JPH0244538B2 - - Google Patents

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JPH0244538B2
JPH0244538B2 JP54130768A JP13076879A JPH0244538B2 JP H0244538 B2 JPH0244538 B2 JP H0244538B2 JP 54130768 A JP54130768 A JP 54130768A JP 13076879 A JP13076879 A JP 13076879A JP H0244538 B2 JPH0244538 B2 JP H0244538B2
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JP
Japan
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output
circuit
signal
flip
bed
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JP54130768A
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Japanese (ja)
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JPS5654796A (en
Inventor
Kaoru Machida
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Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0244538B2 publication Critical patent/JPH0244538B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05GX-RAY TECHNIQUE
    • H05G1/00X-ray apparatus involving X-ray tubes; Circuits therefor
    • H05G1/08Electrical details
    • H05G1/26Measuring, controlling or protecting
    • H05G1/30Controlling

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • X-Ray Techniques (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はX線診断装置に関し、特に集団検診等
に最適なX線診断装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to an X-ray diagnostic device, and more particularly to an X-ray diagnostic device that is most suitable for mass medical examinations and the like.

例えば、胃の集団検診等では定式化された診断
ルーチンに基づいて多数の受診者(被検者ともい
う)を対象とする診断を行つている。従来、これ
らの分野ではX線撮影技師(以下操作者ともい
う)は撮影条件の手動設定等のX線発生装置の操
作或いはX線透視撮影台の操作等の撮影位置決め
を独立(撮影ごと)に行つていた。このため診断
に多くの時間を要し、それに加えて受診者との対
応業務のための時間等を考えるとX線撮影技師に
かかる負担が大きくなり、場合によつては複数の
技師を必要とするという問題があつた。又受診者
にとつても撮影位置決めの際のX線曝射により無
駄な被曝を受けるという負担が生ずることにもな
る。
For example, in mass gastrointestinal examinations, a large number of examinees (also referred to as subjects) are diagnosed based on a formalized diagnostic routine. Conventionally, in these fields, X-ray radiographers (hereinafter also referred to as operators) have been required to operate the X-ray generator, such as manually setting the radiography conditions, or to determine the radiographing position, such as operating the X-ray fluoroscopy table, independently (for each radiograph). I was gone. For this reason, a lot of time is required for diagnosis, and in addition to that, considering the time spent dealing with patients, the burden on the X-ray technician becomes large, and in some cases, multiple technicians may be required. There was a problem. Furthermore, the patient is also burdened with unnecessary exposure to X-rays when determining the imaging position.

本発明は前記事情に鑑みて成されたものであ
り、撮影位置決めの時間を大幅に短縮し、かつ受
診者の被曝線量を減少させることのできるX線診
断装置を提供することを目的とするものである。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is an object of the present invention to provide an X-ray diagnostic apparatus that can significantly shorten the time for imaging positioning and reduce the exposure dose of the patient. It is.

以下実施例により本発明を具体的に説明する。 The present invention will be specifically explained below using Examples.

第1図は本発明X線診断装置の一実施例を示す
システムブロツク図である。尚、信号線におい
て、細線は単信号線、黒太線は複数信号線、白太
線はバイナリ信号線である。このX線診断装置
は、複数の押釦スイツチSW0〜SW17を有する操
作パネル1と、該操作パネル1からの3種類の信
号、即ちスイツチSW1〜SW9による撮影モード選
択信号S1、スイツチSW10〜SW15による体格デー
タ選択信号S2及びスイツチSW0,SW16,SW17
よるシステムモード制御信号S0をラツチし、所定
タイミング毎に前記ラツチされた信号に対応する
3種類の出力信号S4,S5,S6を出力するラツチ回
路2と、前記操作パネル1の撮影モード選択信号
S1を受け所定のゲート信号S3を出力するゲート回
路G0と、該ゲート回路G0の出力S3とラツチ回路
2の出力S4,S5との関係等に基づいて一方の表示
用制御信号S7を出力すると共に、前記ラツチ回路
2の両出力S4及びS5との関係等に基づいて後述す
る曝射制御信号発生回路6及び寝台駆動制御信号
発生回路7を制御するための信号S8を発生する制
御信号発生回路3と、前記ゲート回路G0の出力
S3と制御信号発生回路3の所定の中間部出力との
関係等に基づいてX線曝射タイミング信号S9を発
生するX線曝射タイミング制御回路5と、該出力
S9と前記制御信号発生回路3の他方の出力S8との
関係に基づいてX線曝射信号S10、X線管電圧設
定信号S11及びX線管電流設定信号S12を出力する
X線曝射制御信号発生回路6と、前記制御信号発
生回路3の出力S8と撮影用寝台(図示せず)の各
機構部の現在位置を検出する位置検出回路8の出
力S13との対比に基づいて寝台駆動用の制御信号
S14を発生する寝台駆動制御信号発生回路7と、
該制御信号S14によつて制御される寝台駆動制御
回路9と、該制御回路9からの駆動信号S15によ
つて駆動される複数のモータを含む寝台機構部1
0と、前記寝台駆動制御信号発生回路7の複数の
信号出力S17が全部一致した際に一致信号S18を発
生する一致回路11とによつて構成され、該一致
回路11の出力S18は前記制御信号発生回路3、
前記表示回路4、前記X線曝射タイミング制御回
路5及び前記ラツチ回路2の各制御端子に入力さ
れるようになつており、又位置検出回路8は寝台
機構部10における各機構の運動量に基づく信号
S16によつて制御されるようになつている。尚、
曝射制御信号発生回路6からは比較出力S19が導
出され、それが制御信号発生回路3及びX線曝射
タイミング制御回路5の各制御端子に印加されて
いる。ここで、前記押釦スイツチSW0〜SW17
うち、上段のスイツチSW1〜SW9はそこに表示さ
れた順番で撮影モード(例えばNo1は腹臥位粘膜
像、No2は正面立位充盈像……の如し)選択用と
して構成され、中間部よりも下段に位置するスイ
ツチSW10〜SW12は被検者の体厚選択用スイツチ
(例えば順次、太い「F」、通常「N」、細い「L」
の如し)として構成され、スイツチSW13〜SW15
は被検者の身長選択用スイツチ(例えば順次、高
い「T」、通常「N」、低い「S」の如し)として
構成されており、スイツチSW16は「任意プログ
ラム選択用スイツチ」として構成され、破線で示
すスイツチSW17は「全自動プログラム選択用ス
イツチ」として構成され、最後のスイツチSW0
「リセツトモード設定用スイツチ」として構成さ
れている。尚、前記曝射制御信号発生回路6の各
出力S10〜S12は図示しないX線制御回路に印加さ
れるものであることは言う迄もない。また、前記
パネル1のスイツチSW0〜SW17は、すべてモメ
ンタリ形スイツチであり、しかもラツチ回路2及
び表示回路4により、押すことによつてそのスイ
ツチ自体が点燈する、いわゆる自照式スイツチで
ある。
FIG. 1 is a system block diagram showing an embodiment of the X-ray diagnostic apparatus of the present invention. Note that among the signal lines, thin lines are single signal lines, thick black lines are multiple signal lines, and thick white lines are binary signal lines. This X-ray diagnostic apparatus includes an operation panel 1 having a plurality of push button switches SW 0 to SW 17 , and three types of signals from the operation panel 1, namely, an imaging mode selection signal S 1 by switches SW 1 to SW 9 ; The physique data selection signal S 2 from SW 10 to SW 15 and the system mode control signal S 0 from switches SW 0 , SW 16 , and SW 17 are latched, and three types of output signals corresponding to the latched signals are output at predetermined timings. A latch circuit 2 that outputs S 4 , S 5 , and S 6 and a photographing mode selection signal of the operation panel 1
Based on the relationship between the gate circuit G 0 that receives S 1 and outputs a predetermined gate signal S 3 and the output S 3 of the gate circuit G 0 and the outputs S 4 and S 5 of the latch circuit 2, In addition to outputting a control signal S 7 , a control signal generator for controlling an irradiation control signal generation circuit 6 and a bed drive control signal generation circuit 7, which will be described later, based on the relationship between the two outputs S 4 and S 5 of the latch circuit 2 , etc. The control signal generation circuit 3 that generates the signal S8 and the output of the gate circuit G0
an X-ray exposure timing control circuit 5 that generates an X-ray exposure timing signal S9 based on the relationship between S3 and a predetermined intermediate output of the control signal generation circuit 3 ;
X which outputs an X-ray exposure signal S 10 , an X-ray tube voltage setting signal S 11 and an X-ray tube current setting signal S 12 based on the relationship between S 9 and the other output S 8 of the control signal generation circuit 3 . Comparison of the radiation exposure control signal generation circuit 6, the output S8 of the control signal generation circuit 3, and the output S13 of the position detection circuit 8 that detects the current position of each mechanical part of the imaging bed (not shown) Control signal for bed drive based on
a bed drive control signal generation circuit 7 that generates S14 ;
A bed mechanism section 1 including a bed drive control circuit 9 controlled by the control signal S14 and a plurality of motors driven by a drive signal S15 from the control circuit 9.
0, and a coincidence circuit 11 that generates a coincidence signal S 18 when the plurality of signal outputs S 17 of the bed drive control signal generation circuit 7 all match, and the output S 18 of the coincidence circuit 11 is the control signal generation circuit 3;
The display circuit 4, the X-ray irradiation timing control circuit 5, and the latch circuit 2 are inputted to each control terminal, and the position detection circuit 8 is based on the momentum of each mechanism in the bed mechanism section 10. signal
It is now controlled by S 16 . still,
A comparison output S19 is derived from the exposure control signal generation circuit 6, and is applied to each control terminal of the control signal generation circuit 3 and the X-ray exposure timing control circuit 5. Here, among the push button switches SW 0 to SW 17 , the upper switches SW 1 to SW 9 are used to select the shooting mode in the order displayed there (for example, No. 1 is a prone mucosal image, No. 2 is a frontal standing ecstasy image, etc.) Switches SW 10 to SW 12 located lower than the middle part are configured for selection of body thickness of the subject (for example, sequentially thick "F", normal "N", thin "L"
Configured as SW 13 ~ SW 15
is configured as a switch for selecting the height of the subject (for example, sequentially, high "T", normal "N", low "S"), and switch SW 16 is configured as "arbitrary program selection switch". The switch SW 17 shown by the broken line is configured as a "fully automatic program selection switch", and the last switch SW 0 is configured as a "reset mode setting switch". It goes without saying that each of the outputs S 10 to S 12 of the exposure control signal generation circuit 6 is applied to an X-ray control circuit (not shown). Further, the switches SW 0 to SW 17 on the panel 1 are all momentary type switches, and are so-called self-illuminated switches in which the switches themselves light up when pressed by the latch circuit 2 and display circuit 4. .

第2図は前記装置の具体的構成の一実施例を示
す回路図である。尚、同図においては、半自動プ
ログラム(撮影モード選択用スイツチSW1〜SW9
を順次押して行くことによつて撮影位置決めとX
線曝射が自動的に行われる構成のもの)と任意プ
ログラム(操作者の任意の選択撮影モードに対応
して撮影が行われる構成のもの)に関する場合を
示してあり、全自動プログラム(撮影開始釦を押
すだけで自動的に全撮影モードの撮影が順序通り
行われる構成のもの)については後述する。
FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a specific configuration of the device. In addition, in the same figure, the semi-automatic program (shooting mode selection switches SW 1 to SW 9)
Shooting positioning and X
Cases related to a fully automatic program (a configuration in which radiation exposure is performed automatically) and an arbitrary program (a configuration in which imaging is performed in accordance with the operator's arbitrary selection of the imaging mode) are shown. A configuration in which shooting in all shooting modes is automatically performed in order by simply pressing a button will be described later.

操作パネル1内の各押釦スイツチSW1〜SW16
及びSW0の各接点の一端は接地されており、各接
点の他端にはプルアツプ抵抗を介して電源(+
Vcc)電圧がそれぞれ印加され、更に信号導出経
路にはインバータIN1〜IN16及びIN0がそれぞれ
接続されている。ラツチ回路2は前記操作パネル
1の各インバータIN1〜IN16及びIN0の出力をそ
れぞれクロツク端子(CK)に接続したJ−K型
フリツプフロツプFF1〜FF16及びFF0によつて構
成されている。ここで、フリツプフロツプFF1
FF9は撮影モード選択信号ラツチ用、FF10〜FF15
は体格データ選択信号ラツチ用、FF16は任意プ
ログラム選択信号ラツチ用、更にFF0はリセツト
位置設定信号ラツチ用として使用される。ゲート
回路G0は前記操作パネル1のインバータIN1
IN9の出力を多入力とするノアゲート回路NR0
よつて構成されている。
Each push button switch in operation panel 1 SW 1 to SW 16
One end of each contact of SW 0 and SW 0 is grounded, and the other end of each contact is connected to the power supply (+
Vcc) voltage is applied to each of the inverters, and inverters IN 1 to IN 16 and IN 0 are connected to the signal derivation path. The latch circuit 2 is composed of J-K type flip-flops FF1 to FF16 and FF0 , each of which connects the outputs of the inverters IN1 to IN16 and IN0 of the operation panel 1 to a clock terminal (CK). There is. Here, flip-flop FF 1 ~
FF 9 is for shooting mode selection signal latch, FF 10 to FF 15
FF 16 is used for the physique data selection signal latch, FF 16 is used for the arbitrary program selection signal latch, and FF 0 is used for the reset position setting signal latch. The gate circuit G 0 is connected to the inverter IN 1 of the operation panel 1
It is composed of a NOR gate circuit NR 0 which uses the output of IN 9 as a multi-input.

制御信号発生回路3は、ラツチ回路2の撮影モ
ード選択信号ラツチ用フリツプフロツプFF1
FF9のリセツト端子に共通にリセツト出力を与え
るようにした第1のモノマルチMM1と、前記フ
リツプフロツプFF1〜FF9の出力を多入力として
バイナリ出力を発生する第1のエンコーダED1
と、後述する論理組合せ回路3Aの出力を入力と
してバイナリ出力を発生する第1のカウンタCT1
と、該第1のカウンタCT1のバイナリ出力を一方
の入力端子(IN−A)に受けると共に前記第1
のエンコーダED1のバイナリ出力を他方の入力端
子(IN−B)に受け、かつ前記論理組合せ回路
3Aの一部出力を切換信号として前記いずれかの
バイナリ出力を切換導出する第1の切換回路CG1
と、該第1の切換回路CG1のバイナリ出力を受
け、その値に対応する数値(0〜9)を選択出力
するデシマルデコーダDDと、該デシマルデコー
ダDDの出力「1」〜「9」を一方の入力端子
(IN−A)に受けると共に前記フリツプフロツプ
FF1〜FF9の出力を他方の入力端子(IN−B)に
受け、かつ前記ラツチ回路2の任意プログラム選
択信号ラツチ用フリツプフロツプFF16の出力を
切換信号として前記いずれかのバイナリ出力を切
換出力する第2の切換回路CG2と、該第2の切換
回路CG2の出力と前記ラツチ回路2の体格データ
選択信号ラツチ用フリツプフロツプFF10〜FF15
の出力を受け、バイナリ出力を発生する第2のエ
ンコーダED2と、体格データリセツト回路3Bと
によつて構成されている。そして、前記論理組合
せ回路3Aは、ノアゲート回路NR0の出力、前
記フリツプフロツプFF16の出力及び前記デシマ
ルデコーダDDの「0」端子出力を反転した信号
(インバータIN20で反転を行う)を3入力とする
ノアゲート回路NR1と、前記フリツプフロツプ
FF16の出力及び後述する曝射制御信号発生回路
6の比較出力とを2入力とするノアゲート回路
NR3と、これら両ノアゲート回路NR1,NR3
両出力を2入力とするノアゲート回路NR2と、
前記曝射制御信号発生回路6の比較出力の反転信
号(インバータIN17によつて反転される)及び
前記デシマルデコーダDDの「9」端子出力とを
2入力とするナンドゲート回路ND7とによつて
構成されており、ノアゲート回路NR2の出力が
前記第1のカウンタCT1の入力端子(IN)に印
加され、ナンドゲート回路ND17の出力が前記カ
ウタCT1のクリア端子(CLR)に印加されてい
る。又、体格データリセツト回路3Bは、該論理
組合せ回路3Aのナンドゲート回路ND17の出力
及び前記フリツプフロツプFF16の出力を2入力
とするノアゲート回路NR4と、該ゲート回路
NR4の出力及び前記リセツト位置設定信号ラツ
チ用フリツプフロツプFF0の出力を2入力とする
ノアゲート回路NR5とによつて構成され、その
出力が前記体格データ選択信号ラツチ用フリツプ
フロツプFF10〜FF15のリセツト端子に共通に印
加されるようになつている。
The control signal generation circuit 3 operates from flip-flops FF1 to FF1 for latching the photographing mode selection signal of the latch circuit 2.
A first monomulti MM 1 which commonly applies a reset output to the reset terminal of FF 9 , and a first encoder ED 1 which uses the outputs of the flip-flops FF 1 to FF 9 as multiple inputs and generates a binary output.
and a first counter CT1 which generates a binary output by inputting the output of a logic combinational circuit 3A, which will be described later.
and receives the binary output of the first counter CT1 at one input terminal (IN-A), and receives the binary output of the first counter CT1 at one input terminal (IN-A).
A first switching circuit CG receives the binary output of the encoder ED 1 at the other input terminal (IN-B), and switches and derives one of the binary outputs using a partial output of the logic combinational circuit 3A as a switching signal. 1
and a decimal decoder DD which receives the binary output of the first switching circuit CG 1 and selects and outputs a numerical value (0 to 9) corresponding to the value, and outputs "1" to "9" of the decimal decoder DD. is received at one input terminal (IN-A) and the flip-flop
The outputs of FF 1 to FF 9 are received at the other input terminal (IN-B), and the arbitrary program selection signal of the latch circuit 2 is used as the output of flip-flop FF 16 for latching as a switching signal to switch and output one of the binary outputs. a second switching circuit CG2 , and flip-flops FF10 to FF15 for latching the output of the second switching circuit CG2 and the physical data selection signal of the latch circuit 2;
The second encoder ED2 receives the output of the encoder ED2 and generates a binary output, and a physique data reset circuit 3B. The logic combinational circuit 3A has three inputs: the output of the NOR gate circuit NR0 , the output of the flip-flop FF16 , and a signal obtained by inverting the "0" terminal output of the decimal decoder DD (inversion is performed by the inverter IN20 ). The NOR gate circuit NR1 and the flip-flop
A NOR gate circuit with two inputs: the output of FF 16 and the comparison output of exposure control signal generation circuit 6, which will be described later.
NR 3 , and a NOR gate circuit NR 2 which has both outputs of these NOR gate circuits NR 1 and NR 3 as two inputs,
By a NAND gate circuit ND 7 having two inputs: the inverted signal of the comparison output of the exposure control signal generation circuit 6 (inverted by the inverter IN 17 ) and the "9" terminal output of the decimal decoder DD. The output of the NAND gate circuit NR 2 is applied to the input terminal (IN) of the first counter CT 1 , and the output of the NAND gate circuit ND 17 is applied to the clear terminal (CLR) of the counter CT 1 . There is. The physique data reset circuit 3B includes a NOR gate circuit NR4 having two inputs, the output of the NAND gate circuit ND17 of the logic combinational circuit 3A and the output of the flip-flop FF16 , and the gate circuit.
It is composed of a NOR gate circuit NR5 having two inputs: the output of NR4 and the output of the flip-flop FF0 for the reset position setting signal latch, and its output is connected to the flip-flops FF10 to FF15 for the physique data selection signal latch. It is designed to be commonly applied to the reset terminal.

表示回路4は、17個のナンドゲート回路ND0
〜ND16と、該各ナンドゲート回路の出力側に抵
抗を介して接続された表示用ランプL0〜L16と、
第1のパルス発生器PG1とによつて構成されてい
る。前記ナンドゲート回路のうち、上段のナンド
ゲート回路ND0〜ND9の一方の各入力端子には
前記デシマルデコーダDDの「0」〜「9」端子
の出力が印加されて他方の各入力端子には第1の
パルス発生器PG1の出力が共通に印加されるよう
になつており、他のナンドゲート回路ND10
ND16の各2入力端子には前記ラツチ回路2のフ
リツプフロツプFF10〜FF16の出力がそれぞれ対
応して共通に印加されるようになつており、ラン
プL0〜L16には電源(+Vcc)電圧が共通に印加
されるようになつている。尚、このランプL0
L16は例えば操作パネル1のスイツチSW0〜SW16
内に設置され、操作者がその点燈状態を確認でき
るようになつている。又、この各ランプは前記各
スイツチに対応するもので、ランプL0はリセツ
ト位置設定表示用、ランプL1〜L9は各撮影モー
ド選択表示用、ランプL10〜L15は体格データ設定
表示用、ランプL16は任意プログラム選択表示用
として機能する。
Display circuit 4 consists of 17 NAND gate circuits ND 0
~ ND16 , and display lamps L0 ~ L16 connected to the output side of each NAND gate circuit via a resistor,
The first pulse generator PG1 is composed of a first pulse generator PG1. Among the NAND gate circuits, the outputs of the "0" to "9" terminals of the decimal decoder DD are applied to each input terminal of one of the upper NAND gate circuits ND 0 to ND 9 , and the outputs of the "0" to "9" terminals of the decimal decoder DD are applied to each of the other input terminals. The output of the pulse generator PG 1 of No. 1 is applied in common, and the output of the pulse generator PG 1 of No. 1 is applied in common to the other NAND gate circuits ND 10 ~
The outputs of the flip-flops FF 10 to FF 16 of the latch circuit 2 are commonly applied to each of the two input terminals of the ND 16 , and the lamps L 0 to L 16 are connected to a power supply (+Vcc). A voltage is commonly applied. Furthermore, this lamp L 0 ~
L 16 is, for example, the switch SW 0 to SW 16 on the operation panel 1.
It is installed inside the lamp so that the operator can check its lighting status. Each lamp corresponds to each of the above-mentioned switches; lamp L0 is for displaying reset position setting, lamps L1 to L9 are for displaying shooting mode selection, and lamps L10 to L15 are for displaying physique data setting. The lamp L16 functions as an arbitrary program selection display.

X線曝射タイミング制御回路5は、前記ノアゲ
ート回路NR0の出力がクロツク端子(CK)に印
加されるJ−KフリツプフロツプFF17と、該フ
リツプフロツプFF17の出力及び前記第1のモノ
マルチMM1の出力がクロツク端子(CK)に共通
に印加されるJ−KフリツプフロツプFF18と、
前記ノアゲート回路NR0の出力を反転した信号
(インバータIN18によつて反転される)及び前記
FF16の出力を反転した信号(インバータIN19
よつて反転される)を2入力とするナンドゲート
回路ND19と、前記フリツプフロツプFF18の出力
及び前記フリツプフロツプFF16の出力を2入力
とするナンドゲート回路ND20と、これら両ナン
ドゲート回路ND19,ND20の出力を2入力とする
ナンドゲート回路ND21と、該ゲート回路ND21
出力、前記デシマルデコーダDDの「0」端子出
力を反転するインバータIN20の出力及び後述す
る一致回路11の出力を3入力とするナンドゲー
ト回路ND22とによつて構成されており、フリツ
プフロツプFF18のリセツト端子には後述する曝
射制御信号発生回路6の比較出力が印加されるよ
うになつている。
The X-ray exposure timing control circuit 5 includes a J-K flip-flop FF 17 to which the output of the NOR gate circuit NR 0 is applied to a clock terminal (CK), an output of the flip-flop FF 17 and the first monomulti MM 1 . a J-K flip-flop FF 18 whose output is commonly applied to the clock terminal (CK);
The inverted signal of the output of the NOR gate circuit NR 0 (inverted by the inverter IN 18 ) and the
A NAND gate circuit ND 19 which has two inputs as a signal obtained by inverting the output of FF 16 (inverted by inverter IN 19 ), and a NAND gate circuit which has two inputs as the output of the flip-flop FF 18 and the output of the flip-flop FF 16 . ND 20 , a NAND gate circuit ND 21 which has two inputs as the outputs of both NAND gate circuits ND 19 and ND 20 , and an inverter IN 20 that inverts the output of the gate circuit ND 21 and the "0" terminal output of the decimal decoder DD. and a NAND gate circuit ND 22 which has three inputs as the output of the matching circuit 11 (described later), and the comparison output of the exposure control signal generating circuit 6 (described later) is applied to the reset terminal of the flip-flop FF 18 . It is becoming more and more common.

X線曝射制御信号発生回路6は、前記第2のエ
ンコーダED2のバイナリ出力がそれぞれ入力され
るX線曝射条件設定要素(X線曝射時間、X線管
電圧、X線管電流)の設定量記憶用のプログラマ
ブルメモリPROM5〜PROM7と、前記X線曝射
タイミング発出回路5の出力をクロツク端子
(CK)に受けるJ−KフリツプフロツプFF19と、
該フリツプフロツプFF19の出力をコントロール
端子(CONT)に受ける第2のパルス発生器PG2
と、該パルス発生器PG2の出力を入力端子に受
け、バイナリ出力を発生する第2のカウンタCT2
と、該カウンタCT2のバイナリ出力を一方の入力
端子(IN−A)に受け、前記PROM5のバイナリ
出力を他方の入力端子(IN−B)に受け両入力
を比較して両者が一致した際に一致信号を出力す
る比較器COM5とによつて構成され、該比較器
COM5の一致出力はフリツプフロツプFF19のリセ
ツト端子、第2のカウンタCT2のクリア端子及び
前記制御信号発生回路3の論理組合せ回路3Aの
ゲート回路NR3、インバータIN17に印加される
ようになつている。そして、前記フリツプフロツ
プFF19の出力がX線曝射信号となり、PROM6
びPROM7のバイナリ出力がそれぞれX線管電圧
設定信号及びX線管電流設定信号となる。
The X-ray exposure control signal generation circuit 6 has X-ray exposure condition setting elements (X-ray exposure time, X-ray tube voltage, X-ray tube current) into which the binary outputs of the second encoder ED 2 are respectively input. programmable memories PROM 5 to PROM 7 for storing the set amounts of , and a J-K flip-flop FF 19 that receives the output of the X-ray exposure timing output circuit 5 at its clock terminal (CK);
A second pulse generator PG 2 receives the output of the flip-flop FF 19 at its control terminal (CONT).
and a second counter CT 2 which receives the output of the pulse generator PG 2 at its input terminal and generates a binary output.
Then, the binary output of the counter CT 2 is received at one input terminal (IN-A), the binary output of the PROM 5 is received at the other input terminal (IN-B), and both inputs are compared to find that they match. and a comparator COM 5 that outputs a coincidence signal when the comparator
The coincidence output of COM 5 is applied to the reset terminal of the flip-flop FF 19 , the clear terminal of the second counter CT 2 , the gate circuit NR 3 of the logic combinational circuit 3A of the control signal generation circuit 3, and the inverter IN 17 . ing. The output of the flip-flop FF 19 becomes an X-ray exposure signal, and the binary outputs of PROM 6 and PROM 7 become an X-ray tube voltage setting signal and an X-ray tube current setting signal, respectively.

位置検出回路8は図示しない寝台機構部の各位
置設定要素の動きに連動する第1乃至第4のポテ
ンシヨメータPM1〜PM4と、該各ポテンシヨン
メータの出力を増幅する第1乃至第4の増幅器
AMP1〜AMP4とによつて構成されており、例え
ば前記各ポテンシヨメータのうち、第1のポテン
シヨメータPM1は寝台の起倒位置検出用、第2
のポテンシヨメータPM2は寝台の天板の長手方
向移動位置検出用、第3のポテンシヨメータ
PM3は前記天板の幅方向移動位置検出用、そし
て第4のポテンシヨメータPM4は天板のローリ
ング位置検出用として構成されている。
The position detection circuit 8 includes first to fourth potentiometers PM 1 to PM 4 that are linked to the movement of each position setting element of the bed mechanism (not shown), and first to fourth potentiometers PM 1 to PM 4 that amplify the output of each of the potentiometers. 4 amplifiers
AMP 1 to AMP 4. For example, among the respective potentiometers, the first potentiometer PM 1 is for detecting the up/down position of the bed, and the second potentiometer is for detecting the up/down position of the bed.
The third potentiometer PM 2 is for detecting the longitudinal movement position of the top of the bed.
PM 3 is configured to detect the movement position of the top plate in the width direction, and the fourth potentiometer PM 4 is configured to detect the rolling position of the top plate.

寝台駆動制御信号発生回路7は、前記位置検出
回路8の第1乃至第4の増幅器AMP1〜AMP4
各アナログ出力をそれぞれデイジタル信号に変換
する第1乃至第4のA/D変換器ADC1〜ADC4
と、前記制御信号発生回路3の第2のエンコーダ
ED2のバイナリ出力を入力し、寝台の前記各位置
設定要素の設定量を記憶するための4個のプログ
ラマブル・リード・オンリー・メモルPROM1
PROM4と、前記A/D変換器ADC1〜ADC4の各
バイナリ出力を一方の入力端子(IN−A)に受
け、前記メモリPROM1〜PROM4の各バイナリ
出力を他方の入力端子(IN−B)に受け、両入
力信号値(A、B)を比較し、A>Bの条件であ
れば「+」側出力端子から、A<Bの条件であれ
ば「−」側出力端子から、A=Bの条件であれば
「0」側出力端子からそれぞれ出力信号“1”を
導出する比較器COM1〜COM4とによつて構成さ
れている。この比較器COM1〜COM4の各出力は
寝台駆動制御回路9の対応する入力端子に印加さ
れるようになつている。
The bed drive control signal generation circuit 7 includes first to fourth A/D converters ADC that convert analog outputs of the first to fourth amplifiers AMP 1 to AMP 4 of the position detection circuit 8 into digital signals, respectively. 1 ~ ADC 4
and a second encoder of the control signal generation circuit 3.
4 programmable read-only memories PROM 1 ~ for inputting the binary output of ED 2 and storing the setting amount of each of the above-mentioned position setting elements of the bed;
Each binary output of the PROM 4 and the A/D converters ADC 1 to ADC 4 is received at one input terminal (IN-A), and each binary output of the memory PROM 1 to PROM 4 is received at the other input terminal (IN-A). -B), compare both input signal values (A, B), and if the condition is A>B, the "+" side output terminal is used, and if the condition is A<B, the "-" side output terminal is sent. , comparators COM 1 to COM 4 each derive an output signal "1" from the "0" side output terminal under the condition of A=B. Each output of the comparators COM 1 to COM 4 is applied to a corresponding input terminal of the bed drive control circuit 9.

一致回路11は、前記寝台駆動制御信号発生回
路7の各比較器COM1〜COM4の「0」出力を4
入力とするナンドゲート回路ND24、このゲート
回路ND24の出力を反転するインバータIN24とに
よつて構成され、インバータIN24の出力が前記
曝射タイミング発生回路5のナンドゲート回路
ND22の入力及び前記表示回路4の第1のパルス
発生器PG1のクリア端子(CLR)に印加される。
又、ナンドゲート回路ND24の出力はリセツト位
置設定信号ラツチ用フリツプフロツプFF0のリセ
ツト端子に印加されている。
The matching circuit 11 outputs "0" from each of the comparators COM 1 to COM 4 of the bed drive control signal generating circuit 7.
It is composed of a NAND gate circuit ND 24 as an input, and an inverter IN 24 that inverts the output of this gate circuit ND 24 , and the output of the inverter IN 24 is connected to the NAND gate circuit of the exposure timing generation circuit 5.
It is applied to the input of ND 22 and the clear terminal (CLR) of the first pulse generator PG 1 of the display circuit 4.
Further, the output of the NAND gate circuit ND24 is applied to the reset terminal of the reset position setting signal latch flip-flop FF0 .

以下、第3図a,bに示すタイミングチヤート
と共に前記装置の動作を説明する。尚、以下の動
作説明では半自動プログラム順次操作撮影(その
タイミングチヤートを第3図aに示す)と、任意
プログラム操作撮影(そのタイミングチヤートを
第3図bに示す)とを分けて順次説明する。
The operation of the device will now be described with reference to the timing charts shown in FIGS. 3a and 3b. In the following operation description, semi-automatic program sequential operation photography (the timing chart of which is shown in FIG. 3a) and arbitrary program operation photography (the timing chart of which is shown in FIG. 3b) will be explained separately.

(1) 半自動プログラム順次操作撮影 先ず、電源投入時には装置の各ロジツク回路
は、説明を省略するシステムクリア信号によつ
てすべてリセツト状態となるものとする。従つ
て、表示回路4内の第1のカウンタCT1のバイ
ナリ出力は「0」となつているため、制御信号
発生回路3内のデシマルデコーダDDの「0」
出力端子が出力レベル“1”となり、パルス発
生器PG1からのパルス信号によりランプドライ
ブ用のナンドゲートND0の出力レベルが周期
的に“0”となり、リセツトモード設定用の表
示ランプL0を断続的に点燈(点滅)する。こ
の場合、既に寝台がリセツト状態(被検者が寝
台に乗降り可能な状態)になつていれば、寝台
の各位置設定要素(寝台の起倒位置、天板の長
手方向移動位置、天板の幅方向移動位置、天板
のローリング位置)はすべてリセツト設定位置
にあり、一致回路11が一致信号を導出してい
るため第1のパルス発生器PG1は発振せず、ラ
ンプL0は連続した点燈となる。逆に電源投入
時に寝台の各位置設定要素のいずれかでもリセ
ツト位置になつていなければ、制御信号発生回
路3内の第2のエンコーダED2のバイナリ出力
値「0」によつて、寝台の各位置設定量記憶用
のメモリ(プログラマブル・リード・オンリ
ー。メモリ)PROM1〜PROM4の各0番地
(リセツト位置の設定量が記憶されている番地)
をアドレスし、これらメモリPROM1
PROM4からのリセツト位置に対応する各位置
設定量の出力信号に基づいて、各位置設定要素
は各リセツト位置に向けて駆動を開始する。
(1) Semi-automatic program sequential operation photography First, when the power is turned on, all logic circuits of the device are reset by a system clear signal, which will not be explained. Therefore, since the binary output of the first counter CT1 in the display circuit 4 is "0", the binary output of the decimal decoder DD in the control signal generation circuit 3 is "0".
The output terminal becomes the output level "1", and the output level of the NAND gate ND0 for lamp drive becomes "0" periodically by the pulse signal from the pulse generator PG1 , and the display lamp L0 for setting the reset mode is turned on and off. lights up (blinks). In this case, if the bed is already in the reset state (the subject can get on and off the bed), each position setting element of the bed (the up/down position of the bed, the longitudinal movement position of the top, the top (width direction movement position, top plate rolling position) are all at the reset setting position, and the coincidence circuit 11 derives a coincidence signal, so the first pulse generator PG 1 does not oscillate, and the lamp L 0 is continuous. The light turns on. Conversely, if any of the position setting elements of the bed are not at the reset position when the power is turned on, the binary output value "0" of the second encoder ED 2 in the control signal generation circuit 3 is used to set each position of the bed. Memory for storing the position setting amount (programmable read-only memory) Each address 0 of PROM 1 to PROM 4 (address where the reset position setting amount is stored)
and address these memories PROM 1 ~
Based on the output signal of each position setting amount corresponding to the reset position from PROM 4 , each position setting element starts driving toward each reset position.

すなわち、位置検出回路8のポテンシヨメー
タPM1〜PM4により各位置設定要素の各位置
が検出され、その検出信号は増幅器AMP1
AMP4を介してアナログ/デイジタル(A/
D)変換器ADC1〜ADC4にてデイジタル信号
に変換され、比較器COM1〜COM4において各
メモリPROM1〜PROM4からのリセツト位置
の設定量と比較される。比較器COM1〜COM4
は前記両入力信号値(A、B)を比較し、A>
Bの場合に「+」出力端子、A<Bの場合に
「−」出力端子、A=Bの場合に「0」出力端
子から出力信号“1”を導出する。この比較器
COM1〜COM4の各出力端子の出力信号は寝台
駆動制御回路9に導入され、更に、寝台機構部
10に導入され各位置設定要素の図示しない各
駆動モータが、対応する前記「+」、「−」出力
端子の出力レベルに応じて正転または逆転駆動
を開始する。
That is, each position of each position setting element is detected by the potentiometers PM 1 to PM 4 of the position detection circuit 8, and the detection signals are sent to the amplifiers AMP 1 to
Analog /digital (A/
D) It is converted into a digital signal by the converters ADC 1 to ADC 4 , and compared with the set amount of the reset position from each memory PROM 1 to PROM 4 in the comparators COM 1 to COM 4 . Comparator COM 1 ~ COM 4
compares both input signal values (A, B), and A>
The output signal "1" is derived from the "+" output terminal in the case of B, the "-" output terminal in the case of A<B, and the "0" output terminal in the case of A=B. This comparator
The output signals of the respective output terminals COM 1 to COM 4 are introduced into the bed drive control circuit 9, and further into the bed mechanism section 10, and each drive motor (not shown) of each position setting element is connected to the corresponding "+", Starts forward or reverse rotation depending on the output level of the "-" output terminal.

而して、その後前記各位置検出量(A)と前記設
定量(B)とがそれぞれ一致(A=B)すれば、各
比較器COM1〜COM4の各「0」出力端子から
出力信号“1”が導出され、それぞれに対応す
る前記駆動モータが停止され、各位置設定要素
がそれぞれのリセツト位置に設定される。さら
にその後各位置設定要素がすべてリセツト位置
に設定されると、一致回路11から出力信号が
得られ、前記第1のパルス発生器PG1の発振が
停止される。同時にその一致信号がX線曝射タ
イミング制御回路5のナンドゲートND0に入
力されるため、ランプL0はそれまでの点滅点
燈から連続点燈に変わり、寝台がリセツト状態
になつたことを操作者に知らせる。
Then, if each of the detected position amounts (A) and the set amount (B) match (A=B), an output signal is output from each "0" output terminal of each comparator COM 1 to COM 4 . A "1" is derived, the respective drive motors are stopped, and each position setting element is set to its respective reset position. After that, when all the position setting elements are set to the reset position, an output signal is obtained from the coincidence circuit 11, and the oscillation of the first pulse generator PG1 is stopped. At the same time, the coincidence signal is input to the NAND gate ND0 of the X-ray exposure timing control circuit 5, so the lamp L0 changes from a blinking light to a continuous light, indicating that the bed has entered the reset state. inform the person.

次に被検者の体厚に応じてスイツチSW10
SW12のいずれかを選択して押し、また被検者
の身長に応じてスイツチSW13〜SW15のいずれ
かを選択して押す。この被検者の体格データの
選択設定が終了した後、第1の撮影モード選択
用のスイツチSW1を押すと、ノアゲートNR0
NR1,NR2を介して第1のカウンタCT1にカウ
ント入力信号を与え、カウンタCT1のバイナリ
出力値を「0」から「1」にする。このカウン
タCT1の出力は第1の切換回路CG1を介してデ
コーダDDに導入され、デコーダDDの出力は
「0」出力端子から「1」出力端子に移行する。
従つて、ナンドゲートND0のゲートが閉じて
リセツトモード設定表示用のランプL0が消燈
し、同時にナンドゲートND1のゲートが開い
て第1のパルス発生器PG1のパルス信号により
第1の撮影モード表示用のランプL1を点滅点
燈する。尚、この場合、スイツチSW1が押され
てもデコーダDDの出力が「0」端子から出て
いるので、X線曝射タイミング制御回路5のナ
ンドゲートND22のゲートが閉じていることに
より、X線曝射スタート信号はでない。
Next, switch SW 10 to 100 depending on the body thickness of the subject.
Select and press one of SW 12 , and select and press one of switches SW 13 to SW 15 depending on the height of the subject. After completing the selection and setting of the subject's physique data, press the first shooting mode selection switch SW 1 , and the Noah Gate NR 0 ,
A count input signal is given to the first counter CT 1 via NR 1 and NR 2 , and the binary output value of the counter CT 1 is changed from "0" to "1". The output of this counter CT1 is introduced to the decoder DD via the first switching circuit CG1 , and the output of the decoder DD shifts from the "0" output terminal to the "1" output terminal.
Therefore, the gate of NAND gate ND 0 is closed and the lamp L 0 for displaying the reset mode setting is turned off, and at the same time, the gate of NAND gate ND 1 is opened and the first image capturing is started by the pulse signal of the first pulse generator PG 1 . Flash the mode display lamp L1 . In this case, even if the switch SW 1 is pressed, the output of the decoder DD is output from the "0" terminal, so the gate of the NAND gate ND 22 of the X-ray exposure timing control circuit 5 is closed, so that the There is no radiation exposure start signal.

一方、スイツチSW1が押されると同時に第2
のエンコーダED2からは、2種の閉成された各
条件設定スイツチの組合わせに応じたバイナリ
値が出力される。このバイナリ出力は寝台の各
位置設定要素の設定量記憶用のメモリPROM1
〜PROM4及びX線曝射条件設定要素(X線曝
射時間、X線管電圧、X線管電流)の設定量記
憶用のメモリPROM5〜PROM7のアドレス信
号となり、メモリPROM1〜PROM7の出力値
はそれまでのリセツト条件における設定量(X
線曝射条件設定要素はすべて「0」)の値から、
第2のエンコーダED2の出力による設定条件に
対応する値になる。すなわち、メモリPROM1
〜PROM4の出力値は、被検者の体格に基づく
第1の撮影モード時の寝台の各位置設定要素の
設定量となり、またメモリPROM5〜PROM7
の出力値は被検者の体格及び第1の撮影モード
に基づく曝射時間、管電圧、管電流の設定量と
なる。従つて、比較器COM1〜COM4において
は、ポテンシヨメータPM1〜PM4、増幅器
AMP1〜AMP4及びA/D変換器ADC1
ADC4を介して入力されるリセツト位置に対応
する各位置検出信号(A)と前記各設定量(B)とが比
較される。これにより、比較器COM1〜COM4
はそれまで(リセツト位置において)A=Bで
あつたものが、設定量(B)が前記第1の撮影モー
ドの設定量となるため、両者に差が生じて今迄
生じていた一致信号(0出力端子の出力信号)
が出なくなり、両者の相対差状態に応じて
「+」、「−」の極性信号を導出し、寝台駆動制
御回路9を介して寝台機構部10内の図示しな
い各位置設定要素の駆動モータを正転または逆
転させる。また、メモリPROM6,PROM7
出力は図示しないX線曝射制御回路へ管電圧、
管電流の設定値として送られる。さらにメモリ
PROM5の出力は比較器COM5の一方の入力信
号(X線曝射時間の設定値)となる(期間t1
t2の間)。
On the other hand, at the same time as switch SW 1 is pressed, the second
The encoder ED 2 outputs a binary value corresponding to the combination of two types of closed condition setting switches. This binary output is sent to the memory PROM 1 for storing the set values for each position setting element of the bed.
~PROM 4 and memory PROM 5 ~ PROM 7 for storing setting values of X-ray exposure condition setting elements (X-ray exposure time, X-ray tube voltage, X-ray tube current), and serves as an address signal for memories PROM 1 ~ PROM The output value of 7 is the setting amount (X
All radiation exposure condition setting elements are set to "0").
The value corresponds to the setting condition determined by the output of the second encoder ED 2 . i.e. memory PROM 1
The output value of ~PROM 4 becomes the setting amount of each position setting element of the bed in the first imaging mode based on the physique of the subject, and the output value of the memory PROM 5 ~ PROM 7
The output value becomes the setting amount of the exposure time, tube voltage, and tube current based on the physique of the subject and the first imaging mode. Therefore, in the comparators COM 1 to COM 4 , the potentiometers PM 1 to PM 4 and the amplifier
AMP 1 ~ AMP 4 and A/D converter ADC 1 ~
Each position detection signal (A) corresponding to the reset position input via the ADC 4 is compared with each set amount (B). This allows comparators COM 1 to COM 4
Until then (at the reset position) A=B, but since the setting amount (B) becomes the setting amount of the first shooting mode, there is a difference between the two and the coincidence signal ( 0 output terminal output signal)
is no longer output, a polarity signal of "+" or "-" is derived according to the relative difference state between the two, and the drive motor of each position setting element (not shown) in the bed mechanism section 10 is controlled via the bed drive control circuit 9. Rotate forward or reverse. In addition, the outputs of the memories PROM 6 and PROM 7 are sent to the X-ray exposure control circuit (not shown) as tube voltage,
Sent as the tube current setting value. more memory
The output of PROM 5 becomes one input signal (set value of X-ray exposure time) of comparator COM 5 (period t 1 ~
t 2 ).

而して、寝台の各位置設定要素がすべて第1
の撮影モードに基づく位置に設定を完了する
と、一致回路11から一致信号が導出され、前
述したと同様第1の撮影モード表示用のランプ
L1が点滅点燈から連続点燈に変わり、第1の
撮影モードの設定が完了した、撮影可能になつ
たことを操作者に知らせる(期間t2〜t3の間)。
Therefore, each position setting element of the bed is all set to the first position.
When the setting is completed to the position based on the shooting mode, a matching signal is derived from the matching circuit 11, and the lamp for displaying the first shooting mode is activated as described above.
L1 changes from blinking to continuous lighting, informing the operator that the setting of the first photographing mode has been completed and that photographing is possible (during period t2 to t3 ).

そこで、第1の撮影モード選択用のスイツチ
SW1を再度押すと、ノアゲートNR0、インバ
ータIN18、ナンドゲートND19,ND21、ND22
を介して曝射制御信号発生回路6内のフリツプ
フロツプFF19に入力信号を与える。尚、この
場合、スイツチSW1が押されてもデコーダDD
の「D」出力端子には出力“1”が出ていない
ので、ノアゲートNR1のゲートが閉じている
ことによつてカウンタCT1にはカウント入力信
号が入らない。これにより、フリツプフロツプ
FF19がセツトし、X線曝射制御回路にX線曝
射信号を与え、X線曝射が開始される。同時に
第2のパルス発生器PG2が発振を開始してクロ
ツクパルスが第2のカウンタCT2に導入され
る。その後カウンタCT2の出力(A)Aがメモリ
PROM5の出力値(B)と一致(A=B)すると、
比較器COM5から一致出力信号が導出され、フ
リツプフロツプFF19をリセツトしてX線曝射
を停止し、同時に第2のカウンタCT2をクリア
する(期間t3〜t4の間)。その一致出力信号は、
さらにノアゲートNR3,NR2を介して第1の
カウンタCT1にカウント入力信号を与え、カウ
ンタCT1の計数値を1つアツプして「2」とす
る。これにより、デコーダDDの出力は「1」
から「2」に移行し、ランプL1が消燈すると
共に第2の撮影モード表示用のランプL2が点
滅点燈する。同時に第2のエンコーダED2の出
力は第2の撮影モード信号と前記被検者の体格
に基づく組合わせによる所定のバイナリ値とな
り、メモリPROM1〜PROM7の各出力値がそ
の設定条件の設定量に変わる。従つて、前述と
同様、各位置設定要素及びX線曝射条件設定要
素がそれぞれ第2の撮影モード用に設定され、
一致回路11が再び一致信号を導出するため、
第2の撮影モード表示用ランプL2が点滅状態
から連続点燈状態に変り、撮影可能状態となつ
たことを操作者に知らせる(時刻t5)。
Therefore, the first shooting mode selection switch
Press SW 1 again, NOR gate NR 0 , inverter IN 18 , NAND gate ND 19 , ND 21 , ND 22
An input signal is applied to the flip-flop FF 19 in the exposure control signal generation circuit 6 through the exposure control signal generating circuit 6. In this case, even if switch SW 1 is pressed, the decoder DD
Since the output "1" is not output from the "D" output terminal of , the count input signal is not input to the counter CT 1 because the gate of the NOR gate NR 1 is closed. This allows flip-flop
FF 19 is set, gives an X-ray exposure signal to the X-ray exposure control circuit, and starts X-ray exposure. At the same time, the second pulse generator PG2 starts oscillating and clock pulses are introduced into the second counter CT2 . After that, the output of counter CT 2 (A) A is the memory
When it matches the output value (B) of PROM 5 (A=B),
A coincidence output signal is derived from the comparator COM 5 , which resets the flip-flop FF 19 to stop the X-ray exposure and at the same time clears the second counter CT 2 (during the period t 3 -t 4 ). Its match output signal is
Further, a count input signal is applied to the first counter CT1 via the NOR gates NR3 and NR2 , and the count value of the counter CT1 is increased by one to "2". As a result, the output of decoder DD is "1"
to "2", the lamp L 1 goes out, and the lamp L 2 for displaying the second photographing mode flashes on and off. At the same time, the output of the second encoder ED 2 becomes a predetermined binary value based on the combination of the second imaging mode signal and the physique of the subject, and each output value of the memories PROM 1 to PROM 7 is used to set the setting conditions. Changes in quantity. Therefore, as described above, each position setting element and X-ray exposure condition setting element are respectively set for the second imaging mode,
Since the matching circuit 11 derives the matching signal again,
The second photographing mode display lamp L2 changes from a blinking state to a continuous lighting state, informing the operator that the state is now ready for photographing (time t5 ).

次に第2の撮影モード選択用のスイツチSW2
を押すと、ノアゲートNR0、インバータIN18
ナンドゲートND19,ND21,ND22を介してフ
リツプフロツプFF19がセツトし、X線曝射が
開始される。その後設定曝射時間が経過する
と、比較器COM5が一致信号を導出することに
よりX線曝射が終了する。同時にその一致信号
はノアゲートNR3,NR2を介して第1のカウ
ンタCT1にカウント入力信号を与え、カウンタ
CT1の出力は1つアツプして「3」となる。こ
れにより、デコーダDDの出力は「2」から
「3」に移行し、ランプL2が消えると共に、第
3の撮影モード表示用のランプL3が点滅を開
始し、第3の撮影モードの設定駆動が開始され
る(期間t6〜t7の間)。
Next, switch SW 2 for selecting the second shooting mode.
Press Noah Gate NR 0 , Inverter IN 18 ,
Flip-flop FF 19 is set via NAND gates ND 19 , ND 21 and ND 22 , and X-ray exposure is started. Thereafter, when the set exposure time has elapsed, the comparator COM 5 derives a coincidence signal and the X-ray exposure ends. At the same time, the coincidence signal provides a count input signal to the first counter CT1 via NOR gates NR3 and NR2 , and the counter
The output of CT 1 goes up by one and becomes "3". As a result, the output of the decoder DD shifts from "2" to "3", the lamp L 2 goes out, and the lamp L 3 for displaying the third shooting mode starts blinking, and the third shooting mode is set. Driving is started (during period t6 to t7 ).

以上の動作を繰返して第1〜第9の撮影モー
ドにて順次撮影が行なわれ、第9の撮影モード
による撮影が前記比較器COM5からの一致信号
によつて終了すると、その一致信号がインバー
タIN17、ナンドゲートND17、更に体格データ
リセツト回路3BのノアゲートNR4,NR5
介してカウンタCT1及びフリツプフロツプFF10
〜FF15にクリア信号(またはリセツト信号)
を与える。これにより、体厚及び身長の設定条
件表示用ランプL10〜L15のうち点燈していたラ
ンプが消え、同時にカウンタCT1の出力が
「0」となるため、デコーダDDの出力が「9」
から「0」に移行する。従つて、ランプL9
消えると同時にリセツトモード表示用のランプ
L0が点滅する。同時に第2のエンコーダED2
バイナリ出力値「0」よりメモリPROM1
PROM4は0番地がアドレスされ、寝台の各位
置設定要素がリセツト位置(被検者が乗降り可
能な状態)に自動的に戻される(時刻t8以降)。
The above operations are repeated to sequentially take pictures in the first to ninth picture modes, and when the picture taking in the ninth picture mode ends with a match signal from the comparator COM 5 , the match signal is sent to the inverter. IN 17 , NAND gate ND 17 , and counter CT 1 and flip-flop FF 10 via NOR gates NR 4 and NR 5 of physique data reset circuit 3B.
Clear signal (or reset signal) to ~FF 15
give. As a result, the lit lamps among the lamps L 10 to L 15 for displaying the setting conditions for body thickness and height go out, and at the same time, the output of the counter CT 1 becomes "0", so the output of the decoder DD becomes "9". ”
to "0". Therefore, at the same time as lamp L9 goes out, the reset mode display lamp
L 0 flashes. At the same time, from the binary output value "0" of the second encoder ED 2 , the memory PROM 1 ~
PROM 4 is addressed to address 0, and each position setting element of the bed is automatically returned to the reset position (state in which the subject can get on and off) (after time t8 ).

(2) 任意プログラム操作撮影 先ず、任意設定操作用のスイツチSW16を押
して、フリツプフロツプFF16をセツトし第1
の切換回路CG1をA入力(カウンタCT1の出
力)を出力信号とする状態から、B入力(第1
のエンコーダED1の出力)を出力信号とする状
態に切換え、また第2の切換回路CG2をA入力
(デコーダDDの出力)を出力信号とする状態
から、B入力(フリツプフロツプFF1〜FF9
出力)を出力信号とする状態に切換え、さらに
論理組合せ回路3AのノアゲートNR1,NR3
NR4及びナンドゲートND19のゲートを閉じる
と共に、曝射タイミング制御回路5のナンドゲ
ートND20のゲートを開く。同時にランプ駆動
用のナンドゲートND16を介して任意設定操作
用の表示ランプL16を点燈する。
(2) Shooting with arbitrary program operation First, press switch SW 16 for arbitrary setting operation, set flip-flop FF 16 , and set the first
Switching circuit CG 1 changes from the state where the A input (output of counter CT 1 ) is the output signal to the state where the B input (first
The second switching circuit CG 2 is switched from the state where the A input (output of the decoder DD) is the output signal to the state where the B input (flip-flop FF 1 to FF 9 ) is the output signal. output) as an output signal, and then the NOR gates NR 1 , NR 3 , of the logic combinational circuit 3A
While closing the gates of NR 4 and NAND gate ND 19 , the gate of NAND gate ND 20 of the exposure timing control circuit 5 is opened. At the same time, an indicator lamp L 16 for arbitrary setting operation is turned on via a NAND gate ND 16 for driving the lamp.

次に寝台がリセツト状態にない場合(プログ
ラム順次操作の途中から任気操作に切換えた場
合)には、リセツト位置設定用のスイツチSW0
を押してフリツプフロツプFF0をセツトし、第
1、第2のエンコーダED1,ED2を強制的に
「0」出力値にし、前述と同様の動作にて寝台
をリセツト状態にする。寝台がリセツト状態に
なると前記一致回路11から一致信号が導出さ
れ、フリツプフロツプFF0をリセツトして第
1、第2のエンコーダED1,ED2の強制的な
「0」出力状態を解除する。この解除がなされ
ても寝台がリセツト状態にあるため、第1、第
2のエンコーダED1,ED2は依然「0」出力値
となつている。従つて、デコーダDDの出力は
「0」出力端子に導出され、リセツトモード表
示用のランプL0が連続点燈している。
Next, if the bed is not in the reset state (when switching to arbitrary operation from the middle of program sequential operation), press the reset position setting switch SW 0 .
Press to set the flip-flop FF 0 , force the first and second encoders ED 1 and ED 2 to the "0" output value, and reset the bed in the same manner as described above. When the bed is in the reset state, a coincidence signal is derived from the coincidence circuit 11, which resets the flip-flop FF0 and releases the forced " 0 " output state of the first and second encoders ED1 and ED2 . Even after this release, the bed remains in the reset state, so the first and second encoders ED 1 and ED 2 still have an output value of "0". Therefore, the output of the decoder DD is led to the "0" output terminal, and the reset mode indicating lamp L0 is lit continuously.

この状態で次にスイツチSW10〜SW15を被検
者の体厚及び身長に応じて選択的に押し、それ
に対応するフリツプフロツプFF10〜FF12
FF13〜FF15の各いずれか1つをセツトする。
(ランプL10〜L15のうち対応するものが点燈す
る。)その後に所望の撮影モード設定をスイツ
チSW1〜SW9のいずれかを押すことにより行な
う。仮に第5の撮影モード(No5)を選択する
(スイツチSW5を押す)と、フリツプフロツプ
FF5がセツトし、第1のエンコーダED1の出力
は「5」のバイナリ値となり、第1の切換回路
CG1を介してデコーダDDが出力「5」となり、
第5の撮影モード表示用のランプL5が点滅を
始める。同時に第2のエンコーダED2は前記3
種の各選択スイツチの組合わせに応じたバイナ
リ値でメモリPROM1〜PROM7をアドレスし、
寝台の各位置設定要素及び各X線曝射条件設定
要素が対応する設定量にセツトされる(時刻
t1)。
In this state, the switches SW 10 to SW 15 are selectively pressed according to the body thickness and height of the subject, and the corresponding flip-flops FF 10 to FF 12 are pressed.
Set any one of FF 13 to FF 15 .
(The corresponding one of the lamps L10 to L15 lights up.) Thereafter, the desired photographing mode is set by pressing any of the switches SW1 to SW9 . If you select the fifth shooting mode (No5) (press switch SW 5 ), the flip-flop
FF 5 is set, the output of the first encoder ED 1 becomes a binary value of "5", and the first switching circuit
Decoder DD outputs “5” through CG 1 ,
The fifth shooting mode display lamp L5 starts blinking. At the same time, the second encoder ED 2 is
Addressing memories PROM 1 to PROM 7 with binary values according to the combination of each selection switch of the species,
Each position setting element of the bed and each X-ray irradiation condition setting element are set to the corresponding setting amount (time
t1 ).

その後前記一致回路11の一致信号が導出す
ると、ランプL5は点滅から連続点燈になり、
X線曝射可能状態となつたことを操作者に知ら
せる(時刻t2)。
After that, when the coincidence signal of the coincidence circuit 11 is derived, the lamp L5 changes from blinking to continuous lighting.
The operator is notified that the state is now ready for X-ray exposure (time t 2 ).

しかる後、再びスイツチSW5を押すことによ
り、ノアゲートNR0を介して曝射タイミング
制御回路5内のフリツプフロツプFF17に入力
信号を与える。これにより、フリツプフロツプ
FF17は、スイツチSW5が最初に押された時に
セツトしているため、再度の入力信号によりセ
ツトされる。従つて、フリツプフロツプFF17
の出力は「1」から「0」となり、その立下り
にて次段のフリツプフロツプFF18がセツトさ
れ、ナンドゲートND20,ND21,ND22を介し
て曝射制御信号発生回路6内のフリツプフロツ
プFF19をセツトする。フリツプフロツプFF19
がセツトされてX線曝射が開始されると同時
に、第2のパルス発生器PG2が発振して第2の
カウンタCT2にてクロツクパルスが計数され
る。カウンタCT2の計数値がメモリPROM5
らの設定量に達すると比較器COM5から一致信
号が導出され、フリツプフロツプFF19がリセ
ツトされてX線曝射は停止する。また、その一
致信号によつてフリツプフロツプFF18もリセ
ツトされる(期間t3〜t4)。
Thereafter, by pressing the switch SW5 again, an input signal is applied to the flip-flop FF17 in the exposure timing control circuit 5 via the NOR gate NR0 . This allows flip-flop
Since FF 17 was set when switch SW 5 was pressed for the first time, it is set by the input signal again. Therefore, flip-flop FF 17
The output changes from "1" to "0", and at the falling edge, the flip-flop FF 18 in the next stage is set, and the flip-flop FF in the exposure control signal generation circuit 6 is set via the NAND gates ND 20 , ND 21 , and ND 22 . Set 19 . flipflop FF 19
is set and X-ray exposure is started, the second pulse generator PG2 oscillates and the second counter CT2 counts clock pulses. When the count value of the counter CT 2 reaches the set value from the memory PROM 5 , a coincidence signal is derived from the comparator COM 5 , the flip-flop FF 19 is reset, and the X-ray exposure is stopped. Furthermore, flip-flop FF 18 is also reset by the coincidence signal (period t3 to t4 ).

次に例えば第9の撮影モードで撮影を行なう
べくスイツチSW9を押すと、ノアゲートNR0
を介してフリツプフロツプFF17がセツトされ、
そのセツト出力の立上りでモノマルチバイブレ
ータMM1から瞬時的にパルスが導出され、フ
リツプフロツプFF1〜FF9すべてに対してリセ
ツトパルスが与えられ、それまでセツトしてい
たフリツプフロツプFF5はリセツトされる。ま
た、モノマルチバイブレータMM1の出力パル
ス幅はスイツチSW9が閉じられている時間に比
べ極めて短いため、そのパルス幅時間だけ遅れ
てフリツプフロツプFF9がセツトされる。従つ
て、第1のエンコーダED1の出力は「5」から
「9」となり、第5の撮影モード表示用のラン
プL5が消え、ほぼ同時に第9の撮影モード表
示用のランプL9が点滅点燈する。また第2の
エンコーダED2の出力も、第9の撮影モード選
択用のスイツチSW9と前記体格データ設定用の
スイツチSW10〜SW15との組合わせに応じたバ
イナリ値となり、前述したと同様に寝台の各位
置設定要素及びX線曝射条件設定要素がそれぞ
れ設定される。これにより、前述したと同様の
動作が行われ、一致回路11から一致信号が導
出されてランプL9が連続点燈に変わつた後、
再度スイツチSW9を押すとX線が曝射される
(期間t5〜t8)。
Next, for example, when you press switch SW 9 to take a picture in the 9th shooting mode, Noah Gate NR 0
Flip-flop FF 17 is set via
At the rise of the set output, a pulse is instantaneously derived from mono multivibrator MM1 , and a reset pulse is applied to all flip-flops FF1 to FF9 , and flip-flop FF5 , which had been set up to that point, is reset. Furthermore, since the output pulse width of the mono-multivibrator MM1 is extremely short compared to the time during which the switch SW9 is closed, the flip-flop FF9 is set with a delay of the pulse width time. Therefore, the output of the first encoder ED 1 changes from "5" to "9", the lamp L5 for displaying the fifth shooting mode goes out, and almost at the same time, the lamp L9 for displaying the ninth shooting mode blinks. Turn on the light. Furthermore, the output of the second encoder ED 2 is also a binary value corresponding to the combination of the ninth shooting mode selection switch SW 9 and the physique data setting switches SW 10 to SW 15 , and is similar to that described above. Each position setting element of the bed and the X-ray exposure condition setting element are set respectively. As a result, the same operation as described above is performed, and after a coincidence signal is derived from the coincidence circuit 11 and the lamp L9 changes to continuous lighting,
When the switch SW 9 is pressed again, X-rays are emitted (period t5 to t8 ).

従つて、任意設定操作の場合には、被検者の
体格データを設定した後は、所望の撮影モード
用のスイツチSW1〜SW9を、一度押すことによ
り各撮影モードの条件設定指令が出され、再度
押すことによりその条件にてX線撮影が行なわ
れる。またプログラム順次操作中に同一条件で
再度撮影したい場合、任意設定用のスイツチ
SW16を押すことにより行ない得、その後スイ
ツチSW16を再度押して順次操作に戻せば、前
回に続く順位から再び順次操作を続けて行なう
ことができる。(このとき、第1のカウンタ
CT1が中断時の次のステツプを記憶している。) 次に、全自動によるプログラム順次操作撮影
を実現するための装置について説明する。これ
を実現するためには、前記第2図に示した回路
の一部を第4図に示すような回路に変更又は追
加すればよい。即ち、前記操作パネル1内に全
自動プログラム選択用スイツチSW17及びその
出力側に接続されるインバータIN25を追加し、
前記ラツチ回路2内にインバータIN25の出力
をクロツク(CK)端子に受けるフリツプフロ
ツプFF21を追加し、前記表示回路4にランプ
駆動用のナンドゲート回路ND18及びこれによ
つて駆動されるランプL17を追加する。そして、
前記X線曝射タイミング制御回路5内に、前記
追加フリツプフロツプFF21の出力を反転する
インバータIN23と、追加フリツプフロツプ
FF21の出力、既存のインバータIN19の出力、
制御信号発生回路3のインバータIN20の出力
及び一致回路11からの一致信号を4入力とす
るナンドゲート回路ND25と、該ナンドゲート
ND25の出力をトリガ信号とする第2のモノマ
ルチバイブレータMM2と、該モノマルチMM2
の出力をクロツク端子(CK)に受け、X線曝
射制御信号発生回路6の比較器COM5によつて
リセツトされるフリツプフロツプFF20とを追
加し、既存のナンドゲート回路ND22を廃止し、
それに変えてインバータIN24を挿入し、この
インバータIN24から出力を取り出す。そして、
既存のナンドゲート回路ND19,ND20にはそれ
ぞれ、一致回路11の出力信号、制御信号発生
回路3のインバータIN20の出力信号、追加イ
ンバータIN23の出力信号を印加し、ナンドゲ
ート回路ND21には追加フリツプフロツプFF20
の出力を追加入力信号として印加する。
Therefore, in the case of arbitrary setting operations, after setting the subject's physique data, press the switch SW 1 to SW 9 for the desired imaging mode once to issue a condition setting command for each imaging mode. By pressing the button again, X-ray photography will be performed under the specified conditions. Also, if you want to take pictures again under the same conditions while operating the program sequentially, you can use the optional setting switch.
This can be done by pressing SW 16 , and then by pressing switch SW 16 again to return to sequential operation, the sequential operation can be continued from the previous order. (At this time, the first counter
CT 1 remembers the next step at the time of interruption. ) Next, a device for realizing fully automatic program sequential operation photography will be described. In order to realize this, a part of the circuit shown in FIG. 2 may be changed or added to a circuit as shown in FIG. 4. That is, a fully automatic program selection switch SW 17 and an inverter IN 25 connected to its output side are added to the operation panel 1,
A flip-flop FF 21 that receives the output of the inverter IN 25 at its clock (CK) terminal is added to the latch circuit 2, and a NAND gate circuit ND 18 for driving a lamp and a lamp L 17 driven by this are added to the display circuit 4. Add. and,
The X-ray exposure timing control circuit 5 includes an inverter IN 23 for inverting the output of the additional flip-flop FF 21 and an additional flip-flop.
Output of FF 21 , output of existing inverter IN 19 ,
A NAND gate circuit ND 25 which has four inputs of the output of the inverter IN 20 of the control signal generation circuit 3 and the coincidence signal from the coincidence circuit 11, and the NAND gate
A second mono multivibrator MM 2 that uses the output of the ND 25 as a trigger signal, and the mono multi MM 2
A flip-flop FF 20 which receives the output of
Insert inverter IN 24 instead and take out the output from this inverter IN 24 . and,
The output signal of the coincidence circuit 11 , the output signal of the inverter IN 20 of the control signal generation circuit 3, and the output signal of the additional inverter IN 23 are applied to the existing NAND gate circuits ND 19 and ND 20 , respectively, and the output signal of the additional inverter IN 23 is applied to the NAND gate circuit ND 21 . Additional flip-flop FF 20
Apply the output of as an additional input signal.

次に、第5図のタイミングチヤートをも参照
して全自動プログラム撮影について説明する。
Next, fully automatic program photography will be explained with reference to the timing chart shown in FIG.

この全自動においては、電源投入時からリセ
ツトモード設定に関する動作は前述した半自動
と同じとなる。従つて、寝台の各位置設定要素
がすべてリセツト位置にあるとすると、リセツ
トモード表示用のランプL0が連続点燈状態に
なつている。
In this fully automatic mode, operations related to reset mode setting from the time the power is turned on are the same as in the semi-automatic mode described above. Therefore, assuming that all position setting elements of the bed are at the reset position, the reset mode display lamp L0 is lit continuously.

而して、スイツチSW17を押して、フリツプ
フロツプFF21をセツトすることによつて、ナ
ンドゲートND18を介して全自動操作表示用の
ランプL17を点燈すると共に、インバータIN23
を介してナンドゲートND19,ND20のゲートを
閉じ、同時にナンドゲートND25のゲートを開
く。
Then, by pressing the switch SW 17 and setting the flip-flop FF 21 , the fully automatic operation display lamp L 17 is turned on via the NAND gate ND 18 , and the inverter IN 23 is turned on.
Close the gates of NAND gate ND 19 and ND 20 through , and open the gate of NAND gate ND 25 at the same time.

次にスイツチSW10〜SW12,SW13〜SW15
各々択一的に押す操作により被検者の体格デー
タの設定を行ない、それらの対応するフリツプ
フロツプFF10〜FF15をセツトして表示ランプ
L10〜L15の対応するものを点燈する。その後に
第1の撮影モード選択用のスイツチSW1を押せ
ば、前述した半自動と同様にスイツチ信号がカ
ウンタCT1でカウントされ、その計数値を
「0」から「1」とするため、リセツト状態か
ら第1の撮影モードの設定が開始される。同時
に表示ランプL0が消えて表示ランプL1が点滅
を始める(時刻t1)。
Next, set the subject's physique data by selectively pressing switches SW 10 to SW 12 and SW 13 to SW 15 , and set the corresponding flip-flops FF 10 to FF 15 to display the display lamps.
Light up the corresponding ones from L 10 to L 15 . If you then press switch SW 1 for selecting the first shooting mode, the switch signal will be counted by counter CT 1 as in the semi-automatic case described above, and the counted value will be changed from "0" to "1", thus resetting the camera. Setting of the first photographing mode starts from. At the same time, the display lamp L0 goes out and the display lamp L1 starts blinking (time t1 ).

しかる後、寝台の各位置設定要素がすべて第
1の撮影モードに基づく位置設定を完了する
と、一致回路11から一致信号が導出され、表
示ランプL1が連続点燈に変わる(時刻t2)。
Thereafter, when all position setting elements of the bed complete position setting based on the first photographing mode, a coincidence signal is derived from the coincidence circuit 11, and the display lamp L1 changes to continuous lighting (time t2 ).

一方、前記一致信号は、X線曝射タイミング
制御回路5のナンドゲートND25を介してモノ
マルチバイブレータMM2をその立下りでトリ
ガする。モノマルチバイブレータMM2はその
トリガ信号の入力時点から比較的長い幅のパル
ス信号を導出する。この信号のパルス幅は、寝
台の各位置設定要素の機械的振動が納まるのに
必要な時間に対応する幅を有している。このモ
ノマルチバイブレータMM2の出力パルスがそ
の後“1”から“0”に立下ると、その立下り
タイミングでフリツプフロツプFF20がセツト
され、ナンドゲートND21及びインバータIN24
を介してX線曝射タイミング制御回路5が出力
信号を導出し、フリツプフロツプFF19にセツ
ト入力信号を与える。これにより、フリツプフ
ロツプFF19がセツトされてX線曝射信号を導
出すると共に、クロツクパルス発生器PG2を発
振してカウンタCT2が時間計数パルスのカウン
トを始める。その後カウンタCT2の計数値がX
線曝射時間設定用のメモリPROM5の導出する
設定値に達すると、比較器COM5から一致信号
が導出され、フリツプフロツプFF19がリセツ
トされてX線曝射を停止する(期間t3〜t4)。
また、この一致信号によつてカウンタCT2、フ
リツプフロツプFF20がリセツトされると共に、
ナンドゲートNR3,NR2を介してカウンタCT1
にカウント入力信号を与えてカウンタCT1の計
数値を「1」から「2」にカウントアツプす
る。これにより、デコーダDDの出力を「1」
から「2」に移行することになり、ランプL1
が消え、第2の撮影モード表示用のランプL2
が点滅を開始する(期間t4以降)。同時に第2
のエンコーダED2を介してメモリPROM1
PROM7が第2の撮影モードに基づく値でアド
レスされ、各設定要素が第2の撮影モード条件
に設定開始される。そして、各設定要素がすべ
て設定完了すると、再び一致回路11から一致
信号が導出され、前述したと同時、それから所
定時間経過後にX線曝射タイミング制御回路5
から出力信号が導出され、フリツプフロツプ
FF19がセツトして自動的にX線曝射が開始す
る(時刻t6)。以上の一連の動作が第1〜第9
の撮影モードまで順次自動的に繰返され、最終
段の第9の撮影モードにおいて曝射時間計数用
のカウンタCT2の計数値が設定値に達して比較
器COM5から一致信号が導出されると、ナンド
ゲートND17が開いているためカウンタCT1
リセツトしてデコーダDDの出力を「9」から
「0」にする。従つて、ランプL9が消えると共
にリセツトモード表示用のランプL0が点燈し
て寝台の各位置設定要素がリセツト位置へ復帰
する。同時に前記一致信号は体格データリセツ
ト回路3BのノアゲートNR4,NR5を介して
フリツプフロツプFF10〜FF15をリセツトし、
体格条件設定表示用のランプL10〜L15をリセツ
トする。
On the other hand, the coincidence signal triggers the mono multivibrator MM 2 via the NAND gate ND 25 of the X-ray exposure timing control circuit 5 at its falling edge. The monomultivibrator MM 2 derives a pulse signal of relatively long width from the moment of input of its trigger signal. The pulse width of this signal has a width corresponding to the time required for the mechanical vibrations of each positioning element of the bed to subside. When the output pulse of this mono multivibrator MM 2 subsequently falls from "1" to "0", the flip-flop FF 20 is set at the falling timing, and the NAND gate ND 21 and inverter IN 24 are set.
The X-ray exposure timing control circuit 5 derives an output signal through the X-ray exposure timing control circuit 5 and provides a set input signal to the flip-flop FF 19 . As a result, the flip-flop FF 19 is set to derive an X-ray exposure signal, and the clock pulse generator PG 2 is oscillated to cause the counter CT 2 to start counting time counting pulses. After that, the count value of counter CT 2 becomes
When the set value derived from the memory PROM 5 for setting the radiation exposure time is reached, a coincidence signal is derived from the comparator COM 5 , and the flip-flop FF 19 is reset to stop the X-ray exposure (period t 3 to t Four ).
Further, the counter CT 2 and flip-flop FF 20 are reset by this coincidence signal, and at the same time,
Counter CT 1 via NAND gate NR 3 , NR 2
A count input signal is applied to the counter CT1 to count up the count value of the counter CT1 from "1" to "2". This sets the output of the decoder DD to "1"
to "2", and the lamp L 1
disappears and the second shooting mode display lamp L 2
starts blinking (after period t 4 ). 2nd at the same time
Memory PROM 1 through encoder ED 2 ~
The PROM 7 is addressed with a value based on the second shooting mode, and each setting element begins to be set to the second shooting mode condition. When all setting elements have been set, a coincidence signal is again derived from the coincidence circuit 11, and at the same time as described above, after a predetermined period of time, the X-ray exposure timing control circuit 5
The output signal is derived from the flip-flop
FF 19 is set and X-ray exposure starts automatically (time t 6 ). The above series of operations are the 1st to 9th operations.
The process is automatically repeated sequentially up to the shooting mode, and when the count value of the counter CT 2 for counting the exposure time reaches the set value in the ninth shooting mode of the final stage, a coincidence signal is derived from the comparator COM 5 . , since the NAND gate ND17 is open, the counter CT1 is reset and the output of the decoder DD changes from "9" to "0". Therefore, the lamp L9 goes out and the reset mode display lamp L0 lights up, and each position setting element of the bed returns to the reset position. At the same time, the coincidence signal resets the flip-flops FF10 to FF15 via the NOR gates NR4 and NR5 of the physique data reset circuit 3B,
Reset the lamps L10 to L15 for displaying physique condition settings.

尚、フオトタイマ等による自動露出制御機能
を有するものを適用する場合には、前記比較器
COM5の一致信号の変わりに、フオトタイマ等
のX線自動露出制御装置からのX線遮断信号を
用いれば良い。従つて、この場合には曝射時間
設定用のメモリPROM5、時間計測用のクロツ
クパルス発生器PG2、カウンタCT2及び比較器
COM5は不要となる。また、切換スイツチ(及
び切換表示器)を設け、さらに前記比較器
COM5の一致信号とフオトタイマの出力信号を
切換信号によりゲート制御するゲート回路を設
け、両機能を選択的に適用できるようにしても
よい。
In addition, when applying an automatic exposure control function such as a photo timer, the comparator
Instead of the coincidence signal of COM 5 , an X-ray cutoff signal from an automatic X-ray exposure control device such as a photo timer may be used. Therefore, in this case, a memory PROM 5 for setting exposure time, a clock pulse generator PG 2 for time measurement, a counter CT 2 and a comparator are used.
COM 5 is no longer needed. In addition, a changeover switch (and a changeover indicator) is provided, and the comparator
A gate circuit may be provided to gate control the coincidence signal of COM 5 and the output signal of the photo timer using a switching signal, so that both functions can be selectively applied.

さらに、上記実施例では、デイジタル的ハー
ドロジツク回路で構成したが、アナログ的ハー
ドロジツク回路あるいはマイクロコンピユータ
を用いたロジツク回路としてもよい。
Further, in the above embodiment, the digital hard logic circuit is used, but it may be an analog hard logic circuit or a logic circuit using a microcomputer.

本発明は前記実施例に限定されず、その要旨
を変更しない範囲内で種々変形して実施できる
ことは言うまでもない。
It goes without saying that the present invention is not limited to the embodiments described above, and can be implemented with various modifications without changing the gist thereof.

以上申述べたように、本発明によれば、被検体
の撮影位置とこの撮影位置でのX線曝射条件とを
選択しておくだけで、定型化された集団検診など
を操作者の手を煩わせずに行うことができる。し
かも、寝台が撮影位置に到達したことを自動的に
検出し、それに従つてX線を曝射するので、撮影
位置に寝台が到達する前にX線を曝射するような
誤りは生じないなどの効果がある。
As described above, according to the present invention, the operator can perform standardized group examinations, etc. by simply selecting the imaging position of the subject and the X-ray exposure conditions at this imaging position. This can be done without any hassle. Moreover, since it automatically detects when the bed has reached the imaging position and emits X-rays accordingly, there is no possibility of errors such as emitting X-rays before the bed reaches the imaging position. There is an effect.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明装置の概略構成の一実施例を示
すシステムブロツク図、第2図はその具体的一実
施例を示す回路図、第3図a,bはその動作説明
のためのタイミングチヤート、第4図は本発明装
置の変形例を説明するための部分的回路図、第5
図はその動作説明のためのタイミングチヤートで
ある。 1……操作パネル、2……ラツチ回路、3……
制御信号発生回路、4……表示回路、5……X線
曝射タイミング制御回路、6……X線曝射制御信
号発生回路、7……寝台駆動制御信号発生回路、
8……位置検出回路、9……寝台駆動制御回路、
10……寝台機構部、11……一致回路、SW0
SW17……押釦スイツチ。
Fig. 1 is a system block diagram showing one embodiment of the schematic configuration of the device of the present invention, Fig. 2 is a circuit diagram showing a specific embodiment thereof, and Figs. 3a and b are timing charts for explaining its operation. , FIG. 4 is a partial circuit diagram for explaining a modified example of the device of the present invention, and FIG.
The figure is a timing chart for explaining its operation. 1...Operation panel, 2...Latch circuit, 3...
Control signal generation circuit, 4... Display circuit, 5... X-ray exposure timing control circuit, 6... X-ray exposure control signal generation circuit, 7... Bed drive control signal generation circuit,
8... Position detection circuit, 9... Bed drive control circuit,
10... Bed mechanism section, 11... Matching circuit, SW 0 ~
SW 17 ...Push button switch.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 被検体の撮影位置とこの撮影位置でのX線曝
射条件とを選択する撮影モード選択部と、この選
択された撮影位置に従つて、被検体を載置した寝
台を移動させる寝台機構部と、この寝台の位置を
検出する位置検出部と、この位置検出部からの位
置検出信号と前記撮影モード選択部で選択した撮
影位置とを比較し、両者が一致したとき一致信号
を発生する比較一致部と、この比較一致部から供
給される一致信号に応答し、前記選択部で選択さ
れた曝射条件に従つて、X線を被検体に向けて曝
射するX線曝射部とを備えたことを特徴とするX
線診断装置。
1. An imaging mode selection unit that selects the imaging position of the subject and the X-ray exposure conditions at this imaging position, and a bed mechanism unit that moves the bed on which the subject is placed according to the selected imaging position. and a position detection unit that detects the position of the bed, and a comparison unit that compares the position detection signal from this position detection unit and the shooting position selected by the shooting mode selection unit, and generates a match signal when the two match. a matching section; and an X-ray irradiation section that responds to the matching signal supplied from the comparison matching section and irradiates X-rays toward the subject according to the irradiation conditions selected by the selection section. X characterized by having
Line diagnostic equipment.
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