JPH0219488B2 - - Google Patents

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JPH0219488B2
JPH0219488B2 JP56208478A JP20847881A JPH0219488B2 JP H0219488 B2 JPH0219488 B2 JP H0219488B2 JP 56208478 A JP56208478 A JP 56208478A JP 20847881 A JP20847881 A JP 20847881A JP H0219488 B2 JPH0219488 B2 JP H0219488B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
key
keyboard
tested
test
keyboards
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP56208478A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS58107946A (en
Inventor
Takeo Kuwabara
Takaya Tanya
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0219488B2 publication Critical patent/JPH0219488B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G06F11/2221Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested to test input/output devices or peripheral units

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Input From Keyboards Or The Like (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 本発明はキーボードの試験方法に関する。[Detailed description of the invention] (a) Technical field of the invention The present invention relates to a method for testing a keyboard.

(b) 従来技術と問題点 キーボードを試験するにはキーボードを構成す
る多数のキーのそれぞれについて、その機能とキ
ーの種別を示すキートツプ上の表示とを検査しな
ければならない。上記多数のキーにはその機能か
ら見て文字キーと機能キーとがあり、文字キーは
表示装置上に文字を表示せしめるためのキーであ
るのに対し、機能キーはシステムに一連の動作の
実行を指令するためのキーである。このような機
能キーの機能を直接試験するには、試験対象キー
ボードに、各キーの機能に関連して対になる本体
装置などの各種装置を接続し、各機能キーを押下
して前記各種装置を実際に動作させ、その動作が
正常か否かを確かめねばならない。
(b) Prior Art and Problems To test a keyboard, it is necessary to check the function of each of the many keys that make up the keyboard and the display on the key top indicating the type of key. Among the many keys mentioned above, there are character keys and function keys in terms of their functions.Character keys are keys for displaying characters on a display device, while function keys execute a series of operations on the system. This is the key to command. To directly test the functions of such function keys, connect various devices such as the main unit that are paired with each key's function to the keyboard under test, and press each function key to test the functions of the various devices. It is necessary to actually operate the system and check whether the operation is normal or not.

従つてかかるキーボードを試験するのに、従来
は一連のシステムを必要とし、しかも試験者は多
種類にわたるキーボードの各キーの機能を熟知し
ていなければならなかつた。
Therefore, testing such keyboards has traditionally required a series of systems, and required the tester to be familiar with the functions of each key on a wide variety of keyboards.

(c) 発明の目的 本発明の目的は上記問題点を解消し、キーボー
ドの機能を知らなくても試験可能なキーボードの
試験方法を提供することにある。
(c) Purpose of the Invention The purpose of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to provide a keyboard testing method that allows testing even without knowledge of keyboard functions.

(d) 発明の構成 本発明の特徴は、複数個のキーが二次元的に配
列されてなり、前記キーを押下することにより各
キーに対応するコードを送出する種類の異なる複
数のキーボードを試験する方法において、中央処
理装置と記憶装置と表示装置とキーボード選択用
のセレクタ・スイツチとを設け、前記記憶装置に
は前記複数種類の被試験キーボードの試験プログ
ラムとキーの配列及びそれらキーのコードとを予
め格納しておき、キーボードの試験に際して、前
記セレクタ・スイツチ操作による被試験キーボー
ドの機種選択に応じて前記中央処理装置が前記記
憶装置から対応する試験プログラムを読み出しそ
のプログラムに従つて前記表示装置に被試験キー
ボードの被試験キーを順次、キーの配列順にキー
トツプの表示符号で表示して指示し、該指定され
たキーの押下に応じて前記中央処理装置がその送
出されるコードと前記記憶装置に格納されたコー
ドとを比較して当該キーの良否結果を前記表示装
置に表示せしめることにある。
(d) Structure of the Invention A feature of the present invention is that a plurality of keyboards of different types are tested, in which a plurality of keys are arranged two-dimensionally, and a code corresponding to each key is sent out when the key is pressed. In the method, a central processing unit, a storage device, a display device, and a selector switch for selecting a keyboard are provided, and the storage device stores test programs, key arrangements, and codes of the keys for the plurality of types of keyboards to be tested. is stored in advance, and when testing a keyboard, the central processing unit reads a corresponding test program from the storage device in response to selecting the model of the keyboard under test by operating the selector switch, and then displays the display device according to the program. The keys to be tested on the keyboard to be tested are displayed sequentially in the order of arrangement of the keys with display codes on the key tops, and in response to the pressing of the designated keys, the central processing unit sends the code to be sent and the storage device. The purpose of the present invention is to compare the code stored in the key with the code stored in the key and display the result of the pass/fail of the key on the display device.

(e) 発明の実施例 以下本発明の一実施例を第1図及び第2図によ
り説明する。
(e) Embodiment of the Invention An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 and 2.

第1図は上記一実施例に使用した、キーボード
の試験装置を示す要部システム構成図である。同
図において、1はマイクロプロセツサ(MPU)
のような中央処理装置、2は記憶装置、3はイン
タフエース、4は試験対象キーボードの機種に対
応する試験プログラムを選択するためのセレク
タ・スイツチのような操作卓、5はCRTのよう
な表示装置、6はスピーカ、7は試験対象キーボ
ード、8はバス線でこれにより前記記憶装置2や
インタフエース3がMPU1に接続される。また
上記記憶装置2は、2組の読み出し専用半導体記
憶装置(ROM)9,10により構成し、一方、
9に各種の被試験キーボードの試験プログラム
を、他方10にキーの配列及びそれら各キーのコ
ードを予めキーボードの種類に対応して格納して
ある。
FIG. 1 is a main system configuration diagram showing a keyboard testing device used in the above embodiment. In the figure, 1 is a microprocessor (MPU)
2 is a storage device, 3 is an interface, 4 is a console like a selector switch for selecting a test program corresponding to the model of the keyboard to be tested, and 5 is a display like a CRT. The device includes a speaker 6, a keyboard 7 to be tested, and a bus line 8 through which the storage device 2 and interface 3 are connected to the MPU 1. The storage device 2 is composed of two sets of read-only semiconductor storage devices (ROM) 9 and 10;
Test programs for various keyboards to be tested are stored in 9, and key arrangements and codes for each key are stored in 10 in advance in correspondence with the types of keyboards.

次に上記試験装置を用いた本実施例のキーボー
ドの試験方法を、第2図のフローチヤートを参照
しながら説明する。
Next, a method for testing the keyboard of this embodiment using the above-mentioned testing device will be explained with reference to the flowchart shown in FIG.

まずセレクタ・スイツチ4を所定の位置にセツ
トすることにより、試験対象キーボード7の機種
を試験装置に通知する。MPU1はセレクタ・ス
イツチ4から送出された信号により試験対象機種
を検知し、記憶装置2のROM9をして対応する
試験プログラムを呼び出して試験装置の初期化等
の試験の準備を行なつた後、表示装置5の画面上
に試験可能であることを表示する。
First, by setting the selector switch 4 to a predetermined position, the type of the keyboard 7 to be tested is notified to the testing apparatus. The MPU 1 detects the model to be tested based on the signal sent from the selector switch 4, reads the corresponding test program from the ROM 9 of the storage device 2, and prepares for the test by initializing the test device. The fact that the test is possible is displayed on the screen of the display device 5.

試験可能となつたら、試験対象キーボード7を
試験装置に接続する。すると表示装置5に試験す
べきキーが順次、キーボードのキー配列順にキー
トツプの表示符号、例えば文字、数字、記号、キ
ー機能の表示名などで1個ずつ表示されるので、
試験者は表示に従つて指定されたキーを押下す
る。例えば表示装置5に『A』と表示されたとき
は、試験者はキートツプ上に『A』と刻印された
キーを押す。キーが押されるとキーボード7から
押されたキーに対応するコードが送出され、
MPU1はこれを記憶装置2のROM10に格納
されている当該機種の『A』のコードと比較す
る。そして両者が一致しているか否かによつて、
良または不良であることを、表示装置5の画面に
表示する。このときスピーカ6より音声或いは音
色を用いて上記良否を知らせることも可能であ
る。
When the test becomes possible, the keyboard 7 to be tested is connected to the test device. Then, the keys to be tested are displayed one by one on the display device 5 in the order of the key layout of the keyboard, using the display symbols on the key tops, such as letters, numbers, symbols, and display names of key functions.
The tester presses the designated key according to the display. For example, when "A" is displayed on the display device 5, the tester presses a key with "A" engraved on the key top. When a key is pressed, the code corresponding to the pressed key is sent from the keyboard 7,
The MPU 1 compares this with the "A" code of the model stored in the ROM 10 of the storage device 2. And depending on whether the two agree or not,
It is displayed on the screen of the display device 5 that it is good or bad. At this time, it is also possible to notify the above-mentioned pass/fail using voice or tone from the speaker 6.

本実施例ではこの操作を表示に従つて順次繰り
返すのであるが、ここで注目すべきは各キーの機
能を直接検査するのではなく、キーを押下したと
きに送出されるコードを検査するのみであるか
ら、従来の試験方法のように一連のシステムを接
続する必要がなく、しかも上記コードの検査は試
験装置が行うので試験者は各キーの機能を熟知し
ている必要はないことである。
In this example, this operation is repeated sequentially according to the display, but what should be noted here is that the function of each key is not directly inspected, but only the code sent when a key is pressed is inspected. This eliminates the need to connect a series of systems as in conventional testing methods, and the tester does not need to be familiar with the functions of each key because the test equipment performs the code inspection.

以後、上記操作を終了の表示が出るまで繰り返
すことにより、キーボード7の試験が終了する。
Thereafter, the test of the keyboard 7 is completed by repeating the above-mentioned operation until the completion display appears.

このように本実施例においては、試験者は表示
に従つて指定されたキーを押下することと、その
キートツプの刻印を確認するのみで良く、従来方
法のように各キーの機能を熟知している必要はな
くなつた。しかも本実施例では、キーボードのキ
ー配列が合わせてチエツクすることができ、キー
を1度押下し良であればプログラムは次に進むた
めチヤタリングなどのスイツチ不良を発見するこ
とができる。また、試験対象キーボード7の機種
を変更するに際しても、単にセレクタ・スイツチ
4の設定を変更するのみで良く、試験対象キーボ
ードが多種類にわたつてもなんら問題はない。
In this way, in this example, the tester only needs to press the designated key according to the display and check the markings on the key top, and unlike the conventional method, the tester does not have to be familiar with the function of each key. There was no longer a need to be there. Moreover, in this embodiment, it is possible to check the key arrangement of the keyboard, and if the key is pressed once and the program goes on to the next step, it is possible to detect switching defects such as chattering. Further, when changing the model of the keyboard 7 to be tested, it is sufficient to simply change the setting of the selector switch 4, and there is no problem even if there are many types of keyboards to be tested.

なお本発明は上記一実施例に限定されることな
く種々変形して実施し得る。
Note that the present invention is not limited to the one embodiment described above, and can be implemented with various modifications.

例えば試験対象機種に対応する試験プログラム
を選択するための手段は、上述のセレクタ・スイ
ツチに変えて、キーボードに機種を示すバーコー
ドを添付しておき、これをバーコード読取り装置
により検知し、対応する試験プログラムを呼び出
すようにしても良い。試験対象機種が一種類の場
合にはこのような試験プログラムの選択手段を要
しないことは勿論である。
For example, instead of using the selector switch mentioned above, the means to select the test program that corresponds to the model to be tested is to attach a barcode indicating the model to the keyboard, detect this with a barcode reader, and take appropriate action. It may also be possible to call a test program to perform the test. Of course, when there is only one model to be tested, such a test program selection means is not required.

(f) 発明の効果 以上説明した如く本発明によれば、試験対象キ
ーボードの多数のキーの機能を熟知している必要
がないので、キーボードの試験が極めて容易とな
る。また本発明を実施するに当つては機能キーに
関連する各種装置よりなる一連のシステムを使用
する必要がなく、使用する試験装置は通常用いら
れるデイスプレイ装置を若干改良することにより
作成出来るので、装置費用も安価である。
(f) Effects of the Invention As explained above, according to the present invention, it is not necessary to be familiar with the functions of many keys on the keyboard to be tested, making keyboard testing extremely easy. Furthermore, in carrying out the present invention, it is not necessary to use a series of systems consisting of various devices related to function keys, and the test device used can be created by slightly modifying a commonly used display device. The cost is also low.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例に用いた試験装置を
示す要部システム構成図、第2図は上記第1図の
試験装置による試験方法を説明するためのフロー
チヤートである。 図において、1は中央処理装置、2は記憶装
置、4は試験対象キーボード選択用の操作卓、5
は表示装置、7は試験対象キーボードを示す。
FIG. 1 is a main system configuration diagram showing a test apparatus used in an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a flowchart for explaining a test method using the test apparatus shown in FIG. 1. In the figure, 1 is the central processing unit, 2 is the storage device, 4 is the operation console for selecting the keyboard to be tested, and 5
indicates a display device, and 7 indicates a keyboard to be tested.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数個のキーが二次元的に配列されてなり、
前記キーを押下することにより各キーに対応する
コードを送出する種類の異なる複数のキーボード
を試験する方法において、 中央処理装置と記憶装置と表示装置とキーボー
ド選択用のセレクタ・スイツチとを設け、前記記
憶装置には前記複数種類の被試験キーボードの試
験プログラムとキーの配列及びそれらキーのコー
ドとを予め格納しておき、キーボードの試験に際
して、 前記セレクタ・スイツチ操作による被試験キー
ボードの機種選択に応じて前記中央処理装置が前
記記憶装置から対応する試験プログラムを読み出
しそのプログラムに従つて前記表示装置に被試験
キーボードの被試験キーを順次、キーを配列順に
キートツプの表示符号で表示して指示し、該指定
されたキーの押下に応じて前記中央処理装置がそ
の送出されるコードと前記記憶装置に格納された
コードとを比較して当該キーの良否結果を前記表
示装置に表示せしめることを特徴とするキーボー
ドの試験方法。
[Claims] 1. A plurality of keys arranged two-dimensionally,
In a method for testing a plurality of different types of keyboards, in which a code corresponding to each key is sent by pressing the key, a central processing unit, a storage device, a display device, and a selector switch for selecting the keyboard are provided, The storage device stores test programs, key layouts, and codes of the keys for the plurality of types of keyboards to be tested in advance, and when testing the keyboard, the test programs for the plurality of types of keyboards to be tested are stored in advance, and when testing the keyboard, the test programs are stored in advance in accordance with the selection of the model of the keyboard to be tested by operating the selector switch. the central processing unit reads a corresponding test program from the storage device, and in accordance with the program, instructs the display device to sequentially display the keys to be tested of the keyboard to be tested with display symbols on the key tops in the order of arrangement; In response to pressing of the designated key, the central processing unit compares the transmitted code with the code stored in the storage device, and displays the pass/fail result of the key on the display device. How to test keyboards.
JP56208478A 1981-12-22 1981-12-22 Test method for keyboard Granted JPS58107946A (en)

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JPS58107946A JPS58107946A (en) 1983-06-27
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