JPH0238845A - Emission spectral analysis - Google Patents

Emission spectral analysis

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JPH0238845A
JPH0238845A JP18789588A JP18789588A JPH0238845A JP H0238845 A JPH0238845 A JP H0238845A JP 18789588 A JP18789588 A JP 18789588A JP 18789588 A JP18789588 A JP 18789588A JP H0238845 A JPH0238845 A JP H0238845A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
analysis
manipulator
analyzer
samples
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP18789588A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tatsuo Kitakado
北門 達男
Mamoru Yamaji
山路 守
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Sumitomo Metal Industries Ltd
Priority to JP18789588A priority Critical patent/JPH0238845A/en
Publication of JPH0238845A publication Critical patent/JPH0238845A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00584Control arrangements for automatic analysers
    • G01N35/0092Scheduling
    • G01N2035/0096Scheduling post analysis management of samples, e.g. marking, removing, storing

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

PURPOSE:To supplying a sample to an analyzer smoothly and accurately by determining the order of priority of processing based on a result of analys and the identity of the sample to automate the transfer of the sample. CONSTITUTION:Samples X are placed on a spectral analysis stock table 3 temporarily by a supply line 2. When a necessary sample is taken out with a spectral analysis manipulator 4, the table 3 is turned and the sample is supplied to an analyzer 1 through an air flow off station 5 and a manipulator 4. After the analysis, the sample is shifted to a camera station 7 and an operator judges the quality thereof. When it is accepted, the sample is shifted to a label printer 8 to be recovered with belts 9A nd 9B. When it is rejected, the sample is set again for the analyzer 1. The manipulator 4 has an order of priority determined according to the identity of the sample.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、溶鋼等の成分分析のための発光分光分析方法
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an emission spectroscopic analysis method for analyzing the components of molten steel and the like.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

溶鋼の成分分析において発光分光分析が汎く用いられて
いる。サンプル数が多い場合においては、迅速な処理が
必要とされ、そのために、試料調整、分析サンプルの供
給搬送、分析済サンプルの排出搬送の自動化が図られて
いる。
Emission spectroscopy is widely used for component analysis of molten steel. When the number of samples is large, rapid processing is required, and for this purpose, automation of sample preparation, supply and transportation of analysis samples, and discharge and transportation of analyzed samples is being attempted.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

ところ・で、溶鋼の成分分析にあっては、RH炉やLT
炉等の炉外精錬サンプル、転炉による炉中サンプル、レ
ードルサンプル等があり、これらのサンプルの身元によ
って処理の優先順位が異ってくる。また、分析不良サン
プルが発生し、これを再度分析計にかけなければならな
い必要性がある。
By the way, in the component analysis of molten steel, RH furnace and LT
There are refining samples outside the furnace, samples inside the converter, ladle samples, etc., and the priority of processing differs depending on the identity of these samples. In addition, samples with poor analysis occur, and it is necessary to re-apply the samples to the analyzer.

さらに、通常の被分析サンプルのほか、校正サンプル(
成分既知サンプル)が分析操作手順に混入してくる。
Furthermore, in addition to the usual analyte samples, calibration samples (
samples with known components) are mixed into the analysis procedure.

しかるに、従来、分析計へのサンプルの供給、分析計か
ら出たサンプルの処理を、分析具の経験に基づいて人手
作業によって行っていた。
However, conventionally, the supply of samples to the analyzer and the processing of the samples coming out of the analyzer have been performed manually based on experience with analytical tools.

しかし、これでは、あまりにも前述のように処理が複雑
であり、多人数の分析具が必要となるとともに、処理手
順ミスが発生し易い。
However, as described above, this process is too complicated, requires analysis tools from a large number of people, and is prone to mistakes in the processing procedure.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

上記課題は、ストックテーブル上に仮置きされる被分析
サンプルの有無と、分析不良サンプル置き台に置かれる
分析不良サンプルの有無と、当該サンプルの身元とに基
いて、当該サンプルの処理優先順を定めながら、スト−
/クチ−プル、分光分析計、分析不良サンプル置き台等
の間のサンプルの移行を自動化手段によって行うことで
解決できる。
The above problem is to determine the processing priority of the sample based on the presence or absence of a sample to be analyzed temporarily placed on the stock table, the presence or absence of an analysis failure sample placed on the analysis failure sample holder, and the identity of the sample. While deciding, strike
This problem can be solved by using automated means to transfer the sample between the sample, the spectrometer, the sample holder for failed analysis, and the like.

〔発明の具体的構成〕[Specific structure of the invention]

以下本発明を図面を参照しながらさらに説明する。 The present invention will be further explained below with reference to the drawings.

第1図は発光分光分析計1周りの機器を概要的に示した
もので、切断・研摩済の直径30m5φ、厚み15〜5
0mm程度の被分析サンプルXがサンプル供給ライン2
に乗って分光ストックテーブル3上に仮置きされる。
Figure 1 schematically shows the equipment surrounding the emission spectrometer 1.
The sample to be analyzed
and is temporarily placed on the spectroscopic stock table 3.

仮置き最大数は10個となっている(図中wax10と
はこの意味であり、他の箇所のl1la×に)いても同
様の意味である)。分光ストノクテ〜プル3の実際は、
第5図のように、円盤テーブルであり、その周囲にサン
プルXが設置され、いま必要サンプルが分光マニピュレ
ータ4によって取り出されるとき、テーブル3が回転し
、そのサンプルXをマニピュレータ取出位置に合致させ
るように回転する。分光ストックテーブルは、直線状テ
ーブルであってもよく、この場合、サンプルは2列に直
線的に配置され、テーブルが長手方向に移動してサンプ
ルの取出しが行なわれる。
The maximum number of temporary storage is 10 (wax10 in the figure has this meaning, and it has the same meaning even if it is placed in other places l1lax). The reality of Spectroscopy Stonocte~Puru 3 is,
As shown in Fig. 5, it is a circular table, around which a sample Rotate to. The spectral stock table may be a linear table, in which case the samples are arranged linearly in two rows and the table is moved longitudinally to remove the samples.

このようにして取り出されたサンプルは、エアブロ−ス
テーション5において、切粉や油のエアブロ−がなされ
る。次いで、マニピュレータ4によって分析計1へサン
プルが供給される。分析計1では、1度の分析当り、2
個所について分析を行う。分析には、fat検量線上下
限チエツク、(b) R管理チエツク、fc)成分規格
判定が行なわれる。この判定は、第3図に示す分析プロ
コンが自動判定する。
The sample taken out in this way is air blown to remove chips and oil at an air blow station 5. Next, the sample is supplied to the analyzer 1 by the manipulator 4. For analyzer 1, 2
Analyze the location. The analysis includes checking the upper and lower limits of a fat calibration curve, (b) checking R control, and fc) determining component specifications. This determination is automatically determined by the analysis processor shown in FIG.

この分析後、サンプルを仮置マニピュレータ6によりカ
メラステーション7に移動させ、カメラを通しての画像
に基づいて、オペレータによる良否判定を行う。ここで
仮置マニピュレータを別途設けたのは、カメラステーシ
ョンでの確認待ち時間中に分光マニピュレータに他の動
作をさせ、全体として処理速度を高めるためである。
After this analysis, the sample is moved to the camera station 7 by the temporary manipulator 6, and an operator makes a quality/failure judgment based on the image taken through the camera. The reason why the temporary manipulator is separately provided here is to allow the spectroscopic manipulator to perform other operations during the confirmation waiting time at the camera station, thereby increasing the processing speed as a whole.

その後、オペレータによる良否判定のキーイン、または
M8″経過してもキーインがない場合、次の(1)およ
び(2)の操作が行なわれる。
Thereafter, if the operator performs a key-in for quality judgment, or if there is no key-in even after M8'' has elapsed, the following operations (1) and (2) are performed.

(1)  良キーインまたはM秒経過の場合ラベルプリ
ンター8にチャージナンバー、サンプリング工程、鋼種
等のコードを出力した後、マニピュレータ4によってラ
ベルプリンター8に移動させる。その後、当j亥コード
がイ寸されたラベルをサンプルに貼付した後、図示しな
いサンプル排出用マニピュレータにより、サンプルの身
元に応じて、レードルサンプル回収ベルト9A、または
炉中・炉外サンプル回収ベルト9Bにより回収する。
(1) In the case of a successful key-in or when M seconds have elapsed After outputting codes such as charge number, sampling process, steel type, etc. to the label printer 8, the manipulator 4 moves the code to the label printer 8. Thereafter, after a label with the ID code printed on it is affixed to the sample, a sample discharge manipulator (not shown) is used to transfer the sample to the ladle sample collection belt 9A or the in-furnace/outside-furnace sample collection belt 9B, depending on the identity of the sample. Collected by

(2)不良キーインの場合 NGサンプル装き台10AまたはIOBにサンプルをマ
ニピュレータ4により仮置きする。この仮置きしたサン
プルに対して、オペレータは、再研摩後再分析するか、
それともヒビワレや巣が有り、以後研磨しても無駄なた
め回収するかをブツシュボタンを押して指示する。回収
の場合は、ラベル貼付後、その身元に応じて前述のよう
に回収する。回収を必要とされず、再分析に十分耐え得
ると判断される場合、後述する動作決定71−リックス
に従って、マニピュレータに指示を与え、マニピュレー
タによる取出しおよび分析計1への設置を待つ。
(2) In the case of a defective key-in, temporarily place the sample on the NG sample mounting stand 10A or IOB using the manipulator 4. For this temporarily placed sample, the operator should re-analyze it after re-polishing or
Or, if there are cracks or nests, there is no point in polishing it, so press the Button button to instruct whether to collect it. In the case of collection, after affixing a label, the product will be collected as described above according to its identity. If it is determined that recovery is not required and that it can withstand re-analysis, an instruction is given to the manipulator according to operation decision 71-Rix, which will be described later, and the sample waits for removal by the manipulator and installation in the analyzer 1.

ところで、前述のカメラステーションでは、分析に伴う
サンプルXの放電痕をオペレータによって判断する。こ
の放電痕は、第6図のように、他の金属色に対して周囲
が暗青色の白色の放電痕Aとしてあられれる。第6図の
場合は、4回の分析を行った場合を示している。放電が
十分になされていない(すなわち分析値としてデータを
取るに不適である)場合には、放電痕Aの円周が暗青色
でない白色のみとなるか、形状が乱れるので、その放電
痕Aの形状および色の分布をCRTモニタ上にオペレー
タが目視することで、放電痕異常の有無を判定する。こ
の放電痕異常があった場合、また分析データよりオペレ
ータが異常と判断し再分析する場合、前述のようにNG
サンプル装き台10AまたはIOBに仮置きする。
By the way, at the camera station described above, the operator determines the discharge marks on the sample X accompanying the analysis. As shown in FIG. 6, this discharge trace appears as a white discharge trace A with a dark blue surrounding area compared to other metal colors. The case of FIG. 6 shows the case where analysis was performed four times. If the discharge is not sufficient (that is, it is not suitable for collecting data as analysis values), the circumference of the discharge trace A will be only white instead of dark blue, or the shape will be disordered, so the discharge trace A An operator visually observes the shape and color distribution on a CRT monitor to determine whether there is an abnormal discharge trace. If there is an abnormality in this discharge trace, or if the operator determines that it is abnormal based on the analysis data and re-analyzes it, please check the NG as described above.
Temporarily place it on the sample mounting stand 10A or IOB.

一方、前に触れたように、分析計1では1度の分析に当
り、2個所について分析を行い、各個所でのデータ比較
を行い、両者の差が大きい場合、成分規格を外れた場合
など、再度3個所目および4個所目の分析を行う、この
4個所まで分析した後の放電痕状態が第6図に示されて
いる。また、各個所での分析に当って、前の放電痕がな
い場所において放電が行なわれるよう、サンプルXの回
転が行なわれる。11は分光校正サンプル供給テーブル
で、マニピュレータ4によって分析計1への供給が行な
われるものである。
On the other hand, as mentioned earlier, Analyzer 1 analyzes two locations in one analysis, and compares the data at each location. If there is a large difference between the two, or if the component exceeds the standard, etc. Then, the third and fourth locations were analyzed again, and the state of the discharge marks after these four locations were analyzed is shown in FIG. Further, when analyzing each location, the sample X is rotated so that the discharge occurs at a location where there is no previous discharge trace. Reference numeral 11 denotes a spectral calibration sample supply table, which is supplied to the analyzer 1 by the manipulator 4.

本発明においては、種々のサンプルについて手順良くか
つ適確に分析計へサンプルを供給することを目的として
いる。この役割を担うのが、分光マニピュレータ4であ
る。この分光マニピュレータ4の動作は、第1表に示す
マトリックスに従う。
The present invention aims to supply various samples to an analyzer in a well-procedure and accurately. The spectroscopic manipulator 4 plays this role. The operation of this spectroscopic manipulator 4 follows the matrix shown in Table 1.

すなわち、まずサンプルの身元に応じて優先順位を定め
ておく、最優先サンプルlを、炉外精錬(RF(炉やL
T炉などからのもの)サンプルとし、次優先サンプル2
を、炉中精錬(転炉)サンプルとし、非優先サンプル3
をし一ドルサンプルとする。サンプルの身元データは、
サンプル元計算機から得られる。また、ストックテーブ
ルおよび2つのNGサンプル装き台のそれぞれについて
サンプルの有無(第1表中Oはサンプル有、×はサンプ
ル無を示す)をサンプルトランキング手段により求めて
おく。
That is, first, priority is determined according to the identity of the sample, and the highest priority sample l is subjected to out-of-furnace refining (RF (furnace or L).
(from T furnace, etc.) sample, and the next priority sample 2
is the in-furnace refining (converter) sample, and non-priority sample 3
It will be considered as a one dollar sample. The sample identity data is
Obtained from sample source calculator. In addition, the presence or absence of a sample (in Table 1, O indicates the presence of a sample and × indicates the absence of a sample) is determined by the sample trunking means for each of the stock table and the two NG sample loading tables.

各サンプル位置はトラッキングセンサーおよびマニピュ
レータ動作によって全て判る。かかる条件下で、第1表
右欄の動作順位が定められる。
The position of each sample is fully known by the tracking sensor and manipulator movement. Under such conditions, the order of operations in the right column of Table 1 is determined.

動作の内容は次の通りである。The details of the operation are as follows.

A:サンプル回路の若い方のNG再セット待ち後把持・
分析計へ BANG再セットの早い方を把持・分析計へC:優先順
位の高い方のNG再セ・7ト待ち後把持・分析計へ D:NG再セット待ち後把持・分析計へE:サンプル回
数の若いNG再七ノドまたはストック最優先の早い方を
把持・分析計へ Fニスドック最優先を把持・分析計へ なお、rNG再セント待ち」とは、NGサンプルについ
てオペレータによる再分析指示待ちを言い、「サンプル
回数の若い方Jとは、同一処理プロセスで先に採取した
サンプルのことを言い、「ストック最優先Jとは、スト
ックテーブル上の複数個のサンプルのうち、最も優先順
位の高いサンプルを言う。
A: Holding the younger sample circuit after waiting for NG reset.
Reset the BANG to the analyzer by grasping the one that is earlier and go to the analyzer C: NG resetting the one with higher priority, waiting for 7 points, then grasping and going to the analyzer D: Waiting for NG to be reset, then grasping and going to the analyzer E: "Waiting for rNG re-centing" means waiting for re-analysis instructions from the operator for NG samples. ``J with the lowest number of samples refers to the sample that was collected earlier in the same processing process, and ``J with the highest priority in stock refers to the sample with the highest priority among the multiple samples on the stock table.'' Say high sample.

また、第1表における炉号問合とは、転炉の炉号、電気
炉、溶銑予備処理の問合をいう。CBNOの問合とは、
炉号ごとのチャージ隘の問合をいう。
Further, the furnace number inquiry in Table 1 refers to an inquiry about the furnace number of a converter, an electric furnace, and hot metal pretreatment. What is a CBNO inquiry?
Refers to inquiries regarding charging capacity for each furnace number.

対象の問合とは、同−炉号チャージでも、転炉炉中、転
炉出鋼後、RT−UT、LT、CC等の各段階でサンプ
ルが発生するため、それぞれの段階で同一であるか否か
をいう。
The target inquiry is the same for the same furnace number charge because samples are generated at each stage such as in the converter furnace, after tapping the converter, RT-UT, LT, CC, etc. It says whether or not.

他方、分析マニピュレータは、前述の通りであるが、図
示的に示すと第2図の通りである。また、全体のシステ
ム構成例を第3図に、分析自動化プロセスコンピュータ
の処理構成を第4図に示した。
On the other hand, the analysis manipulator is as described above, but is shown diagrammatically as shown in FIG. Further, an example of the overall system configuration is shown in FIG. 3, and a processing configuration of the analysis automation process computer is shown in FIG. 4.

これらの詳細は容易に判断できるであろうから説明を省
略する。
Since these details can be easily determined, their explanation will be omitted.

なお、上記例において、放電痕をオペレータが目視する
ようにしであるが、画像処理して放電痕異常を検知する
ことで、全自動化を図ることもできる。
In the above example, the discharge traces are visually observed by the operator, but full automation can also be achieved by detecting discharge trace abnormalities through image processing.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の通り、本発明によれば、分析計へのサンプルを手
順よくかつ適確に供給できる。
As described above, according to the present invention, a sample can be supplied to an analyzer in a well-procedure and accurately.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明法を実施するための装置の概要図、第2
図は分析マニピュレータの動作説明図、第3図および第
4図は処理装置のブロック図、第5図はストックテーブ
ル例の平面図、第6図はサンプルの放電痕状態を示す図
である。 1・・・発光分光分析計、3・・・スト−/クチ−プル
、4・・・マニピュレータ、7・・・カメラステーショ
ン、8・・・ラベルプリンター 9A、9B・・・回収
ベルトコンベア、IOA、IOB・・・NGサンプル装
き台。 第3図 第 図 第 図
Figure 1 is a schematic diagram of the apparatus for carrying out the method of the present invention, Figure 2
3 and 4 are block diagrams of the processing device, FIG. 5 is a plan view of an example of a stock table, and FIG. 6 is a diagram showing the state of discharge marks on a sample. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Emission spectrometer, 3...Store/cuttle, 4...Manipulator, 7...Camera station, 8...Label printer 9A, 9B...Collection belt conveyor, IOA , IOB...NG sample mounting stand. Figure 3 Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)ストックテーブル上に仮置きされる被分析サンプ
ルの有無と、分析不良サンプル置き台に置かれる分析不
良サンプルの有無と、当該サンプルの身元とに基いて、
当該サンプルの処理優先順を定めながら、ストックテー
ブル、分光分析計、分析不良サンプル置き台等の間のサ
ンプルの移行を自動化手段によって行うことを特徴とす
る発光分光分析方法。
(1) Based on the presence or absence of a sample to be analyzed temporarily placed on the stock table, the presence or absence of an analysis failure sample placed on the analysis failure sample holder, and the identity of the sample,
1. An emission spectroscopic analysis method, characterized in that the sample is transferred between a stock table, a spectrometer, an analysis failure sample stand, etc. by automated means while determining the processing priority order of the sample.
JP18789588A 1988-07-27 1988-07-27 Emission spectral analysis Pending JPH0238845A (en)

Priority Applications (1)

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JP18789588A JPH0238845A (en) 1988-07-27 1988-07-27 Emission spectral analysis

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JP18789588A JPH0238845A (en) 1988-07-27 1988-07-27 Emission spectral analysis

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JP (1) JPH0238845A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010133844A (en) * 2008-12-05 2010-06-17 Shimadzu Corp Emission analyzer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010133844A (en) * 2008-12-05 2010-06-17 Shimadzu Corp Emission analyzer

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