JPH02212704A - 3次元測定器の較正装置 - Google Patents

3次元測定器の較正装置

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JPH02212704A
JPH02212704A JP3291989A JP3291989A JPH02212704A JP H02212704 A JPH02212704 A JP H02212704A JP 3291989 A JP3291989 A JP 3291989A JP 3291989 A JP3291989 A JP 3291989A JP H02212704 A JPH02212704 A JP H02212704A
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JP
Japan
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head
dimensional
displacement meter
dimensional measuring
laser
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JP3291989A
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English (en)
Inventor
Motoyuki Suzuki
基之 鈴木
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Toyota Motor Corp
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Toyota Motor Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、そのヘッドにレーザ変位計を着脱することの
できる3次元測定器(形状測定装置)に関するものであ
り、特に、そのレーザ変位計の取り付け不良に起因する
誤差を較正する装置に関するものである。
[従来の技術] コンピュータ処理のために物体の外形形状を数値化する
場合等に、3次元測定器が用いられる。
3次元測定器は、表面検出器(変位計)を測定ヘッドに
取り付け、このヘッドをほぼ物体の外形に沿って移動さ
せることにより、正確な外形形状を数値化するものであ
る。変位計としては、レーザビームを用いるタイプのも
のが、正確である・被測定物を傷つけない等の理由でよ
く用いられる(例えば、特開昭62−55502号公報
)。しかし、接触変位計等の方が有利な場合もあり、l
\ラッドは、レーザ変位計を含め、被測定物の種類に適
した変位計が各種数り付けられるようになっている。
[発明が解決しようとする課題] 変位計を交換して新しい変位計をヘッドのアダプタには
め込むときに、必ず何等かのずれが発生ずる。特にレー
ザ変位計の場合には、レーザビームを発する変位計と被
測定物表面との距離を離すことができるという利点があ
る反面、変位計の取り付けの僅かのずれが大きな検出誤
差に結び付くという問題もある。
従来の3次元測定器では、このようなレーザ変位計の取
り旬は誤差を測定する手段がないため、基準位置に置い
たヘッドから発刊されたレーザビームが正し、・い位置
に到達するようになるまで、目視で確認しながら何回も
変位計の取り付け、取り外しを繰り返していた。しかし
、レーザビームは非常に細いため(直径0.1〜0.2
……程度)、どの位置にレーザビームが当たっているか
を確認するのが非常に困難であった。そのため、結局、
変位計を正確な位置に取り付けることができず、取付誤
差がそのまま測定誤差となっていた。
[課題を解決するための手段] 上記課題を解決するために成された本発明は、第1図に
その構成を概念的に示すように、レーザ変位計LDを取
り付ける二とのできるヘッドHi)を備えた3次元測定
器TOにおけるIレーザ変位計1.[)の取付誤差較正
装置であって、次のような装置・g+= yΩ′を備え
ることを特徴とする。
Mlは3次元測定器TDの所定の基準面8S上乙こ配置
され、レーザ変位計LDから発刊されるレーザビーlえ
の到達位置を検出する2次元位置検出装置。
Mlはヘッド1]0を2箇所の位置に移動させ、それら
のヘッド)ID位置における、3次元測定器TDからの
出力値と、レーザ変位計LDからの出力1直と、1ノ一
サ変位計LDからのレーザビームを受けた2次元1〜゛
1置検出装置M1の出力値とから、レーザ変位計1、D
のヘッドHDへの取り付け誤差を算出する手段。
[作用j ヘッド14Dにレーザ変位計1−Dを取り付けたとき、
次のような較正作業を行う。
■ 先ず、3次元測定器TDの基準面S5 (例えは、
ベツド)」二に2次元位置検出装置M1を置く。ここで
、2次元位置検出装置ト11の基準位置(例えは原点)
が3次元測定器TOの基準面5Sの基準位置(すなわち
、レーザ変位計1、Dが正しく取り付けられたときtこ
、3次元測定器TDから既知の出力が得られる点)と一
致させる。
■ 次に、3次元測定器TDを操作し、ヘッドHDを上
記基準面SSの基準位置に対向する位置にもってくる。
すなわち、ヘッドl([]にレーザ変位計Lθが正しく
取り付けられたときに、そこから発せられるレーザビー
J2が上記基準面SSの基準位置に到達するようにする
。しかし実際には、レーザビームは取り付け誤差により
2次元位置検出装置M1の基準点以外の点に到達し、2
次元位置検出装置Mlからは、その点の座標値が出力さ
れる。
■ ヘッドHDを上記位置からZ方向にのみ駆動して別
の位置へ移動させ、変位計LDからレーザビームを発刊
して、その到達点の座標を2次元位置検出装置旧により
検出する。
■ 以」−の2箇所のヘッド1(0の位置での、(1)
3次元測定器TDの出力(ヘラ’t’HDの3次元座標
)、(ii)[ノーサ変位計1.Dの出力(変位計LD
から基準面SS表面までの距離)、(iii)2次元位
置検出装置邑Iの出力(基準面SS上のレーザビーム到
達点の座標)一 のデータから、ヘッドへの取付製差算出手段M2は、所
定の演算式に基づき、レーザ変位計LDのヘッドHDへ
の取り付け誤差を算出する。この演算式は、上記作業時
の各装置の位置関係から、予め幾何学的演鐸により求め
られるものである。なお、上記(1)〜(iii)のデ
ータは2箇所のヘッド冊位置の各々について全て取る必
要はなく、取り1」け誤差算出に必要なデータのみ利用
すれはよい。
[実施例] 本発明を一層明らかにする具体例を次に説明する。第2
図は本発明に係る較正装置を備えた3次元測定器の概略
構成図である。3次元測定器10は基準面となる定盤1
2上に門型のフレーJ114を備えた本体と制御装置1
6とから成る。フレーム14の北部ビーム18にはアー
ム20が取り付けられ、そのアーム20の定盤I2方向
端邪にはヘッド22が装着されている。ヘッド22には
各種の変位計をアダプタ乙こより取り付けることが可能
であり、本実施例の場合、レーザ変位計24が装着され
る。
フレーム14は定盤12上をX方向(第2図では紙面垂
直方向)に走行し、アーム20はビーム18上をV方向
(左右方向)に走行し、ヘッド22はアーム20により
Z方向に上下動されるため、変位計24は定盤12上に
置かれた物体の3次元形状をトレースすることができる
。これらの各方向の動作は制御装置16により制御され
、同時に、各方向の位置(座標値)はエンコーダにより
検出されて制御装置16に人力される。
レーザ変位計24は、レーザビームを下方に発射し、被
測定物体の表面で反引されて変位計24に戻ってくるビ
ームを検出する。この検出出力はレーザ変位計のコント
ローラ26により距離信号に変換され、表示パネルに数
値表示されたり、他の機器に出力されたりする。
更に、本実施例では、レーザ変位計24のヘッド22へ
の取り付け誤差を検出し、それ以後の3次元測定器10
の出力値を補正するための較正装置として、2次元位置
検出器(2次元P S D = PqsitionSe
nsitive Deviceとも呼ぶ)28と、取付
誤差演算回路30とを備える。2次元PSD2Bは、定
盤12上の所定点に置かれ、変位計24から発射される
レーザビームを受けて、その到達点の定盤12上の2次
元座標値を出力する。取付誤差演算回路30は第3図に
示す通り、CPU30a、ROM30b、RAM30c
、データ人出力を行うインタフェイス30d等を備えた
マイクロコンピュータを中心に構成されている。インタ
フェイス30dには前記2次元PSD28、レーザ変位
計24のコントローラ26および3次元測定器lOの制
御装置16が接続される他、後述の較正値演算の開始を
指示する較正スイッチ32およびオペレータへの指示や
演算結果等を表示するデイスプレィ34が接続される。
ROM30bにはレーザ変位計24のヘッド26への取
り付け誤差を算出するためのプログラムが格納されてお
り、CPU30aは、そのプログラムに従い、上記各装
置からインタフェイス30dを介して送られて来るデー
タを基に変位計24の取り付け誤差を算出する。この誤
差算出処理を次に説明する。
第4図に示す通り、レーザ変位計24を、アダプタ38
を介してヘッド22に取り付ける際のずれや傾きにより
、変位計24から発射されるレーザビーム40にも、基
準光軸(レーザ変位計24が正しく取り付けられたとき
のレーザビーム40の光軸=ヘッド220基準軸)42
からの平行ずれ44や傾き46が生じる。
このため、レーザ変位計24をヘッド22に取り付けた
ときに取付誤差演算回路30の較正スイッチ32を押し
、第5図に示すフローチャートを有するプログラムをス
タートさせる。
このプログラムがスタートすると、最初にステップ10
0でオペレータに対し、2次元PSD2Bの原点02を
定盤12上の座標値既知の基準点03に合わせるように
、デイスプレィ34上に指示を出す。オペレータがこれ
に従って2次元PSD2Bを定盤12上に置いた後、C
PU30aはステップ110で、3次元測定器IOの制
御装置16に対して、ヘッド22をその定盤12上の基
準点03上に持って来て、レーザビーム40を発射する
ように指令する。このときの幾何学的関係を第6図(A
)、(B)により説明する。
第6図(A)は横軸がX−V平面を表し、縦軸がZ=8
− 軸を表す。第6図(B)は定盤12上のx−y平面を衷
す。両図において、x−y平面の原点0は定盤12上の
基準点03=2次元PSD28の原点02を表す。
ヘッド22が定盤12上の基準点03上に来たとき、レ
ーザ変位計24のレーザビーム発射点は、取り付け誤差
により、原点Oの2軸上の点B”には来す、取付誤差分
(第4図の平行ずれ44)だけずれたBに位置する。ま
た、発射されたレーザビーム40は、さらにビームの傾
き46により、点Aに到達する。
なお、レーザビームの(頃き46は、X軸に対する角度
θ(第6図(A))とX軸に対する角度φ(第6図(B
))により衷される。
ステップ120では、このときのレーザ変位計24のコ
ントローラ26の出力であるZ方向の距離LBA、およ
び2次元PSD2Bの出力であるA点の座標値(xA、
  yA)を人力する。
次に、ステップ130では、3次元測定器10の制御装
置16に対して、ヘッド22をZ方向に所定距離LBC
だけ下げるように指示する。このとき、レーザビームの
到達点はDとなり、ステップ140では2次斤PSD2
[1の出力であるD点の座標値(xD、  yD)を人
力する。
以上のデータを基に、ステップ150では、取り11げ
誤差である頷き角度θ、φおよびP点の位置座標(xP
、  yP)を次のように算出する。
0 =arctan [5qr((xA −x D)2
+(yA、 −yD)2)/LBC]・・・(1) φ=arctan [(yA−yD)/(xA−xD)
]   =−(2)xP=xA−LB+〜・s i i
tθ”CO8φ       −(3)y P= y 
A −I−BA令sinθ◆s i nφ      
−(4)(sqrは平方根な衷ず) これらの式により上記ずれ徽が求められる理由は次の通
りである。なお、L、PA等は点P−点八への距離を表
す。
第6図(A)において、 tanθ=L、PA/I、BP= L DA/ L E
D= L DA/ L BC・・・(5) である。ご二で、 LDA=sqr((xA−xO)2+(yA−yl))
2)  −(6)であるから、式(1)が導かれる。
また、第6図([’()において、 tanφ=(yA  yD)/(xA−xD)    
  −(7)であるから、式(2)は直ちに導かれる。
次に、第6図(A)においで、 L AP= L BA−sinθ          
 −(10であり、第6図(B)において、 x A −x P= L AP−cosφ      
   =−(9)y A −y P= L AP−si
nφ         −(10)であるから、式(3
)および(4)が導かれる。
以上のようにして、レーザ変G”j、計24のヘッド2
2への取り付け誤差が求められると、これらのl餠差デ
ータは3次元測定器10の制御装置16に送られ、その
制御装置1Gでは、以後測定される3次元形状1直に対
して、この取り付け誤差を補償した正しいデータを表示
又は出力する。
この結果、本実施例では、レーザ変信ijf’2’lを
ヘッド22に正確に取り付けるためここ時間を費やす必
要はなく、多少の取り付け誤差を残したま;1::−3
次元測定器IOによる測定を行うことができる。
なお、」−記実施例では、取り付けエラ差のデータ=1
1− を;3次元測定器10へ送−)でいたが、取付誤差演算
回路30に誤差値を表示させ、それに従い変位計24の
取り付け調整を行うという方法ももちろん可能である。
[発明の効果コ 本発明に係る較正装置によると、3次元測定器のヘッド
にレーザ変位計を取り付けた後や変位計が被測定物と接
触して位置ずれを起こしたとき等に、簡単な操作で、そ
の取り付け誤差が算出できる。従−つで、変位計を正確
な位置に取り付けるまで調整を行う必要が無いため、変
位計を取り替えた後、短時間の後に3次元測定器を使用
することができる。また、この取り付け誤差のデータを
その後の23次元形状測定データの補正に用いる乙とに
より、富;こ正確な3次元形状の測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の概念的構成図、第2図は本発明に係る
較正装置が取り付けられた3次元測定器の概略構成図、
第3図は較正装置の電気ブロック図、第4図は取り付け
誤差の説明図、第5図は較正装置で行われる処理の)[
1−チャー1・1.第〔3図(A)および(B)は取り
付け誤差を算出する際の% 1iiJ学的関係を示すグ
ラフである。 TO510・・・3次元測定器、  曲、22−・・ヘ
ラI・、LD、24・・・レーザ変位計、 55・・・
基準面、川、28・・−2次元位置検出装置、 北・・・取付誤差算出手段、 30・・・取付誤差演算
回路代理人  弁理士  定立 勉 (他2名)第 図 第6図 (A) /′5U (B)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 レーザ変位計を取り付けることのできるヘッドを備えた
    3次元測定器の較正装置であって、3次元測定器の所定
    の基準面上に配置され、レーザ変位計から発射されるレ
    ーザビームの到達位置を検出する2次元位置検出装置と
    、 ヘッドを2箇所の位置に移動させ、それらのヘッド位置
    における、3次元測定器からの出力値と、レーザ変位計
    からの出力値と、レーザ変位計からのレーザビームを受
    けた2次元位置検出装置の出力値とから、レーザ変位計
    のヘッドへの取り付け誤差を算出する手段と、 を備えることを特徴とする3次元測定器の較正装置。
JP3291989A 1989-02-13 1989-02-13 3次元測定器の較正装置 Pending JPH02212704A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011221957A (ja) * 2010-04-14 2011-11-04 Yaskawa Electric Corp 移動体
CN103837093A (zh) * 2012-11-20 2014-06-04 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 光谱共焦传感器校准系统及方法
CN104048625A (zh) * 2013-03-12 2014-09-17 昆山允可精密工业技术有限公司 接触式薄板材尺寸自动测量仪

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