JPH02184109A - Delay circuit - Google Patents

Delay circuit

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Publication number
JPH02184109A
JPH02184109A JP1004118A JP411889A JPH02184109A JP H02184109 A JPH02184109 A JP H02184109A JP 1004118 A JP1004118 A JP 1004118A JP 411889 A JP411889 A JP 411889A JP H02184109 A JPH02184109 A JP H02184109A
Authority
JP
Japan
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delay
circuit
signal
gate
delayed
Prior art date
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Pending
Application number
JP1004118A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Watanabe
渡辺 丘
Yoshinori Yoshino
吉野 良憲
Ken Uragami
浦上 憲
Shinichi Kojima
児島 伸一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Microcomputer Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Microcomputer Engineering Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP1004118A priority Critical patent/JPH02184109A/en
Publication of JPH02184109A publication Critical patent/JPH02184109A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To simply obtain a delay signal with a desired delay by forming plural delay signals whose delay time differs with respect to an input signal with a delay means and outputting selectively them via a gate circuit. CONSTITUTION:An input signal Din is fed in common to each one input of AND gates G1-G5, and inverter circuits IV are connected in cascade with outputs of the AND gates G2-G5. The AND gates G1-G5 are configurated with components of the same constitution and similarly each inverter circuit is configurated with components of the same constitution. Thus, delay signals N1-N4 are signals having sequentially larger delays like T, 2T, 3T and 4T, where T is a unit delay time being a signal propagation delay time of two inverter circuits connected in cascade. Thus, a delay signal with a desired delay is simply obtained by selecting the gate circuits G2-G5.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、遅延回路に関し、例えばハードディスクド
ライバ(HDD)に用いられる遅延回路に利用して有効
な技術に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a delay circuit, and relates to a technique effective for use in a delay circuit used in, for example, a hard disk driver (HDD).

〔従来の技術〕[Conventional technology]

ハードディスクドライバ回路では、書き込み時の位相補
償用に数種類の遅延信号(クロック)を必要とする。こ
のような遅延信号を得るために、第7図に示すようなモ
ジュール化されたデイレイラインが用意されている。書
き込み補償回路を内蔵する磁気ディスクドライバ回路に
ついては、例えば特願昭63−102511がある。
A hard disk driver circuit requires several types of delay signals (clocks) for phase compensation during writing. In order to obtain such a delayed signal, a modularized delay line as shown in FIG. 7 is prepared. Regarding a magnetic disk driver circuit incorporating a write compensation circuit, there is, for example, Japanese Patent Application No. 63-102511.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記デイレイラインでは、複数の遅延出力01ないし0
8から、それが組み込まれる回路の仕様にあったものを
選択して対応する装置に接続する。
In the above delay line, multiple delay outputs 01 to 0
8, select one that matches the specifications of the circuit in which it will be installed and connect it to the corresponding device.

したがって、上記遅延量に仕様変更が生じると、それに
応じて遅延信号を選び直して装置に接続するか、出力を
選び直しても希望する遅延量に合わない場合にはデイレ
イライン自体を取り替える必要がある。このため、シス
テムを構成する部品点数が増大することの他、仕様変更
等に伴う組立作業量が増大するという問題がある。
Therefore, if the specifications change in the amount of delay mentioned above, it is necessary to reselect the delay signal and connect it to the device accordingly, or to replace the delay line itself if it does not match the desired amount of delay even after reselecting the output. be. For this reason, there are problems in that the number of parts constituting the system increases, and the amount of assembly work associated with changes in specifications and the like increases.

この発明の目的は、遅延量の設定変更を容易にした遅延
回路を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a delay circuit in which the setting of the delay amount can be easily changed.

この発明の他の目的は、半導体集積回路に適した遅延回
路を提供することにある。
Another object of the invention is to provide a delay circuit suitable for semiconductor integrated circuits.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち、遅延手段により入力信号に対してそれぞれ遅
延時間が異なる複数からなる遅延信号を形成し、それを
ゲート回路を介して選択的に出力させるようにする。
That is, the delay means forms a plurality of delayed signals each having a different delay time with respect to the input signal, and the delayed signals are selectively outputted via the gate circuit.

〔作 用〕[For production]

上記した手段によれば、ゲート回路の切り換えにより簡
単に所望の遅延量をもった遅延信号を得ることができる
According to the above-described means, a delayed signal having a desired amount of delay can be easily obtained by switching the gate circuits.

〔実施例1〕 第1図には、この発明に係る遅延回路の一実施例の論理
回路図が示されている。同図の論理ゲート回路は、公知
の半導体集積回路の製造技術によって、特に制限されな
いが、単結晶シリコンのような1個の半導体基板上にお
いて形成される。
[Embodiment 1] FIG. 1 shows a logic circuit diagram of an embodiment of a delay circuit according to the present invention. The logic gate circuit shown in the figure is formed on a single semiconductor substrate such as, but not limited to, single crystal silicon using known semiconductor integrated circuit manufacturing techniques.

入力信号Dinは、アンド(AND)ゲート回路Glな
いしG5の1つの入力に共通に供給される。
The input signal Din is commonly supplied to one input of the AND gate circuits G1 to G5.

アンドゲート回路G1は、他の入力端子に定常的にハイ
レベル(“H”)が供給されることによって、人力信号
Dinをそのまま出力用のオア(OR)ゲート回路G6
を通して出力信号Eとして出力される。この信号Eは、
上記アンドゲート回路G1とオアゲート回路G6の信号
伝播遅延時間を無視すると、はソ゛入力信号Dinと同
じ信号になるものである。
The AND gate circuit G1 is an OR gate circuit G6 that outputs the human input signal Din as it is by constantly supplying a high level (“H”) to the other input terminal.
It is output as an output signal E through. This signal E is
If the signal propagation delay time of the AND gate circuit G1 and OR gate circuit G6 is ignored, then becomes the same signal as the input signal Din.

アンドゲート回路G2の出力側には、インバータ回路I
Vが2個縦列形態に接続される。これにより遅延信号N
1が形成される。アンドゲート回路G3の出力側には、
インバータ回路[Vが4個縦列形態に接続される。これ
により遅延信号N2が形成される。アンドゲート回路G
4の出力側には、インバータ回路IVが6個縦列形態に
接続される。これにより遅延信号N3が形成される。そ
して、アンドゲート回路G5の出力側には、インバータ
回路IVが8個縦列形態に接続される。これにより遅延
信号N4が形成される。
An inverter circuit I is connected to the output side of the AND gate circuit G2.
Two Vs are connected in tandem. This causes the delay signal N
1 is formed. On the output side of the AND gate circuit G3,
Inverter circuit [4 Vs are connected in cascade. This forms the delayed signal N2. AND gate circuit G
Six inverter circuits IV are connected in tandem to the output side of No. 4. This forms the delayed signal N3. Eight inverter circuits IV are connected in series to the output side of the AND gate circuit G5. This forms the delayed signal N4.

上記各アンドゲート回路G1ないしG5は、同じ構成の
素子から構成され、同様に各インバータ回路も同じ構成
の素子から構成される。それ故、各遅延信号N1ないし
N4は、縦列形態の2つのインバータ回路の信号伝播遅
延時間を単位遅延時間Tとすると、T、2T、3T及び
4Tのように順次大きな遅延量を持つ信号とされる。な
お、上記インバータ回路の信号伝播遅延時間Tに対して
、アンドゲート回路G1ないしG5及び次に説明するオ
アゲート回路G7の信号伝播遅延時間は無視できる程度
に短いものとする。上記各遅延信号N1ないしN4は、
オアゲート回路G7を介して出力遅延信号Nとして出力
される。
Each of the AND gate circuits G1 to G5 is composed of elements having the same configuration, and similarly, each inverter circuit is also composed of elements having the same configuration. Therefore, if the signal propagation delay time of two cascaded inverter circuits is a unit delay time T, each of the delayed signals N1 to N4 is a signal having a sequentially large delay amount such as T, 2T, 3T, and 4T. Ru. It is assumed that the signal propagation delay times of the AND gate circuits G1 to G5 and the OR gate circuit G7 described below are negligibly short with respect to the signal propagation delay time T of the inverter circuit. Each of the above delayed signals N1 to N4 is
It is output as an output delay signal N via the OR gate circuit G7.

上記出力遅延信号Nは、他方において上記同様なアンド
ゲート回路G8ないしGllの1つの入力に共通に供給
される。これら各アンドゲート回路G8ないしGllの
出力には上記同様なインバータ回路からなる遅延回路が
設けられ、それぞれから遅延信号Ll、L2、L3及び
L4が形成される。これらの遅延信号L1、L2、L3
及びL4も、上記同様に縦列形態の2つのインバータ回
路の信号伝播遅延時間を単位遅延時間Tとすると、入力
信号Nに対してT、2T、3T及び4Tのように順次大
きな遅延量を持つ信号とされる。これらの遅延信号L工
ないしL4は、オアゲート回路G12を介して出力遅延
信号りとして出力される。
On the other hand, the output delay signal N is commonly supplied to one input of the AND gate circuits G8 to Gll similar to the above. A delay circuit consisting of an inverter circuit similar to the above is provided at the output of each of the AND gate circuits G8 to Gll, and delayed signals Ll, L2, L3 and L4 are formed from each of them. These delayed signals L1, L2, L3
Similarly to the above, if the signal propagation delay time of two cascaded inverter circuits is the unit delay time T, then L4 is a signal having successively larger delay amounts such as T, 2T, 3T, and 4T with respect to the input signal N. It is said that These delayed signals L to L4 are outputted as output delayed signals via the OR gate circuit G12.

なお、上記同様に信号伝播遅延時間Tに対して、アンド
ゲート回路G8ないしGll及びオアゲート回路G12
の信号伝播遅延時間は無視できる程度に短いものとする
Note that, similarly to the above, for the signal propagation delay time T, the AND gate circuits G8 to Gll and the OR gate circuit G12
It is assumed that the signal propagation delay time is negligibly short.

上記アンドゲート回路G2ないしG5とG8ないしGl
lの残り2づつの入力端子には、2ビツトからなる選択
信号SLAとSLBと、インバータ回路IVIとIV2
により形成された反転信号とが次のように組み合わされ
て供給される。
The above AND gate circuits G2 to G5 and G8 to Gl
The remaining two input terminals of l are provided with selection signals SLA and SLB consisting of 2 bits, and inverter circuits IVI and IV2.
and the inverted signal formed by are combined and supplied as follows.

例えば、入力信号Dinに対して最も短い遅延時間Tと
される遅延信号N1を選ぶアンドゲート回路G2と、遅
延信号Nに対して最も短い遅延時間Tとされる遅延信号
L1を選ぶアンドゲート回路G8の残り2つの端子には
、インバータ回路IV1とIV2によりそれぞれ反転さ
れた選択信号SLAとSLBがそれぞれ供給される。
For example, an AND gate circuit G2 selects the delayed signal N1 with the shortest delay time T with respect to the input signal Din, and an AND gate circuit G8 selects the delayed signal L1 with the shortest delay time T with respect to the delayed signal N. The remaining two terminals are supplied with selection signals SLA and SLB that are inverted by inverter circuits IV1 and IV2, respectively.

入力信号Dinに対して2番目に短い遅延時間2Tとさ
れる遅延信号N2を選ぶアンドゲート回路G3と、遅延
信号Nに対して2番目に短い遅延時間2Tとされる遅延
信号L2を選ぶアンドゲート回路G9の残り2つの端子
には、インバータ回路IVIにより反転された選択信号
SLAと、選択信号SLBがそれぞれ供給される。
AND gate circuit G3 which selects the delayed signal N2 having the second shortest delay time 2T with respect to the input signal Din, and AND gate which selects the delayed signal L2 which has the second shortest delay time 2T with respect to the delayed signal N. The remaining two terminals of the circuit G9 are supplied with a selection signal SLA and a selection signal SLB inverted by an inverter circuit IVI, respectively.

入力信号Dinに対して3番目に短い遅延時間3Tとさ
れる遅延信号N3を選ぶアンドゲート回路G4と、遅延
信号Nに対して3番目に短い遅延時間3Tとされる遅延
信号L3を選ぶアンドゲート回路GIOの残り2つの端
子には、選択信号SLAと、インバータ回路IV2によ
り反転された選択信号SLBがそれぞれ供給される。
AND gate circuit G4 which selects the delayed signal N3 having the third shortest delay time 3T with respect to the input signal Din, and AND gate which selects the delayed signal L3 which has the third shortest delay time 3T with respect to the delayed signal N. The remaining two terminals of the circuit GIO are supplied with the selection signal SLA and the selection signal SLB inverted by the inverter circuit IV2, respectively.

そして、入力信号Dinに対して最も長い遅延時間4T
とされる遅延信号N4を選ぶアンドゲート回路G5と、
遅延信号Nに対して最も長い遅延時間4Tとされる遅延
信号L4を選ぶアンドゲート回路Gllの残り2つの端
子には、選択信号SLAとSLBがそれぞれ供給される
And the longest delay time 4T with respect to the input signal Din
an AND gate circuit G5 that selects a delayed signal N4 that is assumed to be
The remaining two terminals of the AND gate circuit Gll, which selects the delayed signal L4 having the longest delay time 4T with respect to the delayed signal N, are supplied with selection signals SLA and SLB, respectively.

上記4個のアンドゲート回路G2なしいC5及びC8な
いしGllは、それぞれ上記選択信号SLAとSLBを
2ビツトからなる2進数とみなして各遅延信号Nlない
しN4及びLlないしL4を選ぶというデコード動作を
行う。
The four AND gate circuits G2 to C5 and C8 to Gll each perform a decoding operation of selecting the delay signals Nl to N4 and Ll to L4 by regarding the selection signals SLA and SLB as two-bit binary numbers. conduct.

第2図には、上記遅延回路の動作の一例を説明するため
の波形図が示されている。
FIG. 2 shows a waveform diagram for explaining an example of the operation of the delay circuit.

例えば、選択信号SLAとSLBが共にロウレベル(論
理“0”)とき、インバータ回路IVIとIV2の出力
信号がハイレベルになり、アンドゲート回路G2とC8
がゲートを開(。これにより、入力信号Dinはアンド
ゲート回路G2と2個の遅延用インバータ回路を通して
その信号伝播遅延時間Tだけ遅延された遅延信号N1と
され、オアゲート回路G7を通して出力信号Nとして出
力される。また、この遅延出力信号Nは、アンドゲート
回路G8と2個の遅延用インバータ回路を通してその信
号伝播遅延時間Tだけ遅延された遅延信号L1とされ、
オアゲート回路G12を通して出力信号りとして出力さ
れる。
For example, when selection signals SLA and SLB are both low level (logic "0"), the output signals of inverter circuits IVI and IV2 become high level, and AND gate circuits G2 and C8
opens the gate (.As a result, the input signal Din is made into the delayed signal N1 delayed by the signal propagation delay time T through the AND gate circuit G2 and the two delay inverter circuits, and is output as the output signal N through the OR gate circuit G7. Further, this delayed output signal N is made into a delayed signal L1 delayed by the signal propagation delay time T through an AND gate circuit G8 and two delay inverter circuits,
It is output as an output signal through the OR gate circuit G12.

この状態から、選択信号SLBをロウレベルからハイレ
ベルに変化させると、アンドゲート回路G2とC8に代
え、アンドゲート回路G3とC9がゲートを開く。これ
により、入力信号Dinはアンドゲート回路G3と4個
の遅延用インバータ回路を通してその信号伝播遅延時間
2Tだけ遅延された遅延信号N2とされ、オアゲート回
路G7を通して出力信号Nとして出力される。また、こ
の遅延出力信号Nは、アンドゲート回路G9と4個の遅
延用インバータ回路を通してその信号伝播遅延時間2T
だけ遅延された遅延信号L2とされ、オアゲート回路G
12を通して出力信号りとして出力される。
When the selection signal SLB is changed from low level to high level from this state, AND gate circuits G3 and C9 open the gates instead of AND gate circuits G2 and C8. As a result, the input signal Din is made into a delayed signal N2 delayed by the signal propagation delay time 2T through the AND gate circuit G3 and the four delay inverter circuits, and is output as the output signal N through the OR gate circuit G7. Further, this delayed output signal N passes through an AND gate circuit G9 and four delay inverter circuits for a signal propagation delay time of 2T.
The delay signal L2 is delayed by
It is output as an output signal through 12.

次に、選択信号SLBをハイレベルからロウレベルに変
化させ、選択信号SLAをロウレベルからハイレベルに
変化させると、上記アンドゲート回路G3とC9に代え
、アンドゲート回路G4とGlOがゲートを開く。これ
により、入力信号Dinはアンドゲート回路G4と6個
の遅延用インバータ回路を通してその信号伝播遅延時間
3Tだけ遅延された遅延信号N3とされ、オアゲート回
路G7を通して出力信号Nとして出力される。また、こ
の遅延出力信号Nは、アンドゲート回路GIOと6個の
遅延用インバータ回路を通してその信号伝播遅延時間3
Tだけ遅延された遅延信号L3とされ、オアゲート回路
012を通して出力信号りとして出力される。
Next, when the selection signal SLB is changed from high level to low level and the selection signal SLA is changed from low level to high level, AND gate circuits G4 and GlO open the gates instead of AND gate circuits G3 and C9. As a result, the input signal Din is made into a delayed signal N3 delayed by the signal propagation delay time 3T through the AND gate circuit G4 and six delay inverter circuits, and is output as the output signal N through the OR gate circuit G7. Further, this delayed output signal N passes through an AND gate circuit GIO and six delay inverter circuits for a signal propagation delay time of 3.
The delayed signal L3 is delayed by T, and is outputted as an output signal through the OR gate circuit 012.

なお、図示しないが、選択信号SLAとSLBを共にハ
イレベルに設定すると、上記アンドゲート回路G4とG
IOに代え、アンドゲート回路G5とGllがゲートを
開く。これにより、入力信号Dinはアンドゲート回路
G5と8個の遅延用インバータ回路を通してその信号伝
播遅延時間4Tだけ遅延された遅延信号N4とされ、オ
アゲート回路G7を通して出力信号Nとして出力される
Although not shown, when the selection signals SLA and SLB are both set to high level, the AND gate circuits G4 and G
Instead of IO, AND gate circuits G5 and Gll open the gates. As a result, the input signal Din is made into a delayed signal N4 delayed by the signal propagation delay time 4T through the AND gate circuit G5 and eight delay inverter circuits, and is output as the output signal N through the OR gate circuit G7.

また、この遅延出力信号Nは、アンドゲート回路Gll
と8個の遅延用インバータ回路を通してその信号伝播遅
延時間4Tだけ遅延された遅延信号L4とされ、オアゲ
ート回路G12を通して出力信号りとして出力される。
Further, this delayed output signal N is output from the AND gate circuit Gll.
The delayed signal L4 is delayed by the signal propagation delay time 4T through eight delay inverter circuits, and is output as an output signal through the OR gate circuit G12.

したがって、上記選択信号SLA、!:SLBの設定の
変更により、人力信号Dinに対する遅延時間が、E<
N<Lの関係にあったものを、E<N<Lのような関係
に変更することが簡単にできる。
Therefore, the selection signal SLA,! : By changing the SLB settings, the delay time for the human signal Din becomes E<
The relationship N<L can be easily changed to the relationship E<N<L.

〔実施例2〕 第3図には、遅延回路の他の一実施例の回路図が示され
ている。
[Embodiment 2] FIG. 3 shows a circuit diagram of another embodiment of the delay circuit.

この実施例では、上記のような遅延用のインバータ回路
を用いる構成に代え、従来と同様な遅延線を用いる。た
だし、従来の遅延回路と異なる点は、遅延線の各タップ
から得られる遅延信号をバンファアンプを通してそのま
ま出力させるのではなく、ナンド(NAND)ゲート回
路G21ないしG28からなる論理ゲート回路と、その
出力信号を受ける論理和回路として作用するナントゲー
ト回路G29からなる出力選択回路が設けられる。
In this embodiment, a conventional delay line is used instead of the above-mentioned configuration using a delay inverter circuit. However, the difference from conventional delay circuits is that instead of outputting the delayed signals obtained from each tap of the delay line as they are through a Banfa amplifier, a logic gate circuit consisting of NAND gate circuits G21 to G28 and their output signals are used. An output selection circuit consisting of a Nant gate circuit G29 acting as an OR circuit receiving the input signal is provided.

上記ナントゲート回路G21ないしG28の残り3つの
入力端子には、選択信号SLOないしSL2と、インバ
ータ回路IVIOないしIV12により形成された反転
信号との組み合わせから1/8のデコード動作を行わせ
る。この構成では、入力端子INと出力端子OUTを前
記のような遅延回路を必要とする装置に固定的に接続し
ておき、遅延時間の仕様変更があると、その接続を変え
るのではなく、選択信号SLOないしSL2の組み合わ
せを変えるだけでよいから、遅延時間の設定変更が簡単
にできる。
The remaining three input terminals of the Nant gate circuits G21 to G28 are caused to perform a 1/8 decoding operation from the combination of selection signals SLO to SL2 and inverted signals formed by inverter circuits IVIO to IV12. In this configuration, the input terminal IN and output terminal OUT are fixedly connected to the device that requires the delay circuit as described above, and when the delay time specifications change, the connection is not changed but the selection is made. Since it is only necessary to change the combination of signals SLO to SL2, the delay time setting can be easily changed.

〔実施例3〕 第4図には、この発明に係る遅延回路D L Yが用い
られるハードディスクドライバ(以下、単にHDDとい
う)回路の一実施例の概略ブロック図が示されている。
[Embodiment 3] FIG. 4 shows a schematic block diagram of an embodiment of a hard disk driver (hereinafter simply referred to as HDD) circuit in which the delay circuit DLY according to the present invention is used.

HDD回路は、同図に破線で示すように半導体集積回路
により構成され、エンコーダEC、クロックパルス発生
回路CPG、クロックセレクタSEL及び書き込み位相
補償信号CWDを形成するD型のフリップフロップ回路
FFを含んでいる。
The HDD circuit is composed of a semiconductor integrated circuit, as shown by the broken line in the figure, and includes an encoder EC, a clock pulse generation circuit CPG, a clock selector SEL, and a D-type flip-flop circuit FF that forms a write phase compensation signal CWD. There is.

遅延回路DLYは、前記第1図の実施例のような遅延回
路からなり、その入力端子(Din)にクロックパルス
発生回路CPGにより形成されたクロックパルスCKO
が供給され、遅延量がそれぞれ異なる3つの出力信号E
、 N及びLを出力する。
The delay circuit DLY is composed of a delay circuit similar to the embodiment shown in FIG.
is supplied, and three output signals E with different amounts of delay are provided.
, outputs N and L.

これらの出力信号E、N及びLは、クロックセレクタS
ELに人力される。
These output signals E, N and L are sent to the clock selector S
Manpower is provided by EL.

エンコーダECから出力された書き込みデータWDは、
フリップフロップ回路FFのデータ端子りに供給される
。フリップフロップ回路FFのクロック端子にはクロッ
クセレクタSELにより選択された遅延信号が供給され
る。これにより、フリップフロップ回路FFの出力Qか
らは、上記書き込みデータWDを上記遅延回路DLYか
ら出力され、それぞれ遅延量が異なったクロ・ツク信号
E。
The write data WD output from the encoder EC is
It is supplied to the data terminal of the flip-flop circuit FF. A delay signal selected by a clock selector SEL is supplied to a clock terminal of the flip-flop circuit FF. As a result, the write data WD is outputted from the delay circuit DLY from the output Q of the flip-flop circuit FF, and the clock signal E is outputted from the output Q of the flip-flop circuit FF, each having a different amount of delay.

N及びLの中からクロックセレクタSELにより選ばれ
たクロックパルスに同期した位相補償書き込み信号CW
Dが出力される。この位相補償のための遅延量は、磁気
ディスクの性能により左右されるので、装置に合わせた
遅延量の設定が必要になるものである。すなわち、第4
図のタイミング図に示すように、前記選択信号SLA、
!:5LB(同図では省略されている)とを切り換える
ことにより、クロックパルスEに同期して形成された上
記書き込み信号CWDを、遅延回路の接続を変更するこ
となくクロックパルスLに同期したものに変更すること
ができる。このように遅延回路DLYの遅延量の設定変
更が選択信号SLA、SLB等によりソフト的に行うこ
とができるからユーザー仕様に応じた遅延時間の設定や
調整が簡単となるものである。
A phase compensation write signal CW synchronized with a clock pulse selected from N and L by a clock selector SEL.
D is output. Since the amount of delay for this phase compensation depends on the performance of the magnetic disk, it is necessary to set the amount of delay in accordance with the device. That is, the fourth
As shown in the timing diagram of the figure, the selection signal SLA,
! :5LB (omitted in the figure), the write signal CWD formed in synchronization with clock pulse E can be changed into one synchronized with clock pulse L without changing the connection of the delay circuit. Can be changed. As described above, since the setting of the delay amount of the delay circuit DLY can be changed by software using the selection signals SLA, SLB, etc., it is easy to set and adjust the delay time according to user specifications.

〔実施例4〕 第6図には、この発明に係る遅延回路DLYが用いられ
るハードディスクドライバ(以下、単にHDDという)
回路の他の一実施例の概略ブロック図が示されている。
[Embodiment 4] FIG. 6 shows a hard disk driver (hereinafter simply referred to as HDD) in which the delay circuit DLY according to the present invention is used.
A schematic block diagram of another embodiment of the circuit is shown.

この実施例では、第1図の実施例のような遅延回路D 
L Yを用いた場合には、遅延手段とゲート手段が共に
半導体集積回路に構成できるから、遅延回路DLYその
ものをHDD回路を構成する半導体集積回路に内蔵させ
るものである。すなわち、エンコーダEC,クロックパ
ルス発生回路CPG。
In this embodiment, a delay circuit D as in the embodiment of FIG.
When L Y is used, both the delay means and the gate means can be constructed in a semiconductor integrated circuit, so the delay circuit DLY itself is built into the semiconductor integrated circuit constituting the HDD circuit. That is, encoder EC and clock pulse generation circuit CPG.

クロックセレクタSEL及び書き込み位相補償信号CW
Dを形成するD型のフリップフロップ回路FF等からな
るHDD用の半導体集積回路に上記第1図に示すような
遅延回路DLYを内蔵させる。
Clock selector SEL and write phase compensation signal CW
A delay circuit DLY as shown in FIG. 1 is built into a semiconductor integrated circuit for an HDD, which is composed of a D-type flip-flop circuit FF and the like.

この構成では、遅延量の設定のための選択信号SLAと
SLBとが外部端子から供給される。これにより、HD
D回路を構成する半導体集積回路装置の外部端子数及び
それに接続される外部部品点数を削減することができる
ものとなる。
In this configuration, selection signals SLA and SLB for setting the amount of delay are supplied from external terminals. This allows HD
The number of external terminals of the semiconductor integrated circuit device constituting the D circuit and the number of external parts connected thereto can be reduced.

なお、遅延回路DLYは、内部配線により入力端子(D
in)にクロックパルス発生回路CPGにより形成され
たクロックパルスCKOが供給され、それを選択信号S
LAとSLBにより指定された遅延量をそれぞれ持つ3
つの出力信号E、N及びLをクロックセレクタSELに
入力させる。他の構成は、前記第4図の実施例と同様で
あるので説明を省略する。
Note that the delay circuit DLY is connected to the input terminal (D
in) is supplied with the clock pulse CKO generated by the clock pulse generation circuit CPG, which is applied to the selection signal S.
3 with the amount of delay specified by LA and SLB, respectively.
The three output signals E, N and L are input to the clock selector SEL. The other configurations are the same as those of the embodiment shown in FIG. 4, so the explanation will be omitted.

上記論理ゲート回路による遅延量の選択は、遅延回路を
使用するユーザー側にメリットが生じるばかりでなく、
それを製造するメーカー側においても次のような利点を
もたらす。例えば、遅延素子の製造工程内での製造バラ
ツキが大きく、遅延量の絶対値制御が難しい場合、論理
ゲート回路により遅延量の調整を可能にしておけば、製
造工程内での遅延量バラツキを遅延素子の出荷前に合わ
せ込み均一の品質の製品として出荷できる。この手段と
して、上記の論理ゲート回路による遅延量の選択の他に
アルミマスタースライスによる遅延量の微調整や、プロ
グラマブルロジックアレイ(PLA)等との組み合わせ
が考えられる。
Selection of the amount of delay by the logic gate circuit described above not only benefits the user using the delay circuit, but also
It also brings the following advantages to the manufacturers who manufacture it. For example, if there are large manufacturing variations within the manufacturing process of delay elements and it is difficult to control the absolute value of the delay amount, it is possible to adjust the delay amount using a logic gate circuit. The device can be adjusted before shipping and shipped as a product with uniform quality. As means for this, in addition to selecting the delay amount using the logic gate circuit described above, fine adjustment of the delay amount using an aluminum master slice, combination with a programmable logic array (PLA), etc. can be considered.

上述の実施例から得られる作用効果は、下記の通りであ
る。すなわち、 (1)遅延手段により入力信号に対してそれぞれ遅延時
間が異なる複数からなる遅延信号を形成し、それをゲー
ト回路を介して選択的に出力させるようにすることによ
り、ゲート回路の切り換えにより簡単に所望の遅延量を
もった遅延信号を得ることができるという効果が得られ
る。
The effects obtained from the above embodiments are as follows. That is, (1) By forming a plurality of delayed signals with different delay times for the input signal using the delay means and selectively outputting them through the gate circuit, The effect is that a delayed signal having a desired amount of delay can be easily obtained.

(2)上記遅延手段としてインバータ回路等の論理ゲー
トを用いることによって、遅延回路をlチップの半導体
集積回路に構成できるという効果が得られる。
(2) By using a logic gate such as an inverter circuit as the delay means, it is possible to obtain the effect that the delay circuit can be configured into a one-chip semiconductor integrated circuit.

(3)上記(2)により、遅延回路を必要とする半導体
集積回路において遅延回路自体も内蔵でき、部品点数や
端子の削減を図ることができるという効果が得られる。
(3) According to (2) above, the delay circuit itself can be incorporated in a semiconductor integrated circuit that requires a delay circuit, and the number of components and terminals can be reduced.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本願発明は前記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。例えば、第1図の実施
例において、遅延信号N1やLlをアンドゲート回路を
介して縦列形態に接続された2個のインバータ回路に入
力して遅延信号N2やL2を形成する。以下同様に、上
記形成された遅延信号N2やL2をアンドゲート回路を
介して同様に縦列形態に接続された2個のインバータ回
路に入力して遅延信号N3やL3を形成するものであっ
てもよい。このような構成を採ることによって、遅延手
段を構成するインバータ回路の数を大幅に低減できるも
のとなる。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained based on Examples above, the present invention is not limited to the above-mentioned Examples, and it goes without saying that various changes can be made without departing from the gist thereof. Nor. For example, in the embodiment shown in FIG. 1, delayed signals N1 and L1 are input to two inverter circuits connected in series via an AND gate circuit to form delayed signals N2 and L2. Similarly, the delayed signals N2 and L2 formed above may be input to two inverter circuits connected in series via an AND gate circuit to form the delayed signals N3 and L3. good. By adopting such a configuration, the number of inverter circuits forming the delay means can be significantly reduced.

また、遅延信号を選択する論理ゲート回路は、伝送ゲー
トMO3FETに置き換えることができるものである。
Further, the logic gate circuit for selecting the delayed signal can be replaced with a transmission gate MO3FET.

上記遅延用のインバータ回路や論理ゲート回路は、CM
O3(相補型MOS)によるもの、バイポーラ型トラン
ジスタによるもの、あるいはBi−0M03回路による
もの等何であってもよい。設定可能な遅延時間は、前記
実施例に限定されるものではなく、必要に応じて種々の
実施例形態を採ることができるものである。
The above delay inverter circuit and logic gate circuit are CM
It may be anything, such as an O3 (complementary MOS), a bipolar transistor, or a Bi-0M03 circuit. The settable delay time is not limited to the above embodiments, and various embodiments can be adopted as necessary.

この発明は、HDD用の他、遅延回路として広く利用で
きるものである。
The present invention can be widely used not only for HDD but also as a delay circuit.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
。すなわち、遅延手段により入力信号に対してそれぞれ
遅延時間が異なる複数からなる遅延信号を形成し、それ
をゲート回路を介して選択的に出力させるようにするこ
とにより、ゲート回路の切り換えにより簡単に所望の遅
延量をもった遅延信号を得ることができる。
A brief explanation of the effects obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows. That is, by forming a plurality of delayed signals each having a different delay time with respect to the input signal using the delay means and selectively outputting the delayed signals through the gate circuit, it is possible to easily obtain the desired signal by switching the gate circuit. It is possible to obtain a delayed signal with a delay amount of .

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明に係る遅延回路の一実施例を示す論
理回路図、 第2図は、その動作の一例を説明するための波形図、 第3図は、この発明に係る遅延回路の他の一実施例を示
す論理回路図、 第4図は、この発明に係る遅延回路が用いられるHDD
回路の一実施例を示すブロック図、第5図は、その動作
の一例を説明するためのタイミング図、 第6図は、この発明に係る遅延回路が用いられるHDD
回路の他の一実施例を示すブロック図、第7図は、従来
の遅延回路の一例を示す回路図である。
FIG. 1 is a logic circuit diagram showing an embodiment of the delay circuit according to the present invention, FIG. 2 is a waveform diagram for explaining an example of its operation, and FIG. 3 is a logic circuit diagram showing an example of the delay circuit according to the present invention. A logic circuit diagram showing another embodiment, FIG. 4 shows an HDD in which the delay circuit according to the present invention is used.
FIG. 5 is a block diagram showing one embodiment of the circuit, FIG. 5 is a timing diagram for explaining an example of its operation, and FIG. 6 is a block diagram showing an HDD in which the delay circuit according to the present invention is used.
FIG. 7, a block diagram showing another embodiment of the circuit, is a circuit diagram showing an example of a conventional delay circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、入力信号を受けてそれぞれ遅延時間が異なる複数か
らなる遅延信号を形成する遅延手段と、上記複数の遅延
信号を選択的に出力させるゲート手段とを備えてなるこ
とを特徴とする遅延回路。 2、上記遅延手段は、縦列形態に接続された複数からな
るインバータ回路により構成され、それを選択的に出力
させるゲート手段とともに1つの半導体集積回路に構成
されるものであることを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の遅延回路。 3、上記遅延回路は、磁気ディスクメモリ用の書き込み
信号を形成するエンコード/デコード回路に用いられる
ことを特徴とする特許請求の範囲第1又は第2項記載の
遅延回路。
[Scope of Claims] 1. Delay means for receiving an input signal and forming a plurality of delayed signals each having a different delay time, and gate means for selectively outputting the plurality of delayed signals. Features a delay circuit. 2. A patent characterized in that the delay means is constituted by a plurality of inverter circuits connected in series, and is constituted in one semiconductor integrated circuit together with gate means for selectively outputting the inverter circuits. Claim 1
Delay circuit described in section. 3. The delay circuit according to claim 1 or 2, wherein the delay circuit is used in an encode/decode circuit that forms a write signal for a magnetic disk memory.
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