JPH0261514A - スリット刃のクリアランス測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、金属条を所定ｒｆ＞にスリットするためのス
リット刃のクリアランスを簡易かつ高精度に測定し得る
クリアランス測定装置に関するものである。

［従来の技術］ テープ状の金属条を製造するには、生産性を考慮し、ま
ず広ｒｆｒの圧延条を圧延し、当該圧廷条を必要なｒｐ
のテープ材にスリット装置により裁断するのか通常であ
る。

第３図は、そのようなスリット装置のスリット刃１．１
−の取付は状況を示す見取図である。

相対する一方のシャフト４１１１１Ｊには、スリット刃
１．１か間隔を定める狭巾スリーブ２を間に挾んで固定
されており、他方のシャツ１〜４−　ｆｆ！ＩＩにはこ
れと噛み合せ使用される相手側スリット刃１１゛が間に
広巾スリーブ３を挾んで固定され、これらが図のように
相対向してセットされ、所定のクリアランスに設定され
使用される。

上記のようにスリット刃が組合せられた際のスリット刃
１と１−のクリアランスＣＬ１およびＣｌ３の間隔は、
スリット条を裁断する上で非常に重要であり、クリアラ
ンスか適切でないと、スリット端面の形状か不整となる
ばかりでなく裁断の際に異常応力か生じ、これか残留し
てその後の加工精度を低下させる原因となる。

このため、スリット刃の組合せに際してはこのクリアラ
ンス設定を慎重に行なう必要があるか、従来はスリット
刃１，１−のノアさと狭ｒｉスリーブ２および広ｒｉス
リーブ３それぞれのｒｌを合算し、その差から間接的に
クリアランスＣＬ＋およびＣｌ３を算出する方法が取ら
れてきた。ほかにも、スリンｌ’Ｂｌ、１−間にプラス
クリアランスすなわち両スリット刃の間に隙間が開くよ
うなりリアランス設定の場合には、ギャップゲージをそ
の隙間に挿入し、直接クリアランスをＪ−１定すること
も行なわれてきた。

［発明が解決しようとする課題］ 前記したスリット刃１，１−の厚さとスリーブ２．３の
シャフト軸方向の［ｔＪから間接的にクリアランスＣＬ
ｌ、ＣＬ２を算出する方法は、−見合理的にみえるかそ
の数値は計算値であって実ａｌｌｌ値ではないという問
題かある。

通常スリット刃が回転するときには、その機械精度の問
題によって刃先がシャフト方向に振れるいわゆる横振れ
が発生する。現在この横振れを止めることはきわめて困
難であり、市販のスリット装置では高精度のものでも数
μｍの横振れが存在することがわかっている。この故に
回転中クリアランスはつねに変動していることになり、
上記計算クリアランスはいわば１周期当りの平均クリア
ランス近傍の数値にすぎず、実用時点における実際のク
リアランスとは相違する。

さらに、上記計算で求め得るものは左右のクリアランス
の和すなわちＣＬＩ　＋ＣＬ２の値である、スリット刃
の厚さやスリーブの巾を高精度に測定すればＣＬｌ＋Ｃ
Ｌ２は正確に求め得るかも知れないが、単に和を求めて
もＣＬｌ＝ＣＬ２すなわち左右ともに同じクリアランス
となっているか否かは確認できないし、ＣＬｘ４ＣＬｚ
となっている可能性も大きいのである。

前記したように、クリアランスの値により切断面の形状
およびその際に切断面近傍に発生する残留応力には大き
な相違か生ずるから、もしもＣＬｔ４ＣＬｚの状態でス
リットが行なわれると、左右の切断面で残留応力に差異
か生じ、スリット条の捩れを惹き起して製品の形状不良
の原因となるし、スリットの際にスリット条に蛇行が発
生する原因ともなる。

さらにまた、前記ギャップゲージを使用してクリアラン
スを実測する方法では、隙間のできるプラスクリアラン
スの場合にのみしか適用できない。

一般に帯材をスリ／ティングする場合には、鉄鋼のよう
に破断応力の大きい材料のスリットには上記プラスクリ
アランスが適用されるが、銅のようにせん断応力の小さ
い材料ではせん断による変形が生じ易いために、対をな
すスリット刃に一定の面圧がかかるようにするマイナス
クリアランスが適用されるから、上記ギャップゲージを
使用することはできないのである。

本発明の目的は、上記したような従来技術の問題点を解
消し、プラスからマイナスの全範囲のクリアランスにつ
いて、これをつねに精確に実測することのできるクリア
ランス測定装置を堤供しようとするものである。

１課題を解決するための手段］ 本発明は、噛み合わされる対のスリット刃を挾んで当該
２枚のスリット刃より離間し得る間隔をもって平板と距
雛測定センサとを組合せ配置したことを基本的構成とす
るものであり、さらにマイナスクリアランスの測定をよ
り容易ならしめるために平板に切欠部を設け、かつ平板
を磁気材により構成することで安定したスリット刃への
接触を確保可能としたものである。

［作用］ 平板を一方のスリット刃の外側面に接触さぜ、距離セン
サにより当該センサと他方のスリット刃との間の間隔を
測定してやれば、スリット刃それぞれの厚みは予め精度
よくわがっているがら、クリアランスを極めて高精度に
求め得る。しがも、距雛センサは非接触であるから、実
際のスリット作業中におけるクリアランスの変動をも容
易に測定し得る。

［実施例］ 以下に、本発明について実施例を参Ｈｒｒ（Ｌ説明する
。

第１図は、本発明に係る測定装置を使用してスリット刃
１，１−のクリアランスＣＬを測定している様子を示す
説明図であり、第２図はそれを左側面より見た説明側面
図である。

一方のスリット刃１の外面に平板１１を接触させる一方
、当該平板１１に連結されたブラケット１２を介し、被
λ（り定スリット刃１，１−の外側面間の距離よりは大
きな離間距離Ａをもって距離測定用センサ１０が固定配
置される。

上記のように設置したら、センサ１０とスリット刃１−
の外側面との雅量距離りを測定するのである。スリット
刃１．１−の厚みｔｌ、ｔｚは予め高精度に測定するこ
とができるから、結局クリアランスＣＬは次式により容
易に求め得る。

ＣＬ＝Ａ　　（ｔ＋　＋ｔｚ　＋Ｄ） 第１図はプラスクリアランスの場合を例示するものであ
るが、マイナスクリアランスであっても同様にして測定
が可能である。

すなわち、マイナスクリアランスとはスリット刃１．１
−か血圧をもって接触している場合であるか、別の実験
によれば、スリット刃１１−に血圧がかかっても、それ
によるスリット刃１゜１−の刃先のたわみは当該刃先お
よびその周りのごく狭い範囲にのみ限られることがわか
っている。

従って、そのたわみの生ずるところを避ける意味で、図
に示すようにスリット刃の噛み合せ側に切欠部１１ａを
形成しておくのである。このようにずれば、スリッＩ・
刃の血圧によるたわみが平板にまで及ぶおそれがなく、
正確なマイナスクリアランスを求めることができる。

上記距離りを測定するための市販のセンサとしては、先
代、渦電流式など種々なタイプのものがあるが、本発明
はとくに限定するものではない。

この種センサは距ＭＤを１μｍ以下の精度で測定するこ
とができるから、本発明に係る測定装置の精度ら同程度
の精度に維持することは可能である。

しかしながら、そのような精度を維持するためには、平
板１１を手で支えスリブ１−刃１に押圧して接触させる
方法を用いたのでは無理がある。因みに、前記押圧して
平板を接触させた場き、接触圧が安定せず、１〜３μｍ
程度の変動か生ずるからである。

これを解決するには、平板を磁気保有させ磁石化するの
がよい、このように磁石化すれば、平板１１は清よりな
るスリ７１へ刃ｌに当該磁性強度に従いつねに一定の接
触圧をもって接触することとなり、前記接触圧の変動に
起因する誤差の発生が解消されて、前記したｉ／［Ｅ　
Ｍセンサ１０の有するｉｌ？１定精度にほぼ見合った高
精度のクリアランス測定か可能となる。

なお、ブラケット１２上での距離センサ１０の固定位置
を移動可能に構成することであらゆるスリット刃に対し
て汎用的に使用することが可能となるものである。

［発明の効果］ 以上の通り、本発明に（系る測定装置によれば、１μｍ
以下といった高精度で簡易かつ迅速にスリット刃のクリ
アランスを測定でき、しがも実用上でのクリアランスも
個々に直接実ｉＴ！ＩＩできるから、クリアランスを正
しく設定できるばかりでなく、左右のクリアランスの差
異の有無をも適確に検知することが可能となり、スリッ
ト柴の残留応力の低減と均衡化を図り高品質のスリント
榮を製造し得るなど、その工業上に及ぼす効用は非常に
大きなものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る測定装置によりクリアランスを測
定する様子を示す説明図、第２図はその側面図、第３図
はスリット刃の取付は状況を示す説明図である。 １．１　ニスリット刃、 ＩＯ＝距離測定センサ、 １１：平板、 １１ａ：切欠部。 代理人　　弁理士　　佐　藤　不二雄 第 ユニ、、４．＝＋”− 第２ 図 図 第３図

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）平板とこれに相対して配置された距離測定センサ
   とこれらを組合せ支持するブラケットよりなり、前記平
   板とセンサとの間の間隔は測定対象となる２枚の噛み合
   いスリット刃の外側面間の距離よりもさらに離間せしめ
   て構成してなるスリット刃のクリアランス測定装置。
2. （２）平板にはスリット刃の噛み合せ位置となるところ
   に切欠部を形成してなる請求項１記載のクリアランス測
   定装置。
3. （３）平板に磁気保有材料を使用してなる請求項１また
   は２記載のクリアランス測定装置。