JPH0230068U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0230068U JPH0230068U JP10852288U JP10852288U JPH0230068U JP H0230068 U JPH0230068 U JP H0230068U JP 10852288 U JP10852288 U JP 10852288U JP 10852288 U JP10852288 U JP 10852288U JP H0230068 U JPH0230068 U JP H0230068U
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- tester
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- Pending
Links
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第１図ａ及びｂは本考案の第１の実施例のテス
トヘツドの斜視図及び被試験ＩＣに接続した状態
を説明するためのＡ−Ａ′線断面に対応する模式
図、第２図ａ及びｂは本考案の第２の実施例のテ
ストヘツドの斜視図及び被試験ＩＣに接続した状
態のＡ−Ａ′線断面図に対応する模式図、第３図
ａ及びｂは従来のＩＣテスタの一例の斜視図及び
被試験ＩＣに接続した状態を説明するためのＡ−
Ａ′線断面図に対応する模式図である。 １……測定基板、２……接続端子、３……被試
験ＩＣ、５……測定ケーブル、６……蝶番。
トヘツドの斜視図及び被試験ＩＣに接続した状態
を説明するためのＡ−Ａ′線断面に対応する模式
図、第２図ａ及びｂは本考案の第２の実施例のテ
ストヘツドの斜視図及び被試験ＩＣに接続した状
態のＡ−Ａ′線断面図に対応する模式図、第３図
ａ及びｂは従来のＩＣテスタの一例の斜視図及び
被試験ＩＣに接続した状態を説明するためのＡ−
Ａ′線断面図に対応する模式図である。 １……測定基板、２……接続端子、３……被試
験ＩＣ、５……測定ケーブル、６……蝶番。
Claims (1)
- 被試験ＩＣに接続するテストヘツドを有するＩ
Ｃテスタにおいて、前記テストヘツドの形状が、
前記被試験ＩＣを取囲むように湾曲または屈曲し
ていることを特徴とするＩＣテスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10852288U JPH0230068U (ja) | 1988-08-17 | 1988-08-17 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10852288U JPH0230068U (ja) | 1988-08-17 | 1988-08-17 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0230068U true JPH0230068U (ja) | 1990-02-26 |
Family
ID=31343937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10852288U Pending JPH0230068U (ja) | 1988-08-17 | 1988-08-17 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0230068U (ja) |
-
1988
- 1988-08-17 JP JP10852288U patent/JPH0230068U/ja active Pending