JPH0245701A - 自動バランス装置 - Google Patents
自動バランス装置Info
- Publication number
- JPH0245701A JPH0245701A JP19598688A JP19598688A JPH0245701A JP H0245701 A JPH0245701 A JP H0245701A JP 19598688 A JP19598688 A JP 19598688A JP 19598688 A JP19598688 A JP 19598688A JP H0245701 A JPH0245701 A JP H0245701A
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- amplifier
- voltage
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- bridge
- resistance
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Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 210000004899 c-terminal region Anatomy 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はひずみ増幅器の自動バランス装置に係り、特に
、温度変動下で振動する物体のひずみを測定するのに好
適な自動バランス装置に関する。
、温度変動下で振動する物体のひずみを測定するのに好
適な自動バランス装置に関する。
従来の装置は、ホイーストンブリッジの初期抵抗不平衡
分をICメモリに記憶しておき、測定中は測定値から初
期不平衡分を差し引く方式となっていた。
分をICメモリに記憶しておき、測定中は測定値から初
期不平衡分を差し引く方式となっていた。
温度の変動する物体の振動によるひずみを測定する場合
、温度変化によってひずみゲージの抵抗が変化する。こ
の抵抗変化はひずみゲージの材質や構造、被測定物の材
質、温度範囲などで異るが、大きいものでは室温から5
00℃までの温度変化で1%程度の値になる。これはゲ
ージ率が2.0のひずみゲージの場合は、5 x 10
”3のひずみに相当する。一般に、振動によるひずみは
これにくらべずつと小さく (50〜100)XIO−
6程度の値を測定したいことが多いから、測定感度を高
くしておく必要がある。そのため、温度が変動して抵抗
が変化するとそれによるブリッジの不平衡分が大きくな
り、測定可能範囲を超えてしまう。
、温度変化によってひずみゲージの抵抗が変化する。こ
の抵抗変化はひずみゲージの材質や構造、被測定物の材
質、温度範囲などで異るが、大きいものでは室温から5
00℃までの温度変化で1%程度の値になる。これはゲ
ージ率が2.0のひずみゲージの場合は、5 x 10
”3のひずみに相当する。一般に、振動によるひずみは
これにくらべずつと小さく (50〜100)XIO−
6程度の値を測定したいことが多いから、測定感度を高
くしておく必要がある。そのため、温度が変動して抵抗
が変化するとそれによるブリッジの不平衡分が大きくな
り、測定可能範囲を超えてしまう。
従来の装置ではブリッジの一辺に並列に接続された可変
抵抗をその都度手動で調整してこの不平衡分を相殺する
か、あるいは、その都度メモリ内の初期不平衡量を更新
して測定していた。しかし、温度変化が速い場合は操作
が間に合わず、又、メモリ内容を更新する場合はその間
測定波形が中断するという問題があった。
抵抗をその都度手動で調整してこの不平衡分を相殺する
か、あるいは、その都度メモリ内の初期不平衡量を更新
して測定していた。しかし、温度変化が速い場合は操作
が間に合わず、又、メモリ内容を更新する場合はその間
測定波形が中断するという問題があった。
本発明の目的は従来技術の問題点を改良し、測定すべき
振動ひずみ以外の要因で生じる抵抗変化分を自動的に相
殺可能な自動バランス装置を提供することにある。
振動ひずみ以外の要因で生じる抵抗変化分を自動的に相
殺可能な自動バランス装置を提供することにある。
上記目的は測定すべき振動ひずみの周波数以下の出力成
分のみを通過させるフィルタを用い、フィルタ通過後の
電圧と基準電圧の差が、常に、零になるように、ブリッ
ジ回路の平衡を調整する自動装置を設けることにより達
成される。
分のみを通過させるフィルタを用い、フィルタ通過後の
電圧と基準電圧の差が、常に、零になるように、ブリッ
ジ回路の平衡を調整する自動装置を設けることにより達
成される。
C作用〕
ひずみ増幅器からの出力は二つに分かれ、一方は必要な
記録装置などにそのまま伝達される。他方はフィルタを
通って振動ひずみ成分が除かれ、その電圧が、常に、基
準電圧(通常は0ボルト)に一致するように、すなわち
、ブリッジの振動ひずみ成分以外の不平衡量が、常に、
一定に(通常は零に)なるようにフィードバックされる
ので、ひずみ増幅器は振動ひずみ成分に対応した高い測
定感度の状態でも、ブリッジの不平衡量が測定範囲を超
えることがない。
記録装置などにそのまま伝達される。他方はフィルタを
通って振動ひずみ成分が除かれ、その電圧が、常に、基
準電圧(通常は0ボルト)に一致するように、すなわち
、ブリッジの振動ひずみ成分以外の不平衡量が、常に、
一定に(通常は零に)なるようにフィードバックされる
ので、ひずみ増幅器は振動ひずみ成分に対応した高い測
定感度の状態でも、ブリッジの不平衡量が測定範囲を超
えることがない。
以下、本発明の一実施例を図面により説明する。
第1図は本発明をブリッジ電圧として交流を用いる方式
のひずみ増幅器に適用する場合の一実施例を示す回路ブ
ロック図である。アクティブゲージ1と三個のダミーゲ
ージ2でホイーストンブリッジ3が構成される。端子A
、B、C,Dはひずみ増幅器4に接続され、D、C間に
並列に可変抵抗Rvz5、及び、可変抵抗RV26が挿
入される6ひずみ増幅器4の出力は二つに分かれ、一方
は記録計14に、他方はローパスフィルタ7を経てオペ
アンプ8に接続される。オペアンプ8の出力は差動増幅
器9に接続され、−差動増幅器9のフィードバック回路
にはオペアンプ10の出力が接続される。オペアンプ1
oには可変抵抗11がアースとの間に挿入される。差動
増幅器9の出力はモータ駆動装置12に入り、モータ駆
動装置12はサーボモータ13に接続される。サーボモ
ータ13の回転軸は可変抵抗Rv26の回転軸に接続さ
れる。
のひずみ増幅器に適用する場合の一実施例を示す回路ブ
ロック図である。アクティブゲージ1と三個のダミーゲ
ージ2でホイーストンブリッジ3が構成される。端子A
、B、C,Dはひずみ増幅器4に接続され、D、C間に
並列に可変抵抗Rvz5、及び、可変抵抗RV26が挿
入される6ひずみ増幅器4の出力は二つに分かれ、一方
は記録計14に、他方はローパスフィルタ7を経てオペ
アンプ8に接続される。オペアンプ8の出力は差動増幅
器9に接続され、−差動増幅器9のフィードバック回路
にはオペアンプ10の出力が接続される。オペアンプ1
oには可変抵抗11がアースとの間に挿入される。差動
増幅器9の出力はモータ駆動装置12に入り、モータ駆
動装置12はサーボモータ13に接続される。サーボモ
ータ13の回転軸は可変抵抗Rv26の回転軸に接続さ
れる。
アクティブゲージ1及び三個のダミーゲージ2のうち2
a、2bをすべて120Ω、2cのみ1、70Ωとする
。今、可変抵抗Rvt5を手動で450Ωに調整し、可
変抵抗RV26の抵抗が4371Ωであるとすると、端
子DC間の合成抵抗は120Ωとなるのでブリッジ3は
平衡状態にある。
a、2bをすべて120Ω、2cのみ1、70Ωとする
。今、可変抵抗Rvt5を手動で450Ωに調整し、可
変抵抗RV26の抵抗が4371Ωであるとすると、端
子DC間の合成抵抗は120Ωとなるのでブリッジ3は
平衡状態にある。
アクティブゲージ1に振幅50Xl□−eの振動ひずみ
が加わるとすると、ひずみ増幅器4の測定レンジを10
0XIO−Bフルスケールにしておけば十分な感度で測
定できる。何らかの原因、例えば、アクティブゲージ1
の温度変化により緩やかにアクティブゲージ1の抵抗が
変化した場合、ひずみ増幅器4の出力はローパスフィル
タ7を通るので振動ひずみによる高周波数成分は除かれ
、温度変動などによる緩やかな電圧変動のみがオペアン
プ8に入る。オペアンプ8で増幅された信号と、可変抵
抗11で設定されオペアンプ1oで増幅された基準信号
とは差動増幅器9で比較される。二つの信号の差の電圧
は差動増幅器9で増幅され、モータ駆動回路12に供給
される。それによって、サーボモータ13は回転し、可
変抵抗Rvz6の回転軸を回転させる。今、アクティブ
ゲージ1の抵抗が温度変化によって121Ωになったと
すると、端子DC間の合成抵抗が121Ωになるまで不
平衡分による電圧がひずみ増幅器4から出力され続ける
。可変抵抗RV26の抵抗が6254Ωになれば端子D
C間の合成抵抗は121Ωになるので、もはや、サーボ
モータ13へは駆動電圧が供給されなくなる。このよう
にしてホイーストンブリッジ3の平衡が緩やかにくずれ
ようとすると、サーボモータ13がそれを打消すように
可変抵抗Rvz6の抵抗を変化させるので、ホイースト
ンブリッジ3は振動ひずみ成分の周波数よりも低い抵抗
変化があっても常に平衡状態を保持することができる。
が加わるとすると、ひずみ増幅器4の測定レンジを10
0XIO−Bフルスケールにしておけば十分な感度で測
定できる。何らかの原因、例えば、アクティブゲージ1
の温度変化により緩やかにアクティブゲージ1の抵抗が
変化した場合、ひずみ増幅器4の出力はローパスフィル
タ7を通るので振動ひずみによる高周波数成分は除かれ
、温度変動などによる緩やかな電圧変動のみがオペアン
プ8に入る。オペアンプ8で増幅された信号と、可変抵
抗11で設定されオペアンプ1oで増幅された基準信号
とは差動増幅器9で比較される。二つの信号の差の電圧
は差動増幅器9で増幅され、モータ駆動回路12に供給
される。それによって、サーボモータ13は回転し、可
変抵抗Rvz6の回転軸を回転させる。今、アクティブ
ゲージ1の抵抗が温度変化によって121Ωになったと
すると、端子DC間の合成抵抗が121Ωになるまで不
平衡分による電圧がひずみ増幅器4から出力され続ける
。可変抵抗RV26の抵抗が6254Ωになれば端子D
C間の合成抵抗は121Ωになるので、もはや、サーボ
モータ13へは駆動電圧が供給されなくなる。このよう
にしてホイーストンブリッジ3の平衡が緩やかにくずれ
ようとすると、サーボモータ13がそれを打消すように
可変抵抗Rvz6の抵抗を変化させるので、ホイースト
ンブリッジ3は振動ひずみ成分の周波数よりも低い抵抗
変化があっても常に平衡状態を保持することができる。
従って、ひずみ増幅器4の感度は、常に、100×10
″″6のレンジにしておくことが可能である。
″″6のレンジにしておくことが可能である。
本実施例によれば、ブリッジ電圧に交流を用いる方式の
ひずみ増幅器を用いた振動ひずみの測定において、温度
変動などによる緩やかではあるが大きな抵抗変化を自動
的に打消すことができる効釆がある。
ひずみ増幅器を用いた振動ひずみの測定において、温度
変動などによる緩やかではあるが大きな抵抗変化を自動
的に打消すことができる効釆がある。
第2図は本発明の他の実施例を示す回路ブロック図であ
る。第1図を異るところは、ひずみ増幅器4として、ブ
リッジ電圧に直流を用いる方式の場合に適用する点であ
る。ひずみ増幅器4の出方はローパスフィルタ7を経て
A/D変換器15によりデジタル値に変換されてマイク
ロコンピュータ16に入る。マイクロコンピュータ16
のデジタル出力はD/A変換器17によってアナログ電
圧に変換され、ブリッジ回路のB、D端子間に並列に接
続される。
る。第1図を異るところは、ひずみ増幅器4として、ブ
リッジ電圧に直流を用いる方式の場合に適用する点であ
る。ひずみ増幅器4の出方はローパスフィルタ7を経て
A/D変換器15によりデジタル値に変換されてマイク
ロコンピュータ16に入る。マイクロコンピュータ16
のデジタル出力はD/A変換器17によってアナログ電
圧に変換され、ブリッジ回路のB、D端子間に並列に接
続される。
ブリッジの印加電圧Eo(A、C端子間の直流電圧)を
2v、アクティブ1及びダミーゲージ2a。
2v、アクティブ1及びダミーゲージ2a。
2b、2cの抵抗をすべて120Ωとする。今。
アクティブゲージ1の抵抗が温度変化によって121Ω
に変化したとすると、ブリッジの出力電圧ΔE (B、
D端子間の直流電圧)は次のようになる。
に変化したとすると、ブリッジの出力電圧ΔE (B、
D端子間の直流電圧)は次のようになる。
この直流電圧はひずみ増幅器4によって増幅されフィル
タ7によって振動ひずみ成分が除かれて。
タ7によって振動ひずみ成分が除かれて。
A/D変換器15によってディジタル値に変換される。
マイクロコンピュータ16にはあらがじめ第5図のプロ
グラムが組込まれている。
グラムが組込まれている。
前述のように、アクティブゲージ1の温度変化でブリッ
ジの出力電圧が0.0167V になったとする。ひず
み増幅器4の利得を10とすると、ひずみ増幅器4の出
力電圧eは1.67V になる。
ジの出力電圧が0.0167V になったとする。ひず
み増幅器4の利得を10とすると、ひずみ増幅器4の出
力電圧eは1.67V になる。
基準電圧eoは通常零とするから、偏差電圧Δeは1.
67Vである。許容偏差電圧を0.1vとすると、八〇
は許容偏差を超え、符号が正であるがら、D/A変換器
17には出力電圧を減らすように指令が出される。この
手順が繰り返され、偏差電圧Δeが0.1v以下になれ
ばD/A変換器17はその出力電圧を維持し続ける。許
容偏差電圧は測定すべき振動ひずみの大きさに関係し。
67Vである。許容偏差電圧を0.1vとすると、八〇
は許容偏差を超え、符号が正であるがら、D/A変換器
17には出力電圧を減らすように指令が出される。この
手順が繰り返され、偏差電圧Δeが0.1v以下になれ
ばD/A変換器17はその出力電圧を維持し続ける。許
容偏差電圧は測定すべき振動ひずみの大きさに関係し。
例として振動ひずみが±200X10−Bで、ひずみ増
幅器4の感度を±500X10″″6のレンジとして測
定する場合は次のようになる。この場合、アクティブゲ
ージ1の振動以外の温度変化などによって生じる抵抗変
化がひずみに換算して±300xiQ−eを超えると、
振動ひずみのピーク値が測定範囲を超える。従って、許
容偏差電圧はひずみ換算でHa”±300X10−”で
ある。アクティブゲージ1のゲージ率Kを2.0 ブ
リッジ回路の印加電圧Eoを2.Ov、ひずみ増幅器4
の利得Fを特徴とする特許容偏差電圧eaは el、=ε&N K @ Eo−F =±0.12V である。一方、それに対応するブリッジ回路の出力電圧
ΔEは±O,0O12V、すなわち、±1.2mVであ
る。従って、A/D変換器15の電圧分解能は±0.1
2V以上、D/A変換器17の電圧分解能は±1 、2
m V以上必要である。
幅器4の感度を±500X10″″6のレンジとして測
定する場合は次のようになる。この場合、アクティブゲ
ージ1の振動以外の温度変化などによって生じる抵抗変
化がひずみに換算して±300xiQ−eを超えると、
振動ひずみのピーク値が測定範囲を超える。従って、許
容偏差電圧はひずみ換算でHa”±300X10−”で
ある。アクティブゲージ1のゲージ率Kを2.0 ブ
リッジ回路の印加電圧Eoを2.Ov、ひずみ増幅器4
の利得Fを特徴とする特許容偏差電圧eaは el、=ε&N K @ Eo−F =±0.12V である。一方、それに対応するブリッジ回路の出力電圧
ΔEは±O,0O12V、すなわち、±1.2mVであ
る。従って、A/D変換器15の電圧分解能は±0.1
2V以上、D/A変換器17の電圧分解能は±1 、2
m V以上必要である。
A/D変換器15は入力レベル±5v、分解能8ビツト
のものを用いれず±0.02V程度の分解能が得られる
ので十分である。D/A変換器17は出力レベル±1v
、分解能12ビツトのものにすれば、±0.5mV程度
の分解能が得られる。
のものを用いれず±0.02V程度の分解能が得られる
ので十分である。D/A変換器17は出力レベル±1v
、分解能12ビツトのものにすれば、±0.5mV程度
の分解能が得られる。
本実施例によれば、ブリッジ電圧に直流を用いる方式の
ひずみ増幅器を用いた振動ひずみ測定において、温度変
動などによる緩やかではあるが大きな抵抗変化を自動的
に打消すことができる。
ひずみ増幅器を用いた振動ひずみ測定において、温度変
動などによる緩やかではあるが大きな抵抗変化を自動的
に打消すことができる。
第3図は本発明の変形例を示すもので、第1図の一部分
の構成を変形したものである。可変抵抗Rvz6とは独
立に可変抵抗19を設け、これに電源18により直流電
圧を与えておく。可変抵抗19は可変抵抗Rvz6と一
定の相関を保って変動するようにサーボモータ13と接
続される。アクティブゲージ1の抵抗が温度変動などに
より変化し、それによるホイーストンブリッジ3の不平
衡分を可変抵抗RVZ6の変化によって修正するように
サーボ回路が動作した時、端子E、F間の電圧はそれに
連動して変化する。この電圧変化はアクティブゲージ1
の温度などによる抵抗変化に対応するので、その電圧変
化を記録すればアクティブゲージ1の抵抗が変化する過
程を知ることができる。
の構成を変形したものである。可変抵抗Rvz6とは独
立に可変抵抗19を設け、これに電源18により直流電
圧を与えておく。可変抵抗19は可変抵抗Rvz6と一
定の相関を保って変動するようにサーボモータ13と接
続される。アクティブゲージ1の抵抗が温度変動などに
より変化し、それによるホイーストンブリッジ3の不平
衡分を可変抵抗RVZ6の変化によって修正するように
サーボ回路が動作した時、端子E、F間の電圧はそれに
連動して変化する。この電圧変化はアクティブゲージ1
の温度などによる抵抗変化に対応するので、その電圧変
化を記録すればアクティブゲージ1の抵抗が変化する過
程を知ることができる。
第4図は第3図の変形例と同様な動作を第2図に示した
回路で行う場合の変形例である。第4図では第2図のD
/A変換器17を二チャンネルとし、第一のチャンネル
は第2図と同様にホイーストンブリッジ3の出力端子B
、Dに接続されるが、第二のチャンネルには外部出力端
子E、Fが設けられている。マイクロコンピュータ16
はD/A変換器17の第二のチャンネルに第一のチャン
ネルと一定の相関を持った電圧を出力するように指令が
出されるにのように構成することにより。
回路で行う場合の変形例である。第4図では第2図のD
/A変換器17を二チャンネルとし、第一のチャンネル
は第2図と同様にホイーストンブリッジ3の出力端子B
、Dに接続されるが、第二のチャンネルには外部出力端
子E、Fが設けられている。マイクロコンピュータ16
はD/A変換器17の第二のチャンネルに第一のチャン
ネルと一定の相関を持った電圧を出力するように指令が
出されるにのように構成することにより。
アクティブゲージ1の抵抗変化に対応する電圧をD/A
変換器17の第二のチャンネルの外部出力端子E、Fか
ら取出すことができる。
変換器17の第二のチャンネルの外部出力端子E、Fか
ら取出すことができる。
本発明によれば、ひずみ増幅器に接続するだけで、振動
ひずみを測定する際に生じる温度変動など振動以外の原
因によるブリッジ回路の不平衡分を自動的にバランスさ
せることができる。
ひずみを測定する際に生じる温度変動など振動以外の原
因によるブリッジ回路の不平衡分を自動的にバランスさ
せることができる。
第1図は本発明の一実施例の回路図、第2図、第3図は
本発明の他の実施例の回路図、第4図は本発明の他の実
施例のブロック図、第5図は本発明のプログラムフロー
チャートである。 1・・・アクティブゲージ、6・・・可変抵抗、7・・
・ローパスフィルタ、8・・・オペアンプ、9・・・差
動増幅器、15・・・A / D il器、16・・・
マイクロコンピュータ、17・・・D/A変換器。 第1図 第2図 第 図 第4図 !3 第 図
本発明の他の実施例の回路図、第4図は本発明の他の実
施例のブロック図、第5図は本発明のプログラムフロー
チャートである。 1・・・アクティブゲージ、6・・・可変抵抗、7・・
・ローパスフィルタ、8・・・オペアンプ、9・・・差
動増幅器、15・・・A / D il器、16・・・
マイクロコンピュータ、17・・・D/A変換器。 第1図 第2図 第 図 第4図 !3 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、抵抗線ひずみゲージを用いてホイーストンブリッジ
を構成し、前記ホイーストンブリツジの出力電圧を増幅
するひずみ増幅器において、増幅器の出力のうち任意の
周波数以下の成分のみを通すフィルタ、前記フィルタか
らの出力を所定の基準値と比較して、両者の差に対応す
る信号を出力する判別器、前記判別器からの出力によつ
て前記ホイーストンブリツジのバランスを修正する調節
器から成るシステムを備えたことを特徴とする自動バラ
ンス装置。 2、特許請求の範囲第1項において、 前記ひずみ増幅器として前記ホイーストンブリツジの入
力端子間に直流を印加する方式の増幅器を用い、前記判
別器及び前記調節器として、A/D変換器、マイクロコ
ンピュータ及びD/A変換器から成るデジタル回路を用
いることを特徴とするひずみ増幅器の自動バランス装置
。 3、特許請求の範囲第1項において、 前記ひずみ増幅器として、前記ホイーストンブリツジの
入力端子間に交流を印加する方式の増幅器を用い、前記
判別器としてサーボアンプ回路を用い、前記調節器とし
てサーボモータ付可変抵抗を用いたことを特徴とする自
動バランス装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19598688A JPH0245701A (ja) | 1988-08-08 | 1988-08-08 | 自動バランス装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19598688A JPH0245701A (ja) | 1988-08-08 | 1988-08-08 | 自動バランス装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0245701A true JPH0245701A (ja) | 1990-02-15 |
Family
ID=16350313
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19598688A Pending JPH0245701A (ja) | 1988-08-08 | 1988-08-08 | 自動バランス装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0245701A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03255922A (ja) * | 1990-03-06 | 1991-11-14 | Fuji Electric Co Ltd | 動的歪計の測定方法 |
JP2008082773A (ja) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Fujitsu Ltd | 歪みセンサ |
-
1988
- 1988-08-08 JP JP19598688A patent/JPH0245701A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03255922A (ja) * | 1990-03-06 | 1991-11-14 | Fuji Electric Co Ltd | 動的歪計の測定方法 |
JP2008082773A (ja) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Fujitsu Ltd | 歪みセンサ |
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