JPH0242640A - Optical head structure - Google Patents

Optical head structure

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Publication number
JPH0242640A
JPH0242640A JP63193188A JP19318888A JPH0242640A JP H0242640 A JPH0242640 A JP H0242640A JP 63193188 A JP63193188 A JP 63193188A JP 19318888 A JP19318888 A JP 19318888A JP H0242640 A JPH0242640 A JP H0242640A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
photodiode
detection light
prism
knife edge
Prior art date
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Pending
Application number
JP63193188A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Shuichi Hoshino
秀一 星野
Hiroaki Nishikuma
西隈 弘明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NHK Spring Co Ltd
Original Assignee
NHK Spring Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NHK Spring Co Ltd filed Critical NHK Spring Co Ltd
Priority to JP63193188A priority Critical patent/JPH0242640A/en
Publication of JPH0242640A publication Critical patent/JPH0242640A/en
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  • Optical Head (AREA)

Abstract

PURPOSE:To miniaturize the title structure and to reduce the weight without wasting a detected light interrupted with a knife edge by composing a turning means of the total reflecting surface of a prism provided in the optical path of the detected light and composing a knife edge means of the boundary peripheral part of the total reflecting surface. CONSTITUTION:The title structure is provided with the turning means to turn a part of a detected light 8 in a different direction, the knife edge means provided on one of optical paths for detecting a focus error condition, etc. The turning means is composed of a total reflecting surface 16 of a prism 15 provided in the optical path of the detected light 8, and the knife edge means is composed of a boundary peripheral part 17 of the total reflecting surface 16. Thus, since the turning means and knife edge means can be provided on the single prism 15, a part of the detected light cannot by interrupted by the knife edge means, and the optical head can be miniaturized and, simultaneously reduced in weight.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] 〈産業上の利用分野〉 本発明は光学ヘッド構造に関し、特に小型化及び軽口化
し得る光学ヘッド構造に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] <Industrial Application Field> The present invention relates to an optical head structure, and particularly to an optical head structure that can be made smaller and lighter in weight.

〈従来の技術〉 従来、光学ヘッド式記録媒体としての光ディスクの記録
面に収束光を照射すると共に、その反射光を検出するこ
とににす、記録及び再生を行うようにした高密度記録再
生装置がある゛。この装置に用いられる光ディスクにあ
っては、一般に若干の反りや歪みがあると共に、光ディ
スクの回転軸への取付誤差による偏心がある。そこで、
光学ヘッドをそれらの影響を受けることなく光ディスク
の微細な記録トラックに追従させるべく、光学ヘッドの
フォーカス及びトラッキングの各エラーを検出すること
により、その位置制御を行っている。
<Prior Art> Conventionally, high-density recording and reproducing apparatuses perform recording and reproducing by irradiating convergent light onto the recording surface of an optical disk as an optical head type recording medium and detecting the reflected light. There is. The optical disks used in this device generally have some warpage or distortion, as well as eccentricity due to errors in mounting the optical disk to the rotating shaft. Therefore,
In order to make the optical head follow the fine recording tracks of the optical disk without being affected by these, the position of the optical head is controlled by detecting each error in focus and tracking of the optical head.

各エラー検出用の検出光として、光ディスクからの反射
光の向きを偏光ビームスプリッタにより変向すると共に
、この変向された検出光をハーフプリズムを通して、更
に2方向に分けるようにしたものがある。その一方の検
出光の半分をナイフエツジにより遮断して、所謂ナイフ
ェツジ法を用いて、フォーカスエラー検出用の例えば2
分割フォトダイオードの分割線上に焦点を結ぶようにさ
せている。即ら、フォーカス方向にずれた場合には、そ
の焦点位置がフォトダイオードの手前または奥側にずれ
るため、2分割フォトダイオードのいずれか一方に集光
して、そのずれを容易に検出することができる。また、
ハーフプリズムにより分けられた他方の検出光をトラッ
キングエラー検出用の例えば2分割フォトダイオードの
分割線上に集光させている。この場合にも、トラッキン
グ方向にずれた場合には集光部の左右の明るさに差を生
じるため、2分割フォトダイオードの出力差によりその
ずれを検出することができる。
As the detection light for each error detection, there is a type in which the direction of the reflected light from the optical disk is changed by a polarizing beam splitter, and this changed detection light is further divided into two directions through a half prism. Half of the detected light on one side is blocked by a knife edge, and the so-called knife edge method is used to detect, for example, two detection lights for focus error detection.
The focus is placed on the dividing line of the divided photodiode. In other words, if there is a shift in the focus direction, the focal position shifts to the front or back of the photodiode, so it is difficult to focus the light on one of the two split photodiodes and easily detect the shift. can. Also,
The other detection light separated by the half prism is focused on a dividing line of, for example, a two-split photodiode for tracking error detection. In this case as well, if there is a shift in the tracking direction, there will be a difference in brightness between the left and right sides of the condensing section, so the shift can be detected based on the difference in the output of the two-split photodiode.

上記構造によると、ハーフプリズムにより分割された検
出光の一方をナイフェツジを用いてフォーカスエラー置
検出するが、フォーカス用フォトダイオードに入射する
光束の半分がナイフェツジにより遮断されるため、その
遮断された光束が無駄である。また、ハーフプリズム、
ナイフェツジ、及び2組のフォトダイオードをそれぞれ
別個に設けていることから、部品点数及びその取イ」け
箇所が多く、光学ヘッドが大型化すると共に重量が増加
するため、高速アクレス化が不利になると云う問題がめ
る。
According to the above structure, one of the detection lights split by the half prism is detected for focus error using a knife, but since half of the light beam incident on the focusing photodiode is blocked by the knife, the blocked light beam is is a waste. Also, half prism,
Since the optical head and two sets of photodiodes are provided separately, there are many parts and many parts to remove, and the optical head becomes larger and weighs more, which makes it disadvantageous to achieve a high-speed address. The problem arises.

〈発明が解決しようとする課題〉 このような従来技術の問題点に鑑み、本発明の主な目的
は、ナイフェツジ法を用いてフォーカスエラーの検出を
行う形式の光学ヘッド構造に於て、ナイフェツジにより
遮断される検出光を無駄にすることなく、かつ小型化及
び軽量化し得る光学ヘッド構造を提供することにある。
<Problems to be Solved by the Invention> In view of the problems of the prior art, the main object of the present invention is to provide an optical head structure that uses the knife method to detect focus errors. It is an object of the present invention to provide an optical head structure that can be made smaller and lighter without wasting the blocked detection light.

[発明の構成1 〈課題を解決するための手段〉 このJ、うな目的は、本発明によれば、光学ヘッドのト
ラッキング及びフォーカスのいずれか一方のエラー状態
を光学的に検出°するために検出光の光路内に配置され
た第1の受光素子と、前記検出光の一部を異なる向きに
変向するための変向手段と、トラッキング及びフォーカ
スのいずれか他方のエラー状態を光学的に検出するため
に前記変向された検出光の光路内に配置された第2の受
光素子と、前記フォーカスエラー状態を検出するために
前記両光路のいずれかに設けられたナイフェツジ手段と
を有する光学ヘッド構造に於て、前記変向手段が、前記
検出光の光路中に設けられたプリズムの全反射面からな
り、前記ナイフェツジ手段が、前記全反射面の境界縁部
からなることを特徴とする光学ヘッド構造を提供するこ
とにより達成される。
[Structure 1 of the Invention <Means for Solving the Problems> According to the present invention, the object is to optically detect an error state in either tracking or focusing of an optical head. a first light-receiving element disposed in an optical path of light; a deflecting means for deflecting a portion of the detected light in a different direction; and optically detecting an error state in either tracking or focusing. an optical head having a second light receiving element disposed in the optical path of the deflected detection light to detect the focus error state; and a knife means disposed in either of the optical paths to detect the focus error state. In the optical structure, the deflection means comprises a total reflection surface of a prism provided in the optical path of the detection light, and the knife means comprises a boundary edge of the total reflection surface. This is achieved by providing a head structure.

く作用〉 このようにすれば、検出光の一部を変向するための全反
射面を有するプリズムの全反射面の境界縁部からなるナ
イフェツジ手段を用いて、)4−カスエラーをナイフェ
ツジ法にて検出することができると共に、変向手段とナ
イフェツジ手段とを1つのプリズムに設けることができ
るため、部品点数及びその取付は箇所を少なくし得ると
共に、ナイフェツジ手段により検出光の一部を遮断する
ことがないため、検出光の無駄になる部分がない。
In this way, by using the knife means consisting of the boundary edge of the total reflection surface of a prism having a total reflection surface for deflecting a part of the detected light, the 4-cass error can be solved by the knife method. In addition, since the direction changing means and the knife means can be provided in one prism, the number of parts and the number of parts for mounting them can be reduced, and a part of the detected light can be blocked by the knife means. Therefore, there is no wasted portion of the detection light.

〈実施例〉 以下、本発明の好適実施例を添イ」の図面について詳し
く説明する。
<Embodiments> Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

第1図は本発明が適用された光学ヘッドの要部を示V模
式図である。第1図に示されるように、図示されない光
源としての半尊体し−リ゛から光ディスクに向けて照射
される出射光1の光軸上には偏光ビームスプリッタ2、
及びλ/4板3が配設されている。
FIG. 1 is a schematic diagram showing the main parts of an optical head to which the present invention is applied. As shown in FIG. 1, a polarizing beam splitter 2, a polarizing beam splitter 2,
and a λ/4 plate 3 are provided.

ところで、偏光ビームスプリッタ2を通過した出射光1
は、λ/4板3を通過した後、光ディスクにて反射して
反則光4となって、再びλ/4板3を通過して偏光ビー
ムスプリッタ2内に入射するため、偏光ビームスプリッ
タ2内にあっては、反射光4の偏光面が出射光1の偏光
面に対して90度異なっている。従って、偏光ビームス
プリッタ2内にて反則光4の向きが変向されて、検出光
8として偏光ビームスプリッタ2の図の右側面から出射
する。
By the way, the output light 1 that has passed through the polarizing beam splitter 2
After passing through the λ/4 plate 3, it is reflected by the optical disk to become reflected light 4, which passes through the λ/4 plate 3 again and enters the polarizing beam splitter 2. In this case, the plane of polarization of reflected light 4 is different from the plane of polarization of output light 1 by 90 degrees. Therefore, the direction of the refracted light 4 is changed within the polarizing beam splitter 2 and is emitted as detection light 8 from the right side of the polarizing beam splitter 2 in the figure.

この検出光8の光軸上には、集光レンズ6及び測光セン
サ7がそれぞれ同軸的に配設されており、フォーカス及
びトラッキングの各エラー検出を行うために、検出光8
を集光レンズ6にて収束光として測光センサ7に集光し
ている。尚、半導体レ−’fから光ディスクまで出射光
1の光軸上にそれぞれを配設したが、光軸上にミラー等
を配設することにより光軸の向きを自由に変更すること
ができるため、それぞれの配置を限定するものではない
A condenser lens 6 and a photometric sensor 7 are coaxially arranged on the optical axis of the detection light 8, and the detection light 8 is arranged coaxially to detect errors in focus and tracking.
The light is condensed by a condensing lens 6 onto a photometric sensor 7 as convergent light. Although each of the components from the semiconductor ray 'f to the optical disk are arranged on the optical axis of the emitted light 1, the direction of the optical axis can be changed freely by arranging a mirror or the like on the optical axis. , the arrangement of each is not limited.

第2図は測光センサ7の側断面図であり、第3図は第2
図の■−m線について見た図である。第2図及び第3図
に示されるように、測光センサ7の基板9には、トラッ
キングエラー検出用の受光素子としてのフォトダイオー
ド13とフォーカスエラー検出用の受光素子としてのフ
ォトダイオード14とが一体的に設けられている。トラ
ッキングエラー検出用のフォトダイオード13が検出光
8の光路内に配置されていると共に、フォトダイオード
13から所定の距離をおいてフォーカスエラー検出用の
フォトダイオード14が位置している。
FIG. 2 is a side sectional view of the photometric sensor 7, and FIG. 3 is a side sectional view of the photometric sensor 7.
It is a diagram seen along the ■-m line in the figure. As shown in FIGS. 2 and 3, a photodiode 13 as a light receiving element for tracking error detection and a photodiode 14 as a light receiving element for focus error detection are integrated on the substrate 9 of the photometric sensor 7. It is set up as follows. A photodiode 13 for tracking error detection is placed in the optical path of the detection light 8, and a photodiode 14 for focus error detection is placed at a predetermined distance from the photodiode 13.

これら各フォトダイオード13.14は、第3図に示さ
れるように、互いに直交する分割線により4分割された
フyt l−ダイオード素子により構成されている。ト
ラッキング用フォトダイオード13は、その一方の分割
線と、検出光8の光軸がトラッキングエラーの際にずれ
る方向とが直交するように配設され、フォーカス用フォ
トダイオード14は、その一方の分割線がフォトダイオ
ード13の上記分割線の延長線上に位置するように配設
されている。
As shown in FIG. 3, each of these photodiodes 13 and 14 is constituted by a photodiode element divided into four parts by mutually orthogonal dividing lines. The tracking photodiode 13 is arranged so that one dividing line is orthogonal to the direction in which the optical axis of the detection light 8 shifts in the event of a tracking error, and the focusing photodiode 14 is arranged so that one dividing line is perpendicular to the direction in which the optical axis of the detection light 8 shifts in the event of a tracking error. is arranged so as to be located on an extension of the dividing line of the photodiode 13.

第2図に示されるように、基板9上にはプリズム15が
固着されている。このプリズム15は、平行四辺形の側
断面を有する形状をなして、その底面15aによりフォ
トダイオード14のみを覆うと共に、フォトダイオード
14側からフォトダイオード13の上方に向けて斜めに
延出するように設けられており、検出光8の光束のフォ
トダイオード14側の半分をプリズム15内に入射する
ようにされている。また、底面15aから上記延出端部
のエツジ17に至る面16が、プリズム15内に入射し
て百16に達する検出光8の入射角が臨界角以上となる
角度をもって形成されており、面16に達する検出光8
が全反射する全反射面をなしている。プリズム15の面
16のエツジ17が、光束の半分を遮断するナイフェツ
ジ法に於けるエツジをなし、面16にて全反射した反射
光の断面が半月状をなすように分割される。
As shown in FIG. 2, a prism 15 is fixed on the substrate 9. The prism 15 has a parallelogram side cross section, covers only the photodiode 14 with its bottom surface 15a, and extends obliquely from the photodiode 14 side toward above the photodiode 13. The half of the luminous flux of the detection light 8 on the photodiode 14 side is made to enter the prism 15. Further, a surface 16 extending from the bottom surface 15a to the edge 17 of the extending end portion is formed at an angle such that the incident angle of the detection light 8 that enters the prism 15 and reaches 1016 is a critical angle or more. Detection light 8 reaching 16
forms a total reflection surface. The edge 17 of the surface 16 of the prism 15 serves as an edge in the Knifezi method that blocks half of the luminous flux, and the cross section of the reflected light totally reflected at the surface 16 is divided into half-moon shapes.

このようにして、検出光8の半分が、プリズム15に遮
断されることなく、直接的にトラッキング用フォトダイ
オード13上に集光し、残りの半分が、面16と平行す
る対向面25にて反射した後、フォーカス用フォトダイ
オード14の両分割線の交点上に集光するようにされて
いる。尚、各フォトダイオード13.14は、基板9か
ら延出する図示されないリード線を介して、図示されな
い制御回路と電気的に接続されている。
In this way, half of the detection light 8 is directly focused on the tracking photodiode 13 without being blocked by the prism 15, and the remaining half is focused on the opposing surface 25 parallel to the surface 16. After being reflected, the light is focused on the intersection of both dividing lines of the focusing photodiode 14. Note that each of the photodiodes 13 and 14 is electrically connected to a control circuit (not shown) via a lead wire (not shown) extending from the substrate 9.

次に、各フォトダイオード13.14によるトラッキン
グ及びフォーカスの各エラーの検出要領を以下に示す。
Next, the procedure for detecting each error in tracking and focusing by each photodiode 13 and 14 will be described below.

第4図に示されるようにフォトダイオード13には検出
光8の半分が例えば想像線により示されるように半月状
に集光しており、トラッキングエラーを生じた場合には
図に於ける左右方向のいずれかに光量差を生じることと
なる。゛また、各フォトダイオード素子から、各照射パ
ターンに応じた検出信号E〜ト1が、(E十F>と(G
+t−(>とに分かれるJ:うに各アンプ19.20に
それぞれ入力され、更に各アンプ19.20からの出力
値をアンプ21に入力している。そして、アンプ21に
より、例えば(E+F)から(G十トl)を減算し、そ
の演算値を制御回路へ出力している。従って、トラッキ
ングエラーを生じた場合には、その方向及びエラー聞の
検出を容易に行うことができる。
As shown in FIG. 4, half of the detection light 8 is focused on the photodiode 13 in a half-moon shape as shown by the imaginary line, and if a tracking error occurs, it will be focused in the left and right direction in the figure. This results in a difference in light amount in either of the two cases.゛Also, from each photodiode element, detection signals E to 1 corresponding to each irradiation pattern are expressed as (E0F> and (G
+t-(>) is input to each amplifier 19.20, and the output value from each amplifier 19.20 is input to amplifier 21. Then, by amplifier 21, for example, from (E+F) (G + l) is subtracted and the calculated value is output to the control circuit.Therefore, if a tracking error occurs, the direction and error distance can be easily detected.

また、第5図にあっては、プリズム15内に於て面16
にて全反射して向ぎを変えられた検出光8の残りの半分
が、対向面25にて再度向きを変えられた俊、4分割フ
ォトダイオード14の分割線の交点上に想像線により示
されるようにほぼ焦点を結7S−ように入射しており、
フォーカスエラーが生じていない状態を示している。前
記と同様に、フォトダイオード14の各フォトダイオー
ド素子からζ各照射パターンに応じた検出信号A−Dが
、(A+B)と(C+D)とに分かれるように各アンプ
22.23にそれぞれ入力され、更に各アンプ22.2
3からの出力値をアンプ24に入力している。そして、
アンプ24により、例えば(へ十B>から(C十D>を
減緯し、その演算値を制御回路へ出力している。
In addition, in FIG. 5, in the prism 15, the surface 16
The remaining half of the detection light 8 that was totally reflected and redirected at the opposite surface 25 is shown by an imaginary line on the intersection of the dividing lines of the four-divided photodiode 14. It is almost focused so that it is 7S-like, and
This shows a state where no focus error has occurred. Similarly to the above, detection signals A-D corresponding to each ζ irradiation pattern from each photodiode element of the photodiode 14 are inputted to each amplifier 22 and 23 so as to be divided into (A+B) and (C+D), respectively. Furthermore, each amplifier 22.2
The output value from 3 is input to the amplifier 24. and,
For example, the amplifier 24 subtracts (C0D> from (He1B>) and outputs the calculated value to the control circuit.

尚、フォーカス用の光束は、前記したようにプリズム1
5の面16のエツジ17及び面16によりその断面が半
月状をなすように分割されている。
Note that the light beam for focusing is transmitted through the prism 1 as described above.
The cross section is divided into half-moon shapes by the edge 17 of the surface 16 of 5 and the surface 16.

フォーカスが変化して、例えば焦点位置がフォトダイオ
ード14よりも手前にある場合には、第6図に示すよう
に〕41〜ダイオード14の一方(図に於ける上半分側
)に半月状に集光し、焦点位置がフォトダイオード14
より奥側にある場合には第7図に示されるように、フォ
トダイオード14の他方(図に於ける下半分側)に集光
する。従って、フォーカスエラーを生じた場合には、フ
ォトダイオード14の各一対のダイオード素子の検出信
号の(A十B>と(C+D>との出力差により、所謂ナ
イフェツジ法と同様に、その方向及びエラーmを容易に
検出することができる。尚、跣取り信号は、トラッキン
グ用フォトダイオード]3の検出信号ト〜1−1の和(
E十F十〇+t−1>を利用することにより検出するこ
とができる。
When the focus changes and, for example, the focal position is in front of the photodiode 14, the light is concentrated in a half-moon shape on one side of the diodes 41 to 14 (upper half side in the figure), as shown in FIG. The focal point is the photodiode 14.
If it is located further back, as shown in FIG. 7, the light is focused on the other side of the photodiode 14 (lower half side in the figure). Therefore, when a focus error occurs, the direction and error can be determined by the output difference between (A+B> and (C+D>) of the detection signals of each pair of diode elements of the photodiode 14, similar to the so-called Naifezi method. m can be easily detected.The tracking signal is the sum of detection signals t to 1-1 of tracking photodiode]3 (
It can be detected by using E1F10+t-1>.

また、本実施例によれば、フォーカス及びトラッキング
の各エラー検出用のフォトダイオードを1つの基板に設
けているため、フォトダイオードへの配線が簡素化され
て、耐ノイズ性を向上することができると共に、その先
軸調整が1箇所で良いため調整時間を短縮化できる効果
がある。
Furthermore, according to this embodiment, since the photodiodes for detecting errors in focus and tracking are provided on one substrate, wiring to the photodiodes is simplified and noise resistance can be improved. In addition, since the front shaft adjustment only needs to be done at one location, there is an effect that the adjustment time can be shortened.

また、第8図は本発明に基づく第2の実施例を示す第2
図に対応する図であり、前記実施例と同様の部分には同
一の符号を付してその詳しい説明を省略する。この第2
の実施例にあっては、プリズム15の底面15aがフォ
1−ダイオード14を覆わないように設けられていると
共に、面16に対向する対向面26が面16に平行して
おらず、面16にて全反射して向きを変えられた検出光
8が、対向面26からプリズム15の外方に向けて出射
し、かつフォトダイオード14に集光する向きに屈折す
るようにされている。この第2の実施例によれば、プリ
ズム15をより小形化できる。
Further, FIG. 8 shows a second embodiment of the invention based on the present invention.
3, the same parts as those in the previous embodiment are given the same reference numerals, and detailed explanation thereof will be omitted. This second
In the embodiment, the bottom surface 15a of the prism 15 is provided so as not to cover the photodiode 14, and the opposing surface 26 facing the surface 16 is not parallel to the surface 16, and the surface 16 is not parallel to the surface 16. The detection light 8 that has been totally reflected and redirected is emitted from the opposing surface 26 toward the outside of the prism 15 and is refracted in a direction to be focused on the photodiode 14. According to this second embodiment, the prism 15 can be made more compact.

尚、各フォトダイオード13.14による各エラー検出
要領は、前記実施例と同様であるため゛、その説明を省
略する。
Incidentally, the procedure for detecting each error by each photodiode 13, 14 is the same as that in the previous embodiment, so the explanation thereof will be omitted.

ところで、各フォトダイオード13.14には4分割フ
ォトダイオードを用いたが、フォトダイオード13では
(E十F>と(G+H)とに分割し、フォトダイオード
14では(A+B)と(C十D)とに分割するようにし
た2分割フォトダイオードを用いても良い。また、各フ
ォトダイオード13.14を互いに入替えても良く、こ
の場合には、検出光8の半分を直接的にフォーカスエラ
ー検出用に用いるが、向きを変えられた検出光8の残り
の半分をその光路の途中にて焦点を結ばせて、その虚像
をトラッキングエラー検出用とじて用いることにより、
各エラー検出を行うことができる。
By the way, each of the photodiodes 13 and 14 is a four-divided photodiode, but the photodiode 13 is divided into (E1F> and (G+H)), and the photodiode 14 is divided into (A+B) and (C1D). A two-split photodiode may be used.Also, the photodiodes 13 and 14 may be replaced with each other. In this case, half of the detection light 8 is directly used for focus error detection. However, by focusing the remaining half of the redirected detection light 8 in the middle of its optical path and using the virtual image for tracking error detection,
Each error detection can be performed.

[発明の効果] このように本発明によれば、フォーカスエラー検出用の
ナイフェツジ手段を有するプリズムの全反射面にて、そ
の向きを変向された検出光によりトラッキング及びフォ
ーカスのいずれか一方のエラーを検出することから、検
出光の一部を遮断することがないため、検出光の無駄に
なる部分がない。また、プリズムの全反射面を用いて検
出光の一部の向きを変向することから、変向手段として
反射膜などを形成する必要がないため、部品コストを低
減し得る。更に、変向手段とナイフェツジ手段とを1つ
のプリズムにより形成するため、部品点数及びその取付
は箇所を少なくすることができ、光学ヘッドを小型化か
つ軽量化でき、高速アクセス化が可能になる等、その効
果は極めて大である。
[Effects of the Invention] According to the present invention, errors in either tracking or focusing can be detected by the detection light whose direction is changed on the total reflection surface of the prism having the knife means for detecting focus errors. Since a part of the detection light is not blocked, there is no wasted part of the detection light. Furthermore, since the total reflection surface of the prism is used to change the direction of a portion of the detected light, there is no need to form a reflective film or the like as a direction changing means, and thus component costs can be reduced. Furthermore, since the direction changing means and the knife means are formed by one prism, the number of parts and the number of mounting points can be reduced, the optical head can be made smaller and lighter, and high-speed access is possible. , the effect is extremely large.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明が適用された光学ヘッドの要部を示す
模式図である。 第2図は、測光センサの側断面図である。 第3図は、第2図の■−■線について兄た断面図である
。 第4図は、トラッキングエラーの検出要領を示す模式的
回路図である。 第5図乃至第7図は、フォーカスエラーの検出要領を示
す模式的回路図である。 第8図は、第2の実施例を示す第2図に対応する図であ
る。 1・・・出射光     2・・・偏光ビームスプリッ
タ3・・・λ/4板    4・・・反射光6・・・集
光レンズ   7・・・測光センサ8・・・検出光  
   9・・・基板13.14・・・フォトダイオード
FIG. 1 is a schematic diagram showing the main parts of an optical head to which the present invention is applied. FIG. 2 is a side sectional view of the photometric sensor. FIG. 3 is a sectional view taken along the line ■-■ in FIG. 2. FIG. 4 is a schematic circuit diagram showing how to detect a tracking error. 5 to 7 are schematic circuit diagrams showing the focus error detection procedure. FIG. 8 is a diagram corresponding to FIG. 2 showing the second embodiment. 1... Outgoing light 2... Polarizing beam splitter 3... λ/4 plate 4... Reflected light 6... Condensing lens 7... Photometry sensor 8... Detection light
9...Substrate 13.14...Photodiode

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 光学ヘッドのトラッキング及びフォーカスのいずれか一
方のエラー状態を光学的に検出するために検出光の光路
内に配置された第1の受光素子と、前記検出光の一部を
異なる向きに変向するための変向手段と、トラッキング
及びフォーカスのいずれか他方のエラー状態を光学的に
検出するために前記変向された検出光の光路内に配置さ
れた第2の受光素子と、前記フォーカスエラー状態を検
出するために前記両光路のいずれかに設けられたナイフ
エッジ手段とを有する光学ヘッド構造に於て、前記変向
手段が、前記検出光の光路中に設けられたプリズムの全
反射面からなり、前記ナイフエッジ手段が、前記全反射
面の境界縁部からなることを特徴とする光学ヘッド構造
a first light-receiving element disposed in the optical path of the detection light to optically detect an error state in either tracking or focusing of the optical head; and a first light-receiving element for redirecting a portion of the detection light in a different direction. a second light-receiving element disposed in the optical path of the deflected detection light for optically detecting an error state in either tracking or focusing; and a knife edge means provided in either of the optical paths for detecting the detection light, wherein the deflection means includes a knife edge means provided in either of the optical paths for detecting the detection light, wherein the deflection means directs the detection light from the total reflection surface of the prism provided in the optical path of the detection light. The optical head structure is characterized in that the knife edge means consists of a boundary edge of the total reflection surface.
JP63193188A 1988-08-02 1988-08-02 Optical head structure Pending JPH0242640A (en)

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