JPH02230434A - Inspecting method for performance of test program - Google Patents

Inspecting method for performance of test program

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JPH02230434A
JPH02230434A JP1051211A JP5121189A JPH02230434A JP H02230434 A JPH02230434 A JP H02230434A JP 1051211 A JP1051211 A JP 1051211A JP 5121189 A JP5121189 A JP 5121189A JP H02230434 A JPH02230434 A JP H02230434A
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JP
Japan
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test
test program
program
performance
items
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JP1051211A
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Japanese (ja)
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Eiji Oguchi
小口 栄治
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To improve the test coverage and the performance of a test program by measuring the test coverage of the test program at debugging carried out via a simulator for the test program and making clear the incomplete test items to compensate this incompleteness. CONSTITUTION:A test program 9 is carried out under the control of a simulation system production means 1 of a computer to be tested, and the input information related to the execution of the program 9 and the output information 2 on the executing result are collected for each executing step. The function items 5 of a test subject are collated with each other based on the collected information 2. The attributes 3 related to the items 5 are inspected, and the ratio of the test enable function items and the attribute limit 4 of the program 9 are inspected to the items 5 and the attributes 3. Thus the performance of the program 9 can be inspected.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 計算機システムの試験プログラムの性能を評価するテス
1・カハレージの測定方法に関し、試験プログラムのテ
ストカパレージを的確に測定することができる試験プロ
グラムの性能検査方法を提供することを目的とし、 計算機システムの機能を試験する試験プログラムの性能
を検査する性能検査方法であって、該試験プログラムが
試験対象とする計算機システムを模擬的に代行する模擬
システム生成手段の管理下で該試験プログラムを実行さ
せ、該試験プログラムの各実行ステップを実行する際に
、そのステップ実行に係わる入力情報と実行結果の出力
情報を収集し、該収集された入出力情報による該計算機
システムの試験対象の機能項目を照合すると共に、その
照合された項目に係わる属性を検証し、該計算機システ
ムの試験対象に設定された機能項目と属性に対し、該試
験プロクラムの試験可能な機能項目の比率と属性限界を
検査するように構成する。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] Regarding a method for measuring Test 1 coverage for evaluating the performance of a test program of a computer system, a test program performance inspection method that can accurately measure the test coverage of a test program is provided. A performance testing method for testing the performance of a test program that tests the functionality of a computer system, the purpose of which is to provide a method for testing the performance of a test program that tests the functionality of a computer system, the test program managing a means for generating a simulated system that simulates the computer system that is the target of the test. The test program is executed below, and when executing each execution step of the test program, input information related to the step execution and output information of the execution result are collected, and the computer system uses the collected input/output information. In addition to collating the functional items to be tested in the computer system, the attributes related to the verified items are verified, and the testable functional items of the test program are verified against the functional items and attributes set as the test target of the computer system. Configure to check ratios and attribute limits.

〔産業」−の利用分野] 本発明は、計算機システムの試験プログラJ・の性能を
評価するテス1・カハレーシの測定方法に関する。
[Field of Use in Industry] The present invention relates to a method for measuring Test 1 Kahaleshi for evaluating the performance of a test program J for a computer system.

近年、計算機によるデータ処理が社会のあらゆる分野に
浸透し、計算機システムの性能、機能が増強されるに伴
い、その性能、機能を十分に試験し、検証することがで
きる試験プログラムが益々、重要になってきている。試
験プ1:1グラムの性能を把握するためには、計算機ハ
ードウエアの全機能の中、試験プログラムがどの範囲ま
で試験し得るかの度合(以下、テスI・カハレーソとい
う)を客観的に測定する必要があり、このテスI・カハ
レージを向上して、計算機ハードウェア機能を遍く試験
できるように試験プログラムを改良することか要求され
る。従って、試験プログラ1、のテス1・カハレージを
客観的に測定するだめの検査方法が望まれでいる。
In recent years, data processing by computers has permeated every field of society, and as the performance and functionality of computer systems has been enhanced, test programs that can adequately test and verify the performance and functionality have become increasingly important. It has become to. Test program 1: In order to understand the performance of 1 gram, it is necessary to objectively measure the extent to which the test program can test among all the functions of the computer hardware. Therefore, it is necessary to improve the test program so that the test I and capacity can be improved and computer hardware functions can be universally tested. Therefore, there is a need for an inspection method that objectively measures the Test 1 coverage of Test Program 1.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のデス[・カハレージの測定方法は、試験プロクラ
ム作成の前段階の、どの機能をどのように試験するかを
決定する機能設計において抽出した試験項l]と、計算
機命令、割込み機構等の機能を規定したハードウエア論
理仕様の範囲との比較により試験プログラムのテス1一
カハレーシの概略値を設定していた。
The conventional method of measuring capacity is to measure test items extracted during the function design process, which determines which functions are to be tested and how, before creating a test program, and functions such as computer instructions and interrupt mechanisms. Approximate values for the test program's test program performance were determined by comparison with the range of the hardware logic specifications that defined the test program.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

」一記のように従来方法によると、機能設計において抽
出した試験項目と、ハードウェア論理仕様の範囲との比
較により試験プログラムのテス1ヘカハレーソを設定す
るので、実際に作成した試験プログラムが論理仕様に規
定された機能に対して実際のハードウェア上でどのよう
な事象を、どのような範囲にわたって発生させ、従って
、ハードウエア機能のどの範囲までの試験を網羅してい
るかが客観的に測定できない。特に、動作モード、命令
、機能等が増強される大型計算機システムにおいて試験
プログラムのテスI・カハレーシの測定が益々、困難と
なり、試験漏れによってハードウェアの設計誤り及び故
障を検出することができないという問題点があった。
According to the conventional method, test items extracted during functional design are compared with the range of hardware logical specifications to set test program test 1, so the actually created test program does not match the logical specifications. It is not possible to objectively measure what kind of events occur on the actual hardware and over what range for the functions specified in . In particular, in large-scale computer systems where operating modes, instructions, functions, etc. are increased, it is becoming increasingly difficult to measure test program test I/Kahlesi, and hardware design errors and failures cannot be detected due to omission of tests. There was a point.

本発明は、試験プログラムのテス1・カハレーシを的確
に測定することができる試験プログラムの性能検査方法
を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a method for testing the performance of a test program that can accurately measure the test program's Test 1 Kahaleshi.

〔課題を解決するための手段] 第1図は本発明の原理フローチャートを示す。[Means to solve the problem] FIG. 1 shows a flow chart of the principle of the present invention.

図において、 ■試験対象の計算機システムを模擬的に代行する模擬シ
ステム生成千段1の管理下で試験対象となる計算機シス
スJ,の複数種の命令を所定の順序で配列した試験プロ
グラム9を実行させる。
In the figure: ■ Creation of a simulated system that simulates the computer system to be tested Execute a test program 9 in which multiple types of instructions for the computer system J to be tested are arranged in a predetermined order under the control of Sendan 1 let

■模擬システム生成手段1は試験プログラム9の1実行
ステップを実行する際に、実行に係わる入力情報と実行
結果の出力情報2を収集する。
(2) When the simulated system generating means 1 executes one execution step of the test program 9, it collects input information related to the execution and output information 2 of the execution result.

■収集した入出力情報2による計算機システムの試験対
象の機能項目5を照合し、 ■その照合された機能項目5に係わる属性3を検証し、 ■計算機システムの試験対象に設定された機能項1]5
と属性3に対し、試験プログラム9の試験可能な機能項
目の比率と属性限界4を検査する。
■Verify the functional item 5 to be tested in the computer system based on the collected input/output information 2, ■Verify the attribute 3 related to the verified functional item 5, and ■Functional item 1 set to be tested in the computer system. ]5
and attribute 3, the ratio of testable functional items of test program 9 and attribute limit 4 are examined.

[作用] 本発明によれば、試験対象計算機の模擬システム生成千
段1の管理下で試験プログラム9を実行させて、実行ス
テップごとに実行に係わる入力情報と実行結果の出力情
報2を収集し、収集した入出力情報2による試験対象の
機能項目5を照合し、機能項目5に係わる属性3を検証
し、試験対象の機能項目5と属性3に対し、試験プログ
ラム9の試験可能な機能項目の比率と属性限界4を検査
することにより、試験プログラム9の性能を検査するこ
とができる。
[Operation] According to the present invention, the test program 9 is executed under the control of the simulated system generator 1 of the test target computer, and the input information related to the execution and the output information 2 of the execution result are collected for each execution step. , collate the test target function item 5 with the collected input/output information 2, verify the attribute 3 related to the function item 5, and determine the testable function items of the test program 9 for the test target function item 5 and attribute 3. The performance of the test program 9 can be tested by checking the ratio and attribute limits 4.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を第2図〜第5図を参照して説明
する。全国をilIして同−符−リ3は同−・対象物を
示す。第2図で第1図に対応ずるものは−・点鎖線で囲
んである。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. 2 to 5. The whole country is ilI, and the same symbol - 3 indicates the same object. Components in FIG. 2 that correspond to those in FIG. 1 are surrounded by dashed dotted lines.

第2図において、 試験プログラム9aは、試験対象の計算機システム又は
同等の機能、環境を備えるシステムにロードされて実行
し、そのハートウェア機能を試験一づる。即ち、ハード
ウェア論理仕様Cこ規定された機能を遍く試験するため
にすべての命令について夫々、アトレス指定方法、使用
するレシスタ、オペランドの値等の指定や組合一已を種
々、変化させた命令を実行し、演算結果とJり1待値と
をLL較し−Cハードウェア機能を試験する。
In FIG. 2, a test program 9a is loaded and executed on a computer system to be tested or a system with equivalent functions and environment to test its hardware functions. In other words, in order to universally test the functions defined in the hardware logic specification C, instructions with various address specification methods, registers to be used, operand values, etc., and combinations are varied for all instructions. LL is executed, and the calculation result is compared with the JRI1 waiting value to test the -C hardware function.

シミュレータ1aば、試験対象の謂算機ハー1・ウェア
の機能を、別の計算機システムで実行されるプログラム
で生成して実現したものであって、試験対象の計W:機
で実行されるよ・うに作成されたプログラム、例えば、
試験プロクラム9aを模擬的に実行ずろ。
The simulator 1a is a simulator that realizes the functions of the computer hardware and hardware to be tested by generating a program to be executed on another computer system.・Programs created by Uni, for example,
Execute test program 9a in a simulated manner.

収集部2aは、シミュレータ1aの−・部として構成さ
れ、試験プ[1グラl、9aの1命令を実行する過程に
おげるハー1・ウlアの状態を発生事象として収集し、
事象ファイル21]に格納する。即ち、例えば試験プロ
クラム9,)に含まれている加算(Δdd)命令を実行
した際には第4図の事象データエy集例に示すようなデ
ータを収集し、実行した命令コーl・について試験回数
、演算結果を反映ずる状態コ−トCC(0〜;3)の発
生回数、汎用レジスタ( G 11? 0〜GR]5)
の使用回数及び格納された最犬/最小値、オペランドの
値、プログラム割込みの発生回数、その割込のコード等
を収集する。
The collection unit 2a is configured as a part of the simulator 1a, and collects the state of the hardware 1 and the software in the process of executing one instruction of the test program 1 and 9a as an occurrence event.
event file 21]. That is, for example, when the addition (Δadd) instruction included in the test program 9,) is executed, data as shown in the event data collection example in FIG. 4 is collected, and the executed instruction call is tested. Number of times, number of occurrences of status code CC (0~;3) that reflects the operation result, general-purpose register (G11?0~GR]5)
The number of times the program is used, the maximum/minimum value stored, the value of the operand, the number of times a program interrupt occurs, the code of the interrupt, etc. are collected.

デークヘース3aは、ハートウェア論理仕様に基づいて
命令別6こ、その実行によって発生し得るすべての事象
の項目データが格納されている。即ち、第5図に示すよ
うに命令別に、(1)命令コード、CCの取り得る値、
C”. R O−GR15の取り得る範囲及び最犬/最
小値、演算結果及びオペランドの最大/最小値、割込め
種別ごとに発η二の有無及び割込のコー1・等、並びQ
こ(2)システムを制御するプログラム状態詔(psW
)、システム制御レジスタ(CRO〜C R n ) 
、記憶保護制御レシスタの取り得る内容等が格納され′
ζいる。
The disk space 3a stores item data of all events that may occur due to the execution of each instruction based on hardware logic specifications. That is, as shown in FIG. 5, for each instruction, (1) the possible values of the instruction code and CC;
C". R O-GR15's possible range and maximum/minimum value, operation result and maximum/minimum value of the operand, presence or absence of emitted η2 for each interrupt type, interrupt code 1, etc., arrangement Q
(2) Program state commands (psW) that control the system
), system control registers (CRO to C R n )
, the possible contents of the memory protection control register, etc. are stored.
There is ζ.

検査部4aは、−・運の試験プログラム9aの実行が終
了したとき、データヘース3aの事象項目データに丞づ
いて事象ファイル2bの事象データから命令コード別に
、事象項L1ごとに発生した事象データ、最犬/最小値
やその発41月=L率を計算して出力部旧)に表示又は
印字出力する。
- When the execution of the luck test program 9a is completed, the inspection unit 4a extracts event data that occurred for each event item L1 by instruction code from the event data in the event file 2b based on the event item data in the data header 3a; The maximum/minimum value and the 41 month = L rate are calculated and displayed or printed on the output section.

第3図のフローチャ−1・を参照して本実施例の作用を
説明する。
The operation of this embodiment will be explained with reference to flowchart 1 in FIG.

■シミュレータ1aの制御下で試験プログラム9aを実
行し、 ■試験プログラム9a中の、例えば八dd命令を実行し
、 ■プし1グラム例外等の割込みが発生したとき収集部2
aば、第4図に示すようにプmlグラム割込みの回数を
累計し、その割込み′:フードを収集する。
■ Execute the test program 9a under the control of the simulator 1a, ■ Execute, for example, an 8dd instruction in the test program 9a, and ■ When an interrupt such as a 1-gram exception occurs, the collection unit 2
First, as shown in FIG. 4, the number of program interrupts is accumulated, and the interrupt': food is collected.

■割込みが発生しないとき収集部2aは、第4図6こ示
すようにAlcl命令について実行回数、CC(0〜!
})の発生回数、GRO−GR15の使用回数及び格納
された最犬/最小値、オペランドの値等を収集し、集計
する。
■When no interrupt occurs, the collection unit 2a collects the number of executions of the Alcl instruction, CC(0~!) as shown in FIG.
}), the number of times GRO-GR 15 is used, the maximum/minimum value stored, the value of the operand, etc. are collected and totaled.

■曲記■〜■の処理を試験プログラJ、9aが終了ずる
まで実行ずる。
■Execute the processing of notes ■ to ■ until test programs J and 9a are completed.

■試験プロクラム9aの実行が終了したとき、データヘ
ース3aの事象項目データに基づいて検査部4aは、事
象ファイル2bに収集された事象データについて、すべ
てのCCO値が発生しているか、オペランドはずべての
G R O〜GR15を使用しているか、テス1・デー
タは指定可能な最犬/最小値を使用しているかなどを評
価し、CC1〜3の発生率、オペランドで使用したGR
O〜3の使用率、テス1〜データ及び演算結果、テス1
−データの最大/最小値の発η二率、61i算結果の最
犬/最小値の発生率、プログラム割込みの割込みコート
別の発生率等を計算する。
■When the execution of the test program 9a is completed, the inspection unit 4a checks whether all CCO values have occurred or not, based on the event item data in the data field 3a, regarding the event data collected in the event file 2b. Evaluate whether G R O to GR15 are used, test 1 data uses the highest/minimum value that can be specified, etc., and check the incidence rate of CC1 to CC3 and the GR used in the operand.
O~3 usage rate, test 1~data and calculation results, test 1
- Calculate the occurrence rate of the maximum/minimum value of data, the occurrence rate of the maximum/minimum value of the 61i calculation results, the incidence rate of program interrupts for each interrupt code, etc.

■検査部4aは上記の発生率や使用率を出力部4bに表
示又は印字出力する。
(2) The inspection section 4a displays or prints out the above-mentioned incidence rate and usage rate on the output section 4b.

従って、試験プログラム9aをシミュレータ18の制御
下で実行し、収集部2aば発生した事象を収集し、検査
部4aはハー1・ウェア論理仕様に基づいて網羅した発
生(又は使用)し得る全事象に栽づいて、収集部2aが
収集した事象データの発生比率を計算して試験プログラ
ムのテス1・カハレージを測定するように構成されてい
る。
Therefore, the test program 9a is executed under the control of the simulator 18, the collection section 2a collects the events that have occurred, and the inspection section 4a collects all the events that can occur (or be used) based on the hardware logic specifications. The system is configured to calculate the occurrence ratio of the event data collected by the collection unit 2a and measure the test program's Test 1 coverage.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明によれば、試験プログラム9
aのシミュレータ1aによるデハグ時に、そのテストカ
ハレーシを測定ずることができるので、テスI・不足の
項目が明確になり、この不足を補うことによりテス1・
カハレージを向−1ニして試験プログラム9aの性能を
向上ずることができ、ユーザへ計算機を出荷する前にハ
ートウェアの設計誤り、故障を修正、修復するができる
という効果があり、また、従来、ユーザ元でシステム運
用中に設計過誤によるハードウェア障害に伴って発見さ
れた試験プログラム9aの不足、不備をユーザへ計算機
を出荷する前に改良するごとによって、試験プログラム
9aの開発工数を著しく減少することができるという効
果がある。
As explained above, according to the present invention, the test program 9
When dehugging using the simulator 1a of test a, the test capacity can be measured, so the items that are lacking in test I become clear, and by making up for these deficiencies, test 1 and
It is possible to improve the performance of the test program 9a by increasing storage capacity, and it has the effect of correcting and repairing hardware design errors and failures before shipping the computer to the user. , the number of man-hours required to develop the test program 9a is significantly reduced by improving deficiencies and deficiencies in the test program 9a that were discovered during system operation at the user's site due to hardware failures due to design errors, before shipping the computer to the user. The effect is that it can be done.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第]図は本発明の原理フローチャート、第2図は本発明
の実施例を示すブロンク図、第3図は本発明の実施例の
フローチャ−1・、第4図は事象データの収集例、 第5図はデータベースの内容例である。 Hにおいて、 1はシミフ,レート手段、 1aはシミュレータ部、 2は収隼丁段、 2aは収集部、 2bは事象ファイル、 3は記憶手段、 3aぱデータヘース、 4は検査手段、 4aは検査部、 4bは出力部、 9、9aは試験プログラム を示す。
Fig.] is a principle flowchart of the present invention, Fig. 2 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, Fig. 3 is a flowchart 1 of the embodiment of the present invention, Fig. 4 is an example of event data collection, Figure 5 shows an example of the contents of the database. In H, 1 is a simulation rate means, 1a is a simulator section, 2 is a collection section, 2a is a collection section, 2b is an event file, 3 is a storage means, 3a is a data base, 4 is an inspection means, 4a is an inspection section , 4b is an output section, and 9 and 9a are test programs.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 計算機システムの機能を試験する試験プログラム(9)
の性能を検査する性能検査方法であって、該試験プログ
ラム(9)が試験対象とする計算機システムを模擬的に
代行する模擬システム生成手段(1)の管理下で該試験
プログラム(9)を実行させ、該試験プログラム(9)
の各実行ステップを実行する際に、そのステップ実行に
係わる入力情報と実行結果の出力情報(2)を収集し、 該収集された入出力情報(2)による該計算機システム
の試験対象の機能項目(5)を照合すると共に、その照
合された機能項目(5)に係わる属性(3)を検証し、 該計算機システムの試験対象に設定された機能項目(5
)と属性(3)に対し、該試験プログラム(9)の試験
可能な機能項目の比率と属性限界(4)を検査すること
を特徴とする試験プログラムの性能検査方法。
[Claims] Test program for testing the functionality of a computer system (9)
A performance testing method for testing the performance of a test program (9), wherein the test program (9) is executed under the control of a simulated system generation means (1) that simulates a computer system to be tested. The test program (9)
When executing each execution step, input information related to the step execution and output information (2) of the execution result are collected, and the functional items to be tested of the computer system are determined based on the collected input/output information (2). (5) and verify the attribute (3) related to the verified function item (5) to determine the function item (5) set as the test target of the computer system.
) and attribute (3), the ratio of testable functional items and attribute limit (4) of the test program (9) are checked.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08235025A (en) * 1995-02-24 1996-09-13 Nec Corp Program test support management device and its method

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63257839A (en) * 1987-04-16 1988-10-25 Nec Corp Debug system for test program
JPH01314343A (en) * 1988-06-14 1989-12-19 Nec Corp Test program evaluation system

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63257839A (en) * 1987-04-16 1988-10-25 Nec Corp Debug system for test program
JPH01314343A (en) * 1988-06-14 1989-12-19 Nec Corp Test program evaluation system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08235025A (en) * 1995-02-24 1996-09-13 Nec Corp Program test support management device and its method

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