JPH0256616A - Clock skew adjusting circuit - Google Patents

Clock skew adjusting circuit

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Publication number
JPH0256616A
JPH0256616A JP63209052A JP20905288A JPH0256616A JP H0256616 A JPH0256616 A JP H0256616A JP 63209052 A JP63209052 A JP 63209052A JP 20905288 A JP20905288 A JP 20905288A JP H0256616 A JPH0256616 A JP H0256616A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lsi
delay time
gate
clock
clock skew
Prior art date
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Pending
Application number
JP63209052A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiharu Sofue
敏晴 祖父江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0256616A publication Critical patent/JPH0256616A/en
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Abstract

PURPOSE:To decrease a clock skew between LSIs by measuring a delay time per one stage of a gate in one LSI, adjusting the capacity of a variable capacity diode connected to some path between a clock input part of the LSI and a register by its result and adjusting the delay time. CONSTITUTION:When a delay time per one stage of a gate of LSIs 1, 2 is Tg1,2 (s/1 piece) and the number of gates extending from a clock input part to registers F11,21 is (n) pieces, clock skews of ¦Tg1-Tg2¦X(n) appear between the LSI 1 and the LSI 2. By counting a pulse of ring oscillators 2, 3, a delay time per one stage of a gate is measured, and adjusted to Tg1Xn+a1=Tg2Xn+ a2=Td, and a certain value by an increase (a1 (s)) of the delay time caused by the capacity of a variable capacity diode D11 of the LSI 1. In such a way, clock skews of ¦Tg1-Tg2¦X(n) between the LSI 1 and the LSI 2 can be eliminated.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はクロックスキュー調整回路、さらに詳しく云え
ばL8I個別のゲート遅延時間により発生するLSI間
のクロック・スキュー全減少させるクロック・スキュー
調整回路に関する。
Detailed Description of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a clock skew adjustment circuit, and more particularly, to a clock skew adjustment circuit that completely reduces the clock skew between LSIs caused by the gate delay time of each L8I. .

(従来の技術〕 従来、LSI間のクロック・スキュー調整はクロック入
力部で行うか%ま几はI’3Iのクロック入力部からレ
ジスタまでにいくつかのパスを用意しておき、予じめ1
つのパスを選択しておき、動作不良の場合順番に別のパ
スに変更し良好なパスを決定するようにしている。
(Prior art) Conventionally, clock skew adjustment between LSIs was performed at the clock input section.
One path is selected, and if a malfunction occurs, the system changes to another path in order to determine a good path.

(発明が解決しようとする課題) liff者はLSI内部のクロック・スキューy4!1
は行うことができず、後者はL8Iのクロック入7[1
からレジスタまでいくつかのパスを用意し、予じめ一つ
のパス全選択し、動作不良の場合に他のバスlj番に試
みる方法であるので。
(Problem to be solved by the invention) The liffer is the clock skew inside the LSI y4!1
cannot be performed, and the latter is the clock input 7[1 of L8I.
This method prepares several paths from to the register, selects all of one path in advance, and in case of malfunction, tries another bus No. lj.

作業が内焦であシ、かつ、制御用信号の切換えはL8I
外部より行うので制御用信号に複数のI10ピンを必要
とし何らかの手法を用意しておかなけれはならないとい
う欠点がある。
The work is internally focused, and the control signal can be switched using L8I.
Since it is performed externally, there is a drawback that a plurality of I10 pins are required for control signals, and some method must be prepared.

本発明の目的は上記欠点t−鱗決するもので。The object of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks.

LSI内のゲートの遅延時間を容量にょシ調整する回路
を設けることによりLSI間のクロック−スキュー調整
を行なうことができるクロック−スキニー調整回路を提
供することにある。
An object of the present invention is to provide a clock skinny adjustment circuit that can adjust clock skew between LSIs by providing a circuit that adjusts the delay time of gates within the LSI according to the capacity.

(課題を解決するための手段) 前記目的を達成するために本発明によるクロック・スキ
ニー調整回路は1.II内に、リングオシレータと、外
部信号により与えられる一定時間、前記リングオシレー
タのパルス数をカウントし、2進カウント値を出力する
計数制御回路と、前記計数制御回路の2進カウント出力
線個々に、それぞれ制御端子が接続される複数個の差動
増幅器と、一端が前記複数個の差動増幅器のすべての出
力に接続され、他端がLSI内のゲートに接続される可
変容量ダイオードとtaff、LsI間のクロックΦス
キニーを減少させるように構成しである。
(Means for Solving the Problems) To achieve the above object, the clock skinny adjustment circuit according to the present invention has the following features:1. II includes a ring oscillator, a counting control circuit that counts the number of pulses of the ring oscillator for a certain period of time given by an external signal, and outputs a binary count value, and a binary count output line of the counting control circuit. , a plurality of differential amplifiers each having a control terminal connected thereto, a variable capacitance diode and a taff having one end connected to all the outputs of the plurality of differential amplifiers and the other end connected to a gate in the LSI, It is configured to reduce the clock Φ skinny between LsI.

(実施例) 以下1図面上参照して本発明tさらに詳しく説明する。(Example) The present invention will be described in more detail below with reference to the drawings.

第1図は本発明によるクロック・スキュー調整回路の一
実施例を示す回路図である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a clock skew adjustment circuit according to the present invention.

ワンショット回路1はある一定時間(Tsとする〕論理
1.他は論理′″θ′″であるパルスを発生する。
The one-shot circuit 1 generates a pulse whose logic is 1 for a certain period of time (assumed to be Ts) and whose logic is ````θ'''' at other times.

LSI1において、ゲート011〜015にょシリング
拳オシレータ2が構成されてhる。A11はアンドゲー
トであシ、ワ/ショット回路1で発生し次パルスの論理
”1″状態の時間Tsだけりング・オシレータ2のパル
スを計数制御回路4へ伝達する。
In the LSI 1, the gates 011 to 015 constitute an oscillator 2. A11 is an AND gate, which transmits the pulse of the ring oscillator 2 to the counting control circuit 4 for the time Ts during which the next pulse is in the logic "1" state.

計数制御回路4の2進カウントビツト出力線4aは差動
増幅器6の一方のトランジスタQ11のベースに接続さ
れている。同様に2進カウントビット出力線4b、4C
,4dは差動増幅器7.8.9の一方のトランジスタQ
13.Q15 、 Ql 7のベースにそれぞれ接続さ
れている。各差動増@器6〜9の対のトランジスタの工
はツタは定電流回路全弁して電源−Vに接続されている
。一方、各差動増幅器6〜9の他方のトランジスタQ1
2.Q14.Q16.Ql8のベースは基準電圧を4え
る可変抵抗VRに接続され、そのコレクタはアースに接
続されている。
A binary count bit output line 4a of the counting control circuit 4 is connected to the base of one transistor Q11 of the differential amplifier 6. Similarly, binary count bit output lines 4b, 4C
, 4d is one transistor Q of the differential amplifier 7.8.9
13. They are connected to the bases of Q15 and Ql7, respectively. The structure of each pair of transistors in each differential amplifier 6 to 9 is connected to the power source -V through a constant current circuit. On the other hand, the other transistor Q1 of each differential amplifier 6 to 9
2. Q14. Q16. The base of Ql8 is connected to a variable resistor VR that increases the reference voltage by 4, and its collector is connected to ground.

トランジスタQll 、Ql3.Ql5.Q17ノ* 
しIl’ハ抵抗R,11k介してアースに接続されると
ともに可変容量ダイオードD11のアノードに接続され
ている。可変容量ダイオードDllのカソードはクロッ
ク信号が入力されるゲートB11とB12の接続点に接
続されている。
Transistors Qll, Ql3. Ql5. Q17ノ*
Il' is connected to ground via a resistor R, 11k, and to the anode of a variable capacitance diode D11. The cathode of the variable capacitance diode Dll is connected to the connection point between gates B11 and B12 to which a clock signal is input.

計数制御回路4はリングオシレータ2のパルスのカウン
トにょシビット出力線が屓次オンしていくのでワンショ
ット回路の出力に対応してビット出力線のいくつかが”
1”状態となシ。
As the counting control circuit 4 counts the pulses of the ring oscillator 2, the bit output lines are turned on from time to time, so some of the bit output lines are turned on in response to the output of the one-shot circuit.
1” condition.

そのビy>出力線に接続され几トランジスタ七オンさせ
る。
Connected to the output line, the transistor 7 is turned on.

トランジスタQll 、Ql3.Ql5.Ql7のうち
オンする数によシ抵抗allに流れる電流が決まるので
、可変容量ダイオードDIlの7ノ一ド電位が決定され
、可変容量ダイオードDllの容量が定まる。
Transistors Qll, Ql3. Ql5. Since the current flowing through the resistor all is determined by the number of Ql7 that is turned on, the node potential of the variable capacitance diode DIl is determined, and the capacitance of the variable capacitance diode Dll is determined.

グー)Bll〜ゲートB12間を伝送する波形は、可変
容量ダイオードの容量の変化に伴なりh17!″!シ方
が異なってくるので、グー)B11〜ゲ一トB12間の
遅延時間が変化する。
(Goo) The waveform transmitted between Bll and gate B12 changes to h17! due to the change in the capacitance of the variable capacitance diode. ``! Since the directions are different, the delay time between the gate B11 and the gate B12 changes.

LaI3においても同様にしてグー)B21〜B22間
の遅延時間を変化させることができる。
In LaI3, the delay time between B21 and B22 can be changed in the same way.

こむで、LSIIのゲート1段あたシの遅延時間t−T
g1(S/lケン、LII2のゲート1段あたりの遅延
時間をTgz(S/1ケ)とし、クロック入力部からレ
ジスタまでのゲート数gL8Il−LSIzともn個と
すると、LISllとLaI3との間にl Tgx −
Tgz l Xnのりc’yle24二−カ現れる。リ
ングオシレータのパルス音カウントすることにより、ゲ
ート1段あたシの遅延時間を測定し、LSI1の可変容
量ダイオードDllの容量による遅延時間の増加(a 
* (s)とする月ζよシ* T g * X n+α
宜mTgzxn+a2−wTd と、ある一定の(直に
調整することによp、LSI1とLSI2との間のlT
gx−TgzlXn  のクロック・スキュー?なく丁
ことができる。
Here, the delay time t-T for one gate stage of LSII
Assuming that the delay time per gate stage of LII2 is Tgz (S/1), and the number of gates from the clock input section to the register is n, the number of gates from the clock input section to the register is n. ni l Tgx −
Tgz l Xn glue c'yle24 two-ka appears. By counting the pulse sounds of the ring oscillator, the delay time per gate stage is measured, and the increase in delay time due to the capacitance of the variable capacitance diode Dll of LSI1 (a
* The moon ζ is (s) * T g * X n+α
By directly adjusting mTgzxn+a2-wTd and a certain constant (p, lT between LSI1 and LSI2
gx-TgzlXn clock skew? You can do it without any problems.

上記一定の値への調整は計数制御回路4を調整すること
により行なわれる。
Adjustment to the above-mentioned constant value is performed by adjusting the counting control circuit 4.

すなわち、一定数のパルス数カウントに対し、出力ビツ
ト線のオンする数を変えることにより行なわれる。
That is, this is done by changing the number of output bit lines turned on for a fixed number of pulse counts.

その結果、上記のように調整されたリングオシレータ、
アンドゲート、計数制御回路、差動増幅器および可変容
量ダイオードよシなるクロックスキュ一端整回路2LS
11.LSI2に設けることにより、相互にクロック・
スキューのないLSIIとLS I 2に作ることがで
きる。
The result is a ring oscillator tuned as above,
Clock skew adjustment circuit 2LS consisting of AND gate, counting control circuit, differential amplifier, and variable capacitance diode
11. By providing it in LSI2, mutual clock
It can be made into LSII and LS I 2 without skew.

(発明の効果〕 以上、説明したように本発明は、1つのLS工における
ゲート1段あ友9の遅延時間を測定し、その結果によ5
LSIのクロック入力部〜レジスタ間のあるパスに接続
され次回変容量ダイオードの容量′に調整し、この容量
による遅延時間を調整することによシ、クロック入力部
〜レジスタ間の遅延時間をある一定の値とすることがで
き、他のL8IJこついても同様に調整できるのでLS
I間のクロック・スキューを減少させることができると
いう効果がある。
(Effects of the Invention) As explained above, the present invention measures the delay time of the gate 1st stage friend 9 in one LS machine, and uses the result to measure the delay time of the gate 1 stage friend 9.
By adjusting the capacitance of the variable capacitance diode connected to a certain path between the clock input section and the register of the LSI and adjusting the delay time due to this capacitance, the delay time between the clock input section and the register can be kept constant. LS can be set to the value of
This has the effect that the clock skew between I and I can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明によるクロック・スキュー調整回路の実
施例を示す回路図である。 011〜015,021〜025・・・ゲートAll、
A21・・・アンドゲート Rt1.R2x・・・抵抗 Bll 、B12.B21 、B22・・・ゲートF1
1.F21・・・レジスタ Q11〜Q18.Q21〜Q28・・・トランジスタ ト・・ワンショット回路 2.3・・・リングオシレータ 4.5・・・計数制御回路 6〜13・・・差動増幅器
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of a clock skew adjustment circuit according to the present invention. 011-015, 021-025...Gates All,
A21...And gate Rt1. R2x...Resistance Bll, B12. B21, B22...gate F1
1. F21...Registers Q11 to Q18. Q21-Q28...Transistor...One-shot circuit 2.3...Ring oscillator 4.5...Counting control circuit 6-13...Differential amplifier

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] LSI内に、リングオシレータと、外部信号により与え
られる一定時間前記リングオシレータのパルス数をカウ
ントし、2進カウント値を出力する計数制御回路と、前
記計数制御回路の2進カウント出力線個々に、それぞれ
制御端子が接続される複数個の差動増幅器と、一端が前
記複数個の差動増幅器のすべての出力に接続され、他端
がLSI内のゲートに接続される可変容量ダイオードと
を設け、LSI間のクロック・スキューを減少させるよ
うに構成したことを特徴とするクロック・スキュー調整
回路。
In the LSI, a ring oscillator, a counting control circuit that counts the number of pulses of the ring oscillator for a certain period of time given by an external signal and outputs a binary count value, and each binary count output line of the counting control circuit, A plurality of differential amplifiers each having a control terminal connected thereto, and a variable capacitance diode having one end connected to all outputs of the plurality of differential amplifiers and the other end connected to a gate in the LSI, A clock skew adjustment circuit configured to reduce clock skew between LSIs.
JP63209052A 1988-08-23 1988-08-23 Clock skew adjusting circuit Pending JPH0256616A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011506936A (en) * 2007-12-06 2011-03-03 クゥアルコム・インコーポレイテッド Method and apparatus for estimating resistance and capacitance of metal connection wiring

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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