JPH0249227A - Structure of optical head - Google Patents

Structure of optical head

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JPH0249227A
JPH0249227A JP63199367A JP19936788A JPH0249227A JP H0249227 A JPH0249227 A JP H0249227A JP 63199367 A JP63199367 A JP 63199367A JP 19936788 A JP19936788 A JP 19936788A JP H0249227 A JPH0249227 A JP H0249227A
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JP
Japan
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light
reflecting
parallel
optical head
split
Prior art date
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JP63199367A
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Japanese (ja)
Inventor
Shuichi Hoshino
秀一 星野
Hiroaki Nishikuma
西隈 弘明
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NHK Spring Co Ltd
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NHK Spring Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To detect a focusing error state satisfactorily even when focus setting is performed by making a reflecting plane to reflect split light pass the intersection of the reflecting plane and the optical axis of the split light, and extending the split that at both sides of a straight line in parallel with a knife edge. CONSTITUTION:A photometric sensor 11 to detect each error state and recording state of focusing and tracking is arranged in the optical path of detecting light 10. The bottom plane of a prism 16 is stuck closely with the light receiving plane 13a of a photodiode 13 on a substrate 12, and polarized reflecting planes 17 and 18 which pass the P-polarized component of the detecting light 10 and reflect the S-polarized component are arranged at the inside of the prism 16 so that the end parts of them can be abutted with each other at a position to pass the optical axis of the detecting light 10. And only the S-polarized component of the detecting light 10 is bi-sected in semicircular shape in a direction intersecting orthogonally to the incident direction of the detecting light 10 setting the abutted end part 19 as the knife edge, and bi-sected light are reflected as split light 10a and 10b in a direction in parallel with the substrate 12. The split 10a and 10b pass the intersection of the reflecting planes 21 and 23 and the optical axis of each split light, and are extended at the both sides of the straight line in parallel with the abutting part 19.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] 〈産業上の利用分野〉 本発明は記録媒体に情報を記録及び再生する光学式記録
装置の光学ヘッド構造に関し、特に光学ヘッドのトラッ
キング及びフォーカス方向の各エラー状態を光学的に検
出するための光学ヘッド構造に関する。
Detailed Description of the Invention [Objective of the Invention] <Industrial Application Field> The present invention relates to an optical head structure of an optical recording device that records and reproduces information on a recording medium, and particularly relates to an optical head structure for tracking and focusing directions of an optical head. The present invention relates to an optical head structure for optically detecting each error condition.

〈従来の技術〉 従来から、例えば光磁気記録媒体としての光ディスクの
記録面に比較的強い収束光を照射することにより情報を
記録し、また比較的弱い収束光を照射しその反射光を検
出することにより上記情報を再生する高密度記録再生装
置がある。この装置に用いられる光ディスクには、一般
に若干の反りや歪みがあると共に光ディスクの回転軸へ
の取り付は誤差による偏心があるが、光学ヘッドを、そ
れらの影響を受けることなく光ディスクの記録トラック
に追従させるべく光学ヘッドのフォーカス及びトラッキ
ングの各エラー状態を検出し、その位置制御を行うよう
にしている。
<Prior art> Conventionally, for example, information is recorded by irradiating the recording surface of an optical disk as a magneto-optical recording medium with relatively strong convergent light, and also by irradiating relatively weak convergent light and detecting the reflected light. There is a high-density recording/reproducing device that reproduces the above information by using the above information. The optical discs used in this device generally have some warpage or distortion, and there is eccentricity due to errors in mounting the optical disc on the rotating shaft, but the optical head can be moved to the recording track of the optical disc without being affected by these. In order to track the optical head, each error state of focus and tracking of the optical head is detected and its position is controlled.

特開昭63−146237号公報には、上記各エラー状
態を検出する構造の一例が開示されている。
Japanese Unexamined Patent Publication No. 63-146237 discloses an example of a structure for detecting each of the above error states.

この構造では、光ディスクからの反射光をビームスプリ
ッタにより変向して得た検出光の光路内に、一方の偏光
成分のみを直角に反射する一対の偏光分離膜が互いに角
度をもって隣接して設けられたプリズム体を、両幅光分
離膜の隣接部即ちエツジ部が検出光の光軸を通るような
位置に、ビームスプリッタに貼り付けることにより配置
している。従って、このプリズム体に入射した検出光は
、各偏光分離膜にて一方の偏光成分のみ分離され、かつ
エツジ部にて半月状に2分割され、各々このプリズム体
に一体的に設けられた反射面にて反射され、一対のフォ
ーカスエラー検出用2分割受光素子の中央境界部に集光
するようになっている。
In this structure, a pair of polarization separation films that reflect only one polarization component at right angles are provided adjacent to each other at an angle in the optical path of the detection light obtained by deflecting the reflected light from the optical disk using a beam splitter. The prism body is attached to the beam splitter so that the adjacent part, that is, the edge part of the double-width optical separation film passes through the optical axis of the detection light. Therefore, the detection light incident on this prism body is separated by only one polarization component by each polarization separation film, and is divided into two halves in the shape of a half moon at the edge, each of which is divided into two halves by a reflection light integrally provided in this prism body. The light is reflected by the surface and focused on the central boundary of a pair of two-split light-receiving elements for focus error detection.

しかるに、この構造ではプリズム体をビームスプリッタ
に貼り付けていることから、上記両偏光反剣面間のエツ
ジ部と上記両反射面の上端部とが、検出光の進行方向に
対して直交する同一平面上に位置しているが、例えば光
学ヘッドのフォーカス引き込み時には、該ヘッドのフォ
ーカス位置が著しく狂っており、例えば検出光の焦点が
著しく受光素子よりも手前にある場合等には、偏光分離
膜にて反射された半月状分割光が上記反射面内に収まら
ず、好適にフォーカスのエラー状態を検出できない場合
があった。
However, in this structure, since the prism body is attached to the beam splitter, the edge between the polarization anti-polarization surfaces and the upper end of the reflection surfaces are at the same point perpendicular to the traveling direction of the detection light. However, when the optical head focuses, for example, the focus position of the head is significantly deviated. For example, if the focus of the detection light is significantly in front of the light receiving element, the polarization separation film In some cases, the half-moon-shaped split light reflected by the lens does not fall within the reflecting surface, and it is not possible to appropriately detect a focus error state.

また、上記構造では、フォーカス位置が最適な場合にフ
ォーカスエラー検出用の2分割受光素子の中央境界部が
焦点位置となるように各分割光を照射しているが、この
境界部には実際には隙間があることから、この隙間に検
出光が集中してしまうとフォーカスエラー検出用の受光
素子にて一方の偏光成分の光量を検出する場合に大きな
誤差が生じてしまい、特に光磁気記録装置のように検出
光の両幅光成分の光量により情報を読取る場合には問題
があった。
In addition, in the above structure, when the focus position is optimal, each divided light is irradiated so that the central boundary of the two-divided light receiving element for focus error detection becomes the focal position, but this boundary is actually Since there is a gap, if the detection light is concentrated in this gap, a large error will occur when the light receiving element for focus error detection detects the light intensity of one polarization component, especially in magneto-optical recording devices. There is a problem when reading information based on the light intensity of the double-width light component of the detection light, as in the above example.

〈発明が解決しようとする課題〉 このような従来技術の問題点に鑑み、本発明の目的は、
小型及び軽量化されると共にフォーカス引き込み時にも
フォーカスのエラー状態を好適に検出し得る光学ヘッド
構造を提供することにおる。
<Problems to be Solved by the Invention> In view of the problems of the prior art, the purpose of the present invention is to:
It is an object of the present invention to provide an optical head structure that is small and lightweight, and that can suitably detect a focus error state even during focus pull-in.

また、本発明の第2の目的は、情報の読取りに支障なく
フォーカスのエラー状態を好適に検出し得る光学ヘッド
構造を提供することにある。
A second object of the present invention is to provide an optical head structure that can suitably detect a focus error state without hindering information reading.

〈課題を解決するための手段〉 このような目的は、本発明によれば、光学ヘッドのトラ
ッキング及びフォーカス方向の各エラー状態を光学的に
検出するための光学ヘッド構造であって、前記両エラー
状態のいずれか一方を検出するべく収束光とされた検出
光の光路内に配置された第1の受光素子と、前記両エラ
ー状態のいずれか他方を検出するべく前記第1の受光素
子と並設された第2の受光素子と、ナイフェツジ手段に
て前記検出光から半月状部分を分割すると共に該分割光
を変向させる手段と、前記分割光を前記第2の受光素子
に向けて反射する手段とを有し、前記反射手段の反射面
が、前記分割光の光軸を中心として全方向に延在してい
ることを特徴とする光学ヘッド構造を提供することによ
り達成される。
<Means for Solving the Problems> According to the present invention, an optical head structure is provided for optically detecting each error state in the tracking and focusing directions of an optical head. a first light-receiving element disposed in the optical path of convergent detection light to detect either one of the error states; a second light-receiving element provided therein; a means for dividing the detected light into a semicircular portion using a knife means and changing the direction of the divided light; and a means for reflecting the divided light toward the second light-receiving element. The present invention is achieved by providing an optical head structure having means, wherein the reflecting surface of the reflecting means extends in all directions centering on the optical axis of the split light.

また、本発明の第2の目的は、光学ヘッドのフォーカス
方向のエラー状態を光学的に検出するための光学ヘッド
構造であって、検出光を収束する非平行光にする手段と
、前記非平行光の像の大きさが変化することにより互い
の受光量の差が変化するように、前記非平行光の光路内
の非焦点位置でおってかつ前記非平行光の光軸がいずれ
か一方に偏る位置に互いに隣接して設けられた一対の受
光手段と、前記両受光手段の互いの受光量の差を所定値
と比較することにより前記フォーカスのエラー状態を検
出する手段とを有することを特徴とする光学ヘッド構造
を提供することにより達成される。
A second object of the present invention is to provide an optical head structure for optically detecting an error state in the focusing direction of an optical head, which includes means for converting detection light into convergent non-parallel light, and The optical axis of the non-parallel light is at a non-focal position in the optical path of the non-parallel light and the optical axis of the non-parallel light is oriented to one side so that the difference in the amount of received light changes as the size of the light image changes. It is characterized by comprising a pair of light receiving means provided adjacent to each other at offset positions, and means for detecting the focus error state by comparing the difference in the amount of light received by the two light receiving means with a predetermined value. This is achieved by providing an optical head structure that achieves this.

〈作用〉 このようにすれば、検出光をフォーカスエラー検出用受
光素子に向けての反射する手段の反射面が大きくなり、
光が反射面から外れることがないため、光学ヘッドのフ
ォーカス引き込み時にも好適にフォーカスのエラー状態
を検出することができる。また光学ヘッドのフォーカス
エラー検出用の一対の受光手段を、検出光の非焦点位置
に於て検出光の像の大きざによって受光量の差が異なる
ように配置し、この差を所定値と比較するようにすれば
、情報の読取りに影響を及ぼすことなく好適にフォーカ
スのエラー状態を検出することができる。
<Function> By doing this, the reflecting surface of the means for reflecting the detection light toward the focus error detection light receiving element becomes larger.
Since the light does not deviate from the reflective surface, it is possible to suitably detect a focus error state even when the optical head is being focused. In addition, a pair of light receiving means for detecting focus errors of the optical head are arranged so that the difference in the amount of light received differs depending on the size of the image of the detection light at the non-focal position of the detection light, and this difference is compared with a predetermined value. By doing so, it is possible to suitably detect a focus error state without affecting reading of information.

〈実施例〉 以下、本発明の好適実施例を添付の図面について詳しく
説明する。
<Embodiments> Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

第1図は本発明が適用された光学ヘッドの要部を示す模
式図でおり、光源としての半導体レーザ1から光磁気デ
ィスク6に向けて照射される発散光からなる出射光5の
光路内には、偏光ビームスプリッタ2、コリメータレン
ズ4及び対物レンズ7が配設され、これtうを通過した
出射光5は光磁気ディスク6に照射される。ここで、偏
光ビームスプリッタ2は、その対角位置に設けられた偏
光反射膜2aを有し、該膜により偏光ビームスプリッタ
2に入射する光のS偏光成分を全反射すると共にP偏光
成分の一部を反射し、残りを通過するようになっている
。また、コリメータレンズ4はその円形の輪郭をもって
、半導体レーザ1からの出射光5を楕円形断面から円形
断面に整形するようになっている。
FIG. 1 is a schematic diagram showing the main parts of an optical head to which the present invention is applied. A polarizing beam splitter 2, a collimator lens 4, and an objective lens 7 are provided, and the output light 5 that has passed through these is irradiated onto a magneto-optical disk 6. Here, the polarizing beam splitter 2 has a polarizing reflecting film 2a provided at a diagonal position, and the film totally reflects the S-polarized component of the light incident on the polarizing beam splitter 2, and also partially reflects the P-polarized component. part is reflected and the rest is passed through. Furthermore, the collimator lens 4 has a circular outline and is configured to shape the emitted light 5 from the semiconductor laser 1 from an elliptical cross section to a circular cross section.

対物レンズ7により収束光となった出射光5は、光磁気
ディスク6の記録面8にて反射され、反射光9として偏
光ビームスプリッタ2内に上記とは逆向きに入射する。
The emitted light 5, which has been converged by the objective lens 7, is reflected by the recording surface 8 of the magneto-optical disk 6, and enters the polarizing beam splitter 2 as reflected light 9 in a direction opposite to that described above.

ここで、記録面8からの反射光9は、その偏光面が回転
しているため、偏光ビームスプリッタ2内の偏光反射膜
2aにより、前記したように反射光9のP偏光成分の一
部及びS偏光成分が検出光10として第1図の右側面か
ら出射する。
Here, since the polarization plane of the reflected light 9 from the recording surface 8 is rotated, the polarized light reflection film 2a in the polarized beam splitter 2 causes part of the P-polarized light component of the reflected light 9 and The S-polarized light component is emitted from the right side of FIG. 1 as detection light 10.

この検出光10の光路内には、フォーカス及びトラッキ
ングの各エラー状態と光磁気記録の状態とを検出するべ
く測光センサ11が配設されている。また、偏光ビーム
スプリッタ2と測光センサ11との間にはλ/2板3が
介装されているが、これは、測光センサ11に入射する
検出光10の両幅光成分の比を所定値に調節するための
ものである。
A photometric sensor 11 is disposed in the optical path of the detection light 10 to detect each error state of focus and tracking and the state of magneto-optical recording. Further, a λ/2 plate 3 is interposed between the polarizing beam splitter 2 and the photometric sensor 11, and this plate adjusts the ratio of the two-width light components of the detection light 10 incident on the photometric sensor 11 to a predetermined value. It is for adjusting to.

尚、本実施例では半導体レーザ1から光ディスク6に至
る一直線をなす出射光5の光路内に上記した各々を配置
したが、実際にはミラー等を配置することによりこの光
路を自由に変向し得ることは云うまでもない。
In this embodiment, each of the above-mentioned elements is arranged in the optical path of the emitted light 5 that is a straight line from the semiconductor laser 1 to the optical disk 6, but in reality, this optical path can be freely changed by arranging a mirror or the like. Needless to say, you can get it.

第2図は測光センサ11の軸線方向に沿う断面図であり
、第3図は第2図のI−II線について見た断面図であ
る。測光センサ11の基板12には、検出光10の光軸
上に位置するトラッキングエラー検出用の受光素子とし
てのフォトダイオード13と、該フォトダイオードから
第2図に於ける上下に所定の距離をおいて74−カスエ
ラー検出用の受光素子としてのフォトダイオード14及
び15とが、各フォトダイオードの受光面13a、14
a、15aが互いに同一平面上に位置するように一体的
に固着されている。
FIG. 2 is a sectional view of the photometric sensor 11 taken along the axial direction, and FIG. 3 is a sectional view taken along the line I-II in FIG. The substrate 12 of the photometric sensor 11 includes a photodiode 13 as a light receiving element for tracking error detection located on the optical axis of the detection light 10, and a predetermined distance from the photodiode up and down in FIG. 74- Photodiodes 14 and 15 as light-receiving elements for detecting a cass error are arranged on the light-receiving surfaces 13a and 14 of each photodiode.
a and 15a are integrally fixed to each other so as to be located on the same plane.

これら各フォトダイオード13〜15は、第3図に示す
ように、互いに直交する分割線により4分割されたフォ
トダイオード素子により構成されている。フォトダイオ
ード13は、その一方の分割線が検出光7のトラッキン
グエラーの際に光軸がずれる方向と直交する方向に沿う
ように配設され、フォトダイオード14は、その一方の
分割線がフォトダイオード13の上記分割線の延長線上
に位置するように配設されている。尚、本実施例では各
ダイオード13〜15を4分割としたが、実際には2分
割以上であれば良い。
As shown in FIG. 3, each of these photodiodes 13 to 15 is constituted by a photodiode element divided into four by mutually orthogonal dividing lines. The photodiode 13 is arranged such that one dividing line runs along a direction perpendicular to the direction in which the optical axis shifts when a tracking error occurs in the detection light 7, and the photodiode 14 has one dividing line along the direction perpendicular to the direction in which the optical axis shifts when a tracking error occurs in the detection light 7. No. 13 is arranged so as to be located on an extension line of the above-mentioned dividing line. Note that in this embodiment, each of the diodes 13 to 15 is divided into four parts, but in reality, it is sufficient if it is divided into two or more.

第2図に示すように、基板12のフォトダイオード13
の受光面13aには、立方形状のプリズム体16の底面
が密着している。このプリズム体16の内部には、検出
光10のP88光成を通過しS偏光成分を反射する偏光
反射面17及び18が、検出光10の光軸を通る位置に
て互いにその端部が当接するように傾斜して設けられて
いる。
As shown in FIG. 2, the photodiode 13 on the substrate 12
The bottom surface of the cubic prism body 16 is in close contact with the light receiving surface 13a. Inside the prism body 16, there are polarized light reflecting surfaces 17 and 18 that pass the P88 light component of the detection light 10 and reflect the S-polarized light component, and their ends touch each other at a position passing through the optical axis of the detection light 10. They are installed at an angle so that they touch each other.

この当接端部19をナイフェツジとして検出光10のS
偏光成分のみを検出光10の入射方向と直交する方向に
半月状に2分割して基板12と平行な方向即ち第2図に
於ける上下方向に分割光10a、10bとして反射する
ようになっている。
This abutting end 19 is used as a knife to detect S of the detection light 10.
Only the polarized light component is divided into two halves in a half-moon shape in a direction perpendicular to the direction of incidence of the detection light 10, and is reflected as divided lights 10a and 10b in a direction parallel to the substrate 12, that is, in the vertical direction in FIG. There is.

フォトダイオード14.15の受光面14a、15aに
は、反射光10a、10bをフォトダイオード14.1
5に向けて変向させるべく反射面21.23を有する三
角柱をなすプリズム体20.22の底面が密着している
。このプリズム体20.22は、その側面にて共にプリ
ズム体16にも密着している。そして、例えば基板12
の凹設部12a内を樹脂モールドにて埋めることにより
、プリズム体16.20,22の下部が基板12に固定
されている。
The reflected light 10a, 10b is transmitted to the light receiving surfaces 14a, 15a of the photodiode 14.15.
The bottom surface of a prism body 20.22 in the form of a triangular prism having a reflective surface 21.23 is in close contact with the prism body 20.22 in order to change the direction toward 5. The prism bodies 20, 22 are also in close contact with the prism body 16 on their side surfaces. For example, the substrate 12
The lower portions of the prism bodies 16, 20, 22 are fixed to the substrate 12 by filling the inside of the concave portion 12a with a resin mold.

このようにして、検出光10のP偏光成分が直接フォト
ダイオード13上に集光し、S8光成分からなる半月状
の一対の分割光10a、10bが、プリズム体20.2
2の反射面21.23に反射され、各々4分割されたフ
ォトダイオード14.15の略中夫に集光するようにな
る。尚、各フォトダイオード13〜15は、基板12か
ら延出する図示されないリード線を介して制御回路と電
気的に接続されている。
In this way, the P-polarized component of the detection light 10 is directly focused on the photodiode 13, and a pair of half-moon-shaped split lights 10a and 10b consisting of the S8 light component are transmitted to the prism body 20.2.
The light is reflected by the reflective surfaces 21 and 23 of the photodiodes 14 and 23, and is focused on approximately the middle of each of the photodiodes 14 and 15, which are each divided into four parts. Note that each of the photodiodes 13 to 15 is electrically connected to a control circuit via a lead wire (not shown) extending from the substrate 12.

ここで、例えば当該光学ヘッドのフォーカス弓き込み時
に分割光10a、10bの焦点位置が該分割光の最も進
行方向手前側にずれて反射面21.23の手前に焦点が
くる場合、分割光’10a、1obの像が反転して反射
面21.23に至るようになるが、当該光学ヘッドのフ
ォーカス方向の移動範囲内では、反射面21.23は、
分割光10a、10bが該面内に確実に収まるように、
各反射面と各分割光の光軸との交点を通過し、かつナイ
フェツジとしての当接端部19に対して平行な直線の両
側に延在している。そのため、各フォトダイオード13
.14に向けて好適に分割光10a、10bを反射でき
る。
Here, for example, when the focus position of the divided beams 10a and 10b shifts to the front side in the traveling direction of the divided beams and comes to a focus in front of the reflecting surface 21.23 when the optical head is focused, the divided beams' The images of 10a and 1ob are inverted and reach the reflective surface 21.23, but within the movement range of the optical head in the focus direction, the reflective surface 21.23 is
In order to ensure that the divided beams 10a and 10b fall within the plane,
It extends on both sides of a straight line that passes through the intersection of each reflective surface and the optical axis of each split light and is parallel to the abutting end 19 as a knife. Therefore, each photodiode 13
.. The divided beams 10a and 10b can be suitably reflected toward the beam 14.

次に、各フォトダイオード13〜15によるトラッキン
グ及びフォーカスの各エラーの検出要領を説明する。
Next, the method of detecting each error in tracking and focusing by each of the photodiodes 13 to 15 will be explained.

第4図に示すように、4分割フォトダイオード13の各
フォトダイオード素子(e、f、g、h)から、各照射
パターンに応じた検出信号E−Hが、(E十F)と(G
+H)とに分かれるように各アンプ24.25に各々入
力され、この各アンプ24.25からの出力値がアンプ
26に入力されるようになっている。そして、アンプ2
6にて、(E十F>から(G+H>を減算し、その演n
値を制御回路へ出力している。ここで、フォトダイオー
ド13の各フォトダイオード素子には、検出光10のP
偏光成分が想像線に示すように円形に集光しており、ト
ラッキングエラーを生じた場合には、左右のダイオード
素子に明るさの差が生じることから、上記演算値により
トラッキングエラーの方向及びエラー量の検出を容易に
行うことができる。
As shown in FIG. 4, detection signals E-H corresponding to each irradiation pattern are transmitted from each photodiode element (e, f, g, h) of the four-division photodiode 13 to (E0F) and (G
+H) and are input to each amplifier 24.25, respectively, and the output value from each amplifier 24.25 is input to an amplifier 26. And amp 2
6, subtract (G+H> from (E0F>) and calculate the operation n
The value is output to the control circuit. Here, each photodiode element of the photodiode 13 has a P of the detection light 10.
The polarized light components are focused in a circle as shown by the imaginary line, and if a tracking error occurs, there will be a difference in brightness between the left and right diode elements. Quantity can be easily detected.

一方、第5図に示すように、4分割フォトダイオード1
4では、各ダイオード素子(a、b、c、d)から、そ
の対応する出力信号A−Dが、(A十S>と(C十D)
とに分かれるように各アンプ27.28に各々入力され
、更に各アンプ27.28からの出力値がアンプ29に
入力されるようになっている。そして、アンプ29にて
、(A十B)から(C+D>を減算し、その演算値を制
御回路へ出力している。
On the other hand, as shown in FIG.
4, the corresponding output signals A-D from each diode element (a, b, c, d) are (A0S> and (C0D)
The output values from each amplifier 27 and 28 are inputted to an amplifier 29, respectively. Then, the amplifier 29 subtracts (C+D> from (A+B)) and outputs the calculated value to the control circuit.

第5図に示すように、プリズム体16の偏光反射膜17
にて向きを変えられた検出光10のS偏光成分からなる
分割光10aは、プリズム体20の反射面21にて4分
割フォトダイオード14の受光面14aに想像線Uに示
すように半円形をなすように照射される。このとき、分
割光10aは、4分割フォトダイオード14の各ダイオ
ード素子へ、その出力値の和(A+8>と(C+D>が
互いに等しくなるように、かつその光軸がダイオード素
子c、d側に偏った位置となるように照射されている。
As shown in FIG. 5, the polarization reflecting film 17 of the prism body 16
The divided light 10a consisting of the S-polarized component of the detection light 10 whose direction has been changed at It is irradiated like a eggplant. At this time, the divided light 10a is transmitted to each diode element of the 4-split photodiode 14 in such a way that the sum of their output values (A+8> and (C+D>) are equal to each other, and the optical axis is on the side of diode elements c and d. The light is irradiated in a biased position.

ここで、フォーカスエラーを生じた場合には、第5図の
想像線V或いは想像線Wに示すように、(A+B)或い
は(C+D>のいずれかが大きくなることから上記演算
値によりフォーカスエラーの方向及びエラー量の検出を
容易に行うことができる。
If a focus error occurs, either (A+B) or (C+D> becomes larger, as shown by the imaginary line V or W in FIG. Direction and error amount can be easily detected.

また、同様に4分割フォトダイオード15の各ダイオー
ド素子(i、j、k、1〉の出力信号■〜Lから(I+
J)と(K十L)を求め、出力信号(I十J)から(K
十L)を減算してフォーカスエラーを検出しても良く、
(A十B)−(C十D)と(I+Ji (K+L)とを
両方求めてフォーカスエラーを検出しても良い。更にト
ラッキングエラーを(A十り十E十F+I+L)−(B
十〇+G+H+J十K>を)寅算することにより検出し
ても良く、この場合には検出光10の両幅光成分比に関
わらず常に好適にトラッキングのエラー状態を検出する
ことができる。
Similarly, the output signals of each diode element (i, j, k, 1) of the four-division photodiode 15 (I+
J) and (K0L), and from the output signal (I0J), (K
10L) may be subtracted to detect the focus error.
The focus error may be detected by calculating both (A0B) - (C0D) and (I+Ji (K+L)).Furthermore, the tracking error may be determined by (A10B) - (C0D) and (I+Ji (K+L)).
10+G+H+J10K>), and in this case, the tracking error state can always be suitably detected regardless of the ratio of the two-width light components of the detection light 10.

尚、読取り信号は、各フォトダイオード13〜15のダ
イオード素子a〜1の検出信号A−Lから(E十F十G
十F+>−(A+B十〇±D+IfJ十に+1>を演算
することにより検出することができる。
Incidentally, the read signal is from the detection signal A-L of the diode elements a to 1 of each photodiode 13 to 15 (E1F1G
It can be detected by calculating +1> to 10F+>-(A+B10±D+IfJ10).

本実施例によれば、フォーカス及びトラッキングの各エ
ラー検出用のフォトダイオードを1つの基板に設けてい
るため、フォトダイオードへの配線が簡素化されて、耐
ノイズ性を向上することができると共に、その先軸調整
が1箇所で良いため調整時間を短縮化できる効果がある
According to this embodiment, since the photodiodes for detecting errors in focus and tracking are provided on one substrate, wiring to the photodiodes is simplified, and noise resistance can be improved. Since the tip shaft adjustment only needs to be done in one place, it has the effect of shortening the adjustment time.

[発明の効果] このように本発明によれば、検出光をフォーカスエラー
検出用受光素子に向けての反射する手段の反射面が大き
くなり、光が反射面から外れることがないため、光学ヘ
ッドのフォーカス引き込み時に於ても好適にフォーカス
のエラー状態を検出することができる。また受光素子の
受光面に変向手段及び反射手段を密着させることにより
構成部品を小型化でき、かつその位置調整も簡略化でき
る。更に光学ヘッドのフォーカスエラー検出用の一対の
受光手段を、検出光の非焦点位置にて、検出光の像の大
きざによって受光但の差が異なるように配置し、この差
を所定値と比較するようにすれば、情報の読取りに影響
を及ぼすことなく好適にフォーカスのエラー状態を検出
することができる。以上のことから本発明の効果は極め
て大である。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the reflective surface of the means for reflecting the detection light toward the focus error detection light receiving element becomes large, and the light does not deviate from the reflective surface, so that the optical head It is possible to suitably detect a focus error state even during focus pull-in. Furthermore, by bringing the deflecting means and the reflecting means into close contact with the light receiving surface of the light receiving element, the components can be made smaller and their position adjustment can be simplified. Furthermore, a pair of light receiving means for detecting a focus error of the optical head is arranged at a non-focus position of the detection light so that the difference in light reception varies depending on the size of the image of the detection light, and this difference is compared with a predetermined value. By doing so, it is possible to suitably detect a focus error state without affecting reading of information. From the above, the effects of the present invention are extremely large.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明が適用された光学ヘッドを示す要部模
式図である。 第2図は、第1図に示す光学ヘッドに於ける測光センサ
の軸線方向に沿う断面図である。 第3図は、第2図の■−■線について見た断面図でおる
。 第4図は、トラッキングエラーの検出要領を示す模式的
回路図である。 第5図は、フォーカスエラーの検出要領を示す模式的回
路図である。 1・・・半導体レーザ  2・・・偏光ビームスプリッ
タ3・・・λ/2板    4・・・コリメータレンズ
5・・・出射光     6・・・光磁気ディスク7・
・・対物レンズ   8・・・記録面9・・・反射光 
    10・・・検出光10a、10 b−・・分割
光 11・・・測光センサ  12・・・基板12a・・・
凹設部 13〜15・・・フォトダイオード 13a、14a、15a・・・受光面 16・・・プリズム体17.18・・・偏光反射面19
・・・当接端部   20.22・・・プリズム体21
. 23・・・反射面 24〜29・・・アンプ
FIG. 1 is a schematic diagram of main parts showing an optical head to which the present invention is applied. FIG. 2 is a cross-sectional view of the photometric sensor in the optical head shown in FIG. 1 along the axial direction. FIG. 3 is a sectional view taken along the line ■--■ in FIG. 2. FIG. 4 is a schematic circuit diagram showing how to detect a tracking error. FIG. 5 is a schematic circuit diagram showing a focus error detection procedure. 1... Semiconductor laser 2... Polarizing beam splitter 3... λ/2 plate 4... Collimator lens 5... Outgoing light 6... Magneto-optical disk 7.
...Objective lens 8...Recording surface 9...Reflected light
10...Detection light 10a, 10b-...Divided light 11...Photometry sensor 12...Substrate 12a...
Concave portions 13 to 15...Photodiodes 13a, 14a, 15a...Light receiving surface 16...Prism body 17.18...Polarized light reflecting surface 19
...Abutting end portion 20.22...Prism body 21
.. 23... Reflective surface 24-29... Amplifier

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)光学ヘッドのトラッキング及びフォーカス方向の
各エラー状態を光学的に検出するための光学ヘッド構造
であつて、 前記両エラー状態のいずれか一方を検出するべく収束光
とされた検出光の光路内に配置された第1の受光素子と
、 前記両エラー状態のいずれか他方を検出するべく前記第
1の受光素子と並設された第2の受光素子と、 ナイフエッジ手段にて前記検出光から半月状部分を分割
すると共に該分割光を変向させる手段と、前記分割光を
前記第2の受光素子に向けて反射する手段とを有し、 前記反射手段の反射面が、該反射面と前記分割光の光軸
との交点を通過し、かつ前記ナイフエッジ手段のエッジ
に対して平行な直線の両側に延在していることを特徴と
する光学ヘッド構造。
(1) An optical head structure for optically detecting each error state in the tracking and focusing directions of the optical head, and an optical path of detection light that is converged to detect either of the error states. a second light-receiving element arranged in parallel with the first light-receiving element to detect the other of the error states; and a knife-edge means to detect the detected light. means for dividing the semi-moon-shaped portion from the surface and changing the direction of the divided light; and means for reflecting the divided light toward the second light-receiving element; The optical head structure is characterized in that the optical head structure extends on both sides of a straight line that passes through the intersection of the split beam and the optical axis of the split light and is parallel to the edge of the knife edge means.
(2)前記第1の受光素子を挾んで前記第2の受光素子
と相反する側に並設された第3の受光素子を有し、 前記変向手段が、前記検出光の一方の偏光成分を一対の
半月状分割光として互いに相反する向きに変向させる一
対の偏光反射面を有する偏光ビームスプリッタからなり
、 前記反射手段が、前記第2及び第3の受光素子に向けて
各々前記一対の分割光を反射する一対の反射手段からな
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の光学
ヘッド構造。
(2) A third light-receiving element is provided in parallel on a side opposite to the second light-receiving element, sandwiching the first light-receiving element; comprising a polarizing beam splitter having a pair of polarized light reflecting surfaces that deflect the light into a pair of half-moon-shaped split lights in mutually opposite directions; The optical head structure according to claim 1, comprising a pair of reflecting means for reflecting the split light.
(3)前記各受光素子が、その受光面が互いに同一平面
上に位置するように配置され、 前記変向手段及び前記反射手段が、対応する前記受光素
子の受光面に密着することを特徴とする特許請求の範囲
第1項若しくは第2項に記載の光学ヘッド構造。
(3) The light-receiving elements are arranged such that their light-receiving surfaces are located on the same plane, and the deflection means and the reflecting means are in close contact with the light-receiving surfaces of the corresponding light-receiving elements. An optical head structure according to claim 1 or 2.
(4)光学ヘッドのフォーカス方向のエラー状態を光学
的に検出するための光学ヘッド構造であつて、 検出光を収束する非平行光にする手段と、 前記非平行光の像の大きさが変化することにより互いの
受光量の差が変化するように、前記非平行光の光路内の
非焦点位置であつてかつ前記非平行光の光軸がいずれか
一方に偏る位置に互いに隣接して設けられた一対の受光
手段と、 前記両受光手段の互いの受光量の差を所定値と比較する
ことにより前記フォーカスのエラー状態を検出する手段
とを有することを特徴とする光学ヘッド構造。
(4) An optical head structure for optically detecting an error state in the focus direction of the optical head, comprising means for converting detection light into converging non-parallel light, and a size of an image of the non-parallel light changing. They are provided adjacent to each other at a non-focal position in the optical path of the non-parallel light and at a position where the optical axis of the non-parallel light is biased to either side, so that the difference in the amount of light received by the non-parallel light changes. 1. An optical head structure comprising: a pair of light-receiving means, which are arranged in the same direction; and means for detecting an error state of the focus by comparing a difference in the amount of light received by the two light-receiving means with a predetermined value.
(5)前記収束光をナイフエッジ手段により半月状に分
割する手段と、 前記分割光を前記両受光手段に向けて反射する手段とを
有し、 前記反射手段の反射面が、該反射面と前記分割光の光軸
との交点を通過し、かつ前記ナイフエッジ手段のエッジ
に対して平行な直線の両側に延在していることを特徴と
する特許請求の範囲第4項に記載の光学ヘッド構造。
(5) A means for dividing the convergent light into a half-moon shape using a knife-edge means, and a means for reflecting the divided light toward both the light receiving means, and a reflecting surface of the reflecting means is connected to the reflecting surface. The optical system according to claim 4, wherein the optical system extends on both sides of a straight line that passes through the intersection of the split light with the optical axis and is parallel to the edge of the knife edge means. head structure.
JP63199367A 1988-08-10 1988-08-10 Structure of optical head Pending JPH0249227A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6556406B1 (en) 1998-02-12 2003-04-29 Omron Corporation Solid-state relay

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