JPH02171818A - タブレット - Google Patents
タブレットInfo
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- JPH02171818A JPH02171818A JP63326738A JP32673888A JPH02171818A JP H02171818 A JPH02171818 A JP H02171818A JP 63326738 A JP63326738 A JP 63326738A JP 32673888 A JP32673888 A JP 32673888A JP H02171818 A JPH02171818 A JP H02171818A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、座標人力を行なうタブレットをデイスプレ
ィと一体としたデイスプレィ一体型タブレットに適用し
て好適なタブレットに間する。
ィと一体としたデイスプレィ一体型タブレットに適用し
て好適なタブレットに間する。
[従来の技術]
従来、デイスプレィ一体型タブレットは、第9図に示す
ように、デイスプレィ61とタブレット52とがそれぞ
れ別個独立に形成され、そして、これらを互いに密着さ
せることにより一体に構成される。ここで、例えばデイ
スプレィ51としてEL(エレクトロ・ルミネッセンス
)表示素子が用いられ、タブレット52として静電容量
結合型のものが用いられる。なお、第9図において、6
3は走査パルス検出用のペンである。
ように、デイスプレィ61とタブレット52とがそれぞ
れ別個独立に形成され、そして、これらを互いに密着さ
せることにより一体に構成される。ここで、例えばデイ
スプレィ51としてEL(エレクトロ・ルミネッセンス
)表示素子が用いられ、タブレット52として静電容量
結合型のものが用いられる。なお、第9図において、6
3は走査パルス検出用のペンである。
〔発明が解決しようとする課M]
ところで、このように構成されるものによれば、タブレ
ット52のマトリックス状に配置された電極の1本ずつ
に1111次走査パルスが供給され、そして、この走査
パルスがベン53て検出されることで座標検出が行なわ
れるが、ベン53の検出信号のレベルが小さく、そのた
め走査パルスの検出が容易でなく、良好な座標検出が困
難であった。
ット52のマトリックス状に配置された電極の1本ずつ
に1111次走査パルスが供給され、そして、この走査
パルスがベン53て検出されることで座標検出が行なわ
れるが、ベン53の検出信号のレベルが小さく、そのた
め走査パルスの検出が容易でなく、良好な座標検出が困
難であった。
そこで、この発明では、走査パルスの検出を容易とし、
良好な座標検出が可能となるようにしたタブレットを提
供することを目的とするものである。
良好な座標検出が可能となるようにしたタブレットを提
供することを目的とするものである。
[課題を解決するための手段]
この発明は、マトリックスパネルと、行1i極ドライバ
と、列電極ドライバと、行座標検出部と、列座標検出部
と、検出用導体とを備え、行電極トライバよりパネルの
行電極に順次供給される走査パルスが横出用導体で検出
されて行座標検出部に供給されることにより行座標が検
出されると共に、列電極ドライバよりパネルの列電極に
順次供給される走査パルスが検出用導体で検出されて列
座標検出部に供給されることにより列座標が検出される
タブレットであって、パネルの行1を極および列電極は
、それぞれ行WIFiIドライバおよび列電極ドライバ
より、隣り合った複数の電極に同時に走査パルスが供給
された状態で順次走査されるものである。
と、列電極ドライバと、行座標検出部と、列座標検出部
と、検出用導体とを備え、行電極トライバよりパネルの
行電極に順次供給される走査パルスが横出用導体で検出
されて行座標検出部に供給されることにより行座標が検
出されると共に、列電極ドライバよりパネルの列電極に
順次供給される走査パルスが検出用導体で検出されて列
座標検出部に供給されることにより列座標が検出される
タブレットであって、パネルの行1を極および列電極は
、それぞれ行WIFiIドライバおよび列電極ドライバ
より、隣り合った複数の電極に同時に走査パルスが供給
された状態で順次走査されるものである。
[作 用]
上述構成においては、パネルの行電極y1. 5’2+
・・・tanおよび列電極r1. !2. ・・・
XIは、それぞれ行電極ドライバ2および列電極ドライ
バ3より、隣り合った複数の電極に同時に走査パルスP
y’、Px’が供給された状態で順次走査されるので、
横出用導体6の検出信号のレベルが大きくなり、走査パ
ルスPy’、PK’の検出が容易となり、座標検出を良
好に行ない得る。
・・・tanおよび列電極r1. !2. ・・・
XIは、それぞれ行電極ドライバ2および列電極ドライ
バ3より、隣り合った複数の電極に同時に走査パルスP
y’、Px’が供給された状態で順次走査されるので、
横出用導体6の検出信号のレベルが大きくなり、走査パ
ルスPy’、PK’の検出が容易となり、座標検出を良
好に行ない得る。
[実 施 例]
以下、第1図を参照しながら、この発明の一実施例につ
いて説明する。
いて説明する。
同図において、1は薄!l E Lマトリックスパネル
であり、5/1. yL ・・・・、ynは行電極
、x!、x2. I・・・、XIは列電極である。
であり、5/1. yL ・・・・、ynは行電極
、x!、x2. I・・・、XIは列電極である。
また、2は行電極ドライバであり、その複数の出力端子
はそれぞれパネル1の行電極y!、y2゜・・・・ls
’11に接続される。また、3は列電極トライバであり
、その複数の出力端子はそれぞれパネル10列電極x1
. x2. ・・・・、XIに接続される。
はそれぞれパネル1の行電極y!、y2゜・・・・ls
’11に接続される。また、3は列電極トライバであり
、その複数の出力端子はそれぞれパネル10列電極x1
. x2. ・・・・、XIに接続される。
これら行を極ドライバ2および列電極ドライバ3の動作
はタイミング発生回路4によって制御される。
はタイミング発生回路4によって制御される。
第2図に示すように、表示モードでは、行電極ドライバ
2より行電極y1. y2. ・・・・、ynに1
電極単位で順次走査パルスPyが供給されると共に、列
1ttiドライバ3より判型Fjx1. x2゜・・
・・、xrnに表示データSDに対応した電圧■SOが
l走査線ごとに同時に供給される。
2より行電極y1. y2. ・・・・、ynに1
電極単位で順次走査パルスPyが供給されると共に、列
1ttiドライバ3より判型Fjx1. x2゜・・
・・、xrnに表示データSDに対応した電圧■SOが
l走査線ごとに同時に供給される。
また、行座標くy座WA)の検出モードでは、行電極ド
ライバ2より行電極yl、y2. ・・・・ynに順
次走査パルスPy′が供給される。この場合、走査パル
スPy′のパルス幅は広くされ、行電極y1.y2.
・・・・+ ynのうち隣り合った複数の電極、例
えば20本の電極に、同時に走査パルスPy′が供給さ
れた状態で順次走査される。
ライバ2より行電極yl、y2. ・・・・ynに順
次走査パルスPy′が供給される。この場合、走査パル
スPy′のパルス幅は広くされ、行電極y1.y2.
・・・・+ ynのうち隣り合った複数の電極、例
えば20本の電極に、同時に走査パルスPy′が供給さ
れた状態で順次走査される。
また、列座標(X座標)の検出モードでは、列電極ドラ
イバ3より列電極xi、 x2. ・・・・xra
に順次走査パルスPx’が供給される。この場合、走査
パルスPx’のパルス幅も広くされ、判型FIIxt、
x2t I * 4 *、XIのうち隣り合った複数
の電極、例えば20本の電極に、同時に走査パルスPx
’が供給された状態で順次走査される。
イバ3より列電極xi、 x2. ・・・・xra
に順次走査パルスPx’が供給される。この場合、走査
パルスPx’のパルス幅も広くされ、判型FIIxt、
x2t I * 4 *、XIのうち隣り合った複数
の電極、例えば20本の電極に、同時に走査パルスPx
’が供給された状態で順次走査される。
そして、表示モードの期間、行座標の検出モードの期間
および列座標の検出モードの期間は各フレームに時分割
的に設けられる。なお、その順序は図示の例に限られる
ものでなく、任意である。
および列座標の検出モードの期間は各フレームに時分割
的に設けられる。なお、その順序は図示の例に限られる
ものでなく、任意である。
ここで、表示モードのときの走査パルスPyの極性は、
lフレームごとに反転するようにされる。
lフレームごとに反転するようにされる。
また、座標検出モードのときの走査パルスPy′Px′
の極性も、それぞれlフレームごとに反転するようにす
ることが望ましいが、回路の簡単化のため片極性のパル
スとしてもよい。この場合は。
の極性も、それぞれlフレームごとに反転するようにす
ることが望ましいが、回路の簡単化のため片極性のパル
スとしてもよい。この場合は。
電圧は低い方がよいが、あまり低くするとS/Nよく走
査パルスPy’、Px’を検出することができなくなる
。
査パルスPy’、Px’を検出することができなくなる
。
例えば、表示モードにおいては、発光閾値電圧が+20
0■に対し、行電極yl+ 372. ・争・yn
に走査パルスPyとして+216■あるいは一165■
、列電極x1. x2+ ・・轡・。
0■に対し、行電極yl+ 372. ・争・yn
に走査パルスPyとして+216■あるいは一165■
、列電極x1. x2+ ・・轡・。
χ鰯に電圧■SDとして+50VあるいはOvが選択的
に供給され、発光画素部には+216■、非発光画素部
には+165■が1フレームごとに交互に極性が反転さ
れて供給される。また1行座標の検出モードにおいては
、行電極y1.y2゜・・・+3’nに走査パルスPy
′として+25Vが供給され、列座標の検出モードにお
いては、列電極XL X2+ ” ” ” ”+
X■多こ走査パルスPX′として+25Vが供給され
る。
に供給され、発光画素部には+216■、非発光画素部
には+165■が1フレームごとに交互に極性が反転さ
れて供給される。また1行座標の検出モードにおいては
、行電極y1.y2゜・・・+3’nに走査パルスPy
′として+25Vが供給され、列座標の検出モードにお
いては、列電極XL X2+ ” ” ” ”+
X■多こ走査パルスPX′として+25Vが供給され
る。
以上の構成において、表示モードでは、行電極y1.
y2. ・・e・+ ynに1電極単位で順次走
査パルスPyが供給されると共に、列電極x 1 +x
2. ・φ・・、XIに表示データSDに対応した電
圧VSDが1走査線ごとに同時に供給されるため、線順
次走査による表示駆動となり、表示データSDに対応し
た画像が表示される。
y2. ・・e・+ ynに1電極単位で順次走
査パルスPyが供給されると共に、列電極x 1 +x
2. ・φ・・、XIに表示データSDに対応した電
圧VSDが1走査線ごとに同時に供給されるため、線順
次走査による表示駆動となり、表示データSDに対応し
た画像が表示される。
また、5はペンシル状導体(以下「ペン」という)であ
り、このペン5をパネル1の任意位置に接触させること
で静電容量結合により走査パルスが検出される。
り、このペン5をパネル1の任意位置に接触させること
で静電容量結合により走査パルスが検出される。
この場合、上述したように座標検出モードにおいては、
隣り合った複数の電極に同時に走査パルスPy’ P
x’が供給された状態で順次走査されるので、ひとつの
電極のみに走査パルスPy′Px’が供給されるものに
比べて、ペン5の検出信号のレベルは増大する。第3図
を参照して、このことについて詳細に説明する。
隣り合った複数の電極に同時に走査パルスPy’ P
x’が供給された状態で順次走査されるので、ひとつの
電極のみに走査パルスPy′Px’が供給されるものに
比べて、ペン5の検出信号のレベルは増大する。第3図
を参照して、このことについて詳細に説明する。
同図において、41はペンシル状導体(以下「ペン」と
いう)、42は#IEIIELマトリックスパネルのガ
ラス板である。43はマトリックス電極であり、本来行
電極と列電極の2層からなるが、説明の簡単化のため、
1層のみを示している。44は走査用の切換スイッチ、
46は走査パルス用の電源、46は走査パルス検出用の
アンプ(第1図においてはアンプ6)の人力インピーダ
ンスである。
いう)、42は#IEIIELマトリックスパネルのガ
ラス板である。43はマトリックス電極であり、本来行
電極と列電極の2層からなるが、説明の簡単化のため、
1層のみを示している。44は走査用の切換スイッチ、
46は走査パルス用の電源、46は走査パルス検出用の
アンプ(第1図においてはアンプ6)の人力インピーダ
ンスである。
ペン41と電極43との間には、図示のようにコンデン
サが存在し、電極番号■に対応してその容量をCi と
する、また、電極43は、J≦i −1またはj≧1+
4では接地され、i≦J≦i+3では!R45に接続さ
れているものとする。なお、電極43の数はnで、 l
≦j≦nとする。
サが存在し、電極番号■に対応してその容量をCi と
する、また、電極43は、J≦i −1またはj≧1+
4では接地され、i≦J≦i+3では!R45に接続さ
れているものとする。なお、電極43の数はnで、 l
≦j≦nとする。
第4図は、この場合の等価回路を示したものである。こ
こで、 CVS = Ci+ Ci+l+ Ci+2+ Ci+
3CGNO=CI+C2+−−−+C7−]+Ci+4
+−−−+Cnであり、ペン41による検出信号Vaは
、IZinN>1/ωCGILD に選べば次式のようになる。 1Zinlは人力イン
ピーダンス46の大きさである。
こで、 CVS = Ci+ Ci+l+ Ci+2+ Ci+
3CGNO=CI+C2+−−−+C7−]+Ci+4
+−−−+Cnであり、ペン41による検出信号Vaは
、IZinN>1/ωCGILD に選べば次式のようになる。 1Zinlは人力イン
ピーダンス46の大きさである。
ここで、vSは電源45の電圧値、Coはペン41と電
極43間で形成される全容量であり、CvS+ CGN
Oである。
極43間で形成される全容量であり、CvS+ CGN
Oである。
この(1)式から明らかなように、電極43に1電極ず
つ電源45を供給する方式では、nが数百の場合には、
CVS (Coとなるため、検出信号VSが小さく、走
査パルスの検出が困難となる。
つ電源45を供給する方式では、nが数百の場合には、
CVS (Coとなるため、検出信号VSが小さく、走
査パルスの検出が困難となる。
しかし、本例のように同時に電源45が供給される電極
43の数を多くすると、それに応じてCvSが大きくな
って検出信号VSが大きくなり、走査パルスの検出が容
易となる。
43の数を多くすると、それに応じてCvSが大きくな
って検出信号VSが大きくなり、走査パルスの検出が容
易となる。
この場合、電極43によって形成されるコンデンサの容
量Ciは、第6図に示すようにペン41から遠くなる程
小さくなり、例えば電極ピッチ0゜3■、ガラス厚2.
41mの場合で、左右10電極付近より遠方ではその
影響は無視できる。したがって、同時に電fi45が供
給される電極43の数は20もあればよく、それ以上増
やしても検出信号のレベル増大効果は期待できない。
量Ciは、第6図に示すようにペン41から遠くなる程
小さくなり、例えば電極ピッチ0゜3■、ガラス厚2.
41mの場合で、左右10電極付近より遠方ではその
影響は無視できる。したがって、同時に電fi45が供
給される電極43の数は20もあればよく、それ以上増
やしても検出信号のレベル増大効果は期待できない。
第1図において、このベン5の検出信号はアンプ6に供
給されて増幅され、このアンプ6からの検出信号VSは
コンパレータ7に供給されて基準電圧V「と比較される
。ペン5の検出信号のアンプ6の出力電圧VSは、第6
図に示すようにベン5とガラス板との距adに略反比例
して減少する。
給されて増幅され、このアンプ6からの検出信号VSは
コンパレータ7に供給されて基準電圧V「と比較される
。ペン5の検出信号のアンプ6の出力電圧VSは、第6
図に示すようにベン5とガラス板との距adに略反比例
して減少する。
基準電圧Vrは、距III d it d oとしたと
きの検出信号VSのレベルと等しく設定される。後述す
るように距@ d oは座標検出動作に入る位置であり
、予め操作性を考慮して決定され、例えばlamとされ
る。ペン5がガラス上(ガラス厚= 2. 4 arm
)、即ちd=2.4wnのとき検出信号vsが3V、d
=4−腸のとき検出信号VSは1vとなる。したがって
、この場合には、Vr=2Vとすれば、d。
きの検出信号VSのレベルと等しく設定される。後述す
るように距@ d oは座標検出動作に入る位置であり
、予め操作性を考慮して決定され、例えばlamとされ
る。ペン5がガラス上(ガラス厚= 2. 4 arm
)、即ちd=2.4wnのとき検出信号vsが3V、d
=4−腸のとき検出信号VSは1vとなる。したがって
、この場合には、Vr=2Vとすれば、d。
=3.4−麿となり、ガラス板表面から1−一の距離に
なる。
なる。
このコンパレータ7からは、検出信号VSが基準電圧V
rより大きいときには高レベル“1”の信号が出力され
、−力検出信号vsが基準電圧Vrより小さいときには
低レベル“0″の信号が出力される。そして、このコン
パレータ7の出力信号はアンド回路8に供給される。
rより大きいときには高レベル“1”の信号が出力され
、−力検出信号vsが基準電圧Vrより小さいときには
低レベル“0″の信号が出力される。そして、このコン
パレータ7の出力信号はアンド回路8に供給される。
また、アンプ6からの検出信号VSは、ピーク時点検出
回路9に供給され、このピーク時点検出回路9からは、
検出信号vsのピーク時点で高レベル“1″の信号が出
力されると共に、その他のときには低レベル“0”の信
号が出力される。そして、このピーク時点検出回路9の
出力信号はアンド回路8に供給される。
回路9に供給され、このピーク時点検出回路9からは、
検出信号vsのピーク時点で高レベル“1″の信号が出
力されると共に、その他のときには低レベル“0”の信
号が出力される。そして、このピーク時点検出回路9の
出力信号はアンド回路8に供給される。
アンド回路8からは、検出信号VSが基準電圧Vrより
大きく、かつ検出信号VSのピーク時点で高レベル“1
”の信号が出力されると共に、その他のときには低レベ
ル“OIIの信号が出力される。このアンド回路8の出
力信号は、行座標検出部lOおよび列座標検出部11に
供給される。この場合、行座標検出部10は、例えばカ
ウンタで構成され、タイミング発生回路4より、行座標
の検出モードとなる前にリセット信号が供給されてリセ
ットされると共に、パネルlの行電極y+。
大きく、かつ検出信号VSのピーク時点で高レベル“1
”の信号が出力されると共に、その他のときには低レベ
ル“OIIの信号が出力される。このアンド回路8の出
力信号は、行座標検出部lOおよび列座標検出部11に
供給される。この場合、行座標検出部10は、例えばカ
ウンタで構成され、タイミング発生回路4より、行座標
の検出モードとなる前にリセット信号が供給されてリセ
ットされると共に、パネルlの行電極y+。
3/2.−−・・+3/nに順次走査パルスPy′が供
給されるタイミングでクロックが供給されてカウントさ
れ、そして、アンド回路8の出力信号が高レベル“1”
となるタイミングでカウント動作がストップされる。し
たがって、行座標検出部lOからは、ペン5が接触され
るパネルlの任意位置に対応したカウント値が行座標出
力として得られる。
給されるタイミングでクロックが供給されてカウントさ
れ、そして、アンド回路8の出力信号が高レベル“1”
となるタイミングでカウント動作がストップされる。し
たがって、行座標検出部lOからは、ペン5が接触され
るパネルlの任意位置に対応したカウント値が行座標出
力として得られる。
また、列座標検出部11も、例えばカウンタで構成され
、タイミング発生回路4より、列座標の検出モードとな
る前にリセット信号が供給されてリセットされると共に
、パネル1の判型Fiix I *x2. 舎・拳φ
l XIに順次走査パルスPx’が供給されるタイミ
ングでクロックが供給されてカウントされ、そして、ア
ンド回路8の出力信号が高レベル“I IIとなるタイ
ミングでカウント動作がストップされる。したがって、
列座標検出部1!からは、ベン5が接触されるパネルl
の任意位置に対応したカウント値が列座標出力として得
ろれる。
、タイミング発生回路4より、列座標の検出モードとな
る前にリセット信号が供給されてリセットされると共に
、パネル1の判型Fiix I *x2. 舎・拳φ
l XIに順次走査パルスPx’が供給されるタイミ
ングでクロックが供給されてカウントされ、そして、ア
ンド回路8の出力信号が高レベル“I IIとなるタイ
ミングでカウント動作がストップされる。したがって、
列座標検出部1!からは、ベン5が接触されるパネルl
の任意位置に対応したカウント値が列座標出力として得
ろれる。
第7図は、実施例の具体構成を示す図である。
第7図において、第1図と対応する部分には同一符号を
付して示している。
付して示している。
同図において、2!はパネルlの行電極yI。
S/2. ・・・・1 ynの電極数に対応した段
数を有するシフトレジスタ、22はその電極数に対応し
たアンド回路2A1〜2 An、 エクスクル−シブ
ノア回路2EI 〜2En、NチャネルFET2N!
〜2NnおよびPチャネルFET2PI 〜2Pn等を
有するドライバ、23は電源Vw+(+215■)、接
地(0■)および電t!Jl/2 VD (+25v
)を切換えるための切換スイッチ、24は電源Vw−(
−165v)および接地(Ov)を切換えるための切換
スイッチであり、これらシフトレジスタ21、ドライバ
22、切換スイッチ23゜24によって行電極ドライバ
2が構成される。
数を有するシフトレジスタ、22はその電極数に対応し
たアンド回路2A1〜2 An、 エクスクル−シブ
ノア回路2EI 〜2En、NチャネルFET2N!
〜2NnおよびPチャネルFET2PI 〜2Pn等を
有するドライバ、23は電源Vw+(+215■)、接
地(0■)および電t!Jl/2 VD (+25v
)を切換えるための切換スイッチ、24は電源Vw−(
−165v)および接地(Ov)を切換えるための切換
スイッチであり、これらシフトレジスタ21、ドライバ
22、切換スイッチ23゜24によって行電極ドライバ
2が構成される。
すなわち、シフトレジスタ21のn段の出力端子は、そ
れぞれドライバ22のアンド回路2A1〜2Anの入力
端に接続され、このアンド回路2A1〜2Anの出力側
はそれぞれエクスクル−シブノア回路2EI〜2Enの
入力端に接続され、このエクスクル−シブノア回路2E
1〜2Enの出力側はそれぞれNチャネルFET2N1
〜2Nnのゲートに接続されると共に、PチャネルFE
T2Pl〜2P「1のゲートに接続される。
れぞれドライバ22のアンド回路2A1〜2Anの入力
端に接続され、このアンド回路2A1〜2Anの出力側
はそれぞれエクスクル−シブノア回路2EI〜2Enの
入力端に接続され、このエクスクル−シブノア回路2E
1〜2Enの出力側はそれぞれNチャネルFET2N1
〜2Nnのゲートに接続されると共に、PチャネルFE
T2Pl〜2P「1のゲートに接続される。
また、PチャネルFET2P1〜2Pnのソースはそれ
ぞれ切換スイッチ23の可動端子に接続され、この切換
スイッチ23のafillの固定端子は電源Vv+に接
続され、そのblmの固定端子は接地され、そのC側の
固定端子は’I!fil/2VDに接続される。この切
換スイッチ23の切換えはタイミング発生回路4によっ
て制御される。
ぞれ切換スイッチ23の可動端子に接続され、この切換
スイッチ23のafillの固定端子は電源Vv+に接
続され、そのblmの固定端子は接地され、そのC側の
固定端子は’I!fil/2VDに接続される。この切
換スイッチ23の切換えはタイミング発生回路4によっ
て制御される。
また、NチャネルFET2N1〜2Nnのソースはそれ
ぞれ切換スイッチ24の可動端子に接続される。この切
換スイッチ24のa側の固定端子は電RV−・に接続さ
れ、そのb側の固定端子は接地される。この切換スイッ
チ24の切換えはタイミング発生回路4によって制御さ
れる。
ぞれ切換スイッチ24の可動端子に接続される。この切
換スイッチ24のa側の固定端子は電RV−・に接続さ
れ、そのb側の固定端子は接地される。この切換スイッ
チ24の切換えはタイミング発生回路4によって制御さ
れる。
そして、NチャネルFET2N1〜2Nnのドレインは
、それぞれPチャネルFET2Pl〜2Pnのドレイン
に接続され、それぞれの接続点はパネルlの行電極Fl
+ 3/2.−−・・+Vnに接続される。なお、N
チャネルFET2N1〜2Nn、PチャネルFET2P
1〜2Pnのそれぞれのドレインおよびソース閏にはダ
イオードが接続される。
、それぞれPチャネルFET2Pl〜2Pnのドレイン
に接続され、それぞれの接続点はパネルlの行電極Fl
+ 3/2.−−・・+Vnに接続される。なお、N
チャネルFET2N1〜2Nn、PチャネルFET2P
1〜2Pnのそれぞれのドレインおよびソース閏にはダ
イオードが接続される。
この場合、表示モードでは、タイミング発生回路4より
アンド回路2Al〜2Anにイネーブル信号(第8図C
,Q!Zyイネーブルとして図示)が供給される。そし
て、あるフレームでは、切換スイッチ23は&側に接続
されてPチャネルFET2PI 〜2Pnのソースに電
fil V v+が供給され(第8図Eに図示)、切換
スイッチ24はb側に接続されてNチャネルFET2N
1〜2Nnのソースは接地され(第8図Fに図示)、エ
クスクル−シブノア回路2E1〜2Enに供給される反
転/非反転制御信号(第8図りにy反転/非反転として
図示)は低レベル“0”とされる、一方、次のフレーム
では、切換スイッチ23はbmに接続されてPチャネル
FET2P1〜2Pnのソースは接地され(第8図Eに
図示)、切換スイッチ24はallに接続されてNチャ
ネルFET2N1〜2Nnのソースには、電源Vリ−が
接続され(第8図Fに図示)、反転/非反転制御信号は
高レベル“1”とされる。
アンド回路2Al〜2Anにイネーブル信号(第8図C
,Q!Zyイネーブルとして図示)が供給される。そし
て、あるフレームでは、切換スイッチ23は&側に接続
されてPチャネルFET2PI 〜2Pnのソースに電
fil V v+が供給され(第8図Eに図示)、切換
スイッチ24はb側に接続されてNチャネルFET2N
1〜2Nnのソースは接地され(第8図Fに図示)、エ
クスクル−シブノア回路2E1〜2Enに供給される反
転/非反転制御信号(第8図りにy反転/非反転として
図示)は低レベル“0”とされる、一方、次のフレーム
では、切換スイッチ23はbmに接続されてPチャネル
FET2P1〜2Pnのソースは接地され(第8図Eに
図示)、切換スイッチ24はallに接続されてNチャ
ネルFET2N1〜2Nnのソースには、電源Vリ−が
接続され(第8図Fに図示)、反転/非反転制御信号は
高レベル“1”とされる。
また、タイミング発生回路4よりシフトレジスタ21に
走査パルスPy用のデータ(第8図Aにyデータとして
図示)が供給されると共に、クロック〈第8図B、
Nにyクロックとして図示)が供給される。この走査パ
ルスPy用のデータとしては、行電極y1.y2.
・・・、ynを1本ずつ順次走査するため、lクロッ9
分だけ高レベル゛″1”が続くようにされる。
走査パルスPy用のデータ(第8図Aにyデータとして
図示)が供給されると共に、クロック〈第8図B、
Nにyクロックとして図示)が供給される。この走査パ
ルスPy用のデータとしては、行電極y1.y2.
・・・、ynを1本ずつ順次走査するため、lクロッ9
分だけ高レベル゛″1”が続くようにされる。
したがって、あるフレームでは、PチャネルFET2P
1〜2Pnのゲートに順次低レベル“O11の信号が供
給されてオンとなり、パネル1の行電極yl+ 5F
2. ΦΦ・拳+3/11に、走査パルスPyとして
1電極単位で順次重ta V w+が供給される。
1〜2Pnのゲートに順次低レベル“O11の信号が供
給されてオンとなり、パネル1の行電極yl+ 5F
2. ΦΦ・拳+3/11に、走査パルスPyとして
1電極単位で順次重ta V w+が供給される。
次のフレームでは、Nf+ネルF ET 2 N 1〜
2Nnのゲートに順次高レベル“l″の信号が供給され
てオンとなり、パネルlの行電極y 1 、 y 2
=。
2Nnのゲートに順次高レベル“l″の信号が供給され
てオンとなり、パネルlの行電極y 1 、 y 2
=。
・・・”、ynに、走査パルスPVとしてl電極単位で
順次重fl V w−が供給される。
順次重fl V w−が供給される。
また、行座標の検出モードでは、タイミング発生回路4
よりアンド回路2A1〜2Anにイネーブル信号(第8
図Cにyイネーブルとして図示)が供給される。そして
、切換スイッチ23はc(IIに接続されてPチャネル
FET2P1〜2Pnのソースに電源1/2VDが供給
され(第8図Eに図示)、切換スイッチ24はb@に接
続されてNチャネルFET2N1〜2Nnのソースは接
地され(第8図Fに図示)、エクスクル−シブノア回路
2EI〜2Enに供給される反転/非反転制御信号(第
8図りに反転/非反転として図示)は低レベル“θパと
される。
よりアンド回路2A1〜2Anにイネーブル信号(第8
図Cにyイネーブルとして図示)が供給される。そして
、切換スイッチ23はc(IIに接続されてPチャネル
FET2P1〜2Pnのソースに電源1/2VDが供給
され(第8図Eに図示)、切換スイッチ24はb@に接
続されてNチャネルFET2N1〜2Nnのソースは接
地され(第8図Fに図示)、エクスクル−シブノア回路
2EI〜2Enに供給される反転/非反転制御信号(第
8図りに反転/非反転として図示)は低レベル“θパと
される。
また、タイミング発生口1la4よりシフトレジスタ2
1に走査パルスPy’用のデータ(第8図Aにyデータ
として図示)が供給されると共に、クロック(第8図B
にyクロックとして図示)が供給される。この走査パル
スPy′用のデータは、行電極y1.y2. ・・・
+Sfnのうち隣り合った複数本、例えば20本の電極
を同時に走査するため、20クロック分だけ高レベル“
I 11が続くようにされる。
1に走査パルスPy’用のデータ(第8図Aにyデータ
として図示)が供給されると共に、クロック(第8図B
にyクロックとして図示)が供給される。この走査パル
スPy′用のデータは、行電極y1.y2. ・・・
+Sfnのうち隣り合った複数本、例えば20本の電極
を同時に走査するため、20クロック分だけ高レベル“
I 11が続くようにされる。
したがって、PチャネルFET2P1〜2Pnのうち隣
り合った20個のゲートに同時に低レベル“O“の信号
が供給されてオンとなり、パネルlの行電極3/1.
y2. ・・・・I ynのうち隣り合った20
本の電極に同時に走査パルスPy′として11!1/2
VDが供給され、この吠趨で順次走査される。
り合った20個のゲートに同時に低レベル“O“の信号
が供給されてオンとなり、パネルlの行電極3/1.
y2. ・・・・I ynのうち隣り合った20
本の電極に同時に走査パルスPy′として11!1/2
VDが供給され、この吠趨で順次走査される。
また、列座標の検出モードでは、タイミング発生回路4
よりアンド回路2A1〜2Anに供給されるイネーブル
信号(第81!IcにXイネーブルとして図示)は低レ
ベル“O1゛とされる。そして、切換スイッチ23はb
側に接続されてPチャネルFET2P1〜2Pnのソー
スは接地され(第8図Eに図示)、切換スイッチ24は
b側に接続されてNチャネルFET2N1〜2Nnのソ
ースは接地され(第8図Fに図示)、反転/非反転制御
信号は低レベル“O”とされる、したがって、Nチャネ
ルFET2N1〜2N口のゲートには高レベル“’1”
の信号が供給されてオンとなり、パネルlの打電1i+
y1.yL ・・・”+ ynは全て接地される。
よりアンド回路2A1〜2Anに供給されるイネーブル
信号(第81!IcにXイネーブルとして図示)は低レ
ベル“O1゛とされる。そして、切換スイッチ23はb
側に接続されてPチャネルFET2P1〜2Pnのソー
スは接地され(第8図Eに図示)、切換スイッチ24は
b側に接続されてNチャネルFET2N1〜2Nnのソ
ースは接地され(第8図Fに図示)、反転/非反転制御
信号は低レベル“O”とされる、したがって、Nチャネ
ルFET2N1〜2N口のゲートには高レベル“’1”
の信号が供給されてオンとなり、パネルlの打電1i+
y1.yL ・・・”+ ynは全て接地される。
また、31はパネルlの列電極Xll X2゜・・・
、XIの電極数に対応した段数を有するシフトレジスタ
、32はその電極数に対応した段数を有するう・ソチ回
路、33はそのt極数に対応したナンド回路3Al〜3
Am、NチャネルFET3N1〜3NmおよびPチャネ
ルFET3Pl〜3P■等を冑するドライバ、34は可
変電源回路であり、これらシフトレジスタ31、ラッチ
回路32、ドライバ33、可変電源回路34によって列
電極ドライバ3が構成される。
、XIの電極数に対応した段数を有するシフトレジスタ
、32はその電極数に対応した段数を有するう・ソチ回
路、33はそのt極数に対応したナンド回路3Al〜3
Am、NチャネルFET3N1〜3NmおよびPチャネ
ルFET3Pl〜3P■等を冑するドライバ、34は可
変電源回路であり、これらシフトレジスタ31、ラッチ
回路32、ドライバ33、可変電源回路34によって列
電極ドライバ3が構成される。
すなわち、シフトレジスタ310m段の出力端子は、そ
れぞれラッチ回路32を介してドライバ33のナンド回
路3A1〜3Amの入力端に接続され、このナンド回路
3A1〜3Aa+の出力側はそれぞれNチャネルFET
3Nl〜3N層のゲートに接続されると共に、Pチャネ
ルFET3PI〜3Psのゲートに接続される。
れぞれラッチ回路32を介してドライバ33のナンド回
路3A1〜3Amの入力端に接続され、このナンド回路
3A1〜3Aa+の出力側はそれぞれNチャネルFET
3Nl〜3N層のゲートに接続されると共に、Pチャネ
ルFET3PI〜3Psのゲートに接続される。
また、PチャネルFET3P1〜3Pm (Dソースは
可変電源回路34の出力側に接続され、この可変電源回
路340入力側にはtillll/2V[lが接続され
る。この可変電源回路34はタイミング発生回路4によ
って制御され、表示モードにはvOが出力され、座標構
出モードにはl/2VDが出力される(第8図にζこ図
示)、また、NチャネルFET3N1〜3Nmのソース
はそれぞれ接地される。
可変電源回路34の出力側に接続され、この可変電源回
路340入力側にはtillll/2V[lが接続され
る。この可変電源回路34はタイミング発生回路4によ
って制御され、表示モードにはvOが出力され、座標構
出モードにはl/2VDが出力される(第8図にζこ図
示)、また、NチャネルFET3N1〜3Nmのソース
はそれぞれ接地される。
そして、PチャネルFET3Pl〜3Pmのドレインは
、それぞれNチャネルFET3N1〜3Nsのドレイン
に接続され、それぞれの接続点はパネルlの列電極xl
、x2. 拳・φ・、X−に接続される。なお、Nチ
ャネルFET3N1〜3Nm、PチャネルFET3P1
〜3PImのそれぞれのドレインおよびソース間にはダ
イオードが接続される。この場合、表示モードでは、タ
イミング発生回#I4よりナンド回路3A1〜3Amに
イネーブル信号(第8図J、 QにXイネーブルとし
て図示)が供給される。
、それぞれNチャネルFET3N1〜3Nsのドレイン
に接続され、それぞれの接続点はパネルlの列電極xl
、x2. 拳・φ・、X−に接続される。なお、Nチ
ャネルFET3N1〜3Nm、PチャネルFET3P1
〜3PImのそれぞれのドレインおよびソース間にはダ
イオードが接続される。この場合、表示モードでは、タ
イミング発生回#I4よりナンド回路3A1〜3Amに
イネーブル信号(第8図J、 QにXイネーブルとし
て図示)が供給される。
また、タイミング発生回路4よりシフトレジスタ31に
データ(第8図H,OにXデータとして図示)が供給さ
れると共に、シフトレジスタ31にクロック(118図
1. PにXクロックとして図示)が供給される。こ
の場合、行電極y1.y2゜拳争・、ynに走査パルス
Pyとして電源Vw+が供給されるあるフレームでは、
表示データSDの反転されたデータが供給され、一方走
査バルスPyとして電II V w−が供給されるン欠
のフレームでは、表示データSDがそのまま供給される
。
データ(第8図H,OにXデータとして図示)が供給さ
れると共に、シフトレジスタ31にクロック(118図
1. PにXクロックとして図示)が供給される。こ
の場合、行電極y1.y2゜拳争・、ynに走査パルス
Pyとして電源Vw+が供給されるあるフレームでは、
表示データSDの反転されたデータが供給され、一方走
査バルスPyとして電II V w−が供給されるン欠
のフレームでは、表示データSDがそのまま供給される
。
そして、シフトレジスタ31にデータが順次供給されて
1走査線分のm個のデータがセットされるごとに、タイ
ミング発生回路4よりラッチ回路32にロード゛信号(
第8図り、 NにXロードとして図示)が供給されて
1走査線分のm個のデータはラッチ回路32でラッチさ
れ、そして、シフトレジスタ31にm個のデータが順次
供給される次のl走査線1間の間深待される。これによ
りELの発光に充分な肋間、例えば407zsec11
度が確保される。
1走査線分のm個のデータがセットされるごとに、タイ
ミング発生回路4よりラッチ回路32にロード゛信号(
第8図り、 NにXロードとして図示)が供給されて
1走査線分のm個のデータはラッチ回路32でラッチさ
れ、そして、シフトレジスタ31にm個のデータが順次
供給される次のl走査線1間の間深待される。これによ
りELの発光に充分な肋間、例えば407zsec11
度が確保される。
したがって、打電8i!y1. y2. ・・・+
ynに走査パルスPyとして電fil V v+が供給
されるあるフレームでは、1走査線ごとにNチャネルF
ET3N1〜3Nmのうち表示画素部に対応したものの
ゲートに高レベル“11“の信号が供給されてオンとさ
れると共に、PチャネルFET3P1〜3Pa+のうち
非表示画素部に対応したもののゲートに低レベル“0”
の信号が供給されてオンとされ、パネル1の列電極xi
、x2. 4・拳、xaのうち表示画素部に対応した電
極は接地されると共に、非表示画素部に対応した電極に
は電圧VDが供給される。
ynに走査パルスPyとして電fil V v+が供給
されるあるフレームでは、1走査線ごとにNチャネルF
ET3N1〜3Nmのうち表示画素部に対応したものの
ゲートに高レベル“11“の信号が供給されてオンとさ
れると共に、PチャネルFET3P1〜3Pa+のうち
非表示画素部に対応したもののゲートに低レベル“0”
の信号が供給されてオンとされ、パネル1の列電極xi
、x2. 4・拳、xaのうち表示画素部に対応した電
極は接地されると共に、非表示画素部に対応した電極に
は電圧VDが供給される。
一方、走査パルスPyとして電ill’ V v−供給
される次のフレームでは、1走査線ごとにPチャネルF
ET3PI〜3P+wのうち表示画素部に対応したもの
のゲートに低レベル“O”の信号が供給されてオンとさ
れると共に% Nチャネル1? E T 3 N!〜3
NII+のうち非表示画素部に対応したもののゲートに
高レベル“1”の信号が供給されてオンとされ、パネル
1の列電極xis x2. ・・・Xllのうち表
示画素部に対応した電極には電圧VDが供給されると共
に、非表示画素部に対応した電極は接地される。
される次のフレームでは、1走査線ごとにPチャネルF
ET3PI〜3P+wのうち表示画素部に対応したもの
のゲートに低レベル“O”の信号が供給されてオンとさ
れると共に% Nチャネル1? E T 3 N!〜3
NII+のうち非表示画素部に対応したもののゲートに
高レベル“1”の信号が供給されてオンとされ、パネル
1の列電極xis x2. ・・・Xllのうち表
示画素部に対応した電極には電圧VDが供給されると共
に、非表示画素部に対応した電極は接地される。
また、行座標の検出モードでは、タイミング発生回路4
よりナンド回路3A1〜3Amに供給されるイネーブル
信号(第8図JにXイネーブルとして図示)はぼレベル
“0”とされる、したがって、NチャネルFET3N1
〜3Nmのゲートには高レベル“l”の信号が供給され
てオンとなり、パネル1の列電極は全て接地される。
よりナンド回路3A1〜3Amに供給されるイネーブル
信号(第8図JにXイネーブルとして図示)はぼレベル
“0”とされる、したがって、NチャネルFET3N1
〜3Nmのゲートには高レベル“l”の信号が供給され
てオンとなり、パネル1の列電極は全て接地される。
また、列座標の検出モードでは、タイミング発生回路4
よりナンド回路3A1〜3An+にイネーブル信号(第
8図JにXイネーブルとして図示)が供給される。そし
て、タイミング発生回路4よリシフトレジスタ31に走
査パルスPx’用のデータ(第8図HにXデータとして
図示)が供給されると共に、クロック(第8図IにXク
ロ・ンクとして図示)が供給される。この走査パルスP
x’用のデータは、列電極xl、x2.・・・、xlI
のうち隣り合った複数本、例えば20本の電極を同時に
走査するため、20クロック分だけ高レベル“1゛が続
くようにされる。なお、タイミング発生回路4よりラッ
チ回路32にはロード信号(第8図りにXロードとして
図示)が供給され続け、このラッチ回路32はスルーモ
ードとされる。
よりナンド回路3A1〜3An+にイネーブル信号(第
8図JにXイネーブルとして図示)が供給される。そし
て、タイミング発生回路4よリシフトレジスタ31に走
査パルスPx’用のデータ(第8図HにXデータとして
図示)が供給されると共に、クロック(第8図IにXク
ロ・ンクとして図示)が供給される。この走査パルスP
x’用のデータは、列電極xl、x2.・・・、xlI
のうち隣り合った複数本、例えば20本の電極を同時に
走査するため、20クロック分だけ高レベル“1゛が続
くようにされる。なお、タイミング発生回路4よりラッ
チ回路32にはロード信号(第8図りにXロードとして
図示)が供給され続け、このラッチ回路32はスルーモ
ードとされる。
したがって、PチャネルFET3Pl 〜3Psのうち
隣り合った20個のゲートに同時に低レベル“0゛1の
1言号が供給されてオンとなり、パネル10列電極x1
.x2. ・・・ XIのうち隣り合った20本の電
極に同時に走査パルスPx’として電圧1/2Vl)が
供給され、この状態で順次走査される。
隣り合った20個のゲートに同時に低レベル“0゛1の
1言号が供給されてオンとなり、パネル10列電極x1
.x2. ・・・ XIのうち隣り合った20本の電
極に同時に走査パルスPx’として電圧1/2Vl)が
供給され、この状態で順次走査される。
このように、表示モードでは、行電極3/1. y:
L・・・ ynに1電極量位で順次走査パルスPyが供
給されると共に、列電極x 1 e x 2 +
・・・XIに表示データSDに対応した電圧が1走査線
ごとに同時に供給され、線順次走置で表示駆動され、表
示データSDに対応した画像が表示される。
L・・・ ynに1電極量位で順次走査パルスPyが供
給されると共に、列電極x 1 e x 2 +
・・・XIに表示データSDに対応した電圧が1走査線
ごとに同時に供給され、線順次走置で表示駆動され、表
示データSDに対応した画像が表示される。
また、ペン5の検出信号はアンプ6に供給され、このア
ンプ6からの検出信号VSはコンパレータ7およびピー
ク時点検出回路9に供給され、それぞれの出力信号はア
ンド回路8に供給される。そして、このアンド回路8か
らは、検出信号VSが基準電圧Vrより大きく、かつ検
出信号VSのピーク時点で高レベル“1”の信号が出力
されると共に、その他のときには低レベル“O11の信
号が出力される。
ンプ6からの検出信号VSはコンパレータ7およびピー
ク時点検出回路9に供給され、それぞれの出力信号はア
ンド回路8に供給される。そして、このアンド回路8か
らは、検出信号VSが基準電圧Vrより大きく、かつ検
出信号VSのピーク時点で高レベル“1”の信号が出力
されると共に、その他のときには低レベル“O11の信
号が出力される。
このアンド回路8の出力信号は、カウンタで構成される
行座標検出部10および列座標検出部11にカウントス
ト・ンブ信号として供給される。
行座標検出部10および列座標検出部11にカウントス
ト・ンブ信号として供給される。
そして、行座標検出部10には、シフトレジスタ21に
供給されるクロックと同じクロック(第8図Bにyクロ
ックとして図示)がタイミング発生回路4より供給され
ると共に、リセット信号(第8図Gにyカウンタリセッ
トとして図示)が供給されて行座標の検出モードとなる
前にリセットされる、したがって、行座標の検出モード
となるとクロックのカウント動作が始まると共に、検出
信号vsが基準電圧■「より大きく、かつ検出信号VS
のピーク時点でカウント動作が終わり、行座標検出部1
0からは、ベン5が接触されるパネル1の任意位置に対
応したカウント値が行座標出力として得られる。
供給されるクロックと同じクロック(第8図Bにyクロ
ックとして図示)がタイミング発生回路4より供給され
ると共に、リセット信号(第8図Gにyカウンタリセッ
トとして図示)が供給されて行座標の検出モードとなる
前にリセットされる、したがって、行座標の検出モード
となるとクロックのカウント動作が始まると共に、検出
信号vsが基準電圧■「より大きく、かつ検出信号VS
のピーク時点でカウント動作が終わり、行座標検出部1
0からは、ベン5が接触されるパネル1の任意位置に対
応したカウント値が行座標出力として得られる。
また、列座標検出部11には、 シフトレジスタ31に
供給されるクロックと同じクロック(第8図■にXクロ
ックとして図示)がタイミング発生回路4より供給され
ると共に、リセット信号(第8図MにXカウンタリセッ
トとして図示)が供給されて列座標の検出モードとなる
前にリセットされる。したがって、列座標の検出モード
となるとクロックのカウント動作が始まると共に、検出
信号vsが基準電圧Vrより大きく、かつ検出信号VS
のピーク時点てカウント動作が終わり、列座標検出部8
からは、ベン5が接触されるパネル1の任意位置に対応
したカウント値が列座探出力として得られる。
供給されるクロックと同じクロック(第8図■にXクロ
ックとして図示)がタイミング発生回路4より供給され
ると共に、リセット信号(第8図MにXカウンタリセッ
トとして図示)が供給されて列座標の検出モードとなる
前にリセットされる。したがって、列座標の検出モード
となるとクロックのカウント動作が始まると共に、検出
信号vsが基準電圧Vrより大きく、かつ検出信号VS
のピーク時点てカウント動作が終わり、列座標検出部8
からは、ベン5が接触されるパネル1の任意位置に対応
したカウント値が列座探出力として得られる。
なお、第7図において、4aは表示データSDが書き込
まれているRAMである。
まれているRAMである。
このように本例によれば、座標検出モードでは、隣り合
った複数本、例えば20本の電極に同時に走査パルスP
y’、Px’が供給された状態で順次走査されるので、
ベン5の検出信号のレベルが大きくなり、走査パルスP
y’、Px’の検出が容易となり、座標検出を良好に行
なうことができる。
った複数本、例えば20本の電極に同時に走査パルスP
y’、Px’が供給された状態で順次走査されるので、
ベン5の検出信号のレベルが大きくなり、走査パルスP
y’、Px’の検出が容易となり、座標検出を良好に行
なうことができる。
また、パネル1が表示および座標検出の双方に使用され
るので、デイスプレィの表示面とタブレットの人力面と
が1表示画素の精度で全面に亘って確実に一致するため
、容易に製造することができる。
るので、デイスプレィの表示面とタブレットの人力面と
が1表示画素の精度で全面に亘って確実に一致するため
、容易に製造することができる。
また、パネル!が表示モードおよび座標検出モードの双
方に使用され、行を極ドライバ2、列電極ドライバ3が
共通に使用されるので、無駄な回路を省くことができ、
安価に構成できると共に、スペース的にも有利とできる
。
方に使用され、行を極ドライバ2、列電極ドライバ3が
共通に使用されるので、無駄な回路を省くことができ、
安価に構成できると共に、スペース的にも有利とできる
。
また、表示モードの期間と座標検出モードの期間とが時
分割的に交互に段けられるので、座標検出モートの期間
には、表示駆動に必要な種々の信号による妨害信号の影
響なく走査パルスPy′Px’を検出できるようになり
、座標検出を良好に行なうことができろ。
分割的に交互に段けられるので、座標検出モートの期間
には、表示駆動に必要な種々の信号による妨害信号の影
響なく走査パルスPy′Px’を検出できるようになり
、座標検出を良好に行なうことができろ。
また、ベン(ペンシル状導体)5をパネル1のガラス面
に近づけるとき、コンパレータ7の出力信号が高レベル
“I IIとなってアンド回路8より行座標検出部10
、列座標検出部11にカウントストップ信号が供給され
て自動的に座標検出動作に入るので、従来のようにペン
先をデイスプレィに押し付けることでベンに内蔵した機
械的スイ・ンチをオンとして座標検出動作に入るものに
比べて、操作の煩わしさがなく、また部品数を少なく安
価に構成でき、さらに可動部分がなくなるのでベン5の
故障の心配もなくなる。
に近づけるとき、コンパレータ7の出力信号が高レベル
“I IIとなってアンド回路8より行座標検出部10
、列座標検出部11にカウントストップ信号が供給され
て自動的に座標検出動作に入るので、従来のようにペン
先をデイスプレィに押し付けることでベンに内蔵した機
械的スイ・ンチをオンとして座標検出動作に入るものに
比べて、操作の煩わしさがなく、また部品数を少なく安
価に構成でき、さらに可動部分がなくなるのでベン5の
故障の心配もなくなる。
なお、上述実施例とは異なり、第9図に示すように、デ
イスプレィ51とタブレット52とがそれぞれ別個独立
に形成され、これらを互いに密着させることにより一体
に構成されろもののタブレット52にも、この発明を同
様に適用できることは勿論である。
イスプレィ51とタブレット52とがそれぞれ別個独立
に形成され、これらを互いに密着させることにより一体
に構成されろもののタブレット52にも、この発明を同
様に適用できることは勿論である。
[発明の効果]
以上説明したようLこ、この発明によれば、パネルの行
電極および列電極は、それぞれ行電極ドライバおよび列
電極トライバより、隣り合った複数の電極に同時に走査
パルスが供給された状態で順次走査されるので、横出用
導体の検出信号のレベルが大きくなり、走査パルスの検
出が容易となり、座標検出を良好に行なうことができる
。
電極および列電極は、それぞれ行電極ドライバおよび列
電極トライバより、隣り合った複数の電極に同時に走査
パルスが供給された状態で順次走査されるので、横出用
導体の検出信号のレベルが大きくなり、走査パルスの検
出が容易となり、座標検出を良好に行なうことができる
。
第1図はこの発明の一実施例を示す構成図、第2図〜第
6図はその動作説明のための図、第7図は第1図例の具
体構成図、第8図はその動作説明のための図、第9図は
従来例の構成図である。 l・・・薄膜ELマトリックスパネル 2・・・行電極ドライバ 3・・・列電極ドライバ 4 ・ 5争 I 8番 9・ 11舎 ・タイミング発生回路 ・ペンシル状導体 昏コンパレータ ・アンド回路 ・ピーク時点検出回路 ・行座標検出部 ・列座標検出部
6図はその動作説明のための図、第7図は第1図例の具
体構成図、第8図はその動作説明のための図、第9図は
従来例の構成図である。 l・・・薄膜ELマトリックスパネル 2・・・行電極ドライバ 3・・・列電極ドライバ 4 ・ 5争 I 8番 9・ 11舎 ・タイミング発生回路 ・ペンシル状導体 昏コンパレータ ・アンド回路 ・ピーク時点検出回路 ・行座標検出部 ・列座標検出部
Claims (1)
- (1)マトリックスパネルと、行電極ドライバと、列電
極ドライバと、行座標検出部と、列座標検出部と、検出
用導体とを備え、 上記行電極ドライバより上記パネルの行電極に順次供給
される走査パルスが上記検出用導体で検出されて上記行
座標検出部に供給されることにより行座標が検出される
と共に、上記列電極ドライバより上記パネルの列電極に
順次供給される走査パルスが上記検出用導体で検出され
て上記列座標検出部に供給されることにより列座標が検
出されるタブレットにおいて、 上記パネルの行電極および列電極は、それぞれ上記行電
極ドライバおよび上記列電極ドライバより、隣り合った
複数の電極に同時に上記走査パルスが供給された状態で
順次走査されることを特徴とするタブレット。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32673888A JPH0769763B2 (ja) | 1988-12-24 | 1988-12-24 | タブレット |
US07/452,243 US5283556A (en) | 1988-12-19 | 1989-12-18 | Tablet integrated with display |
EP89313216A EP0375328B1 (en) | 1988-12-19 | 1989-12-18 | Tablet integrated with display |
DE68927877T DE68927877T2 (de) | 1988-12-19 | 1989-12-18 | Tafel mit integrierter Anzeige |
CA002006038A CA2006038C (en) | 1988-12-19 | 1989-12-19 | Tablet integrated with display |
US08/089,776 US5418551A (en) | 1988-12-19 | 1993-07-12 | Tablet integrated with display |
US08/265,015 US5528267A (en) | 1988-12-19 | 1994-06-24 | Tablet integrated with display |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32673888A JPH0769763B2 (ja) | 1988-12-24 | 1988-12-24 | タブレット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02171818A true JPH02171818A (ja) | 1990-07-03 |
JPH0769763B2 JPH0769763B2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=18191129
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32673888A Expired - Fee Related JPH0769763B2 (ja) | 1988-12-19 | 1988-12-24 | タブレット |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0769763B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9760220B2 (en) | 2013-09-30 | 2017-09-12 | Japan Display Inc. | Touch detection device, display device with touch detection function, and electronic apparatus |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4974847A (ja) * | 1972-11-20 | 1974-07-19 |
-
1988
- 1988-12-24 JP JP32673888A patent/JPH0769763B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4974847A (ja) * | 1972-11-20 | 1974-07-19 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9760220B2 (en) | 2013-09-30 | 2017-09-12 | Japan Display Inc. | Touch detection device, display device with touch detection function, and electronic apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0769763B2 (ja) | 1995-07-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |