダ20の導通孔22にヘリウ
ムガスを導入するガス導入孔51が設けられてい
る。
30 is provided at the center of the base plate 3,
This is a chuck that is a means for fixing the holder 20. The chuck 30 includes a cylindrical support portion 31 into which the lower portion of the holder 20 is inserted, and a screw lid 32 that is inserted through the holder 20 and screwed into the support portion 31. This screw-on lid 32 seals between the holder 20 and the support portion 31 by pressing the rubber gasket 45 through the press ring 33. Also,
The support portion 31 is provided with a gas introduction hole 51 for introducing helium gas into the conduction hole 22 of the holder 20 .

一方、内部真空室のベースプレート3には、排
気孔52が設けられれる。内部真空室はこの排気
孔52から、バルブ61を介して真空排気ポンプ
71によつて真空排気される。
On the other hand, an exhaust hole 52 is provided in the base plate 3 of the internal vacuum chamber. The internal vacuum chamber is evacuated from this exhaust hole 52 by a vacuum pump 71 via a valve 61.

さらに、外部真空室のベースプレート3には、
排気孔53が設けられる。外部真空室はこの排気
孔53から、バルブ62を介して真空排気ポンプ
72によつて真空排気される。排気孔53はバル
ブ63を介してリークデテクタ80にも接続され
ている。リークデテクタ80は被試験体10の溶
接部11から外部真空室に漏洩したヘリウムガス
の量を検出する。
Furthermore, on the base plate 3 of the external vacuum chamber,
An exhaust hole 53 is provided. The external vacuum chamber is evacuated from this exhaust hole 53 by a vacuum pump 72 via a valve 62. The exhaust hole 53 is also connected to a leak detector 80 via a valve 63. The leak detector 80 detects the amount of helium gas leaked from the weld 11 of the test object 10 into the external vacuum chamber.

次に上述の構成を備えた実施例の動作について
説明する。
Next, the operation of the embodiment having the above-described configuration will be explained.

被試験体10にヘリウムガスを導入するまえ
に、バルブ61,62を開放(バルブ63は閉
成)して、外部真空室と内部真空室とを差圧がで
きないように真空排気する。次に、バルブ62を
閉成して、被試験体10にヘリウムガスを導入す
るとともに、バルブ63を開放して、被試験体1
0のリーク量を検出する。
Before introducing helium gas into the test object 10, valves 61 and 62 are opened (valve 63 is closed) to evacuate the external vacuum chamber and the internal vacuum chamber so that no pressure difference is created. Next, the valve 62 is closed to introduce helium gas into the test object 10, and the valve 63 is opened to introduce the helium gas into the test object 10.
Detect a leakage amount of 0.

このとき、被試験体10とホルダ20との接合
部でヘリウムガスの漏洩があつても、このヘリウ
ムガスはリークパスに設けられた小孔23を通つ
て、内部真空室に導出されるので、外部真空室に
浸入することはほとんどない。
At this time, even if helium gas leaks at the joint between the test object 10 and the holder 20, this helium gas is led out to the internal vacuum chamber through the small hole 23 provided in the leak path. It almost never enters the vacuum chamber.

なお、上述の実施例では、1個の被試験体10
を測定する場合について説明した。しかし、この
考案はこれに限られるものではなく、例えば、第
2図に示すように複数個の被試験体を同時に測定
するものであつてもよい。同図において第1図と
同一部分は同一符号で示している。
In addition, in the above-mentioned embodiment, one test object 10
We have explained the case of measuring . However, this invention is not limited to this; for example, as shown in FIG. 2, a plurality of test objects may be measured simultaneously. In this figure, the same parts as in FIG. 1 are indicated by the same reference numerals.

(ヘ) 効果 この考案に係るリークテスト装置は、被試験体
とホルダとの接合部から漏洩したヘリウムガスを
導出する内部真空室と、被試験体と検査個所から
の漏洩したヘリウムガスを溜める外部真空室とを
個別に備えるものであるから、被試験体のリーク
量の測定に前者の漏洩ヘリウムガスの影響を受け
ることがない。したがつて、この考案によれば、
被試験体のリーク量の測定を高精度に行うことが
できる。
(f) Effect The leak test device according to this invention has an internal vacuum chamber that extracts helium gas leaking from the joint between the test object and the holder, and an external vacuum chamber that collects the helium gas leaking from the test object and the inspection location. Since it is equipped with a separate vacuum chamber, the measurement of the leakage amount of the test object is not affected by the leaked helium gas of the former. Therefore, according to this idea,
The leakage amount of the test object can be measured with high accuracy.

また、被試験体とホルダとの接合部のリークの
影響を受けることが著しく少ないから、多数の被
試験体を一度に試験できる。したがつて、この考
案によれば、作業能率を向上させ得るという付随
した効果も期待できる。
Further, since the influence of leakage at the joint between the test object and the holder is extremely low, a large number of test objects can be tested at once. Therefore, according to this invention, the accompanying effect of improving work efficiency can also be expected.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの考案にかかるリークテスト装置の
一実施例の構成を略示した説明図である。第2図
は複数個の被試験体を測定する場合の実施例を略
示した説明図である。 1…内部チヤンバ、2…外部チヤンバ、3…ベ
ースプレート、10…被試験体、20…ホルダ、
23…小孔、30…チヤツク部。
FIG. 1 is an explanatory diagram schematically showing the structure of an embodiment of the leak test device according to the invention. FIG. 2 is an explanatory diagram schematically showing an embodiment in which a plurality of test objects are measured. 1... Internal chamber, 2... External chamber, 3... Base plate, 10... Test object, 20... Holder,
23...small hole, 30...chuck part.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】 被試験体にプローブガスを導入して、そのリー
ク量を検出するリークテスト装置において、 前記リークテスト装置は内部チヤンバによつて
形成される内部真空室と、内部チヤンバと外部チ
ヤンバによつて形成される外部真空室とを備え、 前記内部真空室は被試験体とホルダとの接合部
のリークパスに連通し、真空排気手段に接続され
るものであり、 外部真空室は少なくとも被試験体の検査部分を
収納し、真空排気手段とリークデテクタに接続さ
れるものであることを特徴とするリークテスト装
置。
[Claims for Utility Model Registration] A leak test device that introduces a probe gas into a test object and detects the amount of leakage, the leak test device comprising: an internal vacuum chamber formed by an internal chamber; and an external vacuum chamber formed by an external chamber, the internal vacuum chamber communicating with a leak path at the joint between the test object and the holder, and connected to evacuation means, the external vacuum chamber 1. A leak test device, which houses at least an inspection part of a test object and is connected to a vacuum evacuation means and a leak detector.
JP18289183U 1983-11-27 1983-11-27 Leak test device Granted JPS6090649U (en)

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JP18289183U JPS6090649U (en) 1983-11-27 1983-11-27 Leak test device

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