JPH0261629B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0261629B2 JPH0261629B2 JP59077897A JP7789784A JPH0261629B2 JP H0261629 B2 JPH0261629 B2 JP H0261629B2 JP 59077897 A JP59077897 A JP 59077897A JP 7789784 A JP7789784 A JP 7789784A JP H0261629 B2 JPH0261629 B2 JP H0261629B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cryopanel
- exhaust
- cryopump
- condensing
- gas
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims description 12
- 239000003463 adsorbent Substances 0.000 claims description 9
- 230000005494 condensation Effects 0.000 claims description 8
- 238000009833 condensation Methods 0.000 claims description 8
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 20
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 15
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 238000007710 freezing Methods 0.000 description 11
- 230000008014 freezing Effects 0.000 description 11
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 9
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 6
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 4
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000002808 molecular sieve Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- URGAHOPLAPQHLN-UHFFFAOYSA-N sodium aluminosilicate Chemical compound [Na+].[Al+3].[O-][Si]([O-])=O.[O-][Si]([O-])=O URGAHOPLAPQHLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 239000002470 thermal conductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Compressors, Vaccum Pumps And Other Relevant Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、クライオポンプに関し、特に、水素
に対する排気の調整能力(凝縮性気体の排気中の
水素排気の調整能力)を著しく向上させたクライ
オポンプを提供するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a cryopump, and in particular provides a cryopump with significantly improved ability to adjust exhaust gas for hydrogen (ability to adjust hydrogen exhaust during exhaust of condensable gas). .
近年、10〓〜20〓の到達温度をもつ小型ヘリウ
ム冷凍機を用いたクライオポンプが、真空装置の
排気ポンプとして広く用いられる様になつた。従
来、この種のクライオポンプには二段の冷凍ステ
ージをもつ小型ヘリウム冷凍機が用いられるのが
通常である。第1図にそのクライオポンプの略図
を示す。この小型ヘリウム冷凍機4の一段目の冷
凍ステージ1は、ポンプ容器8内にて通常50〓〜
100〓程度の温度に冷却され、二段目の冷凍ステ
ージ2は、通常10〓〜20〓程度に冷却される。こ
の二段目の冷却ステージ2には気体凝縮のための
第2の凝縮型クライオパネル22が取り付けら
れ、この第2の凝縮型クライオパネル22により
主にAr,N2,O2などの気体の凝縮排気が行なわ
れる。He,Ne,H2などは10〓〜20〓の温度で
は高い飽和蒸気圧を示し、この第2の凝縮型クラ
イオパネル22では凝縮排気が不可能である。第
2の凝縮型クライオパネル22により凝縮排気が
不可能な気体を排気する為に、活性炭等の気体吸
着剤を貼り付けた第3の吸着型クライオパネル3
2が同じく二段目の冷凍ステージ2に取り付けら
れる。(第3の吸着型クライオパネル32が第2
の凝縮型クライオパネル22と一体構造をなして
二段目の冷凍ステージ2に取り付けられることも
ある。)一方、一段目の冷凍ステージ1には、二
段目の冷凍ステージ2及びそれに取り付けられた
第2及び第3のクライオパネル22及び32を覆
う様な形でH2O,CO2などの気体の凝縮のための
第1の凝縮型クライオパネル11が取り付けられ
る。この第1の凝縮型クライオパネル11の底部
110は、第2及び第3のクライオパネル22及
び32へ輻射熱の入射を防ぐための輻射熱シール
ドの役目をも為している。 In recent years, cryopumps using small helium refrigerators with an ultimate temperature of 10 to 20 degrees have become widely used as exhaust pumps for vacuum equipment. Conventionally, this type of cryopump typically uses a small helium refrigerator with two freezing stages. Figure 1 shows a schematic diagram of the cryopump. The first freezing stage 1 of this small helium refrigerator 4 is normally 50~
The second freezing stage 2 is usually cooled to a temperature of about 10 to 20 degrees. A second condensation type cryopanel 22 for gas condensation is attached to this second cooling stage 2, and this second condensation type cryopanel 22 mainly converts gases such as Ar, N 2 , O 2 etc. Condensate exhaust is performed. He, Ne, H2, etc. exhibit high saturated vapor pressures at temperatures of 10 to 20 degrees, and cannot be condensed and exhausted in this second condensing type cryopanel 22. In order to exhaust gas that cannot be condensed and exhausted by the second condensation type cryopanel 22, a third adsorption type cryopanel 3 is attached with a gas adsorbent such as activated carbon.
2 is also attached to the second freezing stage 2. (The third adsorption type cryopanel 32
It may also be attached to the second freezing stage 2 integrally with the condensing cryopanel 22. ) On the other hand, gas such as H 2 O and CO 2 is supplied to the first freezing stage 1 in such a way as to cover the second freezing stage 2 and the second and third cryopanels 22 and 32 attached thereto. A first condensing type cryopanel 11 for condensing is attached. The bottom portion 110 of the first condensing cryopanel 11 also serves as a radiant heat shield to prevent radiant heat from entering the second and third cryopanels 22 and 32.
なお、第2及び第3のクライオパネル22及び
32はともに逆コツプ型、隙間を有する円筒型の
構造をもち、前者22が後者32を覆う構成をと
る。後者の吸着型クライオパネル32は、その表
面に表面積の著るしく大きい吸着剤、例えばモレ
キユラシーブ、活性炭等を保持し、吸着剤の吸着
能によつてHe,Ne,H2などの凝縮し難いガス
を吸着排気する。 The second and third cryopanels 22 and 32 both have an inverted cup-shaped structure and a cylindrical structure with a gap, with the former 22 covering the latter 32. The latter adsorption type cryopanel 32 holds an adsorbent with a significantly large surface area, such as molecular sieves or activated carbon, on its surface, and depending on the adsorption ability of the adsorbent, it can absorb gases that are difficult to condense, such as He, Ne, and H2 . Adsorb and exhaust.
上記の様な構造の従来のクライオポンプにおい
ても、負荷が小さい限りでは、ほとんどすべての
装置において気体の大きな速度で排気する事が可
能である。 Even with conventional cryopumps having the structure described above, as long as the load is small, it is possible to pump out gas at a high velocity in almost all devices.
しかしながら、最近は、クライオポンプの用途
が拡がり半導体製造装置等に広く使用されるよう
になり、たとえばスパツタリング装置の処理室
(ロード・アンロードチエンバー,クリーニング
チエンバー,スパツタリングチエンバー)の主排
気系にこの種のクライオポンプが使われるように
なりこのスパツタリング装置への利用では殊にス
パツタリング膜質に悪影響をおよぼすH2の大量
排気の必要性が増加してきた。 However, recently, the applications of cryopumps have expanded and they are now widely used in semiconductor manufacturing equipment. As this type of cryopump has come to be used in the exhaust system, the need for evacuation of a large amount of H 2 , which has an adverse effect on the quality of the sputtering film, has increased especially when used in sputtering equipment.
従来の第1図のクライオポンプでは選択的に水
素を排気することは困難であり、特に高真空領域
における水素の排気や上述したスパツター中に生
成した水素の排気では前記した第3の吸着型クラ
イオパネルのモレキユラシーブ、活性炭等の吸着
剤へのHH2分子入射頻度が少ないことから、水
素の排気に長時間を要し、時間短縮のためには、
ポンプを大型化する必要があつた。 It is difficult to selectively exhaust hydrogen with the conventional cryopump shown in Fig. 1, and the third adsorption type cryopump described above is particularly difficult to exhaust hydrogen in a high vacuum region or exhaust hydrogen generated during the sputtering described above. Since the incidence of two HH molecules on adsorbents such as molecular sieves and activated carbon in panels is low, it takes a long time to exhaust hydrogen, so to shorten the time,
It was necessary to make the pump larger.
本発明はこの問題の解決を目的とする。スパツ
タリング装置では、スパツタリングでターグツト
等から大量のH2が放出されることがあり、スパ
ツタ室内のH2分圧が高くなると生成する膜の質
に重大な影響を与えるので、H2の迅速な排気を
必要とする。しかし、スパツタリングが開始され
る前の初期排気では、排気すべきH2の量は極め
て小量である。また、同じスパツタリングでも、
工程によつてはH2の放出が殆んど無視できる程
度のこともある。 The present invention aims to solve this problem. In sputtering equipment, a large amount of H 2 may be released from the target etc. during sputtering, and a high partial pressure of H 2 in the sputtering chamber will seriously affect the quality of the produced film, so it is necessary to quickly exhaust H 2 . Requires. However, in the initial evacuation before sputtering starts, the amount of H 2 to be evacuated is extremely small. Also, even with the same sputtering,
Depending on the process, the release of H 2 may be almost negligible.
似たようなことは、第2の凝縮型クライオパネ
ル22が担当するAr,N2,O2のガスの排気につ
いても存在する。この方では一般に、スパツタリ
ング前の初期排気で大量のN2,O2等の排気を必
要としスパツタリング開始後は排気能力のかなり
の低下が許される。 A similar situation exists regarding the exhaust of Ar, N 2 , and O 2 gases, which are handled by the second condensing cryopanel 22 . In general, this method requires a large amount of N 2 , O 2 , etc. to be exhausted during the initial exhaust before sputtering, and the exhaust capacity is allowed to decrease considerably after sputtering starts.
ところで、前述のようにヘリウム冷凍機の二段
目の冷凍ステージ2に取付けられる約10K〜20K
の温度に冷却される第2の凝縮型クライオパネル
22は、銅などの熱良導体により作られ、N2,
O2Ar等を10〓〜20〓の温度で凝縮する。一方活
性炭等の気体吸着剤を備えた第3のクライオパネ
ル32は、銅などの熱良導体に活性炭等の気体吸
着剤を貼り付けたもので、その低温での気体吸着
能力を利用して、10〓〜20〓の温度では比較的高
い蒸気圧を有する凝縮排気不可能のHe,H2,
Neの吸着排気を行うものであるが、一般に、気
体吸着剤ではその気体吸着量に制限があり、大量
のN2,ArO2などの気体吸着剤に吸着されると、
その本来の目的であるHe,H2,Neの排気能力
が著しく損なわれてしまう。この為、第3の吸着
型クライオパネル32は第2の凝縮型クライオパ
ネル22で覆われた構造となし、大部分の気体は
活性炭の面へ到達する前に少なくとも一回は第2
の凝縮型クライオパネル22面に入射してこゝで
凝縮し、活性炭面へは第2の凝縮型クライオパネ
ル22で凝縮排気され得ないHe,H2,Neのみ
が到達し得る様な構造上の考慮が払われている。 By the way, as mentioned above, about 10K to 20K is attached to the second freezing stage 2 of the helium refrigerator.
The second condensing cryopanel 22 , which is cooled to a temperature of
Condenses O 2 Ar etc. at a temperature of 10〓~20〓. On the other hand, the third cryopanel 32 equipped with a gas adsorbent such as activated carbon is made by pasting a gas adsorbent such as activated carbon on a good thermal conductor such as copper, and utilizes its low temperature gas adsorption ability to He, H 2 , which has a relatively high vapor pressure at temperatures between 〓 and 20〓 and cannot be condensed and pumped out,
Although Ne is adsorbed and exhausted, gas adsorbents generally have a limit to the amount of gas adsorbed, and when a large amount of N 2 , ArO 2 , etc.
Its original purpose, the ability to exhaust He, H 2 and Ne, is significantly impaired. For this reason, the third adsorption cryopanel 32 is covered with the second condensation cryopanel 22, and most of the gas passes through the second cryopanel at least once before reaching the activated carbon surface.
Due to the structure, only He, H 2 and Ne that cannot be condensed and exhausted by the second condensing cryopanel 22 can reach the activated carbon surface. consideration is given.
しかし、このような構造のクライオポンプには
このまゝでは既に述べた様な重大な欠点があり、
即ち、スパツタリングが開始される等で多量の
H2の排気が必要になると忽ち排気能力不足に悩
まされることになる。 However, cryopumps with this structure have serious drawbacks as mentioned above.
In other words, a large amount of
When it becomes necessary to exhaust H 2 , the exhaust capacity becomes insufficient.
本発明はこの問題を解決するために、第2の凝
縮型クライオパネル22に開口部を設け、かつそ
の開口率を可変にし、コンダクタンスを真空外よ
り調節できる構造にしたものである。 In order to solve this problem, the present invention provides a structure in which an opening is provided in the second condensing cryopanel 22, and the opening ratio is made variable so that the conductance can be adjusted from outside the vacuum.
以下、実施例により、図面を参照しつゝ本発明
を詳細説明する。第2,3図は本発明の実施例の
クライオポンプであつて、スパツタリング装置の
主排気系に使用するるものを示す。第1図と同一
の部材には同一の符号を与えている。この実施例
では、第1図の22の第2の凝縮型クライオパネ
ルは、ともに逆コツプ状で無酸素銅製の同軸に重
畳する固定パネル221と可動パネル222の二
者の組合せで構成されている。両パネルは半径方
向に若干の間隙220を有する。固定パネル22
1は第2冷凍ステージ2に固定されているが、軸
心20にて上方に軸24を突起し、この突起軸2
4は可動パネル222の穴26に遊挿されて、可
動パネル222は軸24の回りに回動可動となつ
ている。 Hereinafter, the present invention will be explained in detail by way of examples and with reference to the drawings. FIGS. 2 and 3 show a cryopump according to an embodiment of the present invention, which is used in the main exhaust system of a sputtering device. The same members as in FIG. 1 are given the same reference numerals. In this embodiment, the second condensing cryopanel 22 in FIG. 1 is composed of a fixed panel 221 and a movable panel 222, both of which have an inverted top shape and are made of oxygen-free copper and overlap coaxially. . Both panels have some radial gap 220. Fixed panel 22
1 is fixed to the second freezing stage 2, and a shaft 24 is projected upward at the shaft center 20, and this projection shaft 2
4 is loosely inserted into the hole 26 of the movable panel 222, and the movable panel 222 is rotatably movable around the shaft 24.
固定パネル221と可動パネル222の間の上
部軸方向の摺動間隙には、両者間の伝熱を充分な
ものにするための詰めもの25が置かれている。
これには例えば広面積,薄型の無酸素銅製メツシ
ユが用いられる。 A padding 25 is placed in the upper axial sliding gap between the fixed panel 221 and the movable panel 222 to ensure sufficient heat transfer between them.
For example, a wide-area, thin oxygen-free copper mesh is used.
両パネル221と222のスカート部には、互
に重なる位置に、多数の開口孔21と23が設け
られている。パネルの温度分布の均一性を確保す
るために、開口孔の形状は橢円を採用している。
かつ開口孔の配置も回転軸に対し対象形にしてい
る。 A large number of openings 21 and 23 are provided in the skirt portions of both panels 221 and 222 at mutually overlapping positions. In order to ensure uniformity of temperature distribution in the panel, the shape of the opening holes is oval.
Moreover, the arrangement of the opening holes is also symmetrical with respect to the rotation axis.
可動パネル222を回動させるアーム27は、
熱不良導体材料で作られ、その先端部を可動パネ
ル222の上端の縁部の突起軸28に遊挿し、基
部をベローズ30の遊板31に固定された枢軸2
9に遊挿している。このベローズ30の遊板31
の前進,後退は、ポンプ容器8に固定されれた枠
81に螺合しているネジ32′を、真空外のハン
ドル33で回して可能となるようになつている。
従つて可動パネル222はハンドル33の操作で
軸心20の操作で軸心20のまわりに回動させる
ことができ、そのときは開口孔21,23の重な
りはずれて、第3の吸着型クライオパネルから外
方を眺めたとき開口面積は縮小し、ガスのコンダ
クタンスが減少する。 The arm 27 that rotates the movable panel 222 is
A pivot shaft 2 made of a thermally poor conductor material, whose tip part is loosely inserted into the protruding shaft 28 at the upper edge of the movable panel 222, and whose base part is fixed to the play plate 31 of the bellows 30.
9 is loosely inserted. Play plate 31 of this bellows 30
The pump can be moved forward and backward by turning a screw 32' screwed into a frame 81 fixed to the pump container 8 using a handle 33 outside the vacuum.
Therefore, the movable panel 222 can be rotated around the axis 20 by operating the handle 33 and the axis 20, and in this case, the opening holes 21 and 23 are deviated from overlapping, and the third suction type cryopanel is moved. When viewed from outside, the opening area shrinks and the gas conductance decreases.
上記のように構成した本発明のクライオポンプ
は、次の如く運転する。即ち、スパツタリング装
置の初期の排気工程では、開口孔21,23の重
なりをゼロにし、従つて開口面積を無くして、
N2,O2等が充分にパネル221,222で凝縮
し、吸着型クライオパネルには可及的に到達しな
いようにして吸着剤の吸着能力の低下を防止す
る。そしてN2O2等が充分に排気されたあとのス
パツタリング工程では、ターゲツト等から生れる
大量のH2等を排気するため、ハンドル33の操
作で可動パネル222を回転し開口面積従つてガ
スのコンダクタンスを大にして、H2分子が高頻
度で第3の吸着型クライオパネルに衝突するよう
にするのである。スパツタリング工程中のコンダ
クタンスの調整はArガスとH2ガスの組成の変化
に応じて行う。このガスのコンダクタンスを変更
する運転は、上記以外でも、真空装置を利用する
用途の工程で活用され、大きい効果をあげるもの
である。 The cryopump of the present invention configured as described above operates as follows. That is, in the initial exhaust process of the sputtering device, the overlap between the openings 21 and 23 is made zero, and therefore the opening area is eliminated,
N 2 , O 2 , etc. are sufficiently condensed on the panels 221 and 222, and are prevented from reaching the adsorption cryopanel as much as possible, thereby preventing a decrease in the adsorption capacity of the adsorbent. In the sputtering process after N 2 O 2 etc. have been sufficiently exhausted, the movable panel 222 is rotated by operating the handle 33 in order to exhaust a large amount of H 2 etc. generated from the target etc. The conductance is increased so that H 2 molecules collide with the third adsorption cryopanel more frequently. Adjustment of conductance during the sputtering process is performed according to changes in the composition of Ar gas and H 2 gas. This operation of changing the conductance of the gas is used in processes other than those described above that utilize vacuum equipment, and is highly effective.
なお、上述の実施例にては、第2の凝縮型クラ
イオパネルを、互に重畳する相対運動可能な二つ
のパネルの組合せで構成し、二つのパネルのそれ
ぞれに、その重なり合う位置に開口孔を設け、相
対運動によつて開口面積を変化させるものを示し
たが、本発明の開口部の構成及び開口面積の変更
方法はこれに限定されない。凝縮型クライオパネ
ルには様々の形状,構成があり、本発明はそのそ
れぞれに於て、それに適した実施態様も持つもの
である。 In the above-mentioned embodiment, the second condensation cryopanel is constructed by a combination of two panels that overlap each other and are movable relative to each other, and each of the two panels has an opening hole at the overlapping position. Although the structure of the opening and the method of changing the opening area of the present invention are not limited to this, the opening area is changed by the relative movement. There are various shapes and configurations of condensing cryopanels, and the present invention has embodiments suitable for each of them.
本発明のクライオポンプは上述の通りであつて
ともに20〓以下で運転される、凝縮型クライオパ
ネルとそれで覆われる吸着型クライオパネルを備
えるクライオポンプにおいて、この凝縮型クライ
オパネルに開口部を設けその開口面積を変更でき
るようにすることで、H2の排気能力を大幅に調
整できるようにしたものである。本発明の装置に
よれば、H2の発生の多い大型のスパツタリング
装置等に対しても、小さい容量のクライオポンプ
で充分に対応し、良質の処理を行うことができ、
大きい経済性を生むものである。半導体装置の製
造等において本発明のクライオポンプの寄与する
ところは甚大である。工業上有為の発明というこ
とができる。 The cryopump of the present invention is as described above, and is a cryopump equipped with a condensing type cryopanel and an adsorption type cryopanel covered with the condensing type cryopanel, both of which are operated at 20ⓓ or less. By making it possible to change the opening area, the H 2 exhaust capacity can be adjusted significantly. According to the apparatus of the present invention, a small-capacity cryopump can sufficiently cope with large-scale sputtering equipment that generates a large amount of H2 , and can perform high-quality processing.
This produces great economic efficiency. The contribution of the cryopump of the present invention to the manufacture of semiconductor devices is enormous. This can be said to be an industrially useful invention.
第1図は従来のクライオポンプの断面図。第2
図は本発明の実施例のクライオパネルの断面図。
第3図はその第2の凝縮型クライオパネルの拡大
分解図である。
1:第1段冷凍ステージ、2:第2段冷凍ステ
ージ、11:第1の凝縮型クライオパネル、2
2,221+222:第2の凝縮型クライオパネ
ル、32:吸収型クライオパネル、21,23:
開口孔、24:突起軸、26:孔、27:アー
ム、221:固定パネル、222:可動パネル、
30:ベローズ、33:ハンドル。
Figure 1 is a cross-sectional view of a conventional cryopump. Second
The figure is a sectional view of a cryopanel according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is an enlarged exploded view of the second condensing cryopanel. 1: 1st freezing stage, 2: 2nd freezing stage, 11: 1st condensing cryopanel, 2
2,221+222: second condensation cryopanel, 32: absorption cryopanel, 21,23:
Opening hole, 24: Projection shaft, 26: Hole, 27: Arm, 221: Fixed panel, 222: Movable panel,
30: bellows, 33: handle.
Claims (1)
ための凝縮型クライオパネルと、該パネルで覆わ
れかつほぼ20〓以下の温度に冷却される気体吸着
剤を備えた吸着型クライオパネルとを備えるクラ
イオポンプにおいて、該凝縮型クライオパネル
を、互いに重畳しかつ相対運動の可能な二つのパ
ネルの組合わせで構成するとともに、該二つのパ
ネルのそれぞれには、その重なり合う位置に開口
孔を設け、該相対運動によつて該開口孔の重なり
をずらせ、これによつて該開口部の開口面積が変
更されるようにしたことを特徴とするクライオポ
ンプ。1. A condensation type cryopanel for condensing gas that is cooled to a temperature of approximately 20㎓ or less, and an adsorption type cryopanel that is covered with the panel and equipped with a gas adsorbent that is cooled to a temperature of approximately 20ん or less. In the cryopump, the condensing cryopanel is configured by a combination of two panels that overlap each other and are movable relative to each other, and each of the two panels is provided with an opening at the overlapping position, A cryopump characterized in that the overlapping of the apertures is shifted by the relative movement, thereby changing the opening area of the aperture.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7789784A JPS60222572A (en) | 1984-04-18 | 1984-04-18 | Cryopump |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7789784A JPS60222572A (en) | 1984-04-18 | 1984-04-18 | Cryopump |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60222572A JPS60222572A (en) | 1985-11-07 |
JPH0261629B2 true JPH0261629B2 (en) | 1990-12-20 |
Family
ID=13646864
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7789784A Granted JPS60222572A (en) | 1984-04-18 | 1984-04-18 | Cryopump |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60222572A (en) |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04103885A (en) * | 1990-08-24 | 1992-04-06 | Daikin Ind Ltd | Cryopanel in cryopump |
US5301511A (en) * | 1992-06-12 | 1994-04-12 | Helix Technology Corporation | Cryopump and cryopanel having frost concentrating device |
ATE181141T1 (en) * | 1994-07-20 | 1999-06-15 | Applied Materials Inc | VACUUM CHAMBER FOR ULTRA-HIGH VACUUM TREATMENT AT HIGH TEMPERATURE |
US6361618B1 (en) | 1994-07-20 | 2002-03-26 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for forming and maintaining high vacuum environments |
US5972183A (en) * | 1994-10-31 | 1999-10-26 | Saes Getter S.P.A | Getter pump module and system |
US5685963A (en) * | 1994-10-31 | 1997-11-11 | Saes Pure Gas, Inc. | In situ getter pump system and method |
US5911560A (en) * | 1994-10-31 | 1999-06-15 | Saes Pure Gas, Inc. | Getter pump module and system |
US6142742A (en) * | 1994-10-31 | 2000-11-07 | Saes Pure Gas, Inc. | Getter pump module and system |
US6109880A (en) * | 1994-10-31 | 2000-08-29 | Saes Pure Gas, Inc. | Getter pump module and system including focus shields |
US6077404A (en) | 1998-02-17 | 2000-06-20 | Applied Material, Inc. | Reflow chamber and process |
CN1882779A (en) | 2003-11-20 | 2006-12-20 | 住友重机械工业株式会社 | Cryopump |
EP2041434B1 (en) | 2006-07-05 | 2012-02-01 | Von Ardenne Anlagentechnik Gmbh | Getter pump and vacuum coating installation comprising a getter pump |
GB2596832A (en) * | 2020-07-08 | 2022-01-12 | Edwards Vacuum Llc | Cryopump |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60178982A (en) * | 1984-02-27 | 1985-09-12 | Toshiba Corp | Cryo-pump |
-
1984
- 1984-04-18 JP JP7789784A patent/JPS60222572A/en active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60178982A (en) * | 1984-02-27 | 1985-09-12 | Toshiba Corp | Cryo-pump |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS60222572A (en) | 1985-11-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPH0261629B2 (en) | ||
US5855118A (en) | Combination cryopump/getter pump and method for regenerating same | |
US4449373A (en) | Reduced vacuum cryopump | |
WO1997035652A9 (en) | Combination cryopump/getter pump and method for regenerating same | |
JPH04219478A (en) | Two stage type cryopump | |
JPH0216377A (en) | Cryopump | |
JPH0214554B2 (en) | ||
US4736591A (en) | Cryopumps | |
JPH06346848A (en) | Regenerating cryopump method and evacuation system thereof | |
JP3062706B2 (en) | Cryopump with low temperature trap | |
JP3961050B2 (en) | Vacuum exhaust device | |
JPS58131381A (en) | Cryogenic pump and refrigerator for said pump | |
JP4301532B2 (en) | Cryopump regeneration method | |
JP3604228B2 (en) | Vacuum exhaust device | |
JPH10213065A (en) | Variable baffle type cryopump | |
JPS6328203Y2 (en) | ||
JP2568364B2 (en) | Turbo pump with trap panel | |
JP2656199B2 (en) | Opening method of vacuum chamber and PVD apparatus | |
JPH0249977A (en) | Vacuum device | |
JPH0451669B2 (en) | ||
JPH07158562A (en) | Cryopump | |
JPS6040497B2 (en) | Vacuum heat treatment furnace with highly clean atmosphere generation mechanism | |
JP2000205124A (en) | Cryo-pump | |
JPS62203981A (en) | Method for condensing gaseous body to be condensed only on cryo-panel of cryopump | |
JPS6310310B2 (en) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |