JPH02155050A - Test circumstance constructing system - Google Patents
Test circumstance constructing systemInfo
- Publication number
- JPH02155050A JPH02155050A JP63309540A JP30954088A JPH02155050A JP H02155050 A JPH02155050 A JP H02155050A JP 63309540 A JP63309540 A JP 63309540A JP 30954088 A JP30954088 A JP 30954088A JP H02155050 A JPH02155050 A JP H02155050A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input
- output device
- test system
- test
- configuration information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims description 18
- 238000004088 simulation Methods 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- LELOWRISYMNNSU-UHFFFAOYSA-N hydrogen cyanide Chemical compound N#C LELOWRISYMNNSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は計算機システムの試験環境構築方式に関し、特
に試験システムの実装入出力装置に依存しない試験環境
を構築する試験環境の構築方式に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a test environment construction method for a computer system, and particularly to a test environment construction method for constructing a test environment that does not depend on the installed input/output devices of the test system.
（従来の技術）
従来、試験環境は試験システムに実装されてｈる入出力
装置の範囲内でのみ構築することが可能であつ念。(Prior Art) Conventionally, a test environment can only be constructed within the range of input/output devices installed in a test system.
（発明が解決しようとする課題）
上述した従来の試験環境構築方式は、試験環境が試験シ
ステムに実装されてｈる入出力装置の範囲内でのみ構築
可能となっているので、試験環境を構築するためには使
用するすべての入出力装置を試験システムに実装しなけ
ればならないという欠点があった。(Problems to be Solved by the Invention) In the conventional test environment construction method described above, the test environment can only be constructed within the range of the input/output devices installed in the test system. In order to do this, all the input/output devices to be used had to be installed in the test system.
本発明の目的は、試験クステム入出力装置構成情報およ
び実装入出力装置構成情報を使用し、試験システムに実
装されている装置を利用者の要求によって制御するとと
もに、試験システムに実装されてｂない装置に利用者の
要求があったときく、あたかもその装置が試験システム
に実装されているかのように制御すること九より上記欠
点を除去し、入出力装置を試１験システム１ｃ実装しな
くてもよいように構成した試験環境構築方式を提供する
ことにある。An object of the present invention is to use test system input/output device configuration information and installed input/output device configuration information to control devices installed in a test system according to user requests, and to When a user requests a device, the device can be controlled as if it were installed in a test system.The above disadvantages can be eliminated, and input/output devices can be controlled without having to be installed in a test system. The objective is to provide a method for constructing a test environment that is well configured.
（課題を解決するための手段）
本発明による試験環境構築方式は、試験システム入出力
装置構成情報格納手段と、実装入出力装置構成情報格納
手段と、入出力装置制御手段と。(Means for Solving the Problems) A test environment construction method according to the present invention includes a test system input/output device configuration information storage means, a mounted input/output device configuration information storage means, and an input/output device control means.
入出力装置シミュレーション手段と、試験環境構築手段
とを具備して構成した本のである。This book is equipped with input/output device simulation means and test environment construction means.
試験システム入出力装置構成情報格納手段は、試験シス
テムに必要なすべての入出力装置名を記入するためのも
のであり、実装入出力装置構成情報格納手段は試験シス
テムに実装されているすべての入出力装置名を記入する
ためのものである。The test system input/output device configuration information storage means is for entering the names of all input/output devices necessary for the test system, and the installed input/output device configuration information storage means is for writing all the input/output device names required for the test system. This is for entering the output device name.
入出力装置制御手段は、試験システムに実装可能なすべ
ての装置知それぞれ対応し、試験システムに実装されて
いる装置を利用者の要求により制御するためのものであ
る。The input/output device control means corresponds to all the devices that can be installed in the test system, and is used to control the devices installed in the test system according to user requests.
入出力装置シミュレート手段は、試験システムに実装可
能なすべての装置にそれぞれ対応し、試験システムに実
装されていない装置に利用者の要求があつ虎とき、あた
かもその装置が試験システムに実装されているかのよう
に制御するためのものである。The input/output device simulator corresponds to all the devices that can be installed in the test system, and when a user requests a device that is not installed in the test system, the input/output device simulator simulates the device as if it were installed in the test system. It is intended to be controlled as if it were there.
試験環境構築手段は、試験システム入出力装置構成情報
格納手段の内容と、実装入出力装置構成情報格納手段の
内容とを比較し、対応する入出力装置制御手段、または
入出力装置シミュレート手段を割当てるためのものであ
る。The test environment construction means compares the contents of the test system input/output device configuration information storage means with the contents of the mounted input/output device configuration information storage means, and controls the corresponding input/output device control means or input/output device simulation means. It is for allocation.
（実施例） 次に１本発明について図面を参照して説明する。(Example) Next, one embodiment of the present invention will be explained with reference to the drawings.
第１図は１本発明による試験環境構築方式の一実施例を
示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a test environment construction method according to the present invention.
第１図において、１１２は記憶装置、１１３は処理装置
、１１４〜１１７はそれぞれ第１−第４の入出力装置で
ある。記憶装置１１２において。In FIG. 1, 112 is a storage device, 113 is a processing device, and 114 to 117 are first to fourth input/output devices, respectively. In the storage device 112.
１０１は試験システム入出力装置構成情報格納手段、１
０２は実装入出力装置構成イ゛＃報格納手段。101 is a test system input/output device configuration information storage means;
02 is a mounting input/output device configuration information storage means.
１０３〜１０６はそれぞれ第１−第４の入出力装置制御
手段、１０７〜１１０はそれぞれ第１〜第４の入出力装
置シミュレート手段、１１１は試験環境構築手段である
。103 to 106 are first to fourth input/output device control means, 107 to 110 are first to fourth input/output device simulating means, respectively, and 111 is a test environment construction means.
試験システム入出力装置構成情報格納域１０１は、計算
機システムの試験システムにおいて必要なすべての入出
力装置名を記入するためのものである。The test system input/output device configuration information storage area 101 is for entering the names of all input/output devices necessary in the test system of the computer system.
実装入出力装置構成情報格納域１０２は、試験システム
に実装されているすべての入出力装置名を記入するため
のものである。第１の入出力装置制御手段１０３は第１
の入出力装置１１４を利用者から要求により制御する。The installed input/output device configuration information storage area 102 is for entering the names of all input/output devices installed in the test system. The first input/output device control means 103
The input/output device 114 of the computer is controlled according to a request from a user.
第２の入出力装置制御手段１０４は第２の入出力装置１
１５を利用者からの要求により制御する。第８の入出力
装置制御手段１０５は第３の入出力装置１１６を利用者
からの要求により制御する。第４の入出力装置制御手段
１０６は％ｗｃ４の入出力装置１１７を利用者からの要
求により制御する。The second input/output device control means 104 controls the second input/output device 1
15 is controlled by a request from a user. The eighth input/output device control means 105 controls the third input/output device 116 according to a request from the user. The fourth input/output device control means 106 controls the input/output device 117 of %wc4 according to a request from the user.
第１の入出力装置シミュレート手段１０７は。The first input/output device simulating means 107 is.
＠】の入出力装置１１４が試験システムに実装されてい
ないときに利用者からの要求をあたかも第１の入出力装
置１１４が実装されているかのように制御する。When the input/output device 114 of @] is not installed in the test system, requests from users are controlled as if the first input/output device 114 was installed.
第２の入出力装置シミュレート手段１０Ｂは、第２の入
出力装置１１５が試験システムに実装されていなｈとき
に、利用者からの要求をあたかも第２の入出力装［１１
Ｓが実装されているかのように制（２）する。When the second input/output device 115 is not installed in the test system, the second input/output device simulating means 10B handles the request from the user as if it were the second input/output device [11
Control (2) as if S were implemented.
第３の入出力装置シミュレート手段１０９は。The third input/output device simulating means 109 is.
第３の入出力装置１１６が試験システムに実装されてい
ないとき、利用者からの要求をあをかも第３の入出力装
置１１Ｂが実装されているかのように制御する。When the third input/output device 116 is not installed in the test system, requests from users are controlled as if the third input/output device 11B were installed.
第４の入出力装置シミュレート手段１１０は。The fourth input/output device simulating means 110 is.
第４の入出力装置１１フが試験システムに実装されてい
麿いときだ、利用者からの要求をあたかもｒａ４の入出
力装置１１７が実装されているかのように制御を行なう
。When the fourth input/output device 11f has not yet been installed in the test system, requests from users are controlled as if the RA4 input/output device 117 were installed.
以上のように本実施例の試験システムには第１〜第４の
入出力装置１１３〜１１７が実装可能であるとする。As described above, it is assumed that the first to fourth input/output devices 113 to 117 can be installed in the test system of this embodiment.
試験環境構築手段１１１は、試験システム入出力装置構
成情報格納手段１０１の内容と実装入出力装置構成情報
格納手段１０２の内容とを比較し。The test environment construction means 111 compares the contents of the test system input/output device configuration information storage means 101 and the contents of the mounted input/output device configuration information storage means 102.
試験環境を構築する。Build a test environment.
記憶装置１１２は、試験システム入出力装置構成情報格
納手段１０１．実装入出力装置構成情報格納手段１０２
．第１の入出力装置制御手段１０３、第２の入出力装置
制御手段１０４． ＠８の入出力装置制御手段１０５、
第４の入出力装置制御手段１０Ｂ、第１の入出力装置シ
ミュレート手段１０フ、第２の入出力装置シミュレート
手段１０８、第３の入出力装置シミュレート手段１０９
、第４の入出力袋ｆｉｌｙミュレート手段１１０、およ
び試験環境構築手段１１１の実行内容を記憶する。The storage device 112 stores test system input/output device configuration information storage means 101. Mounted input/output device configuration information storage means 102
．． First input/output device control means 103, second input/output device control means 104. @8 input/output device control means 105,
Fourth input/output device control means 10B, first input/output device simulating means 10F, second input/output device simulating means 108, third input/output device simulating means 109
, the fourth input/output file emulating means 110, and the test environment construction means 111.
処理装置１１３は、試験環境構築手段１１１の内容を処
理する。第１の入出力装置１１４は、計算機システムの
外部との情報の入出力を行なう。The processing device 113 processes the contents of the test environment construction means 111. The first input/output device 114 inputs and outputs information to and from the outside of the computer system.
第２の入出力袋ｆｉ１１ Ｓは、計算機システムの外部
との情報の入出力を行なう。第８の入出力装置１１６は
、計算機システムの外部との情報の入出力を行なう。第
４の入出力装置１１７は、計算機システムの外部との情
報の入出力を行なう。The second input/output bag fi11S inputs and outputs information to and from the outside of the computer system. The eighth input/output device 116 inputs and outputs information to and from the outside of the computer system. The fourth input/output device 117 inputs and outputs information to and from the outside of the computer system.
第２図は１本実施例での試験システム入出力装置構成情
報格納手段１０１の内容を示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing the contents of the test system input/output device configuration information storage means 101 in this embodiment.
第１の入出力装置名２０１は本実施例での試験システム
だ必要となる第１の入出力装置の装置名を示し、第２の
入出力装置名２０２は本実施例での試験システムに必要
となる−（２の入出力装置の装置名を示し、第８の入出
力装置名２０３は本実施例での試験システムに必要とな
る第８の入出力装置の装置名を示し、第４の入出力装置
名２０４は本実施例での試験システムに必要となる第４
の入出力装置の装置名を示す。The first input/output device name 201 indicates the device name of the first input/output device that is necessary for the test system in this embodiment, and the second input/output device name 202 is necessary for the test system in this embodiment. -(indicates the device name of the second input/output device, the eighth input/output device name 203 indicates the device name of the eighth input/output device necessary for the test system in this example, and the fourth The input/output device name 204 is the fourth input/output device name required for the test system in this embodiment.
Indicates the device name of the input/output device.
第３図は１本実施例での実装入出力装置構成情報格納手
段１０２の内容を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram showing the contents of the mounted input/output device configuration information storage means 102 in this embodiment.
第１の入出力装置名３０１は本実施例での試験システム
に実装されている第１の入出力装置の装置名を示し、第
２の入出力装置名３０２は本実施例での試験システムに
実装されている第２の入出力装置の装置名を示し、第４
の入出力装置名３０３は本実′１！Ｂ例での試験システ
ムに実装されている第４の入出力袋）電の装置名を示す
。The first input/output device name 301 indicates the device name of the first input/output device installed in the test system in this embodiment, and the second input/output device name 302 indicates the device name of the first input/output device installed in the test system in this embodiment. Indicates the device name of the second input/output device installed, and
The input/output device name 303 is real '1! The device name of the fourth input/output bag) installed in the test system in Example B is shown.
第４図は、試験システム構築手段１１１の内容に従う処
理を示す流れ図である。FIG. 4 is a flowchart showing the processing according to the contents of the test system construction means 111.
次に、第４図を参照して本実施例での試験環境構築手段
を説明する。Next, the test environment construction means in this embodiment will be explained with reference to FIG.
まずステップ４０１では試験システム入出力袋＠構成情
報格納手段１０１より装置名を読込む。First, in step 401, the device name is read from the test system input/output bag@configuration information storage means 101.
本実施例では入出力装置Ａ２０１が読込まれるので、ス
テップ４０２で次の処理に進む。In this embodiment, since the input/output device A201 is read, the process proceeds to the next step in step 402.
次に、入出力装置Ａ２０１が実装入出力装置構成情報格
納手段１０２釦存在するか否かを、ステップ４０３でチ
エツクする。第１の入出力装置名２０１は実装入出力装
置構成情報格納手段１０２に第１の入出力装置名３０１
として存在するのでステップ４０４で試験システム入出
力装置構成情報格納手段１０１の第１の入出力装置名２
０１に入出力装置制御手段２０３を割当てる。Next, in step 403, it is checked whether the input/output device A 201 exists in the mounted input/output device configuration information storage means 102 button. The first input/output device name 201 is stored in the mounted input/output device configuration information storage means 102 as the first input/output device name 301.
Therefore, in step 404, the first input/output device name 2 of the test system input/output device configuration information storage means 101 is
01 is assigned to the input/output device control means 203.
次にステップ４０１にお匹て試験システム入出力装置構
成情報格納手段１０１より次の装置名を読込む。本実施
例では第２の入出力装置名２０２が読込まれるので、ス
テップ４０２で次の処理に進む。ステップ４０３，４０
４の処理は第１の入出力装置名２０１の処理と同様であ
る。Next, in step 401, the next device name is read from the test system input/output device configuration information storage means 101. In this embodiment, since the second input/output device name 202 is read, the process proceeds to the next step in step 402. Steps 403, 40
The process of 4 is similar to the process of the first input/output device name 201.
次に、ステップ４０１において試験システム入出力装置
構成情報格納手段１０１より次の装置名を読込む。本実
施例では第８の入出力装置名２０３が読込まれるので、
ステップ４０２で次の処理に進む。Next, in step 401, the next device name is read from the test system input/output device configuration information storage means 101. In this embodiment, the eighth input/output device name 203 is read, so
In step 402, the process proceeds to the next step.
次に、第８の入出力装置名２０３が実装入出力装置構成
情報格納手段１０２に存在するか否かを。Next, it is determined whether the eighth input/output device name 203 exists in the mounted input/output device configuration information storage means 102.
ステップ４０３によりチエツクする。Checked in step 403.
＠２０入出力装置名２０２は、実装入出力装置構成情報
格納手段１０２に存在しをいので、ステップ４０４に従
って試験システム入出力装置構成情報格納手段１０１の
第２の入出力装置名２０２に第３の入出力装置シミュレ
ート手段１０９を割当てる。次に、ステップ４０１で試
験システム入出力装置青酸情報格納手段１０１より次の
装置名を読込む。本実施例では第４の入出力装置名２０
４が読込まれるので、ステップ４０２で次の処理に進む
。ステップ４０３．４０４の処理は、第１の入出力装置
名２０１の処理と同様である。@20 The input/output device name 202 does not exist in the mounted input/output device configuration information storage means 102, so according to step 404, the third The input/output device simulating means 109 is assigned. Next, in step 401, the next device name is read from the test system input/output device hydrocyanic acid information storage means 101. In this embodiment, the fourth input/output device name 20
4 is read, the process proceeds to the next step at step 402. The processing in steps 403 and 404 is similar to the processing for the first input/output device name 201.
次に、ステップ４０１に従って試験システム入出力装置
構成情報格納手段１０１より次の装置名全読込むが０本
実施例では情報が残っていないので処理は終了する。Next, in accordance with step 401, all the names of the next devices are read from the test system input/output device configuration information storage means 101, but since no information remains in this embodiment, the process ends.
実装装ｒ！１が８台以上の場合でも１本実施例と同様に
して試験環境が構築できることは明白である。Implementation r! It is clear that a test environment can be constructed in the same manner as in this embodiment even when there are eight or more units.
（発明の効果）
以上説明し念ように本発明は、試験システム入出力装置
構成情報および実装入出力装置構成情報を使用し、試験
システムに実装されてｈる装置を利用者の要求によって
制御するとともに、試験システムに実装されてｈ２ｈ装
置（利用者の要求がありなときに、あたかもその製電が
試験システムに実装されているかのように制御すること
にょ抄試験システムに必要な入出力装置が試験システム
に実装されていなくても試験環境を構築することが可能
となると論う効果がある。(Effects of the Invention) As explained above, the present invention uses the test system input/output device configuration information and the installed input/output device configuration information to control the devices installed in the test system according to the user's request. At the same time, the h2h device (input/output device necessary for the test system that is implemented in the test system to control the electrical equipment as if it were implemented in the test system when there is a request from the user) The effect is that it is possible to construct a test environment even if it is not implemented in the test system.
第１図は１本発明による試験環境構築方式の一実施例を
示すブロック図である。
第２図は、第１図に示す第１の試験システム入出力装置
情報格納手段の本実施例での内容を示すブロック図であ
る。
第８図は、第１図に示す第２の実装入出力装置構成情報
格納手段の本実施例での内容を示すブロック図である。
第４図は、ｔａ１図に示す試験システム構築手段の詳細
な動作を説明する流れ図である。
１０１・・・試験システム入出力装置構成情報格納手段
１０２・・・実装入出力装置構成情報格納手段１０３〜
１０６・拳・入出力装置制匈手段１０７〜１１（１・・
・入出力装置シミュレート手段
１１１・・・試験環境構築手段
１１２・・・記憶装置
１１３・−・処理装置
１１４〜１１７・・・入出力装置
２０１〜２０４，３０１〜３０３・・−−・・入出力装
置名
才２図
才３ｍFIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a test environment construction method according to the present invention. FIG. 2 is a block diagram showing the contents of the first test system input/output device information storage means shown in FIG. 1 in this embodiment. FIG. 8 is a block diagram showing the contents of the second mounted input/output device configuration information storage means shown in FIG. 1 in this embodiment. FIG. 4 is a flowchart explaining the detailed operation of the test system construction means shown in FIG. ta1. 101...Test system input/output device configuration information storage means 102...Mounted input/output device configuration information storage means 103~
106・Fist・I/O device control means 107-11 (1...
- Input/output device simulating means 111... Test environment construction means 112... Storage device 113... Processing devices 114-117... Input/output devices 201-204, 301-303...--Input Output device master 2 figures 3m
Claims (1)
ための試験システム入出力装置構成情報格納手段と、前
記試験システムに実装されているすべての入出力装置名
を記入するための実装入出力装置構成情報格納手段と、
前記試験システムに実装可能なすべての装置にそれぞれ
対応し、前記試験システムに実装されている装置を利用
者の要求により制御するための入出力装置制御手段と、
前記試験システムに実装可能なすべての装置にそれぞれ
対応し、前記試験システムに実装されていない装置に前
記利用者の要求があつたときあたかもその装置が試験シ
ステムに実装されているかのように制御するための入出
力装置シミユレート手段と、前記試験システム入出力装
置構成情報格納手段の内容と前記実装入出力装置構成情
報格納手段の内容とを比較し、対応する前記入出力装置
制御手段、または前記入出力装置シミユレート手段を割
当てるための試験環境構築手段とを具備して構成したこ
とを特徴とする試験環境構築方式。A test system input/output device configuration information storage means for writing in the names of all input/output devices necessary for the test system, and an implemented input/output device for writing in the names of all the input/output devices installed in the test system. configuration information storage means;
input/output device control means corresponding to all the devices that can be installed in the test system and for controlling the devices installed in the test system according to user requests;
Each device corresponds to all the devices that can be installed in the test system, and when a request from the user is made to a device that is not installed in the test system, the device is controlled as if the device was installed in the test system. The input/output device simulating means for the test system compares the contents of the test system input/output device configuration information storage means with the contents of the mounted input/output device configuration information storage means, and A test environment construction method comprising test environment construction means for allocating an output device simulation means.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63309540A JPH02155050A (en) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | Test circumstance constructing system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63309540A JPH02155050A (en) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | Test circumstance constructing system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02155050A true JPH02155050A (en) | 1990-06-14 |
Family
ID=17994244
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63309540A Pending JPH02155050A (en) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | Test circumstance constructing system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02155050A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0539313A2 (en) * | 1991-10-23 | 1993-04-28 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for simulating I/O devices |
-
1988
- 1988-12-06 JP JP63309540A patent/JPH02155050A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0539313A2 (en) * | 1991-10-23 | 1993-04-28 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for simulating I/O devices |
| EP0539313A3 (en) * | 1991-10-23 | 1993-11-24 | Ibm | Method and apparatus for simulating i/o devices |
| US5440697A (en) * | 1991-10-23 | 1995-08-08 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for simulating I/O devices |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2009002950A (en) | Testing device for testing at least one electronic control system and method for operating testing device | |
| CN107957965A (en) | Service quality ordinal number is changed | |
| KR20150004284A (en) | Method for operating a control device and control device with a model calculation unit | |
| JPH02155050A (en) | Test circumstance constructing system | |
| CN1312583C (en) | Simulation apparatus, simulation program, and recording medium | |
| CN111950219B (en) | Method, apparatus, device and medium for realizing simulator | |
| CN111966400B (en) | Instruction processing method and device and related products | |
| JPH03248255A (en) | Method and device for data transfer | |
| JPS63121963A (en) | Exclusive control system for record | |
| CN117172713A (en) | Information processing method, information processing device, electronic equipment and storage medium | |
| Moseberry | Dynamic computer performance optimization based upon a collaborative CMAC design | |
| JPS60178546A (en) | Program test supporting device | |
| JPS62214444A (en) | Simulation method | |
| JP3255975B2 (en) | Automatic management device for the logic design rule confirmation status | |
| SU732872A1 (en) | Address former | |
| JPH0261735A (en) | Data base access program test system | |
| CN111966306A (en) | Instruction processing method and device and related product | |
| JPH07132828A (en) | Simulation system | |
| JPH01303513A (en) | Artificial construction system for system | |
| Brenctar | A PROGRAMMING SYSTEM FOR THE SIMULATION OF CELLULAR SPACES | |
| JPH0432980A (en) | Object code generating device for data drive type computer | |
| JPH04181425A (en) | Library controller | |
| JPS63279339A (en) | Data storage device | |
| JPS63310088A (en) | Setting system for picture processing control table | |
| JPH03103940A (en) | Volume sharing control system |