JPH0252295A - 原子炉の制御棒漏れ特定方法及びその装置 - Google Patents

原子炉の制御棒漏れ特定方法及びその装置

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JPH0252295A
JPH0252295A JP1172822A JP17282289A JPH0252295A JP H0252295 A JPH0252295 A JP H0252295A JP 1172822 A JP1172822 A JP 1172822A JP 17282289 A JP17282289 A JP 17282289A JP H0252295 A JPH0252295 A JP H0252295A
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control rod
circuit
shielded chamber
nuclear reactor
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ジャック ペレティエル
Daniel Parrat
ダニエル パラット
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    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、原子炉の中性子捕獲(吸収)鞘即ち制御棒に
おける漏流を特定する方法及びその装置に関する。
[従来の技術] 電力生産のための原子力発電所にr受用されている加圧
水型原子炉においては、原子炉の核は、濃縮ウラン棒の
組立体によって形成されており、濃縮ウラン棒の間には
、原子炉の活動を制御するなめ、制御棒が挿入されてい
る。第1a図に図示されているように、一般的に、制御
棒はステンレス鋼製の中空のデユープからなっており、
各チューブの内側には80%銀、50%インジウム及び
5%カドミウムからなる合金か充填されている。
例えば900MW(メカワット)の原子炉の場合、制御
棒の長さは3.60Inのオーダである。複数の制御棒
は、それらの一端を金属製の支持部材に固定することに
よってクラスタ(束)状に組立てられる。第1b図に概
略的に図示されているように、原子炉の活動をチエツク
するために、クラスタ状に組立てられた制御棒は、原子
炉の核に作られな制御棒カイトチューブ内に挿入される
。制御棒の挿入の程度がその時の原子炉の発電電力を決
定する。制御棒の完全な挿入は原子炉の停止に相当する
。原子炉の稼働中、電力分配ネットワークから要求され
た電力によって、クラスタを構成する制御棒は、逆に、
その全長の約4分の3なげ制御棒カイトチューブに沿っ
て引抜かれる。その時、原子炉の核及び制御棒は、30
00M/秒のオーダの大量の加圧水流に晒される。この
加圧水流は、原子炉の核と接触し加熱される。原子炉の
核及び制御棒か晒されるこの加圧水流により、制御棒は
、制御棒カイトデユープと係合していないそれらの非充
填部をカイトプレートによって保持されていなければな
らない。
[発明か解決しようとする課題] 上述した従来の加圧水型原子炉における加圧水の大量の
渦は、制御棒、特にカイトプレーI・及び制御棒カイト
チューブの位置に、繰返しの衝撃を与える。これら繰返
しの衝撃は、長期間にわたると、対応する制御棒の局地
的磨耗の原因となり、ひいては、各制御棒を構成してい
るステンレス鋼製のデユープの遮蔽性の喪失の危険をも
ならず。
制御棒を構成しているステンレス鋼製のチューブに含ま
れている銀は、特に、中性子流を無視することかてきな
いこれら制御棒の下側部分の位置において中性子を捕獲
することにより放射性を帯びるにいたる。そして、各制
御棒を構成しているステンレス鋼製のチューブの遮蔽性
の喪失の危険は、必然的に、環境汚染及び原子炉の核の
外側において作業員がクラスタを取扱う際の重大な危険
を件っている。
さらに、制御棒下側部分における制御棒の全破壊の危険
も無視できない。制御棒下側部分が全破壊すると、これ
ら下側部分は制御棒カイトチューブの底に沈む危険かあ
る。こうなると、制御棒カイトデユープか詰まり、原子
炉の停止かできなくなる新たな危険が発生する。システ
マチックな研究によれは、4〜5年の寿命かくると制御
棒の少なくとも50%に全破壊か発生する。
[課題を解決するだめの手段] 本発明に係る原子炉の制御棒漏れ特定方法及びその装置
の目的は、上述した従来技術の課題を解決し、原子炉の
制御棒における不時の漏れを特定することができる方法
及びその装置を提供することである。
本発明に係る原子炉の制御棒漏れ特定方法の注意すべき
特徴は、分析溶液と呼ばれる活性溶液を充填した遮蔽室
内に制御棒を置く点である。被疑欠陥制御棒の漏孔を通
って分析溶液か浸透することかできるように、分析溶液
に圧力か掛けられる。
この圧力は次に分析溶液が被疑欠陥制御棒から出てくる
ことができるように解放される。次に、分析溶液内に制
御棒の核部分の構成要素の化学誘導体が存在することを
示すため、分析溶液の分析か行われる。
本発明に係る原子炉の制御棒漏れ特定装置は、分析すべ
き少なくとも1本の制御棒を受入れることができる遮蔽
室を含むことを注目すべき特徴としている。遮蔽室には
、分析溶液を供給する回路及び遮蔽室に接続された分析
回路が設けられている。この分析回路は、分析溶液を循
環させるポンプと、放射性粒子を計数する容器と、放射
性粒子を計数する手段と、分析溶液のサンプルを採取す
るためのバルブとを有している。
本発明に係る原子炉の制御棒漏れ特定方法及び装置は、
加圧木型原子力発電所の原子炉の制御棒における遮蔽性
のチエツクを行うのに適用することかできる。
[実施例コ 次に、本発明の原子炉の制御棒漏れ特定方法及び装置に
ついて図面を参照して説明する。
初めに、本発明の原子炉の制御棒漏れ特定方法を第2図
を参照して説明する。
第2図に概略的に図示されているように、制御棒Crは
遮蔽室1内に置かれる。この遮蔽室1は分析溶液と呼ば
れる活性溶液か充填されている。
この活性溶液は、硝酸、硫酸及び塩酸からなるグループ
より一つ選んだ酸溶液より作ることかできる。この溶液
の濃度は、N/100と1ON との間になる。非限定
的例であるが、この溶液の濃度は、Nを溶液の規定度と
してN/30とすることがてきる。
この分析溶液は、次に、被疑欠陥制御棒の漏孔を通って
制御棒Cr内にこの分析溶液が浸透することかてきるよ
うに高圧力HPが掛けられる。次に、この圧力は解放さ
れ、分析溶液は、漏孔内に浸透した分析溶液か外部に出
てきて遮蔽室1内に戻ることがてきるように低圧力L 
Pになされる。
しかる後、この分析溶液はこの分析溶液内に制御棒の核
部分を構成している金属の金属塩を明示するために分析
される。カドミウムCd、インジウムTn及び銀Agの
合金からなる核部分を持つ制御棒C1−の場合、金属塩
は銀、インジウム及びカドミウム塩となる。
有利なことに、本発明方法においては、ニトロ化合物を
明示する他に、圧力が解放された後、遮蔽室1内に収納
された分析溶液内の上記合金の放射性同位体、より特定
すると、この同位体の濃度の閾域値を参照して銀A g
 110Fの同位体を検出す1す るステップを含むことができる。
有利なことに、銀Ag110mの放射性同位体はガンマ
分光測定法によって検出することかてきる。
上述した銀A g 110mの放射性同位体の検出を改
善するために、酸溶液(この溶液は初期溶液を構成する
)を充填した遮蔽室1内に制御棒Crを置くステップの
前に、本発明方法は、上述した初期溶液の銀A g 1
10mを含む放射性同位体の濃度を分光測定法によって
決定しておくステップを含むようにすることがてきる。
初期溶液中の銀Ag110mを含む放射性同位体の濃度
は、次に、濃度の閾域値として選択され、それによって
、放射性同位体、特に銀の濃度を測定する。
水の中に含まれる銀の化学濃度もまた測定することがで
きる。
本発明方法の特に有利な特徴によれば、この分析溶液か
制御棒C1−に浸透する事がてきるようにこの分析溶液
に掛Gすられる高圧力HPは少なくとも10分の間維持
される。この圧力は、有利なことに、数バールとするこ
とがてきる。
さらに、制御棒Crの核部分を構成する金属に対する分
析溶液の化学反応を促進するため、制御棒を遮蔽室J内
に導入する前又は後に、分析溶液に熱を加えるようにす
ることがてきる。
さらに、本発明方法は、制御棒を遮蔽室1内に置く前に
水の中に含まれる銀、インジウム及びカドミウムの化学
的濃度を測定するステップを含むようにすることができ
る。このステップは、加圧ステップ及び加熱ステップの
後繰返して行われる。
本発明方法を実施する装置について、第2図を参照して
以下説明する。
第2図を参照すると、本発明装置は、分析すべき少なく
とも1本の制御棒Crを受入れることができる上述した
遮蔽室1を含んている。もちろん、本発明装置は、遮蔽
室1が1本の制御棒Crではなくてそのヂエックを行う
なめに全クラスタを取出すことができるように、有利に
設備することもできる。
遮蔽室1には分析溶液を供給するための分析溶液供給回
路2か設けられている6分析溶液を供給するための分析
溶液供給回路2は、バルブV1が設けられた高圧管と■
2が設けられた低圧管とを有している。バルブ■1、バ
ルブV2を作動さぜることにより、例えば、高圧管1−
I Pを圧縮機に接続し、最初に遮蔽室1内の分析溶液
を加圧し、バルブV1を開はバルブ■2を閉めた′:!
、まにすることによって分析溶液を加圧したままとし、
次に、逆にバルブv1を閉め低圧管に設置されたバルブ
■2を開は分析溶液の圧力を十分低い圧力まで低下させ
る。これにより、制御棒Cr内に浸透し制御棒の核部分
を化学的に浸蝕した分析溶液が遮蔽室1内に収容されて
いる分析溶液内に出てくることかてきるようになる。高
圧回路HPは、例えば、1〜15バールの圧力を供給す
る圧縮機に接続される。非限定的な例であるが、この圧
力は12バ一ル程度とすることかできる。逆に、低圧回
路LPは、遮蔽室1内において、この遮蔽室1内の周囲
圧力に近い圧力、即ち数バールの圧力を形成するのに使
用する回路に接続される。
第2図より分かるように、本発明装置は、また遮蔽室1
に接続された分析回路3を有している。
この分析回路3は、少なくとも1つの分析溶液のための
循環ポンプ32と、銀の同位体A g 110mを含む
放射性同位体を計数するための計数容器30とを有して
いる。放射性粒子を計数するための手段計数手段31も
また設けられており、これら手段31は計数容器30に
関連して設けられている。
有利なことに、計数容器30及び計数手段3Jは、ガン
マ線を計数するなめの市販されているシステムによって
構成することがてきる。勿論、計数容器30及び計数手
段31は、」二連した計数測定値の結果を表示すること
がてきるように、デイスプ】5 レイシステム33に有利に接続されている。
さらに、分析回路3は、また分析溶液を採取するための
バルブV3を有している。第2図を参照すると、本発明
方法を実施する操作シーケンスは以下の通りである。
特に有利な態様によれば、遮蔽室1を加圧する前に且つ
遮蔽室1内において制御棒Crを導入して試験する前に
、分析溶液中の金属塩の、特に銀塩の含有量を測定する
ため、バルブV3を用いて分析溶液のサンプルを採取す
る。同様にして、上述した銀Ag110mを含む放射性
同位体の存在に対応する閾域値を決定するなめ、この初
期溶液内の放射性粒子を計数するための計数手段31を
用いて、計数を実行する。試験すべき制御棒Orを遮蔽
室1内に導入した後、バルブV]を開けて遮蔽室1を加
圧する。この圧力は、1〜15バールの範囲となるよう
になされる。
この圧力は、少なくとも10分維持され、しかる後、減
圧か行われるように、バルブ■1は再び閉じられバルブ
■2は開けられる。
デイスプレィシステム33は、計数手段31から送られ
てくるオン−ラインの計数信号の展開をフォローするな
めに使用することかできる。
バルブ■3を介しての分析溶液のサンプリングにより、
分析溶液中の物質の評価及び分析溶液中の銀、インジウ
ム及びカドミウム或いはそれらの放射性同位体の量的分
析を行うことがてきる。
制御棒の核部分の構成要素の二l〜ロ化合物中の測定値
と閾域値として採った初期溶液のそれらの値とを比較す
ることにより、制御棒C1−又は漏れクラスタを特定す
ることがてきる。
第2図より分かる通り、分析回路3は、またこの分析回
路に対してバイパスとして接続された分析溶液を加熱す
るための回路加熱回路4を有している。
加熱口Fl@ 4は、分析溶液を収容し循環ポングア 32によって循環させるサーモスタット制御室を電気的
に加熱し、30’Cから90°Cの温度範囲とするいか
なる形式の回路によっても構成することができる。非制
限的な例であるが、この温度は75°Cとすることかで
きる。
第3図は、原子炉の制御棒の漏れ特定装置の全設備のブ
ロック図である。勿論、単数又は複数の制御棒或いは対
応するクラスタは、無視することができない程度の放射
性を有している。そして、クラスタの操作は、対応する
原子炉の水のプールに浸漬することによって行うもので
ある。この点に関し、単数又は複数の制御棒及びクラス
タを操作するための装置は、第3図には図示されていな
いが、本発明装置、特に遮蔽室1は、原子炉のプールP
内に浸漬される。勿論、高圧回路HP、低圧回路LP、
遮蔽室1及び分析回路3によって構成されるセットは、
プールPの水に対して不浸透とされている。
第3図は、また電離放射線に対して遮蔽された室内のバ
ルブV3を図示している。これにより、上述した室内に
ある各制御棒の核部分の構成要素の化学的誘導体の分析
が可能となる6 我々は、原子炉の1又は2以上の制御棒の漏れを検出又
は特定することがてきる方法及び装置について説明して
きた。
[発明の効果] 本発明の原子炉の制御棒漏れ特定方法及びその装置は、
それらによって、加圧水型原子炉の稼働に重要な部分、
特に、制御棒及びそれに対応するクラスタ等の重要な部
分をシステマチックにチエツクでき、それにより、原子
炉の稼働をチエツクできる点において、特に有用である
【図面の簡単な説明】
第1a図及び第1b図は、原子力発電所に使用されてい
る現1@設の制御棒の正面図及びクラスタの概略図であ
る。 第2図は、本発明方法を実行することができる1m設の
プロ・ンク図である。そして、第3図は、原子炉の制御
棒の漏れ特定装置の全設備のブロック図である。 ]・・・遮蔽室 2・・・分析溶液供給回路 3・・・分析回路 30・・・計数容器 31・・・計数手段   32・・・循環ポンプ33・
・・デイスプレシステム 4・・・加熱回路 Cr・・・制御棒

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)分析溶液と呼ばれる活性溶液で充填された遮蔽室
    に制御棒を置くステップと、 活性溶液が被疑欠陥制御棒の漏孔欠陥を通って被疑欠陥
    制御棒内に浸透させるように、前記活性溶液に高圧力を
    掛けるステップと、 しかる後、前記圧力を解放して、前記活性溶液が遮蔽室
    内の被疑欠陥制御棒から出てくることができるようにす
    るステップと、そして、 前記被疑欠陥制御棒の核部分の構成金属の前記活性溶液
    内における化学的誘導体を示すことができるように、前
    記活性溶液の分析を行うステップと、 を有する原子炉の制御棒漏れ特定方法。
  2. (2)請求項1に記載の方法において、 前記活性溶液が、硝酸、硫酸及び塩酸からなるグループ
    より選んだ酸溶液である方法。
  3. (3)請求項1に記載の方法において、 カドミウム、インジウム及び銀の合金からなる核部分を
    持つ制御棒の場合、前記化学的誘導体は、該合金の構成
    要素の金属塩である方法。
  4. (4)請求項1に記載の方法において、 前記化学的誘導体を示す上に、さらに、前記圧力を解放
    した後、前記活性溶液について、前記合金の放射性同位
    体、特に、銀Ag110mを、濃度の閾域値を参照して
    検出するステップを含む方法。
  5. (5)請求項4に記載の方法において、 前記合金の放射性同位体、特に、銀Ag110mの検出
    を、ガンマ分光測定法によって行う方法。
  6. (6)請求項5に記載の方法において、 初期溶液を構成する酸溶液で充填された遮蔽室に制御棒
    を置くステップに先立って、分光測定法によって、該初
    期溶液の銀Ag110mを含む放射性同位体の濃度を決
    定するステップを含んでおり、該初期溶液の前記濃度が
    濃度の閾域値として選択される方法。
  7. (7)請求項1に記載の方法において、 溶液を制御棒に浸透させるように前記溶液に掛けられた
    高圧力が、少なくとも10分の間維持される方法。
  8. (8)請求項1に記載の方法において、 前記溶液の前記制御棒の核部分の構成要素に対する化学
    反応を促進するための加熱ステップを、前記制御棒の前
    記溶液内への挿入の前又は後に、前記溶液に付与する方
    法。
  9. (9)請求項7に記載の方法において、 前記制御棒を前記溶液内へ挿入する前に、水の中の銀、
    インジウム及びカドミウムの化学的濃度を測定するステ
    ップと、 加圧ステップ及び加熱ステップの後、この測定ステップ
    を繰返すステップと、 を有する方法。
  10. (10)分析すべき少なくとも1本の制御棒を受入れる
    ことができる遮蔽室であって、分析溶液を供給する回路
    が設けられている遮蔽室と、前記遮蔽室に接続された分
    析回路であって、前記分析溶液を循環させるポンプ、銀
    同位体Ag110mを含む放射性同位体を計数する容器
    、前記放射性粒子を計数する手段及び前記分析溶液のサ
    ンプルを採取するためのバルブとを有している分析回路
    と、 を有する原子炉の制御棒漏れ特定装置。
  11. (11)請求項10に記載の装置において、分析溶液を
    供給する前記回路が、制御バルブを有する高圧力回路及
    び制御バルブを有する低圧力回路を含む装置。
  12. (12)請求項10に記載の装置において、前記分析回
    路が、バイパスとして、溶液加熱回路をさらに含んでい
    る装置。
  13. (13)請求項10に記載の装置において、本発明装置
    が、原子炉のプール内に浸漬されると共に、高圧力回路
    、低圧力回路、遮蔽室及び分析回路によって構成される
    セットが、プールの水に対して不浸透とされている装置
JP1172822A 1988-07-06 1989-07-04 原子炉の制御棒漏れ特定方法及びその装置 Pending JPH0252295A (ja)

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FR8809160 1988-07-06
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EP (1) EP0350401B1 (ja)
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KR (1) KR900002339A (ja)
DE (1) DE68908800T2 (ja)
ES (1) ES2044171T3 (ja)
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