JPH0225122B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0225122B2 JPH0225122B2 JP56160115A JP16011581A JPH0225122B2 JP H0225122 B2 JPH0225122 B2 JP H0225122B2 JP 56160115 A JP56160115 A JP 56160115A JP 16011581 A JP16011581 A JP 16011581A JP H0225122 B2 JPH0225122 B2 JP H0225122B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tank
- measurement
- point
- measured
- laser
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 108
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 42
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 5
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 8
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 5
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 5
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 3
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000012067 mathematical method Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01F—MEASURING VOLUME, VOLUME FLOW, MASS FLOW OR LIQUID LEVEL; METERING BY VOLUME
- G01F17/00—Methods or apparatus for determining the capacity of containers or cavities, or the volume of solid bodies
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Fluid Mechanics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は大型タンクの容量測定方法に関する
ものである。
ものである。
大型タンクの容量測定方法において、第１図イ
に示すように、レーザー付デジタルセオドライト
イとデジタルセオドライトロとをタンク内の底板
上に一定の距離ｌを置いて立設し、タンク内壁
の、計測しようとする点ハにレーザーの焦点をあ
て、その焦点をデジタルセオドライトロで視準
し、両セオドライトの水平角ニ，ホと高角度ヘと
より該計測点ハの立体座標を算出し、次いで該計
測点ハを通る直径線上の反対の計測点ニ((第１図
ロ参照))の立体座標を同様の手法で測定し、その
測定値より直径トを算出し、容量を求める方法が
開発されているが、元来タンク底板は構造上不安
定なものであり、特に大型タンクとなるとその不
安定さは増し、底板上にレーザーセオドライトを
置いて、測定すれば、測定者がその周囲を動くた
め正確を期し得ないこと。又基線イロを１本のみ
設定して底板上にデジタルセオドライトを置く
と、基線イロの端イ又はロに近い部分の側板上方
の計測点の高度角の測定が困難となるので、第２
図に示すように、勢い、基線チは短かくせざるを
得ないが、今度はその為、計測点ハにおいてなす
夾角リは基線チの端に行く程小さくなり、その変
動が大きいので測定精度が落ちること。又上述の
ように直径線上にあるタンク側壁上の２点を測定
してそれより直径を算出することは、大型タンク
になると殆んど正しい直径を見出すことは不可能
であるので、上述の測定により所定の計算式から
算出される直径は実際より過小に出る傾向にあ
り、容量が不正確になる欠点があつた。
に示すように、レーザー付デジタルセオドライト
イとデジタルセオドライトロとをタンク内の底板
上に一定の距離ｌを置いて立設し、タンク内壁
の、計測しようとする点ハにレーザーの焦点をあ
て、その焦点をデジタルセオドライトロで視準
し、両セオドライトの水平角ニ，ホと高角度ヘと
より該計測点ハの立体座標を算出し、次いで該計
測点ハを通る直径線上の反対の計測点ニ((第１図
ロ参照))の立体座標を同様の手法で測定し、その
測定値より直径トを算出し、容量を求める方法が
開発されているが、元来タンク底板は構造上不安
定なものであり、特に大型タンクとなるとその不
安定さは増し、底板上にレーザーセオドライトを
置いて、測定すれば、測定者がその周囲を動くた
め正確を期し得ないこと。又基線イロを１本のみ
設定して底板上にデジタルセオドライトを置く
と、基線イロの端イ又はロに近い部分の側板上方
の計測点の高度角の測定が困難となるので、第２
図に示すように、勢い、基線チは短かくせざるを
得ないが、今度はその為、計測点ハにおいてなす
夾角リは基線チの端に行く程小さくなり、その変
動が大きいので測定精度が落ちること。又上述の
ように直径線上にあるタンク側壁上の２点を測定
してそれより直径を算出することは、大型タンク
になると殆んど正しい直径を見出すことは不可能
であるので、上述の測定により所定の計算式から
算出される直径は実際より過小に出る傾向にあ
り、容量が不正確になる欠点があつた。
そこで出願人は特願昭56−123590号（特開昭58
−30984号）としてレーザーセオドライトを使用
してタンク内でタンク容量を測定する類の方法
で、一層正確なタンク容量を算出できる大型タン
クの容量測定方法を開発して出願した。
−30984号）としてレーザーセオドライトを使用
してタンク内でタンク容量を測定する類の方法
で、一層正確なタンク容量を算出できる大型タン
クの容量測定方法を開発して出願した。
この方法は、第３図に示すように、被測定タン
ク１の最下層タンク側板の略内径と判断される
線上の、相対する側板内壁に夫々レーザーセオド
ライトＡ，Ｂを取付けて整準し、各レーザーセオ
ドライトＡ，Ｂの夫々の中心の鉛直線ｑ上に、測
点A1，B1を定め、測点A1，B1間の水平距離を基
線A1B1として測定し、最下層タンク側板の内
周の適当な分割点Poの内、該基線A1B1から最も
離れている1/4円周の範囲Z1内にある点の一つP1
を通る鉛直線G1上の所定位置に、別に底板２の
略中心と判断される点に立設した俯仰自在の計測
用レベルマーク投影器Ｃにより、レベルマーク３
を投写し、前記測点A1上のレーザーセオドライ
トＡより該レベルマーク３内にレーザービームを
照射して計測点３1を決め、該計測点３1の前記基
線A1B1に対する水平角αを測定し、次いで、前
記測点B1上のレーザーセオドライトＢより、該
計測点３1を照射、視準して該計測点３1の基線
A1B1に対する水平角βを測定し、（図面を見易く
するため計測点３1から説明を始めたが実際はタ
ンク側板の層の計測点３′1から始めるのは勿論
とする。）この二つの水平角α，βの測定は、該
計測用レベルマーク投影器Ｃを、該鉛直線G1に
沿つて、タンク１の側板の各層，，……に
亘り、又前記範囲Z1内にある他の分割点Po（第３
図ではP2）の鉛直線Goについても同様に行い、
更に又基線A1B1の反対側の、該基線A1B1から最
も離れた部分の1/4円周の範囲Z3にある分割点Po
（第３図ではP5，P6）を通る鉛直線Goに沿つて
も、タンク側板の各層に亘つて行い、測定した前
記の各水平角α，βより前記各分割点Poを通る
各鉛直線Go上にある、タンク側板各層の計測点
３′1〜３oの平面座標を算出し、次いで基線A1B1
と角φをなす基線A2B2についても同様に該基線
A2B2の両側に亘つて、基線A2B2より最も離れた
１／４円周の範囲Z2，Z4内にある各分割点Poを通る
鉛直線Go上にある、タンク側板各層の所定位置
の計測点について水平角α′，β′を測定し、次いで
該計測点の平面座標を算出し、これを座標変換し
て基線A1B1上での測定相当値に換算し、基線
A1B1の位置にて測定した前記範囲Z1，Z3内にあ
る各計測点３′1〜３oの値と併せて使用して各レ
ベル毎に最小二乗法により最適円の半径を算出
し、各層の側板の既知の高さ（第４図に示すよう
に側板の上下の熔接線４，５間の高さ）Ｈより各
層別の容量を求め、次いでタンク全体の容量を算
出する方法であつた。
ク１の最下層タンク側板の略内径と判断される
線上の、相対する側板内壁に夫々レーザーセオド
ライトＡ，Ｂを取付けて整準し、各レーザーセオ
ドライトＡ，Ｂの夫々の中心の鉛直線ｑ上に、測
点A1，B1を定め、測点A1，B1間の水平距離を基
線A1B1として測定し、最下層タンク側板の内
周の適当な分割点Poの内、該基線A1B1から最も
離れている1/4円周の範囲Z1内にある点の一つP1
を通る鉛直線G1上の所定位置に、別に底板２の
略中心と判断される点に立設した俯仰自在の計測
用レベルマーク投影器Ｃにより、レベルマーク３
を投写し、前記測点A1上のレーザーセオドライ
トＡより該レベルマーク３内にレーザービームを
照射して計測点３1を決め、該計測点３1の前記基
線A1B1に対する水平角αを測定し、次いで、前
記測点B1上のレーザーセオドライトＢより、該
計測点３1を照射、視準して該計測点３1の基線
A1B1に対する水平角βを測定し、（図面を見易く
するため計測点３1から説明を始めたが実際はタ
ンク側板の層の計測点３′1から始めるのは勿論
とする。）この二つの水平角α，βの測定は、該
計測用レベルマーク投影器Ｃを、該鉛直線G1に
沿つて、タンク１の側板の各層，，……に
亘り、又前記範囲Z1内にある他の分割点Po（第３
図ではP2）の鉛直線Goについても同様に行い、
更に又基線A1B1の反対側の、該基線A1B1から最
も離れた部分の1/4円周の範囲Z3にある分割点Po
（第３図ではP5，P6）を通る鉛直線Goに沿つて
も、タンク側板の各層に亘つて行い、測定した前
記の各水平角α，βより前記各分割点Poを通る
各鉛直線Go上にある、タンク側板各層の計測点
３′1〜３oの平面座標を算出し、次いで基線A1B1
と角φをなす基線A2B2についても同様に該基線
A2B2の両側に亘つて、基線A2B2より最も離れた
１／４円周の範囲Z2，Z4内にある各分割点Poを通る
鉛直線Go上にある、タンク側板各層の所定位置
の計測点について水平角α′，β′を測定し、次いで
該計測点の平面座標を算出し、これを座標変換し
て基線A1B1上での測定相当値に換算し、基線
A1B1の位置にて測定した前記範囲Z1，Z3内にあ
る各計測点３′1〜３oの値と併せて使用して各レ
ベル毎に最小二乗法により最適円の半径を算出
し、各層の側板の既知の高さ（第４図に示すよう
に側板の上下の熔接線４，５間の高さ）Ｈより各
層別の容量を求め、次いでタンク全体の容量を算
出する方法であつた。
この側定方法は暗いタンク内において間違いな
く迅速正確に行え、総て平面座標を使用するので
高度角の測定が不要であり、得た平面座標より最
小二乗法により半径を算出するので、タンク容量
が従来より正確に算出でき、又レーザーセオドラ
イトは総てタンク側板に取付けるので、取付けが
安定であり、従つて測定結果も正確である等幾多
の利点はあるが、この場合、基線と２本のレーザ
ー光線で構成される投影平面三角形は略直角三角
形を成しており、一方三角測量法として最も精度
の良いのは正三角形であることを勘案すると、こ
の点なお改良の余地があること、又基線から最も
離れた1/4円周の範囲を基線の両側に亘つて測定
しなければならないこと、又、２個のレーザーセ
オドライトの設定位置がタンクの略直径上にある
ので、タンク側板における計測点の視準が上層に
なる程仰角が大きくなり、タンク高さがタンク直
径に比し大きな場合は測定が必ずしも容易ではな
いこと、基線の両サイド（基線を中心として反対
側の意味）にある計測点についても測定を行わね
ばならないので、実務上若干の煩雑さがあつた。
この発明は叙上の問題点を総て改良できた大型タ
ンクの容量測定方法を提供するのをその目的とす
る。
く迅速正確に行え、総て平面座標を使用するので
高度角の測定が不要であり、得た平面座標より最
小二乗法により半径を算出するので、タンク容量
が従来より正確に算出でき、又レーザーセオドラ
イトは総てタンク側板に取付けるので、取付けが
安定であり、従つて測定結果も正確である等幾多
の利点はあるが、この場合、基線と２本のレーザ
ー光線で構成される投影平面三角形は略直角三角
形を成しており、一方三角測量法として最も精度
の良いのは正三角形であることを勘案すると、こ
の点なお改良の余地があること、又基線から最も
離れた1/4円周の範囲を基線の両側に亘つて測定
しなければならないこと、又、２個のレーザーセ
オドライトの設定位置がタンクの略直径上にある
ので、タンク側板における計測点の視準が上層に
なる程仰角が大きくなり、タンク高さがタンク直
径に比し大きな場合は測定が必ずしも容易ではな
いこと、基線の両サイド（基線を中心として反対
側の意味）にある計測点についても測定を行わね
ばならないので、実務上若干の煩雑さがあつた。
この発明は叙上の問題点を総て改良できた大型タ
ンクの容量測定方法を提供するのをその目的とす
る。
以下この発明にかゝる大型タンクの容量測定方
法を詳細に述べると、第５図イにおいて被測定タ
ンク１の最下層タンク側板の内周を略３等分し
てレーザーセオドライト取付位置A0，B0，C0を
決め、タンク内壁に、例えばマグネツト式レーザ
ーセオドライト用架台A′B′C′((この架台の一例
の拡大図を第５図ロ，ハに示す))を夫々取付け、
その内の２箇所の位置A0，B0の側板内架台A′，
B′に夫々レーザーセオドライトＡ，Ｂを載せ各
架台に予め取付けてある測点A1，B1に合わせて
整準させる。測点A1，B1，C1は側板内架台A′，
B′，C′にそれぞれ付設されており、安定性の良く
ないタンク底板に別に測点を定める必要はない。
測点は発光ダイオードによる点光源式マークを用
いる。測点A1，B1間の水平距離ｍは光波距離計
を使用して測定するが、底板が真平で水平距離が
測定できる場合は鋼製巻尺による測定も可能であ
る。そして先ずレーザーセオドライトＡ，Ｂより
基線A1B1と測点C1とのなす水平角γ1，γ2を測定
する。
法を詳細に述べると、第５図イにおいて被測定タ
ンク１の最下層タンク側板の内周を略３等分し
てレーザーセオドライト取付位置A0，B0，C0を
決め、タンク内壁に、例えばマグネツト式レーザ
ーセオドライト用架台A′B′C′((この架台の一例
の拡大図を第５図ロ，ハに示す))を夫々取付け、
その内の２箇所の位置A0，B0の側板内架台A′，
B′に夫々レーザーセオドライトＡ，Ｂを載せ各
架台に予め取付けてある測点A1，B1に合わせて
整準させる。測点A1，B1，C1は側板内架台A′，
B′，C′にそれぞれ付設されており、安定性の良く
ないタンク底板に別に測点を定める必要はない。
測点は発光ダイオードによる点光源式マークを用
いる。測点A1，B1間の水平距離ｍは光波距離計
を使用して測定するが、底板が真平で水平距離が
測定できる場合は鋼製巻尺による測定も可能であ
る。そして先ずレーザーセオドライトＡ，Ｂより
基線A1B1と測点C1とのなす水平角γ1，γ2を測定
する。
最下層タンク側板の内周の分割点Poの内、
第５図イに示すように、該基線A1B1から最も離
れた部分の1/3円周の範囲Z5にある点の一つP1を
通る鉛直線G1上に、別にタンク底板２の中心附
近に立設した俯仰自在の計測用レベルマーク投影
器Ｄにより長方形のレベルマーク３を照射する。
レベルマーク３は第４図イに示すように、上記熔
接線４と下部熔接線５との間の高さＨを４等分
し、夫々上下熔接線から1/4Ｈの所に照射される。
((レベルマーク投影器はズームレンズを用いて上
下間隔が１：２：１の横長のスリツトを通し、光
をタンク壁面に投光し、第４図イのとおり、上下
２個のマークをタンク側板の上下の熔接線に一致
するように調節すると、中の２個のレベルマーク
は自動的にタンク側板の上下1/4のレベルを示す
機構になつており、各層毎に一定の高さにおける
計測点が得られる。なお、又被測定タンクが古る
く或はタンク内壁に塗料が塗布されるなどして熔
接線４，５が一見判然としないような場合はレベ
ルマーク投影器のスリツトは第４図ロに示すよう
に、上下の熔接線を越す長さを有する縦長の一個
のスリツト６に形成し該スリツト６の一側に上下
の熔接線４，５の位置に突起７，１０（突起の代
りに溝でもよい）を又突起７の下方の1/4Ｈの所
に突起８を更に1/2Ｈ下方の所に突起９を設けた
ものにしてもよい。この場合、突起８，９がレベ
ルマーク３に相当する。なお、この縦長のスリツ
ト６によると上下の熔接線４，５が比較的容易に
見付け得る)) 次いで、レーザーセオドライトＡより該レベル
マーク３を照射し、レーザーセオドライトの水平
角の読みを度又は分単位に合うよう、多少左右に
回動し、長方形のレベルマーク３中には計測点３
１を決め、基線A1B1とのなす水平角αを測定し、
この水平角αは以後変化しないように設定する。
次いで、該計測点３1（レーザーセオドライトＡの
レーザー光で光つている点）を他のレーザーセオ
ドライトＢ((第５図ハ参照))で照射、追尾してレ
ーザービームを合わせ、同時に望遠鏡の十字線で
視準し、基線A1B1とのなす水平角βを測定する。
第５図イに示すように、該基線A1B1から最も離
れた部分の1/3円周の範囲Z5にある点の一つP1を
通る鉛直線G1上に、別にタンク底板２の中心附
近に立設した俯仰自在の計測用レベルマーク投影
器Ｄにより長方形のレベルマーク３を照射する。
レベルマーク３は第４図イに示すように、上記熔
接線４と下部熔接線５との間の高さＨを４等分
し、夫々上下熔接線から1/4Ｈの所に照射される。
((レベルマーク投影器はズームレンズを用いて上
下間隔が１：２：１の横長のスリツトを通し、光
をタンク壁面に投光し、第４図イのとおり、上下
２個のマークをタンク側板の上下の熔接線に一致
するように調節すると、中の２個のレベルマーク
は自動的にタンク側板の上下1/4のレベルを示す
機構になつており、各層毎に一定の高さにおける
計測点が得られる。なお、又被測定タンクが古る
く或はタンク内壁に塗料が塗布されるなどして熔
接線４，５が一見判然としないような場合はレベ
ルマーク投影器のスリツトは第４図ロに示すよう
に、上下の熔接線を越す長さを有する縦長の一個
のスリツト６に形成し該スリツト６の一側に上下
の熔接線４，５の位置に突起７，１０（突起の代
りに溝でもよい）を又突起７の下方の1/4Ｈの所
に突起８を更に1/2Ｈ下方の所に突起９を設けた
ものにしてもよい。この場合、突起８，９がレベ
ルマーク３に相当する。なお、この縦長のスリツ
ト６によると上下の熔接線４，５が比較的容易に
見付け得る)) 次いで、レーザーセオドライトＡより該レベル
マーク３を照射し、レーザーセオドライトの水平
角の読みを度又は分単位に合うよう、多少左右に
回動し、長方形のレベルマーク３中には計測点３
１を決め、基線A1B1とのなす水平角αを測定し、
この水平角αは以後変化しないように設定する。
次いで、該計測点３1（レーザーセオドライトＡの
レーザー光で光つている点）を他のレーザーセオ
ドライトＢ((第５図ハ参照))で照射、追尾してレ
ーザービームを合わせ、同時に望遠鏡の十字線で
視準し、基線A1B1とのなす水平角βを測定する。
このような水平角α，βの測定は、前記計測用
レベルマーク投影器Ｄにより各層タンク側板の上
下熔接線から1/4Ｈの所に求めた計測点３o，３n
（第４図参照）について行う。この場合レーザー
セオドライトＡで測定した水平角αは一定である
が、レーザーセオドライトＢで測定した水平角β
はタンクの形状に応じ微小ながら変化する。
レベルマーク投影器Ｄにより各層タンク側板の上
下熔接線から1/4Ｈの所に求めた計測点３o，３n
（第４図参照）について行う。この場合レーザー
セオドライトＡで測定した水平角αは一定である
が、レーザーセオドライトＢで測定した水平角β
はタンクの形状に応じ微小ながら変化する。
この水平角α，βの測定は範囲Z5中にある分割
点Po（即ちP2，P3についても同様に行う。
点Po（即ちP2，P3についても同様に行う。
次に前記位置Ｃの側板内壁にもレーザーセオド
ライトＣを、レーザーセオドライトＡ，Ｂにおけ
ると同様に、マグネツト架台C′に載せて測点C1
に合わせて整準する。なおこの場合のレーザーセ
オドライトは全く新しいものでもよいし、前記レ
ーザーセオドライトＡ，Ｂの内、レーザーセオド
ライトＡはそのまゝにして置いて、レーザーセオ
ドライトＢをマグネツト架台B′から外して位置
C0の側板内壁のマグネツト架台C′に載せて測点
C1に合わせて整準し、前記レーザーセオドライ
トＣとしてもよい。
ライトＣを、レーザーセオドライトＡ，Ｂにおけ
ると同様に、マグネツト架台C′に載せて測点C1
に合わせて整準する。なおこの場合のレーザーセ
オドライトは全く新しいものでもよいし、前記レ
ーザーセオドライトＡ，Ｂの内、レーザーセオド
ライトＡはそのまゝにして置いて、レーザーセオ
ドライトＢをマグネツト架台B′から外して位置
C0の側板内壁のマグネツト架台C′に載せて測点
C1に合わせて整準し、前記レーザーセオドライ
トＣとしてもよい。
このようにしてレーザーセオドライトＡとＣと
で、前述のレーザーセオドライトＡ，Ｂとで測定
した仕方と全く同じ測定法を行つて、基線A1C1
から最も離れた部分の1/3円周の範囲Z6にある分
割点Po、（即ち点P4，P5，P6）について水平角
α′，β′を求める。
で、前述のレーザーセオドライトＡ，Ｂとで測定
した仕方と全く同じ測定法を行つて、基線A1C1
から最も離れた部分の1/3円周の範囲Z6にある分
割点Po、（即ち点P4，P5，P6）について水平角
α′，β′を求める。
次に、位置B0C0における側板内壁にマグネツ
ト架台により取付けたレーザーセオドライトを使
用して基線B1C1から最も離れた部分の1/3円周の
範囲Z7にある分割点Po、即ちP7，P8，P9につい
て基線B1C1に対する水平角α″，β″を測定する。
なおこの場合、前述したように、位置B0にあつ
たレーザーセオドライトを位置C0に移し、レー
ザーセオドライトＣとして使用した場合はレーザ
ーセオドライトＣはそのまゝにして位置A0にあ
るレーザーセオドライトＡを位置B0に移してレ
ーザーセオドライトＢとして使用する。即ち、レ
ーザーセオドライトは３個用意して測定しても２
個用意して置いて順々に動かして測定しても何れ
でもよい。
ト架台により取付けたレーザーセオドライトを使
用して基線B1C1から最も離れた部分の1/3円周の
範囲Z7にある分割点Po、即ちP7，P8，P9につい
て基線B1C1に対する水平角α″，β″を測定する。
なおこの場合、前述したように、位置B0にあつ
たレーザーセオドライトを位置C0に移し、レー
ザーセオドライトＣとして使用した場合はレーザ
ーセオドライトＣはそのまゝにして位置A0にあ
るレーザーセオドライトＡを位置B0に移してレ
ーザーセオドライトＢとして使用する。即ち、レ
ーザーセオドライトは３個用意して測定しても２
個用意して置いて順々に動かして測定しても何れ
でもよい。
このようにして、３本の基線A1B1，C1A1，
B1C1から、夫々最も離れている1/3円周の範囲
Z5，Z6，Z7の範囲にある分割点Po、即ちP1〜P3，
P4〜P6，P7〜P9を通る鉛直線Go上の、各側板毎
の計測点３1の平面座標を夫々の基線A1B1，
C1A1，R1C1に対する水平角α，β；α′，β′；α″，
β″より平面座標を求め、一つの基線、例えば基線
A1B1、以外の基線C1A1及びB1C1に対する平面座
標は、これを座標変換し、基線A1B1の位置にて
測定した平面座標の値と併せて各レベル毎に最小
二乗法により最適円の半径を算出し、各層の側板
の既知の高さＨより各層別の容量を求め次いでタ
ンク全体の容量を算出するものである。
B1C1から、夫々最も離れている1/3円周の範囲
Z5，Z6，Z7の範囲にある分割点Po、即ちP1〜P3，
P4〜P6，P7〜P9を通る鉛直線Go上の、各側板毎
の計測点３1の平面座標を夫々の基線A1B1，
C1A1，R1C1に対する水平角α，β；α′，β′；α″，
β″より平面座標を求め、一つの基線、例えば基線
A1B1、以外の基線C1A1及びB1C1に対する平面座
標は、これを座標変換し、基線A1B1の位置にて
測定した平面座標の値と併せて各レベル毎に最小
二乗法により最適円の半径を算出し、各層の側板
の既知の高さＨより各層別の容量を求め次いでタ
ンク全体の容量を算出するものである。
この実施例では各範囲Z5，Z6，Z7中の計測点を
３個にしたが、３個に限らないものとする。
３個にしたが、３個に限らないものとする。
なお、この発明方法において、座標変換を行な
い、最小二乗法を適用する理由は、先づ基線
A1B1をｘ軸として基線A1B1の一側の計測点水平
角を測定して該計測点の平面座標を求めると云う
ことは、第６図イにおいて原点をA1として計測
点P1，P2，P3、の平面座標を求めることであり、
基線C1A1をｘ軸として基線C1A1の一側の計測点
の水平角を測定して該計測点の平面座標を求める
ことは、第６図ロにおいて原点をC1として計測
点P4，P5，P6、の平面座標を求めることであり、
基線B1C1をｘ軸として基線B1C1の一側の計測点
の水平角を測定して該計測点の平面座標を求める
と云うことは、第６図ハにおいて原点をB1とし
て計測点P7，P8，P9の平面座標を求めることで
ある。
い、最小二乗法を適用する理由は、先づ基線
A1B1をｘ軸として基線A1B1の一側の計測点水平
角を測定して該計測点の平面座標を求めると云う
ことは、第６図イにおいて原点をA1として計測
点P1，P2，P3、の平面座標を求めることであり、
基線C1A1をｘ軸として基線C1A1の一側の計測点
の水平角を測定して該計測点の平面座標を求める
ことは、第６図ロにおいて原点をC1として計測
点P4，P5，P6、の平面座標を求めることであり、
基線B1C1をｘ軸として基線B1C1の一側の計測点
の水平角を測定して該計測点の平面座標を求める
と云うことは、第６図ハにおいて原点をB1とし
て計測点P7，P8，P9の平面座標を求めることで
ある。
そしてこの測定は何れも基線A1B1，C1A1，
B1C1から最も離れた部分の1/3円周の範囲にある
計測点における測定であると云う点では、例え
ば、第６図イにおいて基線A1B1の端部から計測
点P9或いはP4について測定するような、視準し
難い測定によつて得られるものより、正確度の高
い測定結果が得られることは確かであるが、座標
系の異なるそれぞれのデータは、何れも異なつた
範囲Z5，Z6，Z7の1/3円の形状を示すに過ぎず、
各座標系毎に夫々1/3円のデータのみで全円の半
径を算出してもそれは第７図に示すような点P1
〜P9の測定値より夫々異つた三つの円を決定し
ようとするものに等しく正確度は悪く、全円の形
状に適合した計算を行なうには何れか一つの座標
系にデータの座標変換を行ない一元的に計算処理
することが肝要であり、従つて、計測点P4，P5，
P6、P7，P8，P9の平面座標の座標変換を行い、
総ての計測点の平面座標を第８図に示すように、
恰も測点A1，B1からP1，P2，P3，P4，P5，P6，
P7，P8，P9を視準して得た様な値にし、基線
A1B1の回りに略円をなして散在する全測定点よ
り正確度の高い一つの円（最適円）の半径を、精
度高く求められる数学的手法である最小二乗法に
よつて求めるのである。
B1C1から最も離れた部分の1/3円周の範囲にある
計測点における測定であると云う点では、例え
ば、第６図イにおいて基線A1B1の端部から計測
点P9或いはP4について測定するような、視準し
難い測定によつて得られるものより、正確度の高
い測定結果が得られることは確かであるが、座標
系の異なるそれぞれのデータは、何れも異なつた
範囲Z5，Z6，Z7の1/3円の形状を示すに過ぎず、
各座標系毎に夫々1/3円のデータのみで全円の半
径を算出してもそれは第７図に示すような点P1
〜P9の測定値より夫々異つた三つの円を決定し
ようとするものに等しく正確度は悪く、全円の形
状に適合した計算を行なうには何れか一つの座標
系にデータの座標変換を行ない一元的に計算処理
することが肝要であり、従つて、計測点P4，P5，
P6、P7，P8，P9の平面座標の座標変換を行い、
総ての計測点の平面座標を第８図に示すように、
恰も測点A1，B1からP1，P2，P3，P4，P5，P6，
P7，P8，P9を視準して得た様な値にし、基線
A1B1の回りに略円をなして散在する全測定点よ
り正確度の高い一つの円（最適円）の半径を、精
度高く求められる数学的手法である最小二乗法に
よつて求めるのである。
この方法によると、出願人が特願昭56−123590
号（特開昭58−30984号）として先に提案した方
法に比し、基線が３本あり、その形状は略正三角
形（角が略60と云うこと）を成しており、三角測
量法上最も精度の良い測定が行なえ、更に各計測
点の測定に際し、基線と２本のレーザー光線で構
成される投影平面三角形は、略直角三角形の形状
から正三角形に近い形状となり測定精度は更に良
くなり、又基線に対し一側のみの測定であり、タ
ンク上部を視準する場合でも相対的に仰角が小さ
く計測作業も一層容易になる。
号（特開昭58−30984号）として先に提案した方
法に比し、基線が３本あり、その形状は略正三角
形（角が略60と云うこと）を成しており、三角測
量法上最も精度の良い測定が行なえ、更に各計測
点の測定に際し、基線と２本のレーザー光線で構
成される投影平面三角形は、略直角三角形の形状
から正三角形に近い形状となり測定精度は更に良
くなり、又基線に対し一側のみの測定であり、タ
ンク上部を視準する場合でも相対的に仰角が小さ
く計測作業も一層容易になる。
なお一平面上の計測点の各水平角α，βが得ら
れた時、この計測値を使用して最適円の半径を算
出する計算の手順は下記の通りである。
れた時、この計測値を使用して最適円の半径を算
出する計算の手順は下記の通りである。
(i) 基線A1B1をｘ軸、A1を原点として計測点P1
について測定した水平角α，βより計測点P1
の平面座標を下式によつて求める。((第６図
イ、を原点とする第１１図参照)) xP1＝cosαsinβ／sin（α＋β）m1、yP1＝sinαsin
β／sin（α＋β）m1 上式においてαは測点A1における水平角、 βは測点B1における水平角、 m1は基線A1B1の長さ （なお計測点P2，P3についても同様に求める） (ii) 同様に基線C1A1をｘ軸、C1を原点として計
測点P5について測定した水平角α′，β′より計測
点P4の平面座標を下式によつて求める。((第
６図ロ、を原点とする第１１図参照)) α′P4＝cosα′sinβ′／sin（α′＋β′）m2、 y′P4＝sinα′sinβ′／sin（α′＋β′）m2 （なお計測点P5，P6についても同様に求める） (iii) 同線に基線B1C1をｘ軸、B1を原点として計
測点P9について測定した水平角α″，β″により
計測点P7の平面座標を下式によつて求める((
第６図ハ、を原点とする第１１図参照)) x″P7＝cosα″sinβ″／sin（α″＋β″）m3、 y″P7＝sinα″sinβ″／sin（α″＋β″）m3 （なお計測点P8，P9についても同様に求める） (iv) そこで基線C1A1をｘ軸として得た座標を基
線A1B1をｘ軸とする座標系に変換した値を下
記の式で求める。
について測定した水平角α，βより計測点P1
の平面座標を下式によつて求める。((第６図
イ、を原点とする第１１図参照)) xP1＝cosαsinβ／sin（α＋β）m1、yP1＝sinαsin
β／sin（α＋β）m1 上式においてαは測点A1における水平角、 βは測点B1における水平角、 m1は基線A1B1の長さ （なお計測点P2，P3についても同様に求める） (ii) 同様に基線C1A1をｘ軸、C1を原点として計
測点P5について測定した水平角α′，β′より計測
点P4の平面座標を下式によつて求める。((第
６図ロ、を原点とする第１１図参照)) α′P4＝cosα′sinβ′／sin（α′＋β′）m2、 y′P4＝sinα′sinβ′／sin（α′＋β′）m2 （なお計測点P5，P6についても同様に求める） (iii) 同線に基線B1C1をｘ軸、B1を原点として計
測点P9について測定した水平角α″，β″により
計測点P7の平面座標を下式によつて求める((
第６図ハ、を原点とする第１１図参照)) x″P7＝cosα″sinβ″／sin（α″＋β″）m3、 y″P7＝sinα″sinβ″／sin（α″＋β″）m3 （なお計測点P8，P9についても同様に求める） (iv) そこで基線C1A1をｘ軸として得た座標を基
線A1B1をｘ軸とする座標系に変換した値を下
記の式で求める。
（第１１図参照）
xP4＝x′P4cos（180−γ1）
＋y′P4sin（180−γ1）＋m2cosγ1
yP4＝−x′P4sin（180−γ1）
＋y′P4cos（180−γ1）＋m2sinγ2
(v) 基線B1C1をｘ軸として得た座標を基線A1B1
をｘ軸とする座標系に変換した値を下記の式で
求める。
をｘ軸とする座標系に変換した値を下記の式で
求める。
（第１１図参照）
xP7＝x″P7cos（180＋γ2）
＋y″P7sin（180＋γ2）＋m1
yP7＝−x″P7cos（180＋γ2）
＋y″P7cos（180＋γ2）
上記(i)(iv)(v)で求めた計測点の座標の値から各レ
ベル毎に最小二乗法で最適円の半径を求める。
ベル毎に最小二乗法で最適円の半径を求める。
最小二乗法による解法は色々あるが次にその一
例を示す。
例を示す。
第９図に示すように計測点P1〜P5の平面座標
が求められたとして、それらによつて形成される
最適円（甲）の中心の座標ｓ，ｔ、半径ｒを最小
二乗法により求める。第９図において、計測点
P1〜Pi〜P5の平面座標P1（x1，y1），P2（x2，y2）
……Pi（xi，yi）……P5（x5，y5）が形成する最適
円のxy座標上における中心座標をｓ，ｔ、半径
をｒとすると最適円上の点Ｐ（ｘ，ｙ）は（ｘ−
ｓ）2＋（ｙ−ｔ）2＝r2で表わされる。各計測点Piの
座標標値より上記ｓ，ｔ，ｒを求めるため、下式
のＶを最小にするｓ，ｔ，ｒを求める。
が求められたとして、それらによつて形成される
最適円（甲）の中心の座標ｓ，ｔ、半径ｒを最小
二乗法により求める。第９図において、計測点
P1〜Pi〜P5の平面座標P1（x1，y1），P2（x2，y2）
……Pi（xi，yi）……P5（x5，y5）が形成する最適
円のxy座標上における中心座標をｓ，ｔ、半径
をｒとすると最適円上の点Ｐ（ｘ，ｙ）は（ｘ−
ｓ）2＋（ｙ−ｔ）2＝r2で表わされる。各計測点Piの
座標標値より上記ｓ，ｔ，ｒを求めるため、下式
のＶを最小にするｓ，ｔ，ｒを求める。
Ｖ＝Σi｛（xi−ｓ）2＋（yi−ｔ）2γ2｝2
＝Σi｛Ｚ｝2 ……(1)
（上式にて Ｚ＝x2 1−2sxi＋s2＋y2 i−2tyi＋t2−
r2） よつて、最小二乗法の計算順序に則り、先ず(1)
式を偏微分して、 ∂V／∂s＝2Σi｛Σ（−2xi＋2s）｝≡０ ……(2) ∂V／∂t＝2Σi｛Σ（−2yi＋2t）｝≡０ ……(3) ∂V／∂r＝2Σi｛Σ（−2r）｝≡０ ……(4) を得、 (2)、(3)、(4)式より(1)のＶを最小にするｓ、ｔ、
ｒを次式により求めればよい。
r2） よつて、最小二乗法の計算順序に則り、先ず(1)
式を偏微分して、 ∂V／∂s＝2Σi｛Σ（−2xi＋2s）｝≡０ ……(2) ∂V／∂t＝2Σi｛Σ（−2yi＋2t）｝≡０ ……(3) ∂V／∂r＝2Σi｛Σ（−2r）｝≡０ ……(4) を得、 (2)、(3)、(4)式より(1)のＶを最小にするｓ、ｔ、
ｒを次式により求めればよい。
ｓ＝Ｂ−2C・ｔ／2A
ｔ＝Ａ（Σxiy2／1−１／ｎΣxiΣy2／1−１／
ｎΣxiΣx2／1＋Σx3／1）−Ｂ・Ｄ／２（Ａ−CD）……
(6) なお上式において、 Ａ＝Σxiyi−１／ｎΣxiΣyi Ｂ＝Σy3 1−１／ｎΣyiΣy2 1−１／ｎΣx2 1Σyi
＋Σx2 1yi Ｃ＝Σy2 1−１／ｎ（Σyi）2 Ｄ＝Σx2 1−１／ｎ（Σxi）2 である。
ｎΣxiΣx2／1＋Σx3／1）−Ｂ・Ｄ／２（Ａ−CD）……
(6) なお上式において、 Ａ＝Σxiyi−１／ｎΣxiΣyi Ｂ＝Σy3 1−１／ｎΣyiΣy2 1−１／ｎΣx2 1Σyi
＋Σx2 1yi Ｃ＝Σy2 1−１／ｎ（Σyi）2 Ｄ＝Σx2 1−１／ｎ（Σxi）2 である。
なお一例として第１０図に示すような、中心の
座標ｓ＝８、ｔ＝６の円を想定し、この円周上の
点、例えば５点P1〜P5を図上で測定してこの５
点の座標が P1（4.0、15.2）、P2（14.0、14.0）、 P3（17.5、2.9）、P4（10.0、−3.8）、 P5（−1.5、2.9） であつたとし、最小二乗法によつて上記５点の測
定値から最適円のｓ、ｔ、ｒを求めると、ｓ＝
7.95、ｔ＝6.01、ｒ＝10.01を得るのでこの発明方
法の優秀さも理解されよう。
座標ｓ＝８、ｔ＝６の円を想定し、この円周上の
点、例えば５点P1〜P5を図上で測定してこの５
点の座標が P1（4.0、15.2）、P2（14.0、14.0）、 P3（17.5、2.9）、P4（10.0、−3.8）、 P5（−1.5、2.9） であつたとし、最小二乗法によつて上記５点の測
定値から最適円のｓ、ｔ、ｒを求めると、ｓ＝
7.95、ｔ＝6.01、ｒ＝10.01を得るのでこの発明方
法の優秀さも理解されよう。
この発明方法によると、出願人が特願昭56−
123590号（特開昭58−30984号）として先に提案
した方法に比し、各レーザーセオドライトからタ
ンク壁面までの距離が大きく、大体タンク直径の
３／４位あるので、タンク側板の上層部をレーザー
セオドライトで視準する場合、仰角が比較的小さ
く又、基線の片側に対してのみ計測を行うので、
測定作業が楽であり、精度もよく大型タンク容量
測定方法として下記のような特別顕著な効果を奏
する。
123590号（特開昭58−30984号）として先に提案
した方法に比し、各レーザーセオドライトからタ
ンク壁面までの距離が大きく、大体タンク直径の
３／４位あるので、タンク側板の上層部をレーザー
セオドライトで視準する場合、仰角が比較的小さ
く又、基線の片側に対してのみ計測を行うので、
測定作業が楽であり、精度もよく大型タンク容量
測定方法として下記のような特別顕著な効果を奏
する。
１ ３個の測点を結ぶ平面の形状は略正三角形を
なしており、三角測量法上最も精度の良い測量
が行なえる。
なしており、三角測量法上最も精度の良い測量
が行なえる。
２ 各計測点の計測に際し、該基線と２本のレー
ザー光線とで構成される投影平面三角形は何れ
も鋭角三角形を呈し直角三角形より正三角形の
形状に近く高精度の測定が行なえる。
ザー光線とで構成される投影平面三角形は何れ
も鋭角三角形を呈し直角三角形より正三角形の
形状に近く高精度の測定が行なえる。
３ 少なくとも２台のレーザーセオドライトを使
用し１台のレーザーセオドライトで照射したタ
ンク側板内壁を他の１台のレーザーセオドライ
トで照射視準するので、暗いタンク内において
計測点を間違いなく迅速正確に決めて計測する
ことができること。
用し１台のレーザーセオドライトで照射したタ
ンク側板内壁を他の１台のレーザーセオドライ
トで照射視準するので、暗いタンク内において
計測点を間違いなく迅速正確に決めて計測する
ことができること。
４ 円周計測点の計算処理には立体座標でなく平
面座標を適用するので、高度角の測定が不要で
あり、従つて作業性がよく、計算精度もよいこ
と。
面座標を適用するので、高度角の測定が不要で
あり、従つて作業性がよく、計算精度もよいこ
と。
５ 従来法のように基線を中心としてタンクの直
径線上で真反対位置にある側壁に計測点を求め
る必要がなく、各レベル毎にタンク側板上の複
数個の計測点から数学的手法である最小二乗法
により最適円の半径を算出するので、従来法の
ように、タンクの底板の中心を正確に求めるこ
とが殆んど不可能な大型タンクでも、敢えて直
径線上の２個の計測点より直径を求める測定方
法が、常に直径が小さく測定され勝で、従つて
タンク容量も過小に計算され勝である欠点を払
拭できること。
径線上で真反対位置にある側壁に計測点を求め
る必要がなく、各レベル毎にタンク側板上の複
数個の計測点から数学的手法である最小二乗法
により最適円の半径を算出するので、従来法の
ように、タンクの底板の中心を正確に求めるこ
とが殆んど不可能な大型タンクでも、敢えて直
径線上の２個の計測点より直径を求める測定方
法が、常に直径が小さく測定され勝で、従つて
タンク容量も過小に計算され勝である欠点を払
拭できること。
６ タンク底板は計測上非常に不安定で、大型タ
ンクになるとその不安定さは増し、歩くとその
周辺数米に亘つて上下動する位であるので、こ
のような底板上にセオドライトを置いてその周
囲を動き廻つては正確な測定は出来ないが、こ
の発明において使用するレーザーセオドライト
は総て非常に安定したタンク側板に取付けるの
でその心配はないこと。
ンクになるとその不安定さは増し、歩くとその
周辺数米に亘つて上下動する位であるので、こ
のような底板上にセオドライトを置いてその周
囲を動き廻つては正確な測定は出来ないが、こ
の発明において使用するレーザーセオドライト
は総て非常に安定したタンク側板に取付けるの
でその心配はないこと。
７ 従来法はタンク側板上の計測点の高度角を測
定して立体座標を求める関係上基線チは長く取
れず、長く取ると基線チの両端からの高度角の
測定は困難となり、測定精度が落ちるが、この
発明方法では基線片側の該基線から最も離れて
いる1/3円周部分の範囲にある計測点の水平角
の測定のみであるため、精度の高い容量の測定
ができること。
定して立体座標を求める関係上基線チは長く取
れず、長く取ると基線チの両端からの高度角の
測定は困難となり、測定精度が落ちるが、この
発明方法では基線片側の該基線から最も離れて
いる1/3円周部分の範囲にある計測点の水平角
の測定のみであるため、精度の高い容量の測定
ができること。
８ 三本の基線より、夫々高精度の計測が可能な
範囲においてタンク側壁の複数個の計測点の平
面座標を得、二つの基線上の測定値を他の基線
上の座標値に座標変換してこれらの数値から最
小二乗法で半径を求めるので被測定タンクの形
状に対応する一番的確な最適半径が求められ、
正しいタンク容量の測定ができること。
範囲においてタンク側壁の複数個の計測点の平
面座標を得、二つの基線上の測定値を他の基線
上の座標値に座標変換してこれらの数値から最
小二乗法で半径を求めるので被測定タンクの形
状に対応する一番的確な最適半径が求められ、
正しいタンク容量の測定ができること。
９ レベルマークはタンク側板の上下熔接線より
１／４Ｈ（Ｈは側板の高さ）の所に、レベルマーク
投影器で正確にその位置を照射するので側板の
計測点の高さが各層毎全周に亘り一定であり、
精度の高い計測ができること。
１／４Ｈ（Ｈは側板の高さ）の所に、レベルマーク
投影器で正確にその位置を照射するので側板の
計測点の高さが各層毎全周に亘り一定であり、
精度の高い計測ができること。
第１図イ，ロはレーザーセオドライトを使用し
てタンク容量を計測する従来の方法の説明図、第
２図は従来法の欠点の説明図、第３図は出願人が
先に提案した大型タンクの容量測定法の説明図、
第４図イ，ロは２種類のレベルマーク照射の説明
図、第５図イはこの発明に係る大型タンクの容量
測定方法の説明図、ロ，ハはレーザーレオドライ
ト及びその架台の説明図、第６図はこの発明方法
の測定仕方の説明図、第７図、第８図はこの発明
方法において座標変換をする理由の説明図、第９
図は最小二乗法を実施するための式の記号関係を
明らかにする説明図、第１０図は最小二乗法計算
を取入れることの有利性を明らかにするための説
明図、第１１図は座標変換式中の符号を明らかに
するための説明図を夫々示し、１は被測定タン
ク、２はタンク底板、３はレベルマーク、３1〜
３oは計測点、Ａ，Ｂはレーザーセオドライト、
A1B1は測点、A0，B0，C0はレーザーセオドライ
ト取付位置、A2，B2，C2はレーザーセオドライ
ト取付部、A1B1，C1A1，B1C1は基線、Ｄは計測
用レベルマーク投影器、Goは等分点を通る鉛直
線、G1は分割点P1を通る鉛直線、P1は範囲Z5内
にある分割点の一つ、Ｈは側板の高さ、Z5は基線
A1B1から最も離れている1/3円周の範囲、はタ
ンク側板最下層、，はタンク側板各層、γ1γ2
は測点A1，B1に対する測点C1の水平角を夫々示
す。
てタンク容量を計測する従来の方法の説明図、第
２図は従来法の欠点の説明図、第３図は出願人が
先に提案した大型タンクの容量測定法の説明図、
第４図イ，ロは２種類のレベルマーク照射の説明
図、第５図イはこの発明に係る大型タンクの容量
測定方法の説明図、ロ，ハはレーザーレオドライ
ト及びその架台の説明図、第６図はこの発明方法
の測定仕方の説明図、第７図、第８図はこの発明
方法において座標変換をする理由の説明図、第９
図は最小二乗法を実施するための式の記号関係を
明らかにする説明図、第１０図は最小二乗法計算
を取入れることの有利性を明らかにするための説
明図、第１１図は座標変換式中の符号を明らかに
するための説明図を夫々示し、１は被測定タン
ク、２はタンク底板、３はレベルマーク、３1〜
３oは計測点、Ａ，Ｂはレーザーセオドライト、
A1B1は測点、A0，B0，C0はレーザーセオドライ
ト取付位置、A2，B2，C2はレーザーセオドライ
ト取付部、A1B1，C1A1，B1C1は基線、Ｄは計測
用レベルマーク投影器、Goは等分点を通る鉛直
線、G1は分割点P1を通る鉛直線、P1は範囲Z5内
にある分割点の一つ、Ｈは側板の高さ、Z5は基線
A1B1から最も離れている1/3円周の範囲、はタ
ンク側板最下層、，はタンク側板各層、γ1γ2
は測点A1，B1に対する測点C1の水平角を夫々示
す。
Claims (1)
- １ 被測定タンク１の最下層タンク側板の内周
を略３等分してレーザーセオドライト取付位置
A0，B0，C0を決めてその附近のタンク内壁にレ
ーザーセオドライト用架台A′，B′，C′を取付け、
該架台のレーザーセオドライト取付部A2，B2，
C2の直下に測点A1，B1，C1を設置し、その内の
２箇所の位置A0，B0の架台に夫々レーザーセオ
ドライトＡ，Ｂを載せ、該レーザーセオドライト
の直下の測点A1，B1に合せて整準し、測点A1，
B1間の水平距離を基線A1B1として測定し、先ず、
測点A1，B1における測点C1に対する水平角γ1，
γ2を夫々測定し、最下層タンク側板の内周の適
当な分割点Poの内、該基線A1B1から最も離れて
いる1/3円周の範囲Z5内にある分割点の一つP1を
通る鉛直線G1上の所定位置に、別に底板２の略
中心と判断される点に立設した仰自在の計測用レ
ベルマーク投影器Ｄにより、レベルマーク３を投
写し、前記測点A1上のレーザーセオドライトＡ
より該レベルマーク３内にレーザービームを照射
して計測点３1を決め、該計測点３1の前記基線
A1B1に対する水平角αを測定し、次いで、前記
測点B1上のレーザーセオドライトＢより、該計
測点３1を照射、視準して該計測点３1の基線
A1B1に対する水平角βを測定し、この二つの水
平角α，βの測定は、該計測用レベルマーク投影
器Ｄを、該鉛直線G1に沿つて、タンク１の側板
の各層，，，……に亘り、又前記範囲Z5内
にある他の分割点Ｐの鉛直線Goについても同様
に行い、次いで、上述の位置A0，B0における測
定方法を、位置C0，A0、位置B0，C0の２箇所に
おいても同様に行い、夫々の位置A0，B0，C0に
おいてレーザーセオドライトで測定した前記の各
水平角α，βより前記各分割点Poを通る各鉛直
線Go上にある、タンク側板各層の計測点３′1〜
３oの平面座標を算出し、基線A1B1以外の基線
C1A1；B1C1に対して算出した平面座標はこれを
座標変換して基線AA1B1上での測定相当値に換
算し、基線A1B1の位置にて測定した前記範囲Z5
内にある各計測点３′1〜３oの値と併せて使用し
て最小二乗法により最適円の半径を算出し、各層
の側板の既知の高さＨより各層別の容量を求め、
次いでタンク全体の容量を算出することを特徴と
する大型タンクの容量測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56160115A JPS5861412A (ja) | 1981-10-09 | 1981-10-09 | 大型タンクの容量測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56160115A JPS5861412A (ja) | 1981-10-09 | 1981-10-09 | 大型タンクの容量測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5861412A JPS5861412A (ja) | 1983-04-12 |
| JPH0225122B2 true JPH0225122B2 (ja) | 1990-05-31 |
Family
ID=15708178
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56160115A Granted JPS5861412A (ja) | 1981-10-09 | 1981-10-09 | 大型タンクの容量測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5861412A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101855526B (zh) * | 2007-10-16 | 2014-02-12 | 阿齐兹汽油站服务系统及建造业和商贸有限公司 | 用于形成地下燃料罐的校准图表的方法和装置 |
| RU2470266C2 (ru) * | 2011-03-21 | 2012-12-20 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирская государственная геодезическая академия" (ГОУВПО "СГГА") | Способ градуировки резервуара шарового (сферического) для определения вместимости, соответствующей высоте его наполнения |
| CN103267479B (zh) * | 2013-04-24 | 2015-11-18 | 上海数联空间科技有限公司 | 一种基于油罐的is-ltc激光雷达计量系统 |
| CN103791975B (zh) * | 2013-05-07 | 2017-02-08 | 北京光电技术研究所 | 卧式金属罐容积自动测量装置 |
| RU2662037C1 (ru) * | 2017-09-25 | 2018-07-23 | Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство обороны Российской Федерации | Способ градуировки ёмкости для определения объёмов, соответствующих положению контрольных точек по их высоте |
| CN110230980B (zh) * | 2019-05-05 | 2021-03-16 | 广东省计量科学研究院（华南国家计量测试中心） | 基于三维点云的死量底量测量方法、系统及存储介质 |
| CN110470362B (zh) * | 2019-08-21 | 2024-04-09 | 舟山市质量技术监督检测研究院 | Lng罐底量测量装置及其方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5296050A (en) * | 1976-02-06 | 1977-08-12 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | Method of measuring construction |
-
1981
- 1981-10-09 JP JP56160115A patent/JPS5861412A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5296050A (en) * | 1976-02-06 | 1977-08-12 | Kawasaki Heavy Ind Ltd | Method of measuring construction |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5861412A (ja) | 1983-04-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN105021211B (zh) | 一种基于自准直仪的姿态测试装置及方法 | |
| CN100580374C (zh) | 激光测定方法及激光测定系统 | |
| US7079234B2 (en) | Method for determining the spatial location and position of a reflector rod in relation to a marked ground point | |
| EP0971207B1 (en) | Surveying instrument having a plumbing device | |
| US7359038B1 (en) | Passive determination of ground target location | |
| KR101484528B1 (ko) | 디바이스용 기울기 센서 및 디바이스의 기울기를 결정하기 위한 방법 | |
| JP6910511B2 (ja) | レーザ計測方法、レーザ計測用標識、及び座標算出プログラム | |
| US3736058A (en) | Rotating reflector level rod | |
| CN104215258A (zh) | 一种车载经纬仪测角精度测试方法及系统 | |
| US4641960A (en) | Method for the stereophotogrammetric survey of large-dimension objects on sea and land | |
| JPH0225122B2 (ja) | ||
| US5046259A (en) | Underwater measuring systems and methods | |
| RU2286549C1 (ru) | Способ градуировки резервуара для определения вместимости, соответствующей высоте его наполнения | |
| KR101144200B1 (ko) | 일반도화기에서 사용되는 영상도화이미지의 데어터 수집시스템 | |
| CN108458692A (zh) | 一种近距离三维姿态测量装置及测量方法 | |
| US20130021618A1 (en) | Apparatus and method to indicate a specified position using two or more intersecting lasers lines | |
| CN108662980A (zh) | 基于侧影技术的焊接螺柱位置检测装置及方法 | |
| CN111707229A (zh) | 一种定位定向设备的直角棱镜俯仰和方位角测量调节方法 | |
| JPS6046410A (ja) | 測量装置 | |
| US3049963A (en) | Optical instrument in the nature of a surveying transit | |
| Lundin | Determining the positions of objects located beneath a water surface | |
| RU2147730C1 (ru) | Устройство для топографической съемки | |
| RU2452920C1 (ru) | Оптико-электронный центрир | |
| JPS5830984A (ja) | 大型タンクの容量測定方法 | |
| JPS63145983A (ja) | 船位誘導方法 |