JPH02171628A - Measuring apparatus - Google Patents

Measuring apparatus

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JPH02171628A
JPH02171628A JP32614988A JP32614988A JPH02171628A JP H02171628 A JPH02171628 A JP H02171628A JP 32614988 A JP32614988 A JP 32614988A JP 32614988 A JP32614988 A JP 32614988A JP H02171628 A JPH02171628 A JP H02171628A
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optical
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  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable accurate measurement of positions, temperatures and the like of measuring sections accurately by making a light signal incident with the application of reference signal of a position, temperature, humidity and the like between measuring sections of an optical fiber to correct actually measured values from intensity of back scattered light from parts where the reference signal are applied. CONSTITUTION:An optical fiber 22 is laid in an area 20 to be measured across measuring sections 21a-21n and reference signal applying means 23a-23n are arranged between measuring sections. A pulse S is directed into the fiber 22 from a light source 11 and a back scattered light is processed with a data processor 14 through a characteristic filter or a branching filter 12. Thus, the back scattered light is detected at a point where reference signals are applied to specify the measuring sections 21a-21n from reference positions thereof, thereby enabling accurate measurement of temperatures.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、被測定領域に敷設された光ファイバ内の一端
である入射端から光信号を入射し、他端側に向かうあら
ゆる場所から入射端へ戻ってくる後方散乱光を解析して
前記被Al11定領域内の任意の場所の温度、湿度ある
いは温度分布等を測定する4111定装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Objective of the Invention] (Industrial Field of Application) The present invention involves inputting an optical signal from an input end, which is one end, in an optical fiber laid in a measurement area, and transmitting an optical signal to the other end. The present invention relates to a 4111 constant device that measures temperature, humidity, temperature distribution, etc. at any location within the Al11 constant region by analyzing backscattered light returning to the incident end from any direction.

(従来の技術および発明が解決しようとする課題) 一般に、物質にある周波数ωの光信号を照射したとき、
この光信号は当該物質で後方に散乱して戻ってくるが、
これの戻り光を例えば時間領域の分析装置(以下、0T
DRと指称する)で観測すると、照射光の周波数ωのほ
か、この周波数と異なるω+ωr、ω±mωr  (+
は整数)等の周波数の光、すなわちラマン(Raman
)散乱光を有する現象がラマンにより発見されたが、そ
の後、このラマン散乱光が温度に依存していることも既
に知られている。
(Prior art and problems to be solved by the invention) Generally, when a material is irradiated with an optical signal of a certain frequency ω,
This optical signal is scattered backwards by the material and returns,
The returned light is collected using a time domain analyzer (hereinafter referred to as 0T), for example.
DR), in addition to the frequency ω of the irradiated light, ω+ωr and ω±mωr (+
is an integer), that is, Raman (Raman
) A phenomenon involving scattered light was discovered by Raman, but it has since been known that this Raman scattered light is dependent on temperature.

ところで、このラマン散乱は、空気やガスの環境下でそ
の環境内の微少物質や種々の分子等の影響を受けるため
、温度計測に利用するのが難しいと考えられていた。し
かし、その後、光ファイバの製造および技術上の発展に
伴い、その光ファイバの種々の利用法が研究され、その
−環として温度計の利用についても研究開発が進められ
てきている。特に、光ファイバは空気やガスの環境と異
なって固定されたファイバ成分が存在するのみであるの
で、徐々にではあるが温度計測に適することが分ってき
た。 しかし、現在 後方散乱を利用した0TDRによ
る温度計は、測定部の光ファイバの位置分解能長さLt
が20m1最小測定温度Tbが5°C1最大測定温度T
cが150℃(光ファイバの使用温度限界に起因する)
、最小リフレッシュ時間T rfrが90 sec  
(OT D Rおよび温度計測法により定まる)、最大
測定長さL tIIlxが1lv(OTDRの分解能に
起因する)等の範囲であるが、将来を予測してもせいぜ
いLt−w2の、Tb−2℃程度、Tc −500〜6
00℃、Trfr −30sec程度、L tmx−数
km程度であると考えられる。
By the way, this Raman scattering is affected by microscopic substances and various molecules in the air or gas environment, so it has been thought that it is difficult to use it for temperature measurement. However, since then, with the development of optical fiber manufacturing and technology, research has been conducted into various ways to use optical fibers, and research and development has also progressed into the use of thermometers. In particular, unlike air or gas environments, optical fibers only have a fixed fiber component, so it has gradually become clear that they are suitable for temperature measurement. However, at present, thermometers based on 0TDR that utilize backscattering have a position resolution length Lt of the optical fiber in the measuring section.
is 20m1 Minimum measurement temperature Tb is 5°C1 Maximum measurement temperature T
c is 150℃ (due to the operating temperature limit of optical fiber)
, the minimum refresh time T rfr is 90 seconds
(determined by OTDR and temperature measurement method), maximum measurement length LtIIlx is in the range of 1lv (due to the resolution of OTDR), etc., but even if we predict the future, at most Lt-w2, Tb-2 ℃ degree, Tc -500~6
00°C, Trfr - about 30 seconds, and L tmx - about several km.

従って、現状においては、Lt >20mであることか
ら点の温度を測定することが難しく、光ファイバにそっ
た温度分布を測定する程度の研究しかなされていない。
Therefore, at present, since Lt >20 m, it is difficult to measure the temperature at a point, and the only research that has been done is to measure the temperature distribution along the optical fiber.

しかも、長い光ファイバ上の各点からの後方散乱光は微
弱であって、これにノイズが混入されているので、光信
号を数千〜数万回発射し、後方散乱光を平均化しノイズ
を除去して所望とする信号を測定するごとく構成されて
いるが忠実度の良い測定は非常に難しい。また、0TD
Rは本来位置を検出する機能を持ったものであるが、温
度変化により光伝送路である光ファイバ内の光屈折率が
変化し、これに伴って光、ファイバ内の光の伝送速度も
変化するので、光の伝送時間から温度検知位置を算出す
る従来方式のものをそのまま利用しても、その温度検知
位置を正確に同定できない。なお、Lt >20mの長
さを必要とする理由の1つには光の伝送速度変化に起因
することが上げられる。従つて、予め定められたdl1
1定場所の一定温度の環境下で使用され、かつ、部分的
に発生する異常温度を測定する場合には、それらの既知
条件を考慮しながら温度検知場所およびその場所の温度
をかなり正確に測定できるが、不特定場所の温度を測定
する一般的な温度aj定の場合には上述の如く種々の問
題が生ずる。
Moreover, the backscattered light from each point on a long optical fiber is weak and contains noise, so the optical signal is emitted thousands to tens of thousands of times and the backscattered light is averaged to eliminate the noise. Although the structure is designed to measure the desired signal by removing the signal, it is extremely difficult to measure with good fidelity. Also, 0TD
R originally has the function of detecting position, but due to temperature changes, the optical refractive index within the optical fiber, which is the optical transmission path, changes, and the transmission speed of light within the fiber changes accordingly. Therefore, even if the conventional method of calculating the temperature detection position from the light transmission time is used as is, the temperature detection position cannot be accurately identified. Note that one of the reasons for requiring a length of Lt>20 m is due to changes in the transmission speed of light. Therefore, the predetermined dl1
1. When used in a constant temperature environment at a fixed location and measuring abnormal temperatures that occur locally, the temperature detection location and the temperature at that location can be measured fairly accurately while taking those known conditions into account. However, in the case of general temperature aj determination, which measures the temperature at an unspecified location, various problems arise as described above.

本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、広範囲に及
ぶ被測定領域の任意の測定場所の温度。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is possible to measure the temperature at any arbitrary location in a wide range of measurement areas.

湿度、さらに被測定領域の温度分布を正確に測定し得、
さらに測定値の測定感度や分解能を高め、データ処理の
高速化にも寄与しうる71111定装置を提供すること
を目的とする。
It can accurately measure humidity and temperature distribution in the measurement area,
Furthermore, it is an object of the present invention to provide a 71111 constant device that can improve the measurement sensitivity and resolution of measured values and contribute to speeding up data processing.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は上記課題を解決するために、請求項]および2
においては、光源から光ファイバの入射端へ光信号を入
射し、この光信号の入射によって光ファイバ内で発生す
るラマン散乱のうち前記入射端方向に向かう後方散乱光
が戻ってくるまでの時間と戻ってきた信号の強さを信号
処理装置で解析し温度または湿度または温度分布を測定
する測定装置において、被測定領域の各IPj定場所に
またがって前記光ファイバの測定部を連続的に配置する
と共に、apj定部の一部または全領域にわたって位置
、温度等の基準用信号を印加する基準用信号印加手段を
設けた構成である。
[Structure of the invention] (Means for solving the problem) In order to solve the above problem, the present invention provides claims] and 2.
In , an optical signal is input from a light source to the input end of an optical fiber, and the time required for Raman scattering generated within the optical fiber due to the input of this optical signal until backscattered light directed toward the input end returns. In a measuring device that measures temperature, humidity, or temperature distribution by analyzing the strength of the returned signal with a signal processing device, the measuring section of the optical fiber is continuously arranged across each IPj fixed location in the measurement area. In addition, the configuration includes a reference signal applying means for applying reference signals such as position and temperature over a part or all of the apj constant section.

また、請求項3においては、光ファイバを被′A11l
定領域内に平面的または立体的に一筆書きで所定の順序
をもって配置し、そのとき前記光ファイバ上にできる交
叉部分の全部または一部または非交叉部分の任意の部分
を測定部と定めて所定の基準信号を印加すると共に光信
号を光ファイバの入射端へ入射し、このときの光信号の
入射によって得られる前記後方散乱光から前記測定部の
位置データ、または位置データと温度データを求めて記
憶し、実−p1定時に予め記憶された位置、温度データ
と実際に光ファイバへ光信号を入射して得られた後方散
乱光とを用いて前記n1定部の温度または湿度または温
度分布を測定し前記記憶データと比較し補正する構成で
ある。
Further, in claim 3, the optical fiber is covered with 'A11l.
The optical fibers are arranged in a predetermined order in a single stroke in a two-dimensional or three-dimensional manner in a predetermined area, and all or part of the intersecting portions or any part of the non-intersecting portions formed on the optical fibers are defined as measurement portions. Applying a reference signal and inputting an optical signal to the input end of the optical fiber, and determining position data or position data and temperature data of the measuring section from the backscattered light obtained by the input of the optical signal at this time. The temperature, humidity, or temperature distribution of the n1 constant part is calculated using the position and temperature data stored in advance at the actual p1 constant time and the backscattered light obtained by actually inputting the optical signal into the optical fiber. The configuration is such that the data is measured, compared with the stored data, and corrected.

さらに、請求項5においては、光源を含む信号処理装置
から被測定領域の手前までの領域または任意な被測定領
域を除く光ファイバ部分を測定不要部とする場合、前記
信号処理装置では実n1定時に前記測定不要部に相当す
る光ファイバ部分から返ってくる後方散乱光のil’e
J定をスキップし、前記被AFJ定領域内に配置された
被測定部の光ファイバ内から散乱されてくる後方散乱光
を取込んで温度。
Furthermore, in claim 5, when the area from the signal processing device including the light source to the front of the measurement target area or the optical fiber part excluding any measurement area is defined as a measurement-unnecessary part, the signal processing device il'e of the backscattered light returned from the optical fiber portion corresponding to the measurement-unnecessary portion.
The temperature is determined by skipping the J constant and taking in the backscattered light scattered from within the optical fiber of the part to be measured placed in the AF J constant area.

湿度または温度分布を測定する構成である。It is configured to measure humidity or temperature distribution.

さらに、請求項6においては、被測定領域の各4P1定
場所にまたがって前記光ファイノくの測定部を連続的に
配置すると共に、測定部の一部または全領域にわたって
可変可能な基準用信号を印加する基準用信号印加手段を
設け、前記信号処理装置では前記光ファイバから得られ
た後方散乱光の実Jlll値に一致するように前記基準
用信号印加手段の基準用信号を制御する構成である。
Furthermore, in claim 6, the measurement section of the optical fiber is continuously arranged across each of the 4P1 fixed locations in the measurement area, and a variable reference signal is provided over a part or all of the measurement section. A reference signal applying means for applying the reference signal is provided, and the signal processing device controls the reference signal of the reference signal applying means so as to match the actual Jll value of the backscattered light obtained from the optical fiber. .

さらに、被Apl定領域に前記光ファイバの、’!11
1定部を配置すると共に、測定部の一部または全領域に
わたって基桑用信号を印加する基準用信号印加手段を設
け、光ファイバへの光信号の入射により前記基準用信号
印加手段に相当する部分から散乱して返ってくる後方散
乱光から前記先ファイバ内の光信号の伝送時間を得る構
成である。
Furthermore, '!' of the optical fiber in the Apl fixed area. 11
In addition to arranging a constant part, a reference signal applying means for applying a reference signal over a part or the entire area of the measuring part is provided, and the reference signal applying means corresponds to the reference signal applying means by inputting the optical signal to the optical fiber. This is a configuration in which the transmission time of the optical signal within the destination fiber is obtained from the backscattered light that is scattered and returned from the part.

(作用) 従って、請求項1においては以上のような手段を講した
ことにより、光ファイバよりなるi*I定部あるいは測
定部と測定部との間へ基準用信号印加手段から位置、温
度、湿度等の基準信号を印加した状態で光ファイバに光
信号を入射し、それによって光ファイバ内から散乱して
来る後方散乱光の中に前記基準信号印加部からの後方散
乱光が含まれているので、この基準信号印加部からの後
方散乱光を目安として何れの場所の測定部から戻ってき
た後方散乱光であるか、さらに基準温度信号の場合には
基準信号印加部からの後方散乱光を既知温度基桑として
実測値を補正することにより、各測定部の位置および温
度を正確に測定できる。
(Function) Therefore, in claim 1, by taking the above measures, the position, temperature, An optical signal is input into an optical fiber while a reference signal such as humidity is applied, and the backscattered light from the reference signal application section is included in the backscattered light scattered from within the optical fiber. Therefore, using the backscattered light from the reference signal application section as a guide, determine from which location the backscattered light returned from the measurement section, and in the case of a reference temperature signal, determine the backscattered light from the reference signal application section. By correcting the actual measured value as a known temperature base, the position and temperature of each measuring section can be accurately measured.

また、請求項3においては、被ill定領域内に光ファ
イバを一筆書きで平面的または立体的に配置し、その交
叉部分または非交叉部分等のΔ1定部に基準信号を印加
してそれら測定部からの特異な後方散乱光から基準位置
または基準位置および基準温度を得るようにしたので、
実Ap1時にはその基準位置等を用いて広い範囲の多数
のflFJ定部位置部位置して正確に温度または湿度を
411j定できる。
In addition, in claim 3, optical fibers are arranged in a plane or three-dimensionally in a single stroke in a fixed area to be illuminated, and a reference signal is applied to a Δ1 constant part such as a crossing part or a non-crossing part to measure them. Since the reference position or reference position and reference temperature are obtained from the unique backscattered light from the
In actual Ap1, the temperature or humidity can be accurately determined by locating a large number of flFJ constant positions in a wide range using the reference position or the like.

また、請求項5においては、予め光源を含む信号処理装
置から被測定領域の手前までの領域または任意な被71
P+定領域を除く光ファイバ部分をaPJ定不要不要部
た場合、実測時にそのifl定不要不要部理せずにスキ
ップすることができるので、メモリ容量を少なくして高
速処理を可能とすることができる。
In addition, in claim 5, the area from the signal processing device including the light source to the front of the measurement area or any arbitrary area 71
If the optical fiber part excluding the P+ constant area is set as an unnecessary part of aPJ constant, it can be skipped without processing the ifl constant unnecessary part during actual measurement, so it is possible to reduce the memory capacity and enable high-speed processing. can.

さらに、請求項6においては、信号処理装置から各aP
I定部間部間準用信号印加手段の基準用信号を実測値に
合致するように制御することにより、その実測値をその
まま測定値として利用することができる。
Furthermore, in claim 6, each aP is
By controlling the reference signal of the inter-I fixed section applied signal applying means so as to match the actual measurement value, the actual measurement value can be used as it is as the measurement value.

さらに、請求項7においては、光ファイバの被測定領域
の特定部分に基準信号を印加し、その基準信号相当の後
方散乱光の到達から光ファイバ内の光信号の伝送時間を
取得できる。
Furthermore, in claim 7, a reference signal is applied to a specific portion of the measurement area of the optical fiber, and the transmission time of the optical signal within the optical fiber can be obtained from the arrival of backscattered light corresponding to the reference signal.

(実施例) 以下、本発明装置の実施例について説明するに先立って
本装置において適用する測定原理を説明する。すなわち
、本装置に適用するラマン散乱は、周波数ωの光が分子
振動や格子振動などの周波数ωrを持った物質に照射し
たとき、その物質からは周波数ωのほか、ω+ωrなる
周波数の散乱光が現われる。特に1強いレーザ光を入射
したとき、誘導放出のために強いω+ωrまたはω±m
ωr  (mは整数)の周波数の発振が生じ、これらω
+ωrまたはω±mωrは光ファイバ内のどこでも発生
し、レーザ入射端方向のすなわち後方散乱も発生する。
(Example) Before describing the embodiments of the device of the present invention, the measurement principle applied in the device will be described below. In other words, in Raman scattering applied to this device, when light with a frequency ω irradiates a substance with a frequency ωr such as molecular vibration or lattice vibration, the substance emits scattered light with a frequency ω+ωr in addition to the frequency ω. appear. In particular, when a strong laser beam is input, a strong ω+ωr or ω±m is generated due to stimulated emission.
Oscillations with a frequency of ωr (m is an integer) occur, and these ω
+ωr or ω±mωr occurs anywhere within the optical fiber, and backscattering in the direction of the laser input end also occurs.

そして、この後方散乱光中に含まれるωr、  mωr
等の強度は温度に依存するために、この強度を0TDR
で計fllll L、適宜な処理を行えば、位置、温度
等の情報を得ることができる。
Then, ωr and mωr included in this backscattered light
Since the strength of etc. depends on the temperature, this strength is
By performing appropriate processing, information such as position and temperature can be obtained.

第1図は本発明のベースとなる0TDRを用いた温度計
の測定原理を示す図である。このDj定は、光パルスを
発生するレーザ発振装置や発光ダイオード等の光源11
から光パルスSを発生し、ビームスプリッタ12(ビー
ムスプリッタと同様な機能を発揮するデバイス例えば光
分岐等も含めてビムスプリツタと呼ぶ)を通して光ファ
イバ13の入射端へ入射すると、この光ファイバ13内
で光パルスSの伝送到達位置例えばt1+ ・・・tn
−1゜tnからω+ω「、ω+mω「なる周波数のラマ
ン散乱が次々と生じ、それによって各位置tI+・・・
tn−1tnから後方散乱光か光ファイバ入射端側へ戻
ってきて前記ビームスプリッタ12で反射され、信号処
理装置14に入ってくる。そこで、この信号処理装置1
4では、光パルスS発生後、各位置t1.・・・tn−
1,tnから散乱する後方散乱光の大きさである温度を
Tl、・・・Tn−1,Tnとし、仮にTl −T2−
−−−−・−−Tn−1−Tnとした場合、遠い位置に
ある温度程伝送による損失が大きいために信号が小さく
なる。すなわち、信号処理装置14によるAp1定結定
結節2図のようになる。なお、信号処理装置14から光
源11へ光パルス発射命令を出しているので、本実施例
ではこの発射命令と光ファイバ13内から散乱して戻っ
てくる後方散乱光とをそれぞれ処理可能な電気信号に変
換し、発射命令を基準として後方散乱光の戻ってくる時
間を計測し、その計7Il11時間軸上で後方散乱光の
強さを計allJ L、かつ、光ファイバ内の光速を既
知として演算し、測定位置及びその測定位置での後方散
乱光の強度から温度をδIII定する。
FIG. 1 is a diagram showing the measurement principle of a thermometer using 0TDR, which is the basis of the present invention. This Dj constant is determined by a light source 11 such as a laser oscillation device or a light emitting diode that generates a light pulse.
When a light pulse S is generated from a beam splitter 12 (a device that performs the same function as a beam splitter, such as an optical splitter, is also called a beam splitter) and enters the input end of an optical fiber 13, within this optical fiber 13, Transmission arrival position of optical pulse S, for example, t1+...tn
-1°tn, Raman scattering with frequencies of ω+ω", ω+mω" occurs one after another, resulting in each position tI+...
The backscattered light from tn-1tn returns to the input end of the optical fiber, is reflected by the beam splitter 12, and enters the signal processing device 14. Therefore, this signal processing device 1
4, after the light pulse S is generated, each position t1. ...tn-
Let Tl,...Tn-1,Tn be the temperature that is the magnitude of backscattered light scattered from 1,tn, and temporarily Tl -T2-
-----.--Tn-1-Tn, the signal becomes smaller because the farther the temperature is located, the greater the loss due to transmission. That is, the Ap1 fixed connection node 2 by the signal processing device 14 becomes as shown in FIG. Note that since the signal processing device 14 issues a light pulse emission command to the light source 11, in this embodiment, this emission command and the backscattered light scattered and returned from within the optical fiber 13 are processed as electrical signals that can be processed respectively. Convert to , measure the time for the backscattered light to return based on the launch command, calculate the intensity of the backscattered light on the time axis, and calculate the speed of light in the optical fiber as known. Then, the temperature δIII is determined from the measurement position and the intensity of backscattered light at the measurement position.

すなわち、この71111定原理は、光パルスSを発生
して光ファイバ13内から返ってくるまでの時間を測定
しどこの位置で起ったラマン散乱であるかを知る方法で
あって、光パルスSの場合には発射パルスと戻りパルス
との時間がある程度長くなれば計alllが難しいため
に長い光ファイバに有効である。一方、0TDRにAC
連続波(変調波)を用いる場合には同様にAC波形の光
信号と光ファイバ内から戻ってくるAC波形の光信号と
の位相ずれからどの位置でラマン散乱が起きたを知る方
法であって、この場合には比較的短い光ファイバであっ
ても正確に71111定できる。何れの場合にも後方散
乱光の大きさから温度を測定する。この後方散乱光には
光源11から発生した光パルスSの周波数ωのほかに、
ωr、  mω「等が混在しているので、信号処理装置
14内に特性フィルタ或いは分波器を設け、この特性フ
ィルタ或いは分波器にてω、ωr、  lJrを分離し
た後、温度の因子を持つ「ωr」または「IIlω「」
あるいは「ωrとlJr」を取出して温度を測定する。
In other words, this 71111 constant principle is a method of generating a light pulse S and measuring the time until it returns from within the optical fiber 13 to find out where Raman scattering has occurred. In the case of S, if the time between the emitted pulse and the return pulse is long to a certain extent, it is difficult to calculate all the time, so it is effective for long optical fibers. On the other hand, AC to 0TDR
Similarly, when using a continuous wave (modulated wave), there is a method of determining at which position Raman scattering has occurred based on the phase shift between the AC waveform optical signal and the AC waveform optical signal returning from within the optical fiber. , in this case, 71111 can be accurately determined even for a relatively short optical fiber. In either case, the temperature is measured from the magnitude of backscattered light. In addition to the frequency ω of the optical pulse S generated from the light source 11, this backscattered light includes
Since ωr, mω, etc. are mixed, a characteristic filter or branching filter is provided in the signal processing device 14, and after separating ω, ωr, lJr with this characteristic filter or branching filter, the temperature factor is ``ωr'' or ``IIlω''
Alternatively, take out "ωr and lJr" and measure the temperature.

一方、位置を検出する場合にもωr、  mω「を活用
することが望ましい。なお、光信号を発生する光源と゛
検出器とを兼ねる素子を用いる場合にはビームスプリッ
タ12は不要である。
On the other hand, it is also desirable to utilize ωr and mω' when detecting the position. Note that the beam splitter 12 is not necessary when using an element that serves both as a light source that generates an optical signal and as a detector.

次に、第3図は特に信号処理部14の一興体例を示す図
である。すなわち、この信号処理装置14は、シーケン
スプログラムに基づいて種々の指令を出力するCPU1
41を有し、このCPU141から動作指令を受けて光
源11から周波数ωの光パルスを例えば2個のプリズム
で構成されたビームスプリッタ12を介して光ファイバ
13へ入射すると、この光ファイバ13内部で発生する
ラマン散乱のうち光入射端側に戻ってくる周波数「ω」
、「ωrJ、rmω「」等を含んだ後方散乱光が特性フ
ィルタ或いは分波器142に入射してくる。142が特
性フィルタの場合は「ωr」或いは「lJr」のみを通
すフィルタを用い、αω「、β m(lJrのいずれか
一方を信号として用いるか、「ωr」と「lJr」との
双方を通すフィルタを通し、αωr+β 自ωrを信号
として用いる。α、βはフィルタでの減衰係数である。
Next, FIG. 3 is a diagram particularly showing an example of a single unit of the signal processing section 14. In FIG. That is, this signal processing device 14 includes a CPU 1 that outputs various commands based on a sequence program.
41, and upon receiving an operation command from the CPU 141, when a light pulse of frequency ω is input from the light source 11 to the optical fiber 13 via the beam splitter 12, which is composed of two prisms, for example, inside the optical fiber 13, Of the Raman scattering that occurs, the frequency “ω” that returns to the light input end side
, "ωrJ, rmω", etc. enters the characteristic filter or demultiplexer 142. If 142 is a characteristic filter, use a filter that passes only "ωr" or "lJr", and use one of αω", β m (lJr as a signal, or pass both "ωr" and "lJr". It is passed through a filter and αωr+β ωr is used as a signal. α and β are attenuation coefficients in the filter.

142が分波器の場合は「ω」なる周波数の光と「ωr
J、rmωr」なる周波数の光に分離した後、後続の光
−電気変換器143,144でそれぞれ電気信号に変換
される。そして、光−電気変換器144で変換された電
気信号、つまりラマン散乱に起因した信号は直接または
スイッチ回路145を通って高速時系列処理手段146
に送られ、ここでCPU141から光源11への動作指
令出力に同期して入力されるタイミング信号に基づいて
時間(位置)の計lPJおよびその時間に対する温度に
相当する信号強度を計測し内蔵するメモリに順次保存し
ていく。147は高速時系列処理手段146に記憶され
ているデータおよび必要に応じて彼ΔIII定領域の例
えば温度発信源等をマツプ化したファイル148のデー
タを用いて所望とするデータ処理を行うデータ処理部で
ある。
If 142 is a demultiplexer, the light of the frequency "ω" and the light of "ωr"
After the light is separated into light having frequencies of "J and rmωr", the light is converted into electrical signals by subsequent optical-to-electrical converters 143 and 144, respectively. The electrical signal converted by the optical-to-electrical converter 144, that is, the signal caused by Raman scattering, is sent directly or through a switch circuit 145 to a high-speed time series processing means 146.
Here, based on the timing signal input in synchronization with the operation command output from the CPU 141 to the light source 11, the signal strength corresponding to the total time (position) lPJ and the temperature with respect to that time is measured, and the internal memory are saved sequentially. 147 is a data processing unit that performs desired data processing using the data stored in the high-speed time series processing means 146 and, if necessary, data in a file 148 that maps, for example, temperature sources in the ΔIII fixed area. It is.

次に、以上のような装置を用いて本発明装置の各実施例
について説明する。先ず、第4図は本発明の請求項1.
2に係わる一実施例を示す図である。同図において20
は例えば温度を測定するための対象となる建物、タンク
等に相当する被測定領域であって、この被測定領域20
には複数の測定場所となる測定部21a、21b、・・
・21nにまたがって連続的に光ファイバ22が敷設さ
れている。そして、各測定部21a−21b、21b−
21c(図示せず)、・・・ の間に位置する前記光フ
ァイバ部分を引出しあるいは引出すことなく、これら光
ファイバ引出し部分または非引出し部分等を例えば測定
場所の温度20℃よりも十分に離れた温度1例えば0℃
の温度を設定する基準用信号印加手段23a、23b、
・・・が設けられている。
Next, each embodiment of the device of the present invention will be described using the device as described above. First, FIG. 4 shows claim 1 of the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing an example related to No. 2; In the same figure, 20
is a measurement area corresponding to, for example, a building, tank, etc. to be measured for temperature, and this measurement area 20
There are measuring sections 21a, 21b, etc., which serve as multiple measurement locations.
- The optical fiber 22 is continuously laid across 21n. And each measurement part 21a-21b, 21b-
21c (not shown), ... without drawing out or pulling out the optical fiber portion located between the two, the drawn out portion of the optical fiber or the undrawn out portion, etc., is kept sufficiently away from the temperature of 20° C. Temperature 1 e.g. 0℃
Reference signal applying means 23a, 23b, which sets the temperature of
...is provided.

24は終端無散乱部であって、具体的には光の大きな反
射が入射端側方向に°発生しないようにシリコーンオイ
ル、パラフィンオイル等の液体中に光ファイバ22の終
端部を挿入してなり、これによって光ファイバ終端部の
光を液体中で大半を拡散させる機能を持っている。仮に
、この終端部で反射された後方散乱光を信号処理装置1
4側で増幅すると、増幅器が飽和して測定不能となるの
で、それを回避するために終端無散乱部24を設けた実
施例を示した。なお、測定部21a、21b・・・およ
び基準用信号印加手段23a、23b、・・・は光ファ
イバ22をコイル状の巻装した構成としたが、非巻装構
成であってもよい。
Reference numeral 24 denotes an end non-scattering part, and specifically, the end part of the optical fiber 22 is inserted into a liquid such as silicone oil or paraffin oil to prevent large reflection of light toward the incident end side. This has the function of diffusing most of the light at the end of the optical fiber into the liquid. Suppose that the backscattered light reflected at this terminal part is transmitted to the signal processing device 1.
If amplification is performed on the 4 side, the amplifier becomes saturated and measurement becomes impossible. To avoid this, an embodiment in which a terminal non-scattering section 24 is provided is shown. Although the measurement units 21a, 21b, . . . and the reference signal applying means 23a, 23b, .

従って、以上のような実施例の構成によれば、光源11
から光ファイバ22に光パルスSを入射し、これによっ
て光ファイバ22内から戻ってくる後方散乱光を特性フ
ィルタ或いは分波器142で処理すると、第5図に示す
ような周波数ωr。
Therefore, according to the configuration of the embodiment as described above, the light source 11
When a light pulse S is inputted into the optical fiber 22 from the optical fiber 22 and the backscattered light returned from within the optical fiber 22 is processed by a characteristic filter or demultiplexer 142, the frequency ωr as shown in FIG. 5 is obtained.

mωrの後方散乱光の強度が得られる。この第5図にお
いて25a、25b、・・・は被測定領域20の各測定
部21a、21b、・・・からの温度(強度)に相当し
、26a、26b、・・・は基準用信号印加手段23a
、23b、・・・から後方散乱光が戻ってきた時間(位
置)、さらには温度的には基準用信号印加手段23a、
23b、・・・によって設定された0℃の温度を示して
いる。従って、高速時系列処理手段146では第5図の
ような後方散乱光に比例したアナログ信号を得ることに
より、基準位置26a、26b・・・に基づいて各測定
部21a。
The intensity of the backscattered light of mωr is obtained. In this FIG. 5, 25a, 25b, . . . correspond to the temperature (intensity) from each measurement part 21a, 21b, . Means 23a
, 23b, .
23b, . . . indicates a temperature of 0° C. Therefore, the high-speed time series processing means 146 obtains an analog signal proportional to the backscattered light as shown in FIG.

21b、・・・を特定して正確に温度を測定することが
できる。
21b, . . . and can accurately measure the temperature.

なお、基準用信号印加手段23a、23b、・・・はn
1定場所の温度より十分離れた温度を設定して位置識別
を行うようにしたが、例えばDI定場所の温度とそれほ
ど変らない所定の基準温度を予めまたは実測時に設定す
れば、信号処理装置14ではその基準用温度信号に起因
する後方散乱光の強度に基づいて各測定部21a、21
b、・・・の実1111J温度を補正することができ、
またその基準位置信号としても利用できる。また、基準
用信号印加手段23a、23bは固定の基準温度とした
が、可変形のものでもよい。この場合には温度補正をよ
り適確に行うことができる。
Note that the reference signal applying means 23a, 23b, . . .
Although position identification is performed by setting a temperature sufficiently far from the temperature of the DI fixed place, for example, if a predetermined reference temperature that is not much different from the temperature of the DI fixed place is set in advance or during actual measurement, the signal processing device 14 Then, each measurement unit 21a, 21 is determined based on the intensity of backscattered light caused by the reference temperature signal.
The actual 1111J temperature of b,... can be corrected,
It can also be used as a reference position signal. Further, although the reference signal applying means 23a and 23b have a fixed reference temperature, they may be of a variable type. In this case, temperature correction can be performed more accurately.

また、光ファイバ22を一方向に連続的に敷設するよう
に図示しているが、その敷設形態は測定対象によって種
々異なるものである。例えばタンクを被測定領域20と
する場合、そのタンクの形態に合わせてタンク内または
タンク外に光ファイバ22をコイル状に敷設するもので
ある。このとき、タンク内の場合には第6図に示すよう
にタンクの中心部から異なる距離ごとに同一円周部分の
測定部21a、21b、・・・の各平均温度tl。
Furthermore, although the optical fiber 22 is illustrated as being laid continuously in one direction, the manner in which it is laid varies depending on the object to be measured. For example, when a tank is used as the region 20 to be measured, the optical fiber 22 is laid in a coil shape inside or outside the tank depending on the shape of the tank. At this time, in the case of inside a tank, as shown in FIG. 6, each average temperature tl of the measurement parts 21a, 21b, .

t2.・・・を測定する場合には他の円周部分と位置を
明確に区別するために相隣接する円周部分間に区分巻フ
ァイバ27a、27b・・・を設けることにより、基準
となる位置信号を得るようにしてもよい。従って、この
場合には区分巻ファイバ27a。
t2. When measuring ..., in order to clearly distinguish the position from other circumferential parts, segmented winding fibers 27a, 27b, etc. are provided between adjacent circumferential parts to obtain a reference position signal. You may also obtain Therefore, in this case the segmentally wound fiber 27a.

27b・・・の部分を除けば、各円周部分ごとにそれぞ
れ広い距離にわたって測定部21a、2]、b。
The measuring sections 21a, 2], b extend over a wide distance in each circumferential portion, except for the portions 27b....

・・・が設けられているので、これら各円周部分の測定
部21a、21b、・・・からの信号を平均化すれば、
各円周部分の正確な平均温度tl、t2.・・・を測定
できる。なお、測定部21a、21b、・・・の光ファ
イバ22は1回だけ円形上に巻装してもよく、複数回巻
装したものでもよい。また、例えば池を1lll定対象
とする場合には同様に池の形状にそって光ファイバ22
を設けることは言うまでもない。
... are provided, so if the signals from the measurement parts 21a, 21b, ... of each of these circumferential parts are averaged,
Accurate average temperature of each circumferential portion tl, t2. ... can be measured. Note that the optical fibers 22 of the measurement units 21a, 21b, . . . may be wound circularly only once, or may be wound multiple times. For example, if a pond is to be fixed, the optical fiber 22 can be connected along the shape of the pond.
Needless to say, it is necessary to provide

従って、この第6図に示す実施例においても区分巻ファ
イバ27a、27b・・・の部分から位置信号を取出す
ことができるので、平均温度だけでなく、ある特定の位
置の温度もdlll定できる。
Therefore, in the embodiment shown in FIG. 6 as well, position signals can be extracted from the segmented winding fibers 27a, 27b, . . . , so that not only the average temperature but also the temperature at a specific position can be determined.

次に、第7図は同じく本発明の他の実施例を示す構成図
であって、これは構成的に第4図と同様であるが、特に
異なるところは各測定部21a−21b、21b−21
c (図示せず)間に溶接部等を含む接続部28a、2
8b、・・・を設け、この接続部28a、28b、・・
・から反射して戻ってくる第8図に示す後方散乱光の強
度29a、29b。
Next, FIG. 7 is a block diagram showing another embodiment of the present invention, which is structurally similar to FIG. 21
c (not shown) connecting portions 28a, 2 including welded portions etc.
8b, . . . are provided, and these connecting portions 28a, 28b, .
- Intensities 29a and 29b of the backscattered light shown in FIG. 8 reflected back from.

・・・から基準位置用信号を得、この基準信号に基づい
て各測定部21a、21b、・・・の位置を特定して温
度等を測定する構成である。なお、この接続部は必ずし
も全部の各測定部間に設ける必要はない。
The configuration is such that a reference position signal is obtained from . . . , and the position of each measuring section 21a, 21b, . Note that this connection part does not necessarily need to be provided between all measurement parts.

次に、第9図ないし第12図は本発明の請求項3に係わ
る実施例を示す図である。先ず、第9図は、光ファイバ
22を被測定領域20内に平面的に一筆書となるように
所定の順序で整然と一方向へ蛇行状をなすように敷設し
、さらにそれと直交する方向に蛇行状をなすように敷設
することにより、光ファイバ22を網目状に形成し、各
交叉部を測定部31a、31b、・・・とする構成であ
る。
Next, FIGS. 9 to 12 are diagrams showing an embodiment according to claim 3 of the present invention. First, in FIG. 9, the optical fibers 22 are laid in a meandering manner in one direction in a predetermined order so as to form a single stroke on a plane within the measurement area 20, and then meandering in a direction perpendicular to the prescribed order. By laying the optical fibers 22 in a shape, the optical fibers 22 are formed into a mesh shape, and each crossing portion is used as a measurement portion 31a, 31b, . . . .

一方、第10図は、第9図と同様な要領で形成した網目
状の光ファイバを、縦方向に所定の間隔を有して複数段
設けることにより、光ファイバ22を立体的構成とした
ものである。第11図は第10図の構成を模式的に表し
た図である。
On the other hand, FIG. 10 shows an optical fiber 22 having a three-dimensional configuration by providing multiple stages of mesh-like optical fibers formed in the same manner as in FIG. 9 at predetermined intervals in the vertical direction. It is. FIG. 11 is a diagram schematically representing the configuration of FIG. 10.

しかして、本発明装置は、被測定領域20内に第9図お
よび第10図の如き配置構成の光ファイバ22を設けた
場合、次のような手順に基づいて各i’1lll定部3
1a、31b、・・・の温度を測定する。
Therefore, when the optical fiber 22 arranged as shown in FIG. 9 and FIG.
The temperatures of 1a, 31b, . . . are measured.

先ず、最初に各測定部31a、31b、・・・から位置
のみ、あるいは位置および温度の基準信号を取得する。
First, only position or position and temperature reference signals are acquired from each measuring section 31a, 31b, . . . .

この場合には各測定部31a、31b。In this case, each measuring section 31a, 31b.

・・・を個別に、または全部について被測定領域20内
の温度よりも十分に異なる温度に設定した後、光源11
を駆動して光ファイバ22に光パルスSを入射する。そ
して、この光パルスSの入射によって光ファイバ22内
からラマン散乱されて入射端側に戻ってくる後方散乱光
の強度を特性フィルタ或いは分波器142.光−電気変
換器145を通して高速時系列処理手段146で取込ん
で時系列的に処理する。このとき、各測定部31a。
... individually or all at a temperature sufficiently different from the temperature in the measurement area 20,
is driven to input a light pulse S into the optical fiber 22. Then, the intensity of backscattered light that is Raman scattered from within the optical fiber 22 and returned to the input end side by the incidence of this optical pulse S is filtered by a characteristic filter or a demultiplexer 142. The signal is taken in by a high speed time series processing means 146 through an optical-to-electrical converter 145 and processed in time series. At this time, each measuring section 31a.

31b、・・・から第12図(a)の如き所定時間t、
、t2. ・・・(基準位置)ごとに他の部分と異なる
強度(基準温度)を持った後方散乱光が入ってくるので
、その時間(基準位置)およびその時間に対する温度を
順次メモリに格納していく。
31b, . . . for a predetermined time t as shown in FIG. 12(a),
, t2. ...Backscattered light with a different intensity (reference temperature) from each part (reference position) comes in, so the time (reference position) and the temperature for that time are sequentially stored in memory. .

以上のようにして各測定部31a、31b、・・・の基
準位置および基準温度を取得したならば、以後、実際の
温度測定時に各測定部31 a、  3 l b。
Once the reference position and reference temperature of each measuring section 31a, 31b, .

・・・に特定の温度を設定することなく、単に光ファイ
バ22の入射端に光パルスS1を入射し、その光パルス
入射タイミングから前記基準時間(例えば111定部3
1a)相当時に光ファイバ22内から戻ってくる後方散
乱光の強度(第12図(b)参照)と前記基準温度とに
基づいて測定部31aの温度を正確に測定できる。他の
測定部31b。
A light pulse S1 is simply introduced into the input end of the optical fiber 22 without setting a specific temperature, and the reference time (for example, 111 constant part 3
1a) The temperature of the measuring section 31a can be accurately measured based on the intensity of the backscattered light returning from within the optical fiber 22 at the appropriate time (see FIG. 12(b)) and the reference temperature. Another measuring section 31b.

31C1・・・についても同様な処理を行って正確に温
度を71111定できる。
31C1... can also be subjected to similar processing to accurately determine the temperature 71111.

なお、第9図および第10図では網目状の交叉部の全部
を測定部としたが、一部であってもよく、また交叉部具
外の部分を?ipt定部としてもよく、さらに必ずしも
網目状である必要がなく例えば多角形内に対角線で結ん
だ構成であってもよい。
In addition, in FIG. 9 and FIG. 10, the entire mesh-like intersecting part is used as the measurement part, but it may be a part, or the part outside the intersecting part may be used as the measuring part. It may be an ipt constant part, and it does not necessarily have to be mesh-like, and may be, for example, connected by diagonal lines within a polygon.

次に、本発明の請求項4に係わる実施例について第13
図ないし第15図を参照して説明する。
Next, the thirteenth embodiment regarding the fourth embodiment of the present invention will be explained.
This will be explained with reference to FIGS. 15 to 15.

すなわち、この実施例は、測定部40(21a。That is, in this embodiment, the measuring section 40 (21a.

21b、−,31a、31b、−=)において光ファイ
バ22を一筆書で複数回繰返して束ねた状態で敷設した
構成とする。従って、その測定部40を展開したとき、
その測定部40のa部分は第14図(a)のような位置
a1.a2+ ・・・関係となっている。
21b, -, 31a, 31b, -=), the optical fibers 22 are laid in a bundle by repeating them multiple times in one stroke. Therefore, when the measuring section 40 is expanded,
The part a of the measuring section 40 is located at the position a1 as shown in FIG. 14(a). a2+...relationship.

従って、以上のような光ファイバ22の配置構成によれ
ば、予め任意の位置aを所定の温度に設定した後、光フ
ァイバ22に光パルスSを入射すると、前記任意の位置
aを展開した位置a1+a2+ ・・・に対応する時間
のときに第14図(b)の如く他の部分とは異なる設定
温度に相当する後方散乱光の強度を得ることができるの
で、この時の時間と強度をファイル148に格納してお
く。
Therefore, according to the arrangement of the optical fiber 22 as described above, when an arbitrary position a is set to a predetermined temperature in advance and a light pulse S is input to the optical fiber 22, the arbitrary position a is expanded to a position At the time corresponding to a1+a2+..., it is possible to obtain the intensity of backscattered light corresponding to a set temperature different from other parts as shown in Figure 14(b), so the time and intensity at this time are stored in a file. 148.

そして、実際の温度ll1ll定時に得られる例えば第
14図(c)の如き後方散乱光に比例した温度信号をそ
の記憶時間に同期して順次サンプリングし、そのサンプ
リング値をメモリに格納していく。このようにしてサン
プリングした後、データ処理部147においてメモリの
内容を読出し、これらのサンプリング値を平均化すれば
、測定部40の温度を高感度、高分解能で検出すること
ができる。
Then, the temperature signal proportional to the backscattered light obtained at the actual temperature 1111 time as shown in FIG. 14(c), for example, is sequentially sampled in synchronization with the storage time, and the sampled values are stored in the memory. After sampling in this manner, the data processing section 147 reads out the contents of the memory and averages these sampled values, thereby making it possible to detect the temperature of the measuring section 40 with high sensitivity and high resolution.

なお、被a1定領域20において光ファイバ22を往復
させながら一筆書きに束ねる手段として、例えば第15
図(a)、(b)、(C)のように行ってもよい。
In addition, as a means for bundling the optical fibers 22 in one stroke while reciprocating in the a1 fixed area 20, for example, the 15th
It may also be carried out as shown in Figures (a), (b), and (C).

さらに、第16図および第17図は本発明の請求項5に
係わる実施例を示す図であって、これは遠方から被測定
領域20の温度等を測定する場合、その光ファイバ22
の入射端から被測定領域20まで測定する必要がないの
で、予めこのj?J定不要部分Logを時間的に記憶し
、実際の、(1す定時にその測定不要部分Lngに相当
する時間だけスキップすることにより、信号処理装置1
4のメモリ容量の負担軽減およびデータ処理の能率向上
を図るものである。
Furthermore, FIGS. 16 and 17 are diagrams showing an embodiment according to claim 5 of the present invention, in which the optical fiber 22 is used when measuring the temperature etc. of the measurement area 20 from a distance.
Since there is no need to measure from the incident end of the area to be measured 20, this j? The signal processing device 1
This is intended to reduce the burden on the memory capacity of No. 4 and improve the efficiency of data processing.

なお、各δ1り足部21a、21b、・・・の間が長い
場合には第17図に示す如く測定不要部Lngとしてス
キップしてもよい。
Incidentally, if the distance between each δ1 plus portion 21a, 21b, . . . is long, it may be skipped as a measurement-unnecessary portion Lng as shown in FIG.

次に、第18図は本発明の請求項1,6に係わる実施例
を示す図である。すなわち、この装置は、各基準用信号
印加手段23 a、  23 b、・・・ごとにコント
ローラ41a、41b、・・・を設け、これらコントロ
ーラ41a、41b、・・・にて各基準用信号印加手段
23a、23b、・・・に任意の基?4温度を可変して
印加できる構成である。
Next, FIG. 18 is a diagram showing an embodiment according to claims 1 and 6 of the present invention. That is, in this device, controllers 41a, 41b, . . . are provided for each reference signal application means 23a, 23b, . Any group in the means 23a, 23b, . . .? It is configured to be able to apply four different temperatures.

さらに、信号処理装置14から各コントローラ41a、
41b、・・・へある基学温度とする制御信号を送出し
、このときの後方散乱光の強度を&llI定する。しか
る後、信号処理装置14はコントローラ41 a + 
41 b+ ・・・に制御信号を送出して基準用信号印
加手段23a、23b、・・・で前記実、1lFJ値と
合致するような基準温度に制御すれば、その制御基”%
?H度をもって前記測定部2足部、21b。
Further, from the signal processing device 14, each controller 41a,
41b, . . . , and the intensity of the backscattered light at this time is determined as &llI. After that, the signal processing device 14 controls the controller 41 a +
If a control signal is sent to 41b+ and the reference signal applying means 23a, 23b, .
? The measuring part 2 foot part, 21b with H degree.

・・・の温度とすることができる。The temperature can be set to...

次に、本発明請求項7においては、上記各実施列におい
て予め各測定部間の一部または全部の基準用信号印加手
段23 a、  23 b、・・・までの距離を計A1
1jシた後、当該基準用信号印加手段23a。
Next, in claim 7 of the present invention, in each of the above-mentioned implementation rows, the distance between some or all of the reference signal applying means 23a, 23b, .
1j, the reference signal applying means 23a.

23b、・・・にて基準位置または基準温度を設定し、
実際に光ファイバ22に光信号を入射することにより、
その光パルス入射タイミング信号と光ファイバ22の基
準位置または基準温度部分からの後方散乱光を受信する
までの時間から光ファイバ22内の光パルスの伝送時間
を知ることができる。
23b, . . . to set the reference position or reference temperature,
By actually inputting the optical signal into the optical fiber 22,
The transmission time of the optical pulse within the optical fiber 22 can be determined from the optical pulse input timing signal and the time until the backscattered light from the reference position or reference temperature portion of the optical fiber 22 is received.

このように温度と光ファイバの長さによって異なる伝送
時間を求めることができるので、光ファイバによる温度
計API結果の光ファイバ上の温度修正をこの伝送時間
を用いて行うことができる。
In this way, since different transmission times can be determined depending on the temperature and the length of the optical fiber, the temperature on the optical fiber of the optical fiber thermometer API result can be corrected using this transmission time.

また、上記各実施例において各H1定部例えば21a−
21b間またはfljl定部31a、31b、、。
Further, in each of the above embodiments, each H1 constant part, for example, 21a-
21b or fljl fixed portions 31a, 31b, .

に基準用信号印加手段として基準温度を設定した場合、
これとは別に基準用信号印加手段の前または後あるいは
前後に溶接を含む接続部を挿入して基準位置信号を得る
構成であってもよい。さらに、披7Illl定領域20
において光ファイバ22の適宜な箇所にラマン散乱の起
り易い結晶体を介在するとか、あるいは温度に敏感な結
晶体を介在させてもよく、またこれら結晶体を基準用信
号印加手段23a、23b、・・・または前記接続部2
8a。
When the reference temperature is set as a reference signal application means,
Apart from this, the reference position signal may be obtained by inserting a connecting part including welding before or after the reference signal applying means or before and after the reference signal applying means. Furthermore, 7Illll constant area 20
In the optical fiber 22, a crystal that is likely to cause Raman scattering or a crystal that is sensitive to temperature may be interposed at an appropriate location of the optical fiber 22, and these crystals may be used as reference signal applying means 23a, 23b, . ...or the connection part 2
8a.

28b、・・・に変えて設けてもよい。28b, . . . may be replaced.

さらに、上記各実施例では、主として温度ハ1定につい
て述べたが、湿度についても同様にej定できる。例え
ば第19図の如く光ファイバ22に温度測定部51のほ
か、この温度測定部51に近接して光ファイバ22に湿
度測定部52を設け、容器53内部の水54例えば蒸留
水をガーゼ等の布55による毛管現象を利用して前記湿
度測定部52を水54に浸すように構成する。このよう
な状態に設定した後、実際に光パルスSを光ファイバ2
2へ入射し、そのとき光ファイバ22内から得られた後
方散乱光の強度から温度測定部51の温度tと水54に
浸された下がった湿度測定部52の温度t′とを測定す
れば、これら両温度t。
Further, in each of the above embodiments, the temperature is mainly constant, but the humidity can be similarly determined. For example, as shown in FIG. 19, in addition to the temperature measuring section 51 in the optical fiber 22, a humidity measuring section 52 is provided in the optical fiber 22 in the vicinity of the temperature measuring section 51, and the water 54 inside the container 53, for example, distilled water, is The humidity measuring section 52 is immersed in water 54 using capillary action caused by the cloth 55. After setting such a state, the optical pulse S is actually connected to the optical fiber 2.
2, and the temperature t of the temperature measuring section 51 and the temperature t' of the humidity measuring section 52 immersed in the water 54 are measured from the intensity of the backscattered light obtained from within the optical fiber 22 at that time. , these both temperatures t.

t′から湿度測定部52の相対湿度を測定できる。The relative humidity of the humidity measuring section 52 can be measured from t'.

なお、水54として蒸留水を用いたが、通常の水道水を
人為的または自動的に供給してもよい。但し、予め蒸留
水と水道水を用いた場合の誤差を知っておく必要がある
Although distilled water is used as the water 54, ordinary tap water may be supplied manually or automatically. However, it is necessary to know in advance the error when using distilled water and tap water.

[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、次のような種々の
効果を奏する。
[Effects of the Invention] As explained above, the present invention provides the following various effects.

先ス、請求項1,2においては、光ファイバでの基準用
信号印加手段相当位置より生ずる特異な後方散乱光の強
度から被測定領域の各測定部の位置のほか、測定結果の
温度を補正する補正信号を得て多数の測定部の温度、f
i度および温度封缶等を正確に測定できる。
First, in claims 1 and 2, the temperature of the measurement result as well as the position of each measurement part of the measurement area is corrected from the intensity of the unique backscattered light generated from the position corresponding to the reference signal application means in the optical fiber. The temperature of a large number of measuring parts, f
It is possible to accurately measure temperature, sealing temperature, etc.

次に、請求項3においては、光ファイバを一筆書きで平
面的または立体的に配置すると共にその光ファイバ上の
交叉部分の全部または一部または非交叉部分等の測定部
に予め位置または温度等のハケ信号を印加してデータを
取得しておけば、実71111時に広い範囲の被測定領
域の多数のC1定部の温度、湿度等を正確に測定できる
Next, in claim 3, the optical fiber is arranged in a planar or three-dimensional manner with a single stroke, and the position or temperature is predetermined on the measuring part such as all or a part of the crossing part or the non-crossing part on the optical fiber. By applying the brush signal and acquiring data, it is possible to accurately measure the temperature, humidity, etc. of a large number of C1 constant parts in a wide range of measurement areas at the actual time.

また、請求項4では、同一411定部分について光ファ
イバを一筆書き的に往復させて束ねることにより、同一
測定部分から異なる時間に返ってくる後方散乱光を平均
化することにより、測定の感度および分解能を高めるこ
とができる。
In addition, in claim 4, by reciprocating and bundling the optical fibers in the same 411 constant portion in a single stroke, the backscattered light returned from the same measurement portion at different times is averaged, thereby improving the measurement sensitivity. Resolution can be increased.

さらに、請求項5では、光ファイバの測定不要部分をス
キップして処理することにより、信号処理装置のメモリ
容量を少なくでき、またデータの処理速度を上げること
ができる。
Furthermore, in claim 5, by skipping and processing portions of the optical fiber that do not require measurement, the memory capacity of the signal processing device can be reduced and the data processing speed can be increased.

次に、請求項6では、実測値に合致するように基準用信
号印加手段の基準温度を制御することにより、非常に正
確に測定値を得ることができる。
Next, in claim 6, by controlling the reference temperature of the reference signal applying means so as to match the actual measurement value, the measurement value can be obtained very accurately.

更に、請求項7においては、正確に光ファイバの伝送時
間を71′Ilj定できる。
Furthermore, in claim 7, the optical fiber transmission time 71'Ilj can be determined accurately.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図および第2図は本発明装置の測定原理を説明する
図、第3図は本発明装置の一実施例の全体構成図、第4
図ないし第8図は請求項1.2に係わる構成図および測
定結果図、第9図ないし第12図は請求項3に係わる構
成図およびタイミング図、第13図ないし第15図は請
求項4に係わる構成図、タイミング図および形態図、第
16図は請求項5に係わる構成図、第17図は第16図
の他の実施例を説明する図、第18図は請求項6に係わ
る構成図、第19図は湿度を測定する場合の模式図であ
る。 11・・・光源、12・・・ビームスプリッタ、14・
信号処理装置、20・・・被測定領域、21a。 21b・・・測定部、23a、23b、・・・基準用信
号印加手段、28a、28b、−・・接続部、31a。 31b、・・・測定部、40・・・測定部、41a。 41b、・・・コントローラ、51・・・温度δIII
定部、足部・・・湿度測定部。 第8図 2ム 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第9図 第13図 第14図 田 、0 (a) (b) (C) 第15図 [− 第16図 第17図
1 and 2 are diagrams explaining the measurement principle of the device of the present invention, FIG. 3 is an overall configuration diagram of an embodiment of the device of the present invention, and FIG.
8 to 8 are block diagrams and measurement result diagrams related to claim 1.2, FIGS. 9 to 12 are block diagrams and timing diagrams related to claim 3, and FIGS. 13 to 15 are block diagrams and measurement result diagrams related to claim 4. 16 is a configuration diagram related to claim 5, FIG. 17 is a diagram explaining another embodiment of FIG. 16, and FIG. 18 is a configuration related to claim 6. 19 are schematic diagrams for measuring humidity. 11... Light source, 12... Beam splitter, 14.
Signal processing device, 20...Measurement area, 21a. 21b... Measuring section, 23a, 23b,... Reference signal applying means, 28a, 28b, --- Connection section, 31a. 31b...Measurement section, 40...Measurement section, 41a. 41b,...controller, 51...temperature δIII
Constant part, foot part...humidity measurement part. Figure 8.2 Patent attorney Patent attorney Takehiko Suzue Figure 9 Figure 13 Figure 14 Figure 0 (a) (b) (C) Figure 15 [- Figure 16 Figure 17

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)光源から光ファイバの入射端へ光信号を入射し、
この光信号の入射によって光ファイバ内で発生するラマ
ン散乱のうち前記入射端方向に向かう後方散乱光が戻っ
てくるまでの時間と戻ってきた信号の強さを信号処理装
置で解析して温度または湿度または温度分布を測定する
測定装置において、被測定領域の各測定場所にまたがっ
て前記光ファイバの測定部を連続的に配置すると共に、
測定部の一部または全領域にわたって基準用信号を印加
する基準用信号印加手段を設けたことを特徴とする測定
装置。
(1) Inject the optical signal from the light source to the input end of the optical fiber,
Of the Raman scattering that occurs within the optical fiber due to the incidence of this optical signal, the time it takes for the backscattered light toward the input end to return and the strength of the returned signal are analyzed by a signal processing device, and the temperature and In a measuring device for measuring humidity or temperature distribution, the measurement section of the optical fiber is continuously arranged across each measurement location in the measurement area, and
A measuring device comprising a reference signal applying means for applying a reference signal to a part or the entire area of a measuring section.
(2)基準用信号としては、固定、可変の何かの設定温
度またはファイバ接続部等による位置基準信号、固定、
可変の何れかの既知温度による温度基準信号の少なくと
も1つ以上を用いたものである請求項1記載の測定装置
(2) The reference signal may be a fixed or variable set temperature, a position reference signal from a fiber connection, etc.
2. The measuring device according to claim 1, which uses at least one temperature reference signal based on any variable known temperature.
(3)光源から光ファイバの入射端へ光信号を入射し、
この光信号の入射によって光ファイバ内で発生するラマ
ン散乱のうち前記入射端方向に向かう後方散乱光が戻っ
てくるまでの時間と戻ってきた信号の強さを信号処理装
置で解析して温度または湿度または温度分布を測定する
測定装置において、前記光ファイバを被測定領域内に平
面的または立体的に一筆書きで所定の順序をもって配置
し、そのとき前記光ファイバ上にできる交叉部分の全部
または一部または非交叉部分の任意の部分を測定部と定
めて所定の基準信号を印加すると共に光信号を光ファイ
バの入射端へ入射し、このときの光信号の入射によって
得られる前記後方散乱光とから前記測定部の位置データ
、または位置データと温度データを順次求めて記憶し、
実測定時に予め記憶された位置、温度データと実際に光
ファイバへ光信号を入射して得られた後方散乱光とを用
いて前記測定部の温度または湿度または温度分布を測定
し、前記記憶データと比較し補正することを特徴とする
測定装置。
(3) Inject the optical signal from the light source to the input end of the optical fiber,
Of the Raman scattering that occurs within the optical fiber due to the incidence of this optical signal, the time it takes for the backscattered light toward the input end to return and the strength of the returned signal are analyzed by a signal processing device, and the temperature and In a measuring device for measuring humidity or temperature distribution, the optical fibers are arranged in a predetermined order in a single stroke in a two-dimensional or three-dimensional manner within the measurement area, and all or one of the crossing portions formed on the optical fibers are A predetermined reference signal is applied to an arbitrary part of the part or the non-intersecting part as a measurement part, and an optical signal is input to the input end of the optical fiber, and the backscattered light obtained by the input of the optical signal at this time and the backscattered light are sequentially obtaining and storing position data or position data and temperature data of the measuring unit from
The temperature, humidity, or temperature distribution of the measuring section is measured using the position and temperature data stored in advance during actual measurement and the backscattered light obtained by actually inputting an optical signal into the optical fiber, and the stored data is A measuring device characterized by comparing and correcting.
(4)測定部は、一筆書きとなるように光ファイバを往
復させて束ねた状態とすることにより、前記信号処理装
置において同一の測定部分から異なる時間で返ってくる
後方散乱光を同期的に取込んで平均化し、同一測定部分
の測定感度および分解能を高めるようにしたことを特徴
とする請求項1または3記載の測定装置。
(4) The measurement section synchronously collects backscattered light that returns from the same measurement section at different times in the signal processing device by reciprocating and bundling the optical fibers in a single stroke. 4. The measurement device according to claim 1, wherein the measurement sensitivity and resolution of the same measurement portion are increased by capturing and averaging the measurement results.
(5)光源から光ファイバの入射端へ光信号を入射し、
この光信号の入射によって光ファイバ内で発生するラマ
ン散乱のうち前記入射端方向に向かう後方散乱光とに基
づいて信号処理装置で解析し温度または湿度または温度
分布を測定する測定装置において、光源を含む信号処理
装置から被測定領域の手前までの領域または任意な被測
定領域を除く光ファイバ部分を測定不要部とする場合、
前記信号処理装置では実測定時に前記測定不要部に相当
する光ファイバ部分から返ってくる後方散乱光の測定を
スキップし、前記被測定領域内に配置された被測定部の
光ファイバ内から散乱されてくる後方散乱光を取込んで
温度、湿度または温度分布を測定するようにしたことを
特徴とする測定装置。
(5) Inject the optical signal from the light source to the input end of the optical fiber,
A light source is used in a measuring device that uses a signal processing device to analyze and measure temperature, humidity, or temperature distribution based on backscattered light directed toward the input end of the Raman scattering generated within the optical fiber by the incidence of this optical signal. If the area from the included signal processing device to the front of the area to be measured or the part of the optical fiber excluding any area to be measured is defined as a part that does not require measurement,
During actual measurement, the signal processing device skips the measurement of the backscattered light that returns from the optical fiber portion corresponding to the measurement-unnecessary portion, and measures the backscattered light that is scattered from within the optical fiber of the part to be measured located within the measurement area. A measuring device characterized in that it measures temperature, humidity, or temperature distribution by taking in backscattered light that comes from the surrounding area.
(6)光源から光ファイバの入射端へ光信号を入射し、
この光信号の入射によって光ファイバ内で発生するラマ
ン散乱のうち前記入射端方向に向かう後方散乱光が戻っ
てくるまでの時間と戻ってきた信号の強さを信号処理装
置で解析し温度または湿度または温度分布を測定する測
定装置において、被測定領域の各測定場所にまたがって
前記光ファイバの測定部を連続的に配置すると共に、測
定部の一部または全領域にわたって可変可能な基準用信
号を印加する基準用信号印加手段を設け、前記信号処理
装置では前記光ファイバから得られた後方散乱光の実測
値に一致するように前記基準用信号印加手段の基準用信
号を制御することを特徴とする測定装置。
(6) Inject the optical signal from the light source to the input end of the optical fiber,
Among the Raman scattering that occurs within the optical fiber due to the incidence of this optical signal, the time taken for the backscattered light toward the input end to return and the strength of the returned signal are analyzed by a signal processing device, and the temperature and humidity are analyzed. Alternatively, in a measurement device that measures temperature distribution, the measurement section of the optical fiber is arranged continuously across each measurement location in the measurement area, and a variable reference signal is provided over a part or all of the measurement section. A reference signal applying means for applying the reference signal is provided, and the signal processing device controls the reference signal of the reference signal applying means so as to match the actual measured value of the backscattered light obtained from the optical fiber. Measuring device.
(7)光源から光ファイバの入射端へ光信号を入射し、
この光信号入射タイミング信号と前記光信号の入射によ
って光ファイバ内で発生するラマン散乱のうち前記入射
端方向に向かう後方散乱光とに基づいて信号処理装置で
温度または湿度または温度分布を測定する測定装置にお
いて、被測定領域に前記光ファイバの測定部を配置する
と共に、測定部の一部または全領域にわたって基準用信
号を印加する基準用信号印加手段を設け、光ファイバへ
の光信号の入射により前記基準用信号印加手段に相当す
る部分から散乱して返ってくる後方散乱光から前記光フ
ァイバ内の光信号の伝送時間を得るようにしたことを特
徴とする測定装置。
(7) Inject the optical signal from the light source to the input end of the optical fiber,
Measurement in which temperature, humidity, or temperature distribution is measured by a signal processing device based on this optical signal input timing signal and backscattered light directed toward the input end of the Raman scattering generated within the optical fiber by the input of the optical signal. In the apparatus, the measurement section of the optical fiber is disposed in the region to be measured, and a reference signal applying means is provided for applying a reference signal over a part or the entire region of the measurement section, and by the incidence of the optical signal into the optical fiber, A measuring device characterized in that the transmission time of an optical signal within the optical fiber is obtained from backscattered light scattered and returned from a portion corresponding to the reference signal applying means.
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