JPH0251882A - Connection socket and contact pin used therefor and manufacture thereof - Google Patents
Connection socket and contact pin used therefor and manufacture thereofInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はICパフケージ等の各種電子部品等と接続回路
とを接続するために用いられる接続ソケット並びにそれ
に使用するコンタクトピンに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a connection socket used for connecting various electronic components such as an IC puff cage and a connection circuit, and a contact pin used therein.
〔従来の技術及び発明が解決しようとする課題〕第8図
及び第9図は従来のフラット型ICパンケージ用のIC
ソケットの一例を示しているが、図において、ソケット
本体21には複数のコンタクトピン22が配列されてい
て、各コンタクトピン22は仕切壁23によって夫々相
互に仕切られている。かかるICソケットにおいて、ソ
ケット本体21内にICパッケージPが収容されると各
リード端子りと上記コンタクトピン22とが接触して更
にICソケットを図示されていないプリント配線板等に
装着することによりICパッケージPの外部接続回路と
の電気的接続が行われる。ところで上記仕切壁23はコ
ンタクトピン22の位置決め、曲がり防止及び相互の接
触防止等のために設けられているが、かかる仕切壁23
を多数形成して前述した如く各仕切壁23相互間にコン
タクトピン22を介在せしめるので多数のコンタクトピ
ン22を正しく整列させることができ、これによりIC
パンケージPと外部接続回路との電気的接続を適正に行
い得るようになっている。[Prior art and problems to be solved by the invention] Figures 8 and 9 show ICs for conventional flat type IC pancakes.
Although an example of a socket is shown in the figure, a plurality of contact pins 22 are arranged in a socket body 21, and each contact pin 22 is partitioned from each other by a partition wall 23. In such an IC socket, when the IC package P is accommodated in the socket body 21, each lead terminal comes into contact with the contact pin 22, and when the IC socket is mounted on a printed wiring board (not shown) or the like, the IC is removed. The package P is electrically connected to an external connection circuit. By the way, the partition wall 23 is provided to position the contact pins 22, prevent them from bending, and prevent them from coming into contact with each other.
Since a large number of contact pins 22 are interposed between each partition wall 23 as described above, a large number of contact pins 22 can be aligned correctly, and thereby the IC
This allows proper electrical connection between the pan cage P and the external connection circuit.
一方、近年ICパフケージの小型化と共にリード端子の
高密度化が進んできていることに加えてリード端子の数
自体も増加する傾向があり、従ってこのようなIcパッ
ケージに適合し得るICソケットとしては多数のコンタ
クトピンの高密度配列を余儀なくされる。従って、かか
る高密度化配列のコンタクトピンを存するICソケット
を実現するためには例えばコンタクトピン相互間のピッ
チ間隔を0.3fi程度まで減少させると共にコンタク
トピンの肉厚を薄くすることが考えられるが、その場合
コンタクトピンの強度が弱くなって曲がり変形を起こし
易くなるばかりか電気的接続のための接触圧力は不十分
になる上に耐久性が著しく減少する等の問題がある。又
、仕切壁についても、その板厚を減少させると成形用の
金型の製作上仕切壁に対応する部分の加工が困難になる
と共に仕切壁自体の耐久性が減少するという不都合があ
る。On the other hand, in recent years, as IC puff cages have become smaller, the density of lead terminals has increased, and the number of lead terminals themselves has also tended to increase. This necessitates a high-density arrangement of a large number of contact pins. Therefore, in order to realize an IC socket having such a high-density array of contact pins, it is conceivable to reduce the pitch between the contact pins to about 0.3fi and to reduce the thickness of the contact pins. In that case, there are problems such as not only the strength of the contact pin becomes weak and bending and deformation easily occurs, but also the contact pressure for electrical connection becomes insufficient and the durability is significantly reduced. Further, when the thickness of the partition wall is reduced, it becomes difficult to process the portion corresponding to the partition wall in manufacturing a mold, and the durability of the partition wall itself is reduced.
本発明はかかる実情に鑑み、コンタクトピンの耐久性等
を維持したまま特にコンタクトピンの高密度化、多数配
列を可能にし得るこの種接続ソケットを捷供することを
目的とする。In view of the above circumstances, it is an object of the present invention to provide a connection socket of this type that can particularly increase the density of contact pins and enable a large number of contact pins to be arranged while maintaining the durability of the contact pins.
(i1題を解決するための手段及び作用)本発明による
接続用ソケットでは、コンタクトピンの側面に形成した
絶縁膜を介して相互に絶縁状態でコンタクトピンを直接
接触させて列設することで仕切壁が不必要になり、従っ
てコンタクトピンを高密度に配列することができる。又
、配設したコンタクトピンはソケット本体の規制部によ
って規制されるようになっているためコンタクトピンの
正しい位置決めが行なわれその配設位置精度が保たれる
。一方、コンタクトピン自体は板状の側面の所定の部分
に絶縁膜が形成されているが、そのIBI厚は薄く且つ
均一にすることが容易に可能であるからコンタクトピン
の板厚を十分に確保することができると共にソケット本
体に小さいピッチ間隔で配置することができる。かかる
コンタクトピンの1!遣は、予め絶縁膜が形成された帯
状の材料を打抜き加工して行うことかできるので容嵩且
つ効率的である。(Means and effects for solving problem i1) In the connection socket according to the present invention, the contact pins are arranged in a row in direct contact with each other in a mutually insulated state through an insulating film formed on the side surface of the contact pins. Walls are no longer required, and therefore contact pins can be arranged in high density. Furthermore, since the arranged contact pins are regulated by the regulating portion of the socket body, the contact pins can be correctly positioned and the accuracy of the arrangement can be maintained. On the other hand, the contact pin itself has an insulating film formed on a predetermined part of the plate-shaped side surface, and since the IBI thickness can be easily made thin and uniform, it is possible to ensure a sufficient thickness of the contact pin. and can be arranged at small pitches in the socket body. One of the contact pins! This can be done by punching out a strip-shaped material on which an insulating film has been formed in advance, which is bulky and efficient.
以下、第1図及び第2図に基づき本発明によるコンタク
トピンの第一実施例を説明する0図中、lは板状の導電
性の材料例えばベリリウム銅に金メツキを施した板厚0
.1〜0.4fl程度の材料により形成されたコンタク
トピン、2は図示されていないソケット本体へその下端
面で着座してコンタクトピン1を該ソケット本体に定1
させるための基部、3は基部2の一端部より延出してい
て上記ソケット本体に設けられた挿通孔(図示されてい
ないがコンタクトピンlが列設されるべきピッチに合わ
せて一定の間隔で形成されている)へ挿通ずると共にプ
リント配線板等の外部回路と接続するための接続端子部
、4はばね部5を介して基部2と連結され該ばね部5の
弾性によって矢印Aの方向に沿って変位し得る腕部、6
は腕部4の先端に形成されていて例えばICパフケージ
のリード端子(第8図参照)と接触すべき接触片部、7
7′は非導電性の耐熱性の高いプラスチック材料をコー
ティング等の方法によってコンタクトピンlの一方の面
の基部2及び腕部4の一部分に例えばO,1〜0.2f
l程度の均一の厚さに塗布して成る絶縁薄膜である。Hereinafter, a first embodiment of the contact pin according to the present invention will be explained based on FIGS. 1 and 2. In the figures, l is the thickness of a plate-shaped conductive material such as beryllium copper plated with gold.
.. A contact pin 2 formed of a material of about 1 to 0.4 fl is seated on a socket body (not shown) with its lower end surface, and the contact pin 1 is fixed to the socket body.
A base 3 extends from one end of the base 2 and is provided in the socket body through insertion holes (not shown, but formed at regular intervals in accordance with the pitch at which the contact pins 1 are to be arranged in rows). The connecting terminal part 4 is connected to the base part 2 via a spring part 5, and is inserted into the base part 2 through the spring part 5, and is inserted in the direction of the arrow A by the elasticity of the spring part 5. an arm that can be displaced by
A contact piece 7 is formed at the tip of the arm 4 and is to come into contact with, for example, a lead terminal of an IC puff cage (see FIG. 8).
7' is a non-conductive, highly heat-resistant plastic material coated on a portion of the base 2 and arm 4 on one side of the contact pin l, for example, O, 1 to 0.2f.
It is an insulating thin film that is coated to a uniform thickness of approximately 1.
更に、第2図を参照して、かかるコンタクトピン1の製
造方法について説明すると、8はコンタクトピン1を形
成すべき上記へリリウム銅で成る帯状の板材、9.9′
は該板材8より形成されるべきコンタクトピン1 (二
点鎖線により示されている)の上記絶縁薄膜7.7′を
形成するために基部2及び腕部4に対応して板材8の長
手方向に上記コーティング等の方法によって形成された
絶縁被膜である。この絶縁被膜9が形成された板材8か
らプレス等による打抜き加工により第1図に示したコン
タクトピン1が形成される。Further, referring to FIG. 2, the method for manufacturing the contact pin 1 will be described. Reference numeral 8 denotes a strip-shaped plate material made of helium copper to form the contact pin 1, and 9.9'
is the longitudinal direction of the plate 8 corresponding to the base 2 and the arm 4 in order to form the insulating thin film 7,7' of the contact pin 1 (indicated by the two-dot chain line) to be formed from the plate 8. This is an insulating coating formed by a method such as the above-mentioned coating. The contact pin 1 shown in FIG. 1 is formed from the plate material 8 on which the insulating coating 9 is formed by punching using a press or the like.
かくして成るコンタクトピン1は接続端子部3が前述し
たソケット本体の挿通孔へ挿通されてソケット本体に一
定のピッチで列設されるが、その際絶縁薄膜7,7′が
各コンタクトと71相互間に介在するので隣接するコン
タクトピン1同士が電気的に接触することはなく且つそ
の間隔は一定に保持されて各コンタクトピン1の正しい
位置決めが行われる。このようにコンタクトピン1は、
従来例において説明した仕切壁を用いることなく正しい
位置決めと適正な電気的接続を行ない得るが、かかる仕
切壁をなくした分だけ列設するコンタクトピン1相互間
のピッチを小さくすることができると共に、絶縁薄膜7
.7′は比較的薄くその膜厚は容易に均一化することが
できるからコンタクトピン1自体の板厚として強度的に
十分な厚さを確保できる。従って、機械的強度等による
耐久性を維持したままコンタクトピンIの高密度化を図
ることができる。In the contact pin 1 thus constructed, the connection terminal portion 3 is inserted into the insertion hole of the socket body described above and arranged in a row at a constant pitch in the socket body. Since adjacent contact pins 1 are not in electrical contact with each other and the distance between them is maintained constant, correct positioning of each contact pin 1 is performed. In this way, contact pin 1 is
Correct positioning and proper electrical connection can be performed without using the partition wall described in the conventional example, but the pitch between the contact pins 1 arranged in a row can be reduced by the amount of such partition wall removed, and Insulating thin film 7
.. Since the film 7' is relatively thin and its thickness can be easily made uniform, a thickness sufficient for strength can be ensured as the plate thickness of the contact pin 1 itself. Therefore, it is possible to increase the density of the contact pins I while maintaining durability due to mechanical strength and the like.
第3図はコンタクトピンの第二実施例を示す。FIG. 3 shows a second embodiment of the contact pin.
この例では基部2の両端に被規制部としての張出し部2
a、2bが形成されていて、これら張出し部2a、
2bには第一実施例と同様に絶縁薄膜7が形成されてい
る。第4図はかかるコンタクトピン1′が好適に用いら
ルた接続用ソケットの一例を示していて従来例で示した
ICパッケージ用の場合について説明するが、図のよう
にコンタクトピン1′は列設したコンタクトピン(1′
)の五本置きに配置されている。上記張出し部2aば、
柱状をなしてソケット本体10に立設された第一の規制
部11.11’により両側面(規制部II側は絶縁薄膜
7を挾んでいる)を挾持されると共に張出し部2bは、
ソケット本体10の周辺部の壁に溝状に形成された第二
の規制部12と嵌合スる。このようにコンタクトピン1
゛は第−及び第二の規制部11.11’及び12と係合
することによりそれ自身ソケット本体10上で正しく位
置決めされるように規制されるが、このことによりコン
タクトピンlに対する位置決めは更に確実になって列設
するコンタクトピン1,1′全体として位置精度を十分
に確保することができる。実使用に際してソケット本体
10へICパンケージ等の電子部品が装着されると、コ
ンタクトピンl(1′)の接触片部6は3g I Cパ
ッケージのリード端子等により押し下げられるが、その
場合各接触片部6は一斉に押し下げられるので絶縁薄膜
7″が形成されている腕部4が隣接するもの同士大きく
ずれて変位することはなく、従ってかかるずれによる摩
耗の危険性がないばかりか、電気的にもコンタクトピン
1(1’)相互間で短絡を起こすことはない、このため
絶縁薄11’17’(7)とじては少なくとも絶縁性と
耐熱性とを備えていれば足りるので、その材料の選定の
点でも極めて有利である。この例のようにコンタクトピ
ン1.ドを用いた接続用ソケットでは、これらコンタク
トと71.1′の位置精度が著しく向上していることに
加え、第一実施例と同様に仕切壁を使用していないので
コンタクトピン1.1′を一層高密度に配設することが
可能になる。尚、コンタクトピンl′を配設する間隔は
上記の場合の他適宜の本数置きにしてもよい、又この実
施例において第−規制部11.II’の柱状体に代えて
、第4図に一点鎖線で示す如くソケット本体と一体の突
体を設け、該突出体部分に前記溝状の規制部12と同様
の溝を形成して該溝部に嵌合規制させるようにしてもよ
い。In this example, overhanging portions 2 as regulated portions are provided at both ends of the base 2.
a, 2b are formed, and these overhanging parts 2a,
An insulating thin film 7 is formed on 2b as in the first embodiment. FIG. 4 shows an example of a connection socket in which such contact pins 1' are suitably used, and the case for an IC package shown in the conventional example will be explained. Contact pin (1'
) are arranged every fifth. The above-mentioned overhang part 2a,
Both side surfaces (the regulating part II side sandwiches the insulating thin film 7) are held by the first regulating part 11.11' which is vertically arranged in the socket main body 10 in the form of a column, and the overhanging part 2b is
It fits into a second regulating part 12 formed in a groove shape on the peripheral wall of the socket body 10. Contact pin 1 like this
By engaging with the first and second regulating portions 11, 11' and 12, it is regulated to be correctly positioned on the socket body 10, but this further improves its positioning with respect to the contact pin l. Therefore, sufficient positional accuracy can be ensured for the contact pins 1, 1' arranged in a row as a whole. When an electronic component such as an IC pancake is attached to the socket body 10 during actual use, the contact piece portion 6 of the contact pin l (1') is pushed down by the lead terminal of the 3g IC package. Since the portions 6 are pushed down all at once, the adjacent arm portions 4 on which the insulating thin film 7'' is formed will not be significantly displaced from each other, and therefore, not only will there be no risk of wear due to such displacement, but the electrical However, a short circuit will not occur between the contact pins 1 (1'). Therefore, it is sufficient that the insulating thin film 11'17' (7) has at least insulation and heat resistance. It is also extremely advantageous in terms of selection.In a connection socket using contact pins 1.1 and 71.1' as in this example, the positional accuracy of these contacts and 71.1' is significantly improved. As in the example, since no partition wall is used, it is possible to arrange the contact pins 1.1' at a higher density.In addition, the intervals at which the contact pins l' are arranged can be determined as appropriate in addition to the above cases. Also, in this embodiment, instead of the columnar body of the first regulating part 11.II', a protruding body integral with the socket main body is provided as shown by the dashed line in FIG. 4, and the protruding body A groove similar to the groove-shaped regulating portion 12 may be formed in the portion and the fitting may be restricted by the groove.
第5図はコンタクトピン1′の変形例を示している。こ
の例では、接触片部6の基部に突出部6aが形成される
と共に第一の規制部11.11が該突出部6aの高さ位
置まで立設されている。FIG. 5 shows a modification of the contact pin 1'. In this example, a protrusion 6a is formed at the base of the contact piece 6, and the first regulating part 11.11 is erected up to the height of the protrusion 6a.
第一の規制部11.11’は張出し部2a並びにこの突
出部6aの双方を規制するようになっているので、コン
タクトピン】′に対する位置精度を更に向上させること
ができる。この場合にも規制部11.11’は柱状体に
代えて前述の如く突出体の溝構成を用いることができる
。Since the first regulating portion 11.11' is adapted to regulate both the projecting portion 2a and the projecting portion 6a, the positional accuracy with respect to the contact pin ]' can be further improved. In this case as well, the restricting portions 11.11' may have a groove configuration of a protruding body as described above instead of a columnar body.
第6図はコンタクトピン1゛の別の変形例を示している
。この例では、腕部4の側方へ突出部4aが形成される
と共に第二の規制部12の溝が張出し部2b並びにこの
突出部4aの双方と嵌合するようになっていて、第一の
Ml、割部11,11及び第二の規制部12が張出し部
2a、突出部6a及び張出し部2b、突出部4aを夫々
規制するので、コンタクトピン1,1′の位置精度は一
層確実に保たれる。この場合の柱状体11.11側の導
構成化も同様に可能である。第7図はこの際のコンタク
トピン1′を製造するための板材8゜絶縁液1119.
9’を示しているが、絶縁被膜9′が腕部4及び突出部
4a、6aに対応する部分に形成されている他は第2図
に示したものと同様であるので説明を省略する。FIG. 6 shows another modification of the contact pin 1''. In this example, a protruding part 4a is formed on the side of the arm part 4, and the groove of the second regulating part 12 fits into both the protruding part 2b and this protruding part 4a, and the first Ml, the split parts 11, 11 and the second regulating part 12 regulate the overhanging part 2a, the protruding part 6a, the overhanging part 2b, and the protruding part 4a, respectively, so that the positional accuracy of the contact pins 1, 1' is further ensured. It is maintained. In this case, the conductive structure on the columnar body 11.11 side is also possible. FIG. 7 shows a plate material 8° and an insulating liquid 1119 for manufacturing the contact pin 1'.
9' is shown, except that an insulating coating 9' is formed on the portions corresponding to the arm portion 4 and the protruding portions 4a, 6a. Since this is the same as that shown in FIG. 2, a description thereof will be omitted.
尚、上記各実施例におけるコンタクトピン1(1゛)は
、予め個々に打ち抜き、若しくは板材8に対し一部分だ
け切離し部を残して打ち抜いて、その後で絶縁膜M7.
7’を形成するようにしてもよい、又、絶縁薄膜7.7
′は非導電性の耐熱塗料をイオンブレーティング法によ
って付着せしめることにより形成してもよく又、絶縁テ
ープを貼着することにより形成し得るが、これらいずれ
の場合もその両面に形成したコンタクトピンとかかる絶
縁膜M!1.1’を全く形成していないコンタクトピン
とを交互に配設しても上記実施例と同様な作用効果が得
られる。コンタクトピンン1の数が少なく列設した際の
ピッチが比較的粗い場合には絶縁薄膜7.7′の厚みを
1fi以上にしても差し支えない。The contact pins 1 (1') in each of the above embodiments are individually punched out in advance, or punched out from the plate material 8 leaving only a portion separated, and then the insulating film M7.
Alternatively, an insulating thin film 7.7 may be formed.
′ may be formed by applying a non-conductive heat-resistant paint using the ion-blating method, or may be formed by pasting an insulating tape, but in either case, contact pins formed on both sides of the Such an insulating film M! Even if contact pins having no contact pins 1 and 1' are arranged alternately, the same effects as in the above embodiment can be obtained. When the number of contact pins 1 is small and the pitch when arranged in a row is relatively coarse, the thickness of the insulating thin film 7,7' may be set to 1 fi or more.
上述のように本発明によれば、コンタクトピンt−a小
ピッチで列設することができるので特にICパッケージ
のリード端子の高密度化、小型化に有効に対処でき、列
設したコンタクトピンの位置精度を容易に値保し得るの
でこの種接続用ソケットとして確実な電気的接続を行な
える。コンタクトピンの製造は予め板材の所定の位置に
絶縁被膜を形成しておいて打抜き加工をするという簡単
な加工で済むため容易に量産化を実現することができる
。コンタクトピンに均一な膜厚の絶縁膜を容易に形成す
ることができるので接続用ソケットに配列されたコンタ
クトピンの位置精度を一層向上させることができる。こ
のようなコンタクトピンを使用した接続用ソケットは仕
切壁を全く不必要にすることができる結果その成形用金
型の構造は著しく簡単になって製造コストの点でも極め
て有利である。以上の説明においてICパッケージ用の
ソケットの場合を例にして述べたが、本発明による接続
用ソケット並びにコンタクトピンは例えば液晶デイスプ
レィ装置の接続端子との接続又はその他の電気回路基板
上の接続端子との接続等に適用して上述した如き作用効
果を発揮し得ることは勿論である。As described above, according to the present invention, since the contact pins can be arranged in a row at a small pitch, it is possible to effectively cope with increasing the density and miniaturizing the lead terminals of an IC package. Since positional accuracy can be easily maintained, reliable electrical connections can be made as this type of connection socket. Since contact pins can be manufactured by simply forming an insulating coating at a predetermined position on a plate material and then punching the pin, mass production can be easily realized. Since an insulating film having a uniform thickness can be easily formed on the contact pins, the positional accuracy of the contact pins arranged in the connection socket can be further improved. A connection socket using such a contact pin can completely eliminate the need for a partition wall, and as a result, the structure of its molding die is significantly simplified, which is extremely advantageous in terms of manufacturing costs. In the above explanation, the case of a socket for an IC package has been described as an example, but the connection socket and contact pin according to the present invention can be used, for example, to connect with a connection terminal of a liquid crystal display device or with a connection terminal on another electric circuit board. It goes without saying that the above-mentioned effects can be achieved by applying the present invention to connections such as the above.
第1図は本発明のコンタクトピンの第一実施例による正
面図、第2図は該コンタクトピンを板材より形成する製
造工程を説明する図、第3図は第二実施例によるコンタ
クトピンの正面図、第4図は本発明のコンタクトピンを
列設せしめて成る接続用ソケットの部分平面図、第5図
及び第6図はコンタクトピンの変形例を示す正面図、第
7図は第6図で示したコンタクトピンの製造工程を説明
する図、第8図及び第9図は従来のICパンケージ用の
接続用ソケットの斜視図及び縦断面図である。
■・・・・コンタクトピン、2・・・・基部、3・・・
・接続端子部、4・・・・腕部、5・・・・ばね部、6
・・・・接触片部、7.7゛・・・・絶縁yI膜、8・
・・・板材、9・・・・絶縁被膜、10・・・・ソケッ
ト本体、11,11’、12・・・・規制部。
1F5図
牙6図
オフ図
f3図
f4図FIG. 1 is a front view of a first embodiment of a contact pin of the present invention, FIG. 2 is a diagram illustrating the manufacturing process of forming the contact pin from a plate material, and FIG. 3 is a front view of a contact pin according to a second embodiment. 4 is a partial plan view of a connection socket comprising contact pins of the present invention arranged in rows, FIGS. 5 and 6 are front views showing modified examples of contact pins, and FIG. 8 and 9 are a perspective view and a vertical sectional view of a conventional connection socket for an IC pancase. ■・・・Contact pin, 2...Base, 3...
・Connection terminal part, 4...Arm part, 5...Spring part, 6
... Contact piece part, 7.7゛ ... Insulating yI film, 8.
... Plate material, 9 ... Insulating coating, 10 ... Socket body, 11, 11', 12 ... Regulation part. 1F5 figure fang 6 figure off figure f3 figure f4 figure
Claims (4)
した側に延出しばね部を介して上記基部と連結する腕部
と、該腕部の先端に形成された接続片部とを有する、板
状の導電性材料で形成されたコンタクトピンにおいて、
少なくとも一方の側面の上記基部及び上記腕部の一部を
絶縁膜で被覆したことを特徴とするコンタクトピン。(1) A connecting terminal portion extending from the base, an arm portion extending to the side opposite to the terminal portion and connecting to the base portion via a spring portion, and a connecting piece portion formed at the tip of the arm portion. In a contact pin formed of a plate-shaped conductive material,
A contact pin characterized in that a portion of the base portion and the arm portion on at least one side surface are covered with an insulating film.
を介して装着された電子部品等と接続回路との電気的接
続を行うようにした接続ソケットにおいて、上記コンタ
クトピンを、側面に形成した絶縁膜を介して相互に絶縁
状態で接触列設するようにした請求項(1)に記載のコ
ンタクトピンを用いた接続用ソケット。(2) In a connection socket that is configured to electrically connect an electronic component mounted on the socket body with a connection circuit through multiple rows of contact pins, the contact pins are connected to an insulating film formed on the side surface of the socket. A connection socket using contact pins according to claim 1, wherein the contact pins are arranged in a row in contact with each other in an insulated state through the contact pins.
ち一定本数置き毎に被規制部を形成すると共に該被規制
部を上記ソケット本体に設けた規制部によって規制する
ことにより上記各コンタクトピンを位置決めするように
したことを特徴とする請求項(2)に記載の接続用ソケ
ット。(3) Positioning of each of the contact pins is performed by forming a regulated part at every predetermined number of contact pins arranged in a row on the socket body, and regulating the regulated part by a regulating part provided on the socket body. The connection socket according to claim 2, characterized in that the connection socket is configured to:
抜きして、形成されるべき上記コンタクトピンの基部及
び腕部に対応する部分に絶縁膜を被覆形成した後、上記
帯状の材料又は予備打抜きした材料をコンタクトピンの
形状に打抜き加工し又は切離し加工するコンタクトピン
の製造方法。(4) After forming an insulating film on the band-shaped conductive material or by pre-punching the material and coating the parts corresponding to the base and arm parts of the contact pin to be formed, the band-shaped material or the preliminary punching is performed. A contact pin manufacturing method that involves punching or cutting a punched material into the shape of a contact pin.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63201620A JPH0756825B2 (en) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | Socket for connection |
Applications Claiming Priority (1)
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JP63201620A JPH0756825B2 (en) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | Socket for connection |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0251882A true JPH0251882A (en) | 1990-02-21 |
JPH0756825B2 JPH0756825B2 (en) | 1995-06-14 |
Family
ID=16444081
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63201620A Expired - Fee Related JPH0756825B2 (en) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | Socket for connection |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0756825B2 (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH0473872A (en) * | 1990-07-16 | 1992-03-09 | Japan Aviation Electron Ind Ltd | Tuning fork type contact and manufacture thereof |
JPH04329280A (en) * | 1991-05-02 | 1992-11-18 | Yamaichi Electron Co Ltd | Socket for electric part |
JPH1131566A (en) * | 1997-02-10 | 1999-02-02 | Micronics Japan Co Ltd | Auxiliary device for testing material to be inspected |
US7104825B2 (en) | 1993-10-27 | 2006-09-12 | Enplas Corporation | Socket assembly |
JP2015049076A (en) * | 2013-08-30 | 2015-03-16 | 三菱電機株式会社 | Contact and measuring device |
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JPS643977A (en) * | 1987-06-26 | 1989-01-09 | Yamaichi Electric Mfg | Connection device for electronic part |
-
1988
- 1988-08-12 JP JP63201620A patent/JPH0756825B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0756825B2 (en) | 1995-06-14 |
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