JPH02184704A - Length measuring instrument - Google Patents

Length measuring instrument

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JPH02184704A
JPH02184704A JP452089A JP452089A JPH02184704A JP H02184704 A JPH02184704 A JP H02184704A JP 452089 A JP452089 A JP 452089A JP 452089 A JP452089 A JP 452089A JP H02184704 A JPH02184704 A JP H02184704A
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JP
Japan
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scale
stage
plate
position sensor
axis
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Application number
JP452089A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshikazu Kajikawa
敏和 梶川
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Abstract

PURPOSE:To reduce the error of an XY stage depending upon a mechanism by forming scale patterns on a scale plate while extending the scale patterns by specific length at orthogonal direction to a moving direction as a length measurement direction. CONSTITUTION:The top and reverse surfaces of the scale plate 210 are varied in refractive index periodically to form the scale patterns (length: about 40mm, period: about several mum) which accurately cross orthogonally each other. As one method for assembling the scale plate on the XY stage, the plate 201 is moved in two dimensions and X-axisl and Y-axisl position sensors (a light emitting element and a light receiving element are incorporated.) 204 and 205 are fixed. When the XY stage moves in a Y-axial moving direction 206, positioning servocontrol is used with the signal of the sensor 205 and then the XY stage moves in the direction 206 accurately along the pattern 203. Movement in an X-axial movement direction is the same. Namely, the total positioning accuracy is determined only by the manufacture accuracy of the plate 201 without being affected by the mechanism elements of the XY stages.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ステージの位置制御に用いる測長装置に関し
、特にXYステージ等の2次元移動体の位置計測装置に
関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a length measuring device used to control the position of a stage, and particularly to a position measuring device for a two-dimensional moving body such as an XY stage.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、xYステージの位置制御を行なうための副長装置
としては、ロータリエンコーダやリニアエンコーダが主
として用いられてきた。このうち、リニアエンコーダは
ステージの移動長を直接61できるため、比較的精度の
高い装置に採用されてきた。このリニアエンコーダの構
成を第4図に示す。同図において、リニアエンコーダハ
、リニアスケール401 と位置センサ402 とから
構成される。このリニアスケール401は一定周期で反
射率又は透過率の変化するスケールパターン403が描
かれたガラス又は金属基板により形成されている。この
リニアスケール401に対して位置センサ402内の発
光素子から出た光はIJ Wアメケール401 を透過
又は反射した後、受光素子にょシ検出される。このとき
、リニアスケ−#401が位置センサ402に対してス
ケールパターン4030周期方向の測長方向404に相
対移動すると、受光素子はパターン周期に同期した信号
を出力する。この信号変化をカウントすることにょシ、
リニアスケール401と位置センサ402との間の相対
移動距離が求められる。
Conventionally, rotary encoders and linear encoders have been mainly used as sub-length devices for controlling the position of the xY stage. Among these, the linear encoder can directly change the moving length of the stage, so it has been used in relatively high-precision devices. The configuration of this linear encoder is shown in FIG. In the figure, a linear encoder is composed of a linear scale 401 and a position sensor 402. This linear scale 401 is formed of a glass or metal substrate on which a scale pattern 403 whose reflectance or transmittance changes at regular intervals is drawn. Light emitted from the light emitting element in the position sensor 402 with respect to the linear scale 401 is transmitted or reflected by the IJW American scale 401 and then detected by the light receiving element. At this time, when the linear scale #401 moves relative to the position sensor 402 in the length measurement direction 404 in the periodic direction of the scale pattern 4030, the light receiving element outputs a signal synchronized with the pattern period. In order to count this signal change,
The relative movement distance between linear scale 401 and position sensor 402 is determined.

次に、リニアエンコーダをxYステージに適用した例を
第5図に示す。本例はYステージの上にXステージを載
せる構成をとっている。同図において、XステージはY
軸ガイドレール501の上に載せられ、モータ502と
ボールネジ503とによりye力方向移動する。Y軸方
向位置の検出は、Xステージに固定されたY動用リニア
スケール504とYステージに固定されたY軸周位置セ
ンサ505とにより行なわれる。同様に載物台506は
Xステージ上のX軸ガイドレール507上に載せられ、
X軸駆動モータ508 とX軸駆動ボールネジ509と
によ、6x軸方向に移動する。X軸方向位置の検出は載
物台506上に固定されたX動用リニアスケール510
とXステージに固定されたX軸周位置センサ511Iと
によシ検出される。
Next, FIG. 5 shows an example in which a linear encoder is applied to an xY stage. This example has a configuration in which the X stage is mounted on the Y stage. In the same figure, the X stage is
It is placed on a shaft guide rail 501 and moved in the direction of the ye force by a motor 502 and a ball screw 503. Detection of the position in the Y-axis direction is performed by a Y-movement linear scale 504 fixed to the X stage and a Y-axis circumferential position sensor 505 fixed to the Y stage. Similarly, the stage 506 is placed on the X-axis guide rail 507 on the X stage,
It moves in the 6x-axis direction by an X-axis drive motor 508 and an X-axis drive ball screw 509. The position in the X-axis direction is detected using an X-motion linear scale 510 fixed on the stage 506.
and an X-axis circumferential position sensor 511I fixed to the X stage.

〔発明が解決しようとする課題〕 上述した従来のリニアスケールを用いたXYステージで
は、次のようが問題があった。すなわち、その1つはX
Yステージの直交度は、リニアスケール504,509
  とは無関係にxyステージ機構の組立精度に依存し
ている点である。すなわち、直交精度を上げようとすれ
ば、精密な直交度測定用の装置および十分な調整時間が
必要となる。また、他の1つはステージの直進性はガイ
ドとその組立精度とに大きく依存している点である。す
なわち、ガイドの非直線性に起因する位置誤差は、リニ
アエンコーダでは検出できない。したがって十分な精度
を得ようとすれば、十分吟味されたガイド部品を用い、
熟練した作業者が組立てる必要があった。さらにエアス
ライダ等の非接触のガイドでないかぎシ、摩耗等による
精度の経年劣化はさけられないという問題があった。
[Problems to be Solved by the Invention] The above-mentioned conventional XY stage using a linear scale has the following problems. That is, one of them is
The orthogonality of the Y stage is determined by linear scales 504 and 509.
The point is that it depends on the assembly accuracy of the xy stage mechanism regardless of the above. That is, in order to improve the orthogonality accuracy, a precise orthogonality measuring device and sufficient adjustment time are required. Another point is that the straightness of the stage is largely dependent on the guide and its assembly accuracy. That is, positional errors due to nonlinearity of the guide cannot be detected by a linear encoder. Therefore, if you want to obtain sufficient accuracy, use carefully selected guide parts,
It needed to be assembled by a skilled worker. Furthermore, there is a problem that deterioration of accuracy over time due to abrasion, etc. due to hooks that are not a non-contact guide such as an air slider cannot be avoided.

〔!1題を解決するための手段〕 本発明による測長装置としてリニアエンコーダを第1図
に示す。同図において、本来の測長方向である移動方向
に対して本発明ではスケール板101上のスケールパタ
ーン102を、測長方向としての移動方向103と直交
する方向、すなわち移動方向104に延長する。とのス
ケール板101の移動方向104の長さは、本発明によ
るスケール板101を用いてXYステージを組んだ場合
の直交する軸の移動距離をカバーできるだけ必要である
[! Means for Solving Problem 1] FIG. 1 shows a linear encoder as a length measuring device according to the present invention. In the figure, in the present invention, a scale pattern 102 on a scale plate 101 is extended in a direction perpendicular to a movement direction 103 as a length measurement direction, that is, a movement direction 104, with respect to the movement direction which is the original length measurement direction. The length of the scale plate 101 in the moving direction 104 is necessary to cover the moving distance of the orthogonal axes when an XY stage is assembled using the scale plate 101 according to the present invention.

〔作用〕[Effect]

同図においては、位置センサ10!iが移動方向104
に動く場合、仮にスケールパターン102と完全に平行
でなければ、位置セ/す105かも移動方向103に関
する位置ずれ信号が検出される。この信号を位置決めサ
ーボ信号として利用すれば、移動方向104にXYステ
ージが移動する場合、スケールパターン102に正確に
追従させることができる。このため、本発明によるリニ
アスケール板101 を用いたXYステージでは、スケ
ール板101  の精度により、xyXステージ直交性
、直進性が決まり、機構に依存する誤差は大幅に低減さ
れる。
In the figure, position sensor 10! i is the moving direction 104
If the scale pattern 102 is not completely parallel to the scale pattern 102, the position sensor 105 will also detect a positional deviation signal in the moving direction 103. If this signal is used as a positioning servo signal, when the XY stage moves in the movement direction 104, it is possible to accurately follow the scale pattern 102. Therefore, in the XY stage using the linear scale plate 101 according to the present invention, the accuracy of the scale plate 101 determines the orthogonality and straightness of the xyX stage, and errors depending on the mechanism are significantly reduced.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明による測長装置の一実施例としてリニアエン
コーダをxYステージに適用する場合の構成を図に従っ
て説明する。
Next, a configuration in which a linear encoder is applied to an xY stage as an embodiment of the length measuring device according to the present invention will be described with reference to the drawings.

(実施例1) 第2図(a) 、 (b)は本発明に係わるリニアスケ
ールを一基板の表裏面に構成した場合の上方から見た平
面図、側面から見た平面図を示したものである。
(Example 1) Figures 2(a) and 2(b) show a plan view from above and a plan view from the side when linear scales according to the present invention are configured on the front and back surfaces of one substrate. It is.

同図において、スケール板2010表裏面には、反射率
を周期的に変化させたスケールパターン202.203
が描かれておシ、これらの表裏面のスケールパターン2
02,203は互いに正確に直交させて形成されている
。本実施例のスケール板201は反射型のスケールとし
て使われる。したがってスケール板201 の作り方と
しては、金属板に高反射率の金属を格子状に蒸着してス
ケールパターンを形成しこの金属板を2枚表裏にはυ合
わせる方法などがある。また、このスケール板201 
 の上下面に対向して配設されるY軸位置センサ204
およびX軸位置センサ205には、発光素子と受光素子
とがそれぞれ組込まれており、スケール板201 の表
面からの反射光変化により、移動距離を求めることがで
きる。
In the figure, scale patterns 202 and 203 whose reflectances are periodically changed are shown on the front and back surfaces of a scale plate 2010.
are drawn on these scale patterns 2 on the front and back sides.
02 and 203 are formed to be exactly orthogonal to each other. The scale plate 201 of this embodiment is used as a reflective scale. Therefore, the scale plate 201 can be made by depositing a highly reflective metal on a metal plate in a grid pattern to form a scale pattern, and then aligning two metal plates υ on the front and back sides. In addition, this scale plate 201
Y-axis position sensor 204 arranged opposite to the upper and lower surfaces of
The X-axis position sensor 205 has a light-emitting element and a light-receiving element incorporated therein, and the distance traveled can be determined by changes in reflected light from the surface of the scale plate 201.

本実施例のリニアエンコーダをxYステージに組込む場
合2つの方法がある。その1つはスケール板201 を
2次元に移動させ、Y軸位置センサ204、X軸位置セ
ンサ205 を固定しておく方法で、他の1つは第5図
に示すようにY軸ステージの上にX軸ステージが載る構
成のxYステージの場合、Y軸位置センサ204はX軸
ステージに固定し、X軸位置センサ205は載物台50
6 に固定する。XYステージとしてモノリシックIC
用レーザトリマのビームポジショナを考えた場合、XY
ステージ可動範囲は20X20mnz位置分解能l−i
 0.1μm程度と力る。したがって、この場合の本発
明によるスケール板201は40 X 40mm程度の
スケール長さを持ち、描かれるパターンの周期は数μm
程度にして1周期内の位置検出は、受光信号強度の分割
により位置分解能0.1μmまで求めればよい。
There are two ways to incorporate the linear encoder of this embodiment into an xY stage. One method is to move the scale plate 201 two-dimensionally and fix the Y-axis position sensor 204 and the X-axis position sensor 205. The other method is to move the scale plate 201 two-dimensionally and fix the Y-axis position sensor 204 and In the case of an xY stage configured such that the X-axis stage is mounted on the stage, the Y-axis position sensor 204 is fixed to the X-axis stage, and the
Fixed at 6. Monolithic IC as XY stage
When considering the beam positioner of a laser trimmer for
Stage movable range is 20x20mnz position resolution l-i
The force is about 0.1 μm. Therefore, the scale plate 201 according to the present invention in this case has a scale length of about 40 x 40 mm, and the period of the drawn pattern is several μm.
Position detection within one period can be determined by dividing the intensity of the received light signal to a position resolution of 0.1 μm.

このよう々構成において、xYステージがY軸移動方向
206に移動する時にX軸位置センサ205の信号によ
り位置決めサーボを用いれば刈′ステージはスケール板
201の裏面に描かれたパターン203に正[K沿って
Y軸移動方向208に移動する。また、逆のX軸移動方
向20Fの場合も同様である。したがってスケール板2
01 を採用した場合、xYステージの機構的表要素に
全く影響を受けずにスケール板201の製作精度のみで
全体の位置決め精度が決まるので、XYステージの組立
調整が簡単となシ、機構の摩耗劣化による長期的な精度
低下もなく壜って均質なxYステージを量産できるよう
になる。
In this configuration, when the xY stage moves in the Y-axis movement direction 206, if the positioning servo is used based on the signal from the along the Y-axis movement direction 208. The same holds true for the opposite X-axis movement direction 20F. Therefore, scale plate 2
01, the overall positioning accuracy is determined only by the manufacturing accuracy of the scale plate 201 without being affected by the mechanical table elements of the xY stage, which simplifies the assembly and adjustment of the XY stage and reduces mechanical wear. It becomes possible to mass-produce homogeneous xY stages without long-term deterioration in accuracy due to deterioration.

(実施例2) 第3図は本発明による測長装置としてリニアスケールの
他の実施例を示す平面図である。同図においては、スケ
ール板301 の同一面内KXXススケールパターン0
2とYllhll−ルパターン303 とが互いに直交
して描かれている。したがってY軸位置センサ304 
およびX軸位置センサ305 には発光素子と受光素子
とが同一面側にくる反射型センサの他に発光素子と受光
素子との間にスケール板301 が入る透過型センサも
利用可能でちる。したがってスケール板301 は、実
施例1の場合のような金属板以外にガラス基板にスケー
ルパターンを蒸着して製作することもできる。
(Embodiment 2) FIG. 3 is a plan view showing another embodiment of a linear scale as a length measuring device according to the present invention. In the same figure, the KXX scale pattern 0 on the same plane of the scale plate 301 is shown.
2 and Yllllll pattern 303 are drawn perpendicular to each other. Therefore, the Y-axis position sensor 304
As the X-axis position sensor 305, in addition to a reflective sensor in which the light emitting element and the light receiving element are on the same side, a transmission type sensor in which the scale plate 301 is inserted between the light emitting element and the light receiving element can also be used. Therefore, the scale plate 301 can be manufactured by depositing a scale pattern on a glass substrate instead of a metal plate as in the first embodiment.

なお、306はY軸移動方向、307 tiX軸移動方
向である。
Note that 306 is the Y-axis movement direction, and 307 is the X-axis movement direction.

このような構成によると、反射型センサを使う構成とし
た場合、X軸位置セ/す305 およびX軸位置センサ
304がスケール板301 に対して同一面側にくるた
め、実施例1に比べてXYエステ−機構にリニアスケー
ルを取付けやすくなる。
According to such a configuration, when a reflection type sensor is used, the X-axis position sensor 305 and the X-axis position sensor 304 are on the same side with respect to the scale plate 301, which makes it easier to use than the first embodiment. It becomes easier to attach a linear scale to the XY beauty mechanism.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明では、スケールパターンを測
長方向に対して直角方向に延長したので、当該スケール
の測長しようとする軸と直交する軸方向の移動に対して
当該スケールパターンを直交性および直進性の基準とす
ることが可能となる。
As explained above, in the present invention, since the scale pattern is extended in the direction perpendicular to the length measurement direction, the scale pattern is orthogonal to the movement of the scale in the axial direction perpendicular to the axis to be measured. and can be used as a standard for straightness.

したがって従来、2組のリニアエンコーダを各軸に取付
けて位置決めを行なっているxYステージ等で問題であ
った直交性および直進性がXYエステ−機構の部品およ
び組立精度に依存し、リニアエンコーダでは補正できな
い点や長期使用後の機構部摩耗等による精度劣化および
組立に熟練と工数とが必要である点などが全面的に解消
される。
Therefore, the orthogonality and straightness, which were problems with conventional xY stages etc. in which two sets of linear encoders were attached to each axis for positioning, depended on the parts and assembly accuracy of the XY aesthetics mechanism, and the linear encoder corrected them. This completely eliminates problems such as accuracy deterioration due to wear of mechanical parts after long-term use, and the need for skill and man-hours for assembly.

これは本発明によるリニアエンコーダを備えft)CY
ステージではステージの直進性、直交度を含む精度はリ
ニアスケール板の製作精度だけで決まるためで、機構部
の組立精度および経時変化には依存しないからである。
It is equipped with a linear encoder according to the invention ft) CY
This is because the accuracy of the stage, including its straightness and orthogonality, is determined only by the manufacturing accuracy of the linear scale plate, and does not depend on the assembly accuracy of the mechanical parts or changes over time.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による測長装置の基本構成を説明するリ
ニアエンコーダの平面図、第2図(a) 、 (b)は
本発明による測長装置の一実施例を説明するリニアエン
コーダの上方から見た平面図、側面から見た平面図、第
3図は本発明による測長装置の他の実施例を説明するリ
ニアエンコーダの上方から見た平面図、第4図は従来の
リニアエンコーダの構成を示す平面図、1IS5図は従
来のリニアエンコーダを用いたXYステージの構成を示
す平面図である。 101−−・・スケール板、102・・・−スケ−ルパ
ターン、103−・−・移動方向(測長方向)、104
 ψ・・・移動方向、105・・・−位置センサ、20
1−@・噛スケール板、2021203  ・−拳・ス
ケールパターン、204・・−・Y軸位置センサ、2Q
S−・・・X軸位置センサ、206 ・拳・・Y軸移動
方向、207・・−・X軸移動方向、301 ・・・・
スケール板、302゜303  ・−・φスケールパタ
ーン、3041I争・・Y軸位置センサ、305−・・
・X軸位置センサ、306 ・・・・Y軸移動方向、3
01 ・・・・X軸移動方向。
FIG. 1 is a plan view of a linear encoder explaining the basic configuration of a length measuring device according to the present invention, and FIGS. FIG. 3 is a plan view of a linear encoder seen from above, illustrating another embodiment of the length measuring device according to the present invention, and FIG. 4 is a plan view of a conventional linear encoder. 1IS5 is a plan view showing the structure of an XY stage using a conventional linear encoder. 101--Scale plate, 102--Scale pattern, 103--Movement direction (length measurement direction), 104
ψ...Movement direction, 105...-Position sensor, 20
1-@・Bite scale plate, 2021203 ・-Fist・Scale pattern, 204...Y-axis position sensor, 2Q
S-...X-axis position sensor, 206 - Fist...Y-axis movement direction, 207...X-axis movement direction, 301...
Scale plate, 302゜303...φ scale pattern, 3041I conflict...Y-axis position sensor, 305-...
・X-axis position sensor, 306 ...Y-axis movement direction, 3
01...X-axis movement direction.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 反射率または透過率の変化するスケールパターンが一定
の周期で描かれたスケール基板と、前記スケール基板に
光を当てる発光素子と前記スケールパターンに対して反
射または透過した光を検出する受光素子とを有する位置
センサとを備え、前記受光素子の出力信号の変化からス
ケール基板と位置センサとの間の相対移動距離を求める
測長装置において、前記スケール基板のスケールパター
ンを測長方向と直交する方向に所定の長さ延長したこと
を特徴とする測長装置。
A scale substrate on which a scale pattern with changing reflectance or transmittance is drawn at a constant period, a light emitting element that emits light to the scale substrate, and a light receiving element that detects the light reflected or transmitted to the scale pattern. and a position sensor, which determines the relative movement distance between the scale substrate and the position sensor from a change in the output signal of the light receiving element, the scale pattern of the scale substrate being moved in a direction orthogonal to the length measurement direction. A length measuring device characterized by being extended by a predetermined length.
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