JPH02207609A - 広帯域減衰器 - Google Patents
広帯域減衰器Info
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- JPH02207609A JPH02207609A JP2934789A JP2934789A JPH02207609A JP H02207609 A JPH02207609 A JP H02207609A JP 2934789 A JP2934789 A JP 2934789A JP 2934789 A JP2934789 A JP 2934789A JP H02207609 A JPH02207609 A JP H02207609A
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- attenuator
- capacitor
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- Attenuators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【産業上の利用分野1
この発明は、大きな減衰量を有する広帯域減衰器に関す
る。 【従来の技術】 減衰器として一般的に用いられているものは、第2図の
ように構成されている。 すなわち、入力端子1が抵抗器2(抵抗[R+ )及び
抵抗器3(抵抗値R2)の直列回路を介して接地され、
これら抵抗器2及び3の接続点から出力端子4が導出さ
れる。また、入力端子1は、コンデンサ5(容量C,)
及び6(容量C2)の直列回路を介して接地され、これ
らコンデンサ5及び6の接続点は出力端子4に接続され
る。コンデンサ6は、後段のアンプの有する寄生容量で
ある。 なお、入力端子1に接続されているコンデンサ7は、入
力端子から見た場合の等価的な容量分を調整するための
もので、ここでは無関係である。 この第2図の回路においては、直流分及び低周波成分に
ついては、抵抗器2.3の抵抗値の比により減衰比が定
まり、高周波成分についてはコンデンサ5.6により減
衰比が定められる。 そして、この減衰器で周波数特性を平坦とするためには
、 R1・C,=R2・C2・・・・(1)の関係を満足す
るようにされる。
る。 【従来の技術】 減衰器として一般的に用いられているものは、第2図の
ように構成されている。 すなわち、入力端子1が抵抗器2(抵抗[R+ )及び
抵抗器3(抵抗値R2)の直列回路を介して接地され、
これら抵抗器2及び3の接続点から出力端子4が導出さ
れる。また、入力端子1は、コンデンサ5(容量C,)
及び6(容量C2)の直列回路を介して接地され、これ
らコンデンサ5及び6の接続点は出力端子4に接続され
る。コンデンサ6は、後段のアンプの有する寄生容量で
ある。 なお、入力端子1に接続されているコンデンサ7は、入
力端子から見た場合の等価的な容量分を調整するための
もので、ここでは無関係である。 この第2図の回路においては、直流分及び低周波成分に
ついては、抵抗器2.3の抵抗値の比により減衰比が定
まり、高周波成分についてはコンデンサ5.6により減
衰比が定められる。 そして、この減衰器で周波数特性を平坦とするためには
、 R1・C,=R2・C2・・・・(1)の関係を満足す
るようにされる。
ところで、磁性体の磁気特性を検査する装置として、第
4図に示すような装置が提案されている。 同図で、11は所定の磁性体からなる測定試料で、この
測定試料11には一次巻線12a及び2次巻線12bが
施される。 そして、正弦波発生器13からの正弦波信号が電力増幅
器14を介して1次巻線12aの一端側から供給される
。この1次巻線12aの他端側はシャント抵抗15を介
して接地されている。したがって、測定試料11の1次
巻線12aに流れる電流が、抵抗15の電位降下による
励磁電流信号として検出される。 この場合、この励磁電流信号は入力口12816の減衰
器17に供給されて減衰される。この減衰器17の出力
がアンプ18を介してデジタイザ21に供給される。 一方、測定試料11の1次巻線12aに正弦波信号が供
給されることにより2次巻線12b側に誘起される電圧
は誘起電圧信号として検出される。 この誘起電圧信号は、同様に入力回路16の減衰器19
及びアンプ20を介してデジタイザ21に供給される。 デジタイザ21では、これに入力された励磁電流信号及
び励起電圧信号がデジタル信号に変換され、これらデジ
タル信号がデジタル信号処理装置22に供給される。 デジタル信号処理回路22ではデジタイザ21からのデ
ジタル信号を記憶手段に一時記憶し、この記憶手段から
読み出した信号に基づいて、例えばB−H曲線を求める
ほか、種々の信号解析を行なう。 23はコントローラで、正弦波発生器13からの正弦波
の周波数や振幅をコントロールし、また、デジタイザ2
1や信号処理装置22にタイミング信号や制御信号を供
給する。 従来の一般的な磁気特性検査装置の場合には、上記のよ
うに励磁電流信号及び励起電圧信号のそれぞれをデジタ
ル信号にして一時的に記憶できる機能がなかったので、
B−H曲線などしか磁気特性として得ることができなか
ったが、第4図の装置の場合には、記憶手段から励磁電
流信号及び励起電圧信号のそれぞれを、適宜読み出すこ
とによりこれらの信号を詳細に調べることが可能である
。 したがって、測定試料について従来より詳細な磁気特性
の検査ができる。 上述したような磁気特性検査装置において、測定試料が
飽和状態になってくると、それぞれの検出信号である励
磁電流信号及び励起電圧信号が歪んで奇数次の高調波成
分を含んでくる0例えば、基本波である正弦波の周波数
の最大値をIOMH2とすると、検出信号は高調波信号
成分として30MHz、50 M Hz、70MHz、
90MHz・・・を含んだ合成信号となる。そのため、
この信号を忠実に検出するためには基本信号の最大値の
約10倍の周波数の信号を検出できる入力回路が必要と
なる。基本信号の周波数を上記の10MHzとしたとき
には、入力回路16としては100MHzの周波数帯域
が必要になる。 また、上記検出信号の振幅の最大は1ooボルト程度に
なるため、入力回路16にはl/100程度の大きな減
衰量の減衰器が設けられる。 以上のことがら、減衰器17及び19としては100M
Hzまでの広帯域に渡り平坦な周波数特性を有するとと
もに、l/100程度の大きな減衰比のものが必要であ
る。 この広帯域減衰器として、前述した第2図の従来の減衰
器を用いようとすると次のような問題が生じる。 第2図の減衰器において、減衰比を前述した1/100
にする場合について、各素子に具体的数値を代入して検
討する。 まず、実現可能な抵抗値として、抵抗値R,=990に
Ω、抵抗値R2=10.1にΩに選定する。そして、C
2= 10 p Ftルト、前記(1)式より、 C+ =C2−R2/R+ 中0.1 (pF)となる
。 通常、抵抗器2自体、0.2 (pF)以上の容量分を
有するため、この容量は不可能な値となる。 そこで、コンデンサ5の容量C7を、ある程度安定した
容量値、例えば3 (pF)程度とすると、C,、=C
1・R+ / R2= 294 (P F )となる、
つまり、後段のアンプの寄生容量C2として294 (
pF)という大きな容量を実装しなければならない。 このような比較的大きな容量のコンデンサを実装した場
合、減衰器を通じた信号の波形品質が悪くなる。 また、この容量C2= 295 p Fのコンデンサを
、例えばインダクタンスが約10nHのリード線1■に
て実装したとする。この場合において、このインダクタ
ンスと容量C2による共振周波数f1は、 帯域内にあり、測定した試料の検出信号に重畳される。 そして、この共振周波数f、は、IOMH2の基本波の
9次の高調波成分に近接しており、フィルタによって除
去することも困難である。 そこで、第2図の減衰器の減衰比を1/10としたもの
を2個用意し、この2個の減衰器24゜25を、第3図
に示すように直列に2個並べて、1 / 10 x 1
/ 10 = 1 / 100の減衰器を構成するこ
とも考えられる。このようにすれば、共振周波数は約1
34MHzとすることができ、測定周波数帯域外にする
ことができる。しかし、これでは、減衰器を2段通るこ
とになり、周波数特性は1段の場合よりも劣化するとと
もに、素子数が増え、構成が複雑になって好ましくない
。 この発明は、以上の欠点を改善した広帯域減衰器を提供
しようとするものである。 となる。 この周波数は、入力回路16の検出信号周波数
4図に示すような装置が提案されている。 同図で、11は所定の磁性体からなる測定試料で、この
測定試料11には一次巻線12a及び2次巻線12bが
施される。 そして、正弦波発生器13からの正弦波信号が電力増幅
器14を介して1次巻線12aの一端側から供給される
。この1次巻線12aの他端側はシャント抵抗15を介
して接地されている。したがって、測定試料11の1次
巻線12aに流れる電流が、抵抗15の電位降下による
励磁電流信号として検出される。 この場合、この励磁電流信号は入力口12816の減衰
器17に供給されて減衰される。この減衰器17の出力
がアンプ18を介してデジタイザ21に供給される。 一方、測定試料11の1次巻線12aに正弦波信号が供
給されることにより2次巻線12b側に誘起される電圧
は誘起電圧信号として検出される。 この誘起電圧信号は、同様に入力回路16の減衰器19
及びアンプ20を介してデジタイザ21に供給される。 デジタイザ21では、これに入力された励磁電流信号及
び励起電圧信号がデジタル信号に変換され、これらデジ
タル信号がデジタル信号処理装置22に供給される。 デジタル信号処理回路22ではデジタイザ21からのデ
ジタル信号を記憶手段に一時記憶し、この記憶手段から
読み出した信号に基づいて、例えばB−H曲線を求める
ほか、種々の信号解析を行なう。 23はコントローラで、正弦波発生器13からの正弦波
の周波数や振幅をコントロールし、また、デジタイザ2
1や信号処理装置22にタイミング信号や制御信号を供
給する。 従来の一般的な磁気特性検査装置の場合には、上記のよ
うに励磁電流信号及び励起電圧信号のそれぞれをデジタ
ル信号にして一時的に記憶できる機能がなかったので、
B−H曲線などしか磁気特性として得ることができなか
ったが、第4図の装置の場合には、記憶手段から励磁電
流信号及び励起電圧信号のそれぞれを、適宜読み出すこ
とによりこれらの信号を詳細に調べることが可能である
。 したがって、測定試料について従来より詳細な磁気特性
の検査ができる。 上述したような磁気特性検査装置において、測定試料が
飽和状態になってくると、それぞれの検出信号である励
磁電流信号及び励起電圧信号が歪んで奇数次の高調波成
分を含んでくる0例えば、基本波である正弦波の周波数
の最大値をIOMH2とすると、検出信号は高調波信号
成分として30MHz、50 M Hz、70MHz、
90MHz・・・を含んだ合成信号となる。そのため、
この信号を忠実に検出するためには基本信号の最大値の
約10倍の周波数の信号を検出できる入力回路が必要と
なる。基本信号の周波数を上記の10MHzとしたとき
には、入力回路16としては100MHzの周波数帯域
が必要になる。 また、上記検出信号の振幅の最大は1ooボルト程度に
なるため、入力回路16にはl/100程度の大きな減
衰量の減衰器が設けられる。 以上のことがら、減衰器17及び19としては100M
Hzまでの広帯域に渡り平坦な周波数特性を有するとと
もに、l/100程度の大きな減衰比のものが必要であ
る。 この広帯域減衰器として、前述した第2図の従来の減衰
器を用いようとすると次のような問題が生じる。 第2図の減衰器において、減衰比を前述した1/100
にする場合について、各素子に具体的数値を代入して検
討する。 まず、実現可能な抵抗値として、抵抗値R,=990に
Ω、抵抗値R2=10.1にΩに選定する。そして、C
2= 10 p Ftルト、前記(1)式より、 C+ =C2−R2/R+ 中0.1 (pF)となる
。 通常、抵抗器2自体、0.2 (pF)以上の容量分を
有するため、この容量は不可能な値となる。 そこで、コンデンサ5の容量C7を、ある程度安定した
容量値、例えば3 (pF)程度とすると、C,、=C
1・R+ / R2= 294 (P F )となる、
つまり、後段のアンプの寄生容量C2として294 (
pF)という大きな容量を実装しなければならない。 このような比較的大きな容量のコンデンサを実装した場
合、減衰器を通じた信号の波形品質が悪くなる。 また、この容量C2= 295 p Fのコンデンサを
、例えばインダクタンスが約10nHのリード線1■に
て実装したとする。この場合において、このインダクタ
ンスと容量C2による共振周波数f1は、 帯域内にあり、測定した試料の検出信号に重畳される。 そして、この共振周波数f、は、IOMH2の基本波の
9次の高調波成分に近接しており、フィルタによって除
去することも困難である。 そこで、第2図の減衰器の減衰比を1/10としたもの
を2個用意し、この2個の減衰器24゜25を、第3図
に示すように直列に2個並べて、1 / 10 x 1
/ 10 = 1 / 100の減衰器を構成するこ
とも考えられる。このようにすれば、共振周波数は約1
34MHzとすることができ、測定周波数帯域外にする
ことができる。しかし、これでは、減衰器を2段通るこ
とになり、周波数特性は1段の場合よりも劣化するとと
もに、素子数が増え、構成が複雑になって好ましくない
。 この発明は、以上の欠点を改善した広帯域減衰器を提供
しようとするものである。 となる。 この周波数は、入力回路16の検出信号周波数
この発明による広帯域減衰器は、
入力端子が第1及び第2の抵抗器の直列回路を介して接
地され、これら第1及び第2の抵抗器の接続点が出力端
子に接続され、 2個のコンデンサの直列回路が複数段設けられ、前段の
2個のコンデンサの接続点と接地間に後段の2個のコン
デンサの直列回路が接続され、初段の2個のコンデンサ
の直列回路は上記入力端子と接地間に接続され、最終段
の2個のコンデンサの接続点は上記出力端子に接続され
てなる。
地され、これら第1及び第2の抵抗器の接続点が出力端
子に接続され、 2個のコンデンサの直列回路が複数段設けられ、前段の
2個のコンデンサの接続点と接地間に後段の2個のコン
デンサの直列回路が接続され、初段の2個のコンデンサ
の直列回路は上記入力端子と接地間に接続され、最終段
の2個のコンデンサの接続点は上記出力端子に接続され
てなる。
例えば1/100の減衰比を得る場合に、入力信号の直
流分及び低周波分は第1及び第2の抵抗器にて1/10
0にされる。高周波分については例えば2段の2個のコ
ンデンサの直列回路により、それぞれ各段で1/10ず
つの減衰量を得て、合計で1/100とされる。 この場合、最終段の出力端子と接地間に接続されるコン
デンサが後段のアンプなどの回路の寄生容量となるが、
これを所定のインダクタンスを有するリード線で構成し
たとき、容量は第2図の従来例に比べて小さくなるので
共振周波数を従来よりも高くでき、高周波領域まで安定
した波形品質を得ることができる。
流分及び低周波分は第1及び第2の抵抗器にて1/10
0にされる。高周波分については例えば2段の2個のコ
ンデンサの直列回路により、それぞれ各段で1/10ず
つの減衰量を得て、合計で1/100とされる。 この場合、最終段の出力端子と接地間に接続されるコン
デンサが後段のアンプなどの回路の寄生容量となるが、
これを所定のインダクタンスを有するリード線で構成し
たとき、容量は第2図の従来例に比べて小さくなるので
共振周波数を従来よりも高くでき、高周波領域まで安定
した波形品質を得ることができる。
以下、この発明による広帯域減衰器の一実施例を、第1
図を参照しながら説明する。 入力端子31は抵抗器32(抵抗値R51)及び抵抗器
33(抵抗、値R42)の直列回路を介して接地される
。これら抵抗器32及び33の接続点は出力端子34に
接続される。 入力端子31は、また、コンデンサ35(容量C11)
及びコンデンサ36(容量C1□)を介して接地される
。これらコンデンサ35及び36の接続点はコンデンサ
37(容量C13)及びコンデンサ38(容量C14)
を介して接地され、これらコンデンサ37及び38の接
続点は出力端子34に接続される。 以上の構成によれば、直流分及び低周波分は、抵抗器3
2と33との抵抗値の比R12/ RHによって定まる
減衰比で減衰される。 また、高周波成分は、コンデンサ35.36の容量比C
I2 / C++ = Nとコンデンサ37及び38の
容量比CI4 / C13= Mとの合成比NXMで定
まる減衰比で減衰される。 この第1図例の広帯域減衰器を、前述した磁気特性検査
装置の入力回路の減衰器として使用する場合には、各素
子の値は例えば次のように選定される。 すなわち、前述のように減衰比は1/Zooとする。ま
た、周波数帯域は、基本波を10MHzとして9次の高
調波をも測定信号に含むようにするため、100MHz
程度の帯域を考える。 まず、抵抗器32の抵抗値R1,は990にΩ、抵抗器
33の抵抗値R72は10.1にΩとして直流分及び低
周波分について1/100の減衰比を実現する。 次に、コンデンサ35の容量C11を6pF、また、コ
ンデンサ36の容量CI2を54PFとして、高周波成
分に対して、これらコンデンサ35及び36で1/10
の減衰比を得るようにする。 同様にしてコンデンサ37の容量C43を6PF、また
、コンデンサ38の寄生容量C44を54PFとして高
周波成分に対して、さらに1/10の減衰比を得、合計
で1/100の減衰比を得るようにする。この場合、例
えば、寄生容量CI4 = 54PFのコンデンサ38
は、約10nHのリード線で実装する。 以上のように各値を選定した第1図の減衰器の共振周波
数f2は、 となる。 したがって、共振周波数f2は、測定帯域である100
MHzよりも十分高い周波数となり、容易にフィルタで
除去できる。このため、検出信号である励磁電流信号及
び励起電圧信号は、従来よりも高周波領域まで安定した
波形品質で得られる。 なお、以上の例においては、N=Mとしたが、N≠Mで
あっても勿論良い。 また、以上の例は高周波成分に対して2段の減衰器を構
成した場合であるが、前段の2個のコンデンサの直列回
路のコンデンサの接続点を後段の2個のコンデンサの直
列回路を介して接地し、最終段の2個のコンデンサの接
続点を出力端子に接続する構成として、高周波成分に対
しn段の減衰器を構成するようにすることもできる。こ
の場合には、各段の減衰比を掛は合わせたものが高周波
成分に対する合計の減衰比になる。
図を参照しながら説明する。 入力端子31は抵抗器32(抵抗値R51)及び抵抗器
33(抵抗、値R42)の直列回路を介して接地される
。これら抵抗器32及び33の接続点は出力端子34に
接続される。 入力端子31は、また、コンデンサ35(容量C11)
及びコンデンサ36(容量C1□)を介して接地される
。これらコンデンサ35及び36の接続点はコンデンサ
37(容量C13)及びコンデンサ38(容量C14)
を介して接地され、これらコンデンサ37及び38の接
続点は出力端子34に接続される。 以上の構成によれば、直流分及び低周波分は、抵抗器3
2と33との抵抗値の比R12/ RHによって定まる
減衰比で減衰される。 また、高周波成分は、コンデンサ35.36の容量比C
I2 / C++ = Nとコンデンサ37及び38の
容量比CI4 / C13= Mとの合成比NXMで定
まる減衰比で減衰される。 この第1図例の広帯域減衰器を、前述した磁気特性検査
装置の入力回路の減衰器として使用する場合には、各素
子の値は例えば次のように選定される。 すなわち、前述のように減衰比は1/Zooとする。ま
た、周波数帯域は、基本波を10MHzとして9次の高
調波をも測定信号に含むようにするため、100MHz
程度の帯域を考える。 まず、抵抗器32の抵抗値R1,は990にΩ、抵抗器
33の抵抗値R72は10.1にΩとして直流分及び低
周波分について1/100の減衰比を実現する。 次に、コンデンサ35の容量C11を6pF、また、コ
ンデンサ36の容量CI2を54PFとして、高周波成
分に対して、これらコンデンサ35及び36で1/10
の減衰比を得るようにする。 同様にしてコンデンサ37の容量C43を6PF、また
、コンデンサ38の寄生容量C44を54PFとして高
周波成分に対して、さらに1/10の減衰比を得、合計
で1/100の減衰比を得るようにする。この場合、例
えば、寄生容量CI4 = 54PFのコンデンサ38
は、約10nHのリード線で実装する。 以上のように各値を選定した第1図の減衰器の共振周波
数f2は、 となる。 したがって、共振周波数f2は、測定帯域である100
MHzよりも十分高い周波数となり、容易にフィルタで
除去できる。このため、検出信号である励磁電流信号及
び励起電圧信号は、従来よりも高周波領域まで安定した
波形品質で得られる。 なお、以上の例においては、N=Mとしたが、N≠Mで
あっても勿論良い。 また、以上の例は高周波成分に対して2段の減衰器を構
成した場合であるが、前段の2個のコンデンサの直列回
路のコンデンサの接続点を後段の2個のコンデンサの直
列回路を介して接地し、最終段の2個のコンデンサの接
続点を出力端子に接続する構成として、高周波成分に対
しn段の減衰器を構成するようにすることもできる。こ
の場合には、各段の減衰比を掛は合わせたものが高周波
成分に対する合計の減衰比になる。
以上のように、この発明によれば1個の減衰器で広帯域
に渡り、減衰比の大きな広帯域減衰器を実現することが
できる。 また、この発明によれば、高周波成分に対しては減衰比
の小さい減衰器を復数段設けたものになり、このため、
各段の2個のコンデンサの容量比は小さくなる。したが
って、最終段の出力端子と接地間との間に接続されるコ
ンデンサを、所定のインダクタンスを有するリード線で
実装したとしても、その共振周波数を必要帯域外の十分
に高い周波数にすることができるので、高周波領域まで
安定した周波数特性を得ることができる。
に渡り、減衰比の大きな広帯域減衰器を実現することが
できる。 また、この発明によれば、高周波成分に対しては減衰比
の小さい減衰器を復数段設けたものになり、このため、
各段の2個のコンデンサの容量比は小さくなる。したが
って、最終段の出力端子と接地間との間に接続されるコ
ンデンサを、所定のインダクタンスを有するリード線で
実装したとしても、その共振周波数を必要帯域外の十分
に高い周波数にすることができるので、高周波領域まで
安定した周波数特性を得ることができる。
第1図は、この発明の一実施例の回路図、第2図及び第
3図は、従来の減衰器の一例の回路図、第4図は、この
発明による広帯域減衰器を使用する装置の一例のブロッ
ク図である。 31;入力端子、 32.33;抵抗器 34;出力端子 35.36,37,38.コンデンサ 代理人 弁理士 佐 藤 正 美 広希可A食@国跡図 第1図 第 図 斐し=A゛衰呑 第3図
3図は、従来の減衰器の一例の回路図、第4図は、この
発明による広帯域減衰器を使用する装置の一例のブロッ
ク図である。 31;入力端子、 32.33;抵抗器 34;出力端子 35.36,37,38.コンデンサ 代理人 弁理士 佐 藤 正 美 広希可A食@国跡図 第1図 第 図 斐し=A゛衰呑 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 入力端子が第1及び第2の抵抗器の直列回路を介して接
地され、これら第1及び第2の抵抗器の接続点が出力端
子に接続され、 2個のコンデンサの直列回路が複数段設けられ、前段の
2個のコンデンサの接続点と接地間に後段の2個のコン
デンサの直列回路が接続され、初段の2個のコンデンサ
の直列回路は上記入力端子と接地間に接続され、最終段
の2個のコンデンサの接続点は上記出力端子に接続され
てなる広帯域減衰器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2934789A JPH02207609A (ja) | 1989-02-08 | 1989-02-08 | 広帯域減衰器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2934789A JPH02207609A (ja) | 1989-02-08 | 1989-02-08 | 広帯域減衰器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02207609A true JPH02207609A (ja) | 1990-08-17 |
Family
ID=12273695
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2934789A Pending JPH02207609A (ja) | 1989-02-08 | 1989-02-08 | 広帯域減衰器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02207609A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008271449A (ja) * | 2007-04-25 | 2008-11-06 | Yokogawa Electric Corp | 減衰器 |
-
1989
- 1989-02-08 JP JP2934789A patent/JPH02207609A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008271449A (ja) * | 2007-04-25 | 2008-11-06 | Yokogawa Electric Corp | 減衰器 |
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