JPH0233904A - 厚膜抵抗体トリミング用パルス発生回路 - Google Patents
厚膜抵抗体トリミング用パルス発生回路Info
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- JPH0233904A JPH0233904A JP63183584A JP18358488A JPH0233904A JP H0233904 A JPH0233904 A JP H0233904A JP 63183584 A JP63183584 A JP 63183584A JP 18358488 A JP18358488 A JP 18358488A JP H0233904 A JPH0233904 A JP H0233904A
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- 238000009966 trimming Methods 0.000 title claims abstract description 47
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 14
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 abstract 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 abstract 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 27
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 25
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000004886 process control Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は低電圧の入力制御信号な厚膜抵抗体トリミング
用の高電圧信号に変換して出力する厚膜抵抗体トリミン
グ用パルス発生回路に関するものである。
用の高電圧信号に変換して出力する厚膜抵抗体トリミン
グ用パルス発生回路に関するものである。
[従来の技術]
厚膜発熱抵抗体を複数個数設けたサーマルヘッドを製作
する場合においては、一般に、基板上に印刷、蒸着など
の方法によって複数個数の発熱抵抗体を電気的に互いに
絶縁した状態で一列状に形成し、個々の発熱抵抗体に一
対の電極を設けている。そして、個々の発熱抵抗体を選
択的に通電することによりサーマルヘッドとして機能す
るようにされている。
する場合においては、一般に、基板上に印刷、蒸着など
の方法によって複数個数の発熱抵抗体を電気的に互いに
絶縁した状態で一列状に形成し、個々の発熱抵抗体に一
対の電極を設けている。そして、個々の発熱抵抗体を選
択的に通電することによりサーマルヘッドとして機能す
るようにされている。
ところで、製造工程を考慮すると、このように構成され
るサーマルヘッドの複数個数の発熱抵抗体の抵抗値はど
うしても多少バラついてしまい、これを回避することは
困難である。このため、−・般には、多少のバラツキは
容認され、次工程であるトリミング工程で発熱抵抗体の
抵抗値を一定に揃えるようにしている。
るサーマルヘッドの複数個数の発熱抵抗体の抵抗値はど
うしても多少バラついてしまい、これを回避することは
困難である。このため、−・般には、多少のバラツキは
容認され、次工程であるトリミング工程で発熱抵抗体の
抵抗値を一定に揃えるようにしている。
このトリミングは、一般的に第5図に図示するように、
プローブ6を電極4に当接させて、発熱抵抗体2の抵抗
値を測定した後に、これら測定値に基づいて、数10ボ
ルトから200ボルトの電圧範囲で数μ秒単位のパルス
幅のパルス電圧を発熱抵抗体2に印加することで、発熱
抵抗体の抵抗値を調整するものである。
プローブ6を電極4に当接させて、発熱抵抗体2の抵抗
値を測定した後に、これら測定値に基づいて、数10ボ
ルトから200ボルトの電圧範囲で数μ秒単位のパルス
幅のパルス電圧を発熱抵抗体2に印加することで、発熱
抵抗体の抵抗値を調整するものである。
このようにしてバラついている発熱抵抗体2の抵抗値は
全て所定範囲内の一定値に揃えられることになる。
全て所定範囲内の一定値に揃えられることになる。
従来より、この各発熱抵抗体の抵抗値を所定範囲内に揃
える抵抗体のトリミング装置におけるトリミング用高圧
パルス発生回路としては第6図に示すような回路が用い
られていた。
える抵抗体のトリミング装置におけるトリミング用高圧
パルス発生回路としては第6図に示すような回路が用い
られていた。
第6図の回路への入力は通常のTTLレベルのパルス信
号であり、該TTLレベルの入力パルス信号を抵抗とコ
ンデンサとの並列回路を介して入力トランジスタTrl
のベースに接続し、該入力タランジスタTriによりレ
ベル変換を行ない、該入力トランジスタTri出力は更
に抵抗とコンデンサとの並列回路を介して出力トランジ
スタTr2のベースに入力され、入力パルス信号に同期
したスイッチングが行なわれる。そして該出力トランジ
スタのコレクタ側にはプローブ6、電極4を介してトリ
ミングすべき発熱抵抗体の一方に接続され、該発熱抵抗
体の他方には電極4、プローブ6を介して高圧電源(例
えば150V)に接続されている。他方、出力トランジ
スタTr2のエミッタ側は接地レベルであり、該出力ト
ランジスタTr2のスイッチングに従って発熱抵抗体に
高圧パルス信号が印加されろ構成となっている。
号であり、該TTLレベルの入力パルス信号を抵抗とコ
ンデンサとの並列回路を介して入力トランジスタTrl
のベースに接続し、該入力タランジスタTriによりレ
ベル変換を行ない、該入力トランジスタTri出力は更
に抵抗とコンデンサとの並列回路を介して出力トランジ
スタTr2のベースに入力され、入力パルス信号に同期
したスイッチングが行なわれる。そして該出力トランジ
スタのコレクタ側にはプローブ6、電極4を介してトリ
ミングすべき発熱抵抗体の一方に接続され、該発熱抵抗
体の他方には電極4、プローブ6を介して高圧電源(例
えば150V)に接続されている。他方、出力トランジ
スタTr2のエミッタ側は接地レベルであり、該出力ト
ランジスタTr2のスイッチングに従って発熱抵抗体に
高圧パルス信号が印加されろ構成となっている。
[発明が解決しようとする課題]
しかし、従来のトリミング用高圧パルス発生回路は、バ
イポーラトランジスタを用いた回路構成であり、バイポ
ーラトランジスタの特性上スイッチング速度に限界があ
り、高圧かつ高速でのスイッチングが要求される(例え
ば電圧150v、パルス幅1oLLS程度のスイッチン
グが要求される)トリミング装置に用いた場合には、入
力パルス幅と比しトリミング用の出力パルス幅が狭くな
り、また、パルス波形もなまってしまっていた。
イポーラトランジスタを用いた回路構成であり、バイポ
ーラトランジスタの特性上スイッチング速度に限界があ
り、高圧かつ高速でのスイッチングが要求される(例え
ば電圧150v、パルス幅1oLLS程度のスイッチン
グが要求される)トリミング装置に用いた場合には、入
力パルス幅と比しトリミング用の出力パルス幅が狭くな
り、また、パルス波形もなまってしまっていた。
このため、トリミング強度が弱まり、正確なトリミング
を行なうためにはパルス幅、パルス電圧等に対応した複
雑な制御が必要であり、非常に面倒なものであった。
を行なうためにはパルス幅、パルス電圧等に対応した複
雑な制御が必要であり、非常に面倒なものであった。
[課題を解決するための手段]
本発明は上述の課題を解決することを目的として成され
たもので、上述の課題を解決する一手段として以下の構
成を備える。
たもので、上述の課題を解決する一手段として以下の構
成を備える。
即ち、低電圧の入力制御信号を厚膜抵抗体トリミング用
の高電圧信号に変換して出力する厚膜抵抗体トリミング
用パルス発生回路であって、入力制御信号を受取る入力
用FETt−ランジスタと、該入力用FETトランジス
タよりの出力信号を抵抗を介して第1の振幅電圧の信号
に変換する変換FETトランジスタのゲートに接続し、
該変換FETトランジスタよりの変換出力信号を抵抗な
介して高電圧のトリミング用パルス信号に変換して出力
する出力FETトランジスタのゲートに接続し、トリミ
ング用の厚膜抵抗体を高電圧電源と出力用FETトラン
ジスタのドレイン間に接続する。
の高電圧信号に変換して出力する厚膜抵抗体トリミング
用パルス発生回路であって、入力制御信号を受取る入力
用FETt−ランジスタと、該入力用FETトランジス
タよりの出力信号を抵抗を介して第1の振幅電圧の信号
に変換する変換FETトランジスタのゲートに接続し、
該変換FETトランジスタよりの変換出力信号を抵抗な
介して高電圧のトリミング用パルス信号に変換して出力
する出力FETトランジスタのゲートに接続し、トリミ
ング用の厚膜抵抗体を高電圧電源と出力用FETトラン
ジスタのドレイン間に接続する。
[作用]
以上の構成において、FETトランジスタによりパルス
発生回路を形成したため、高速度でのスイッチングが可
能となり、トリミング強度の低下を有効に防ぐことがで
きる。
発生回路を形成したため、高速度でのスイッチングが可
能となり、トリミング強度の低下を有効に防ぐことがで
きる。
[実施例]
以下、本発明に係る一実施例を図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明に係る一実施例のパルス電圧印加装置に
おける厚膜抵抗体トリミング用パルス発生回路の回路図
である。
おける厚膜抵抗体トリミング用パルス発生回路の回路図
である。
本実施例回路における発熱抵抗体RHは第5図に示すト
リミングすべき発熱抵抗体2であり、プローブ6、電極
4、接続ケーブル9を介して後述するセレクタに接続さ
れ、該セレクタを介して第1図に示す駆動電源(非駆動
時OV−駆動時150V)及び出力用トランジスタTr
3のドレイン端子に接続されている。なお、セレクタは
、発熱抵抗体R8を、本実施例パルス発生回路又は後述
する抵抗値測定回路のいずれかに選択接続するためのも
のである。第1図では該セレクタ、電極間は省略して直
接接続した状態として示している。
リミングすべき発熱抵抗体2であり、プローブ6、電極
4、接続ケーブル9を介して後述するセレクタに接続さ
れ、該セレクタを介して第1図に示す駆動電源(非駆動
時OV−駆動時150V)及び出力用トランジスタTr
3のドレイン端子に接続されている。なお、セレクタは
、発熱抵抗体R8を、本実施例パルス発生回路又は後述
する抵抗値測定回路のいずれかに選択接続するためのも
のである。第1図では該セレクタ、電極間は省略して直
接接続した状態として示している。
第1図に示す本実施例回路においては、従来のバイポー
ラトランジスタに変え、FETトランジスタを用いて、
スイッチング速度の向上を図っている。本実施例に入力
される制御入力パルス信号は、通常のTTLタイプのI
Cよりの出力信号レベル(OV−5V)で制御可能に構
成され、入力抵抗R0を介して入力用FETトランジス
タTrlのゲート端子に入力される。該入力用トランジ
スタTrlのソース端子は接地レベルに、ドレイン端子
はプルアップ抵抗RLIを介して+5v電源に接続され
ている。
ラトランジスタに変え、FETトランジスタを用いて、
スイッチング速度の向上を図っている。本実施例に入力
される制御入力パルス信号は、通常のTTLタイプのI
Cよりの出力信号レベル(OV−5V)で制御可能に構
成され、入力抵抗R0を介して入力用FETトランジス
タTrlのゲート端子に入力される。該入力用トランジ
スタTrlのソース端子は接地レベルに、ドレイン端子
はプルアップ抵抗RLIを介して+5v電源に接続され
ている。
このトランジスタは、例えば[2SK679]で構成す
ることが望ましい。
ることが望ましい。
入力用トランジスタTrlのドレイン端子は抵抗R+を
介して変換用トランジスタTr2のゲート端子に接続さ
れ、該変換用FETトランジスタTr2のソース端子は
接地レベルに、ドレイン端子はプルアップ抵抗RL2を
介して+12V電源に接続されている。
介して変換用トランジスタTr2のゲート端子に接続さ
れ、該変換用FETトランジスタTr2のソース端子は
接地レベルに、ドレイン端子はプルアップ抵抗RL2を
介して+12V電源に接続されている。
このトランジスタは、例えば[2SK679]で構成す
ることが望ましい。
ることが望ましい。
変換用トランジスタTr2のドレイン端子は抵抗R2を
介して出力用FETトランジスタTr3のゲート端子に
接続され、また、該ゲート端子は抵抗R3を介して一5
■に接続され、変換用トランジスタTr2がオフの時に
出力用FEThランジスタTr3のゲートな“+”電位
に、変換用トランジスタTr2がオンの時に出力用FE
TトランジスタTr3のゲートを“−”電位に制御する
よう各抵抗値を設定し、出力用トランジスタTr3のス
イッチング速度を向上させている。
介して出力用FETトランジスタTr3のゲート端子に
接続され、また、該ゲート端子は抵抗R3を介して一5
■に接続され、変換用トランジスタTr2がオフの時に
出力用FEThランジスタTr3のゲートな“+”電位
に、変換用トランジスタTr2がオンの時に出力用FE
TトランジスタTr3のゲートを“−”電位に制御する
よう各抵抗値を設定し、出力用トランジスタTr3のス
イッチング速度を向上させている。
また、出力用FETトランジスタTr3のソース端子は
接地レベルに接続されており、ドレイン端子は上述の如
く発熱抵抗体R□の一方端子に接続され、該発熱抵抗体
RHの他方端子は、駆動電源に接続されている。
接地レベルに接続されており、ドレイン端子は上述の如
く発熱抵抗体R□の一方端子に接続され、該発熱抵抗体
RHの他方端子は、駆動電源に接続されている。
このトランジスタは、例えば[23に800]で構成す
ることが望ましい。
ることが望ましい。
以上の回路より成るパルス発生回路を制御するトリミン
グ装置を、該装置のブロック図を示す第2図を参照して
以下に説明する。
グ装置を、該装置のブロック図を示す第2図を参照して
以下に説明する。
第2図において、主制御装置1oにはパソコンに代表さ
れるCPU、ROM%RAM等を備えたコンピュータ装
置が用いられ、ROM中、又は外部記憶装置11に格納
されたプログラムに従い、本実施例全体の制御を司どっ
ている。また、主制御装置10にはフロッピードライブ
(F/D)装置等の外部記憶装置11として接続されて
いる。
れるCPU、ROM%RAM等を備えたコンピュータ装
置が用いられ、ROM中、又は外部記憶装置11に格納
されたプログラムに従い、本実施例全体の制御を司どっ
ている。また、主制御装置10にはフロッピードライブ
(F/D)装置等の外部記憶装置11として接続されて
いる。
主制御装置1oは発熱抵抗体2の抵抗値やトリミング値
を、内蔵するRAM内に一時記憶、又は外部記憶装置1
1中に記憶させることが可能であり、工程管理、出荷検
査用など必要に応じて記憶した抵抗値の読み出しが可能
である。
を、内蔵するRAM内に一時記憶、又は外部記憶装置1
1中に記憶させることが可能であり、工程管理、出荷検
査用など必要に応じて記憶した抵抗値の読み出しが可能
である。
駆動回路12は、主制御装置10からの制御によりxY
zテーブル50をX、Y、Z方向の3方向の任意の位置
に位置決め駆動する。このXYZテーブル50には、X
YZステージ5が搭載されており、XYZステージ5の
2軸移動機構上には例えばアルミニウム製のプローブ固
定治具5Cが配設され、該プローブ固定治具5C上に配
設された絶縁体7を介してサーマルヘッドlの電極に接
触するように設けられるプローブ6を固定し、該プロー
ブ6をZ軸方向、即ち上下方向へ移動可能にしている。
zテーブル50をX、Y、Z方向の3方向の任意の位置
に位置決め駆動する。このXYZテーブル50には、X
YZステージ5が搭載されており、XYZステージ5の
2軸移動機構上には例えばアルミニウム製のプローブ固
定治具5Cが配設され、該プローブ固定治具5C上に配
設された絶縁体7を介してサーマルヘッドlの電極に接
触するように設けられるプローブ6を固定し、該プロー
ブ6をZ軸方向、即ち上下方向へ移動可能にしている。
そして、このプローブ6はケーブル9を介して切換手段
であるセレクタ17に接続されるが、このセレクタ17
は図中破線図示の矢印で示されるように本実施例のパル
ス発生回路を内蔵するパルス電圧印加装置13に接続さ
れる状態と、実線図示の矢印で示されるように抵抗測定
器16に接続される状態とに切換動作する。
であるセレクタ17に接続されるが、このセレクタ17
は図中破線図示の矢印で示されるように本実施例のパル
ス発生回路を内蔵するパルス電圧印加装置13に接続さ
れる状態と、実線図示の矢印で示されるように抵抗測定
器16に接続される状態とに切換動作する。
この抵抗測定器16としては、デジタルマルチメータ(
D、M、M)が使用されており、ここで測定された抵抗
値データはインターフェイスケーブルを介して主制御装
置10で直接読み込むことができる。
D、M、M)が使用されており、ここで測定された抵抗
値データはインターフェイスケーブルを介して主制御装
置10で直接読み込むことができる。
一方、高圧電源装置15はパルス電圧印加装置13に数
10ボルトから200ボルトの電圧範囲で設定された電
圧を供給するために備えられており、この電圧の設定は
主制御装置10から送り出されインターフェース回路1
4 (I/F)を介して送られる電圧設定信号に基づい
て行なわれる。
10ボルトから200ボルトの電圧範囲で設定された電
圧を供給するために備えられており、この電圧の設定は
主制御装置10から送り出されインターフェース回路1
4 (I/F)を介して送られる電圧設定信号に基づい
て行なわれる。
ここで、上述の装置、機器は夫々が共通に接地されてお
り、各装置間の電位差が発生しないようにされている。
り、各装置間の電位差が発生しないようにされている。
以上の構成より成るトリミング装置による発熱抵抗体ト
リミング制御を、第3図のフローチャート、及びサーマ
ルヘッド1をxYZステージ5上に載置した様子を示し
た断面側面図である上述した第5図も参照して以下説明
する。
リミング制御を、第3図のフローチャート、及びサーマ
ルヘッド1をxYZステージ5上に載置した様子を示し
た断面側面図である上述した第5図も参照して以下説明
する。
第5図において、サーマルヘッド1はXYZステージ5
を構成するXY軸駆動機構5A上に形成された凹部5B
内に載置されている。また、XY2ステージ5の2軸移
動機構に固定されたプローブ固定治具5C上に絶縁体7
を介して設けられたプローブ6は、2軸移動機構により
図中矢印2で示された方向、即ち上下方向に移動制御さ
れ、サーマルヘッド1の電極4への当接と離間動作を繰
り返し行なえるように位置決め制御される。
を構成するXY軸駆動機構5A上に形成された凹部5B
内に載置されている。また、XY2ステージ5の2軸移
動機構に固定されたプローブ固定治具5C上に絶縁体7
を介して設けられたプローブ6は、2軸移動機構により
図中矢印2で示された方向、即ち上下方向に移動制御さ
れ、サーマルヘッド1の電極4への当接と離間動作を繰
り返し行なえるように位置決め制御される。
この当接と離間動作のストロークは1mm程度で十分で
あり、サーマルヘッド1の電極4の表面からプローブ6
の先端部分が確実に離間すれば十分である。
あり、サーマルヘッド1の電極4の表面からプローブ6
の先端部分が確実に離間すれば十分である。
以上説明したように構成される抵抗体トリミング装置の
動作について、第3図に示したフローチャート図に基づ
いて以下説明する。
動作について、第3図に示したフローチャート図に基づ
いて以下説明する。
まずステップS1でサーマルヘッド1がXYZステージ
5上の凹部5Bの所定位置に、例えば自動部品供給装置
(マニプレータ、チップマウンタ)等から自動載置され
る。この時、プローブ6降下位置には最初にトリミング
すべき発熱抵抗体が位置している。発熱抵抗体初期位置
がプローブ6下部位置にない場合には、ここでXYZテ
ーブル50を駆動しての位置決め制御を行なう。
5上の凹部5Bの所定位置に、例えば自動部品供給装置
(マニプレータ、チップマウンタ)等から自動載置され
る。この時、プローブ6降下位置には最初にトリミング
すべき発熱抵抗体が位置している。発熱抵抗体初期位置
がプローブ6下部位置にない場合には、ここでXYZテ
ーブル50を駆動しての位置決め制御を行なう。
次にステップS2.S3で、不図示の内蔵リレーの作用
で、プローブ6をパルス電圧印加装置13又は抵抗測定
器16のいずれかに切換接続する手段であるセレクタ1
7を制御してプローブ6を抵抗測定器16側に接続する
と共に、プローブ6を下降させてプローブ6の先端部分
がサーマルヘッドlの電極4に接触する状態に制御する
。そして、ステップS4に進み、抵抗測定器16により
サーマルヘッドに配設された発熱抵抗体2の夫々の抵抗
値を測定し、ステップS5でこの測定抵抗値を主制御装
置lo中のRAM又は外部記憶装置11に一時記憶させ
る。
で、プローブ6をパルス電圧印加装置13又は抵抗測定
器16のいずれかに切換接続する手段であるセレクタ1
7を制御してプローブ6を抵抗測定器16側に接続する
と共に、プローブ6を下降させてプローブ6の先端部分
がサーマルヘッドlの電極4に接触する状態に制御する
。そして、ステップS4に進み、抵抗測定器16により
サーマルヘッドに配設された発熱抵抗体2の夫々の抵抗
値を測定し、ステップS5でこの測定抵抗値を主制御装
置lo中のRAM又は外部記憶装置11に一時記憶させ
る。
次のステップS6で、これら−時記憶された測定抵抗値
に基ついてトリミングずべき抵抗値を決定し、係る補正
抵抗値に対応した、数10ボルトから200ボルトの電
圧範囲で数μ秒単位のパルス幅のパルス電圧の設定が行
なわれる。
に基ついてトリミングずべき抵抗値を決定し、係る補正
抵抗値に対応した、数10ボルトから200ボルトの電
圧範囲で数μ秒単位のパルス幅のパルス電圧の設定が行
なわれる。
そして、ステップS7に進みXYZステージ5のZ軸移
動機構を駆動してサーマルヘッド1の電極4の表面から
プローブ6の先端部分が離間された状態にし、その状態
を保持する。続くステップS8でセレクタ17を制御し
、今度はプローブ6がパルス電圧印加装置13へ接続さ
れた状態とする。次のステップS9でXYZステージ5
の2軸移動機構を駆動してプローブ6を下降させ、プロ
ーブ6の先端部分が再びサーマルヘッド1の電極4へ当
接する状態に位置決め制御する。
動機構を駆動してサーマルヘッド1の電極4の表面から
プローブ6の先端部分が離間された状態にし、その状態
を保持する。続くステップS8でセレクタ17を制御し
、今度はプローブ6がパルス電圧印加装置13へ接続さ
れた状態とする。次のステップS9でXYZステージ5
の2軸移動機構を駆動してプローブ6を下降させ、プロ
ーブ6の先端部分が再びサーマルヘッド1の電極4へ当
接する状態に位置決め制御する。
そして、ステップSIOで上述のステップS6で設定さ
れたパルス電圧に従ったパルス信号がパルス電圧印加装
置13からプローブ6、電極2等を介して発熱抵抗体2
へ印加され、所定抵抗値への調整のためのトリミングが
行なわれる。
れたパルス電圧に従ったパルス信号がパルス電圧印加装
置13からプローブ6、電極2等を介して発熱抵抗体2
へ印加され、所定抵抗値への調整のためのトリミングが
行なわれる。
このような一連の動作を高速で自動処理することでサー
マルヘッド1の自動トリミングが行なわれ、サーマルヘ
ッド1の各発熱抵抗体2の抵抗値を全て同一の抵抗値と
することができる。
マルヘッド1の自動トリミングが行なわれ、サーマルヘ
ッド1の各発熱抵抗体2の抵抗値を全て同一の抵抗値と
することができる。
本実施例におけるFETトランジスタを用いたパルス発
生回路によるトリミング特性を、バイポーラトランジス
タを用いた第6図に示すパルス発生回路によるトリミン
グ特性と比較するため、パルス幅を4μs、電流値をフ
リーとした場合の両回路によるトリミング特性を第4図
に示す。
生回路によるトリミング特性を、バイポーラトランジス
タを用いた第6図に示すパルス発生回路によるトリミン
グ特性と比較するため、パルス幅を4μs、電流値をフ
リーとした場合の両回路によるトリミング特性を第4図
に示す。
尚、上述の例では抵抗体として発熱抵抗体を備えるサー
マルヘッドについてのみ説明したが、トリミングされる
抵抗体を有する電子部品には全て適用可能である。
マルヘッドについてのみ説明したが、トリミングされる
抵抗体を有する電子部品には全て適用可能である。
以上説明した様に本実施例によれば、トリミング用パル
ス発生回路として、入力用トランジスタとして4V駆動
のFETトランジスタを用い、出力用のトランジスタと
して高圧高速スイッチング用のFETトランジスタを用
いることにより、TTLレベルでの入力制御パルス信号
に対応して略入カパルス幅と等しいきれいな波形の高圧
パルス信号が出力できる。このため、高電圧のパルスを
出力しても、トリミング率が低下することがない、トリ
ミング制御の容易な装置を提供できる。
ス発生回路として、入力用トランジスタとして4V駆動
のFETトランジスタを用い、出力用のトランジスタと
して高圧高速スイッチング用のFETトランジスタを用
いることにより、TTLレベルでの入力制御パルス信号
に対応して略入カパルス幅と等しいきれいな波形の高圧
パルス信号が出力できる。このため、高電圧のパルスを
出力しても、トリミング率が低下することがない、トリ
ミング制御の容易な装置を提供できる。
[発明の効果コ
以上説明した様に本発明によれば、トリミング用パルス
発生回路として、FETトランジスタを用いることによ
り、略入カパルス幅と等しいきれいな波形の高圧パルス
信号が出力できる。このため、高電圧のパルスを出力し
ても、トリミング率が低下することがない、トリミング
制御の容易な装置を提供できる。
発生回路として、FETトランジスタを用いることによ
り、略入カパルス幅と等しいきれいな波形の高圧パルス
信号が出力できる。このため、高電圧のパルスを出力し
ても、トリミング率が低下することがない、トリミング
制御の容易な装置を提供できる。
第1図は本発明に係る一実施例のトリミング用パルス発
生回路の回路図、 第2図は本実施例の抵抗体トリミング装置のブロック構
成図、 第3図は本実施例の抵抗体トリミング工程を示すフロー
チャート、 第4図は本実施例におけるトリミング特性を示す図、 第5図はトリミング装置におけるサーマルヘッドなXY
Zステージ上に載置した様子を示した断面側面図、 第6図は従来のトリミング用パルス発生回路の回路図で
ある。 プローブ、7・・・絶縁体、9・・・接続ケーブル、1
0・・・主制御装置、11・・・外部記憶装置、12・
・・駆動回路、13・・・パルス電圧印加装置、14・
・・イン−ターフェイス回路、15・・・高圧電源装置
、16・・・抵抗測定器、17・・・セレクタ、50・
・・XYZテーブル、Tri〜Tr3・・・FETトラ
ンジスタである。 特許出願人 株式会社 コバル 図中、1・・・サーマルヘッド、2・・・発熱抵抗体、
4・・・電極、5・・・XYZテーブル、5A・・・X
Y軸駆動機構、5B・・・凹部、5C・・・2軸駆動機
構、6・・・第 図 第6図 第 図
生回路の回路図、 第2図は本実施例の抵抗体トリミング装置のブロック構
成図、 第3図は本実施例の抵抗体トリミング工程を示すフロー
チャート、 第4図は本実施例におけるトリミング特性を示す図、 第5図はトリミング装置におけるサーマルヘッドなXY
Zステージ上に載置した様子を示した断面側面図、 第6図は従来のトリミング用パルス発生回路の回路図で
ある。 プローブ、7・・・絶縁体、9・・・接続ケーブル、1
0・・・主制御装置、11・・・外部記憶装置、12・
・・駆動回路、13・・・パルス電圧印加装置、14・
・・イン−ターフェイス回路、15・・・高圧電源装置
、16・・・抵抗測定器、17・・・セレクタ、50・
・・XYZテーブル、Tri〜Tr3・・・FETトラ
ンジスタである。 特許出願人 株式会社 コバル 図中、1・・・サーマルヘッド、2・・・発熱抵抗体、
4・・・電極、5・・・XYZテーブル、5A・・・X
Y軸駆動機構、5B・・・凹部、5C・・・2軸駆動機
構、6・・・第 図 第6図 第 図
Claims (1)
- 低電圧の入力制御信号を厚膜抵抗体トリミング用の高
電圧信号に変換して出力する厚膜抵抗体トリミング用パ
ルス発生回路であつて、前記入力制御信号を受取る入力
用FETトランジスタと、該入力用FETトランジスタ
よりの出力信号を抵抗を介して第1の振幅電圧の信号に
変換する変換FETトランジスタのゲートに接続し、該
変換FETトランジスタよりの変換出力信号を抵抗を介
して高電圧のトリミング用パルス信号に変換して出力す
る出力FETトランジスタのゲートに接続し、トリミン
グ用の厚膜抵抗体を高電圧電源と出力用FETトランジ
スタのドレイン間に接続することを特徴とする厚膜抵抗
体トリミング用パルス発生回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63183584A JPH0233904A (ja) | 1988-07-25 | 1988-07-25 | 厚膜抵抗体トリミング用パルス発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63183584A JPH0233904A (ja) | 1988-07-25 | 1988-07-25 | 厚膜抵抗体トリミング用パルス発生回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0233904A true JPH0233904A (ja) | 1990-02-05 |
Family
ID=16138374
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63183584A Pending JPH0233904A (ja) | 1988-07-25 | 1988-07-25 | 厚膜抵抗体トリミング用パルス発生回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0233904A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016205233A1 (de) | 2015-03-31 | 2016-10-06 | Musashi Seimitsu Industry Co., Ltd. | Differenzialvorrichtung |
CN110126477A (zh) * | 2019-06-11 | 2019-08-16 | 山东华菱电子股份有限公司 | 一种薄膜热敏打印头的修阻方法及装置 |
-
1988
- 1988-07-25 JP JP63183584A patent/JPH0233904A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016205233A1 (de) | 2015-03-31 | 2016-10-06 | Musashi Seimitsu Industry Co., Ltd. | Differenzialvorrichtung |
CN110126477A (zh) * | 2019-06-11 | 2019-08-16 | 山东华菱电子股份有限公司 | 一种薄膜热敏打印头的修阻方法及装置 |
CN110126477B (zh) * | 2019-06-11 | 2020-03-06 | 山东华菱电子股份有限公司 | 一种薄膜热敏打印头的修阻方法及装置 |
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