JPH0256858B2 - - Google Patents

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JPH0256858B2
JPH0256858B2 JP8550083A JP8550083A JPH0256858B2 JP H0256858 B2 JPH0256858 B2 JP H0256858B2 JP 8550083 A JP8550083 A JP 8550083A JP 8550083 A JP8550083 A JP 8550083A JP H0256858 B2 JPH0256858 B2 JP H0256858B2
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JP
Japan
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voltage
constant voltage
gate
control device
fet
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Japanese (ja)
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JPS59211327A (en
Inventor
Yoshihiro Harunari
Takashi Kanbe
Ryuji Tokuda
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Canon Inc
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Canon Inc
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Publication of JPH0256858B2 publication Critical patent/JPH0256858B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C3/00Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
    • G01C3/10Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders using a parallactic triangle with variable angles and a base of fixed length in the observation station, e.g. in the instrument
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C3/00Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
    • G01C3/02Details
    • G01C3/06Use of electric means to obtain final indication
    • G01C3/08Use of electric radiation detectors

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はMOS型FET(電界効果トランジスタ)
で構成されたアナログスイツチ、特にカメラの測
距装置に使われるシリコンフオトダイオード等の
微小電流を出力として発生する複数のセンサーを
選択するアナログスイツチとして用いられた
MOS型FETのゲート電圧を制御する制御装置に
関するものである。
[Detailed description of the invention] The present invention is a MOS type FET (field effect transistor)
It was used as an analog switch to select multiple sensors that generate minute currents as output, such as silicon photodiodes used in camera distance measuring devices.
This invention relates to a control device that controls the gate voltage of a MOS FET.

従来アナログスイツチとして構成されるMOS
型FET、特にCMOS−FETでは雑音余裕度を大
きくするためにアナログスイツチのスイツチング
作用を制御するゲートにそのシステムの中で取り
得る最大振幅の電圧を与えるべく、そのシステム
中の正負の電源電圧を加えていた。この様に構成
されたアナログスイツチ並びにそのシステムを第
1図に示す。
MOS configured as a conventional analog switch
In order to increase the noise margin of type FETs, especially CMOS-FETs, the positive and negative power supply voltages in the system are adjusted to give the gate that controls the switching action of the analog switch the maximum amplitude voltage that can be obtained in the system. I was adding it. An analog switch and its system constructed in this manner are shown in FIG.

BATは電池等内部抵抗のある電源で、その正
電極側はVccで示すラインに、また負電極側は
GNDで示すラインに接続されている。iREDは近
赤外発光ダイオードであり、CMOS−FETで構
成されたロジツク回路CLCの出力信号に従つて、
iREDドライバーiDにより点滅される。SPD1と
SPD2はシリコンフオトダイオードで、該ダイ
オードはiREDにより外界に放出された光の反射
光を電流に変換するセンサーで、SPD1には並
列にMOS型FETで構成されるアナログスイツチ
NS1およびPS1が接続され、またMOS型FET
で構成されるアナログスイツチNS2およびNS2
が直列に接続される。
BAT is a power source with internal resistance such as a battery, and its positive electrode side is connected to the line indicated by Vcc, and its negative electrode side is connected to the line indicated by Vcc.
Connected to the line indicated by GND. iRED is a near-infrared light emitting diode, and according to the output signal of the logic circuit CLC composed of CMOS-FET,
Flashed by iRED driver iD. SPD1 and
SPD2 is a silicon photodiode, and this diode is a sensor that converts the reflected light emitted to the outside world by iRED into a current, and SPD1 has an analog switch consisting of a MOS FET in parallel.
NS1 and PS1 are connected, and MOS type FET
Analog switch NS2 and NS2 consisting of
are connected in series.

fCは増幅器SAのフイードバツク回路に接続さ
れたインピーダンス素子、ACは増幅器SAの出力
端に接続され、増幅器SAの出力信号に応じて物
体(不図示)までの距離を算出する信号処理回
路、前記アナログスイツチを構成するMOS型
FETの内NS1とPS2のゲートはロジツク回路
CLCの信号線G1に、またNS2とPS1は信号線
G2にそれぞれ接続され、G1がハイレベル(以
下HLと略す)、G2がローレベル(以下LLと略
す)のときNS1とPS1が導通し、NS2とPS2
が非導通状態となり、逆にG1がLL、G2がHL
のとき、NS1とPS1が非導通状態、NS2とPS
2が導通状態となる。また、NS1とNS2のバツ
クゲートはGNDに、PS1とPS2のバツクゲート
はVccに接続される。
fC is an impedance element connected to the feedback circuit of amplifier SA, AC is a signal processing circuit connected to the output terminal of amplifier SA, and calculates the distance to an object (not shown) according to the output signal of amplifier SA; MOS type that makes up the switch
The gates of NS1 and PS2 of FET are logic circuits.
NS2 and PS1 are connected to the signal line G1 of the CLC, and NS2 and PS1 are connected to the signal line G2, respectively, and when G1 is at a high level (hereinafter abbreviated as HL) and G2 is at a low level (hereinafter abbreviated as LL), NS1 and PS1 are electrically connected. NS2 and PS2
becomes non-conductive, and conversely, G1 becomes LL and G2 becomes HL.
When NS1 and PS1 are non-conducting, NS2 and PS
2 becomes conductive. Also, the back gates of NS1 and NS2 are connected to GND, and the back gates of PS1 and PS2 are connected to Vcc.

この例においてiREDを一定の周期で点滅しそ
の光を外界に放出し外界から反射されSPC1およ
びSPC2に入る光を検出し、外界の何らかの量を
測定しようとするとiREDの点滅による負荷の大
きな変動にともなつてラインVccの電圧が変動す
る。ロジツク回路CLCの電源はVccおよびGND
より与えられているからロジツク回路を形成する
CMOS−FETの性質上ロジツク回路のハイレベ
ルはラインVccの電圧に、またローレベルはライ
ンGNDの電圧となる。従つて信号線G1又はG
2の内ハイレベルになつたものはラインVccの変
動につれてその電圧が変動する信号となる。
In this example, if you try to measure some quantity in the outside world by blinking the iRED at a constant cycle and emitting that light to the outside world, then detecting the light that is reflected from the outside world and entering SPC1 and SPC2, you will notice a large change in the load due to the blinking of the iRED. Along with this, the voltage on the line Vcc fluctuates. The power supply of logic circuit CLC is Vcc and GND
form a logic circuit from the given
Due to the nature of CMOS-FET, the high level of the logic circuit corresponds to the voltage of the line Vcc, and the low level corresponds to the voltage of the line GND. Therefore, the signal line G1 or G
Of the two, the one that becomes high level becomes a signal whose voltage fluctuates as the line Vcc fluctuates.

さて、ここでこの様にゲートに印加された信号
電圧の振幅が変化した場合のアナログスイツチの
特性について考えてみる。第2図aは第1図示ア
ナログスイツチの1つを表すもので、Gはゲー
ト、Dはドレイン、Sはソース、BGはバツクゲ
ートで、その等価回路は第2図bに示すごとくで
ある。第2図bにおいてROFFは絶縁抵抗、RON
導通抵抗、DDSはソース・ドレイン間容量、CGS
ゲート・ソース間容量、CGDはゲート・ドレイン
間容量、CBGSはバツクゲート・ソース間容量、
CBGDはバツクゲート・ドレイン間容量、iswは理
想スイツチである。これから容易に理解できるよ
うに、もしドレインD(第2図a参照)やソース
S(第2図a参照)に対してG(第2図a参照)ま
たはバツクゲートBG(第2図a参照)に印加さ
れる電圧が変化すると前述の各容量(第2図b参
照)を通してゲートまたはバツクゲートからドレ
インまたはソースに電流が流れる。
Now, let's consider the characteristics of the analog switch when the amplitude of the signal voltage applied to the gate changes in this way. FIG. 2a represents one of the analog switches shown in the first figure, where G is the gate, D is the drain, S is the source, and BG is the back gate, and its equivalent circuit is as shown in FIG. 2b. In Figure 2b, R OFF is insulation resistance, R ON is conduction resistance, D DS is source-drain capacitance, C GS is gate-source capacitance, C GD is gate-drain capacitance, and C BGS is backgate-source capacitance. capacity,
C BGD is the back gate-drain capacitance, and isw is the ideal switch. As can be easily understood from this, if the drain D (see Fig. 2a) or the source S (see Fig. 2a) is connected to G (see Fig. 2a) or the back gate BG (see Fig. 2a) When the applied voltage changes, current flows from the gate or backgate to the drain or source through each of the capacitances mentioned above (see FIG. 2b).

従つて前述のようにアナログスイツチのゲート
又はバツクゲートに印加される電圧がiREDの点
滅につれて変動すると、第2図bで示す各容量を
通して信号線G1またはG2から光電流検出用増
幅器SAの入力に電流が流れ、誤信号が発生する。
このようにして生じる誤信号成分は第1図の例で
は真の信号成分とある相関を持つており、以後の
処理で誤信号成分を除去することは非常に困難で
ある。特に、信号処理に同期整流等の手法を用い
ると真の信号成分と見分けがつかなくなるため、
このような同期的ノイズは十分小さくする必要が
ある。
Therefore, as mentioned above, when the voltage applied to the gate or back gate of the analog switch changes as the iRED blinks, current flows from the signal line G1 or G2 to the input of the photocurrent detection amplifier SA through each capacitance shown in Figure 2b. flows, and a false signal is generated.
In the example of FIG. 1, the erroneous signal components generated in this way have a certain correlation with the true signal components, and it is extremely difficult to remove the erroneous signal components in subsequent processing. In particular, when techniques such as synchronous rectification are used for signal processing, it becomes indistinguishable from the true signal component.
Such synchronous noise needs to be sufficiently small.

本発明は以上の事情に鑑み為されたもので、投
光手段より信号光を投射し、その反視光を受光手
段により受光して、該受光手段の出力を処理回路
にて処理することにより距離を測定する測距装置
に於ける、前記受光手段の出力を前記処理回路に
入力させるアナログスイツチの制御装置であつ
て、前記アナログスイツチを構成するFETと、
前記投光手段を駆動する電源と、前記投光手段を
駆動することにより生じる前記電源の電圧変動が
前記FETに影響を及ぼすことがないように前記
電源の出力を定電圧に変換して前記FETのゲー
ト及びバツクゲートに印加する定電圧手段とを備
え、前記投光手段の駆動により電源電圧が変動し
たとしてもその変動に応答したノイズが前記アナ
ログスイツチより発生することがないようにする
制御装置を提供しようとするものである。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and is made by projecting a signal light from a light projecting means, receiving the reflected light by a light receiving means, and processing the output of the light receiving means by a processing circuit. A control device for an analog switch for inputting the output of the light receiving means to the processing circuit in a distance measuring device that measures distance, the FET constituting the analog switch;
A power source that drives the light projecting means, and a power source that converts the output of the power source into a constant voltage so that voltage fluctuations of the power source caused by driving the light projecting device do not affect the FET, and a constant voltage means for applying a constant voltage to the gate and back gate of the light projecting means, the control device is configured to prevent the analog switch from generating noise in response to fluctuations in the power supply voltage due to driving of the light projecting means. This is what we are trying to provide.

以下、本発明の実施例を図面を基に説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第3図は本発明を適用した測距装置の一実施例
の回路接続図である。尚第1図示と同一機能を有
する素子については同一符号を付して説明を省略
する。第3図においてACは第1図示と同様な機
能を有する信号処理回路で、該回路ACはバン
ド・ギヤツプ基準電圧等を基に作られる温度及び
交流或いは直流的電源電圧変動に対して安定な電
圧VCを出力する定電圧源(不図示)を有してい
る。そして該定電圧源の出力は電源ラインLVcを
介してアナログスイツチを構成するMOS型FET
のうちのPチヤンネルPS1,PS2のバツクゲー
トに接続されると共に、PS1,PS2,NS1,
NS2のゲート電圧を定電圧Vcまで上昇させる為
の抵抗R1とR2の一端にも接続される。該抵抗
R1とR2の他の一端はそのソースおよびバツク
ゲートをラインGNDに接続したNチヤンネル
MOS型FETNB1,NB2のドレインに接続され
る。NB1,NB2のゲートは第1図示のCMOS
−FETで構成されたロジツク回路CLCと同様な
測距装探の動作順序を制御するロジツク回路
CLCより制御され、そのドレイン電圧はNB1,
NB2がオンのときラインGNDの電位となり、
オフのときラインLVcの電位となる。
FIG. 3 is a circuit connection diagram of an embodiment of a distance measuring device to which the present invention is applied. It should be noted that elements having the same functions as those shown in the first figure are designated by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. In FIG. 3, AC is a signal processing circuit having the same function as that shown in FIG. It has a constant voltage source (not shown) that outputs VC. The output of the constant voltage source is connected to a MOS FET that constitutes an analog switch via the power supply line LVc.
It is connected to the back gates of P channels PS1 and PS2, and also connected to the back gates of P channels PS1, PS2, NS1,
It is also connected to one end of resistors R1 and R2 for raising the gate voltage of NS2 to a constant voltage Vc. The other ends of the resistors R1 and R2 are N-channel with their sources and back gates connected to the line GND.
Connected to the drains of MOS type FETNB1 and NB2. The gates of NB1 and NB2 are CMOS as shown in Figure 1.
- Logic circuit composed of FET A logic circuit that controls the operating order of a rangefinder similar to the CLC.
Controlled by CLC, its drain voltage is NB1,
When NB2 is on, it has the potential of line GND,
When off, it has the potential of line LVc.

ロジツク回路CLCによりNB1のゲート電圧が
ラインVccの電圧となり、またNB2のゲート電
圧がラインGNDとなると、NB1はソース・ド
レイン間が導通状態となり、そのドレイン電圧は
ラインGNDの電圧に等しくなる。この時NB1
のゲート電圧はiRED点滅により変化する電圧が
与えられるが、NB1のソースはアースライン
GNDに接続され、ドレインはNB1自身のチヤ
ンネルを通してラインGNDに接続されているた
めゲート・ドレインおよびゲート・ソース間容量
を通して流れる電流はラインGND流れ込み、し
たがつてNB1のドレインにはまつたくiREDの
点滅による影響は出ない。他方NB2のゲートは
アースラインGNDの電圧が与えられているため
各容量を通して流れるゲートからの電流はなくそ
のドレイン・ソース間が絶縁状態となり、ドレイ
ン電圧は抵抗R2によりラインLVcの電圧Vcと
なる。この状態でPS1,NS2のゲートとNS1,
NS2のバツクゲートにはアースラインGNDの電
圧、またNS1,PS2のゲートとPS1,PS2の
バツクゲートに電源ラインLVcの電圧Vcのいず
れもiREDの点滅に応じて変動することのない一
定電圧が与えられ、NS1,PS1は導通状態、
NS2,PS2は絶縁状態となり、SPD1で発生す
る電流をシヨートする。この時センサーSPD1,
SPD2、増幅器SAの反転(−)および非反転入
力(十)、アナログスイツチNS1,PS1,NS2,
PS2のドレインおよびソースさらに本発明によ
り各アナログスイツチのゲートおよびバツクゲー
ト等の微小電流にかかわる端子の電圧はすべて定
電圧となり、したがつてMOS型FETに構造上寄
生する前記容量(第2図b参照)の両端電圧はす
べて一定となりこの容量を通じて流れる電流は無
くなる。
When the logic circuit CLC causes the gate voltage of NB1 to become the voltage of the line Vcc and the gate voltage of NB2 to become the line GND, the source and drain of NB1 become conductive, and the drain voltage becomes equal to the voltage of the line GND. At this time NB1
The gate voltage of NB1 is given a voltage that changes depending on the iRED blinking, but the source of NB1 is connected to the ground line.
Since the drain is connected to the line GND through NB1's own channel, the current flowing through the gate-drain and gate-source capacitance flows into the line GND, so the drain of NB1 is connected to the line GND, so the iRED flashes at the drain of NB1. There will be no impact. On the other hand, since the voltage of the earth line GND is applied to the gate of NB2, no current flows from the gate through each capacitor, and the drain and source are insulated, and the drain voltage becomes the voltage Vc of the line LVc due to the resistor R2. In this state, the gates of PS1, NS2 and NS1,
The voltage of the earth line GND is applied to the back gate of NS2, and the voltage Vc of the power line LVc is applied to the gates of NS1 and PS2 and the back gates of PS1 and PS2. NS1 and PS1 are in conductive state,
NS2 and PS2 are insulated and shoot out the current generated in SPD1. At this time, sensor SPD1,
SPD2, inverting (-) and non-inverting input (10) of amplifier SA, analog switch NS1, PS1, NS2,
The drain and source of PS2, and according to the present invention, all voltages at terminals related to minute currents, such as the gate and back gate of each analog switch, become constant voltages. ) becomes constant, and no current flows through this capacitor.

それ故SPD2で発生する電流は正しく増幅器
SAに伝えられ、インピーダンス素子fcにより定
まる定数に応じた電圧に変換される。
Therefore, the current generated in SPD2 is correctly connected to the amplifier
The voltage is transmitted to SA and converted into a voltage according to a constant determined by impedance element fc.

ロジツク回路CLCによりNB1のゲート電圧が
ラインGNDの電位となり、NB2のゲート電圧
がラインVccの電位となると、逆にNS1,PS1
は絶縁状態、NS2,PS2は導通状態となり、上
述の場合と同様にしてSPD1とSPD2の和の電
流が増幅器SAに伝えられ、電圧に変換される。
そして信号処理回路ACにおいて物体迄の距離を
表わす信号に変換される。
When the logic circuit CLC causes the gate voltage of NB1 to become the potential of the line GND, and the gate voltage of NB2 to the potential of the line Vcc, conversely, NS1 and PS1
is in an insulated state, NS2 and PS2 are in a conductive state, and the sum of the currents of SPD1 and SPD2 is transmitted to the amplifier SA and converted into a voltage in the same manner as in the above case.
The signal is then converted into a signal representing the distance to the object in the signal processing circuit AC.

尚抵抗R1およびR2をベース拡散抵抗等を用
いてIC上に形成した場合にはそのエピタキシヤ
ル成長層にも前記定電圧Vc等の適切な一定電圧
を与えることによりアナログスイツチをさらに低
ノイズとすることができる。
If the resistors R1 and R2 are formed on the IC using base diffused resistors, etc., the analog switch can be made to have even lower noise by applying an appropriate constant voltage such as the constant voltage Vc to the epitaxial growth layer thereof. be able to.

第4図は第3図に示した実施例における抵抗R
1,R2をPチヤンMOS型FET、PB1,PB2
で置き替えこの部分をCMOS構成とし、さらに
PB2,NB2のゲート信号PB1とNB1で構成
されるゲートの出力から得られるようにしたもの
である。PB1とPB2のバツクゲートは第3図示
と同様な電源ラインLVcを介して信号処理回路
AC内の不図示の定電圧源に接続されており、そ
のドレインが接続されるG3とG4の電圧はライ
ンVccの電位或いはラインGNDの電位となり、
第3図の実施例と同様に誤信号を発生させること
はない。
Figure 4 shows the resistance R in the embodiment shown in Figure 3.
1, R2 is P-chan MOS type FET, PB1, PB2
Replace this part with CMOS configuration, and further
The gate signals of PB2 and NB2 are obtained from the output of the gate composed of PB1 and NB1. The back gates of PB1 and PB2 are connected to the signal processing circuit via the power supply line LVc as shown in Figure 3.
The voltage of G3 and G4, which are connected to an AC constant voltage source (not shown) and whose drains are connected, becomes the potential of line Vcc or line GND,
Similar to the embodiment shown in FIG. 3, no erroneous signals are generated.

この例によれば抵抗負荷R1,R2を能動負荷
PB1,PB2に替えることによりG3およびG4
の電圧がラインGNDのレベルからラインVccの
レベルに変化する時間を短かくし、かつ回路の消
費電流を小さくできるが、電圧VcがPチヤンネ
ルMOSを導通状態にするに十分なバツクゲート
電圧を供給できるような高い電圧でなければなら
ない。
According to this example, resistive loads R1 and R2 are active loads.
G3 and G4 by replacing PB1 and PB2
The time required for the voltage to change from the line GND level to the line Vcc level can be shortened, and the current consumption of the circuit can be reduced. The voltage must be as high as possible.

理論的にはMOS型FETのスレシヨルド電圧VT
はどのような値でも作り得るが現在のプロセス技
術では前記電圧VTのばらつきは大きく前記定電
圧Vcが低くなるにつれて歩留り良く第4図のよ
うに構成された回路をICで実現することは困難
となつていく。
Theoretically, the threshold voltage V T of a MOS FET
can be made to any value, but with the current process technology, the variation in the voltage V T is large, and as the constant voltage Vc decreases, it is difficult to realize a circuit configured as shown in Figure 4 with an IC at a good yield. It becomes familiar.

同様なことがアナログスイツチを構成するPチ
ヤンネルMOS型FETであるPS1,PS2につい
ても言えるが、この2つのFETが導通しなくと
もNS1とNS2だけで十分アナログスイツチとし
て動作するためVrとVTのばらつきの関係で第3
図の様な構成を余儀なくされてもPS1,PS2を
付加したことが良い方向に働くことがあつても悪
影響を与えることはない。もちろん第3図におい
てPS1,PS2を省いた変形例も十分考えられ
る。
The same thing can be said about PS1 and PS2, which are P-channel MOS FETs that make up the analog switch, but even if these two FETs are not conductive, NS1 and NS2 are enough to operate as an analog switch, so V r and V T Due to the variation in
Even if the configuration shown in the figure is forced, adding PS1 and PS2 may work for the better, but there will be no negative impact. Of course, a modification in which PS1 and PS2 are omitted in FIG. 3 is also conceivable.

また第3図においてNB1,NB2、第4図に
おいてNB1,NB2,PB1,PB2をそれぞれ
バイポーラのトランジスタを用いて構成すること
もできる。
Furthermore, NB1 and NB2 in FIG. 3 and NB1, NB2, PB1, and PB2 in FIG. 4 can each be constructed using bipolar transistors.

以上説明した様に本発明によれば、投光手段よ
り信号光を投射し、その反射光を受光手段より受
光して、該受光手段の出力を処理回路にて処理す
ることにより距離を測定する測距装置に於ける、
前記受光手段の出力を前記処理回路に入力させる
FETで構成されるアナログスイツチが、前記投
光手段の駆動に伴う電源電圧の変動によつてノイ
ズを発生するのを防止でき、以て、前記測距装置
の誤動作を防止できるものである。
As explained above, according to the present invention, the distance is measured by projecting signal light from the light projecting means, receiving the reflected light from the light receiving means, and processing the output of the light receiving means in the processing circuit. In distance measuring equipment,
inputting the output of the light receiving means to the processing circuit;
The analog switch constituted by an FET can prevent noise from being generated due to fluctuations in the power supply voltage accompanying the driving of the light projecting means, thereby preventing malfunctions of the distance measuring device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来のアナログスイツチの回路図、第
2図aはMOS型FETの構成図、第2図bは第2
図示FETの等価回路図、第3図は本発明の適用
した測距装置の回路図、第4図は本発明の他の実
施例の回路図である。 図において、NS1,NS2,PS1,PS2……
MOS型FET、AC……定電圧源を含む信号処理
回路である。
Figure 1 is a circuit diagram of a conventional analog switch, Figure 2 a is a configuration diagram of a MOS FET, and Figure 2 b is a circuit diagram of a conventional analog switch.
FIG. 3 is an equivalent circuit diagram of the illustrated FET, FIG. 3 is a circuit diagram of a distance measuring device to which the present invention is applied, and FIG. 4 is a circuit diagram of another embodiment of the present invention. In the figure, NS1, NS2, PS1, PS2...
MOS FET, AC...A signal processing circuit that includes a constant voltage source.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 投光手段より信号光を投射し、その反視光を
受光手段により受光して、該受光手段の出力を処
理回路にて処理することにより距離を測定する測
距装置に於ける、前記受光手段の出力を前記処理
回路に入力させるアナログスイツチの制御装置で
あつて、前記アナログスイツチを構成するFET
と、前記投光手段を駆動する電源と、前記投光手
段を駆動することにより生じる前記電源の電圧変
動が前記FETに影響を及ぼすことがないように
前記電源の出力を定電圧に変換して前記FETの
ゲート及びバツクゲートに印加する定電圧手段と
を備えたことを特徴とする制御装置。 2 前記定電圧手段は、前記定電圧を出力する、
抵抗とトランジスタの直列回路を含むことを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の制御装置。 3 前記定電圧手段は、前記定電圧を出力する、
トランジスタとトランジスタの直列回路を含むこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の制御
装置。 4 前記定電圧手段は、トランジスタとトランジ
スタの第1の直列回路と、該第1の直列回路の出
力によりゲートを制御され、前記定電圧を出力す
る、トランジスタとトランジスタの第2の直列回
路を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の制御装置。
[Claims] 1. A distance measuring device that measures distance by projecting signal light from a light projecting means, receiving the reflected light by a light receiving means, and processing the output of the light receiving means in a processing circuit. A control device for an analog switch that inputs the output of the light receiving means to the processing circuit, the FET constituting the analog switch
and a power source for driving the light projecting means, and converting the output of the power source to a constant voltage so that voltage fluctuations of the power source caused by driving the light projecting means do not affect the FET. A control device comprising constant voltage means for applying a constant voltage to the gate and back gate of the FET. 2. The constant voltage means outputs the constant voltage.
The control device according to claim 1, characterized in that the control device includes a series circuit of a resistor and a transistor. 3. The constant voltage means outputs the constant voltage.
The control device according to claim 1, characterized in that the control device includes a series circuit of transistors. 4. The constant voltage means includes a first series circuit of transistors and a transistor, and a second series circuit of transistors whose gate is controlled by the output of the first series circuit and outputs the constant voltage. A control device according to claim 1, characterized in that:
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