JPH02304315A - 低温プローバ - Google Patents

低温プローバ

Info

Publication number
JPH02304315A
JPH02304315A JP1124212A JP12421289A JPH02304315A JP H02304315 A JPH02304315 A JP H02304315A JP 1124212 A JP1124212 A JP 1124212A JP 12421289 A JP12421289 A JP 12421289A JP H02304315 A JPH02304315 A JP H02304315A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
infrared
liquid nitrogen
aperture
probe
detecting element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1124212A
Other languages
English (en)
Inventor
Susumu Murashima
村島 晋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP1124212A priority Critical patent/JPH02304315A/ja
Publication of JPH02304315A publication Critical patent/JPH02304315A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は赤外線検出素子の特性をウェハ状態で評価する
ための低温プローバに関するものである。
[従来の技術] 従来、ウェハ状態の赤外線検出素子の特性は、アパーチ
ャの無い低温プローバにより測定されている。
第3図は、従来の低温プローバの一例を示す断面図であ
る。第3図に示すように、赤外線透過窓2から入射した
赤外線1は、液体窒素溜8上に真空吸着されたウェハ状
態の赤外線検出素子3に入射する。赤外線検出素子3か
らの信号は、プローブカード7に取り付けられたプロー
ブ6で赤外線検出素子3のパッドを接触させることによ
って読み出される構成になっている。ウェハ状態の赤外
線検出素子3は液体窒素溜8からの熱伝導で液体窒素温
度まで冷却される。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら上述した従来の低温プローバでは、液体窒
素温度に冷却したアパーチャによって視野を絞っていな
いために、背景輻射量が大きくなり、赤外線検出素子へ
の赤外線の入射パワーが正確に計算できず、感度や信号
雑音比等の特性を測定することが困難であるという欠点
があった。正確な特性を測定するためには、ウェハ状態
の赤外線検出素子をスクライブして一つ一つ赤外線検出
器に取り付ける以外に方法はなく、作業が複雑なうえに
作業時間が長くなるという欠点があった。
本発明の目的は、ウェハ状態の赤外線検出素子の特性を
、迅速かつ正確に測定することのできる低温プローバを
提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明は、内部に液体窒素が充填され、ウェハ状態の赤
外線検出素子を真空吸着すると共に冷却する液体窒素溜
と、前記赤外線検出素子に赤外光を入射させる赤外線透
過窓と、該赤外線透過窓から入射した赤外線の光路上に
開口を有し、かつ前記赤外線検出素子に入射する赤外線
の視野を絞るアパーチャと、前記赤外線検出素子に接続
し、プローブカードに装着されたプローブと、該プロー
ブに固定されて前記アパーチャを保持する保持治具とを
備え、前記アパーチャは前記保持治具を介して前記液体
窒素溜からの熱伝導により冷却されてなることを特徴と
する低温プローバである。
[作用] 本発明では、赤外線検出素子に入射する赤外線の視野を
絞る開口を設けたアパーチャを取り付け、同アパーチャ
を液体窒素溜からの熱伝導により液体窒素で冷却して使
用するので、背景輻射量が従来よりも小さくなり、感度
や信号雑音比等の赤外線検出素子の特性をウェハ状態で
迅速かつ正確に測定することができる。
[実施例] 次に本発明の一実施例について、図面を参照して詳細に
説明する。
第1図は本発明の一実施例の断面図でおる。本発明の低
温プローバは、第1図に示すように、内部に液体窒素9
を充填し、ウェハ状態の赤外線検出素子3を真空吸引孔
11により真空吸着する液体窒素溜8と、赤外線検出素
子3に赤外光1を入射させる赤外線透過窓2と、この赤
外線透過窓2から入射した赤外線1の光路上に開口を有
し、かつ赤外線検出素子3に入射する赤外線1の視野を
絞るアパーチャ4と、プローブカード7に取り付けられ
、赤外線検出素子3と接続するプローブ6と、このプロ
ーブ6に固定されてアパーチャ4を保持する保持治具5
とを備えている。このように、本発明の低温プローバは
、アパーチャ4を備えることにより、ウェハ状態の赤外
線検出素子3の視野を絞る機能を持たせたものである。
以下に本実施例の低温プローバの動作について、第1図
および第2図を参照して説明する。第2図は、本発明の
一実施例の正面図である。ただし、赤外線透過窓を省略
しである。第2図に示すように、アパーチャ4を取り付
け、プローブ6に固定された保持冶具5を液体窒素溜8
に真空吸着しているウェハ状態の赤外線検出素子3のス
クライブ線10上に接触させる。ここで、プローブ6の
先端は保持治具5より下に出るようにしておく。アパー
チャ4は、赤外線検出素子3と保持治具5を通して熱伝
導により液体窒素温度まで冷却されると同時に、プロー
ブ6は赤外線検出素子3の電極と適度の圧力で接し、電
気的接触を保つ。
このようにして、赤外線検出素子3の視野を絞ることが
でき、従来ウェハ状態では測定が困難であった感度や信
号雑音比等の特性を迅速かつ正確に測定することができ
る。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によればウェハ状態の赤外
線検出素子の感度や信号雑音比等の特性を迅速かつ正確
に測定できる低温プローバが提供される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の断面図、第2図は本発明の
一実施例の正面図、第3図は従来の低温プローバの一例
の断面図である。 1・・・赤外線       2・・・赤外線透過窓3
・・・赤外線検出素子   4・・・アパーチャ5・・
・保持治具      6・・・プローブ7・・・プロ
ーブカード   8・・・液体窒素溜9・・・液体窒素
      10・・・スクライブ線11・・・真空吸
引孔

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)内部に液体窒素が充填され、ウェハ状態の赤外線
    検出素子を真空吸着すると共に冷却する液体窒素溜と、
    前記赤外線検出素子に赤外光を入射させる赤外線透過窓
    と、該赤外線透過窓から入射した赤外線の光路上に開口
    を有し、かつ前記赤外線検出素子に入射する赤外線の視
    野を絞るアパーチャと、前記赤外線検出素子に接続し、
    プローブカードに装着されたプローブと、該プローブに
    固定されて前記アパーチャを保持する保持治具とを備え
    、前記アパーチャは前記保持治具を介して前記液体窒素
    溜からの熱伝導により冷却されてなることを特徴とする
    低温プローバ。
JP1124212A 1989-05-19 1989-05-19 低温プローバ Pending JPH02304315A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1124212A JPH02304315A (ja) 1989-05-19 1989-05-19 低温プローバ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1124212A JPH02304315A (ja) 1989-05-19 1989-05-19 低温プローバ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH02304315A true JPH02304315A (ja) 1990-12-18

Family

ID=14879771

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1124212A Pending JPH02304315A (ja) 1989-05-19 1989-05-19 低温プローバ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH02304315A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008059767A1 (fr) * 2006-11-15 2008-05-22 Japan Electronic Materials Corp. Appareil d'inspection de dispositif optique

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008059767A1 (fr) * 2006-11-15 2008-05-22 Japan Electronic Materials Corp. Appareil d'inspection de dispositif optique

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4095453A (en) Differential thermal analysis cell
US6751497B2 (en) Infrared thermometer
US6572265B1 (en) In situ optical surface temperature measuring techniques and devices
US20030177814A1 (en) Gas analyzer using thermal detectors
US3867697A (en) Measuring means
JPH02119236A (ja) 直線状定フォトン束光電圧測定値から少数担体拡散長を判定するための方法および装置
US4865446A (en) Laser power and energy meter
JPH01153927A (ja) 熱放射形低温度測定器
JPH02304315A (ja) 低温プローバ
CN105974142B (zh) 一种多光路凝血分析系统
US7176439B2 (en) Method for manufacturing photodetector for weak light
US3477291A (en) Radiation thermometers
TW201109632A (en) Testing apparatus for light-emitting device and sensing module for the same
US3575657A (en) Microwave detector mount and power bridge circuit
US8310266B2 (en) Device for characterizing the electro-optical performance of a semiconductor component
CN113959950B (zh) 一种基于光流控芯片检测液体折射率的检测装置
JPS63173930A (ja) レ−ザ光エネルギ−測定装置
JPS5839388Y2 (ja) 光検出器
US7067790B2 (en) Photodetector for weak light having charge reset means
CN108240967B (zh) 一种带外罩的气敏特性响应曲线测试装置
CN85103721A (zh) 物体表面发射率测定方法和携带式测定仪
US4066897A (en) Chemical change measuring apparatus
JPH01239427A (ja) 受光素子評価用冷却容器
JPH0612503Y2 (ja) 赤外線検出装置
JP3760241B2 (ja) 紫外線透過基板を用いた微弱光検出器