JPH023022A - Liquid crystal display device - Google Patents

Liquid crystal display device

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Publication number
JPH023022A
JPH023022A JP63150032A JP15003288A JPH023022A JP H023022 A JPH023022 A JP H023022A JP 63150032 A JP63150032 A JP 63150032A JP 15003288 A JP15003288 A JP 15003288A JP H023022 A JPH023022 A JP H023022A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
common electrode
line
signal line
electrode
Prior art date
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Pending
Application number
JP63150032A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Atsushi Inoue
淳 井上
Yasuhiro Nasu
安宏 那須
Kenichi Oki
沖 賢一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPH023022A publication Critical patent/JPH023022A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To speedily pinpoint the shorted location of a shared electrode and a signal line, or the electrode and a scanning line by forming a slit in the direction of the signal line in contact with a liquid crystal cell or in the direction intersecting orthogonally with the scanning line and dividing the shared electrode into plural regions. CONSTITUTION:The slit 7 is formed in the direction intersecting orthogonally with the signal line 41 in contact with the liquid crystal cell, far instant, and the shared electrode 1 is divided into plural regions. If in the shared electrode 1, one region divided by the slit 7 and the signal line 4i or the scanning line 5j to which a voltage different from the potential of a power source 6 is applied are shorted, a voltage in the shorted region is different from a voltage in non- shorted region in the shared electrode 1. That difference affects the display of a liquid crystal display device. As a result, the shorted location is quickly pinpointed to repair it.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

〔概 要〕 アクティブ・マトリクス型の液晶ディスプレイ装置に関
し、 共通電極と信号線あるいは走査線との短絡箇所を速やか
に発見することを目的とし、 液晶セルを挟んで、一方の側に共通電極を設け、他方の
側に、各画素毎に設けられた画素電極と、該画素電極を
駆動するスイッチング素子と、該スイッチング素子を駆
動するために互いに交差するように配線された信号線お
よび走査線とを有してなるアクティブ・マトリクス型の
液晶ディスプレイ装置において、前記共通電極内に前記
液晶セルに接した信号線または走査線と直交する方向に
スリットを形成して該共通電極を複数の領域に分割する
ように構成する。 〔産業上の利用分野〕 本発明は、アクティブ・マトリクス型の液晶ディスプレ
イ装置に関する。 近年、液晶ディスプレイ装置においては、クロストーク
等の問題を回避するために、各画素毎に設けた画素電極
を設け、これらの画素電極をそれぞれスイッチング素子
によって駆動するアクティブ・マトリクス型の液晶ディ
スプレイ装置が用いられている。 ところで、このようなアクティブ・マトリクス型の液晶
ディスプレイ装置は、液晶セルの一方の側に共通電極と
してベタ電極を設け、他方の側に上記画素電極、および
対応するスイッチング素子を配置して、これらのスイッ
チング素子を格子状に配線された走査線および信号線に
よって駆動する構成となっている。 しかしながら、スイッチングに対する応答速度を速める
ため、および、画質を高めるために、上記液晶セルの厚
さは薄くなる傾向にあり、上記共通電極と上記の信号線
あるいは走査線とが短絡してライン欠陥となるという事
態が発生している。 このような場合には、短絡箇所を速やかに発見して補修
する必要がある。 そのため、アクティブ・マトリクス型の液晶ディスプレ
イ装置における共通電極と信号線あるいは走査線との短
絡箇所を速やかに発見する技術が要望されていた。 〔従来の技術、および発明が解決しようとする課題〕 第5図は従来のアクティブ・マトリクス型の液晶ディス
プレイ装置における、液晶物質に対する電圧印加のため
の構成の概略を示す図である。 第5図において、1′は共通電極、2 +1+  21
2+2゜1.2□2は画素電極、311+  312+
  321+  322はスイッチング素子、43.4
□は信号線、5..5□は走査線、6はアース、8はガ
ラス基板である。 なお、簡単のためにマトリクスは2行2列としている。 画素電極2 +1+  212+  221+  22
2、スイッチング素子311+  312+  321
+  322、信号線48.4□、走査線5i.5□は
ガラス基板8上に、通常の半導体の製造手法によって形
成される。 液晶ディスプレイ装置にふいては、該共通電極ビとガラ
ス基板8との間に、図示しないが、配向膜に挟まれ、廻
りをシール材で囲まれた液晶物質の層(液晶セル)が存
在し、該液晶セルには上記の電極によって電圧を印加さ
れる。 ところで、上記の液晶セルの厚さは、通常、数μmであ
り、スイッチングに対する応答速度を速めるため、およ
び、画質を高めるために、上記液晶物質の層の厚さは、
さらに薄くなる傾向にある。 そのため、上記の共通電極と信号線あるいは走査線とが
短絡してライン欠陥となるという事態が発生している。 このような場合には、短絡箇所を速やかに発見して補修
する必要があるが、従来の液晶ディスプレイ装置におけ
る共通電極はベタ電極であるため、欠陥箇所の特定が困
難であるという問題があった。 本発明は上記の問題点に鑑み、なされたもので、共通電
極と信号線あるいは走査線との短絡箇所を速やかに発見
することができる液晶ディスプレイ装置を提供すること
を目的とするものである。 〔課題を解決するための手段〕 第1A図および第1B図は本発明の原理構成図である。 第1A図および第1B図において、1は共通電極、2白
は画素電極、30.はスイッチング素子、4.は信号線
、5、は走査線、6は所定の電圧源、7はスリットであ
る。なお、i=l〜m。 j=1〜nとする。 共通電極1と画素電極2目とは、図示しない液晶セルを
挟んで両側に存在する。画素電極2目は、液晶セルの各
画素に対応するお分に電圧を印加するために各画素毎に
設けられたものである。各スイッチング素子3 IJは
、対応する画素電極21Jを駆動するために設けられ、
さらに、該スイッチング素子3..を駆動するために互
いに交差するように配線された信号線41および走査線
5.が設けられている。 本発明の特徴として、前記共通電極1内に前記液晶セル
に接した、例えば、信号線41と直交する方向にスリッ
ト7が形成され、該共通電極1を複数の領域に分割して
いる。 〔作 用〕 共通電極1に接続される電圧源6の電位と異なる電圧を
、該共通電極lとの短絡を検査したい信号線情あるいは
走査線5.に順に印加する。 このとき、もし、第1A図の共通電極1においてスリッ
ト7で分割される一方の領域と、上記の電圧源6の電位
と異なる電圧を印加[また信号線4゜あるいは走査線5
Jとが短絡したとすると、該共通電極1の短絡点と上記
電圧源6との間に、上記の印加電圧と該電圧源6の電圧
との差、および該共通電極1の上記一方の領域における
電気抵抗に応じて電流が流れる、すなわち、該一方の領
域において電圧降下が生じる。しかしながら1.−の電
流、したがって、電圧降下の影響は、上記スリット7に
よって分割された、共通電極1の他方の領域には及ばな
いっなぜならば、上記のスリット7による分割のために
、該他方の領域に至る電流経路が長くなり、抵抗が大き
くなるためである。 こうして、短絡が生じている側の領域と、そうでない側
の領域とにおいて共通電極1の電圧が異なることになり
、これは当該液晶ディスプレイ装置の表示に現れる。こ
れが、本発明による液晶ディスプレイ装置における短絡
箇所の特定の基本原理である。 〔実施例〕 第・1図は、本発明の実施例の液晶ディスプレイ装置に
おけるTPTマトリクス、データバスラインおよびスキ
ャンパスラインの配置を示すものである。 第4図の構成は、前述の第5図の構成におけるガラス基
板8上の構成に対応するもので、TFTマ) IJガラ
スは、該ガラス基板8上にTFT(Than Film
 Transistor) 、すなわち、薄膜トランジ
スタをマトリクス状に配列したものである。 第4図において、2L、は画素電極、30IJは上記ス
タガード型のTFT、311Jは該TFT304.のゲ
ート電極、32.Jは該TFT30ijのドレイン電極
、40.はデータバスライン、50゜はスキャンパスラ
インである。ここで、1−1〜m、j=l〜nとする。 スキャンパスライン50Jは、各行のTFT301J 
(1= 1〜m)のゲート電極w”l11.+(+”1
〜m)に接続され、データバスライン40.は各列のT
FT30+j(J = l〜n)のドレイン電極32.
4に接続される。そして、各丁FT30.J(i=1〜
rn、  j=i−n)のソー・スミ極は対応する画素
電極2υ1.+(+=1〜m、)=i〜n)に接続され
る。 各スキャンパスライン50.には、周期的に有効な電気
信号が印加され、該スキャンハスライン50」に接続さ
れるTFT3 LJ(i= l 〜m)は、このときに
のみオンとなり、同時にデータバスライン40+ に入
力された画像データに応じた電圧が、接続される画素電
極20.Jに印加される。 ここで、上記のスキャンパスライン50.およびデータ
バスライン40.は、それぞれ、前記のようなガラス基
板上に順に形成された裸の金属線であり、数μmの液晶
セル(液晶物質)を介して共通電極と相対している。し
たがって、液晶物質に接しているデータバスラインと共
通電極との間で短絡が発生し得る。因みに逆スタガード
型TPTを使用した場合はスキャンパスラインが液晶物
質と接する形態となる。 本発明の実施例の液晶ディスプレイ装置における共通電
極10の構成は、第2図に示されている、。 第2図の共通電極10においては、前記の第4図のスキ
ャンパスライン50. (J−1〜n)に対応する位置
に、したがって、データバスラインとは直交する方向に
スリブ)70J (J=]〜n)が設けろれており、該
共通電極10をデータバスラインの伸張方向において複
数の領域に分割しているう そして、第3図には、第2図の共通電極10を第4図の
TPTマトリクス、スキャンパスラインおよびデータバ
スラインからなる構成に重ね合わせた様子が示されてい
る。 上記の本発明の実施例の液晶ディスプレイ装置において
、共通電極10とデータバスライン40との間の短絡箇
所の検出を行なう手順は以下のとおりである。 まず、各データバスライン40+ について、共通電極
10との間で電気的導通のあるものを、抵抗測定器等に
よって検出する。 次に、上記の共通電極10との間で電気的導通のあるデ
ータバスライン4(It に、所定の点滅を行なう電気
信号を人力する。ここで、前記のように、そして、第2
図に示されるように、共通電極10は、該データバスラ
イン40.に垂直に、各スキャンパスライン50Jの位
置毎に分割されているので、共通電極IOの該分割され
た領域のうち該データバスライン40t と短絡してい
る領域に沿って電圧の変動が生じ、該短絡箇所と、該共
通電極10が接続する所定の電位の電圧源、例えば、ア
ースとの間で該短絡している領域に沿って電流が流れる
。 このとき、上記の共通電極10における電圧の変動は該
液晶ディスプレイ装置の表示に現れる。 すなわち、上記データバスライン40+ と短絡してい
る領域に沿って、前記所定の点滅を行なう電気信号に応
じた表示の変動が観測される。 例えば、第3図の“S”の点においてデータバスライン
40.、と共通電極10との間で短絡が生じたとすると
、共通電極10のスリブ)701と70□との間の領域
に電圧の変動が生じ、液晶セルの該領域と対向する画素
電極20+、(i=1〜n)との間の部分に電圧が印加
され、これが液晶セルの透過率の変化として観測される
。 このようにして、本発明の実施例の液晶ディスプレイ装
置においては、共通電極10と短絡しているパスライン
の位置が速やかに発見され得る。 上記の短絡箇所は、例えば、レーザにより切り離し、修
復を行なう。 なお、第2図のようなスリット70は、共通電極側のガ
ラス基板上に、フォト・リングラフイック・プロセスに
より第2図のスリット70の形状にパターニングを行な
って、透明電極(例えば、200nmのITO)を成膜
し、その後、該スリット70の部分の透明電極をリフト
オフすることにより形成される。 なお、本発明の実施例の構成によれば、第3図に示され
るように、共通電極10のスリット70がスキャンパス
ライン50.の位置に存在するので、共通電極10とス
キャンパスライン50jとの短絡も発生しにくくなって
いる。 〔発明の効果〕 本発明による、アクティブ・マトリクス型の液晶ディス
プレイ装置においては、共通電極と信号線あるいは走査
線との短絡箇所を速やかに発見することができる。 4i
[Overview] Regarding active matrix type liquid crystal display devices, a common electrode is provided on one side with the liquid crystal cell in between, with the aim of quickly finding short-circuit points between the common electrode and the signal line or scanning line. , on the other side, a pixel electrode provided for each pixel, a switching element for driving the pixel electrode, and a signal line and a scanning line wired to cross each other to drive the switching element. In the active matrix liquid crystal display device, the common electrode is divided into a plurality of regions by forming slits in the common electrode in a direction perpendicular to the signal line or the scanning line in contact with the liquid crystal cell. Configure it as follows. [Industrial Application Field] The present invention relates to an active matrix type liquid crystal display device. In recent years, in order to avoid problems such as crosstalk, active matrix type liquid crystal display devices have been developed, in which a pixel electrode is provided for each pixel, and each pixel electrode is driven by a switching element. It is used. Incidentally, in such an active matrix type liquid crystal display device, a solid electrode is provided as a common electrode on one side of the liquid crystal cell, and the above-mentioned pixel electrode and corresponding switching element are arranged on the other side. The switching elements are driven by scanning lines and signal lines arranged in a grid pattern. However, in order to speed up the response speed to switching and improve image quality, the thickness of the liquid crystal cell tends to become thinner, and the common electrode and the signal line or scanning line may short-circuit and cause line defects. A situation is occurring. In such a case, it is necessary to quickly find and repair the short circuit. Therefore, there has been a need for a technique for quickly discovering a short-circuit between a common electrode and a signal line or a scanning line in an active matrix liquid crystal display device. [Prior Art and Problems to be Solved by the Invention] FIG. 5 is a diagram schematically showing a configuration for applying voltage to a liquid crystal material in a conventional active matrix type liquid crystal display device. In Fig. 5, 1' is a common electrode, 2 +1+ 21
2+2゜1.2□2 is the pixel electrode, 311+ 312+
321+322 are switching elements, 43.4
□ is a signal line, 5. .. 5□ is a scanning line, 6 is a ground, and 8 is a glass substrate. Note that, for simplicity, the matrix has two rows and two columns. Pixel electrode 2 +1+ 212+ 221+ 22
2. Switching elements 311+ 312+ 321
+322, signal line 48.4□, scanning line 5i. 5□ is formed on the glass substrate 8 by a normal semiconductor manufacturing method. In a liquid crystal display device, although not shown, there is a layer of liquid crystal material (liquid crystal cell) sandwiched between alignment films and surrounded by a sealant between the common electrode layer and the glass substrate 8. , a voltage is applied to the liquid crystal cell through the above electrodes. By the way, the thickness of the liquid crystal cell is usually several μm, and in order to increase the response speed to switching and improve the image quality, the thickness of the layer of the liquid crystal material is
It tends to become thinner. Therefore, a situation occurs in which the common electrode and the signal line or the scanning line are short-circuited, resulting in a line defect. In such cases, it is necessary to quickly find and repair the short circuit, but since the common electrode in conventional liquid crystal display devices is a solid electrode, it is difficult to identify the defective point. . The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device in which a short circuit between a common electrode and a signal line or a scanning line can be quickly discovered. [Means for Solving the Problems] FIGS. 1A and 1B are diagrams showing the basic configuration of the present invention. In FIGS. 1A and 1B, 1 is a common electrode, 2 is a pixel electrode, and 30. is a switching element; 4. 1 is a signal line, 5 is a scanning line, 6 is a predetermined voltage source, and 7 is a slit. In addition, i=l~m. Let j=1 to n. The common electrode 1 and the second pixel electrode are present on both sides with a liquid crystal cell (not shown) in between. The second pixel electrode is provided for each pixel in order to apply a voltage to the portion corresponding to each pixel of the liquid crystal cell. Each switching element 3 IJ is provided to drive the corresponding pixel electrode 21J,
Furthermore, the switching element 3. .. A signal line 41 and a scanning line 5. are wired to cross each other in order to drive the signal line 41 and the scanning line 5. is provided. As a feature of the present invention, a slit 7 is formed in the common electrode 1 in contact with the liquid crystal cell, for example, in a direction perpendicular to the signal line 41, and the common electrode 1 is divided into a plurality of regions. [Function] A voltage different from the potential of the voltage source 6 connected to the common electrode 1 is applied to the signal line or scanning line 5. to be tested for short circuit with the common electrode 1. are applied in sequence. At this time, if a voltage different from the potential of the voltage source 6 described above is applied to one region of the common electrode 1 in FIG.
If J is short-circuited, the difference between the applied voltage and the voltage of the voltage source 6, and the one area of the common electrode 1 between the short-circuit point of the common electrode 1 and the voltage source 6. A current flows depending on the electrical resistance in the one region, that is, a voltage drop occurs in the one region. However, 1. - the current, and hence the voltage drop, does not affect the other region of the common electrode 1 divided by the slit 7, because the influence of the voltage drop does not extend to the other region of the common electrode 1 divided by the slit 7. This is because the current path leading to the capacitor becomes longer and the resistance becomes larger. In this way, the voltage of the common electrode 1 differs between the region where the short circuit occurs and the region where it does not occur, and this appears in the display of the liquid crystal display device. This is the basic principle for identifying short circuit locations in the liquid crystal display device according to the invention. [Embodiment] FIG. 1 shows the arrangement of a TPT matrix, data bus line, and scan path line in a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention. The configuration shown in FIG. 4 corresponds to the configuration on the glass substrate 8 in the configuration shown in FIG.
In other words, thin film transistors are arranged in a matrix. In FIG. 4, 2L is a pixel electrode, 30IJ is the staggered TFT, and 311J is the TFT 304. gate electrode of 32. J is the drain electrode of the TFT 30ij, 40. is the data bus line, and 50° is the scan path line. Here, it is assumed that 1-1 to m and j=l to n. The scan path line 50J is the TFT 301J of each row.
(1=1~m) gate electrode w"l11.+(+"1
~m) and connected to the data bus line 40. is T of each column
Drain electrode 32 of FT30+j (J = l~n).
Connected to 4. And each piece FT30. J(i=1~
rn, j=i−n) are connected to the corresponding pixel electrodes 2υ1. +(+=1 to m, )=i to n). Each scan path line 50. A valid electrical signal is periodically applied to the scan bus line 50, and the TFT3 LJ (i=l to m) connected to the scan bus line 50 is turned on only at this time, and at the same time the signal is input to the data bus line 40+. A voltage corresponding to the image data is applied to the connected pixel electrode 20. applied to J. Here, the above scan path line 50. and data bus line 40. are bare metal wires formed in sequence on the glass substrate as described above, and are opposed to a common electrode via a liquid crystal cell (liquid crystal material) of several μm. Therefore, a short circuit may occur between the data bus line and the common electrode that are in contact with the liquid crystal material. Incidentally, when an inverted staggered TPT is used, the scan path line is in contact with the liquid crystal material. The configuration of the common electrode 10 in the liquid crystal display device according to the embodiment of the present invention is shown in FIG. In the common electrode 10 of FIG. 2, the scan path line 50 of FIG. Slabs) 70J (J=] to n) are provided at positions corresponding to J-1 to J-n in a direction perpendicular to the data bus line, and the common electrode 10 is connected to the extension of the data bus line. In addition, FIG. 3 shows how the common electrode 10 of FIG. 2 is superimposed on the structure consisting of the TPT matrix, scan path line, and data bus line of FIG. 4. It is shown. In the liquid crystal display device according to the embodiment of the present invention described above, the procedure for detecting a short circuit between the common electrode 10 and the data bus line 40 is as follows. First, electrical continuity between each data bus line 40+ and the common electrode 10 is detected using a resistance measuring device or the like. Next, an electric signal for performing predetermined blinking is manually applied to the data bus line 4 (It) which is electrically connected to the common electrode 10. Here, as described above, the second
As shown, the common electrode 10 connects the data bus lines 40. Since the scan path line 50J is divided perpendicularly to the position of each scan path line 50J, voltage fluctuation occurs along the region of the divided region of the common electrode IO that is short-circuited to the data bus line 40t. A current flows along the short-circuited region between the short-circuited point and a voltage source of a predetermined potential, such as ground, to which the common electrode 10 is connected. At this time, the voltage fluctuation at the common electrode 10 appears in the display of the liquid crystal display device. That is, along the region short-circuited to the data bus line 40+, a change in the display according to the electric signal for performing the predetermined blinking is observed. For example, at point "S" in FIG. , and the common electrode 10, a voltage fluctuation occurs in the region between the ribs 701 and 70□ of the common electrode 10, and the pixel electrodes 20+, A voltage is applied to the portion between (i=1 to n), and this is observed as a change in the transmittance of the liquid crystal cell. In this manner, in the liquid crystal display device according to the embodiment of the present invention, the position of the pass line that is short-circuited to the common electrode 10 can be quickly discovered. The above-mentioned short-circuited portion is separated and repaired using, for example, a laser. The slit 70 as shown in FIG. 2 is formed by patterning the glass substrate on the common electrode side in the shape of the slit 70 in FIG. ) is formed into a film, and then the transparent electrode in the slit 70 portion is lifted off. According to the configuration of the embodiment of the present invention, as shown in FIG. 3, the slit 70 of the common electrode 10 is aligned with the scan path line 50. Therefore, a short circuit between the common electrode 10 and the scan path line 50j is less likely to occur. [Effects of the Invention] In the active matrix liquid crystal display device according to the present invention, a short circuit between a common electrode and a signal line or a scanning line can be quickly discovered. 4i

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1A図および第1B図は、本発明の原理構成図、 第2図は、本発明の実施例における共通電極の構成図、 第3図は、本発明の実施例における共通電極とTPTマ
トリクス側のパスラインとの重なりの様子を示す図、 第4図は、TPTマトリクス、データバスライン、およ
びスキャンパスラインの配置を示す図、第5図は、従来
のアクティブ・マトリクス型液晶ディスプレイ装置にお
ける電圧印加のための構成の概略を示す図である。 〔符号の説明〕 1、l’、10・・・共通電極、2Ij、201j・・
・画素電極、3B・・・スイッチング素子、4.41・
・・信号線、5,5j・・・走査線、6・・・電圧源、
?、70゜・・・スリット、8・・・ガラス基板、30
iJ・・・薄膜トランジスタ、31目・・・薄膜トラン
ジスタのゲート電極、32目・・・薄膜トランジスタの
ドレイン電極、40r ・・・データバスライン、50
j ・・・スキャンパスライン。 本発明の原理慣成図 第1 A図の” ”部の部分拡大図 第1B図
FIG. 1A and FIG. 1B are diagrams showing the principle configuration of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing the configuration of a common electrode in an embodiment of the present invention. FIG. 3 is a diagram showing the common electrode and TPT matrix side in an embodiment of the present invention. FIG. 4 is a diagram showing the arrangement of the TPT matrix, data bus line, and scan path line, and FIG. 5 is a diagram showing the voltage in a conventional active matrix liquid crystal display device. FIG. 2 is a diagram schematically showing a configuration for application. [Explanation of symbols] 1, l', 10... common electrode, 2Ij, 201j...
・Pixel electrode, 3B... switching element, 4.41・
...Signal line, 5,5j...Scanning line, 6...Voltage source,
? , 70°...Slit, 8...Glass substrate, 30
iJ...thin film transistor, 31st...gate electrode of thin film transistor, 32nd...drain electrode of thin film transistor, 40r...data bus line, 50
j...Scan path line. Principle-conventional diagram of the present invention Part 1 Partial enlarged view of the “” part in Figure A Figure 1B

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、液晶セルを挟んで、一方の側に共通電極(1)を設
け、他方の側に、各画素毎に設けられた画素電極(2_
i_j)と、該画素電極(2_i_j)を駆動するスイ
ッチング素子(3_i_j)と、該スイッチング素子(
3_i_j)を駆動するために互いに交差するように配
線された信号線(4_i)および走査線(5_i)とを
有してなるアクティブ・マトリクス型の液晶ディスプレ
イ装置において、 前記共通電極(1)内に前記液晶セルに接した信号線ま
たは走査線と直交する方向にスリット(7)を形成して
該共通電極(1)を複数の領域に分割することを特徴と
する液晶ディスプレイ装置。
[Claims] 1. A common electrode (1) is provided on one side of the liquid crystal cell, and a pixel electrode (2_) provided for each pixel is provided on the other side.
i_j), a switching element (3_i_j) that drives the pixel electrode (2_i_j), and a switching element (3_i_j) that drives the pixel electrode (2_i_j).
In an active matrix liquid crystal display device comprising a signal line (4_i) and a scanning line (5_i) wired to cross each other to drive a signal line (4_i) and a scanning line (5_i) for driving a signal line (3_i_j), A liquid crystal display device characterized in that the common electrode (1) is divided into a plurality of regions by forming a slit (7) in a direction perpendicular to a signal line or a scanning line in contact with the liquid crystal cell.
JP63150032A 1988-06-20 1988-06-20 Liquid crystal display device Pending JPH023022A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002357843A (en) * 2001-06-04 2002-12-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd Liquid crystal display panel
CN100353246C (en) * 2003-11-28 2007-12-05 Nec液晶技术株式会社 Liquid crystal display device
US7518686B2 (en) 2003-10-28 2009-04-14 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Liquid crystal display

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