JPH02226047A - Inspection of protrusion of magnetic disk medium - Google Patents

Inspection of protrusion of magnetic disk medium

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JPH02226047A
JPH02226047A JP4608289A JP4608289A JPH02226047A JP H02226047 A JPH02226047 A JP H02226047A JP 4608289 A JP4608289 A JP 4608289A JP 4608289 A JP4608289 A JP 4608289A JP H02226047 A JPH02226047 A JP H02226047A
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JP
Japan
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protrusion
floating head
slider
magnetic disk
height
Prior art date
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Application number
JP4608289A
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Japanese (ja)
Inventor
Kenji Mochizuki
望月 研二
Takefumi Hayashi
林 武文
Toshitake Sato
勇武 佐藤
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Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
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Publication of JPH02226047A publication Critical patent/JPH02226047A/en
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  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve accuracy of the inspection, by differentiating the floating amount at an inlet and an outlet from each other in each of two levitating head sliders provided on the same track, detecting an elastic vibration by respective elements corresponding to said sliders when said sliders are brought in contact with a protrusion, and obtaining the time difference when a peak of the detecting signals is generated. CONSTITUTION:Testing slider assemblies A and B are provided on the same track of a magnetic disk medium 7. A piezoelectric element 2A, a gimbal 3A and the like are mounted on a slider 1A, thereby constituting the assembly A. The assembly B is in the same structure as the assembly A. Slider supporting points of the sliders 1A, 1B are set at different positions, so that the levitating amount at inlets 102A, 102B and outlets 103A, 103B becomes different with each other. The vibration when the sliders 1A, 1B collide against a protrusion P is detected by elements 2A, 2B, respectively. The time difference when a peak of the detecting signals is found is measured, whereby the height of the protrusion P is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、空気膜潤滑作用を利用する浮動形ヘッドスラ
イダとそのスライドにより情報の記録/再生が行われる
磁気ディスク媒体からなる磁気記録装置に用いる、高信
頼な磁気ディスク媒体を製造・検査するために必要な磁
気ディスク媒体突起検査方法に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a magnetic recording device comprising a floating head slider that utilizes air film lubrication and a magnetic disk medium in which information is recorded/reproduced by the slide. The present invention relates to a magnetic disk medium protrusion inspection method necessary for manufacturing and inspecting highly reliable magnetic disk media.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

浮動形ヘッドスライダは、磁気ディスク媒体上を高速(
数m/sec〜数十m/5ec)かつサブミクロンオー
ダの微小間隔で浮上走行するものであり、磁気ディスク
媒体上の微細な突起や固着した塵埃等と接触すると、ヘ
ッドや媒体が堝傷し、情報の破壊や記録再生機能の消失
という、いわゆるヘッドクラッシュを招く。
The floating head slider slides over magnetic disk media at high speeds (
The head and the medium can be damaged if they come into contact with minute protrusions or fixed dust on the magnetic disk medium. This results in what is called a head crash, which is the destruction of information and the loss of recording and playback functions.

従って、磁気デイクス装置の製造時において、磁気ディ
スク媒体表面の微小な突起を除去することは高信頼を得
るための必須条件となる。この突起の除去にはスライダ
走行面に特殊なテーバを設けたバニッシェスライダを媒
体上で低浮上で走行させる方法が用いられている。
Therefore, when manufacturing a magnetic disk device, it is essential to remove minute protrusions on the surface of the magnetic disk medium in order to obtain high reliability. To remove these protrusions, a method is used in which a vanishing slider having a special taper provided on the slider running surface is run with a low flying height above the medium.

そして、除去後のディスク媒体表面の検査において、残
余の突起の高さを計測することが行われている。
When inspecting the surface of the disk medium after removal, the height of the remaining protrusions is measured.

第5図にこの突起高さを検査する従来の方法の一例を示
す。lは浮動形へ7ドスライダ、2は浮動形ヘッドスラ
イダ1に直接搭載した弾性波検出素子としての圧電素子
、3はジンバル、4はアーム、5は突起検出回路、6は
圧電素子2の出力信号を突起検出回路5に導くリード線
であり、以上を含んで検査スライダアセンブリが構成さ
れる。
FIG. 5 shows an example of a conventional method for inspecting the height of the protrusion. l is a floating head slider, 2 is a piezoelectric element as an elastic wave detection element mounted directly on the floating head slider 1, 3 is a gimbal, 4 is an arm, 5 is a protrusion detection circuit, and 6 is an output signal of the piezoelectric element 2. This is a lead wire that leads the protrusion detection circuit 5 to the protrusion detection circuit 5, and the inspection slider assembly includes the above.

7は磁気ディスク媒体、Pはその媒体7上に存在する微
小突起、Dは同媒体7上に付着した塵埃である。
7 is a magnetic disk medium, P is a minute protrusion existing on the medium 7, and D is dust attached to the medium 7.

このように、圧電素子2を浮動形ヘッドスライダ1に直
接搭載して]&Iuの検査スライダアセンブリを構成し
、この検査スライダアセンブリを磁気デイクス媒体7上
でその磁気ディスク媒体7との間の相対速度を変化させ
ながら突起Pへの接触検出を行ない、突起検査回路5を
使用して、各速度(各浮上量)における突起の有無や高
さを記録している。
In this way, the piezoelectric element 2 is directly mounted on the floating head slider 1 to form a test slider assembly of ]&Iu, and the test slider assembly is moved over the magnetic disk medium 7 at a relative velocity between the magnetic disk medium 7 and the magnetic disk medium 7. Contact with the protrusion P is detected while changing the height, and the protrusion inspection circuit 5 is used to record the presence or absence and height of the protrusion at each speed (each flying height).

第6図はこの突起検査回路5を示す図であるや浮動形ヘ
ッドスライダIに搭載された圧電素子2の出力信号は、
リード線6を経由して、増幅器501で増幅されバンド
パスフィルタ502で雑音が除去されて、検波器503
で直流成分が取り出され、コンパレータ504で閾値回
路505の閾値vthと比較される。そして、入力信号
が当該閾値vthを越える場合に、そのコンパレータ5
04からパルスが出る。このパルスによって、突起位置
検出回路506及びデータ処理装置507により、突起
高さが計測される。
FIG. 6 is a diagram showing this protrusion inspection circuit 5. The output signal of the piezoelectric element 2 mounted on the floating head slider I is as follows.
Via the lead wire 6, it is amplified by an amplifier 501, noise is removed by a bandpass filter 502, and then the detector 503
A DC component is extracted at , and compared with a threshold value vth of a threshold value circuit 505 by a comparator 504 . Then, when the input signal exceeds the threshold value vth, the comparator 5
A pulse is emitted from 04. Using this pulse, the protrusion position detection circuit 506 and data processing device 507 measure the protrusion height.

第7図(al、(b)に突起高さの判定方法を示す。い
ま、浮動形ヘッドスライダ1が浮上高さhlにおいては
、磁気ディスク媒体7上の突起P1、P2、P3に対応
した突起検出信号Sl、S2、S3が出力される。この
突起検出信号S1、S2、S3は、閾値vthを越えて
いるため、浮動形ヘッドスライダ1が突起P1、P2、
P3に接触したものと判定される。
7(al) and (b) show a method for determining the protrusion height. Now, when the floating head slider 1 is at the flying height hl, the protrusions corresponding to the protrusions P1, P2, and P3 on the magnetic disk medium 7 are Detection signals Sl, S2, and S3 are output.Since these protrusion detection signals S1, S2, and S3 exceed the threshold value vth, the floating head slider 1 detects the protrusions P1, P2, and
It is determined that the object came into contact with P3.

また、浮動形ヘッドスライダ1が浮上高さh2(>hl
)においては、突起PI、P3に対応した突起検出信号
S1、S3が出力される。この突起検出信号S、S3は
閾値vthを越えているために、磁気浮動形ヘッドスラ
イダ1が突起P1、P3に接触したものと判定される。
Furthermore, the floating head slider 1 has a flying height h2 (>hl
), protrusion detection signals S1 and S3 corresponding to protrusions PI and P3 are output. Since the protrusion detection signals S and S3 exceed the threshold value vth, it is determined that the magnetic floating head slider 1 has contacted the protrusions P1 and P3.

更に、浮動形へ7ドスライダ1が浮上高さh3(>h2
)においては、突起P3に対応した突起検出信号S3が
出力される。この突起検出信号S3は閾値vthを越え
ているため、浮動形スライダlに突起P3が接触したも
のと判定される。
Furthermore, the floating height of the slider 1 to the floating type is h3 (>h2
), a protrusion detection signal S3 corresponding to the protrusion P3 is output. Since this protrusion detection signal S3 exceeds the threshold value vth, it is determined that the protrusion P3 has contacted the floating slider l.

以上の結果により、突起P1の突起高さり、い突起P2
の突起高さho、突起P3の突起高さり。
Based on the above results, the protrusion height of protrusion P1, the protrusion height of protrusion P2
The protrusion height ho is the protrusion height of protrusion P3.

について、 h2<h□<h3 hl<h□<h2 h3<hr3 と判定される。about, h2<h□<h3 hl<h□<h2 h3<hr3 It is determined that

このように、離散的に浮動形ヘッドスライダ1の浮上量
を変化させて、各浮上量における突起Pとスライダ1の
接触検出を行ない、突起高さを判定していた。そして、
この判定を磁気ディスク媒体7の各トラック毎に行ない
、突起Pの高さ分布を求めていた。
In this way, the flying height of the floating head slider 1 is varied discretely, and the contact between the protrusion P and the slider 1 is detected at each flying height to determine the protrusion height. and,
This determination was performed for each track of the magnetic disk medium 7 to determine the height distribution of the protrusions P.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら、この方法では、測定操作を各浮上量毎に
繰り返さなければならなかった。そして、突起高さ分解
能が浮上量の変化分に相当するので、突起高さ測定の分
解能を上げるためには、浮上量の変化分を小さくしなけ
ればならず、測定時間がかかっていた。また、繰り返し
スライダ1の面に突起Pが接触するので、突起変形によ
り突起高さ測定値の精度・再現性が低下する等の欠点が
あった。
However, with this method, the measurement operation had to be repeated for each flying height. Since the protrusion height resolution corresponds to the variation in the flying height, in order to increase the resolution of protrusion height measurement, the variation in the flying height must be reduced, which takes time to measure. Further, since the protrusion P repeatedly contacts the surface of the slider 1, there is a drawback that the precision and reproducibility of the protrusion height measurements are reduced due to protrusion deformation.

本発明は以上のような点に鑑みてなされたものであり、
その目的は、短時間に磁気ディスク媒体の突起高さを高
精度で測定できるようにすることである。
The present invention has been made in view of the above points,
The purpose is to be able to measure the protrusion height of a magnetic disk medium with high accuracy in a short time.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

このために本発明は、磁気ディスク媒体上の突起との接
触時の衝撃力によって浮動形へッドスライダに発生する
弾性振動を弾性波検出素子により検出することによって
、上記突起を検査する検査装置において、 浮動形ヘッドスライダを上記磁気ディスク媒体上の同一
トラ・ツク上に2個配置し、流入端、流出端の浮上量を
各々の浮動形ヘッドスライダにおいて異ならせ、突起接
触時の弾性振動を各々の浮動形ヘッドスライダに対応す
る弾性波検出素子で各々検出して、該画素子から出力す
る信号のピーク発生時刻の時間差を計測し、上記突起の
高さを求めるようにした。
To this end, the present invention provides an inspection device for inspecting the protrusions on a magnetic disk medium by detecting elastic vibrations generated in the floating head slider by an impact force upon contact with the protrusions using an elastic wave detection element. Two floating head sliders are arranged on the same track on the above-mentioned magnetic disk medium, and the flying heights of the inflow end and outflow end are made different for each floating head slider, so that the elastic vibrations when the protrusions come in contact with each other are The height of the protrusion is determined by detecting each with an elastic wave detection element corresponding to the floating head slider and measuring the time difference between the peak generation times of the signals output from the pixel element.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例について説明する。まず、第8図
に浮動形ヘッドスライダ1の支持点位II Ol、スラ
イダ1の流入端102における浮上量り3、スライダ1
の流出端103における浮上1h、を、文献(中西、木
暮、越本、大原、北、「800メガバイト磁気デイスク
装置用磁気へラド」電気通信研究所研究実用化報告Vo
l 28 、No 10 、p145、(1979) 
)のデータを基に計算した一例を示す。
Examples of the present invention will be described below. First, FIG. 8 shows the support point II Ol of the floating head slider 1, the flying height 3 at the inflow end 102 of the slider 1, and the slider 1
The levitation time at the outflow end 103 of
l 28, No 10, p145, (1979)
) is shown below.

これにより、スライダ1の支持点101と流入光@10
4との間の距離Xとスライダ1の長さしとの比率X/L
を変化させ、つまり支持点101をずらすことによって
、流入端102、流出端103の浮上量の比率り、/h
、を変化できることが分かる。
As a result, the support point 101 of the slider 1 and the incoming light @10
4 and the ratio of the distance X to the length of slider 1 X/L
In other words, by shifting the support point 101, the ratio of the flying height of the inflow end 102 and the outflow end 103, /h
It can be seen that , can be changed.

また、第9図にスライダ1の支持点lO1に印加する荷
重Wを変化させた場合の流出端103の浮上量h0の変
化を示す、これにより、荷重Wを変化させることによっ
て浮上量h0を変化できることが分かる。
Moreover, FIG. 9 shows the change in the flying height h0 of the outflow end 103 when the load W applied to the support point lO1 of the slider 1 is changed. I know what I can do.

本発明はこのような点に着目したものであり、スライダ
支持点位置或いは荷重を異ならせることによって浮上特
性に差をつけた2個の浮動形ヘッドスライダを用いて、
リアルタイムで磁気ディスク媒体上の突起高さを検出す
るものである。
The present invention focuses on this point, and uses two floating head sliders with different flying characteristics by varying the position of the slider support point or the load.
This detects the height of protrusions on a magnetic disk medium in real time.

以下、詳細に説明する。第1図はその一実施例を示す図
である。本実施例では、2&IIの検査スライダアセン
ブリA、Bを設ける。
This will be explained in detail below. FIG. 1 is a diagram showing one embodiment thereof. In this embodiment, 2 & II test slider assemblies A and B are provided.

一方のスライダアセンブリAは、浮動形ヘッドスライダ
IA、その浮動形ヘッドスライダIAに直接搭載した弾
性波検出素子としての圧電素子2人、ジンバル3A、ア
ーム4A、リード線5Aを含むように構成する。
One slider assembly A is configured to include a floating head slider IA, two piezoelectric elements as elastic wave detection elements directly mounted on the floating head slider IA, a gimbal 3A, an arm 4A, and a lead wire 5A.

また他方のスライダアセンブリBは、浮動形ヘッドスラ
イダIB、その浮動形ヘッドスライダIBに直接搭載し
た弾性波検出素子としての圧電素子2B、ジンバル3B
、アーム4B、リード線5Bを含むように構成する。
The other slider assembly B includes a floating head slider IB, a piezoelectric element 2B as an elastic wave detection element mounted directly on the floating head slider IB, and a gimbal 3B.
, arm 4B, and lead wire 5B.

そして、両浮動形ヘッドスライダIA、IBのスライダ
支持点を異なった位置101A、l0IBに設定して、
流入端102A、102B、流出端103A、103B
における浮上量を異ならせ、両浮動形ヘッドスライダI
A、IBを磁気ディスク媒体7の同一トラック上に配置
する。
Then, the slider support points of both floating head sliders IA and IB are set at different positions 101A and 10IB,
Inflow ends 102A, 102B, outflow ends 103A, 103B
Both floating head sliders I
A and IB are arranged on the same track of the magnetic disk medium 7.

このように構成することにより、第2図に示すように高
さhpの突起poが浮動形ヘッドスライダIA、IBの
走行レール面105A、105Bを通過すると、高さh
pの浮上量部分で突起POが浮動形ヘッドスライダIA
、IBと接触し、その浮動形ヘッドスライダIA、IB
には衝撃力によって弾性振動が発生する。この振動は搭
載された圧電素子2人、2Bによって接触検出電気信号
に変換される。それぞれの浮動形ヘッドスライダIA、
IBで発生した検出信号は、時間δを差をもって出力さ
れる。この時間差δtは、浮動形ヘッドスライダIAの
長さLa、浮動形ヘッドスライダIBの長さLbは浮上
量に比べて充分大きいから、近似的に次の弐(1)で表
すことができる。
With this configuration, as shown in FIG. 2, when the protrusion po with the height hp passes through the running rail surfaces 105A and 105B of the floating head sliders IA and IB, the height h
The protrusion PO is located at the flying height of the floating head slider IA.
, IB, and its floating head sliders IA, IB
Elastic vibrations occur due to impact force. This vibration is converted into a contact detection electrical signal by the two piezoelectric elements 2B mounted on it. Each floating head slider IA,
The detection signals generated at IB are output with a time difference δ. This time difference δt can be approximately expressed by the following 2(1) since the length La of the floating head slider IA and the length Lb of the floating head slider IB are sufficiently large compared to the flying height.

ここで、 V:浮動形へ7ドスライダIA、IBと磁気ディスク媒
体7との間の相対速度 d:2個の浮動形ヘッドスライダIA、IB間の距離 11Ai:浮動形ヘッドスライダIAの流入端102A
での浮上量 h、。:浮動形ヘッドスライダIAの流出端1での浮上
量 り8.:浮動形ヘッドスライダIBの流入端lでの浮上
量 hH:浮動形ヘッドスライダIBの流出端1での浮上量 である、これにより、 表すことができる。
Here, V: Relative speed between the floating head sliders IA and IB and the magnetic disk medium 7 d: Distance between the two floating head sliders IA and IB 11Ai: Inflow end 102A of the floating head slider IA
Floating height h at . : Flying height at the outflow end 1 of the floating head slider IA8. : Flying height at the inflow end 1 of the floating head slider IB hH: Flying height at the outflow end 1 of the floating head slider IB.

突起高さhpは次の式(2)で 3A 2B 3B hst   hal、hmi   ha。The protrusion height hp is calculated using the following formula (2). 3A 2B 3B hst hal, hmi ha.

・・・(2) 第3図に本実施例で使用する突起高さ検出回路8の一例
を示す、各浮動形へ7ドスライダIA、IBに直接搭載
された圧電素子2A、2Bからの出力信号は、リード線
6A、6Bを経由して、各々増幅器801A、801B
で増幅され、バンドパスフィルタ802A、802Bで
雑音が除去され、検波器803A、803Bで直流成分
が取り出されて、コンパレータ804A、804Bで闇
値回路805A、805Bの閾値と比較される。
(2) Fig. 3 shows an example of the protrusion height detection circuit 8 used in this embodiment, and output signals from the piezoelectric elements 2A and 2B directly mounted on each floating slider IA and IB. are connected to amplifiers 801A and 801B via lead wires 6A and 6B, respectively.
, noise is removed by bandpass filters 802A and 802B, DC components are extracted by detectors 803A and 803B, and compared with thresholds of dark value circuits 805A and 805B by comparators 804A and 804B.

このコンパレータ804A、804Bにおいては、闇値
を越えた検出信号のピーク発生時刻のパルス電圧を作成
する。これらのパルス電圧はワンショットマルチバイブ
レーク806A、806Bに入力され、第1番目のピー
クで立ち上がるパルス波が作成される。
These comparators 804A and 804B create a pulse voltage at the time when the peak of the detection signal exceeding the dark value occurs. These pulse voltages are input to one-shot multi-by-breaks 806A and 806B, and a pulse wave rising at the first peak is created.

各浮動形ヘッドスライダIA、IBにおけるパルス波、
つまりワンショントマルチハ゛イフ゛レータ806A、
806Bで作成されたパルス波は、フリップフロップ回
路807に入力され、時間幅がδものパルスがそこで作
成される。そして、このパルス幅δtを測定して記録す
るパルス発生時刻記録回路808を通し、データ処理装
置809で上記した式(2)により、突起高さhpが計
算される。
Pulse waves in each floating head slider IA, IB,
In other words, one-shot multi-hyfilator 806A,
The pulse wave created at 806B is input to a flip-flop circuit 807, where a pulse having a time width of δ is created. Then, through a pulse generation time recording circuit 808 that measures and records this pulse width δt, the protrusion height hp is calculated by the data processing device 809 according to the above equation (2).

第4図は別の実施例を示す図である。この実施例では、
上記した圧電素子2A、2Bを使用せずに、これに代え
てAEセンサ9A、9Bをアーム4A、4B上に、その
AEセンサ9A、9Bのベース面まで延長した特殊なジ
ンバルIOA、10Bを介して搭載し、接触時に浮動形
ヘッドスライダIA、IBに発生する弾性振動を検出す
るように構成している。
FIG. 4 is a diagram showing another embodiment. In this example,
Instead of using the piezoelectric elements 2A and 2B described above, the AE sensors 9A and 9B are placed on the arms 4A and 4B via special gimbals IOA and 10B that extend to the base surfaces of the AE sensors 9A and 9B. The floating head sliders IA and IB are mounted on the head sliders and are configured to detect elastic vibrations generated in the floating head sliders IA and IB when they make contact.

浮動形ヘッドスライダLA、IBについてはスライダ支
持点位置101A、l0IBを異なった位置に設定し、
流入端102A、102B、流出端103A、103B
における浮上量を異ならせて、それぞれの浮動形へソド
スライダIA、IBを磁気ディスク媒体7の同一トラッ
ク上に配置する。
For floating head sliders LA and IB, slider support point positions 101A and 10IB are set at different positions,
Inflow ends 102A, 102B, outflow ends 103A, 103B
The floating sliders IA and IB are arranged on the same track of the magnetic disk medium 7 with different flying heights.

このように構成することにより、前述の実施例で説明し
たように、高さhpの突起Poが2個の浮動形ヘッドス
ライダIA、IBの走行レール面105A、105Bを
通過すると、それぞれのレール面105A、105Bの
浮上量hpの部分で突起Paが接触し、各々のAEセン
サ9A、9Bから接触検出信号が時間δtの差を持って
出力するので、第3図で説明した突起高さ検出回路8を
用いることにより、突起高さhpを求めることができる
With this configuration, as explained in the above embodiment, when the protrusion Po with the height hp passes through the running rail surfaces 105A and 105B of the two floating head sliders IA and IB, the respective rail surfaces The protrusions Pa come into contact with each other at the flying height hp of 105A and 105B, and contact detection signals are output from each AE sensor 9A and 9B with a time difference of δt, so that the protrusion height detection circuit explained in FIG. 8, the protrusion height hp can be determined.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、流入端、流出端
の浮上量を異ならせた、つまり浮上特性を異ならせた2
個の浮動形ヘッドスライダを磁気ディスク媒体の同一ト
ラック上に配置して突起を検出するので、従来のように
浮上量を異ならせて操り返して検査する必要はなく、短
時間にリアルタイムで磁気ディスク媒体上の突起の高さ
を測定することが可能となる。
As explained above, according to the present invention, the floating heights of the inflow end and the outflow end are made different, that is, the floating characteristics are made different.
Since protrusions are detected by placing multiple floating head sliders on the same track of the magnetic disk medium, there is no need to manually inspect the magnetic disk at different flying heights in a short period of time and in real time. It becomes possible to measure the height of protrusions on the medium.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の方法を実施した一実施例の突起検査装
置の検査スライダアセンブリの説明図、第2図はその突
起高さ検出の作用説明図、第3図は突起高さ検出回路の
ブロック図、第4図は別の実施例の突起検査装置の検査
スライダアセンブリの説明図、第5図は従来の突起検出
装置の検査スライダアセンブリの説明図、第6図は突起
検出回路のブロック図、第7図(al、由)は従来の突
起高さ判定の説明図、第8図は浮動形ヘッドスライダの
支持点位置と流入端、流出端浮上量比率との関係を示す
図、第9図は浮動形ヘッドスライダに印加する荷重と流
出端浮上量との関係を示す図である。 P % P o・・・突起 1、、IA、IB・・・浮動形ヘッドスライダ1.01
.l0IA、l0IB・・・スライダ支持点位置102
.102A、102B・・・流入端103.103A、
103B・・・流出端104・・・流入先端 1、05、l05A、l05B・・・走行レール面2.
2A、2B・・・圧電素子 3.3A、3B・・・ジンバル 4.4A、4B・・・アーム 5・・・突起検出回路 501・・・増幅器 502・・・バンドパスフィルタ 503・・・検波器 504・・・コンパレータ 505・・・閾値回路 506・・・突起位置検出回路 507・・・データ処理装置 6.6A、6B・・・リード線 7・・・磁気ディスク媒体 8・・・突起高さ検出回路 801A、801B・・・増幅器 802A、802B・・・バンドパスフィルタ803A
、803B・・・検波器 804A、804B・・・コンパレータ805A、80
5B・・・閾値回路 806A、806B・・・ワンショットマルチ807・
・・フリフブフロンプ回路 808・・・パルス発生時刻記録回路 809・・・データ処理装置
Fig. 1 is an explanatory diagram of an inspection slider assembly of an embodiment of a protrusion inspection device implementing the method of the present invention, Fig. 2 is an explanatory diagram of the operation of protrusion height detection, and Fig. 3 is an explanatory diagram of the protrusion height detection circuit. Block diagram, FIG. 4 is an explanatory diagram of an inspection slider assembly of a protrusion inspection device according to another embodiment, FIG. 5 is an explanatory diagram of an inspection slider assembly of a conventional protrusion detection device, and FIG. 6 is a block diagram of a protrusion detection circuit. , FIG. 7 (al, yu) is an explanatory diagram of conventional protrusion height determination, FIG. 8 is a diagram showing the relationship between the support point position of a floating head slider and the floating height ratio of the inflow end and outflow end. The figure shows the relationship between the load applied to the floating head slider and the flying height of the outflow end. P % P o...Protrusion 1, IA, IB...Floating head slider 1.01
.. l0IA, l0IB...Slider support point position 102
.. 102A, 102B...Inflow end 103.103A,
103B... Outflow end 104... Inflow tip 1, 05, 105A, 105B... Running rail surface 2.
2A, 2B...Piezoelectric element 3.3A, 3B...Gimbal 4.4A, 4B...Arm 5...Protrusion detection circuit 501...Amplifier 502...Band pass filter 503...Detection Comparator 504... Comparator 505... Threshold circuit 506... Protrusion position detection circuit 507... Data processing device 6.6A, 6B... Lead wire 7... Magnetic disk medium 8... Protrusion height Detection circuits 801A, 801B...Amplifiers 802A, 802B...Band pass filter 803A
, 803B...Detector 804A, 804B...Comparator 805A, 80
5B...Threshold value circuit 806A, 806B...One-shot multi 807.
...Flip-flop circuit 808...Pulse generation time recording circuit 809...Data processing device

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)、磁気ディスク媒体上の突起との接触時の衝撃力
によって浮動形ヘッドスライダに発生する弾性振動を弾
性波検出素子により検出することによって、上記突起を
検査する検査装置において、浮動形ヘッドスライダを上
記磁気ディスク媒体上の同一トラック上に2個配置し、
流入端、流出端の浮上量を各々の浮動形ヘッドスライダ
において異ならせ、突起接触時の弾性振動を各々の浮動
形ヘッドスライダに対応する弾性波検出素子で各々検出
して、該画素子から出力する信号のピーク発生時刻の時
間差を計測し、上記突起の高さを求めることを特徴とす
る磁気ディスク媒体突起検査方法。
(1) In an inspection device that inspects a floating head slider by using an elastic wave detection element to detect elastic vibrations generated in the floating head slider due to an impact force upon contact with the projection on a magnetic disk medium, the floating head slider arranging two sliders on the same track on the magnetic disk medium,
The floating heights of the inflow end and outflow end are made different for each floating head slider, and the elastic vibrations at the time of contact with the protrusion are detected by the elastic wave detection elements corresponding to each floating head slider and output from the pixel elements. A method for inspecting a protrusion on a magnetic disk medium, characterized in that the height of the protrusion is determined by measuring the time difference between peak occurrence times of signals.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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